JPH07273650A - A/d converter circuit for nonlinear signal - Google Patents
A/d converter circuit for nonlinear signalInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、非線形信号用のA/D
変換回路に関し、特に計測データ処理回路において、非
線形なアナログ信号を広帯域でアナログ/デジタル(A
/D)変換するA/D変換回路に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to an A / D for nonlinear signals.
Regarding a conversion circuit, particularly in a measurement data processing circuit, a nonlinear analog signal can be converted into analog / digital (A
/ D) A / D conversion circuit for conversion.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、非線形信号用のA/D変換回路は
一般に、図2に示す様に固定ゲインの入力アンプとA/
D変換部から構成されている。入力アンプのゲインは、
入力されるアナログ信号の計測範囲の最大値が、A/D
変換のフルスケールと一致するよう決定される。この設
定によればビット当たりの分解能は、計測範囲およびA
/D変換部のビット数の他に、入力信号特性の直線性に
依存して定まることとなる。2. Description of the Related Art Conventionally, as shown in FIG. 2, an A / D conversion circuit for a non-linear signal generally has a fixed gain input amplifier and an A / D conversion circuit.
It is composed of a D converter. The gain of the input amplifier is
The maximum value of the measurement range of the input analog signal is A / D
It is determined to match the full scale of the transformation. According to this setting, the resolution per bit is the measurement range and A
It will be determined depending on the linearity of the input signal characteristics in addition to the number of bits of the / D converter.
【0003】A/D変換器に関する従来技術例として、
特開昭61−248622号公報に記載のものはアナロ
グ入力信号を複数段に分割し、レベルシフトをすると共
に増幅を行い、各段毎に低ビット数のA/D変換器を用
いて、高ビット数のA/D変換器を構成している。As an example of the prior art relating to the A / D converter,
The one disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 61-248622 has a structure in which an analog input signal is divided into a plurality of stages, level-shifted and amplified, and an A / D converter with a low bit number is used for each stage to increase the It constitutes an A / D converter of the number of bits.
【0004】また、特開平1−162421号公報に記
載のものは、入力信号が所定の値より小さい場合、アン
プのゲインを上げ入力信号を大きくし、入力信号を増し
た分A/D変換器の出力データのビット数を下位へシフ
トする。この手法により、低レベルの信号の変換精度を
向上させている。Further, in the one disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 162162/1989, when the input signal is smaller than a predetermined value, the gain of the amplifier is increased, the input signal is increased, and the input signal is increased. The number of bits of the output data of is shifted to the lower order. This method improves the conversion accuracy of low-level signals.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
A/D変換回路では、非線形な入力信号をA/D変換す
るため、上述した様にbit当たりの分解能が入力信号
の特性により大きく相違する。したがって、設計仕様に
関係無く、入力信号の領域において高分解能な範囲と低
分解能な範囲が生じる問題を伴う。この問題点の内容の
具体例を温度センサにおいて説明する。However, in the conventional A / D conversion circuit, since the nonlinear input signal is A / D converted, the resolution per bit greatly differs depending on the characteristics of the input signal as described above. Therefore, there is a problem that a high-resolution range and a low-resolution range occur in the input signal area regardless of the design specifications. A specific example of the content of this problem will be described with respect to the temperature sensor.
【0006】図3は一般的な温度センサの抵抗および出
力電圧特性例を示している。同図中の実線で表したグラ
フは、上記の温度センサをホイートストンブリッジ回路
(図示せず)に構成し、電圧信号として検出した特性を
示している。リニア特性の優れているホイートストンブ
リッジ回路からは、センサの抵抗変化にほぼ比例した電
圧値が検出される。FIG. 3 shows an example of resistance and output voltage characteristics of a general temperature sensor. The graph shown by the solid line in the figure shows the characteristics detected as a voltage signal by configuring the above temperature sensor in a Wheatstone bridge circuit (not shown). The Wheatstone bridge circuit, which has excellent linear characteristics, detects a voltage value that is approximately proportional to the resistance change of the sensor.
