JPH07249840A - Printed substrate and its deterioration diagnosing method - Google Patents

Printed substrate and its deterioration diagnosing method

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JPH07249840A
JPH07249840A JP6039591A JP3959194A JPH07249840A JP H07249840 A JPH07249840 A JP H07249840A JP 6039591 A JP6039591 A JP 6039591A JP 3959194 A JP3959194 A JP 3959194A JP H07249840 A JPH07249840 A JP H07249840A
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JP
Japan
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conductors
printed
circuit board
printed circuit
electrode
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JP6039591A
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Japanese (ja)
Inventor
Satoru Hara
悟 原
Wataru Ito
伊藤  渉
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0266Marks, test patterns or identification means
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits

Abstract

PURPOSE:To quantitatively diagnose the deterioration of the short circuit and the like caused by corrosion and migration on a printed substrate. CONSTITUTION:In the printed substrate 4 on which a plurality of conductors 7, which constitute a part of an electronic circuit 6, are printed and wired on the surface of a base substrate 5, a pair of electrode conductors 8 and 9 are opposingly printed and wired in advance in close vicinity without coming into contact with each other on the independent position against each conductor 7 constituting the electronic circuit 6 on the surface of the base substrate 5 in such a manner that a fixed resistance value and electrostatic capacitance are provided between both electrode conductors 8 and 9. When deterioration is diagnosed, the induction tangent tan delta in the low frequency region of 1Hz to 1kHz between the pair of electrode conductors 8 and 9 is measured, and the time until the short circuit between the conductors 7 is estimated based on the value of the measured induction tangent.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は劣化診断用の電極を通常
の導体と共に予め印刷配線したプリント基板とこの劣化
診断用の電極用いてプリント基板の劣化を診断するプリ
ント基板の劣化診断方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed circuit board on which electrodes for deterioration diagnosis are printed and printed together with ordinary conductors in advance, and a method for diagnosing deterioration of a printed circuit board for diagnosing deterioration of the printed circuit board using the electrodes for deterioration diagnosis.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、各種家電機器,電子機器,産業
用機器等に組込まれている電子回路はプリント基板上に
実装されている。このプリント基板においては、周知の
ように、ガラスエポキシ樹脂、フェノール樹脂等で形成
されたベース基板の表面に上記電子回路の一部を構成す
る銅等の金属材料で形成された複数の導体が印刷配線さ
れている。
2. Description of the Related Art Generally, electronic circuits incorporated in various home appliances, electronic devices, industrial devices, etc. are mounted on a printed circuit board. In this printed circuit board, as is well known, a plurality of conductors formed of a metal material such as copper that forms a part of the electronic circuit are printed on the surface of a base substrate formed of glass epoxy resin, phenol resin, or the like. It is wired.

【0003】近年、このプリント基板が組込まれる上記
各種機器自体の小型,軽量化が進み、プリント基板自体
も小型化.高密度化が要求されている。この要求に答え
るために、プリント基板における電極間隔及び導体間隔
が小さくなっている。
In recent years, the miniaturization and weight reduction of the above-mentioned various devices into which this printed circuit board is incorporated have progressed, and the printed circuit board itself has also become smaller. Higher density is required. To meet this demand, the electrode spacing and the conductor spacing on the printed circuit board are becoming smaller.

【0004】また、従来、フロンを用いてはんだ付け後
のフラックス残渣を洗浄していたが、地球環境問題等か
ら、フロンの使用が規制され、このフロンによる洗浄を
中止して無洗浄にするプリント基板が増加している。
Further, conventionally, the flux residue after soldering was cleaned using chlorofluorocarbon, but due to global environmental problems and the like, the use of fluorocarbon is regulated, and the cleaning by chlorofluorocarbon is stopped and no cleaning is performed. The number of substrates is increasing.

【0005】一方、限りある資源の有効利用の観点から
上記各種機器自体の長寿命化が求められており、これら
に組込まれているプリント基板の使用期間も大幅に長期
化する傾向にある。したがって、プリント基板の使用寿
命を延ばすと共に、寿命が尽きる直前まで有効的にこの
プリント基板を使用する必要がある。
On the other hand, from the viewpoint of effective utilization of limited resources, it is required to prolong the life of the above-mentioned various devices themselves, and the printed circuit boards incorporated in these devices tend to be used for a long period of time. Therefore, it is necessary to extend the service life of the printed circuit board and to effectively use the printed circuit board until just before the service life is exhausted.

【0006】このためには、機械自体の点検時に、プリ
ント基板の残存使用可能時間(残存寿命)を簡単にかつ
精度よく把握する必要がある。プリント基板の寿命を大
きく左右するものに使用環境がある。すなわち、プリン
ト基板を用いた機器については種々の使用環境があり、
場合によっては、腐食性ガス,結露等の極めて過酷な条
件に曝されることもある。
For this purpose, it is necessary to easily and accurately grasp the remaining usable time (remaining life) of the printed circuit board when inspecting the machine itself. The operating environment has a great influence on the life of the printed circuit board. In other words, there are various usage environments for devices that use printed circuit boards.
In some cases, it may be exposed to extremely severe conditions such as corrosive gas and condensation.

【0007】特に、結露しないまでも、湿度が高い場合
は、図8に示すように、ペース基板1上に印刷配線され
た互いに極性が異なる導体2a,2b相互間において、
一方の極の導体2aから他方の極の導体2bへ樹木状に
導体材料が成長するマイグレーションが発生する。マイ
グレーションは、最終的に成長部分3が他方の導体2b
と連結して、導体2a,2b相互間を短絡させる。その
結果、電子回路が正常に働かずに、このプリント基板が
組込まれた機器が誤動作したり、停止する問題が生じ
る。
In particular, when the humidity is high even without dew condensation, as shown in FIG. 8, between the conductors 2a and 2b having different polarities printed and wired on the pace substrate 1,
Migration occurs in which the conductor material grows like a tree from the conductor 2a of one pole to the conductor 2b of the other pole. In the migration, finally, the growing portion 3 has the other conductor 2b.
And the conductors 2a and 2b are short-circuited. As a result, there arises a problem that the electronic circuit does not work normally and the device in which the printed circuit board is incorporated malfunctions or stops.

