JPH07280721A - Optical device in vacuum ultraviolet area prevented from pollution - Google Patents

Optical device in vacuum ultraviolet area prevented from pollution

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JPH07280721A
JPH07280721A JP6076878A JP7687894A JPH07280721A JP H07280721 A JPH07280721 A JP H07280721A JP 6076878 A JP6076878 A JP 6076878A JP 7687894 A JP7687894 A JP 7687894A JP H07280721 A JPH07280721 A JP H07280721A
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JP
Japan
Prior art keywords
optical device
influence
eliminating
chamber
vacuum
Prior art date
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Pending
Application number
JP6076878A
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Japanese (ja)
Inventor
Norio Komine
典男 小峯
Masashi Fujiwara
誠志 藤原
Hiroyuki Hiraiwa
弘之 平岩
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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Publication of JPH07280721A publication Critical patent/JPH07280721A/en
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Abstract

PURPOSE:To enable the high accuracy measurement of an optical characteristic in a vacuum ultraviolet area by providing means for eliminating the influence of pollutant intermixed from the outside of a chamber at the time of evacuation. CONSTITUTION:In the constitution of an optical device, an oilless vacuum pump is used to prevent the reverse diffusion of oil of an oil rotating vacuum pump 21. A cold lap is to be 200K or less to coagulate and catch pollutive components. Dust and particulates are eliminated by the filter of a filter insert part 25, and pollutant is efficiently eliminated by permutite or actuvated alumina in an adsorbent filled part 24. In a charged filter, scavenging can be performed effectively since particulates are fine and scarce and the quantity of charge is small. One or plural of these means are combined to evacuate while eliminating the influence of pollutant.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は微量な汚染成分の影響に
よる光学特性の劣化が防止された真空紫外域で使用され
る光学装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical device used in the vacuum ultraviolet region in which deterioration of optical characteristics due to the influence of a trace amount of contaminants is prevented.

【0002】[0002]

【従来の技術】380nm以下波長の光は目には見え
ず、紫外線と呼ばれている。さらに波長が短くなり、2
20nm以下になると空気中では光を通さなくなる。こ
れは、空気中の酸素による光の吸収によるものである。
したがって、この波長域の光学系では光の経路から酸素
を排除するため、光の経路を真空に保つ必要がある。こ
のため、この波長域は真空紫外域と呼ばれている。
2. Description of the Related Art Light having a wavelength of 380 nm or less is invisible to the eyes and is called ultraviolet light. The wavelength becomes shorter and 2
When it is 20 nm or less, it cannot transmit light in the air. This is due to the absorption of light by oxygen in the air.
Therefore, in the optical system in this wavelength range, oxygen is excluded from the light path, so that the light path needs to be kept in vacuum. Therefore, this wavelength range is called the vacuum ultraviolet range.

【0003】近年、真空紫外光の利用分野は、測定・計
測機器、リソグラフィー技術、光CVD、レーザー加工
機などに広がりつつある。これらの機器においても、光
の経路から真空紫外光の吸収の影響を避けるため、その
内部を真空とした気密性のあるチャンバーを設け、内部
に光源、分光器、ミラー、レンズ、ウィンドーなどの光
学系が設置されていた。
In recent years, the field of application of vacuum ultraviolet light is expanding to measuring / measuring equipment, lithography technology, optical CVD, laser processing machines and the like. In these devices as well, in order to avoid the influence of absorption of vacuum ultraviolet light from the path of light, an airtight chamber with a vacuum inside is installed, and the inside of the light source, spectroscope, mirror, lens, window, etc. The system was installed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、このような構
成の装置により真空紫外域の透過率、反射率等の光学特
性の測定を高精度に行う場合、200nm付近に原因不
明の吸収が発生し、十分な精度での測定ができなかっ
た。さらに、光学系の光学特性の経時変化としてグレー
ティング,ウィンドー,ミラー等の光学素子の特性劣化
による迷光やS/N比の低下が短期間で発生した。
However, when the optical characteristics such as transmittance and reflectance in the vacuum ultraviolet region are measured with high accuracy by the apparatus having such a structure, absorption of unknown cause occurs at around 200 nm. , Could not be measured with sufficient accuracy. Further, as the optical characteristics of the optical system change with time, stray light and a decrease in S / N ratio due to deterioration of characteristics of optical elements such as a grating, a window and a mirror occur in a short period of time.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】これらの問題につき鋭意
研究した結果、発明者らは真空チャンバー内の気体の排
気操作が、逆にチャンバー、その内部の光学系および測
定試料を汚染し、上記の問題を発生させていたという事
実を見いだした。汚染物質は油回転真空ポンプのオイル
の微少な逆拡散、微粒子、ミスト、チャンバー内面から
揮発したガス成分等であり、これらが200nm付近の
波長の光を吸収し精度を悪化させ、さらには光学素子に
付着し、光学特性を劣化させ、光学素子の寿命を縮めて
いた。
As a result of intensive studies on these problems, the inventors found that the operation of exhausting the gas in the vacuum chamber conversely contaminates the chamber, the optical system inside the chamber, and the measurement sample. I found the fact that it was causing problems. The pollutants are minute back diffusion of oil in the oil rotary vacuum pump, fine particles, mist, gas components volatilized from the inner surface of the chamber, etc., which absorb light with a wavelength of around 200 nm and deteriorate accuracy, and further, optical elements. Adhered to and deteriorated the optical characteristics and shortened the life of the optical element.

