JPH07283373A - Manufacture of semiconductor device - Google Patents

Manufacture of semiconductor device

Info

Publication number
JPH07283373A
JPH07283373A JP7094272A JP9427295A JPH07283373A JP H07283373 A JPH07283373 A JP H07283373A JP 7094272 A JP7094272 A JP 7094272A JP 9427295 A JP9427295 A JP 9427295A JP H07283373 A JPH07283373 A JP H07283373A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
resist
mask
devices
unique
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7094272A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Ross Anderson Mitchell
ロス・アンダーソン・ミッチェル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Motorola Solutions Inc
Original Assignee
Motorola Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Motorola Inc filed Critical Motorola Inc
Publication of JPH07283373A publication Critical patent/JPH07283373A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70483Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
    • G03F7/70491Information management, e.g. software; Active and passive control, e.g. details of controlling exposure processes or exposure tool monitoring processes
    • G03F7/70541Tagging, i.e. hardware or software tagging of features or components, e.g. using tagging scripts or tagging identifier codes for identification of chips, shots or wafers
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/2022Multi-step exposure, e.g. hybrid; backside exposure; blanket exposure, e.g. for image reversal; edge exposure, e.g. for edge bead removal; corrective exposure
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70425Imaging strategies, e.g. for increasing throughput or resolution, printing product fields larger than the image field or compensating lithography- or non-lithography errors, e.g. proximity correction, mix-and-match, stitching or double patterning
    • G03F7/7045Hybrid exposures, i.e. multiple exposures of the same area using different types of exposure apparatus, e.g. combining projection, proximity, direct write, interferometric, UV, x-ray or particle beam

Abstract

PURPOSE: To speedily and efficiently produce devices from a semiconductor wafer by coating a resist on a wafer and photolithographically printing its surface to form an ROM code pattern on each of devices. CONSTITUTION: In step 10 a wafer to surface is, coated with a chemical resist step 20 irradiates the wafer with a light through a mask from a parallel short wavelength optical source to harden the resist on wafer regions correspond to holes of the mask, and step 30 irradiates a a part of the resist with beams at each device on the wafer, using a laser trimmer to harden the rest. The mask in step 20 is formed so as to leave unhardened resist at parts to be irradiated with other light to thereby give a slightly different pattern to each device, this identifying it with a peculiar ROM code. Thus the devices are individually produced to obtain desired devices for a short time.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体デバイス製造方
法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device manufacturing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体デバイス製造プロセスは一般に、
半導体材料の単一ウェハ上に多数のディスクリート・デ
バイスを製造する。マスクによるステップ・アンド・リ
ピート・フォトリソグラフ印刷(step and repeat photo
lithographic printing)などの高速かつ効率的な製造プ
ロセスは、このようなウェハに多数のデバイスを作製す
るために用いられる。湖のような反復的なプロセスで
は、各製造デバイスは実質的に同一である。
2. Description of the Related Art Semiconductor device manufacturing processes generally include
Manufacturing multiple discrete devices on a single wafer of semiconductor material. Step-and-repeat photolithographic printing with masks (step and repeat photo
Fast and efficient manufacturing processes such as lithographic printing are used to fabricate large numbers of devices on such wafers. In a lake-like iterative process, each manufacturing device is substantially identical.

【0003】しかし、上記のような反復的製造プロセス
は同一デバイスしか作製できない。ある用途では、個別
半導体デバイスが固有部分を有する必要がある。例え
ば、デバイス内の読み出し専用メモリ(ROM)は、セ
キュリティ暗号またはシリアル番号などのためにわずか
な量の固有ROMコードを有することができる。
However, the iterative manufacturing process as described above can produce only the same device. In some applications, individual semiconductor devices need to have unique parts. For example, a read only memory (ROM) within the device may have a small amount of unique ROM code, such as for security encryption or serial numbers.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】このような用途での問
題点は、固有部分を必要とする半導体デバイスは個別に
製造しなければならず、そのためその製造は上記のプロ
セスに比べて極めて遅く非効率的である。
The problem with such applications is that semiconductor devices requiring unique parts must be manufactured individually, which makes their manufacturing extremely slow and non-comparable to the above process. It is efficient.