【0008】このマイグレーションに起因する導体2
a,2b相互間の短絡現象は、当然導体相互間の間隔が
狭いほど生じやすく、また、導体2a,2b間の隙間に
おける電界が高いほど生じやすいる。したがって、上述
したように、プリント基板における電極間隔及び導体間
隔が小さくなると、従来のプリント基板に比較してより
マイグレーションに起因する短絡が生じやすい。
The conductor 2 resulting from this migration
The short-circuit phenomenon between a and 2b tends to occur as the distance between the conductors becomes narrower, and also tends to occur as the electric field in the gap between the conductors 2a and 2b increases. Therefore, as described above, when the electrode spacing and the conductor spacing in the printed circuit board are reduced, a short circuit due to migration is more likely to occur than in the conventional printed circuit board.

【0009】さらに、腐食及びマイグレーションはプリ
ント基板のイオン性物質に影響されるので、前述した無
洗浄によるはんだ付け後のフラックス残渣は、場合によ
っては、腐食.マイグレーションの発生をより助長させ
て、プリント基板の劣化を促進する懸念がある。特に、
常温,常湿のような環境ではあまり問題にならないが、
湿度の高い環境では、水分によりイオン性物質がイオン
化して上述した劣化をより促進させる。
Further, since the corrosion and migration are affected by the ionic substance of the printed circuit board, the flux residue after soldering without cleaning as described above may be corroded. There is a concern that the occurrence of migration is further promoted and the deterioration of the printed circuit board is promoted. In particular,
It doesn't matter in the environment such as normal temperature and humidity,
In a high-humidity environment, the ionic substance is ionized by the water to further promote the above-mentioned deterioration.

【0010】従来は、上述した腐食やマイグレーション
に起因する短絡の発生自体を単独で検査することができ
なかったので、このプリント基板が組込まれた機器全体
の動作が正常か否かを検査する定期検査において、異常
が検出されなければ、正常と見なしていた。
Conventionally, since it has not been possible to independently inspect the occurrence of a short circuit due to the above-mentioned corrosion or migration, it is possible to periodically inspect whether or not the operation of the entire device incorporating this printed circuit board is normal. If no abnormalities were detected in the examination, it was considered normal.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た動作試験においては、正常に動作するか否かの検査し
か実施していないので、劣化の程度を定量的に把握でき
ない。したがって、短絡が発生した時点で機器の動作に
異常が生じて、その時点で、各電子回路の動作チェック
を行って短絡現象を発見する。
However, in the above-mentioned operation test, since only the inspection as to whether or not the operation is normal is performed, the degree of deterioration cannot be quantitatively grasped. Therefore, an abnormality occurs in the operation of the device when the short circuit occurs, and at that time, the operation check of each electronic circuit is performed to find the short circuit phenomenon.

【0012】すなわち、事前に不良のプリント基板を修
理したり、交換することができない問題が生じる。特
に、大規模プラントにおいては、機器の予期しない停止
はこのプラントにて製造される製品に対する品質劣化に
結びつき、多大の損害を被る懸念がある。
That is, there arises a problem that a defective printed circuit board cannot be repaired or replaced in advance. Especially in a large-scale plant, unexpected stoppage of equipment may lead to deterioration of quality of products manufactured in this plant and may cause great damage.

【0013】このような事態を未然に防止する手法とし
て、プリント基板における導体相互間(電極相互間)の
絶縁抵抗を定期的に測定することが考えられる。しか
し、この手法を実施するためには、プリント基板を機器
から抜き取って測定する必要があり、機器を停止させる
必要がある。そのために、大規模プラント等にように常
時稼働している場合においては、この試験を頻繁に実施
することはできない問題がある。
As a method of preventing such a situation, it is conceivable to periodically measure the insulation resistance between the conductors (between the electrodes) on the printed circuit board. However, in order to carry out this method, it is necessary to pull out the printed circuit board from the device for measurement, and it is necessary to stop the device. Therefore, there is a problem that this test cannot be frequently performed in a case where the plant is constantly operating, such as a large-scale plant.

【0014】さらに、この抵抗測定手法においては、測
定される絶縁抵抗値は導体相互間の間隔に大きく依存
し、電極間隔が異なる場合は劣化の判定基準が一義的に
定まらない問題もある。
Further, in this resistance measuring method, the measured insulation resistance value greatly depends on the distance between the conductors, and there is a problem that the criterion for judging deterioration is not uniquely determined when the electrode distance is different.

【0015】さらに、マイグレーションに起因する短絡
事故の場合、導体が成長する過程においては、導体2
a,2b相互間の抵抗値はそんなに変化なく、短絡する
直前に抵抗値が急激に低下する傾向にある。したがっ
て、抵抗値が大きく低下したことを検出した時点におい
ては、短絡が発生した後である場合が多く、必ずしも、
短絡を余裕をもって事前に予知できない懸念がある。
Further, in the case of a short-circuit accident due to migration, the conductor 2 is in the process of growing.
The resistance value between a and 2b does not change so much, and the resistance value tends to sharply decrease immediately before the short circuit. Therefore, at the time when it is detected that the resistance value has dropped significantly, it is often after a short circuit occurs, and
There is a concern that short circuits cannot be predicted in advance with sufficient margin.

【0016】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、ベース基板表面上に通常の電子回路を構成
する各導体以外に劣化検出専用の電極導体を最初から印
刷配線しておくことによって、機器の稼働中であって
も、精度よく定量的に腐食,マイグレーションに起因す
る劣化を診断できるプリント基板及びこのプリント基板
に対する劣化診断方法を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of such circumstances, and electrode conductors dedicated to deterioration detection are printed and wired from the beginning on the surface of the base substrate in addition to the respective conductors constituting the ordinary electronic circuit. Accordingly, it is an object of the present invention to provide a printed circuit board that can accurately and quantitatively diagnose deterioration caused by corrosion and migration even during operation of a device, and a deterioration diagnosis method for the printed circuit board.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に本発明は、ベース基板表面に電子回路の一部を構成す
る複数の導体が印刷配線されたプリント基板において、
ベース基板表面における電子回路を構成する各導体に対
して独立した位置に、両者間に一定の抵抗値と静電容量
を有するように、互いに接する事なく近接対向して、一
対の電極導体を印刷配線している。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention is directed to a printed board in which a plurality of conductors forming a part of an electronic circuit are printed and wired on the surface of a base board.
Printing a pair of electrode conductors on the surface of the base substrate, at positions independent of each other that form an electronic circuit, so as to have a constant resistance value and electrostatic capacitance between them, closely facing each other without touching each other Wiring.

