JPH07244561A - Analog input device - Google Patents

Analog input device

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JPH07244561A
JPH07244561A JP6035795A JP3579594A JPH07244561A JP H07244561 A JPH07244561 A JP H07244561A JP 6035795 A JP6035795 A JP 6035795A JP 3579594 A JP3579594 A JP 3579594A JP H07244561 A JPH07244561 A JP H07244561A
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JP
Japan
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sensor
voltage
test voltage
output terminal
input device
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JP6035795A
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Japanese (ja)
Inventor
Hisashi Kitamura
久 北村
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
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Abstract

PURPOSE:To reduce the residual voltage of a filter and to shorten time required for abnormality detecting processing by providing this analog input device with a comparator circuit for detecting the quantity of electricity outputted from a sensor output terminal at the time of impressing test voltage. CONSTITUTION:The analog input device includes a control circuit 7 for periodically inputting a digital signal, a power supply part 8 for impressing test voltage to an output terminal of a thermocouple 1 through a resistor 9 in order to detect the abnormality of the thermocouple 1 and the comparator circuit 12 for inputting voltage outputted from the thermocouple 1 by the test voltage impressed from the power supply part 8 like a pulse, comparing the input voltage with previously set reference voltage and detecting the abnormality of a sensor. The circuit 12 consists of a resistor 121 for applying the reference voltage and a comparator 122 for executing comparison. The power supply part 8 impresses the test voltage of a waveform cut out by filtering processing to the sensor output terminal and the circuit 12 detects the abnormality of the sensor based upon the quantity of electricity outputted from the sensor output terminal.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、センサから出力され
る検出信号をフィルタ処理して入力するアナログ入力装
置、例えば、原子力プラントにおける炉内温度やタービ
ンの蒸気温度などを計測する熱電対を使用したアナログ
入力装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention uses an analog input device for filtering and inputting a detection signal output from a sensor, for example, a thermocouple for measuring a furnace temperature in a nuclear power plant or a steam temperature of a turbine. The present invention relates to an analog input device.

【0002】[0002]

【従来の技術】プラント各部の温度計測を行う熱電対を
用いたアナログ入力装置では、計測点にある熱電対と入
力装置とは離れた場所に置かれ、強電界などによるノイ
ズの影響を受けやすい。そのため、熱電対から出力され
る検出信号は、一般的に時定数の大きいフィルタ(例え
ば、カットオフ周波数が5Hz程度のロウパスフィル
タ)を介して入力装置に入力される。また、かかる熱電
対は環境的に劣悪な条件で設置されることが多く、度々
断線したり、接触不良を発生したりするので熱電対の異
常検出を頻繁に行う必要がある。
2. Description of the Related Art In an analog input device using a thermocouple for measuring the temperature of each part of a plant, the thermocouple at the measurement point and the input device are placed apart from each other and are easily affected by noise due to a strong electric field or the like. . Therefore, the detection signal output from the thermocouple is generally input to the input device via a filter having a large time constant (for example, a low-pass filter having a cutoff frequency of about 5 Hz). In addition, such thermocouples are often installed under environmentally poor conditions, and they often break or cause contact failures, so it is necessary to frequently detect abnormality in the thermocouples.

【0003】図5は例えば特開昭63ー113622号
公報に示された従来のアナログ入力装置を示す回路図で
あり、図において、1は熱電対、2は熱電対1の配線路
に加わるノイズを除去するための第1のフィルタ、3は
熱電対1からの信号を後段の装置と絶縁するために設け
られたトランスとスイッチング回路とで構成されるスキ
ャン回路、4はスキャン回路3の出力を増幅するための
増幅器、5は増幅器4の出力を一時的に保持するサンプ
ルホールド回路(以下、S/H回路と略す)、6はS/
H回路5で保持されている出力をディジタル信号に変換
するアナログ・ディジタル変換器(以下、A/D変換器
と略す)、7はこのディジタル信号を定期的に読み込む
制御回路、8は熱電対1の異常を検出するため抵抗9を
介して試験電圧を熱電対1の出力端子に印加する電源
部、10は異常検査時、半導体のアナログスイッチ11
a、11bによって第1のフィルタ2と切り替えられ、
熱電対1及びスキャン回路3に接続される時定数の小さ
い第2のフィルタである。
FIG. 5 is a circuit diagram showing a conventional analog input device disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-113622, in which 1 is a thermocouple and 2 is noise added to the wiring path of the thermocouple 1. A first filter 3 for removing the signal from the thermocouple 1 is a scan circuit composed of a transformer and a switching circuit provided to insulate the signal from the thermocouple 1 from a device in the subsequent stage, and 4 is an output of the scan circuit 3. An amplifier for amplifying, 5 is a sample hold circuit (hereinafter abbreviated as S / H circuit) for temporarily holding the output of the amplifier 4, and 6 is S / H.
An analog-to-digital converter (hereinafter abbreviated as A / D converter) for converting the output held in the H circuit 5 into a digital signal, 7 is a control circuit for periodically reading this digital signal, and 8 is a thermocouple 1 The power supply unit 10 applies a test voltage to the output terminal of the thermocouple 1 via the resistor 9 in order to detect the abnormality of the power source 10 and the semiconductor analog switch 11 during the abnormality inspection.
switched to the first filter 2 by a and 11b,
The second filter has a small time constant and is connected to the thermocouple 1 and the scan circuit 3.

【0004】次に動作について説明する。通常時、制御
回路7は、アナログスイッチ11aを閉じアナログスイ
ッチ11bを開くことによって、第1のフィルタ2を経
由して、温度に応じて発生する熱電対1の出力端子間の
起電力Voを入力し、この入力によって温度計測を行
う。熱電対1の出力は、第1のフィルタ2でノイズ除去
され、直流電圧としてスキャン回路3に出力される。ス
キャン回路3は、この直流電圧出力をスイッチS1とS
2とを高速(例えば50KHz)で交互に入り切りし、
トランスによって交流信号に変換して絶縁処理し、増幅
器4に信号を出力する。増幅器4はスキャン回路3の出
力信号を増幅し、直流のアナログ信号に変換してS/H
回路5に出力する。この出力は、制御回路7の指令によ
り、一定のサンプリング周期でS/H回路5に保持さ
れ、A/D変換器6でディジタル信号に変換され、制御
回路7に読み込まれる。
Next, the operation will be described. Normally, the control circuit 7 inputs the electromotive force Vo between the output terminals of the thermocouple 1 generated according to the temperature via the first filter 2 by closing the analog switch 11a and opening the analog switch 11b. Then, the temperature is measured by this input. The output of the thermocouple 1 is noise-removed by the first filter 2 and is output to the scan circuit 3 as a DC voltage. The scan circuit 3 outputs this DC voltage output to the switches S1 and S.
Alternate 2 and 2 at high speed (eg 50 KHz)
The signal is output to the amplifier 4 by converting it into an AC signal by a transformer for insulation processing. The amplifier 4 amplifies the output signal of the scan circuit 3 and converts it into a DC analog signal for S / H.
Output to the circuit 5. This output is held in the S / H circuit 5 at a constant sampling cycle according to a command from the control circuit 7, converted into a digital signal by the A / D converter 6, and read into the control circuit 7.

【0005】次に、熱電対1の異常検査時、制御回路7
はアナログスイッチ11aを開きアナログスイッチ11
bを閉じることによって、第1のフィルタ2を切り離し
て代わりに時定数の短い第2のフィルタ10を接続し、
電源部8から抵抗9を介して熱電対1の出力端子に試験
電圧を印加する。この試験電圧印加時、熱電対1の出力
端子間に発生する電圧信号は、第2のフィルタ10を介
して通常時と同じようにスキャン回路3、増幅器4、S
/H回路5、A/D変換器6を経由して制御回路7に入
力される。
Next, during the abnormality inspection of the thermocouple 1, the control circuit 7
Opens the analog switch 11a
By closing b, the first filter 2 is disconnected and the second filter 10 having a short time constant is connected instead,
A test voltage is applied from the power supply unit 8 to the output terminal of the thermocouple 1 via the resistor 9. When this test voltage is applied, the voltage signal generated between the output terminals of the thermocouple 1 is passed through the second filter 10 in the same manner as in the normal time, and the scan circuit 3, the amplifier 4, and the S
It is input to the control circuit 7 via the / H circuit 5 and the A / D converter 6.