【0007】この温度センサの対温度抵抗特性は、低温
部において感度が高く特性曲線の傾斜角度が大きい。つ
まりセンサの感度が高く出力電圧当たりの分解能が高
い。しかし高温部になるほど二次曲線的に特性曲線の傾
斜は緩慢となる。つまりセンサの感度が低く出力電圧当
たりの分解能が低い。このように一般的な温度センサ
は、低温部と高温部の感度の特性が相違する。The temperature resistance characteristic of this temperature sensor has high sensitivity in a low temperature portion and a large inclination angle of the characteristic curve. That is, the sensitivity of the sensor is high and the resolution per output voltage is high. However, the slope of the characteristic curve becomes more gradual as the temperature becomes higher. That is, the sensitivity of the sensor is low and the resolution per output voltage is low. As described above, the general temperature sensor has different sensitivity characteristics between the low temperature portion and the high temperature portion.
【0008】上記の温度データに対応する電圧信号をデ
ジタル信号に変換する場合、低温部と高温部とで温度分
解能が極端に異なってくる。計測範囲が広くなるほど、
この傾向は顕著に現れる。よって、広い計測範囲と高精
度な計測特性を同時に得るには従来の回路構成では困難
を伴う。このため電圧変化の小さい部分、つまり温度が
大きく変わっても抵抗があまり変化しない部分の分解能
を犠牲にするか、検出範囲を狭く採り、計測範囲を犠牲
にした計測回路を組むこととなる。When converting the voltage signal corresponding to the above temperature data into a digital signal, the temperature resolution is extremely different between the low temperature portion and the high temperature portion. The wider the measurement range,
This tendency is remarkable. Therefore, it is difficult to obtain a wide measurement range and highly accurate measurement characteristics at the same time with the conventional circuit configuration. Therefore, the resolution of the portion where the voltage change is small, that is, the portion where the resistance does not change much even if the temperature changes greatly, is sacrificed, or the detection range is narrowed and a measurement circuit that sacrifices the measurement range is assembled.
【0009】このように非線形の信号を入力信号とする
A/D変換回路では、計測範囲あるいは分解能において
ある程度妥協した回路を構成しているため、十分な特性
または所望のデータを得ることが困難な状態にある。As described above, in the A / D conversion circuit using a non-linear signal as an input signal, it is difficult to obtain sufficient characteristics or desired data because the A / D conversion circuit composes a circuit in which the measurement range or resolution is compromised to some extent. Is in a state.
【0010】本発明は、非線形入力信号の広い信号レベ
ル範囲に対し高分解能が得られるA/D変換回路を提供
することを目的とする。An object of the present invention is to provide an A / D conversion circuit which can obtain high resolution over a wide signal level range of a non-linear input signal.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
め、本発明の非線形信号用のA/D変換回路は、異なる
ゲインを有する複数の増幅手段と、増幅手段の何れか1
の出力をA/D変換手段のアナログ信号の入力端子へ接
続するための切換手段と、A/D変換手段のデジタルの
出力信号の信号レベルを検出する信号レベル検出手段
と、信号レベル検出手段が検出した信号レベルの大きさ
に応じて切換手段の接続を切り換えるための切換信号を
出力するゲイン制御手段と、信号レベル検出手段が検出
した信号をデジタルの信号と共に出力する信号レベル出
力手段とを有することを特徴としている。In order to achieve the above object, an A / D conversion circuit for a nonlinear signal according to the present invention includes a plurality of amplifying means having different gains, and any one of the amplifying means.
A switching means for connecting the output of the A / D conversion means to the analog signal input terminal of the A / D conversion means, a signal level detection means for detecting the signal level of the digital output signal of the A / D conversion means, and a signal level detection means. It has a gain control means for outputting a switching signal for switching the connection of the switching means in accordance with the magnitude of the detected signal level, and a signal level output means for outputting the signal detected by the signal level detecting means together with a digital signal. It is characterized by that.
【0012】また、信号増幅手段は、非線形信号の信号
感度の低い部位の増幅に信号感度の高い部位より細かく
配置され、非線形信号を増幅するとよい。Further, the signal amplifying means is preferably arranged more finely than a portion having a high signal sensitivity for amplifying a portion having a low signal sensitivity of the nonlinear signal so as to amplify the nonlinear signal.
