JPH07244098A - In-circuit testing method for capacitor - Google Patents

In-circuit testing method for capacitor

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JPH07244098A
JPH07244098A JP6033783A JP3378394A JPH07244098A JP H07244098 A JPH07244098 A JP H07244098A JP 6033783 A JP6033783 A JP 6033783A JP 3378394 A JP3378394 A JP 3378394A JP H07244098 A JPH07244098 A JP H07244098A
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JP
Japan
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capacitor
electric circuit
frequency
impedance
voltage
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JP6033783A
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Japanese (ja)
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Hideo Mori
英男 森
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Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
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Abstract

PURPOSE:To effectively inspect whether a capacitor having smaller electrostatic capacitance is electrically connected or not. CONSTITUTION:A ceramic capacitor 3 connected in parallel with an electrolytic capacitor 2 has smaller electrostatic capacitance than a tolerance of that of the capacitor 2. In the case of executing an in-circuit testing method, a frequency (10MHz) at the time when an impedance of the capacitor 3 becomes smaller (substantially zero) than that of the capacitor 2, is decided, and a voltage of a half waveform having its frequency is input to an electric circuit 1. A voltage to be output from the circuit 1 is measured, and an absolute value of its output voltage is compared with a judging value. The judging value is smaller than the output voltage of the circuit 1 when only the capacitor 2 is electrically connected. It is judging that the capacitor 3 is connected only when the absolute value of the output voltage is the judged value or less.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、静電容量の大きく異な
る2つのコンデンサが並列に接続された電気回路に用い
られ、静電容量の小さい方のコンデンサの電気的接続の
有無を検査するためのコンデンサのインサーキットテス
ト方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is used for an electric circuit in which two capacitors having greatly different electrostatic capacities are connected in parallel, and is for inspecting whether or not the capacitor having the smaller electrostatic capacity is electrically connected. It relates to the in-circuit test method of the capacitor of.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、例えば自動車においては、エンジ
ンの燃料噴射量等を電子制御するために電子制御装置(E
lectronic Control Unit, 以下単に「ECU」という)
が搭載される。このECUの入力回路等には耐ノイズ性
向上のため通常コンデンサが用いられるが、その接続が
適正に行われているかどうかを検査する必要がある。そ
こで、従来はECUの製造工程において、電気回路上の
コンデンサ等の電気的特性値(静電容量)が設計した値
と一致しているか否かを検査する、いわゆるインサーキ
ットテスト方法が行われている。これは、定電流源から
コンデンサに一定時間電流を供給して、そのコンデンサ
の両端の電圧を測定し、その電圧値に基づき静電容量を
求めるという方法である。
2. Description of the Related Art Conventionally, in an automobile, for example, an electronic control unit (E
lectronic Control Unit, hereinafter simply referred to as "ECU")
Will be installed. A capacitor is usually used in the input circuit of the ECU to improve noise resistance, but it is necessary to inspect whether or not the connection is properly made. Therefore, conventionally, in a manufacturing process of an ECU, a so-called in-circuit test method has been performed in which it is inspected whether or not an electric characteristic value (electrostatic capacity) of a capacitor or the like on an electric circuit matches a designed value. There is. This is a method in which a constant current source supplies a current to a capacitor for a certain period of time, the voltage across the capacitor is measured, and the capacitance is obtained based on the voltage value.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところが、測定対象の
コンデンサに対し別のコンデンサが並列に接続されてい
る場合、前記の方法では、2つのコンデンサの合成静電
容量が求められる。このため、2つのコンデンサの静電
容量が大きく異なっている場合、静電容量の大きい方の
コンデンサの検査はできても、静電容量の小さい方のコ
ンデンサの検査ができないという問題があった。
However, when another capacitor is connected in parallel to the capacitor to be measured, the above method requires the combined capacitance of the two capacitors. Therefore, when the electrostatic capacities of the two capacitors are significantly different from each other, there is a problem in that the capacitor having the larger electrostatic capacity can be inspected but the capacitor having the smaller electrostatic capacity cannot be inspected.

【0004】例えば、前記ECUの入力回路には、アル
ミニウムを金属電極として用いた電解コンデンサとセラ
ミックコンデンサとが並列に接続される場合がある。こ
の電解コンデンサの静電容量は10〜100μFである
のに対し、セラミックコンデンサの静電容量は0.01
〜0.1μF程度である。そして、このセラミックコン
デンサの静電容量は電解コンデンサの静電容量の公差よ
りも小さい。従って、電解コンデンサの静電容量の測定
はできるものの、仮にセラミックコンデンサが誤って接
続されていなくても、その接続の有無を確認することが
できない。
For example, an electrolytic capacitor using aluminum as a metal electrode and a ceramic capacitor may be connected in parallel to the input circuit of the ECU. The capacitance of this electrolytic capacitor is 10 to 100 μF, while the capacitance of the ceramic capacitor is 0.01 μF.
It is about 0.1 μF. The capacitance of this ceramic capacitor is smaller than the tolerance of the capacitance of the electrolytic capacitor. Therefore, although the capacitance of the electrolytic capacitor can be measured, even if the ceramic capacitor is not erroneously connected, it is not possible to confirm the presence or absence of the connection.