【0006】熱電対1が正常であれば、この熱電対1の
出力端子間に発生する電圧eは、試験電圧Eに対する熱
電対1の内部抵抗値rと抵抗9の抵抗値Rとの分圧電圧
Vt=rE/(r+R)に、熱電対1の起電力Voを加
えたものとなる。ただし、分圧電圧Vtは熱電対1の内
部抵抗値rに対し抵抗9の抵抗値Rが非常に大きく設定
されているため、起電力Voに比べ小さい値となる。一
方、熱電対1が断線状態であれば、起電力Voが検出さ
れず、熱電対1の内部抵抗値rが無限大となることによ
り、この熱電対1の出力端子間に発生する電圧eは、試
験電圧Eと等しくなる。この試験電圧Eを通常の入力レ
ンジよりもやや大きめに設定しておけば、A/D変換器
6の出力がオーバーフローすることによって熱電対1の
断線が検出できる。上記従来例では、異常検査時に時定
数の大きい第1のフィルタ2と時定数の小さい第2のフ
ィルタ10とをつなぎ替えるため、異常検出処理に要す
る時間を短縮することができるとともに、第1のフィル
タ2に試験電圧Eの残留電圧が残ることを防止できる。
If the thermocouple 1 is normal, the voltage e generated between the output terminals of the thermocouple 1 is divided into the internal resistance value r of the thermocouple 1 and the resistance value R of the resistor 9 with respect to the test voltage E. It is the voltage Vt = rE / (r + R) plus the electromotive force Vo of the thermocouple 1. However, since the resistance value R of the resistor 9 is set to be very large with respect to the internal resistance value r of the thermocouple 1, the divided voltage Vt becomes a value smaller than the electromotive force Vo. On the other hand, when the thermocouple 1 is in the disconnection state, the electromotive force Vo is not detected and the internal resistance value r of the thermocouple 1 becomes infinite, so that the voltage e generated between the output terminals of the thermocouple 1 becomes , Becomes equal to the test voltage E. If the test voltage E is set to be slightly larger than the normal input range, the output of the A / D converter 6 overflows, so that the disconnection of the thermocouple 1 can be detected. In the above-mentioned conventional example, since the first filter 2 having a large time constant and the second filter 10 having a small time constant are switched during the abnormality inspection, the time required for the abnormality detection processing can be shortened and the first filter can be shortened. It is possible to prevent the residual voltage of the test voltage E from remaining in the filter 2.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】従来のアナログ入力装
置は以上のように構成されているので、フィルタを2つ
設けなければならず、これらのフィルタを切り替えるた
めに複数設けたアナログスイッチの入り切り処理が複雑
で、またその制御回路が複雑になるという問題点があっ
た。また、これらの複数のアナログスイッチの切り替え
タイミングのずれによってフィルタの出力にヒゲ状の出
力変動が発生し、測定誤差が発生する場合があった。さ
らに、上記アナログスイッチとして動作時間の速い半導
体スイッチを使用するため、通常の温度計測時に開状態
になっているアナログスイッチを経由して流れる微小の
漏れ電流により計測誤差が発生するという問題点があっ
た。
Since the conventional analog input device is constructed as described above, it is necessary to provide two filters, and a plurality of analog switches are provided to switch between these filters. However, there is a problem in that the control circuit is complicated. In addition, a shift in the switching timing of the plurality of analog switches causes a whisker-like output fluctuation in the output of the filter, which may cause a measurement error. Furthermore, since a semiconductor switch having a short operating time is used as the analog switch, there is a problem that a measurement error occurs due to a minute leak current flowing through the analog switch that is in an open state during normal temperature measurement. It was

【0008】この発明は上記のような問題を解決するた
めになされたものであり、フィルタを切り替えることな
くセンサの異常を検出できるとともに、試験電圧印加に
よるフィルタの残留電圧を小さくし、異常検出処理に要
する時間が短縮できるアナログ入力装置を得ることを目
的とするものである。
The present invention has been made in order to solve the above problems, and can detect an abnormality of a sensor without switching the filter, reduce the residual voltage of the filter due to application of a test voltage, and perform an abnormality detection process. It is an object of the present invention to obtain an analog input device that can reduce the time required for.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】この発明の請求項1に係
わるアナログ入力装置は、フィルタ処理によってカット
される波形の試験電圧をセンサの出力端子に印加する電
源部、及び上記試験電圧印加時、上記センサ出力端子か
ら導出される電気量を検出する異常検出手段を設けたも
のである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an analog input device comprising: a power supply section for applying a test voltage having a waveform cut by a filter process to an output terminal of a sensor; An abnormality detecting means for detecting the amount of electricity derived from the sensor output terminal is provided.

【0010】この発明の請求項2に係わるアナログ入力
装置は、フィルタ処理によってカットされるパルス状の
試験電圧をセンサの出力端子に印加する電源部、及び上
記試験電圧印加時、上記センサ出力端子から導出される
電気量を検出する異常検出手段を設けたものである。
According to a second aspect of the present invention, in an analog input device, a power source section for applying a pulsed test voltage cut by a filter process to an output terminal of a sensor, and a sensor output terminal from the sensor output terminal when the test voltage is applied. An abnormality detecting means for detecting the derived electric quantity is provided.

【0011】この発明の請求項3に係わるアナログ入力
装置は、フィルタ処理のカットオフ周波数より高い周波
数の交流試験電圧をセンサの出力端子に印加する電源
部、及び上記試験電圧印加時、上記センサ出力端子から
導出される電気量を検出する異常検出手段を設けたもの
である。
According to a third aspect of the present invention, in an analog input device, a power supply unit for applying an AC test voltage having a frequency higher than a cutoff frequency for filtering to an output terminal of the sensor, and the sensor output when the test voltage is applied. An abnormality detecting means for detecting the amount of electricity derived from the terminal is provided.

【0012】この発明の請求項4に係わるアナログ入力
装置は、センサの出力端子に試験電圧を印加する電源
部、及び上記センサの出力端子から導出される信号をA
/D変換器を介し、ディジタル信号として入力し、この
入力に対して、フィルタ処理してセンサ出力を導出する
ディジタルフィルタ手段と、上記試験電圧印加時、入力
する上記ディジタル信号を検出する異常検出手段とを設
けたディジタルシグナルプロセッサを備え、上記電源部
から出力される試験電圧を上記フィルタ処理によってカ
ットされる波形としたものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in an analog input device, a power supply unit for applying a test voltage to an output terminal of a sensor and a signal derived from the output terminal of the sensor are
A digital filter means for inputting a digital signal through a D / D converter and filtering the input to derive a sensor output, and an abnormality detecting means for detecting the input digital signal when the test voltage is applied. And a digital signal processor provided with, and the test voltage output from the power supply unit is a waveform cut by the filtering process.

【0013】この発明の請求項5に係わるアナログ入力
装置は、異常検出手段を、試験電圧印加時、センサの出
力端子から導出される電気量と予め設定した基準電気量
とを比較するコンパレータ回路で構成したものである。
In the analog input device according to a fifth aspect of the present invention, the abnormality detecting means is a comparator circuit for comparing an electric quantity derived from the output terminal of the sensor with a preset reference electric quantity when a test voltage is applied. It is composed.

【0014】この発明の請求項6に係わるアナログ入力
装置は、フィルタ処理によってカットされるパルス状の
試験電圧を、抵抗を介してセンサの出力端子に印加する
電源部、及び上記試験電圧印加時、上記センサ出力端子
から導出される電圧と予め設定した基準電圧とを比較す
るコンパレータ回路を設けたものである。
According to a sixth aspect of the present invention, in an analog input device, a pulse-shaped test voltage cut by a filter process is applied to an output terminal of a sensor through a resistor, and when the test voltage is applied, A comparator circuit for comparing the voltage derived from the sensor output terminal with a preset reference voltage is provided.

【0015】この発明の請求項7に係わるアナログ入力
装置は、フィルタ処理のカットオフ周波数より高い周波
数の交流試験電圧を、抵抗を介してセンサの出力端子に
印加する電源部、上記交流試験電圧印加時、上記センサ
出力端子から導出される電圧を変成するトランス、この
トランスから出力される交流電圧を直流電圧に変換する
変換回路、及びこの変換回路の変換した直流電圧と予め
設定した基準電圧とを比較するコンパレータ回路を設け
たものである。
An analog input device according to a seventh aspect of the present invention is a power supply unit for applying an AC test voltage having a frequency higher than a cutoff frequency of filtering to a sensor output terminal through a resistor, and the AC test voltage applying unit. At this time, a transformer that transforms a voltage derived from the sensor output terminal, a conversion circuit that converts an AC voltage output from the transformer into a DC voltage, and a DC voltage converted by the conversion circuit and a preset reference voltage are provided. A comparator circuit for comparison is provided.

【0016】この発明の請求項8に係わるアナログ入力
装置は、センサの出力端子に抵抗を介して試験電圧を印
加する電源部、及び上記センサの出力端子から導出され
る信号をA/D変換器を介し、ディジタル信号として入
力し、この入力に対して、フィルタ処理してセンサ出力
を導出するディジタルフィルタ手段と、上記試験電圧印
加時、入力する上記ディジタル信号を検出する異常検出
手段とを設けたディジタルシグナルプロセッサを備え、
上記電源部から出力される試験電圧を上記フィルタ処理
によってカットされるパルス状波形としたものである。
An analog input device according to claim 8 of the present invention is a power supply section for applying a test voltage to a sensor output terminal through a resistor, and an A / D converter for a signal derived from the sensor output terminal. A digital filter means for inputting a digital signal via the input terminal and filtering the input to derive a sensor output, and an abnormality detecting means for detecting the input digital signal when the test voltage is applied. Equipped with a digital signal processor,
The test voltage output from the power supply unit is a pulse-shaped waveform cut by the filtering process.

【0017】この発明の請求項9に係わるアナログ入力
装置は、センサの出力端子に抵抗を介して試験電圧を印
加する電源部、及び上記センサの出力端子から導出され
る信号をA/D変換器を介し、ディジタル信号として入
力し、この入力に対して、フィルタ処理してセンサ出力
を導出するディジタルフィルタ手段と、上記試験電圧印
加時、入力する上記ディジタル信号を検出する異常検出
手段とを設けたディジタルシグナルプロセッサを備え、
上記電源部から出力される試験電圧を上記フィルタ処理
のカットオフ周波数より高い周波数の交流電圧としたも
のである。
According to a ninth aspect of the present invention, in an analog input device, a power supply section for applying a test voltage to an output terminal of a sensor via a resistor and a signal derived from the output terminal of the sensor is an A / D converter. A digital filter means for inputting a digital signal via the input terminal and filtering the input to derive a sensor output, and an abnormality detecting means for detecting the input digital signal when the test voltage is applied. Equipped with a digital signal processor,
The test voltage output from the power supply unit is an AC voltage having a frequency higher than the cutoff frequency of the filtering process.

【0018】[0018]

【作用】この発明の請求項1に係わるアナログ入力装置
は、電源部がセンサ出力端子にフィルタ処理によってカ
ットされる波形の試験電圧を印加し、この試験電圧印加
時、異常検出手段がセンサ出力端子から導出される電気
量により、センサの異常を検出する。
In the analog input device according to the first aspect of the present invention, the power supply unit applies the test voltage of the waveform cut by the filter processing to the sensor output terminal, and when the test voltage is applied, the abnormality detecting means causes the sensor output terminal to operate. An abnormality of the sensor is detected based on the amount of electricity derived from.

