JPH07282127A - プログラマブル論理デバイス用配線経路構成法 - Google Patents

プログラマブル論理デバイス用配線経路構成法

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JPH07282127A
JPH07282127A JP7000830A JP83095A JPH07282127A JP H07282127 A JPH07282127 A JP H07282127A JP 7000830 A JP7000830 A JP 7000830A JP 83095 A JP83095 A JP 83095A JP H07282127 A JPH07282127 A JP H07282127A
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antifuse
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capacitance
antifuses
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 容量と漏洩電流の問題点を克服したユーザ・
プログラマブル電子集積回路配線経路構成法を提供す
る。 【構成】 複数の導体(20〜24、トラック0〜2)
と複数の論理モジュール(12〜18)を含む電子回路
配線構成法において、アンチヒューズは、前記導体を相
互にかつ前記論理モジュールを接続する。選択した導体
は、少なくとも2つの導体セグメント、即ち第1セグメ
ント67と第2セグメント69に分離する。第1セグメ
ントの多数の潜在的アンチヒューズ位置(32、34、
36、38)にアンチヒューズを配置したとすれば、第
2セグメントのアンチヒューズが第2セグメントの全漏
洩容量に寄与するよりも大きな割合で第1セグメントの
全漏洩容量に寄与する。第1セグメントのアンチヒュー
ズは、プログラミング性に悪影響を与えずに漏洩電流と
容量を最適に低減するように選択的に間引かれる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は一般的に集積回路技術に
関し、より詳細には、フィールド・プログラマブル・ゲ
ート・アレー(Feild Programmabel Gate Array )、プ
ログラマブル論理デバイスなど集積回路の配線経路構成
法(routing architecture)に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】集積電
子回路は、全て製造段階の工程中でセットされた内部結
線を用いて作られているのが普通である。しかしなが
ら、電子回路を作るために必要なツールが巨額となるだ
けでなく、回路設計と開発費用も巨額となるため、新型
の集積回路が集積回路市場に現れている。これらの回路
は、回路内部のプログラム可能な一連のリンクを使用し
てユーザがプログラミングできるため、ユーザ・プログ
ラマブル回路と呼ばれている。プログラマブル・リンク
は、完全につくられかつパッケージされた集積回路デバ
イス内の電子ノードを選択して、ユーザが切断したり接
続したりする電気的接続(electrical interconnects)
のことである。これらの相互接続はプログラミングによ
ってできあがるが、このプログラムは選択した電子ノー
ドを動作可能にしたり動作不能にしたりして、その集積
回路が希望する機能あるいはユーザが希望する1組の機
能を実行できるようにする。
【0003】プログラマブル・リンクの1形式であるア
ンチヒューズ・リンク(antifuse link )は、2つまた
はそれ以上のコネクタの間に短絡抵抗あるいは(たとえ
ば1キロオーム以下の)低抵抗のリンクを生成する。ア
ンチヒューズ・リンクまたは簡潔にアンチヒューズは、
2つの導体あるいは半導体の要素で構成されていうるの
が普通であり、これらの要素の間には、ある種の誘電体
あるいは絶縁用材料がある。プログラメング中に、導電
要素間で選択された点の誘電体は、所定のプログラミン
グ電圧を選択したアンチヒューズの導電要素に印加する
ことにより発生する電流で破壊する。このことが、導電
要素あるいは半導電要素を電気的に接続すことになる。
【0004】使用されないアンチヒューズの有害な容量
や漏洩電流は、アンチヒューズを使用したユーザ・プロ
グラマブル集積回路において生ずる問題点である。つま
り、プログラミングされないときのアンチヒューズは通
常ではオープンデバイスであるが、アンチヒューズには
コネクタ間に付随する漏洩電流があり、コネクタ間に若
干の容量が生じる。いくつかのアンチヒューズは、プロ
グラミングされない状態のとき異なる特性を持ってい
る。たとえば、あるアンチヒューズは(たとえば、1ピ
コファラッドの範囲の)低容量であり、他のアンチヒュ
ーズは(たとえば、8ピコファラッドの範囲の)かなり
大容量である。一方、あるアンチヒューズは、他のアン
チヒューズの漏洩電流より(たとえば、30ナノアンペ
アに対して1ナノアンペアと)低いレベルの漏洩電流で
ある。しかしながら、すべてのアンチヒューズは漏洩電
流と容量を有しており、これらの漏洩電流と容量が、ア
ンチヒューズを使用したユーザ・プログラマブル集積回
路の動作に悪影響を及ぼすのである。
【0005】したがって、既存の配線経路構成法に内在
する容量と漏洩電流の問題点を克服するため、アンチヒ
ューズを使用したユーザ・プログラマブル集積回路に対
する配線経路構成法を改善する必要性がある。
【0006】しがたって、本発明は、フィールド・プロ
グラマブル・ゲート・アレー(FPGA)などのプログ
ラマブル論理デバイスに対して、先行技術による集積電
子回路配線経路構成法に付随する不具合および制限事項
を克服あるいは低減する改善された配線経路構成法を提
供する。
【0007】
【課題を解決する手段】本発明の一側面は、低漏洩電流
と低容量であると共に、複数の設計された導体と複数の
設計された機能回路ブロックを備えたユーザ・プログラ
マブル集積回路の設計を含む集積電子回路配線経路構成
法である。本配線経路構成法では、複数のユーザ・プロ