【0013】更に、信号増幅手段の各々の感度調整によ
り、A/D変換手段のアナログの入力端子へ入力される
アナログ信号を、より直線信号に補正するとよい。Further, by adjusting the sensitivity of each of the signal amplifying means, the analog signal input to the analog input terminal of the A / D converting means may be corrected to a more linear signal.
【0014】[0014]
【作用】したがって、本発明の非線形信号用のA/D変
換回路によれば、デジタル出力信号の信号レベルを検出
し、検出した信号レベルの大きさに応じてゲインの異な
る増幅信号をA/D変換手段のアナログ信号の入力端子
へ接続するため、入力信号の信号レベルに応じて異なる
ゲインの増幅器を設定することができる。Therefore, according to the A / D conversion circuit for the non-linear signal of the present invention, the signal level of the digital output signal is detected, and the amplified signal having a different gain is detected according to the detected signal level. Since the converter is connected to the input terminal of the analog signal, it is possible to set an amplifier having a different gain depending on the signal level of the input signal.
【0015】[0015]
【実施例】次に添付図面を参照して本発明による非線形
信号用のA/D変換回路の実施例を詳細に説明する。図
1を参照すると本発明の非線形信号用のA/D変換回路
の実施例が示されている。Embodiments of the A / D conversion circuit for a nonlinear signal according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Referring to FIG. 1, there is shown an embodiment of an A / D conversion circuit for nonlinear signals of the present invention.
【0016】(第1の実施例)図1のA/D変換部は、
温度抵抗特性をもつサーミスタ等の非直線信号をA/D
変換する構成例を表している。このA/D変換部は、非
線形の入力信号を一時保持するサンプルホールド回路
1、複数段のアンプ2、切換回路3、A/D変換器4、
オーバーフロー検出回路5、ゲイン制御部6およびゲイ
ンフラグ出力部7により構成される。また入力信号は、
センサが固定抵抗器とホイートストンブリッジに回路構
成され(図示せず)、センサの抵抗値変化に比例した電
圧信号を出力信号として得ている。(First Embodiment) The A / D converter of FIG.
A / D for non-linear signals such as thermistors with temperature resistance characteristics
It shows a configuration example for conversion. The A / D conversion unit includes a sample hold circuit 1 for temporarily holding a nonlinear input signal, a plurality of stages of amplifiers 2, a switching circuit 3, an A / D converter 4,
The overflow detection circuit 5, the gain control unit 6, and the gain flag output unit 7 are included. The input signal is
The sensor is composed of a fixed resistor and a Wheatstone bridge (not shown), and a voltage signal proportional to a change in the resistance value of the sensor is obtained as an output signal.
【0017】サンプルホールド回路1は、A/D変換動
作を安定的に実行するために、入力信号を一時保持する
回路部である。アンプ2は、ゲインの異なるX個のアン
プ2a、2b、…、2xにより構成される。このゲイン特
性および段数Xは非線形の入力信号の特性・欲する精度
等により設定する。切換回路3は、複数のアンプ2の出
力のいずれか1を選択し次の段への接続を切り換えるた
めのスイッチであり、アンプの段数Xに対応する回路数
を有している。実施例におけるスイッチの種類は、アナ
ログスイッチを用いている。この切換回路3a、3b、
…、3xの各々の切換制御端子は、ゲイン制御部6と接
続され切換動作が制御される。The sample and hold circuit 1 is a circuit section for temporarily holding an input signal in order to stably execute the A / D conversion operation. The amplifier 2 is composed of X amplifiers 2a, 2b, ..., 2x having different gains. The gain characteristic and the number of stages X are set according to the characteristics of the nonlinear input signal, the desired accuracy, and the like. The switching circuit 3 is a switch for selecting any one of the outputs of the plurality of amplifiers 2 and switching the connection to the next stage, and has the number of circuits corresponding to the stage number X of the amplifiers. An analog switch is used as the type of switch in the embodiment. This switching circuit 3a, 3b,
The switching control terminals of 3x are connected to the gain control section 6 to control the switching operation.