【0019】この発明の請求項2に係わるアナログ入力
装置は、電源部がセンサ出力端子にフィルタ処理によっ
てカットされるパルス状の試験電圧を印加し、この試験
電圧印加時、異常検出手段がセンサ出力端子から導出さ
れる電気量により、センサの異常を検出する。
In the analog input device according to the second aspect of the present invention, the power supply section applies the pulse-shaped test voltage to the sensor output terminal, which is cut by the filtering process, and when the test voltage is applied, the abnormality detecting means outputs the sensor output. A sensor abnormality is detected by the amount of electricity derived from the terminal.

【0020】この発明の請求項3に係わるアナログ入力
装置は、電源部がセンサ出力端子にフィルタ処理のカッ
トオフ周波数よりも高い周波数の交流試験電圧を印加
し、この試験電圧印加時、異常検出手段がセンサ出力端
子から導出される電気量により、センサの異常を検出す
る。
In the analog input device according to the third aspect of the present invention, the power supply section applies the AC test voltage having a frequency higher than the cutoff frequency of the filtering process to the sensor output terminal, and when the test voltage is applied, the abnormality detecting means. Detects an abnormality of the sensor based on the amount of electricity derived from the sensor output terminal.

【0021】この発明の請求項4に係わるアナログ入力
装置は、ディジタルシグナルプロセッサがセンサの出力
端子から導出される電気量をA/D変換器を介してディ
ジタル信号として入力し、電源部がセンサ出力端子に上
記ディジタルシグナルプロセッサのディジタルフィルタ
手段によってカットされる波形の試験電圧を印加し、こ
の試験電圧印加時、上記ディジタルシグナルプロセッサ
の異常検出手段がセンサ出力端子から導出される電気量
により、センサの異常を検出する。
In the analog input device according to a fourth aspect of the present invention, the digital signal processor inputs the amount of electricity derived from the output terminal of the sensor as a digital signal through the A / D converter, and the power supply section outputs the sensor. A test voltage having a waveform cut by the digital filter means of the digital signal processor is applied to the terminal, and at the time of applying the test voltage, the abnormality detection means of the digital signal processor uses the electric quantity derived from the sensor output terminal to detect the sensor. Detect an abnormality.

【0022】この発明の請求項5に係わるアナログ入力
装置の異常検出手段は、試験電圧印加時、コンパレータ
回路がセンサ出力端子から導出される電気量と予め設定
した基準電気量とを比較することによって、センサの異
常を検出する。
In the abnormality detecting means of the analog input device according to the fifth aspect of the present invention, when the test voltage is applied, the comparator circuit compares the electric quantity derived from the sensor output terminal with a preset reference electric quantity. , Detect the sensor abnormality.

【0023】この発明の請求項6に係わるアナログ入力
装置は、電源部が抵抗を介してセンサ出力端子にフィル
タ処理によってカットされるパルス状の試験電圧を印加
し、この試験電圧印加時、コンパレータ回路がセンサ出
力端子から導出される電気量と予め設定した基準電気量
とを比較することによって、センサの異常を検出する。
According to a sixth aspect of the present invention, in the analog input device, the power supply section applies a pulsed test voltage to the sensor output terminal through a resistor and cut by the filter processing, and when the test voltage is applied, a comparator circuit is applied. Detects a sensor abnormality by comparing the amount of electricity derived from the sensor output terminal with a preset reference amount of electricity.

【0024】この発明の請求項7に係わるアナログ入力
装置は、電源部が抵抗を介してセンサ出力端子にフィル
タ処理のカットオフ周波数より高い周波数の交流試験電
圧を印加し、この試験電圧印加時、トランスがセンサ出
力端子から導出される電圧を変成し、変換回路がこのト
ランスの出力を直流電圧に変換し、コンパレータ回路が
この変換回路の変換した直流電圧と予め設定した基準電
圧と比較することによって、センサの異常を検出する。
In the analog input device according to claim 7 of the present invention, the power supply section applies the AC test voltage having a frequency higher than the cutoff frequency of the filtering process to the sensor output terminal through the resistor, and when the test voltage is applied, A transformer transforms the voltage derived from the sensor output terminal, a conversion circuit converts the output of this transformer into a DC voltage, and a comparator circuit compares the converted DC voltage of this conversion circuit with a preset reference voltage. , Detect the sensor abnormality.

【0025】この発明の請求項8に係わるアナログ入力
装置は、ディジタルシグナルプロセッサがセンサの出力
端子から導出される電気量をA/D変換器を介してディ
ジタル信号として入力し、電源部が抵抗を介してセンサ
出力端子に上記ディジタルシグナルプロセッサのディジ
タルフィルタ手段によってカットされるパルス状の試験
電圧を印加し、この試験電圧印加時、上記ディジタルシ
グナルプロセッサの異常検出手段が上記ディジタル信号
によって、センサの異常を検出する。
In the analog input device according to claim 8 of the present invention, the digital signal processor inputs the amount of electricity derived from the output terminal of the sensor as a digital signal via the A / D converter, and the power supply unit inputs the resistance. A pulse-shaped test voltage cut by the digital filter means of the digital signal processor is applied to the sensor output terminal via the sensor. When the test voltage is applied, the abnormality detection means of the digital signal processor causes the abnormality of the sensor by the digital signal. To detect.

【0026】この発明の請求項9に係わるアナログ入力
装置は、ディジタルシグナルプロセッサがセンサの出力
端子から導出される電気量をA/D変換器を介してディ
ジタル信号として入力し、電源部が抵抗を介してセンサ
出力端子に上記ディジタルシグナルプロセッサのディジ
タルフィルタ手段のカットオフ周波数より高い周波数の
交流試験電圧を印加し、この試験電圧印加時、上記ディ
ジタルシグナルプロセッサの異常検出手段が上記ディジ
タル信号によって、センサの異常を検出する。
In the analog input device according to claim 9 of the present invention, the digital signal processor inputs the electric quantity derived from the output terminal of the sensor as a digital signal through the A / D converter, and the power supply section inputs the resistance. An AC test voltage having a frequency higher than the cutoff frequency of the digital filter means of the digital signal processor is applied to the sensor output terminal through the sensor output terminal, and when the test voltage is applied, the abnormality detection means of the digital signal processor uses the digital signal to detect the sensor. To detect abnormalities.

【0027】[0027]

【実施例】【Example】

実施例1.図1はこの発明の一実施例であるアナログ入
力装置を示す回路図であり、従来のアナログ入力装置を
示す図5と同一符号は同じものを示す。図において、1
は熱電対、2は熱電対1の配線路に加わるノイズを除去
するための時定数の大きいフィルタ、3は熱電対1から
の信号を後段の装置と絶縁するためにトランスとスイッ
チング回路とで構成されるスキャン回路、4はスキャン
回路3の出力を増幅するための増幅器、5は増幅器4の
出力を一時的に保持するS/H回路、6はS/H回路5
で保持されている出力をディジタル信号に変換するA/
D変換器、7はこのディジタル信号を定期的に読み込む
制御回路、8は熱電対1の異常を検出するため抵抗9を
介して試験電圧を熱電対1の出力端子に印加する電源
部、12は電源部8から試験電圧をパルス状に印加した
とき、この試験電圧によって熱電対1の出力端子に導出
される電圧を入力し、この電圧と予め設定した基準電圧
とを比較してセンサ異常を検出するコンパレータ回路で
あり、コンパレータ回路12の基準電圧を与える抵抗1
21と、比較を行うコンパレータ122からなる。
Example 1. FIG. 1 is a circuit diagram showing an analog input device according to an embodiment of the present invention, and the same reference numerals as those in FIG. 5 showing a conventional analog input device indicate the same parts. In the figure, 1
Is a thermocouple, 2 is a filter with a large time constant for removing noise added to the wiring path of the thermocouple 1, and 3 is composed of a transformer and a switching circuit to insulate the signal from the thermocouple 1 from the device at the subsequent stage. Scan circuit, 4 is an amplifier for amplifying the output of the scan circuit 3, 5 is an S / H circuit for temporarily holding the output of the amplifier 4, and 6 is an S / H circuit 5
A / converts the output held at
D converter, 7 is a control circuit for periodically reading this digital signal, 8 is a power supply unit for applying a test voltage to the output terminal of the thermocouple 1 via a resistor 9 for detecting abnormality of the thermocouple 1, and 12 is When a test voltage is applied in a pulse form from the power supply unit 8, a voltage derived from the output terminal of the thermocouple 1 by this test voltage is input, and this voltage is compared with a preset reference voltage to detect a sensor abnormality. A resistor circuit 1 for providing a reference voltage for the comparator circuit 12
21 and a comparator 122 for comparison.

【0028】次に動作について説明する。通常時におい
て、従来のアナログ入力装置と同様に、制御回路7は、
フィルタ2を経由して温度に応じて発生する熱電対1の
出力端子間の起電力Voを入力し、この入力によって温
度計測を行う。熱電対1の出力は、フィルタ2、スキャ
ン回路3、増幅器4を経由してS/H回路5に入力さ
れ、制御回路7の指令により、一定のサンプリング周期
でS/H回路5に保持され、A/D変換器6でディジタ
ル信号に変換され、制御回路7に読み込まれる。
Next, the operation will be described. In the normal state, the control circuit 7 is similar to the conventional analog input device.
The electromotive force Vo between the output terminals of the thermocouple 1 generated according to the temperature is input via the filter 2, and the temperature is measured by this input. The output of the thermocouple 1 is input to the S / H circuit 5 via the filter 2, the scan circuit 3, and the amplifier 4, and is held in the S / H circuit 5 at a constant sampling cycle according to a command from the control circuit 7. It is converted into a digital signal by the A / D converter 6 and read by the control circuit 7.