【0018】また、請求項2の発明においては、上述し
た一対の電極導体を構成する各電極導体を他方の電極導
体を構成する各円弧状導体相互間に配置された複数の円
弧状導体と、自己の電極導体に所属する各円弧状導体を
接続する基礎導体とで構成している。
Further, in the invention of claim 2, a plurality of arc-shaped conductors arranged between the arc-shaped conductors forming the other electrode conductor, each electrode conductor forming the above-mentioned pair of electrode conductors, It is composed of a basic conductor that connects each arcuate conductor belonging to its own electrode conductor.

【0019】請求項3の発明においては、同じく上述し
た一対の電極導体を構成する各電極導体を、互いに対向
して形成され、かつ渦巻状に形成された渦巻状導体で構
成している。
According to the third aspect of the present invention, each of the electrode conductors forming the above-mentioned pair of electrode conductors is a spiral conductor which is formed in a spiral shape so as to face each other.

【0020】さらに、本発明のプリント基板の劣化診断
方法においては、ベース基板表面における電子回路を構
成する各導体に対して独立した位置に、両者間に一定の
抵抗値と静電容量を有するように、互いに接する事なく
近接対向して一対の電極導体を予め印刷配線しておき、
劣化診断を行う時に、一対の電極導体相互間における
0.1Hz以上1kHz以下の低周波数領域での誘電正接を
測定し、測定された誘電正接の値に基づいて導体相互間
における短絡に至るまでの時間を予測するようにしてい
る。
Further, in the method for diagnosing deterioration of a printed circuit board according to the present invention, a constant resistance value and electrostatic capacitance are provided at positions independent of the conductors forming the electronic circuit on the surface of the base substrate. In addition, a pair of electrode conductors are printed and wired in advance so as to face each other without touching each other,
When diagnosing deterioration, measure the dielectric loss tangent between a pair of electrode conductors in the low frequency range of 0.1Hz or more and 1kHz or less, and based on the measured value of the dielectric loss tangent, lead to short circuit between the conductors. I try to predict the time.

【0021】[0021]

【作用】このように構成されたプリント基板及びその劣
化診断方法によれば、ベース基板表面における電子回路
を構成する各導体に対して独立した位置に、前述した腐
食やマイグレーションに起因する劣化を診断するための
専用の一対の電極導体が印刷配線されている。
According to the printed circuit board and the method of diagnosing its deterioration configured as described above, the deterioration caused by the above-mentioned corrosion or migration is diagnosed at a position independent of each conductor forming the electronic circuit on the surface of the base board. A pair of dedicated electrode conductors for printing are printed and wired.

【0022】したがって、このプリント基板が組込まれ
た機器を稼働状態に維持した状態で劣化を診断できる。
また、この一対の電極導体は、各電極導体相互間に一定
の抵抗値と静電容量を有するように、かつ互いに接する
事なく近接対向して印刷配線されている。
Therefore, the deterioration can be diagnosed in a state where the device in which the printed circuit board is incorporated is maintained in the operating state.
Further, the pair of electrode conductors are printed and wired so as to have a constant resistance value and a constant capacitance between the respective electrode conductors, and closely face each other without contacting each other.

【0023】そして、劣化診断を行う時に、この一対の
電極導体相互間における0.1Hz以上1kHz以下の低周
波数領域での誘電正接を測定している。プリント基板上
における導体相互間における腐食又はマイブレーション
の発生及び促進は、前述したように、プリント基板表面
におけるイオン性物質の量に大きく左右される。このイ
オン性物質はプリント基板表面において吸湿して導電性
物質となる。したがって、所定の抵抗値及び静電容量値
を有した一対の電極導体間隔の誘電正接 tanδを測定し
た場合には、電極導体相互間の抵抗成分の増加として現
れるので、誘電正接 tanδが大きくなる。よって、誘電
正接 tanδを測定することによって、イオン性物質の
量、すなわち、腐食又はマイグレーションに起因する電
極導体相互間における短絡に至るまての時間(残寿命)
を把握できる。
At the time of performing the deterioration diagnosis, the dielectric loss tangent between the pair of electrode conductors in the low frequency region of 0.1 Hz or more and 1 kHz or less is measured. As described above, the generation and promotion of corrosion or migration between conductors on a printed circuit board largely depends on the amount of ionic substances on the surface of the printed circuit board. This ionic substance absorbs moisture on the surface of the printed board to become a conductive substance. Therefore, when the dielectric loss tangent tan δ between a pair of electrode conductors having a predetermined resistance value and capacitance value is measured, it appears as an increase in the resistance component between the electrode conductors, and the dielectric loss tangent tan δ increases. Therefore, by measuring the dielectric loss tangent tan δ, the amount of ionic substances, that is, the time until a short circuit occurs between the electrode conductors due to corrosion or migration (remaining life)
Can be grasped.

【0024】なお、誘電正接を測定する場合における電
極導体相互間に印加する電電圧の周波数を1kHz以下の
低周波数領域に限定した理由は、図5に示すように、1
kHzを越える測定高周波数を印加した場合には、誘電正
接 tanδは上述したイオン性物質が変化した導電性物質
の量(水分量)にあまり依存しないからである。また、
測定周波数を0.1Hz未満の過度に低い周波数に設定す
ると、測定精度及び測定能率が低下する。よって、測定
周波数範囲を0.1Hz以上1kHz以下の低周波数領域に
限定している。
Incidentally, the reason why the frequency of the electric voltage applied between the electrode conductors in the case of measuring the dielectric loss tangent is limited to the low frequency region of 1 kHz or less is as shown in FIG.
This is because when a measured high frequency exceeding kHz is applied, the dielectric loss tangent tan δ does not depend so much on the amount of the conductive substance (water content) in which the ionic substance has changed. Also,
If the measurement frequency is set to an excessively low frequency of less than 0.1 Hz, the measurement accuracy and the measurement efficiency will decrease. Therefore, the measurement frequency range is limited to the low frequency region of 0.1 Hz or more and 1 kHz or less.