【0018】A/D変換器4は、アナログ信号をデジタ
ル信号に変換する回路部である。入力端子は切換回路3
のそれぞれの出力端子と並列に接続され、出力端子はA
/Dデータ出力部へ接続され、また、オーバーフロー検
出部5へも接続される。A/D変換の方式および出力ビ
ット数は限定されない。The A / D converter 4 is a circuit section for converting an analog signal into a digital signal. Input terminal is switching circuit 3
Are connected in parallel with the respective output terminals of
It is connected to the / D data output section and also to the overflow detection section 5. The A / D conversion method and the number of output bits are not limited.
【0019】オーバーフロー検出部5は、A/D変換器
4で変換されたデジタル信号の状態を監視し、所定の状
態になった時フラグを出力する回路部である。実施例で
はデジタル信号がオール“1”(FFH)の状態でフラ
グを立てるものとする。フラグはゲイン制御部6および
ゲインフラグ出力部7へ出力される。The overflow detection section 5 is a circuit section for monitoring the state of the digital signal converted by the A / D converter 4 and outputting a flag when the predetermined state is reached. In the embodiment, the flag is set when the digital signal is all "1" (FFH). The flag is output to the gain control unit 6 and the gain flag output unit 7.
【0020】ゲイン制御部6は、オーバーフロー検出部
5から出力されるフラグの状態に基づきゲイン制御信号
を出力する回路部である。ゲイン制御部6の出力するフ
ラグ制御信号は、切換回路3の切換制御端子と接続され
ている。The gain control section 6 is a circuit section for outputting a gain control signal based on the state of the flag output from the overflow detection section 5. The flag control signal output from the gain control unit 6 is connected to the switching control terminal of the switching circuit 3.
【0021】ゲインフラグ出力部7は、ゲイン制御部6
によるゲインの切換状態を識別するためのフラグを出力
する回路部である。この信号は、A/Dデータ8と共に
出力され、受信したA/Dデータ8を処理する部(図示
せず)においてアンプ2のゲイン状態を認識するために
用いられる。The gain flag output section 7 includes a gain control section 6
It is a circuit unit that outputs a flag for identifying the switching state of the gain due to. This signal is output together with the A / D data 8 and used for recognizing the gain state of the amplifier 2 in a unit (not shown) that processes the received A / D data 8.
【0022】アンプ2のゲインと切換回路3とゲイン制
御部6との関係を、例えば、アンプ2a、アンプ2b、〜
アンプ2xと順次ゲインが上昇するX段のアンプ2で構
成された場合において述べる。The relationship between the gain of the amplifier 2 and the switching circuit 3 and the gain control section 6 is shown by, for example, the amplifier 2a, the amplifier 2b ,.
A description will be given in the case where the amplifier 2x and the X-stage amplifier 2 whose gain is sequentially increased are used.
【0023】測定開始時の当初は、アンプ2の一番ゲイ
ンの高いアンプ2xから順次低位のゲインのアンプ2iへ
切換ることにより最適なゲインのアンプを検索する。先
ず、アナログ入力信号をサンプルホール回路1で保持
し、最上位の段位のアンプ2xでサンプルホールドした
アナログ信号を増幅し、切換回路3を経由してA/D変
換器4においてデジタルデータに変換する。At the beginning of the measurement, the amplifier 2x having the highest gain of the amplifier 2 is sequentially switched to the amplifier 2i having the lower gain to search for the amplifier having the optimum gain. First, the analog input signal is held by the sample hall circuit 1, the sampled and held analog signal is amplified by the amplifier 2x at the highest stage, and converted into digital data by the A / D converter 4 via the switching circuit 3. .
【0024】デジタルデータは、オーバーフロー検出部
5でオーバーフローしているか否かがチェックされる。
オーバーフローしている場合は、ゲイン制御部6はオー
バーフロー信号を受信し、最上位のアンプ2xから1段
下位のアンプ2x-1とA/D変換器とを接続するよう
に、制御信号を出力して切換回路の接続を変更させる。
アンプの段位を変更した後にオーバーフロー検出部5は
デジタルデータを再度チェックする。なお、最上位のア
ンプ2xとの接続でA/D変換器4のデジタル信号の出
力がオーバーフローしない場合は、当該アンプ2xとA
/D変換器との接続状態を保持する。The overflow detection unit 5 checks whether or not the digital data has overflowed.