【0029】次に異常検査時において、制御回路7の指
示によって電源部8は、抵抗9を介して熱電対1の出力
端子にフィルタ2によってカットされるパルス状の試験
電圧を印加する。例えば、フィルタ2がカットオフ周波
数5Hzのロウパスフィルタであれば、10ms程度の
パルスにして試験電圧Eを印加しても、この試験電圧E
によって熱電対1の出力端子に生ずる電圧は、フィルタ
2によって減衰され、フィルタ2を介して制御回路7に
入力される熱電対1の起電力Voの計測値には影響を与
えない。
Next, at the time of abnormality inspection, the power supply section 8 applies a pulse-shaped test voltage cut by the filter 2 to the output terminal of the thermocouple 1 via the resistor 9 according to an instruction from the control circuit 7. For example, if the filter 2 is a low-pass filter with a cutoff frequency of 5 Hz, even if the test voltage E is applied with a pulse of about 10 ms, the test voltage E
The voltage generated at the output terminal of the thermocouple 1 is attenuated by the filter 2 and does not affect the measured value of the electromotive force Vo of the thermocouple 1 input to the control circuit 7 via the filter 2.

【0030】上記試験電圧印加時、熱電対1が正常であ
れば、この熱電対1の出力端子間に発生する電圧eは、
試験電圧Eに対する熱電対1の内部抵抗値rと抵抗9の
抵抗値Rとの分圧電圧Vt=rE/(r+R)に、熱電
対1の起電力Voを加えたものとなる。ただし、分圧電
圧Vtは熱電対1の内部抵抗値rに対し抵抗9の抵抗値
Rが非常に大きく設定されているため、起電力Voに比
べ小さい値となる。一方、熱電対1が断線状態であれ
ば、起電力Voが検出されず、熱電対1の内部抵抗値r
が無限大となることにより、熱電対1の出力端子間に発
生する電圧eは、試験電圧Eと等しくなる。また、熱電
対1が接触不良状態であれば、熱電対1の内部抵抗値r
が大きくなることにより、分圧電圧Vtは試験電圧Eま
でには達しないにしても大きな値となり、熱電対1の出
力端子間の電圧eは起電力Voに分圧電圧Vtを加えた
ものとなることから、所定の計測レンジをオーバーす
る。
When the thermocouple 1 is normal when the test voltage is applied, the voltage e generated between the output terminals of the thermocouple 1 is
The electromotive force Vo of the thermocouple 1 is added to the divided voltage Vt = rE / (r + R) of the internal resistance value r of the thermocouple 1 and the resistance value R of the resistor 9 with respect to the test voltage E. However, since the resistance value R of the resistor 9 is set to be very large with respect to the internal resistance value r of the thermocouple 1, the divided voltage Vt becomes a value smaller than the electromotive force Vo. On the other hand, when the thermocouple 1 is in the disconnection state, the electromotive force Vo is not detected and the internal resistance value r of the thermocouple 1 is
Becomes infinite, the voltage e generated between the output terminals of the thermocouple 1 becomes equal to the test voltage E. If the thermocouple 1 is in a poor contact state, the internal resistance value r of the thermocouple 1
Becomes large even if the divided voltage Vt does not reach the test voltage E, and the voltage e between the output terminals of the thermocouple 1 is obtained by adding the divided voltage Vt to the electromotive force Vo. Therefore, the predetermined measurement range is exceeded.

【0031】コンパレータ回路12は、熱電対1の出力
端子間の電圧eを入力とし、このコンパレータ回路12
の抵抗121によって設定された基準電圧と比較するよ
うにコンパレータ122を構成するので、コンパレータ
回路12の出力により制御回路7は熱電対1の接触不良
および断線を判断することができる。この実施例1の構
成によれば、従来のアナログ入力装置と比較して、異常
検出時の試験電圧がパルス状であるため、外部のノイズ
に影響されにくいこと、およびパルス状の試験電圧がフ
ィルタ2によってカットされるので、フィルタ2の残留
電圧は極めて小さことにより、異常検出のための第2の
フィルタを設ける必要がない。また、異常検出の処理は
コンパレータ回路12で行うので、高速に検出でき検出
処理に要する時間を短くできる。さらに、制御回路7は
熱電対1による温度計測の処理と、熱電対1の異常検出
の処理を分離して構成することが可能となるので制御回
路の構造が簡単になる。
The comparator circuit 12 receives the voltage e between the output terminals of the thermocouple 1 as an input, and the comparator circuit 12
Since the comparator 122 is configured to be compared with the reference voltage set by the resistor 121, the control circuit 7 can determine the contact failure and disconnection of the thermocouple 1 by the output of the comparator circuit 12. According to the configuration of the first embodiment, as compared with the conventional analog input device, since the test voltage at the time of abnormality detection is pulsed, it is less susceptible to external noise and the pulsed test voltage is filtered. Since the residual voltage of the filter 2 is extremely small because it is cut by 2, it is not necessary to provide a second filter for abnormality detection. Further, since the abnormality detection process is performed by the comparator circuit 12, the detection can be performed at high speed and the time required for the detection process can be shortened. Further, since the control circuit 7 can be configured by separating the process of measuring the temperature by the thermocouple 1 and the process of detecting the abnormality of the thermocouple 1, the structure of the control circuit is simplified.

【0032】実施例2.図2は実施例2のアナログ入力
装置を示す回路図であり、上記実施例1で述べたパルス
状の試験電圧を印加する電源部8の代わりに、フィルタ
のカットオフ周波数より高い交流試験電圧を印加する電
源部8aを設け、上記実施例1で述べたコンパレータ回
路12の前段に熱電対1の出力端子から導出される電圧
を変成するトランス13と、このトランス13の出力を
直流電圧に変換する変換回路14を設けたものである。
なお、実施例1と同一符号は同一のものを示す。
Example 2. FIG. 2 is a circuit diagram showing the analog input device of the second embodiment. Instead of the power supply unit 8 for applying the pulsed test voltage described in the first embodiment, an AC test voltage higher than the cutoff frequency of the filter is used. A power supply unit 8a for applying a voltage is provided, and a transformer 13 that transforms the voltage derived from the output terminal of the thermocouple 1 is provided in the preceding stage of the comparator circuit 12 described in the first embodiment, and the output of this transformer 13 is converted into a DC voltage. The conversion circuit 14 is provided.
The same reference numerals as in the first embodiment indicate the same parts.

【0033】次に動作について説明する。通常時の動作
は、実施例1と同じであるので省略する。異常検査時に
おいて、制御回路7の指示によって電源部8は、抵抗9
を介して熱電対1の出力端子にフィルタ2のカットオフ
周波数より高い周波数の交流試験電圧を印加する。例え
ば、フィルタ2がカットオフ周波数5Hzのロウパスフ
ィルタであれば、500Hz程度の交流試験電圧Eを印
加しても、この試験電圧Eによって熱電対1の出力端子
に生ずる電圧は、フィルタ2によって減衰され、フィル
タ2を介して制御回路7に入力される熱電対1の起電力
Voの計測値には影響を与えない。
Next, the operation will be described. The normal operation is the same as that of the first embodiment, and will be omitted. During the abnormality inspection, the power supply unit 8 causes the resistor 9 to
An AC test voltage having a frequency higher than the cutoff frequency of the filter 2 is applied to the output terminal of the thermocouple 1 via the. For example, if the filter 2 is a low-pass filter with a cutoff frequency of 5 Hz, even if an AC test voltage E of about 500 Hz is applied, the voltage generated at the output terminal of the thermocouple 1 by this test voltage E is attenuated by the filter 2. The measured value of the electromotive force Vo of the thermocouple 1 that is input to the control circuit 7 via the filter 2 is not affected.

【0034】上記試験電圧印加時、熱電対1が正常であ
れば、この熱電対1の出力端子間に発生する電圧eは、
交流試験電圧Eに対する熱電対1の内部抵抗値rと抵抗
9の抵抗値Rとの交流の分圧電圧Vt=rE/(r+
R)に、熱電対1の起電力Voを加えたものとなる。た
だし、交流の分圧電圧Vtは熱電対1の内部抵抗値rに
対し抵抗9の抵抗値Rが非常に大きく設定されているた
め、起電力Voに比べ小さい値となる。一方、熱電対1
が断線状態であれば、起電力Voは検出されず、熱電対
1の内部抵抗値rが無限大となることにより、熱電対1
の出力端子間に発生する電圧eは、試験電圧Eと等しく
なる。また、熱電対1が接触不良状態であれば、熱電対
1の内部抵抗値rが大きくなることにより、分圧電圧V
tは試験電圧Eまでには達しないにしても大きな値とな
り、熱電対1の出力端子間の電圧eは起電力Voに交流
電圧Vtを重畳した電圧となることから、所定の計測レ
ンジをオーバーする。
If the thermocouple 1 is normal when the test voltage is applied, the voltage e generated between the output terminals of the thermocouple 1 is
An AC divided voltage Vt = rE / (r +) between the internal resistance value r of the thermocouple 1 and the resistance value R of the resistor 9 with respect to the AC test voltage E.
R) plus the electromotive force Vo of the thermocouple 1. However, since the resistance value R of the resistor 9 is set to be very large with respect to the internal resistance value r of the thermocouple 1, the AC divided voltage Vt becomes a value smaller than the electromotive force Vo. On the other hand, thermocouple 1
Is broken, the electromotive force Vo is not detected and the internal resistance value r of the thermocouple 1 becomes infinite.
The voltage e generated between the output terminals of the same becomes equal to the test voltage E. Further, if the thermocouple 1 is in a poor contact state, the internal resistance value r of the thermocouple 1 increases, so that the divided voltage V
Since t becomes a large value even if it does not reach the test voltage E, and the voltage e between the output terminals of the thermocouple 1 becomes a voltage obtained by superposing the AC voltage Vt on the electromotive force Vo, it exceeds the predetermined measurement range. To do.