【0025】また、プリント基板の表面にイオン性物質
が少ない場合においても、湿度が高い周囲環境の場合
は、水分量が増加し、腐食,マイグレーションを発生及
び促進させるので、この誘電正接 tanδを測定する寿命
予測は有効である。
Even when the surface of the printed circuit board has a small amount of ionic substances, in a high humidity environment, the amount of water increases, causing corrosion and migration to occur and accelerate. Therefore, the dielectric loss tangent tanδ is measured. Life expectancy prediction is effective.

【0026】さらに、導体相互間の絶縁劣化を明らかに
促進させる硫化水素や塩素等の各種ガス環境の場合にお
いても、このこの誘電正接 tanδを測定する寿命予測は
有効である。また、一対の電極導体の配置及び形状を請
求項2.3に示すように設定することによって、少ない
面積でより精度の高い誘電正接 tanδの測定が可能とな
る。
Further, even in the case of an environment of various gases such as hydrogen sulfide and chlorine that obviously promotes insulation deterioration between conductors, the life prediction by measuring this dielectric loss tangent tan δ is effective. Moreover, by setting the arrangement and shape of the pair of electrode conductors as set forth in claim 2.3, it is possible to measure the dielectric loss tangent tan δ with a small area and with high accuracy.

【0027】[0027]

【実施例】以下本発明の一実施例を図面を用いて説明す
る。図1は実施例のプリント基板の概略構成を示す斜視
図である。この実施例のプリント基板4においては、ガ
ラスエポキシ樹脂、フェノール樹脂等で形成されたベー
ス基板5の表面に電子回路6の一部を構成する銅等の良
導電性金属材料で形成された複数の導体7が印刷配線さ
れている。さらに、ベース基板5上における前記電子回
路6に対して独立した隅位置に一対の電極導体8,9が
印刷配線されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of a printed circuit board according to an embodiment. In the printed circuit board 4 of this embodiment, a plurality of highly conductive metal materials such as copper forming a part of the electronic circuit 6 are formed on the surface of the base substrate 5 made of glass epoxy resin, phenol resin or the like. The conductor 7 is printed and wired. Further, a pair of electrode conductors 8 and 9 are printed and wired on the base substrate 5 at corner positions independent of the electronic circuit 6.

【0028】また、ほぼ矩形形状を有したベース基板5
の一辺にこのプリント基板4を電子機器のシャーシに取
付けられたソケットに装着するための凸部10が形成さ
れている。この凸部10に前記複数の導体7に接続され
た複数の導体端子11と一対の電極導体8,9に接続さ
れた一対の測定端子12a,12bとが印刷配線されて
いる。
Further, the base substrate 5 having a substantially rectangular shape
A convex portion 10 for mounting the printed circuit board 4 on a socket attached to a chassis of an electronic device is formed on one side. A plurality of conductor terminals 11 connected to the plurality of conductors 7 and a pair of measuring terminals 12a and 12b connected to the pair of electrode conductors 8 and 9 are printed and wired on the convex portion 10.

【0029】前記一対の電極導体8,9は電子回路を構
成する各導体7と同一金属材料で形成されている。そし
て、一対の電極導体8,9を構成する一方の電極導体8
は、共通の中心を有する複数の円弧状導体8aと、これ
ら同心状に配列された複数の円弧状導体8aを互いに接
続する1本の基礎導体8bとで構成されている。そし
て、基礎導体8bは凸部10に形成された一方の測定端
子12aに接続されている。
The pair of electrode conductors 8 and 9 are made of the same metal material as the conductors 7 forming the electronic circuit. Then, one electrode conductor 8 forming the pair of electrode conductors 8 and 9
Is composed of a plurality of arc-shaped conductors 8a having a common center, and one base conductor 8b connecting the plurality of concentric arc-shaped conductors 8a to each other. The basic conductor 8b is connected to one measuring terminal 12a formed on the convex portion 10.

【0030】他方の電極導体9も同様に、一方の円弧状
導体8aと共通する中心を有する複数の円弧状導体9a
と、これら同心状に配列された複数の円弧状導体9aを
互いに接続する1本の基礎導体9bとで構成されてい
る。そして、基礎導体9bは凸部10に形成された他方
の測定端子12bに接続されている。
Similarly, the other electrode conductor 9 has a plurality of arc-shaped conductors 9a having a center common to that of the one arc-shaped conductor 8a.
And a single basic conductor 9b that connects the plurality of arcuate conductors 9a arranged concentrically to each other. The basic conductor 9b is connected to the other measurement terminal 12b formed on the convex portion 10.

【0031】そして、各円弧状導体8a,9aは互いに
接触しないように、一定の間隔を開けて交互に配列され
ている。そして、各円弧状導体8a,9aは自己の基礎
導体8b,9bに対する反対側位置で離間して、相手側
の基礎導体9b,8bに接触しないように配設されてい
る。
The arcuate conductors 8a and 9a are alternately arranged at regular intervals so as not to contact each other. The arcuate conductors 8a and 9a are arranged at positions opposite to their own base conductors 8b and 9b so as not to contact the counterpart base conductors 9b and 8b.

【0032】この一対の電極導体8,9間の誘電正接 t
anδを精度良く測定するためには、両者間に10pF以
上の静電容量が必要である。したがって、測定端子12
a,12b間で上述した10pF以上の所定の静電容量
Csが得られるように、各円弧状導体8a,9a相互間
の間隔,各円弧状導体8a,9aの幅,ならびにこの一
対の電極導体8,9を印刷配線するために必要な面積等
を考慮して各部の寸法が決定されている。
Dielectric loss tangent t between the pair of electrode conductors 8 and 9
In order to accurately measure anδ, a capacitance of 10 pF or more is required between the two. Therefore, the measuring terminal 12
The distance between the arc-shaped conductors 8a and 9a, the width of the arc-shaped conductors 8a and 9a, and the pair of electrode conductors so that the above-mentioned predetermined capacitance Cs of 10 pF or more can be obtained between a and 12b. The dimensions of each part are determined in consideration of the area required for printed wiring of 8 and 9.