【0006】そこで上記問題点の解決のために、本発明
においては、真空排気が可能なチャンバーと、その外部
に設けられた真空排気経路と、チャンバー内部に設けら
れた光学系とを有する光学装置において、真空排気の際
に真空排気経路からチャンバー内部に混入する汚染物質
の影響を排除する手段を設けたことを特徴とする光学装
置とした。
In order to solve the above problems, therefore, in the present invention, an optical device having a chamber capable of vacuum evacuation, a vacuum evacuation path provided outside thereof, and an optical system provided inside the chamber. In the above, the optical device is provided with a means for eliminating the influence of contaminants mixed in the chamber from the vacuum exhaust path during vacuum exhaust.

【0007】[0007]

【作用】本発明においては、真空排気の際にチャンバー
外部から混入する汚染物質の影響を排除する手段を設け
たことにより、測定精度の低下や特性の劣化を防ぐこと
ができる。この汚染防止の効果は、100nm以上22
0nm以下において明確に見られる。それは、170n
m以下では、重水素ランプ等の光源の強度が低下し、グ
レーティング,ウィンドー,ミラー等の光学素子の汚染
による迷光やS/N比の低下の影響が顕著になるためで
あり、170〜220nm付近ではオイルによる汚染の
吸収の影響が大きいためである。
In the present invention, the provision of means for eliminating the influence of contaminants mixed from the outside of the chamber during evacuation makes it possible to prevent deterioration of measurement accuracy and deterioration of characteristics. The effect of preventing pollution is 100 nm or more 22
It is clearly visible below 0 nm. It ’s 170n
When m or less, the intensity of a light source such as a deuterium lamp decreases, and the effects of stray light and S / N ratio decrease due to contamination of optical elements such as gratings, windows, and mirrors become prominent. This is because the influence of oil absorption of pollution is great.

【0008】油回転真空ポンプのオイルの逆拡散につい
ては、オイルレス真空ポンプによる排気を行うことによ
り防止できる。オイルレス真空ポンプは、ダイアフラム
ポンプ、クライオポンプ、ドライポンプ、およびターボ
分子ポンプ等である。オイルフリーと考えられているタ
ーボ分子ポンプであっても、一般に行われているように
油回転真空ポンプによる粗引きを行うと、短時間であっ
ても上記のような汚染が発生する。
Reverse diffusion of oil in the oil rotary vacuum pump can be prevented by exhausting with an oilless vacuum pump. The oilless vacuum pump is a diaphragm pump, a cryopump, a dry pump, a turbo molecular pump, or the like. Even in a turbo molecular pump that is considered to be oil-free, the above-described contamination occurs even in a short time when rough evacuation by an oil rotary vacuum pump is performed as is generally done.

【0009】これらの汚染の程度は、圧力計で表示され
る到達真空度では十分管理することができない。特に、
一度チャンバー内部が汚染された場合、その後高い真空
度まで上げても汚染の影響は残ってしまう。コスト等の
制約から油回転真空ポンプとターボ分子ポンプを組み合
わせる場合、真空排気経路中、チャンバー中に、以下の
ような汚染物質の影響を排除する工夫が必要となる。
The degree of these contaminations cannot be adequately controlled by the ultimate vacuum displayed on the pressure gauge. In particular,
Once the inside of the chamber is contaminated, the influence of the contamination remains even if the vacuum degree is raised to a high level thereafter. When the oil rotary vacuum pump and the turbo molecular pump are combined due to cost constraints, it is necessary to devise the following effects of contaminants in the vacuum exhaust path and the chamber.