【0035】トランス13は、熱電対1の出力端子間の
電圧eを入力とし、その交流成分である交流試験電圧の
分圧電圧Vtを変成して出力する。変換回路14は、こ
のトランスの出力を直流電圧に変換してコンパレータ回
路12の入力として出力する。従って、コンパレータ回
路12は熱電対1の出力端子に発生する分圧電圧Vtに
応じて導出される直流電圧を、抵抗121によって設定
された基準電圧と比較するようにコンパレータ122を
構成するので、コンパレータ回路12の出力で制御回路
7は熱電対1の接触不良および断線を判断することがで
きる。
The transformer 13 receives the voltage e between the output terminals of the thermocouple 1 as input, and transforms and outputs the divided voltage Vt of the AC test voltage, which is the AC component thereof. The conversion circuit 14 converts the output of this transformer into a DC voltage and outputs it as an input of the comparator circuit 12. Therefore, the comparator circuit 12 configures the comparator 122 to compare the DC voltage derived according to the divided voltage Vt generated at the output terminal of the thermocouple 1 with the reference voltage set by the resistor 121. The output of the circuit 12 allows the control circuit 7 to determine the contact failure and disconnection of the thermocouple 1.

【0036】この実施例2の構成によれば、従来のアナ
ログ入力装置と比較して、異常検出時の試験電圧が交流
であり、この交流電圧をトランス13および変換回路1
4で直流化するため、外部のノイズがトランス13およ
び変換回路14で吸収されること、およびカットオフ周
波数より高い周波数の交流試験電圧がフィルタ2によっ
てカットされるので、フィルタ2の残留電圧は極めて小
さいことにより、異常検出のための第2のフィルタを設
ける必要がない。また、異常検出の処理はトランス1
3、変換回路14およびコンパレータ回路12で行うの
で、高速に検出でき検出処理に要する時間を短くでき
る。さらに、制御回路7は熱電対1による温度計測の処
理と、熱電対1の異常検出の処理を分離して構成するこ
とが可能となるので制御回路の構造が簡単になる。さら
にまた、上記実施例2ではトランス13が熱電対1の配
線路との絶縁を行うので、コンパレータ回路12にノイ
ズが進入することを防ぐという効果がある。なお、交流
試験電圧を熱電対1に印加したままにしても通常時の温
度計測に影響はないので、熱電対1の異常を常時監視す
るように構成できるという効果がある。
According to the configuration of the second embodiment, the test voltage at the time of abnormality detection is AC, as compared with the conventional analog input device, and this AC voltage is used for the transformer 13 and the conversion circuit 1.
4, the external noise is absorbed by the transformer 13 and the conversion circuit 14, and the AC test voltage having a frequency higher than the cutoff frequency is cut by the filter 2. Therefore, the residual voltage of the filter 2 is extremely high. Since it is small, it is not necessary to provide a second filter for detecting abnormality. Also, the abnormality detection process is performed by the transformer 1.
3. Since it is performed by the conversion circuit 14 and the comparator circuit 12, the detection can be performed at high speed and the time required for the detection processing can be shortened. Further, since the control circuit 7 can be configured by separating the process of measuring the temperature by the thermocouple 1 and the process of detecting the abnormality of the thermocouple 1, the structure of the control circuit is simplified. Furthermore, since the transformer 13 insulates the wiring path of the thermocouple 1 in the second embodiment, it is possible to prevent noise from entering the comparator circuit 12. It should be noted that even if the AC test voltage is kept applied to the thermocouple 1, it does not affect the temperature measurement in the normal state, so that there is an effect that the thermocouple 1 can be constantly monitored for abnormality.

【0037】実施例3.図3は実施例3のアナログ入力
装置を示す回路図であり、実施例1の制御回路7にディ
ジタルシグナルプロセッサを使用し、その中にディジタ
ルフィルタ手段と異常検出手段を設けたものである。図
において、7aは制御回路7の代わりに設けられたディ
ジタルシグナルプロセッサ、7a1はディジタルシグナ
ルプロセッサ7a内に設けられたディジタルフィルタ手
段、7a2はディジタルシグナルプロセッサ7a内に設
けられ熱電対1の異常を検出する異常検出手段、7a3
はディジタルシグナルプロセッサ7a内に設けられ実施
例1の制御回路7に相当する制御手段である。なお、実
施例1と同一符号は同様のものを示す。
Example 3. FIG. 3 is a circuit diagram showing an analog input device of the third embodiment, in which a digital signal processor is used for the control circuit 7 of the first embodiment, and digital filter means and abnormality detecting means are provided therein. In the figure, 7a is a digital signal processor provided in place of the control circuit 7, 7a1 is digital filter means provided in the digital signal processor 7a, 7a2 is provided in the digital signal processor 7a and detects an abnormality of the thermocouple 1. Abnormality detecting means, 7a3
Is a control means provided in the digital signal processor 7a and corresponding to the control circuit 7 of the first embodiment. The same reference numerals as those in the first embodiment indicate the same parts.

【0038】次に動作について説明する。通常時におい
て、従来のアナログ入力装置と同様に、熱電対1による
温度計測は、温度に応じて発生する熱電対1の出力端子
間の起電力Voを計測することによって行う。熱電対1
の出力は、スキャン回路3、増幅器4を経由してS/H
回路5に入力され、一定のサンプリング周期でディジタ
ルシグナルプロセッサ7aの指令によりS/H回路5で
保持され、A/D変換器でディジタル信号に変換され、
ディジタルシグナルプロセッサ7aに読み込まれる。実
施例1及び2と異なり、サンプリング周期は例えば0.
2msの高速で行われる。ディジタルフィルタ手段7a
1は上記ディジタル信号の時系列に並んだデータをソフ
トウェアによるフィルタ処理によって例えばカットオフ
周波数5Hzのロウパスフィルタの出力と同等な時系列
データに変換して、後段の制御手段7a3に熱電対1の
起電力Voの計測値として出力する。
Next, the operation will be described. In the normal state, similarly to the conventional analog input device, the temperature measurement by the thermocouple 1 is performed by measuring the electromotive force Vo between the output terminals of the thermocouple 1 generated according to the temperature. Thermocouple 1
Output of S / H via scan circuit 3 and amplifier 4.
The signal is input to the circuit 5, is held in the S / H circuit 5 according to a command from the digital signal processor 7a at a constant sampling period, and is converted into a digital signal by the A / D converter.
It is read by the digital signal processor 7a. Unlike the first and second embodiments, the sampling period is, for example, 0.
It is performed at a high speed of 2 ms. Digital filter means 7a
Reference numeral 1 converts the data arranged in time series of the digital signal into time series data equivalent to the output of a low-pass filter having a cutoff frequency of 5 Hz, for example, by a filter processing by software, and the thermocouple 1 of the thermocouple 1 is provided to the control means 7a3 in the subsequent stage. Output as a measured value of electromotive force Vo.

【0039】次に異常検査時において、異常検出手段7
a2の指示によって電源部8は、抵抗9を介して熱電対
1の出力端子にディジタルフィルタ手段7a1によって
カットされるパルス状の試験電圧を印加する。実施例1
の場合と同様、例えばディジタルフィルタ手段7a1が
カットオフ周波数5Hzのロウパスフィルタに相当する
のであれば、10ms程度のパルスにして試験電圧Eを
印加しても、この試験電圧Eによって熱電対1の出力端
子に生ずる電圧は、ディジタルフィルタ手段7a1によ
って減衰され、制御手段7a3に入力される熱電対1の
起電力Voの計測値には影響を与えない。
Next, during the abnormality inspection, the abnormality detecting means 7
According to the instruction of a2, the power supply unit 8 applies the pulse-shaped test voltage cut by the digital filter means 7a1 to the output terminal of the thermocouple 1 through the resistor 9. Example 1
As in the case of, if the digital filter means 7a1 corresponds to a low-pass filter with a cutoff frequency of 5 Hz, even if the test voltage E is applied with a pulse of about 10 ms, the test voltage E causes the thermocouple 1 to operate. The voltage generated at the output terminal is attenuated by the digital filter means 7a1 and does not affect the measured value of the electromotive force Vo of the thermocouple 1 input to the control means 7a3.

【0040】上記試験電圧印加時、熱電対1の出力端子
間に発生する電圧eは、通常時と同様スキャン回路3、
増幅器4、S/H回路5、A/D変換器6を経てディジ
タルシグナルプロセッサ7aにディジタル信号として入
力される。熱電対1が正常であれば、実施例1の場合と
同様、この熱電対1の出力端子間に発生する電圧eは試
験電圧Eの影響をあまり受けず、断線の場合はe=E
に、接触不良の場合は、試験電圧Eまでは達しないが所
定の計測レンジをオーバーする電圧となる。異常検出手
段7a2は、上記試験電圧印加によって導出される熱電
対1の出力端子間に発生する電圧eをディジタル信号と
して受け取り、実施例1のコンパレータ回路と同様の異
常検出処理をソフトウェアによって行い、その結果を制
御手段7a3に通知する。
When the test voltage is applied, the voltage e generated between the output terminals of the thermocouple 1 is the same as that in the normal state when the scan circuit 3,
It is inputted as a digital signal to the digital signal processor 7a via the amplifier 4, the S / H circuit 5 and the A / D converter 6. If the thermocouple 1 is normal, as in the case of the first embodiment, the voltage e generated between the output terminals of the thermocouple 1 is not much affected by the test voltage E, and in the case of disconnection, e = E.
In the case of poor contact, the voltage exceeds the predetermined measurement range but does not reach the test voltage E. The abnormality detecting means 7a2 receives the voltage e generated between the output terminals of the thermocouple 1 derived by the application of the test voltage as a digital signal, performs the same abnormality detection processing as the comparator circuit of the first embodiment by software, The control means 7a3 is notified of the result.