【0033】また、一対の電極導体8,9相互間には一
定の絶縁抵抗値が存在する。そして、このプリント基板
4をシャーシのソケットに装着して、機器を稼働した状
態においては、各測定端子12a,12b間には、電子
回路6を構成する導体7相互間に印加される電圧と同じ
電圧が印加される。すなわち、同一の通電履歴が確保さ
れる。
Further, there is a constant insulation resistance value between the pair of electrode conductors 8 and 9. When the printed circuit board 4 is mounted in the socket of the chassis and the equipment is in operation, the same voltage as the voltage applied between the conductors 7 forming the electronic circuit 6 is applied between the measurement terminals 12a and 12b. A voltage is applied. That is, the same energization history is secured.

【0034】図3は、本発明の他の実施例のプリント基
板のベース基板上に印刷配線された一対の電極導体1
3,14を示す配線図である。その他の部分は図1に示
す先の実施例と同じであるので説明を省略する。
FIG. 3 shows a pair of electrode conductors 1 printed and wired on a base substrate of a printed circuit board according to another embodiment of the present invention.
It is a wiring diagram which shows 3,14. The other parts are the same as in the previous embodiment shown in FIG.

【0035】この実施例における一対の電極導体13,
14を構成する各電極導体13,14は、互いに相手側
の電極導体14.13を構成する渦巻状導体14a,1
3aと共通で一つの渦巻きを形成する連続した1本の渦
巻状導体13a,14aで形成されている。そして、そ
れぞれベース基板5の凸部10の対応する信号端子12
a,12bに接続されている。
A pair of electrode conductors 13 in this embodiment,
Each of the electrode conductors 13 and 14 that form 14 is a spiral conductor 14a that forms the electrode conductor 14.13 of the other side.
It is formed by one continuous spiral conductor 13a, 14a forming one spiral in common with 3a. Then, the corresponding signal terminals 12 of the convex portions 10 of the base substrate 5 respectively.
a, 12b.

【0036】この一対の電極導体13,14相互間も1
0pF以上の所定の静電容量Csになるように、各渦巻
状導体13a,14aの相互間距離や全体の大きさが決
定されている。
The distance between the pair of electrode conductors 13 and 14 is 1
The mutual distance and the overall size of the spiral conductors 13a and 14a are determined so that the predetermined electrostatic capacitance Cs of 0 pF or more is obtained.

【0037】次に、このように構成されたプリント基板
4が各機器に組込まれて正常に稼働されている状態にお
いて、このプリント基板4の劣化を診断する手法を図4
を用いて説明する。
Next, a method for diagnosing the deterioration of the printed circuit board 4 in a state where the printed circuit board 4 configured as described above is incorporated in each device and is normally operated is shown in FIG.
Will be explained.

【0038】このプリント基板4が稼働中においてはソ
ケット15を介して一対の電極導体8,9にも他の導体
7相互間と同様に電圧が印加されている。そして、劣化
試験を実施する場合には、この一対の電極導体8,9に
対する通電を遮断して、図4に示すよように、測定端子
12a,12bにLCRメータ16を接続する。 LC
Rメータ16内には、出力信号の周波数fを0,1Hzか
ら1kHzまで可変できる交流電源17が組込まれてい
る。交流電源17から出力された交流電圧Vは抵抗1
8,電圧波形検出回路19,電流波形検出回路20を介
して信号端子12a,12bに印加される。
While the printed circuit board 4 is in operation, a voltage is applied to the pair of electrode conductors 8 and 9 through the socket 15 in the same manner as between the other conductors 7. When conducting the deterioration test, the pair of electrode conductors 8 and 9 are de-energized and the LCR meter 16 is connected to the measuring terminals 12a and 12b as shown in FIG. LC
An AC power supply 17 capable of varying the frequency f of the output signal from 0,1 Hz to 1 kHz is incorporated in the R meter 16. The AC voltage V output from the AC power supply 17 is the resistance 1
8, the voltage waveform detection circuit 19, and the current waveform detection circuit 20 are applied to the signal terminals 12a and 12b.

【0039】電圧波形検出回路19で検出された電圧波
形信号及び電流波形検出回路20で検出された電流波形
信号は位相差検出回路21へ入力される。位相差検出回
路21は電圧波形と電流波形との間の位相差Δを検出し
て、次の誘電正接算出部22へ送出する。
The voltage waveform signal detected by the voltage waveform detection circuit 19 and the current waveform signal detected by the current waveform detection circuit 20 are input to the phase difference detection circuit 21. The phase difference detection circuit 21 detects the phase difference Δ between the voltage waveform and the current waveform and sends it to the next dielectric loss tangent calculation unit 22.

【0040】誘電正接算出部22はπ/2(90°)か
ら位相差Δを減算して、誘電体に対する正規の進み位相
π/2(90°)からの誘電損失に起因する遅れ角度δ
を算出して(δ=π/2−Δ)、誘電正接 tanδを算出
する。そして、算出した誘電正接 tanδを例えば表示器
に表示する。
The dielectric loss tangent calculation unit 22 subtracts the phase difference Δ from π / 2 (90 °) to obtain the delay angle δ due to the dielectric loss from the regular lead phase π / 2 (90 °) with respect to the dielectric.
Is calculated (δ = π / 2−Δ) to calculate the dielectric loss tangent tan δ. Then, the calculated dielectric loss tangent tan δ is displayed on, for example, a display.