グラマブル・アンチヒューズ要素が複数の導体と複数の
機能回路ブロックに接続している。複数のユーザ・プロ
グラマブル・アンチヒューズ要素は、複数の導体を相互
に接続しかつ複数の機能回路ブロックに接続している。
複数の導体は、ユーザ・プログラマブル・アンチヒュー
ズ要素の関連導体を有し、第1のグループおよび第2の
グループを含む少なくとも2つのグループに分離され
る。アンチヒューズ要素の第1のグループには、充分に
多数のユーザ・プログラマブル・アンチヒューズ要素が
含まれているので、ユーザ・プログラマブル・アンチヒ
ューズ要素の関連導体は、該アンチヒューズ要素の第2
のグループの関連導体が、第2のグループの全漏洩電流
および容量に対して寄与するよりも多い部分を、第1の
グループの全漏洩電流および全容量に対して寄与する。
第1のグループに付随するアンチヒューズ要素は、第1
のグループの漏洩電流と容量を最適に低減するためにグ
ループから選択的に間引かれる(depopulated )ことに
より、その電子回路の漏洩電流と容量を低減するが、ユ
ーザ・プログラマブル集積回路のプログラミング性(pr
ogrammability )の低下は最小である。
【0008】本発明の技術上の利点は、集積回路の特定
のゲート密度が最適になるように各種の長さのセグメン
ト上のアンチヒューズの数を減少していることである。
本発明の概念を使用するアンチヒューズを備えた集積電
子回路では、信号伝搬遅延時間が短縮し、さらにCMO
Sの尖頭電流および平均電流が減少したことを経験して
いる。このことは、電流iが次の関係を持つ事実に基づ
いている。則ち、i=fcv、であり、ここにi=電
流、f=周波数、c=容量、v=電圧であり、その両端
に直流電圧が印加されているアンチヒューズの静止漏洩
電流(quiescentleakage currents)が減少する。
【0009】本発明の他の技術的利点は、関連集積回路
のコストあるいは集積回路の設計の費用を増加すること
なく、漏洩電流を低減し全体の容量を低減していること
である。
【0010】本発明のさらに別の技術的利点は、プログ
ラマブル回路の融通性をそれほど損なうことなく、本発
明の概念を取り入れた集積電子回路の漏洩電流と全体の
容量を低減していることである。
【0011】
【実施例】本発明とその使用形態および利点は、以下に
述べる本発明の分かりやすい実施例の説明を添付の図面
と共に読みかつ参照することにより、最も良く理解され
るであろう。
【0012】本発明の分かりやすい実施例を最も良く理
解できるのは、図面を参照することであるが、図面中同
じ参照番号は、各種図面の同じかつ対応する部分に使用
されている。
【0013】図1は、ユーザ・プログラマブル集積回路
10を示しているが、集積回路10には、たとえば、参
照番号12の論理モジュール0(LM0)、14のLM
1、16のLM2および18のLM3が含まれている。
LM0からLM3のそれぞれに接続しているのは入力ピ
ン、即ち参照番号がそれぞれ20、22、24の入力ピ
ンA、B、Cの形をとる導体であり、入力ピンA、B、
Cは、トラック即ち参照番号が26のトラック0、28
のトラック1および30のトラック2の形をとる別の導
体に接続できる。アンチヒューズ、即ちトラック0を入
力ピンAに接続するアンチヒューズ32、トラック14
入力ピンBに接続するアンチヒューズ34およびトラッ
ク2を入力ピンCに接続するアンチヒューズ36は集積
回路の中にある。したがって、集積回路10が示すよう
に、トラック1とピンAの交差点38のような接続があ
ってもよいが、アンチヒューズは現れていない。したが
って入力ピンAとトラック1との間の接続は、この構成
では起こりえない。そのかわり、アンチヒューズ34
は、唯一のアンチヒューズ・リンクとしてトラック1を
入力ピンBに接続する。さらに、別のユーザ・プログラ
マブル・アンチヒューズは、その集積回路に接続する外
部ボンディング・パッドと通信するため、少なくとも1
つの入出力機能回路に接続することができる。
【0014】本実施例の創造的概念は、いろいろな長さ
のセグメント上のアンチヒューズの数を減少する方法論
にある。したがって、本発明の実施例を使用する方法
は、セグメントの長さに従って、あるいはそのデバイス
の特定のゲート密度に対して最適な量に従って、そのセ
グメントからアンチヒューズを除去するのである。たと
えば、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレー
(FPGA)のゲート密度を選択することができる。そ
の反対に、アンチヒューズを最適に間引く(depopulat
e)という別の方法もある。
【0015】最適数のアンチヒューズを間引く方法が決
定すると、完成してパッケージされた集積回路に対して
ユーザが持っているマクロライブラリを検討することが
有用になる。しかし、重要なことは、最も共通なマクロ
を処理するためにセグメントは適正な数のアンチヒュー
ズが組込まれて(populated )いるということである。
【0016】本実施例は、短いトラックから同数のアン
チヒューズの接続を除去することに比べると、最小の融
通性が損なわれるだけで長いトラックからアンチヒュー
ズを削減することができるという観測結果を利用してい
る。したがって、長いトラックからアンチヒューズを除
去することは、長いトラックの融通性を適当に保持でき
るので、アンチヒューズを使用した集積回路の融通性も
適当に保持できることになる。
【0017】短いセグメントに対して長いセグメントを
定義する場合、アンチヒューズがそのセグメントの全漏
洩電流と全容量に寄与することを、漏洩電流と容量に基
づいて区別することが可能である。図1のユーザ・プロ
グラマブル集積回路10は、等価な論理モジュール構成
と導体構成を備えた既存のユーザ・プログラマブル回路
に比較して、一般により低い漏洩電流と減少した容量と
共に、効果的な接続能力を備えている。本実施例によれ
ば、ユーザ・プログラマブル集積回路10を設計する配
線経路構成法は、トラック0、トラック1およびトラッ
ク2などの導体の回路レイアウトを、少なくとも2つの
グループの導体に分離するようになっている。第1のグ