【0041】以上のようにこの実施例3によれば、アナ
ログ入力装置に従来のようなアナログ回路で構成された
フィルタを用いる必要がない。また、異常検出時の試験
電圧がパルス状であるため、試験電圧印加によるディジ
タルフィルタ手段7a1の出力に対する影響を極めて小
さくできる。
As described above, according to the third embodiment, it is not necessary to use a filter composed of an analog circuit as in the conventional case in the analog input device. Further, since the test voltage at the time of abnormality detection is pulsed, the influence of the test voltage application on the output of the digital filter means 7a1 can be made extremely small.

【0042】実施例4.図4は実施例4のアナログ入力
装置を示す回路図であり、上記実施例3で述べたパルス
状の試験電圧を印加する電源部8の代わりに、ディジタ
ルフィルタ手段のカットオフ周波数より高い交流試験電
圧を印加する電源部8aを設けたものである。図におい
て、7bはディジタルシグナルプロセッサ、7b1はデ
ィジタルシグナルプロセッサ7b内に設けられたディジ
タルフィルタ手段、7b2はディジタルシグナルプロセ
ッサ7b内に設けられ熱電対1の異常を検出する異常検
出手段、7b3はディジタルシグナルプロセッサ7b内
に設けられた制御手段である。ただし、ディジタルフィ
ルタ手段7b1と制御手段7b3は実施例3にしめされ
たそれぞれ7a1、7a3(図3に示す)と実質上の差
異はない。また、実施例3と同一符号は同一のものを示
す。
Example 4. FIG. 4 is a circuit diagram showing the analog input device of the fourth embodiment. Instead of the power supply unit 8 for applying the pulsed test voltage described in the third embodiment, an AC test higher than the cutoff frequency of the digital filter means is performed. A power supply unit 8a for applying a voltage is provided. In the figure, 7b is a digital signal processor, 7b1 is a digital filter means provided in the digital signal processor 7b, 7b2 is an abnormality detection means provided in the digital signal processor 7b for detecting an abnormality of the thermocouple 1, and 7b3 is a digital signal. It is a control means provided in the processor 7b. However, the digital filter means 7b1 and the control means 7b3 are substantially the same as 7a1 and 7a3 (shown in FIG. 3) shown in the third embodiment. Moreover, the same reference numerals as those in the third embodiment denote the same components.

【0043】次に動作について説明する。通常時の動作
は、実施例3と同じであるので省略する。異常検査時に
おいて、異常検出手段7b2の指示によって電源部8a
は、抵抗9を介して熱電対1の出力端子にディジタルフ
ィルタ手段7b1のカットオフ周波数より高い周波数の
交流試験電圧を印加する。実施例2の場合と同様、例え
ば、ディジタルフィルタ手段7b1がカットオフ周波数
5Hzのロウパスフィルタであれば、500Hz程度の
交流試験電圧Eを印加しても、この試験電圧Eによって
熱電対1の出力端子に生ずる電圧は、ディジタルフィル
タ手段7b1によって減衰され、制御手段7b3に入力
される熱電対1の起電力Voの計測値には影響を与えな
い。
Next, the operation will be described. The normal operation is the same as that of the third embodiment, and will be omitted. During the abnormality inspection, the power supply unit 8a is instructed by the abnormality detecting means 7b2.
Applies an AC test voltage of a frequency higher than the cutoff frequency of the digital filter means 7b1 to the output terminal of the thermocouple 1 via the resistor 9. As in the case of the second embodiment, for example, if the digital filter means 7b1 is a low-pass filter with a cut-off frequency of 5 Hz, even if an AC test voltage E of about 500 Hz is applied, the output of the thermocouple 1 is generated by this test voltage E. The voltage generated at the terminal is attenuated by the digital filter means 7b1 and does not affect the measured value of the electromotive force Vo of the thermocouple 1 input to the control means 7b3.

【0044】上記試験電圧印加時、熱電対1の出力端子
間に発生する電圧eは、通常時と同様スキャン回路3、
増幅器4、S/H回路5、A/D変換器6を経てディジ
タルシグナルプロセッサ7bにディジタル信号として入
力される。熱電対1が正常であれば、実施例2の場合と
同様、この熱電対1の出力端子間に発生する電圧eは試
験電圧Eの影響をあまり受けず、断線の場合は、交流試
験電圧Eと等しくなり、接触不良の場合は、交流試験電
圧Eまでは達しないが所定の計測レンジをオーバーする
電圧となる。
When the test voltage is applied, the voltage e generated between the output terminals of the thermocouple 1 is the same as that in the normal state when the scan circuit 3,
It is input as a digital signal to the digital signal processor 7b via the amplifier 4, the S / H circuit 5 and the A / D converter 6. If the thermocouple 1 is normal, as in the case of the second embodiment, the voltage e generated between the output terminals of the thermocouple 1 is not much affected by the test voltage E, and in the case of disconnection, the AC test voltage E In the case of poor contact, the voltage does not reach the AC test voltage E but exceeds the predetermined measurement range.

【0045】異常検出手段7b2は、上記試験電圧印加
によって導出される熱電対1の出力端子間に発生する電
圧eをディジタル信号として受け取り、実施例2のコン
パレータ回路と同様の異常検出処理をソフトウェアによ
って行い、その結果を制御手段7b3に通知する。以上
のようにこの実施例4によれば、アナログ入力装置に従
来のようなアナログ回路で構成されたフィルタを用いる
必要がない。また、異常検出時の試験電圧がディジタル
フィルタ手段7b1のカットオフ周波数より高い周波数
の交流電圧であるため、試験電圧印加によるディジタル
フィルタ手段7b1の出力に対する影響を極めて小さく
できる。また、交流試験電圧を熱電対1に印加したまま
にしても通常時の温度計測に影響はないので、熱電対1
の異常を常時監視するように構成できるという効果があ
る。
The abnormality detecting means 7b2 receives, as a digital signal, the voltage e generated between the output terminals of the thermocouple 1 which is derived by the application of the test voltage, and performs an abnormality detecting process similar to that of the comparator circuit of the second embodiment by software. Then, the result is notified to the control means 7b3. As described above, according to the fourth embodiment, it is not necessary to use the conventional filter including the analog circuit in the analog input device. Moreover, since the test voltage at the time of abnormality detection is an AC voltage having a frequency higher than the cutoff frequency of the digital filter means 7b1, the influence of the application of the test voltage on the output of the digital filter means 7b1 can be made extremely small. Further, even if the AC test voltage is kept applied to the thermocouple 1, it does not affect the temperature measurement under normal conditions.
There is an effect that it can be configured to constantly monitor the abnormality.

【0046】なお、上記実施例1〜4では、センサとし
て熱電対を使用した例で示したが、フィルタ処理してセ
ンサの出力端子から導出される電気量を計測するもので
あれば、他のセンサであってもよい。
In the first to fourth embodiments, the thermocouple is used as the sensor. However, as long as the amount of electricity derived from the output terminal of the sensor is measured by filtering, other sensors can be used. It may be a sensor.

【0047】[0047]

【発明の効果】この発明は、以上に説明したように構成
されるので、以下に示すような効果を奏する。
Since the present invention is configured as described above, it has the following effects.

【0048】この発明の請求項1に係わるアナログ入力
装置は、電源部から出力される試験電圧をフィルタ処理
によってカットされる波形としてセンサ出力端子に印加
するので、試験電圧印加時にフィルタに残留電圧が残る
ことがなく、また、フィルタ処理とは別に、試験電圧印
加時、センサ出力端子から導出される電気量から直接に
センサの異常を検知する異常検出手段を設けたので、異
常検出のためのフィルタ切替処理が不要となり、フィル
タ処理の遅延時間による異常検出の待ち時間がなくなる
という効果がある。また、フィルタ切替処理のためのア
ナログスイッチを設けないので、アナログスイッチに起
因する誤差が発生しない。
In the analog input device according to the first aspect of the present invention, the test voltage output from the power supply unit is applied to the sensor output terminal as a waveform cut by the filter processing. Therefore, when the test voltage is applied, the residual voltage is applied to the filter. In addition to the filter processing, the filter for abnormality detection is provided separately from the filter processing, because the abnormality detection means for directly detecting the abnormality of the sensor from the electric quantity derived from the sensor output terminal when the test voltage is applied is provided. There is an effect that the switching process becomes unnecessary and the waiting time for the abnormality detection due to the delay time of the filter process is eliminated. Further, since the analog switch for the filter switching process is not provided, an error caused by the analog switch does not occur.

【0049】この発明の請求項2に係わるアナログ入力
装置は、電源部から出力される試験電圧をフィルタ処理
によってカットされるパルス状にしてセンサ出力端子に
印加するので、試験電圧印加時にフィルタに残留電圧が
残ることがなく、また、フィルタ処理とは別に、試験電
圧印加時、センサ出力端子から導出される電気量から直
接にセンサの異常を検知する異常検出手段を設けたの
で、異常検出のためのフィルタ切替処理が不要となり、
フィルタ処理の遅延時間による異常検出の待ち時間がな
くなるという効果がある。また、フィルタ切替処理のた
めのアナログスイッチを設けないので、アナログスイッ
チに起因する誤差が発生しない。
In the analog input device according to the second aspect of the present invention, the test voltage output from the power supply unit is applied to the sensor output terminal in the form of a pulse that is cut by the filter process, and therefore remains in the filter when the test voltage is applied. There is no voltage remaining.In addition to the filtering process, an abnormality detection unit is provided to detect the abnormality of the sensor directly from the quantity of electricity derived from the sensor output terminal when the test voltage is applied. No need for filter switching process of
This has the effect of eliminating the waiting time for abnormality detection due to the delay time of the filter processing. Further, since the analog switch for the filter switching process is not provided, an error caused by the analog switch does not occur.