【0041】次に、このような誘電正接 tanδを測定す
る劣化診断手法が有効であることを実証する各種実験結
果を説明する。図5は、図2に示す一対の電極導体8,
9が予め印刷配線された3枚のプリント基板4を用い
て、プリント基板4表面のイオン性物質の量がそれぞれ
異なる4種類のサンプルA,B,Cを作成して、LCR
メータ16の交流電源17から出力される電圧の周波数
fを0,1Hzから1kHzまで変化させた場合における、
周波数fと算出された誘電正接 tanδとの関係を示す実
測図である。
Next, various experimental results demonstrating that the deterioration diagnosis method for measuring the dielectric loss tangent tan δ is effective will be described. 5 is a pair of electrode conductors 8 shown in FIG.
Using three printed circuit boards 4 on which printed wiring 9 is preliminarily printed, four types of samples A, B, and C having different amounts of ionic substances on the surface of the printed circuit boards 4 are prepared, and LCR is prepared.
When the frequency f of the voltage output from the AC power supply 17 of the meter 16 is changed from 0,1 Hz to 1 kHz,
It is an actual measurement figure which shows the relationship between the frequency f and the calculated dielectric loss tangent tandelta.

【0042】図5からも理解できるように、印加周波数
fが1kHzを越えると、水分量の変化が誘電正接 tanδ
に現れにくくなり、マイグレーションに起因する劣化を
明確に判断できなくなる。したがって、印加周波数fは
1kHz以下の低周波数領域である必要がある。
As can be understood from FIG. 5, when the applied frequency f exceeds 1 kHz, the change of the water content changes with the dielectric loss tangent tan δ.
It becomes difficult to clearly see the deterioration caused by migration. Therefore, the applied frequency f needs to be in the low frequency region of 1 kHz or less.

【0043】なお、印加周波数fを低くすると、水分量
の変化が誘電正接 tanδの変化として明確に現れるが、
0,1Hzを下回る過度に低い周波数では、測定精度が低
下したり、測定時間が長くなる等の問題がある。したが
って、0,1Hzから1kHzまでの周波数領域が最適領域
であることが実証された。
When the applied frequency f is lowered, the change in the water content clearly appears as the change in the dielectric loss tangent tan δ.
At an excessively low frequency of less than 0.1 Hz, there are problems such as deterioration of measurement accuracy and lengthening of measurement time. Therefore, it was proved that the frequency range from 0,1 Hz to 1 kHz is the optimum range.

【0044】実際の誘電正接 tanδ測定に際しては、こ
の周波数範囲の中から一つの特定の周波数fS を印加周
波数に設定したり、複数の周波数における測定された誘
電正接 tanδの平均値を採用すればよい。
In the actual measurement of the dielectric loss tangent tan δ, if one specific frequency f S is set as the applied frequency from this frequency range, or if the average value of the measured dielectric loss tangent tan δ at a plurality of frequencies is adopted. Good.

【0045】図6は、図2に示す一対の電極導体8,9
が印刷配線された5枚のプリント基板4を用いて、プリ
ント基板3表面の相対湿度を60%.70%.85%,
90%,95%の5種類のサンプルを作成して、各サン
プルにおける通常の電圧を印加した状態における電極導
体8,9導体相互間にマイグレーションに起因する短絡
が発生するまでの日数(時間)と、電圧印加開始前に測
定された各サンプルにおける誘電正接 tanδとの関係を
示す実測図である。
FIG. 6 shows a pair of electrode conductors 8 and 9 shown in FIG.
Is used, the relative humidity on the surface of the printed circuit board 3 is set to 60%. 70%. 85%,
90% and 95% of 5 types of samples were prepared, and the number of days (hours) until a short circuit due to migration occurred between the electrode conductors 8 and 9 in a state where a normal voltage was applied in each sample, FIG. 5 is an actual measurement diagram showing the relationship with the dielectric loss tangent tan δ of each sample measured before the start of voltage application.

【0046】相対湿度が高くなると誘電正接 tanδが大
きくなり、短絡に至るまでの時間が短くなることが理解
できる。図7は、同じく図2に示す一対の電極導体8,
9が印刷配線された5枚のプリント基板4を用いて、プ
リント基板4表面のイオン性物質の量を0.001μ
g,0.1μg,1μg,10μg,100μgの5種
類のサンプルを作成して、各サンプルにおける通常の電
圧を印加した状態における電極導体8,9導体相互間に
マイグレーションに起因する短絡が発生するまでの日数
と、電圧印加開始前に測定された各サンプルにおける誘
電正接 tanδとの関係を示す実測図である。
It can be understood that as the relative humidity increases, the dielectric loss tangent tan δ increases and the time until a short circuit is shortened. FIG. 7 shows a pair of electrode conductors 8 shown in FIG.
Using five printed circuit boards 4 on which printed wiring 9 is used, the amount of ionic substance on the surface of the printed circuit board 4 is 0.001 μm.
g, 0.1 μg, 1 μg, 10 μg, 100 μg of 5 types of samples are prepared, and a short circuit due to migration occurs between the electrode conductors 8 and 9 in a state where a normal voltage is applied in each sample. FIG. 4 is an actual measurement diagram showing the relationship between the number of days of (1) and the dielectric loss tangent tan δ of each sample measured before the start of voltage application.

【0047】イオン性物質の量が多くなると誘電正接 t
anδが大きくなり、短絡に至るまでの時間が短くなるこ
とが理解できる。図6及び図7に示す実測値によると、
測定された誘電正接 tanδの対数値と短絡に至るまでの
時間(日数)はほぼ直線関係にあることが理解できる。
このことは、逆に、たとえプリント配線既基板4がおか
れた相対湿度やイオン性物資の量等の動作環境が不明で
あったとして、その時点における誘電正接 tanδの値が
求まると、この時点から同一動作環境が継続すると見な
した場合における、残りの短絡に至るまでの時間(日
数)が推定できる。
When the amount of ionic substance increases, the dielectric loss tangent t
It can be understood that anδ becomes large and the time to reach a short circuit becomes short. According to the measured values shown in FIGS. 6 and 7,
It can be understood that the logarithmic value of the measured loss tangent tan δ and the time (days) until the short circuit occur are in a substantially linear relationship.
On the contrary, on the contrary, if the value of the dielectric loss tangent tan δ at that time is obtained, even if the operating environment such as the relative humidity on which the printed wiring board 4 is placed and the amount of ionic substances is unknown. From this, it is possible to estimate the time (number of days) until the remaining short circuit when the same operating environment is considered to continue.