ループは充分に多数のアンチヒューズ要素を備えている
ので、このアンチヒューズ要素は、第2のグループに付
随するアンチヒューズ要素が、第2のグループの全漏洩
電流および全容量に対して寄与するよりも大きな割合
で、第1のグループの全漏洩電流および全容量に対して
寄与する。これらの違いにより、本配線経路構成法は、
第1のグループアンチヒューズから選択したアンチヒュ
ーズを間引くことを熟考している。選択したアンチヒュ
ーズは、第1のグループの全漏洩電流と全容量を最適に
低減しながら、そのユーザ・プログラマブル集積回路の
プログラミング性の低下を最小にするように選択され
る。
【0018】以下の例は、アンチヒューズを備えたユー
ザ・プログラマブル集積回路の容量と漏洩電流を計算す
る一方法を示している。これらの計算により、セグメン
トを複数のグループに集めることが可能であり、そのグ
ループに対して選択的にアンチヒューズを間引くことに
より漏洩電流と容量を大幅に減少できるのである。この
形式の相違点により、選択的にアンチヒューズを間引く
ことで達成できた全漏洩電流と全容量の減少を計算でき
るのである。
【0019】この計算は、セグメントの容量と関連する
漏洩電流を解析することから始まる。セグメントの容量
は次に示す式を使用して計算できる。
【数1】 セグメント容量= [Cmetal *長さ]+[Cantifuse*数antifuse」+Cjunction (1) 特定のパラメータの値を使用した例は、アンチヒューズ
をそこから間引く導体のグループの間で区別する概念を
理解するときの助けになる。次に示すパラメータの値を
使って容量を計算すると、次の値になる。 Cmetal =0.3fF/μm 長さ =200μm (論理モジュールの幅ある
いは高さあたり) Cantifuse =5fF/アンチヒューズ 数antifuse =16 (論理モジュールあたり) Cjunction =100fF(分割用トランジスタ(segme
ntation transistor)とプログラミング用トランジスタ
を含む) セグメント容量=(0.3fF/μm*200μm)+
(5fF)*(16アンチヒューズ)+100fF=2
40fF 一般に、各種の間引き構成は以下のようになる。
【数2】 CTOTAL =全回路容量=(他の容量+Cantifuse) (2)
【数3】 Cfull =全アンチヒューズが組込まれた回路容量 =(100+60fF/論理モジュール幅)+ 80fF/論理モジュール幅 (3)
【数4】 Chalf =全アンチヒューズレベルの2分の1が組込まれた アンチヒューズのある回路容量 =(100+60fF/論理モジュール幅+ 40fF/論理モジュール幅) (4)
【数5】 Cquarter =全アンチヒューズレベルの4分の1だけが組込まれた アンチヒューズのある回路容量 =(100+60fF/論理モジュール幅)+ 20fF/論理モジュール幅 (5)
【0020】下の表1はいろいろな長さのトラックに付
随する容量のサンプルを示す。
【表1】
【0021】複数のラインと交差するセグメントの場合
に関する別の例を示す。この関係は次の形式をとる。
【数6】 Ctotal =(100+60W)+[80W*(間引き係数)] (6) ここに、W=1つのセグメントが交差する線の数であ
る。したがって、本実施例は、4から8論理モジュール
長のセグメントを50%間引くことにより全体負荷の2
5%ほどを削減している。本発明者は28論理モジュー
ル長のセグメントを75%間引くことにより全体負荷の
40%の削減に成功している。更に別の例を挙げると、 Cmetal =0.3fF/μm 長さ =200μm Cantifuse =1fF/アンチヒューズ 数antifuse =16 アンチヒューズ Cjunction =100fF の場合、
【数7】 Ctotal =(他の容量)+Cantifuse (7)
【数8】 Cfull=(100+60fF/論理モジュール幅)+16fF (8)
【数9】 Chalf =(100+60fF/論理モジュール幅)+8fF (9)
【数10】 Cquarter =(100+60fF/論理モジュール幅)+2fF (10)
【0022】表2は、式(7)から式(10)を使用し
て、変化する長さのトラックに対する容量値のサンプル
を引き出している。これによって、容量における間引き
の効果を示すことができる。
【表2】
【0023】一般に、W本のラインを交差するセグメン
トに関して、
【数11】 Ctotal =(100+60W)+[16W*(間引き係数)」 (11)
【0024】この例は、もしわずか1フェムトファラッ
ド(fF)のアンチヒューズを技術的に生産することが
できるならば、アンチヒューズの間引きにより性能が改
善されるということは疑わしいことを示している。本例
が示すように、50%間引いたとしても、全体の負荷の
削減は5%から10%にしかならないのである。
【0025】選択的な間引きが有効なセグメントの間を
適切に区別するときと同様、適正な量の間引きを決定す
る場合、アンチヒューズに欠点のある(たとえばアモル
ファス・シリコンα−Siのような)ある種の材料は理
想的な絶縁物ではない。信号の配線経路構成の可能性
(routability )あるいはプログラミングに許容不能な
低下を伴わなければ、漏洩電流を低減するのに選択的な
間引きを採用してもよい。漏洩電流が、125℃、5ボ
ルトでアンチヒューズ当たり50ナノアナペアでありか
つそれがすべて無欠点のCMOS内のα−Siアンチヒ
ューズのためであるとすれば、漏洩電流に対する間引き
の効果を研究するために表3の値を計算することができ
る。表3において、パラメータNTはトラック数を示
し、SLはセグメント長を意味し、NAはアンチヒュー
ズの数を意味し、ALはアンチヒューズの漏洩電流を意
味している。複数のトラックと交差するセグメントに関
して、全容量を示す式は次の形をとる。即ち、
【数12】 CTOTAL =(100+60W)+16W*(間引き係数) (12)
【0026】40トラック×58論理モジュール幅=2
320潜在的セグメント/チャネルとなる。したがっ
て、水平方向配線経路構成のトラックを間引くためにこ