【0050】この発明の請求項3に係わるアナログ入力
装置は、電源部からフィルタ処理のカットオフ周波数よ
り高い周波数の交流試験電圧をセンサ出力端子に印加す
るので、試験電圧印加時にフィルタに残留電圧が残るこ
とがなく、また、フィルタ処理とは別に、試験電圧印加
時、センサ出力端子から導出される電気量から直接にセ
ンサの異常を検知する異常検出手段を設けたので、異常
検出のためのフィルタ切替処理が不要となり、フィルタ
処理の遅延時間による異常検出の待ち時間がなくなると
いう効果がある。また、フィルタ切替処理のためのアナ
ログスイッチを設けないので、アナログスイッチに起因
する誤差が発生しない。さらに、交流試験電圧を常時印
加したままにしてもよいので、センサの異常を常時監視
するように構成できるという効果がある。
In the analog input device according to the third aspect of the present invention, since the AC test voltage having a frequency higher than the cutoff frequency of the filtering process is applied to the sensor output terminal from the power supply section, the residual voltage is applied to the filter when the test voltage is applied. In addition to the filter processing, the filter for abnormality detection is provided separately from the filter processing, because the abnormality detection means for directly detecting the abnormality of the sensor from the electric quantity derived from the sensor output terminal when the test voltage is applied is provided. There is an effect that the switching process becomes unnecessary and the waiting time for the abnormality detection due to the delay time of the filter process is eliminated. Further, since the analog switch for the filter switching process is not provided, an error caused by the analog switch does not occur. Further, since the AC test voltage may be always applied, there is an effect that the sensor can be constantly monitored for abnormality.

【0051】この発明の請求項4に係わるアナログ入力
装置は、フィルタ処理してセンサ出力を導出するディジ
タルフィルタ手段と、試験電圧印加時、センサの異常を
検出する異常検出手段をディジタルシグナルプロセッサ
で構成したので、従来のアナログ回路で構成されたフィ
ルタが不要であり、アナログ入力装置の構成を簡略化で
きるという効果がある。また、異常検出のためのフィル
タ切替処理が不要となり、フィルタ切替処理のためのア
ナログスイッチを設けないので、アナログスイッチに起
因する誤差が発生しない。さらに、電源部から出力され
る試験電圧をフィルタ処理によってカットされる波形と
してセンサ出力端子に印加するので、試験電圧印加時に
ディジタルフィルタの出力に影響を与えることがない。
In the analog input device according to the fourth aspect of the present invention, the digital filter means for filtering and deriving the sensor output and the abnormality detecting means for detecting the abnormality of the sensor when the test voltage is applied are constituted by a digital signal processor. Therefore, there is no need for a filter configured by a conventional analog circuit, and the configuration of the analog input device can be simplified. Further, the filter switching process for detecting the abnormality is not necessary and the analog switch for the filter switching process is not provided, so that the error caused by the analog switch does not occur. Furthermore, since the test voltage output from the power supply unit is applied to the sensor output terminal as a waveform cut by the filter processing, the output of the digital filter is not affected when the test voltage is applied.

【0052】この発明の請求項5に係わるアナログ検出
装置の入力装置は、異常検出手段を応答時間の速いコン
パレータ回路で構成したので、センサの異常検出に要す
る時間を短縮できる。
In the input device of the analog detecting device according to the fifth aspect of the present invention, since the abnormality detecting means is composed of the comparator circuit having a fast response time, the time required for detecting the abnormality of the sensor can be shortened.

【0053】この発明の請求項6に係わるアナログ入力
装置は、電源部から出力される試験電圧をフィルタ処理
によってカットされるパルス状にしてセンサ出力端子に
印加するので、試験電圧印加時にフィルタに残留電圧が
残ることがなく、また、フィルタ処理とは別に、試験電
圧印加時、センサ出力端子から導出される電気量から直
接にセンサの異常を検知する異常検出手段を設けたの
で、異常検出のためのフィルタ切替処理が不要となり、
フィルタ処理の遅延時間による異常検出の待ち時間がな
くなるという効果がある。また、フィルタ切替処理のた
めのアナログスイッチを設けないので、アナログスイッ
チに起因する誤差が発生しない。さらに、異常検出手段
を応答時間の速いコンパレータ回路で構成したので、セ
ンサの異常検出に要する時間を短縮できる。
In the analog input device according to the sixth aspect of the present invention, the test voltage output from the power supply unit is applied to the sensor output terminal in the form of a pulse that is cut by the filter processing. There is no voltage remaining.In addition to the filtering process, an abnormality detection unit is provided to detect the abnormality of the sensor directly from the quantity of electricity derived from the sensor output terminal when the test voltage is applied. No need for filter switching process of
This has the effect of eliminating the waiting time for abnormality detection due to the delay time of the filter processing. Further, since the analog switch for the filter switching process is not provided, an error caused by the analog switch does not occur. Further, since the abnormality detecting means is composed of the comparator circuit having a fast response time, the time required for detecting the abnormality of the sensor can be shortened.

【0054】この発明の請求項7に係わるアナログ入力
装置は、電源部からフィルタ処理のカットオフ周波数よ
り高い周波数の交流試験電圧をセンサ出力端子に印加す
るので、試験電圧印加時にフィルタに残留電圧が残るこ
とがなく、また、フィルタ処理とは別に、試験電圧印加
時、センサ出力端子から導出される電気量から直接にセ
ンサの異常を検知する異常検出手段を設けたので、異常
検出のためのフィルタ切替処理が不要となり、フィルタ
処理の遅延時間による異常検出の待ち時間がなくなると
いう効果がある。また、フィルタ切替処理のためのアナ
ログスイッチを設けないので、アナログスイッチに起因
する誤差が発生しない。さらに、交流試験電圧を常時印
加したままにしてもよいので、センサの異常を常時監視
するように構成できるという効果がある。さらにまた、
センサ出力端子にかかる交流試験電圧をトランスを用い
て変成するので、センサ配線路と、変換回路およびコン
パレータ回路からなる異常検出手段との絶縁を行うこと
ができる。さらにまた、異常検出手段を応答時間の速い
コンパレータ回路で構成したので、センサの異常検出に
要する時間を短縮できる。
In the analog input device according to the seventh aspect of the present invention, since the AC test voltage having a frequency higher than the cutoff frequency of the filtering process is applied to the sensor output terminal from the power supply unit, the residual voltage is applied to the filter when the test voltage is applied. In addition to the filter processing, the filter for abnormality detection is provided separately from the filter processing, because the abnormality detection means for directly detecting the abnormality of the sensor from the electric quantity derived from the sensor output terminal when the test voltage is applied is provided. There is an effect that the switching process becomes unnecessary and the waiting time for the abnormality detection due to the delay time of the filter process is eliminated. Further, since the analog switch for the filter switching process is not provided, an error caused by the analog switch does not occur. Further, since the AC test voltage may be always applied, there is an effect that the sensor can be constantly monitored for abnormality. Furthermore,
Since the AC test voltage applied to the sensor output terminal is transformed by using the transformer, it is possible to insulate the sensor wiring path from the abnormality detecting means including the conversion circuit and the comparator circuit. Furthermore, since the abnormality detecting means is composed of the comparator circuit having a fast response time, the time required for detecting the abnormality of the sensor can be shortened.

【0055】この発明の請求項8に係わるアナログ入力
装置は、フィルタ処理してセンサ出力を導出するディジ
タルフィルタ手段と、試験電圧印加時、センサの異常を
検出する異常検出手段をディジタルシグナルプロセッサ
で構成したので、従来のアナログ回路で構成されたフィ
ルタが不要であり、アナログ入力装置の構成を簡略化で
きるという効果がある。また、異常検出のためのフィル
タ切替処理が不要となり、フィルタ切替処理のためのア
ナログスイッチを設けないので、アナログスイッチに起
因する誤差が発生しない。さらに、電源部から出力され
る試験電圧をフィルタ処理によってカットされるパルス
状にしてセンサ出力端子に印加するので、試験電圧印加
時にディジタルフィルタの出力に影響を与えることがな
い。
In the analog input device according to the eighth aspect of the present invention, the digital filter means for deriving the sensor output by filtering and the abnormality detecting means for detecting the abnormality of the sensor when the test voltage is applied are constituted by the digital signal processor. Therefore, there is no need for a filter configured by a conventional analog circuit, and the configuration of the analog input device can be simplified. Further, the filter switching process for detecting the abnormality is not necessary and the analog switch for the filter switching process is not provided, so that the error caused by the analog switch does not occur. Furthermore, since the test voltage output from the power supply unit is applied to the sensor output terminal in the form of a pulse that is cut by the filtering process, the output of the digital filter is not affected when the test voltage is applied.

【0056】この発明の請求項9に係わるアナログ入力
装置は、フィルタ処理してセンサ出力を導出するディジ
タルフィルタ手段と、試験電圧印加時、センサの異常を
検出する異常検出手段をディジタルシグナルプロセッサ
で構成したので、従来のアナログ回路で構成されたフィ
ルタが不要であり、アナログ入力装置の構成を簡略化で
きるという効果がある。また、異常検出のためのフィル
タ切替処理が不要となり、フィルタ切替処理のためのア
ナログスイッチを設けないので、アナログスイッチに起
因する誤差が発生しない。さらに、電源部からフィルタ
処理のカットオフ周波数より高い周波数の交流試験電圧
をセンサ出力端子に印加するので、試験電圧印加時にデ
ィジタルフィルタの出力に影響を与えることがない。さ
らにまた、交流試験電圧を常時印加したままにしてもよ
いので、センサの異常を常時監視するように構成できる
という効果がある。
In the analog input device according to claim 9 of the present invention, the digital filter means for deriving the sensor output by filtering and the abnormality detecting means for detecting the abnormality of the sensor when the test voltage is applied are constituted by a digital signal processor. Therefore, there is no need for a filter configured by a conventional analog circuit, and the configuration of the analog input device can be simplified. Further, the filter switching process for detecting the abnormality is not necessary and the analog switch for the filter switching process is not provided, so that the error caused by the analog switch does not occur. Furthermore, since the AC test voltage having a frequency higher than the cutoff frequency of the filtering process is applied to the sensor output terminal from the power supply unit, the output of the digital filter is not affected when the test voltage is applied. Furthermore, since the AC test voltage may be always applied, there is an effect that the abnormality of the sensor can be constantly monitored.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の実施例1を示すアナログ入力装置の
回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram of an analog input device showing a first embodiment of the present invention.