When the overflow occurs, the gain control unit 6 receives the overflow signal and outputs a control signal to connect the amplifier 2x at the highest stage to the amplifier 2x-1 at the stage lower by one stage and the A / D converter. To change the connection of the switching circuit.
After changing the stage of the amplifier, the overflow detector 5 checks the digital data again. If the output of the digital signal of the A / D converter 4 does not overflow due to the connection with the uppermost amplifier 2x, the amplifier 2x and A
Holds the connection state with the / D converter.
【0025】上記のオーバーフロー検出部5におけるチ
ェックは順次実行され、オーバーフロー検出部5におけ
るオーバーフローフラグが立たなくなるまで、順次1段
下位のアンプへ接続回路の接続を変更する。また、上記
の最適段位のアンプを選択する過程におけるオーバーフ
ローフラグは、ゲインフラグ出力部7からデジタルデー
タと共に順次出力される。最下位のゲインのアンプの選
択状態でオーバーフローフラグが出力される場合は、入
力信号が過大であり入力信号を小さくすることが必要で
ある。The above-mentioned checks in the overflow detection unit 5 are sequentially executed, and the connection of the connection circuit is sequentially changed to the amplifier one stage lower until the overflow flag in the overflow detection unit 5 disappears. In addition, the overflow flag in the process of selecting the amplifier of the optimum stage is sequentially output from the gain flag output unit 7 together with the digital data. When the overflow flag is output when the amplifier with the lowest gain is selected, the input signal is excessive and it is necessary to reduce the input signal.
【0026】上記の実施例では、A/D変換器4の入力
信号に、複数の異なるゲインの高いゲイン側から低いゲ
イン側へ移行したが、ゲインの低い側から高い側へ順次
移行しても良い。この場合、オーバーフローフラグが立
つ直前のゲインのアンプを最適アンプとして選択する。In the above embodiment, the input signal of the A / D converter 4 is shifted from a high gain side having a plurality of different gains to a low gain side. However, even if it is sequentially shifted from a low gain side to a high gain side. good. In this case, the amplifier with the gain immediately before the overflow flag is set is selected as the optimum amplifier.
【0027】(第2の実施例)第2の実施例では、オー
バーフロー検出部5において、オーバーフロー状態とア
ンダーフロー状態の2種類のチェックを実行し、これら
の識別フラグを出力する。オーバーフローフラグの出力
の条件は第1の実施例の場合と同一である。アンダーフ
ローフラグの出力条件は、例えばA/D変換器4のフル
スケールの1/2以下で出力させる。この出力条件はア
ンプの段数およびセンサの感度の低い範囲を細かく分割
し、感度の高い範囲を粗く分割する等の配慮の基に行う
と、センサの直線性を向上させる上でより良い結果が得
られる。本実施例の説明は、図1を用いて行う。(Second Embodiment) In the second embodiment, the overflow detection unit 5 performs two types of checks, an overflow state and an underflow state, and outputs these identification flags. The conditions for outputting the overflow flag are the same as in the case of the first embodiment. The output condition of the underflow flag is, for example, 1/2 or less of the full scale of the A / D converter 4 is output. If this output condition is taken into consideration by dividing the number of stages of the amplifier and the low-sensitivity range of the sensor finely and roughly dividing the high-sensitivity range, better results can be obtained in improving the linearity of the sensor. To be This embodiment will be described with reference to FIG.