【0005】本発明は、上記の欠点が緩和された半導体
デバイス製造方法を提供することを目的とする。
An object of the present invention is to provide a semiconductor device manufacturing method in which the above-mentioned drawbacks are alleviated.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明により、半導体材
料上でデバイスを製造する半導体デバイス製造方法が提
供され、この方法は、半導体材料の表面に化学レジスト
を塗布する段階;この表面上の各複数の位置において化
学レジストの部分を選択的に照射するため表面を照射し
て、照射材料の部分および非照射材料の部分を生成する
段階;表面から照射材料または非照射材料のいずれかを
除去する段階によって構成され、照射する段階は、各複
数の位置においてマスクによって施される共通パターン
と、各複数の位置のそれぞれに施される複数の固有パタ
ーンのそれぞれ1つを生成することを特徴とする。
The present invention provides a method of manufacturing a semiconductor device for manufacturing a device on a semiconductor material, the method comprising applying a chemical resist to the surface of the semiconductor material; Irradiating the surface to selectively irradiate portions of the chemical resist at multiple locations to produce portions of irradiated material and portions of unirradiated material; removing either irradiated or unirradiated material from the surface The step of illuminating comprises generating a common pattern applied by the mask at each of the plurality of positions and one of a plurality of unique patterns applied to each of the plurality of positions. .

【0007】共通パターンは、好ましくは、ステップ・
アンド・リピート・フォトリソグラフ印刷プロセスによ
って生成され、固有パターンは、好ましくは、レーザに
よって生成される。各複数の固有パターンは、好ましく
は、各デバイスのROM部分に施される。
The common pattern is preferably a step
Produced by an and repeat photolithographic printing process, the unique pattern is preferably produced by a laser. Each plurality of unique patterns is preferably applied to the ROM portion of each device.

【0008】このように、各半導体デバイスは異なるパ
ターンで製造でき、しかも共通マスクの使用を維持でき
る。よって、これらのデバイスの製造は、各デバイスが
個別に製造される場合よりも高速かつ効率的である。
Thus, each semiconductor device can be manufactured with a different pattern and still maintain the use of a common mask. Thus, manufacturing these devices is faster and more efficient than if each device were manufactured individually.

【0009】[0009]

【実施例】マイクロコントローラなど多数のディスクリ
ート半導体デバイスを製造するために、ウェハ形態の半
導体材料が用いられる。プロセスがウェハの選択された
領域に施され、これらの領域の導電特性を変更する。こ
れは何度も繰り返され、異なる領域の多層を生成して、
接合部および導電経路の所望の構成が形成され、デバイ
スとなる。
DETAILED DESCRIPTION Wafer form semiconductor materials are used to fabricate a large number of discrete semiconductor devices, such as microcontrollers. Processes are applied to selected areas of the wafer to modify the conductive properties of those areas. This is repeated over and over again, producing multiple layers of different regions,
The desired configuration of junctions and conductive paths is formed, resulting in a device.

【0010】図面を参照して、半導体ウェハ上に多数の
マイクロコントローラを製造するための半導体デバイス
製造方法のフロー図が示される。
Referring to the drawings, there is shown a flow chart of a semiconductor device manufacturing method for manufacturing a large number of microcontrollers on a semiconductor wafer.

【0011】ボックス10によって表される第1段階
は、ウェハの上面に化学レジストを塗布することからな
る。このレジストは、一般にウェハを高速で回転させ、
回転の中心にある程度の薬品を被着して、遠心力により
拡散することによってウェハの上面に均一に拡散され
る。
The first step, represented by box 10, consists of applying a chemical resist to the top surface of the wafer. This resist typically spins the wafer at high speed,
A certain amount of chemical is applied to the center of rotation and is diffused by centrifugal force so that it is uniformly diffused on the upper surface of the wafer.

【0012】ボックス20において、紫外線光など、平
行短波長光源(source of collimated short wavelength
light) は、マスクを介してウェハに照光される。この
マスクは多数の穴を有し、これらの穴を介して光はウェ
ハに照光できる。マスクの穴に相当するウェハの領域は
光で照射され、これによりこれらの領域におけるレジス
トの化学特性が変化する。このことは、レジストを「硬
化(cure)させる」という。
In box 20, a source of collimated short wavelength light such as ultraviolet light is emitted.
light) illuminates the wafer through the mask. The mask has a large number of holes through which light can illuminate the wafer. The areas of the wafer corresponding to the holes in the mask are illuminated by light, which changes the chemical properties of the resist in these areas. This is referred to as "curing" the resist.