【図2】この発明の実施例2を示すアナログ入力装置の
回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram of an analog input device showing a second embodiment of the present invention.

【図3】この発明の実施例3を示すアナログ入力装置の
回路図である。
FIG. 3 is a circuit diagram of an analog input device showing a third embodiment of the present invention.

【図4】この発明の実施例4を示すアナログ入力装置の
回路図である。
FIG. 4 is a circuit diagram of an analog input device showing a fourth embodiment of the present invention.

【図5】従来のアナログ入力装置の回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram of a conventional analog input device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 熱電対 2 フィルタ 7a,7b ディジタルシグナルプロセッサ 8,8a 電源部 9 抵抗 12 コンパレータ回路 13 トランス 14 変換回路 1 Thermocouple 2 Filter 7a, 7b Digital Signal Processor 8, 8a Power Supply Section 9 Resistor 12 Comparator Circuit 13 Transformer 14 Conversion Circuit

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 センサから出力される検出信号をフィル
タ処理して入力するアナログ入力装置において、上記フ
ィルタ処理によってカットされる波形の試験電圧を上記
センサの出力端子に印加する電源部、及び上記試験電圧
印加時、上記センサ出力端子から導出される電気量によ
り、上記センサの異常を検出する異常検出手段を備えた
ことを特徴とするアナログ入力装置。
1. An analog input device for filtering and inputting a detection signal output from a sensor, a power supply unit for applying a test voltage having a waveform cut by the filtering process to an output terminal of the sensor, and the test. An analog input device comprising an abnormality detecting means for detecting an abnormality of the sensor based on an electric quantity derived from the sensor output terminal when a voltage is applied.
【請求項2】 センサから出力される検出信号をフィル
タ処理して入力するアナログ入力装置において、上記フ
ィルタ処理によってカットされるパルス状の試験電圧を
上記センサの出力端子に印加する電源部、及び上記試験
電圧印加時、上記センサ出力端子から導出される電気量
により、上記センサの異常を検出する異常検出手段を備
えたことを特徴とするアナログ入力装置。
2. An analog input device for filtering and inputting a detection signal output from a sensor, and a power supply section for applying a pulsed test voltage cut by the filtering process to an output terminal of the sensor, and An analog input device comprising an abnormality detecting means for detecting an abnormality of the sensor by an electric quantity derived from the sensor output terminal when a test voltage is applied.
【請求項3】 センサから出力される検出信号をフィル
タ処理して入力するアナログ入力装置において、上記フ
ィルタ処理のカットオフ周波数より高い周波数の交流試
験電圧を上記センサの出力端子に印加する電源部、及び
上記試験電圧印加時、上記センサ出力端子から導出され
る電気量により、上記センサの異常を検出する異常検出
手段を備えたことを特徴とするアナログ入力装置。
3. An analog input device for filtering and inputting a detection signal output from a sensor, wherein a power supply unit applies an AC test voltage having a frequency higher than a cutoff frequency of the filtering process to an output terminal of the sensor. And an analog input device comprising an abnormality detecting means for detecting an abnormality of the sensor by an electric quantity derived from the sensor output terminal when the test voltage is applied.
【請求項4】 センサから出力される検出信号をフィル
タ処理して入力するアナログ入力装置において、上記セ
ンサの出力端子に試験電圧を印加する電源部、及び上記
センサの出力端子から導出される信号をA/D変換器を
介し、ディジタル信号として入力し、この入力に対し
て、フィルタ処理してセンサ出力を導出するディジタル
フィルタ手段と、上記試験電圧印加時、入力する上記デ
ィジタル信号により上記センサの異常を検出する異常検
出手段とを設けたディジタルシグナルプロセッサを備
え、上記電源部から出力される試験電圧を上記フィルタ
処理によってカットされる波形としたことを特徴とする
アナログ入力装置。
4. An analog input device for filtering and inputting a detection signal output from a sensor, comprising: a power supply section for applying a test voltage to an output terminal of the sensor; and a signal derived from the output terminal of the sensor. Abnormality of the sensor due to the digital signal input through the A / D converter and filtering the input to derive the sensor output, and the digital signal input when the test voltage is applied. An analog input device, comprising: a digital signal processor provided with an abnormality detecting means for detecting the above, and a test voltage output from the power supply section is a waveform cut by the filter processing.
【請求項5】 異常検出手段を、試験電圧印加時、セン
サの出力端子から導出される電気量と予め設定した基準
電気量とを比較するコンパレータ回路で構成したことを
特徴とする請求項1記載のアナログ入力装置。
5. The abnormality detecting means comprises a comparator circuit for comparing an electric quantity derived from an output terminal of the sensor with a preset reference electric quantity when a test voltage is applied. Analog input device.
【請求項6】 センサから出力される検出信号をフィル
タ処理して入力するアナログ入力装置において、上記フ
ィルタ処理によってカットされるパルス状の試験電圧
を、抵抗を介して上記センサの出力端子に印加する電源
部、及び上記試験電圧印加時、上記センサ出力端子から
導出される電圧と予め設定した基準電圧とを比較するコ
ンパレータ回路を備えたことを特徴とするアナログ入力
装置。
6. An analog input device for filtering and inputting a detection signal output from a sensor, wherein a pulsed test voltage cut by the filtering is applied to an output terminal of the sensor through a resistor. An analog input device comprising a power supply unit and a comparator circuit for comparing a voltage derived from the sensor output terminal with a preset reference voltage when the test voltage is applied.
【請求項7】 センサから出力される検出信号をフィル
タ処理して入力するアナログ入力装置において、上記フ
ィルタ処理のカットオフ周波数より高い周波数の交流試
験電圧を、抵抗を介して上記センサの出力端子に印加す
る電源部、上記交流試験電圧印加時、上記センサ出力端
子から導出される電圧を変成するトランス、このトラン
スから出力される交流電圧を直流電圧に変換する変換回
路、及びこの変換回路の変換した直流電圧と予め設定し
た基準電圧とを比較するコンパレータ回路を備えたこと
を特徴とするアナログ入力装置。
7. An analog input device for filtering and inputting a detection signal output from a sensor, wherein an AC test voltage having a frequency higher than a cutoff frequency of the filtering is input to an output terminal of the sensor via a resistor. A power supply unit to be applied, a transformer that transforms a voltage derived from the sensor output terminal when the AC test voltage is applied, a conversion circuit that converts an AC voltage output from the transformer into a DC voltage, and a conversion circuit of the conversion circuit. An analog input device comprising a comparator circuit for comparing a DC voltage with a preset reference voltage.
【請求項8】 センサから出力される検出信号をフィル
タ処理して入力するアナログ入力装置において、上記セ
ンサの出力端子に抵抗を介して試験電圧を印加する電源
部、及び上記センサの出力端子から導出される信号をA
/D変換器を介し、ディジタル信号として入力し、この
入力に対して、フィルタ処理してセンサ出力を導出する
ディジタルフィルタ手段と、上記試験電圧印加時、入力
する上記ディジタル信号により上記センサの異常を検出
する異常検出手段とを設けたディジタルシグナルプロセ
ッサを備え、上記電源部から出力される試験電圧を上記
フィルタ処理によってカットされるパルス状波形とした
ことを特徴とするアナログ入力装置。
8. An analog input device for filtering and inputting a detection signal output from a sensor, and a power supply section for applying a test voltage to the output terminal of the sensor via a resistor, and the output terminal of the sensor. Signal to be A
A digital signal is inputted via the D / D converter, and a digital filter means for filtering the input to derive a sensor output, and an abnormality of the sensor due to the digital signal inputted when the test voltage is applied. An analog input device comprising: a digital signal processor provided with an abnormality detecting means for detecting; and a test voltage output from the power supply unit, which has a pulse-like waveform cut by the filtering process.
【請求項9】 センサから出力される検出信号をフィル
タ処理して入力するアナログ入力装置において、上記セ
ンサの出力端子に抵抗を介して試験電圧を印加する電源
部、及び上記センサの出力端子から導出される信号をA
/D変換器を介し、ディジタル信号として入力し、この
入力に対して、フィルタ処理してセンサ出力を導出する
ディジタルフィルタ手段と、上記試験電圧印加時、入力
する上記ディジタル信号により上記センサの異常を検出
する異常検出手段とを設けたディジタルシグナルプロセ
ッサを備え、上記電源部から出力される試験電圧を上記
フィルタ処理のカットオフ周波数より高い周波数の交流
電圧としたことを特徴とするアナログ入力装置。
9. An analog input device for filtering and inputting a detection signal output from a sensor, wherein a power supply unit applies a test voltage to an output terminal of the sensor via a resistor, and an output terminal of the sensor. Signal to be A
A digital signal is inputted via the D / D converter, and a digital filter means for filtering the input to derive a sensor output, and an abnormality of the sensor due to the digital signal inputted when the test voltage is applied. An analog input device, comprising: a digital signal processor provided with an abnormality detecting means for detecting; and a test voltage output from the power supply unit being an AC voltage having a frequency higher than a cutoff frequency of the filtering process.
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