【0028】ゲイン制御部6は上記の2種類のフラグを
受信し、切換回路3の切換を制御する。その他の構成は
第1の実施例の場合と同一である。動作状態において、
第2の実施例では予め定めた段位のアンプから測定を開
始する。この段位は前回測定時の最終の段位を用いるの
も良い。但し、第1の実施例のように最下位のゲインの
アンプから開始してもよい。実施例では所定の段位のア
ンプ2iから測定を開始する。The gain controller 6 receives the above-mentioned two types of flags and controls the switching of the switching circuit 3. The other structure is the same as that of the first embodiment. In the operating state,
In the second embodiment, the measurement is started from the amplifier of a predetermined stage. For this grade, it is also possible to use the final grade of the previous measurement. However, you may start from the amplifier of the lowest gain like 1st Example. In the embodiment, the measurement is started from the amplifier 2i at a predetermined stage.
【0029】アナログ入力信号をサンプルホール回路で
保持し、所定の段位のアンプ2iでサンプルホールドし
たアナログ信号を増幅し、切換回路3iを経由してA/
D変換器4においてデジタルデータに変換する。デジタ
ルデータは、オーバーフロー検出部5でオーバーフロー
またはアンダーフローしているか否かがチェックされ
る。オーバーフローしている場合は低いゲインのアンプ
へ切り換え、またアンダーフローしている場合は高いゲ
インのアンプへ切り換えるべく制御信号を出力する。こ
の切り換え制御は、オーバーフロー検出部5からオーバ
ーフローまたはアンダーフローのどちらのフラグも出力
されない状態となる様に制御される。The analog input signal is held by the sample hall circuit, the analog signal sampled and held by the amplifier 2i at a predetermined stage is amplified, and the analog signal is passed through the switching circuit 3i to A /
The D converter 4 converts the digital data. The overflow detection unit 5 checks whether the digital data has overflowed or underflowed. When it overflows, it outputs a control signal to switch to a low gain amplifier, and when it underflows, it switches to a high gain amplifier. This switching control is controlled so that neither the overflow flag nor the underflow flag is output from the overflow detection unit 5.
【0030】最下位のゲインのアンプの選択状態でオー
バーフローフラグが出力される場合は、入力信号が過大
であり、最上位のゲインのアンプの選択状態でアンダー
フローフラグが出力される場合は、入力信号が過小であ
る。When the overflow flag is output in the selected state of the amplifier with the lowest gain, the input signal is excessive, and when the underflow flag is output in the selected state of the amplifier with the highest gain, the input signal is input. The signal is too low.
【0031】第2の実施例のA/D変換回路は最適アン
プの選択動作に融通性、例えば飛び段、級数的な集練
等、があり、入力信号が変動する場合や長期間の追尾的
な測定に対応が可能である。The A / D conversion circuit of the second embodiment has flexibility in the selection operation of the optimum amplifier, for example, step jump, series converging, etc., so that it may be used when the input signal fluctuates or is tracked for a long time. It is possible to handle various measurements.
【0032】上記実施例のA/D変換は、異なった複数
のゲインを持った入力アンプを信号の入力レベルに応じ
自動的に切り換えることにより、広い計測範囲をもつ非
線形信号でも、比較的一定の分解能でA/D変換を比較
的簡単に実現することができる。また、広い計測範囲の
データを得ると同時に、ある特定の範囲を高分解能で取
得したい場合なども、アンプのゲインと計測レンジの関
係を適切に設定することにより任意の計測範囲を自由な
分解能に設定することが可能となる。In the A / D conversion of the above-mentioned embodiment, the input amplifiers having a plurality of different gains are automatically switched in accordance with the input level of the signal, so that even a nonlinear signal having a wide measurement range is relatively constant. A / D conversion can be realized relatively easily with resolution. Also, when you want to obtain data in a wide measurement range and at the same time obtain a specific range with high resolution, you can set the relationship between the gain of the amplifier and the measurement range appropriately to set any measurement range to a desired resolution. It becomes possible to set.
【0033】尚、上述の実施例は本発明の好適な実施の
一例ではあるが、本発明はこれに限定されるものではな
く本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変形実施
可能である。Although the above-described embodiment is a preferred embodiment of the present invention, the present invention is not limited to this and various modifications can be made without departing from the gist of the present invention.