【0048】よって、誘電正接 tanδを測定することに
よって、残り寿命、すなわち劣化の程度が定量的に把握
できる。このように構成されたプリント基板および劣化
診断方法によれば、図1に示すように、ベース基板5表
面における電子回路6を構成する各導体7に対して独立
した位置に、腐食やマイグレーションに起因する劣化を
診断するための専用の一対の電極導体8,9又は13,
14が印刷配線されている。したがって、このプリント
基板4が組込まれた機器を稼働状態に維持した状態で劣
化を診断できる。
Therefore, by measuring the dielectric loss tangent tan δ, the remaining life, that is, the degree of deterioration can be quantitatively grasped. According to the printed circuit board and the deterioration diagnosing method configured as described above, as shown in FIG. 1, due to corrosion or migration, the surface of the base substrate 5 is independent of each conductor 7 forming the electronic circuit 6 due to corrosion or migration. Dedicated pair of electrode conductors 8, 9 or 13 for diagnosing deterioration due to
14 is printed and wired. Therefore, the deterioration can be diagnosed in a state where the device in which the printed circuit board 4 is incorporated is maintained in the operating state.

【0049】また、一対の電極導体8,9又は13,1
4相互間の位置は固定されているので、たとえプリント
基板4の種類が変って、導体7相互間の間隔や導体7の
幅が変化したとしても、全ての種類のプリント基板4に
対して同一条件で客観的な劣化診断を実施できる。
Further, the pair of electrode conductors 8, 9 or 13, 1
Since the positions of the four printed circuit boards 4 are fixed, even if the type of the printed circuit board 4 changes and the spacing between the conductors 7 or the width of the conductor 7 changes, the same for all types of printed circuit boards 4. Objective deterioration diagnosis can be carried out under certain conditions.

【0050】さらに、一対の電極導体相互間における誘
電正接 tanδで残り寿命を定量的に算出することが可能
である。したがって、従来の導体7相互間の絶縁抵抗を
直接測定する手法に比較して、実際に短絡が発生するか
なり以前からその時期を予測できるので、不意に短絡事
故が発生して機器が誤動作したり、機器が停止すること
を未然に防止できる。
Furthermore, it is possible to quantitatively calculate the remaining life by the dielectric loss tangent tan δ between the pair of electrode conductors. Therefore, compared to the conventional method of directly measuring the insulation resistance between the conductors 7, the time can be predicted long before the actual occurrence of the short circuit, so that a short circuit accident unexpectedly occurs and the device malfunctions. It is possible to prevent the equipment from stopping.

【0051】さらに、本発明の一対の電極導体を、例え
ばプリント基板4に実装されたQFP(Quad Flat Paka
ge)の下面等の湿気を帯びやすい位置に印刷配線すれ
ば、安全面を見た、より有効的な劣化の診断を実施でき
る。
Further, the pair of electrode conductors of the present invention is mounted on, for example, a printed circuit board 4 and a QFP (Quad Flat Paka).
If the printed wiring is placed on the bottom surface of ge) where moisture is likely to occur, a more effective diagnosis of deterioration can be carried out from the viewpoint of safety.

【0052】また、プリント基板の製造工程,各種電子
部品の実装工程後の製品検査手法として、この誘電正接
tanδ測定を用いた診断手法を採用することが可能であ
る。さらに、はんだ付け工程の後におけるフラックス残
渣の評価にもそのままこの手法を採用できる。
This dielectric loss tangent is used as a product inspection method after the manufacturing process of printed circuit boards and the mounting process of various electronic parts.
It is possible to adopt a diagnostic method using tan δ measurement. Further, this method can be directly used for the evaluation of the flux residue after the soldering process.

【0053】[0053]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のプリント
基板及びその劣化診断方法によれば、ベース基板表面上
に通常の電子回路を構成する各導体以外に劣化検出専用
の一対の電極導体を最初から印刷配線しておおいて、診
断実施時に、一対の電極導体間の誘電正接を測定して、
この誘電正接の値から残り寿命を予測している。したが
って、機器の稼働中であっても、精度よく定量的に腐
食,マイグレーションに起因する劣化を診断できる。
As described above, according to the printed circuit board and the deterioration diagnosing method of the present invention, a pair of electrode conductors dedicated to the deterioration detection are provided on the surface of the base substrate in addition to the respective conductors forming the ordinary electronic circuit. Keep printed wiring from the beginning, and at the time of diagnosis, measure the dielectric loss tangent between a pair of electrode conductors,
The remaining lifetime is predicted from the value of this dielectric loss tangent. Therefore, even when the device is in operation, it is possible to accurately and quantitatively diagnose deterioration caused by corrosion and migration.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の一実施例に係わるプリント基板の外
観図
FIG. 1 is an external view of a printed circuit board according to an embodiment of the present invention.

【図2】 同実施例プリント基板に形成された一対の電
極導体を示す図
FIG. 2 is a view showing a pair of electrode conductors formed on the printed circuit board of the embodiment.

【図3】 本発明の他の実施例に係わるプリント基板に
形成された一対の電極導体を示す図
FIG. 3 is a view showing a pair of electrode conductors formed on a printed circuit board according to another embodiment of the present invention.

【図4】 本発明の一実施例に係わるプリント基板の劣
化診断方法を実現するためのブロック図
FIG. 4 is a block diagram for realizing a method of diagnosing deterioration of a printed circuit board according to an embodiment of the present invention.

【図5】 同劣化診断方法で得られた印加周波数と誘電
正接との関係を示す図
FIG. 5 is a diagram showing a relationship between an applied frequency and a dielectric loss tangent obtained by the deterioration diagnosis method.

【図6】 同劣化診断方法で得られた誘電正接と短絡に
至るまでの時間との関係を示す図
FIG. 6 is a diagram showing a relationship between a dielectric loss tangent obtained by the deterioration diagnosis method and a time until a short circuit.