の方式を使用すると、漏洩電流は50%低減する。容量
と漏洩電流を解析したこの例から、この代表的な技術に
対する好適実施例は、5〜9論理モジュール幅のセグメ
ントの50%を、10〜20論理モジュール幅のセグメ
ントの75%を間引くことである。この解析を通じて、
誰でもその人専用の技術のパラメータ特性を容易に採用
して、本技術に良く適合する実施例を素早く引き出すこ
とがきるであろう。
【表3】
【0027】本発明には、多数の創造的な概念を実現す
る広範囲な構成の用途がある。したがって、図2は別の
実施例を示しているが、この実施例は、1組の分割用ト
ランジスタを介して、集積回路の選択的にアンチヒュー
ズを間引いた長いセグメントを高密度でアンチヒューズ
を組み込んだセグメントに隣接させている。選択的に間
引いた集積回路40を参照すると、分割用トランジスタ
/アンチヒューズを介して、全数あるいは高密度でアン
チヒューズが組込まれたセグメント44に隣接する選択
的に間引いた長いセグメント42がある。選択的に間引
いた長いセグメント42には、たとえば、論理モジュー
ルLM0からLM6が含まれている。各論理モジュール
LM0からLM6に対して、3個の入力ピンA、Bおよ
びCがトラック0、トラック1およびトラック2につな
がっている。トラック0のセグメント43、トラック1
のセグメント45およびトラック2のセグメント47の
それぞれに対して、分割用トランジスタ48、49、5
0がそれぞれ短いセグメントトラック52、54、56
に接続している。またLM7もセグメント52でトラッ
ク0に、セグメント54でトラック1に、セグメント5
6でトラック2に交差する入力ピンA、B、Cを備えて
いる。疎に組込まれた(sparsely populated)アンチヒ
ューズを備えることとは反対に、短いセグメント44に
は、短いセグメント52、54、56に対する入力ピン
A、B、Cのそれぞれにアンチヒューズが含まれてい
る。結果として短いセグメントに対して総計9個のアン
チヒューズがあることになる。
【0028】しかし、分割用ヒューズ46の効果的な特
徴は、短いセグメント44を長いセグメント42に隣接
させることが必要なときに限り、高密度で組込まれたセ
グメント44が、疎に組込まれた長いセグメント42に
接続するということである。結果として、たとえば、ト
ラック0は、トランジスタ48に電気的に並列な分割用
アンチヒューズをプログラミングすることによってトラ
ック0のセグメント52にジャンパーできる。一方、分
割用トランジスタ49は、トラック1のセグメント45
とセグメント54との間をオープンにしておくことがで
きるので、セグメント54の高密度アンチヒューズ部分
の単位長あたり大きな漏洩電流と容量によって、長いセ
グメント42の動作が影響を受けることはない。
【0029】図3は、本発明のさらに進んだ実施例を示
しているが、この実施例には同じトラックのセグメント
の空間的に分散配置された点あるいは互い違いになった
分割用の点が含まれている。このような形式の互い違い
の配列をすると、ユーザ・プログラマブル集積回路60
の配線経路構成の可能性が改善する。したがって、互い
違いに配列されたユーザ・プログラマブル集積回路60
には、論理モジュールLM0からLM5が含まれてお
り、各論理モジュールには、付随する入力ピンA、B、
Cが備えられている。ユーザ・プログラマブル集積回路
60の中にはトランジスタ62、64、66、68、7
0、72などの分割用トランジスタがある。この分割用
トランジスタは、ユーザ・プログラマブル集積回路60
の別の点に配置することもできる。したがって、図2の
分割用トランジスタが整列されている代わりに、図3の
分割用トランジスタは、各種トラックに沿った異なる点
に配置されている。この結果として、ユーザ・プログラ
マブル集積回路60あるいは図1の同じようなユーザ・
プログラマブル集積回路10の配線経路構成の可能性は
一般に改善される。
【0030】図4は、異なる長さを持つ長いセグメント
のさらに別の例を示している。図1から図7の回路図
は、本発明を説明するため非常に簡潔な3入力論理モジ
ュールを示している。注意されたいことは、アンチヒュ
ーズを使用したFPGA配線経路構成法における論理モ
ジュールは6から10あるいはもっと多くの入力を備え
ているのが普通だということである。したがって、実際
の場合は、疎に組込まれたセグメントは、1つ以上の潜
在的に組込まれた入力アンチヒューズ位置(potential
populated input antifuse location )を備えることが
できる。このような場合、回路設計者は、マクロライブ
ラリおよびマクロ利用度の関連統計からの情報を利用し
て、どの論理モジュールの入力が最も頻繁に組み込まれ
るか、あるいはその反対に、どの論理モジュールの入力
が最も頻繁に間引かれるかを決定することができる。そ
れと同時に、設計者は間引くことによって配線経路構成
の可能性の低下を最小にすることを検討しなければなら
ない。
【0031】図4のユーザ・プログラマブル集積回路8
0は、いろいろな長さの高密度セグメントを示してい
る。したがって、高密度セグメント82はトラック0に
現れ、分割用トランジスタ84を介してトラック0の部
分86につながる。同様に分割用トランジスタ88はト
ラック1の部分90を短い高密度セグメント92から分
離する。トラック0の疎に組込まれたセグメント86と
トラック1の疎に組込まれたセグメント90とは異なる
長さを持っていることに注意されたい。同じことは高密
度で組込まれたセグメント82と高密度で組込まれたセ
グメント92とに対してもあてはまる。同様な方法で、
分割用トランジスタ94、96はトラック3を3つのセ
グメントに分離する。つまりセグメント98、100の
2つのセグメントは疎に組込まれており、一方短くて高
密度で組込まれたセグメントは分割用トランジスタ9
4、96によって分離されている。
【0032】図5は、図4のユーザ・プログラマブル集
積回路と同じユーザ・プログラマブル集積回路110を
示しており、疎に組込まれたセグメントに組み込まれる
論理モジュールの入力を分散する必要性を示している。