【0034】[0034]
【発明の効果】以上の説明より明かなように、本発明の
非線形信号用のA/D変換回路は、デジタル出力信号の
信号レベルの大きさに応じてゲインの異なる増幅信号を
A/D変換手段のアナログ信号の入力端子へ接続するた
め、入力信号の信号レベルに応じて異なるゲインの増幅
器を設定する。よって、レベルによって特性の異なる非
線形入力信号を、ゲインの異なる増幅器により補正する
ことが可能となる。As is apparent from the above description, the A / D conversion circuit for nonlinear signals according to the present invention A / D converts an amplified signal having a different gain according to the signal level of the digital output signal. In order to connect to the analog signal input terminal of the means, an amplifier having a different gain is set according to the signal level of the input signal. Therefore, a non-linear input signal having different characteristics depending on the level can be corrected by an amplifier having a different gain.
【図1】本発明の非線形信号用のA/D変換回路の実施
例を示す回路構成図である。FIG. 1 is a circuit configuration diagram showing an embodiment of an A / D conversion circuit for nonlinear signals of the present invention.
【図2】従来の非線形信号用のA/D変換回路の構成例
を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration example of a conventional A / D conversion circuit for nonlinear signals.
【図3】非線形入力信号の形態例を示した図である。FIG. 3 is a diagram showing a form example of a non-linear input signal.
1 サンプルホールド回路 2 アンプ 3 切換回路 4 A/D変換器 5 オーバーフロー検出器 6 ゲイン制御部 7 ゲインフラグ出力部 8 A/Dデータ 9 フラグ 1 sample hold circuit 2 amplifier 3 switching circuit 4 A / D converter 5 overflow detector 6 gain control unit 7 gain flag output unit 8 A / D data 9 flag
Claims (3)
と、 前記増幅手段の何れか1の出力をA/D変換手段のアナ
ログ信号の入力端子へ接続するための切換手段と、 前記A/D変換手段のデジタルの出力信号の信号レベル
を検出する信号レベル検出手段と、 前記信号レベル検出手段が検出した信号レベルの大きさ
に応じて前記切換手段の前記接続を切り換えるための切
換信号を出力するゲイン制御手段と、 前記信号レベル検出手段が検出した信号を前記デジタル
の信号と共に出力する信号レベル出力手段とを有するこ
とを特徴とする非線形信号用のA/D変換回路。1. A plurality of amplification means having different gains, a switching means for connecting an output of any one of the amplification means to an analog signal input terminal of the A / D conversion means, and the A / D conversion. Signal level detecting means for detecting a signal level of a digital output signal of the means, and a gain for outputting a switching signal for switching the connection of the switching means according to the magnitude of the signal level detected by the signal level detecting means. An A / D conversion circuit for a non-linear signal, comprising: control means and signal level output means for outputting the signal detected by the signal level detection means together with the digital signal.
感度の低い部位の増幅に前記信号感度の高い部位より細
かく配置され、前記非線形信号を増幅することを特徴と
する請求項1記載の非線形信号用のA/D変換回路。2. The non-linear signal amplifier according to claim 1, wherein the signal amplifying means is arranged more finely than a high signal sensitivity region for amplifying a low signal sensitivity region of the non-linear signal and amplifies the non-linear signal. A / D conversion circuit for signals.
り、前記A/D変換手段のアナログの入力端子へ入力さ
れるアナログ信号を、より直線信号に補正することを特
徴とする請求項1または2記載の非線形信号用のA/D
変換回路。3. An analog signal input to an analog input terminal of the A / D conversion means is corrected to a more linear signal by adjusting the sensitivity of each of the signal amplification means. A / D for nonlinear signal according to 2
Conversion circuit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6246594A JPH07273650A (en) | 1994-03-31 | 1994-03-31 | A/d converter circuit for nonlinear signal |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP6246594A JPH07273650A (en) | 1994-03-31 | 1994-03-31 | A/d converter circuit for nonlinear signal |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JPH07273650A true JPH07273650A (en) | 1995-10-20 |
Family
ID=13200990
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6246594A Pending JPH07273650A (en) | 1994-03-31 | 1994-03-31 | A/d converter circuit for nonlinear signal |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07273650A (en) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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1994
- 1994-03-31 JP JP6246594A patent/JPH07273650A/en active Pending
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