【図7】 同じく同劣化診断方法で得られた誘電正接と
短絡に至るまでの時間との関係を示す図
FIG. 7 is a diagram showing the relationship between the dielectric loss tangent obtained by the same deterioration diagnosis method and the time until a short circuit.

【図8】 導体相互間に発生するマイグレーションを示
す図
FIG. 8 is a diagram showing migration that occurs between conductors.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

4…プリント基板、5…ベース基板、6…電子回路、7
…導体、8,9,13,14…一対の電極導体、10…
凸部、11…導体端子、12a,12b…測定端子、1
5…ソケット、16…LCRメータ。
4 ... Printed circuit board, 5 ... Base circuit board, 6 ... Electronic circuit, 7
... conductors, 8, 9, 13, 14 ... pair of electrode conductors, 10 ...
Convex part, 11 ... Conductor terminal, 12a, 12b ... Measuring terminal, 1
5 ... Socket, 16 ... LCR meter.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ベース基板表面に電子回路の一部を構成
する複数の導体が印刷配線されたプリント基板におい
て、 前記ベース基板表面における前記電子回路を構成する各
導体に対して独立した位置に、両者間に一定の抵抗値と
静電容量を有するように、互いに接する事なく近接対向
して、一対の電極導体を印刷配線したことを特徴とする
プリント基板。
1. A printed circuit board, wherein a plurality of conductors forming a part of an electronic circuit are printed and wired on the surface of the base substrate, at a position independent of each conductor forming the electronic circuit on the surface of the base substrate, A printed circuit board, in which a pair of electrode conductors are printed and wired so as to have a constant resistance value and a constant electrostatic capacitance between them so as not to contact each other but to closely face each other.
【請求項2】 前記一対の電極導体を構成する各電極導
体は、他方の電極導体を構成する各円弧状導体相互間に
配置された複数の円弧状導体と、自己の電極導体に所属
する各円弧状導体を接続する基礎導体とで構成されたこ
とを特徴とする請求項1記載のプリント基板。
2. Each of the electrode conductors forming the pair of electrode conductors belongs to a plurality of arc-shaped conductors arranged between the arc-shaped conductors forming the other electrode conductor and each of the electrode conductors belonging to its own electrode conductor. The printed circuit board according to claim 1, wherein the printed circuit board is formed of a base conductor that connects arc-shaped conductors.
【請求項3】 前記一対の電極導体を構成する各電極導
体は、互いに対向して形成され、かつ渦巻状に形成され
た渦巻状導体で構成されたことを特徴とする請求項1記
載のプリント基板。
3. The print according to claim 1, wherein each of the electrode conductors forming the pair of electrode conductors is formed of a spiral conductor formed in a spiral shape so as to face each other. substrate.
【請求項4】 ベース基板表面に電子回路の一部を構成
する複数の導体が印刷配線されたプリント基板の劣化診
断方法において、 前記ベース基板表面における前記電子回路を構成する各
導体に対して独立した位置に、両者間に一定の抵抗値と
静電容量を有するように、互いに接する事なく近接対向
して一対の電極導体を予め印刷配線しておき、 前記一対の電極導体相互間における0.1Hz以上1kHz
以下の低周波数領域での誘電正接を測定し、 この測定された誘電正接の値に基づいて前記導体相互間
における短絡に至るまでの時間を予測することを特徴と
するとプリント基板の劣化診断方法。
4. A method for diagnosing deterioration of a printed circuit board, wherein a plurality of conductors forming a part of an electronic circuit are printed and wired on the surface of the base substrate, the method being independent of each conductor forming the electronic circuit on the surface of the base substrate. At a predetermined position, a pair of electrode conductors are printed and wired in advance so as to have a constant resistance value and a constant electrostatic capacitance between them, without being in contact with each other and closely facing each other. 1Hz or more 1kHz
A method for diagnosing deterioration of a printed circuit board, comprising: measuring a dielectric loss tangent in the following low frequency region and predicting a time until a short circuit occurs between the conductors based on the measured value of the dielectric loss tangent.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001215187A (en) * 2000-02-01 2001-08-10 Toshiba Corp Method and apparatus for diagnosing deterioration
JP2009008427A (en) * 2007-06-26 2009-01-15 Mitsubishi Electric Corp Method for assessing remaining life of power receiving/distributing device
JP2011253849A (en) * 2010-05-31 2011-12-15 Fujitsu Component Ltd Printed wiring board
DE102012218925A1 (en) * 2012-09-10 2013-08-14 Siemens Aktiengesellschaft System for acquiring corrosion state of electrical contact surface of high-voltage switchgear cabinet, has sensor to determine corrosion sate of electrical contact surface, based on electrical resistance change of specific material
DE102015101178A1 (en) 2014-02-04 2015-08-06 Fanuc Corporation An electronic device having a function of determining deterioration of a printed circuit board
JP2019519924A (en) * 2016-06-01 2019-07-11 カイゼン コーポレイション System and method for electrical circuit monitoring

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001215187A (en) * 2000-02-01 2001-08-10 Toshiba Corp Method and apparatus for diagnosing deterioration
JP2009008427A (en) * 2007-06-26 2009-01-15 Mitsubishi Electric Corp Method for assessing remaining life of power receiving/distributing device
JP2011253849A (en) * 2010-05-31 2011-12-15 Fujitsu Component Ltd Printed wiring board
DE102012218925A1 (en) * 2012-09-10 2013-08-14 Siemens Aktiengesellschaft System for acquiring corrosion state of electrical contact surface of high-voltage switchgear cabinet, has sensor to determine corrosion sate of electrical contact surface, based on electrical resistance change of specific material
DE102015101178A1 (en) 2014-02-04 2015-08-06 Fanuc Corporation An electronic device having a function of determining deterioration of a printed circuit board
US9857411B2 (en) 2014-02-04 2018-01-02 Fanuc Corporation Electronic device having function of detecting degradation of printed circuit board
DE102015101178B4 (en) * 2014-02-04 2019-11-14 Fanuc Corporation An electronic device having a function of determining deterioration of a printed circuit board
JP2019519924A (en) * 2016-06-01 2019-07-11 カイゼン コーポレイション System and method for electrical circuit monitoring

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