したがって、分割用トランジスタ114は、疎に組込ま
れたセグメント112を高密度で組込まれたセグメント
116から分離する。同様に、分割用トランジスタ12
2、124はそれぞれ疎に組込まれたセグメント11
8、120を短くて高密度で組込まれたセグメント12
6から分離する。また、分割用トランジスタ128、1
30はそれぞれ、選択的に間引かれたセグメント13
2、134を高密度で組込まれた短いセグメント136
から分離する。
【0033】したがって、ユーザ・プログラマブル集積
回路110は、疎セグメントが2つの異なる機能入力に
アクセスできるようにするという希望する効果を達成し
ている。このことは、(たとえば、マルチプレクサを使
用した論理モジュールなど)非同期の入力機能を備えた
論理モジュールを使用する配線経路構成法にとっては重
要なことである。たとえば、2入力NANDゲートを実
行する論理モジュールだとすれば、この論理モジュール
の入力は、入力ピンA、Cでは希望する結果が得られな
いような論理モジュールの入力ピンB、Cであることが
要求される。組込まれた入力をセグメントの周囲にシフ
トすると、配置付けツール(placementtool)によりマ
クロ手続き(macro instance)が経路付け可能な位置に
シフトされる。
【0034】図6には、さらに進んだユーザ・プログラ
マブル集積回路140の実施例が示されている。ユーザ
・プログラマブル集積回路140には、トラック0の分
割用トランジスタ142、トラック1の分割用トランジ
スタ144、トラック2の分割用トランジスタ146が
含まれている。図6の実施例は、個々のセグメントの内
部の可変数のアンチヒューズを間引く概念を示してい
る。図6のユーザ・プログラマブル集積回路140が実
現している概念の1つは、アンチヒューズの数と、それ
に伴う寄生漏洩電流と寄生容量の特性値を大幅に削減し
ながら、配線経路構成の可能性を増加させるという考え
である。ユーザ・プログラマブル集積回路140では、
セグメントは、たとえば、LM0、LM8、LM9はト
ラック0接続されているので、LM0などの駆動ノード
(driving node)とLM8あるいはLM9などのあて先
点(destination point )との間のかなりの距離を横断
することができる。
【0035】ユーザ・プログラマブル集積回路140の
トラック0が示すように、LM0あるいはLM1とLM
8あるいはLM9との間では、信号は非常に稀に要求さ
れるだけである。したがって、この距離は選択的に間引
きされる。セグメントの両端付近のアンチヒューズの組
込み密度(density of the antifuse population)を増
やせば、セグメントの信号が要求された論理モジュール
に対して使用可能であるという確率は増大する。また、
このことは、長くて疎のセグメントに接続されている、
短くて高密度セグメントを必要とする頻度を減少させる
かもしれない。
【0036】図7には、本発明のいくつかの創造的概念
の組合わせが示されている。たとえば、図7には、長い
セグメント154の高密度で組込まれた部分に接続して
いる長いトラック0の分割用トランジスタ152が含ま
れている。これらの高密度で組込まれた部分はLM0と
LM1につながっている。長いセグメント154の別の
高密度で組込まれた部分はLM7とLM8に現れてい
る。LM9も高密度で組込まれた部分であるが、LM9
からLM8を分離しているのは、分割用トランジスタ1
56である。トラック1に高密度で組込まれたセグメン
トLM0があるが、LM0は、LM6とLM7との高密
度で組込まれた部分までは疎に組み込まれている。分割
用トランジスタ160は、トラック1に沿ったLM8と
LM9とのアンチヒューズを分離している。トラック2
では、長いセグメント162の疎に組込まれた部分が、
長いセグメント162のLM5とLM6に関する部分ま
で続いている。分割用トランジスタ164は、LM6と
LM7を分離し、分割用トランジスタ166は短いセグ
メント168を高密度で組込まれたセグメント170か
ら分離している。
【0037】したがって、図7のユーザ・プログラマブ
ル集積回路150は、短くて高密度で組み込まれセグメ
ントと共に、高密度で組込まれた部分あるいはセグメン
トの両端を備えた、可変(アンチヒューズ)数が間引か
れた(variably depopulated:以下「可変数で間引かれ
た」と略記する)長い疎のセグメントを含む組合わせを
示している。図4のユーザ・プログラマブル集積回路8
0の場合のように、ユーザ・プログラマブル集積回路1
50の短くて高密度で組み込まれたセグメントを可変長
にすることができる。
【0038】図8は、本発明のさらに進んだ実施例をユ
ーザ・プログラマブル集積回路180の形で示してい
る。ユーザ・プログラマブル集積回路180は、各種実
施例の創造的概念が配線経路構成法のX、Y方向(dime
nsions)にどのように使用されているかを示している。
例を挙げると、ユーザ・プログラマブル集積回路180
では、LM0は、それぞれトラック0、トラック1、ト
ラック2にそれぞれ関連するアンチヒューズ・リンク1
82、184、186を有する入力ピンA、B、Cをそ
れぞれ備えている。これらはY方向に現れる上記説明の
接続である。しかし、また出力ピンQはLM0から出て
アンチヒューズ192、194の位置で縦方向トラック
188、190とそれぞれ交差する。また、縦方向トラ
ック188、190は、アンチヒューズ196、198
の位置でトラック0と、アンチヒューズ200、202
の位置でトラック1と、さらに、たとえばアンチヒュー
ズ204の位置でトラック2と交差する。さらに、分割
用トランジスタ206、208は、たとえば、縦方向ト
ラック188、190を、アンチヒューズリンク21
4、216を介してLM4の出力ピンQに接続している
縦方向トラック部分210、212から分離する。
【0039】このように、ユーザ・プログラマブル集積
回路180は、各種実施例のアイデアが配線経路構成法
のX、Y方向の双方に使用できることを説明しようとし
てている。ユーザ・プログラマブル集積回路180の簡
単な場合では、長い疎のセグメントが、わずか2つの論