【0013】マスクは、1つの半導体デバイスを製造す
るか、あるいは一度に多数の半導体デバイスを製造する
ように構成できる。いずれにせよ、上記の硬化は、ウェ
ハ上のことなる位置で繰り返され、ウェハの表面上で多
数の半導体デバイスを生成する。これは、マスクの形が
レジストの表面に「印刷」されるので、ステップ・アン
ド・リピート印刷と呼ばれる。
The mask can be configured to manufacture one semiconductor device or many semiconductor devices at a time. In any case, the above cure is repeated at different locations on the wafer, producing a large number of semiconductor devices on the surface of the wafer. This is called step-and-repeat printing because the shape of the mask is "printed" on the surface of the resist.

【0014】従来の方法では、ボックス40において、
「硬化された」レジストが除去され、上記の領域を露出
し、ウェハの残りの領域はレジストに覆われたままとな
る。ここで、ウェハの露出領域は、ボックス50におい
て、注入ドーピング(implantdoping)またはエピタキシ
ャル成長などのプロセスを施すことができる。領域の導
電特性は、このプロセスによって変更されないウェハの
残りの表面に対して変更することができる。例えば、P
型ウェハ基板の露出領域は、これらの露出領域がN型と
なるようにドーピングでき、それによりPN接合が形成
される。
In the conventional method, in box 40,
The "cured" resist is removed, exposing the above areas and leaving the rest of the wafer covered with resist. Here, the exposed regions of the wafer may be subjected to processes such as implant doping or epitaxial growth in box 50. The conductive properties of the area can be modified with respect to the remaining surface of the wafer that is not modified by this process. For example, P
The exposed areas of the mold wafer substrate can be doped such that these exposed areas are N-type, thereby forming a PN junction.

【0015】最後に、ボックス60において、残りのレ
ジストはウェハの表面から化学的に除去される。よっ
て、ウェハの表面の領域は、元の半導体材料である残り
の表面に対して異なる導電特性を有する。
Finally, in box 60, the remaining resist is chemically removed from the surface of the wafer. Thus, the areas on the surface of the wafer have different conductive properties with respect to the remaining surface, which is the original semiconductor material.

【0016】上記の従来の方法は、施されたプロセスの
特性を有する領域を含む半導体材料の単一層を生成す
る。上記のプロセスによってウェハ上に製造された各マ
イクロコントローラは、実質的に同一である。
The above conventional method produces a single layer of semiconductor material that includes regions having the characteristics of the process being applied. Each microcontroller manufactured on the wafer by the above process is substantially identical.

【0017】マイクロコントローラは、半導体デバイス
に組み込まれるROMコードを含む。各マイクロコント
ローラが固有のROMコードを有することが望ましい場
合がある。固有コードは、各半導体デバイスの固有値セ
ットを識別したり、セキュリティ暗号用、シリアル番号
用,アルゴリズム・シード(algorithm seed)用にもちい
ることができる。残念ながら、上記の従来の方法では、
各半導体デバイスが同一マスク・パターンに基づいて製
造されるので、固有ROMコード化が不可能である。
The microcontroller contains ROM code that is embedded in the semiconductor device. It may be desirable for each microcontroller to have a unique ROM code. The unique code can be used to identify a unique value set of each semiconductor device, and can be used for security encryption, serial number, and algorithm seed. Unfortunately, the above traditional method
Unique ROM encoding is not possible because each semiconductor device is manufactured based on the same mask pattern.

【0018】デバイスを個別に製造する別の方法があ
り、この方法により、個別ROMのコード化が可能とな
る。しかし、このような方法は、上記の方法に比べて遅
く、コストが高い。
There is another way to manufacture the devices individually, which allows the coding of individual ROMs. However, such a method is slower and more expensive than the above methods.