【0010】コールドトラップは200K以下とするこ
とにより、汚染成分を凝集、捕捉する事ができる。フィ
ルターでは、ダストや微粒子を除去する事ができる。合
成ゼオライトまたは活性アルミナでは汚染物質を効率的
に除去することができる。また、帯電フィルターでは粒
子が微粒子で帯電量が小さく粒子数も少ないため、効果
的に捕集ができる。
By setting the cold trap to 200 K or less, the polluting components can be aggregated and captured. The filter can remove dust and particles. Synthetic zeolite or activated alumina can remove pollutants efficiently. Further, in the charging filter, since the particles are fine particles and the charge amount is small and the number of particles is small, the particles can be effectively collected.

【0011】これらの、一つもしくは複数の手段を組み
合わせることにより、汚染物質の影響を排除しながら真
空排気を行う事ができる。
By combining one or more of these means, it is possible to evacuate while eliminating the influence of contaminants.

【0012】[0012]

【実施例】以下、実施例により詳しく説明するが、本発
明はこれらに限られるものではない。
EXAMPLES The present invention will be described in more detail below with reference to examples, but the present invention is not limited thereto.

【0013】[0013]

【実施例1】図4に本発明に用いた光学系についての概
略図を示す。また、測定時の条件を表1に示した。表1
で No.1〜5は本発明に基づいた光学系を用いて測定し
たもの、 No.6は比較例として従来から行われている、
油回転真空ポンプとターボ分子ポンプの組み合わせをも
つ光学系を用いて測定したものである。なお、サンプル
としては火炎加水分解法により製造された合成石英ガラ
スを用いた。
Example 1 FIG. 4 shows a schematic diagram of an optical system used in the present invention. Table 1 shows the conditions at the time of measurement. Table 1
Nos. 1 to 5 are measured by using the optical system according to the present invention, and No. 6 is conventionally performed as a comparative example.
It is measured by using an optical system having a combination of an oil rotary vacuum pump and a turbo molecular pump. As the sample, synthetic quartz glass manufactured by the flame hydrolysis method was used.

【0014】従来の光学装置を用いて測定した No.6の
結果を図1−aに示す。200nm近辺に透過率曲線の
異常な落ち込みが見られる。さらに、160nm以下で
は光学素子の汚染による見かけ上の透過率曲線の上昇が
見られる。ここでサンプルとして用いた合成石英ガラス
では、200nmに吸収は持たず、160nm以下は透
過しない。これに対し、従来の方法に替えてオイルフリ
ーポンプにすることにより図1−bのような結果が得ら
れ、従来の光学装置を用いた場合と比較して200nm
nm近辺の石英ガラスに本質的でない吸収帯の生成が抑え
られ、非常に良好な透過率測定結果が得られた。また、
160nm以下での透過率は、ほぼ0%という正常な値
を示した。
The result of No. 6 measured using the conventional optical device is shown in FIG. 1-a. An abnormal drop in the transmittance curve is seen near 200 nm. Further, at 160 nm or less, the apparent transmittance curve rises due to contamination of the optical element. The synthetic quartz glass used as a sample here has no absorption at 200 nm and does not transmit at 160 nm or less. On the other hand, the result shown in FIG. 1-b is obtained by using the oil-free pump instead of the conventional method, which is 200 nm compared with the case where the conventional optical device is used.
The generation of non-essential absorption bands in the silica glass near nm was suppressed, and very good transmittance measurement results were obtained. Also,
The transmittance at 160 nm or less showed a normal value of almost 0%.

【0015】また、従来の油回転真空ポンプとターボ分
子ポンプとの組み合わせでも、 No.2〜5のようにコー
ルドトラップを用いた場合,フィルターを用いた場合,
吸着剤を用いた場合,電圧を印加した場合、のいずれに
おいても条件によっては図1−bと同様の結果が得ら
れ、その効果が確認された。
Further, even in the combination of the conventional oil rotary vacuum pump and the turbo molecular pump, when a cold trap is used as in Nos. 2 to 5 and a filter is used,
The same results as in FIG. 1-b were obtained depending on the conditions in both cases of using an adsorbent and applying a voltage, and the effect was confirmed.

【0016】[0016]

【表1】 [Table 1]

【0017】[0017]

【実施例2】実施例1と同様の条件で蛍石について評価
を行ったところ、石英ガラスの場合と同様な結果が得ら
れた。この結果の一例を図2に示す。
Example 2 When fluorite was evaluated under the same conditions as in Example 1, the same results as in the case of quartz glass were obtained. An example of this result is shown in FIG.