理モジュールの行として示されている。高密度で組込ま
れた短いセグメントは一行の高さ(a single row tall
)である。実際の場合は、縦方向セグメントの長さは
もっと長くかつ変えることができる。したがって、上に
示した図1から図7の実施例の創造的概念は、縦方向配
線経路構成の資源にも適用できる。さらに、図8に示す
出力は各列の2つの縦方向セグメントに溶解できるよう
に示されているが、該出力は、縦方向セグメントあるい
は水平方向セグメントのいずれかに確実に接続されてい
る一方、同一方向に延びている追加セグメント(additi
onal segments)あるいは出力セグメントに隣接する外部
セグメントに対しては溶解できるようになっている。
【0040】本発明の技術上の利点は、本発明が、アン
チヒューズからの漏洩電流と容量が、コネクタの全漏洩
電流と全容量に対して希望する量以上に寄与している集
積電子回路のコネクタ間を識別する方法(a way of dif
ferentiating)を提供していることである。
【0041】本発明の別の技術上の利点は、本発明が、
次に示すようなフィールド・プログラマブル・ゲート・
アレー(FPGA)を含む数多くの論理デバイスに使用
できることである。即ち、このFPGAは、たとえば、
FPGAの論理モジュールを各種のトラックに接続する
アンチヒューズに付随する漏洩電流と容量による望まぬ
効果を最小にする一方で、FPGAのプログラミング性
を最適にするFPGAである。
【0042】本発明の別の技術上の利点は、本発明が、
集積電子回路をプログラムするために使用可能なマクロ
(potential macro )に従って、候補となる配線経路構
成から間引く特定のアンチヒューズを選択できるように
していることである。
【0043】要約すると、本発明には、たとえばユーザ
・プログラマブル集積電子回路の全漏洩電流と全容量を
低減する方法およびシステムなど、各種実施例が含まれ
ていることである。ユーザ・プログラマブル集積回路
は、導体に接続されると共に電子回路を形成する機能回
路ブロックに接続されるユーザ・プログラマブル・アン
チヒューズをプログラミングすることによって、相互に
接続されると共に機能回路ブロックに接続される導体を
備えている。方法に関するステップには、それぞれがア
ンチヒューズを持つ少なくとも2つのセグメントに導体
を分離することが含まれている。2つの導体のセグメン
トには第1のセグメントと第2のセグメントが含まれて
いる。第1のセグメントには充分に多数の潜在的なアン
チヒューズ用位置(potential antifuse sites)がある
ので、潜在的なアンチヒューズ用位置のそれぞれにアン
チヒューズが配置されるとすれば、このアンチヒューズ
は、第2のセグメントのアンチヒューズが、第2のセグ
メントの全漏洩電流および全容量に対して寄与するより
も大きな割合で、第1のセグメントの全漏洩電流および
全容量に対して寄与する。この方法には、第1のセグメ
ントの潜在的なアンチヒューズ位置の選択した位置を間
引くステップがさらに含まれている。選択されたアンチ
ヒューズは、電子回路の全漏洩容量を低減する第1の設
計グループの全漏洩電流と全容量を最適に低減しなが
ら、その電子回路のプログラミング性を最も少なく減少
するように選択されている。
【0044】上に特定した実施例を参照して本発明を説
明してきたが、本説明が、限定的意味に解釈されること
を意味していない。代替的な実施例と同様、開示した実
施例のいろいろな修正ができることは、上記説明を参照
すれば当業者には明かなことである。したがって、添付
の請求の範囲は、本発明の真の範囲内に落ちる、かかる
修正を含むことができるべく熟考されている。
【0045】以上の説明に関して更に以下の項を開示す
る。 1.低漏洩電流と低容量とを持ったユーザ・プログラマ
ブル電子回路の配線経路構成法であって、複数の導体と
複数の機能回路ブロックを含むユーザ・プログラマブル
集積回路設計と、前記複数の導体と前記複数の機能回路
ブロックに接続され、前記複数の導体を相互に接続しか
つ前記複数の機能回路ブロックに接続するように設計さ
れた複数のユーザ・プログラマブル・アンチヒューズ
と、少なくとも2つのセグメントに分離された前記複数
の導体の少なくとも選択された導体であって、前記少な
くとも2つのセグメントは、第1のセグメントと第2の
セグメントを含み、前記第1のセグメントは、もしアン
チヒューズが、前記潜在的なアンチヒューズ位置のそれ
ぞれに配置されるとすれば、かかるアンチヒューズは、
前記第2のセグメントの全ての潜在的なアンチヒューズ
位置に配置されたアンチヒューズが前記第2のセグメン
トの全漏洩電流および全容量に対して寄与するよりも大
きな割合で、前記第1のセグメントの全漏洩電流および
全容量に対して寄与するように、充分に多数の潜在的な
アンチヒューズ位置を含む、前記少なくとも選択された
導体と、前記第1のセグメントの漏洩電流および容量を
低減しかつ前記ユーザ・プログラマブル集積回路のプロ
グラミング性に悪影響を与えないため選択的に間引かれ
た前記第1のセグメントに付随する複数のアンチヒュー
ズの前記アンチヒューズと、を含むことを特徴とする配
線経路構成法。
【0046】2.第1項記載の配線経路構成法であっ
て、前記複数のユーザ・プログラマブル・アンチヒュー
ズは、集積回路に接続する外部ボンディングパッドと通
信する少なくとも1つの入力/出力機能回路にさらに接
続することを特徴とする配線経路構成法。
【0047】3.第1項記載の配線経路構成法であっ
て、前記第1のセグメントは前記導体の長いセグメント
を含み、前記第2のセグメントは前記導体の短いセグメ
ントを含み、前記長いセグメントは前記短いセグメント
より長さが長いことを特徴とする配線経路構成法。
【0048】4.第1項記載の配線経路構成法であっ
て、前記第1のセグメントは、前記導体の中のアンチヒ
ューズに付随する全漏洩電流と全容量を計算することに
より、前記第2のセグメントから区別されることを特徴
とする配線経路構成法。
【0049】5.第1項記載の配線経路構成法であっ
て、前記アンチヒューズは、前記第1のセグメントから