【0019】従って、再度図面を参照して、マスキング
された光によりレジストを硬化する段階(ボックス2
0)とレジストを除去する段階(ブロック40)との間
で、別の段階であるボックス30が挿入される。この段
階は、ウェハ上の各デバイスのレジストの一部に照射光
源をさらに適用する。このために、レーザ・トリマ(las
er trimmer) を便宜的に利用できる。ボックス20で用
いられるマスクは、別の照射光が施される部分において
未硬化レジストを残すように構成される。各デバイスに
は、上記の部分において若干異なるパターンが与えられ
る。このように、各デバイスは、固有ROMコードのた
めに固有化される。
Thus, referring again to the drawings, the step of curing the resist with masked light (Box 2
0) and the step of removing the resist (block 40), another step, box 30, is inserted. This step further applies an illuminating light source to a portion of the resist for each device on the wafer. To this end, the laser trimmer (las
er trimmer) can be used for convenience. The mask used in box 20 is configured to leave uncured resist in the areas where another irradiation light is applied. Each device is given a slightly different pattern in the above section. In this way, each device is customized for a unique ROM code.

【0020】固有コードを生成するために各デバイスの
ほんのわずかな部分(一般に0.1%以下)しか変更し
なくて済むので、この段階を挿入することによって、こ
の方法全体にとってわずかな時間の増加しか生じず、こ
のことはかなり時間がかかる各デバイスを個別に製造す
る場合の時間に比べて、大幅な時間短縮となる。
By inserting this step, there is a slight increase in the time for the whole method, since only a small part (generally less than 0.1%) of each device has to be modified to generate the unique code. This is a significant time savings compared to the time it would take to manufacture each device individually, which would be rather time consuming.

【0021】従って、ステップ・アンド・リピート式マ
スキングプロセスの効率および速度は、個別レーザ印刷
プロセスと組み合わせて、マイクロコントローラなどの
デバイスの固有ROMコード化ができる。
Thus, the efficiency and speed of the step-and-repeat masking process can be combined with the individual laser printing process to enable unique ROM coding of devices such as microcontrollers.

【0022】なお、本明細書で説明した実施例とは別の
実施例も可能であることが理解される。例えば、レジス
トの硬化は、上述のように硬化部ではなく、未硬化部を
ボックス40で示される段階によって除去するように構
成してもよい。
It will be appreciated that other embodiments than the embodiments described herein are possible. For example, the curing of the resist may be configured such that the uncured portion is removed by the step indicated by box 40 rather than the cured portion as described above.

【0023】さらに、ROMの代わりに、デバイスの別
の要素もボックス30の段階によって変更できる。
Further, instead of ROM, other elements of the device can also be modified by the steps in box 30.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による半導体デバイス製造方法のフロー
図である。
FIG. 1 is a flow chart of a semiconductor device manufacturing method according to the present invention.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体材料上にデバイスを製造する半導
体デバイス製造方法であって:前記半導体材料の表面に
化学レジストを塗布する段階;前記表面を照射して、前
記表面上の複数の各位置において前記化学レジストの部
分を選択的に照射し、それにより照射材料の部分と非照
射材料の部分とを生成する段階;前記表面から照射材料
または非照射材料のいずれかを除去する段階;によって
構成され、前記照射する段階によって、前記複数の各位
置におけるマスクによって施される共通パターンと、前
記複数の各位置に施される複数の固有パターンの各1つ
とを生成することを特徴とする方法。
1. A method of manufacturing a semiconductor device for manufacturing a device on a semiconductor material, comprising: applying a chemical resist to the surface of the semiconductor material; irradiating the surface at a plurality of locations on the surface. Selectively irradiating portions of said chemical resist, thereby producing portions of irradiated material and portions of unirradiated material; removing either irradiated or unirradiated material from said surface; , The step of irradiating generates a common pattern provided by a mask at each of the plurality of positions and each one of a plurality of unique patterns provided at each of the plurality of positions.
【請求項2】 前記共通パターンは、ステップ・アンド
・リピート・フォトリソグラフ印刷プロセスによって生
成されることを特徴とする請求項1記載の方法。
2. The method of claim 1, wherein the common pattern is generated by a step-and-repeat photolithographic printing process.
【請求項3】 前記固有パターンは、レーザによって生
成されることを特徴とする請求項1記載の方法。
3. The method of claim 1, wherein the unique pattern is generated by a laser.
【請求項4】 前記固有パターンは、レーザによって生
成されることを特徴とする請求項2記載の方法。
4. The method of claim 2, wherein the unique pattern is generated by a laser.
【請求項5】 前記複数の固有パターンの各1つは、各
デバイスのROM部分に施されることを特徴とする上記
のいずれかの請求項記載の方法。
5. The method of any of the preceding claims, wherein each one of the plurality of unique patterns is applied to a ROM portion of each device.
JP7094272A 1994-03-30 1995-03-29 Manufacture of semiconductor device Pending JPH07283373A (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB9406367.4 1994-03-30
GB9406367A GB2288250B (en) 1994-03-30 1994-03-30 Semiconductor device fabrication method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07283373A true JPH07283373A (en) 1995-10-27