【0018】[0018]

【発明の効果】本発明により、真空引きによる各種の汚
染物質の影響を受けることなく、真空紫外域で光学系の
特性劣化を防ぎ、高精度な光学系が得られた。この光学
系を用いることにより、真空紫外域の光学特性を高精度
で測定することが可能になった。
According to the present invention, it is possible to obtain a highly accurate optical system which is free from the influence of various contaminants caused by vacuuming and which prevents deterioration of the characteristics of the optical system in the vacuum ultraviolet region. By using this optical system, it became possible to measure the optical characteristics in the vacuum ultraviolet region with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に用いた光学装置の概略図である。FIG. 1 is a schematic view of an optical device used in the present invention.

【図2】実施例1に基づく測定結果の一例である。FIG. 2 is an example of a measurement result based on Example 1.

【図3】実施例2に基づく測定結果の一例である。FIG. 3 is an example of a measurement result based on Example 2.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21…油回転真空ポンプ 22…ターボ分子ポンプ 2
3…電極印加部 24…吸着剤充填部 25…フィルタ
ー挿入部 26…コールドトラップ 29…チャンバー
及び分光器 31…ガス導入口 32…リーク口 33
…ランプ 34…レンズ 35…グレーティング 36
…スリット 37…試料 38…ディテクター
21 ... Oil rotary vacuum pump 22 ... Turbo molecular pump 2
3 ... Electrode application part 24 ... Adsorbent filling part 25 ... Filter insertion part 26 ... Cold trap 29 ... Chamber and spectroscope 31 ... Gas introduction port 32 ... Leak port 33
… Lamp 34… Lens 35… Grating 36
… Slit 37… Sample 38… Detector

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】真空排気が可能なチャンバーと、その外部
に設けられた真空排気経路と、チャンバー内部に設けら
れた光学系とを有する光学装置において、真空排気の際
に真空排気経路からチャンバー内部に混入する汚染物質
の影響を排除する手段を設けたことを特徴とする光学装
置。
1. An optical device having a chamber capable of vacuum evacuation, a vacuum evacuation path provided outside the chamber, and an optical system provided inside the chamber. An optical device provided with means for eliminating the influence of contaminants mixed in.
【請求項2】請求項1に記載の光学装置において、前記
光学系の使用波長領域が100nm以上、220nm以
下であることを特徴とする光学装置。
2. The optical device according to claim 1, wherein a usable wavelength region of the optical system is 100 nm or more and 220 nm or less.
【請求項3】請求項1に記載の光学装置において、前記
汚染物質の影響を排除する手段が、オイルレス真空ポン
プによる真空排気であることを特徴とする光学装置。
3. The optical device according to claim 1, wherein the means for eliminating the influence of the contaminant is vacuum exhaust by an oilless vacuum pump.
【請求項4】請求項1に記載の光学装置において、前記
汚染物質の影響を排除する手段が、真空排気経路中に設
置された、200K以下のコールドトラップであること
を特徴とする光学装置。
4. The optical device according to claim 1, wherein the means for eliminating the influence of the contaminant is a cold trap of 200 K or less installed in the vacuum exhaust path.
【請求項5】請求項1に記載の光学装置において、前記
汚染物質の影響を排除する手段が、真空排気経路中に設
置されたフィルターであることを特徴とする光学装置。
5. The optical device according to claim 1, wherein the means for eliminating the influence of the contaminant is a filter installed in a vacuum exhaust path.
【請求項6】請求項1に記載の光学装置において、前記
汚染物質の影響を排除する手段が、チャンバー内もしく
は真空排気経路中に設置された合成ゼオライトまたは活
性アルミナであることを特徴とする光学装置。
6. The optical device according to claim 1, wherein the means for eliminating the influence of the pollutant is synthetic zeolite or activated alumina installed in a chamber or in a vacuum exhaust path. apparatus.
【請求項7】請求項1に記載の光学装置において、前記
汚染物質の影響を排除する手段が、チャンバー内もしく
は真空排気経路中に設置された帯電フィルターであるこ
とを特徴とする光学装置。
7. The optical device according to claim 1, wherein the means for eliminating the influence of the contaminant is a charging filter installed in the chamber or in the vacuum exhaust path.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001235430A (en) * 2000-02-25 2001-08-31 Nikon Corp Optical inspection instrument and optical surface inspection instrument

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001235430A (en) * 2000-02-25 2001-08-31 Nikon Corp Optical inspection instrument and optical surface inspection instrument

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