前記アンチヒューズの2分の1を選択的に間引くことに
より、選択的に間引かれることを特徴とする配線経路構
成法。
【0050】6.第1項記載の配線経路構成法であっ
て、前記ユーザ・プログラマブル集積回路設計はフィー
ルド・プログラマブル・ゲート・アレー回路の設計を含
むことを特徴とする配線経路構成法。
【0051】7.第1項記載の配線経路構成法であっ
て、前記ユーザ・プログラマブル集積回路設計はプログ
ラマブル論理デバイス回路の設計を含むことを特徴とす
る配線経路構成法。
【0052】8.第1項記載の配線経路構成法であっ
て、前記複数のアンチヒューズの前記アンチヒューズ
は、前記アンチヒューズの容量レベルの結果として間引
かれることを特徴とする配線経路構成法。
【0053】9.第1項記載の配線経路構成法であっ
て、前記第1のセグメントに付随する前記アンチヒュー
ズは、前記アンチヒューズが前記第1のセグメントの全
漏洩電流に寄与する漏洩電流の関数として、選択的に間
引かれることを特徴とする配線経路構成法。
【0054】10.第1項記載の配線経路構成法であっ
て、前記第1のセグメントに付随する前記アンチヒュー
ズは、前記ユーザ・プログラマブル集積回路設計に付随
するマクロライブラリに従って、選択的に間引かれるこ
とを特徴とする配線経路構成法。
【0055】11.ユーザ・プログラマブル集積回路を
使用する電子回路の設計において、全漏洩電流と全容量
とを減少する方法であって、該ユーザ・プログラマブル
集積回路は、複数の導体に接続されかつ電子回路を形成
する機能回路ブロックに接続されたアンチヒューズ要素
をプログラミングすることによって、相互に接続されか
つ複数の機能回路ブロックに接続される導体を備えてお
り、導体の少なくとも1部分を、第1のセグメントと第
2のセグメントとを含む少なくとも2つのセグメントに
分離するステップであって、、第1のセグメントは、も
しアンチヒューズが、潜在的なアンチヒューズ位置のそ
れぞれに配置されるとすれば、全数のアンチヒューズ
は、第2のセグメントの全ての潜在的なアンチヒューズ
位置に配置されたアンチヒューズが前記第2のセグメン
トの全漏洩容量に対して寄与するよりも大きな部分で、
前記第1のセグメントの全漏洩電流および全容量に対し
て寄与するように、充分に多数の潜在的なアンチヒュー
ズ位置を含むステップと、前記第1のセグメントの前記
潜在的なアンチヒューズ位置の選択した位置を間引くス
テップであって、前記選択された潜在的なアンチヒュー
ズ位置は、前記第1のセグメントの全漏洩電流と全容量
を減少することによって前記電子回路の全漏洩容量を減
少しながら、ユーザ・プログラマブル集積回路のプログ
ラミング性に悪影響を与えないように選択されるステッ
プと、を含むことを特徴とする方法。
【0056】12.第11項記載の方法であって、複数
のユーザ・プログラマブル・アンチヒューズのいくつか
のアンチヒューズを、前記電子回路に接続する外部ボン
ディングパッドと通信する、少なくとも1つの入力/出
力機能回路に接続するステップをさらに含むことを特徴
とする方法。
【0057】13.第11項記載の方法であって、前記
分離するステップは、第1のセグメントを少なくとも1
つの長いセグメントの導体として分離しかつ第2のセグ
メントを少なくとも1つの短いセグメントとして分離す
るステップであって、前記短いセグメントは長いセグメ
ントよりも短い長さを持つ前記ステップをさらに含むこ
とを特徴とする方法。
【0058】14.第11項記載の方法であって、前記
分離するステップは、導体設計の中のアンチヒューズに
付随する全漏洩電流と全容量を計算することにより、第
2のセグメントから第1のセグメントを区別するステッ
プをさらに含むことを特徴とする方法。
【0059】15.第11項記載の方法であって、前記
間引くステップは、第1のセグメントのユーザ・プログ
ラマブル・アンチヒューズ設計の2分の1を選択的に間
引くステップをさらに含むことを特徴とする方法。
【0060】16.第11項記載の方法であって、前記
分離するステップと前記間引くステップとをフィールド
・プログラマブル・ゲート・アレー設計に適用するステ
ップをさらに含むことを特徴とする方法。
【0061】17.第11項記載の方法であって、前記
分離するステップと前記間引くステップとをプログラマ
ブル論理デバイス回路設計に適用するステップをさらに
含むことを特徴とする方法。
【0062】18.第11項記載の方法であって、前記
間引くステップは、ユーザ・プログラマブル・アンチヒ
ューズ設計が、第1のセグメントの全容量を含む容量レ
ベルに基づいて前記アンチヒューズを選択的に間引くス
テップをさらに含むことを特徴とする方法。
【0063】19.第11項記載の方法であって、前記
間引くステップは、前記アンチヒューズが前記第1のセ
グメントの全漏洩電流に寄与する漏洩電流の関数として
前記アンチヒューズを間引くステップをさらに含むこと
を特徴とする方法。
【0064】20.第11項記載の方法であって、ユー
ザ・プログラマブル集積回路設計に付随するマクロライ
ブラリに従って、第1のグループ設計に付随する複数の
ユーザ・プログラマブル・アンチヒューズ設計のアンチ
ヒューズを選択的に間引くステップをさらに含むことを
特徴とする方法。
【0065】21.電子回路配線経路構成法には、複数
の導体(20、22、24、トラック0、トラック1、
トラック2)と複数の機能回路ブロックあるいは論理モ
ジュール(12、14、16、18)が含まれている。
ユーザ・プログラマブル・アンチヒューズは、導体(2
0、22、24、トラック0、トラック1、トラック
2)と機能回路ブロック(26、28、30)に接続す
る。アンチヒューズ(26、28、30)は導体(2
6、28、30)を相互にかつ機能回路ブロック(1
2、14、16、18)に接続する。選択された導体
は、少なくとも2つの導体セグメント(67および6
9)に分離する。第1のセグメントには、充分に多数の
潜在的なアンチヒューズ位置(32、34、36、3
8)が含まれているので、前記位置のそれぞれにアンチ
ヒューズが配置されるとすれば、アンチヒューズ(2
6、28、30)は、第2のセグメント(69)のアン