Family

ID=10752796

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7094272A Pending JPH07283373A (en) 1994-03-30 1995-03-29 Manufacture of semiconductor device

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JPH07283373A (en)
GB (1) GB2288250B (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005268774A (en) * 2004-02-20 2005-09-29 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Manufacturing method of semiconductor device, integrated circuit card, ic tag, rfid, transponder, bill, negotiable securities, passport, electronic apparatus, bag, and clothing
WO2022138583A1 (en) * 2020-12-25 2022-06-30 株式会社ニコン Method for manufacturing semiconductor integrated circuit, method for manufacturing semiconductor device, and exposure apparatus

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4613230A (en) * 1981-05-06 1986-09-23 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Wafer exposure apparatus
JPS589319A (en) * 1981-07-10 1983-01-19 Hitachi Ltd Manufacturing device of semiconductor
US4435498A (en) * 1981-12-07 1984-03-06 Burroughs Corporation Manufacture of wafer-scale integrated circuits
DE3578232D1 (en) * 1984-12-19 1990-07-19 Fuji Photo Film Co Ltd MICROFILM CAMERA.

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005268774A (en) * 2004-02-20 2005-09-29 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Manufacturing method of semiconductor device, integrated circuit card, ic tag, rfid, transponder, bill, negotiable securities, passport, electronic apparatus, bag, and clothing
KR101258671B1 (en) * 2004-02-20 2013-04-26 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 Manufacturing method of semiconductor device, and IC card, IC tag, RFID, transponder, bill, securities, passport, electronic apparatus, bag, and garment
WO2022138583A1 (en) * 2020-12-25 2022-06-30 株式会社ニコン Method for manufacturing semiconductor integrated circuit, method for manufacturing semiconductor device, and exposure apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
GB2288250A (en) 1995-10-11
GB9406367D0 (en) 1994-05-25
GB2288250B (en) 1998-04-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5648198A (en) Resist hardening process having improved thermal stability
EP0160248B1 (en) Method of forming narrow photoresist lines on the surface of a substrate
US7629109B2 (en) Exposure control for phase shifting photolithographic masks
KR940016868A (en) Photolithographic apparatus of large die and method thereof
US6528238B1 (en) Methods for making patterns in radiation sensitive polymers
GB2286256A (en) A method for forming a pattern in photoresists on semiconductor devices
JP2004240287A (en) Manufacturing method of micro lens array
JPH07283373A (en) Manufacture of semiconductor device
US4035226A (en) Method of preparing portions of a semiconductor wafer surface for further processing
US20040121246A1 (en) Lithography process to reduce seam lines in an array of microelements produced from a sub-mask and a sub-mask for use thereof
KR100291331B1 (en) Apparatus for fabricating semiconductor device and method for forming pattern of semiconductor device
JP2001326153A (en) Method of forming resist pattern
JPS60161621A (en) Manufacture of semiconductor device
JPH02181910A (en) Formation of resist pattern
KR100587611B1 (en) A method of forming micro pattern
JPH05505474A (en) diffractive optical element
JPH02140748A (en) Resist pattern forming method
JPH03136233A (en) Manufacture of semiconductor device
JPS62135821A (en) Formation of pattern
JPH05259017A (en) Resist pattern forming method
KR19980016843A (en) Mask of semiconductor device
JPS61102035A (en) Manufacture of semiconductor device
KR20000037875A (en) Method for manufacturing micro structures using spatial light modulator and apparatus for manufacturing the same
JPH03246927A (en) Forming method of resist pattern
JPWO2021067909A5 (en)