チヒューズが第2のセグメントの全漏洩電流と全容量に
寄与するよりも大きな割合で第1のセグメント(67)
の全漏洩電流と全容量に寄与する。第1のセグメントの
アンチヒューズは、ユーザ・プログラマブル集積回路の
プログラミング性に悪影響を与えずに漏洩電流と容量を
最適に低減するように選択的に間引かれる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のある種の概念の実現の可能性を示す
図。
【図2】本発明による長くかつアンチヒューズが間引か
れたセグメントに隣接して置くことができる最も短い長
さで、全数のアンチヒューズが組込まれたセグメントの
組合わせを示す図。
【図3】本発明の概念に一致して形成された同じトラッ
クのセグメントの分割点(segmentation point)の空間
的分散配置を示す図。
【図4】本発明に従って形成されたいろいろな長さを持
つセグメントを示す図。
【図5】アンチヒューズが疎に組込まれセグメントに対
してアンチヒューズを分配する回路の模式図。
【図6】本発明による個々のセグメント内で各種の数の
アンチヒューズを間引く概念を示す図。
【図7】高密度でアンチヒューズが組込まれたセグメン
トの両端を有し、可変アンチヒューズ数が間引かれた長
くて疎のセグメントと、隣接する短くて高密度でアンチ
ヒューズが組込まれたセグメントとの組合わせを示す
図。
【図8】本発明の創造的概念の応用を配線経路構成法の
X、Y方向で表す図。
【符号の説明】
10、40、60、80、110、140、150、1
80ユーザ・プログラマブル集積回路 12、14、16、18 論理モジュール/機能
回路ブロック 20、22、24 複数の導体 26、28、30、32、34、36、196、19
8、200、202アンチヒューズ/アンチヒューズリ
ンク 43、52、86 トラック0セグメント 45、54、90 トラック1セグメント 47、60、98 トラック2セグメント 48、19、50、62、64、66、68、70、7
2、84、88、94、 96、114、124、12
8、130、142、144、146、152、15
6、158、160、162、164、166、20
6、208分割用トランジスタ 42、86、90、100、112、118、122、
132、134疎セグメント 44、82、92、116、126、136、170高
密度セグメント 44、52、54、56、126、236、168短い
セグメント 42、118、120、154、162長いセグメント 188、190 縦方向トラック 210、212 縦方向トラック部分

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】低漏洩電流と低容量とを持ったユーザ・プ
    ログラマブル電子回路の配線経路構成法であって、 複数の導体と複数の機能回路ブロックを含むユーザ・プ
    ログラマブル集積回路設計と、 前記複数の導体と前記複数の機能回路ブロックに接続さ
    れ、前記複数の導体を相互に接続しかつ前記複数の機能
    回路ブロックに接続するように設計された複数のユーザ
    ・プログラマブル・アンチヒューズと、 少なくとも2つのセグメントに分離された前記複数の導
    体の少なくとも選択された導体であって、前記少なくと
    も2つのセグメントは、第1のセグメントと第2のセグ
    メントを含み、前記第1のセグメントは、もしアンチヒ
    ューズが、前記潜在的なアンチヒューズ位置のそれぞれ
    に配置されるとすれば、かかるアンチヒューズは、前記
    第2のセグメントの全ての潜在的なアンチヒューズ位置
    に配置されたアンチヒューズが前記第2のセグメントの
    全漏洩電流および全容量に対して寄与するよりも大きな
    割合で、前記第1のセグメントの全漏洩電流および全容
    量に対して寄与するように、充分に多数の潜在的なアン
    チヒューズ位置を含む、前記少なくとも選択された導体
    と、 前記第1のセグメントの漏洩電流および容量を低減しか
    つ前記ユーザ・プログラマブル集積回路のプログラミン
    グ性に悪影響を与えないため選択的に間引かれた前記第
    1のセグメントに付随する複数のアンチヒューズの前記
    アンチヒューズと、 を含むことを特徴とする配線経路構成法。
  2. 【請求項2】ユーザ・プログラマブル集積回路を使用す
    る電子回路の設計において、全漏洩電流と全容量とを減
    少する方法であって、該ユーザ・プログラマブル集積回
    路は、複数の導体に接続されかつ電子回路を形成する機
    能回路ブロックに接続されたアンチヒューズ要素をプロ
    グラミングすることによって、相互に接続されかつ複数
    の機能回路ブロックに接続される導体を備えており、 導体の少なくとも1部分を、第1のセグメントと第2の
    セグメントとを含む少なくとも2つのセグメントに分離
    するステップであって、、第1のセグメントは、もしア
    ンチヒューズが、潜在的なアンチヒューズ位置のそれぞ
    れに配置されるとすれば、全数のアンチヒューズは、第
    2のセグメントの全ての潜在的なアンチヒューズ位置に
    配置されたアンチヒューズが前記第2のセグメントの全
    漏洩容量に対して寄与するよりも大きな部分で、前記第
    1のセグメントの全漏洩電流および全容量に対して寄与
    するように、充分に多数の潜在的なアンチヒューズ位置
    を含むステップと、 前記第1のセグメントの前記潜在的なアンチヒューズ位
    置の選択した位置を間引くステップであって、前記選択
    された潜在的なアンチヒューズ位置は、前記第1のセグ
    メントの全漏洩電流と全容量を減少することによって前
    記電子回路の全漏洩容量を減少しながら、ユーザ・プロ
    グラマブル集積回路のプログラミング性に悪影響を与え
    ないように選択されるステップと、を含むことを特徴と
    する方法。
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