【0005】本発明は前述した事情に鑑みてなされたも
のであり、その目的は、静電容量の異なる2つのコンデ
ンサが並列に接続された電気回路のインサーキットテス
トにおいて、コンデンサに印加するテスト信号を、静電
容量の小さいコンデンサの特性に応じて設定された周波
数の半波波形信号とすることにより、静電容量の小さい
方のコンデンサが電気回路上に接続されているか否かを
確実に検査できるコンデンサのインサーキットテスト方
法を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and an object thereof is to provide a test signal applied to a capacitor in an in-circuit test of an electric circuit in which two capacitors having different electrostatic capacities are connected in parallel. Is a half-wave waveform signal with a frequency set according to the characteristics of the capacitor with the small capacitance, and it is possible to reliably check whether the capacitor with the smaller capacitance is connected to the electric circuit. It is to provide an in-circuit test method of a capacitor that can perform.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に記載の第1の発明は、第1のコンデンサ
と、前記第1のコンデンサに対し並列に設けられ、かつ
その静電容量の公差よりも小さな静電容量を有する第2
のコンデンサとを備えた電気回路に用いられる方法であ
って、前記第1のコンデンサのインピーダンスよりも第
2のコンデンサのインピーダンスが小さくなるときの周
波数を有する電圧の半波波形を前記電気回路に入力する
第1の工程と、前記第1の工程で入力された電圧に応じ
て電気回路から出力される電圧を測定する第2の工程
と、前記第2の工程で測定された出力電圧の絶対値と、
第1のコンデンサのみが電気的に接続されているときの
電気回路の出力電圧の絶対値よりも小さく設定された判
定値とを比較する第3の工程と、前記第3の工程での比
較により、出力電圧の絶対値が判定値以下のときにの
み、電気回路に対し第2のコンデンサが電気的に接続さ
れていると判定する第4の工程とを備えている。
In order to achieve the above object, a first invention according to a first aspect of the invention is to provide a first capacitor and a capacitor in parallel with the first capacitor, Second having a capacitance smaller than the tolerance of capacitance
And a half-wave waveform of a voltage having a frequency when the impedance of the second capacitor becomes smaller than the impedance of the first capacitor, the half-wave waveform being input to the electric circuit. And a second step of measuring the voltage output from the electric circuit according to the voltage input in the first step, and the absolute value of the output voltage measured in the second step. When,
By the comparison between the third step of comparing the judgment value set to be smaller than the absolute value of the output voltage of the electric circuit when only the first capacitor is electrically connected, and the comparison in the third step. And a fourth step of determining that the second capacitor is electrically connected to the electric circuit only when the absolute value of the output voltage is less than or equal to the determination value.

【0007】請求項2に記載の第2の発明は、前記第1
の発明の構成に加え、前記半波波形の周波数が、第2の
コンデンサのインピーダンスが最も小さくなるときの周
波数である。
A second invention according to claim 2 is the first invention.
In addition to the configuration of the invention described above, the frequency of the half-wave waveform is the frequency when the impedance of the second capacitor is the smallest.

【0008】[0008]

【作用】第1の発明では、まず第1の工程において、半
波波形が電気回路に入力される。この半波波形の周波数
は、第1のコンデンサのインピーダンスよりも第2のコ
ンデンサのインピーダンスが小さくなるときの周波数で
ある。
In the first aspect of the invention, first, in the first step, the half-wave waveform is input to the electric circuit. The frequency of this half-wave waveform is the frequency when the impedance of the second capacitor becomes smaller than the impedance of the first capacitor.

【0009】次に、第2の工程において、前記第1の工
程で入力された電圧に応じて電気回路から出力される電
圧が測定される。ここで、電気回路に第2のコンデンサ
が接続されている場合には、第2のコンデンサのインピ
ーダンスが第1のコンデンサのインピーダンスよりも小
さいために、入力された周波数成分の少なくとも一部が
第2のコンデンサを通ってアース側へ流れる。その分、
電気回路から出力される周波数成分が少なくなる。
Next, in the second step, the voltage output from the electric circuit is measured according to the voltage input in the first step. Here, when the second capacitor is connected to the electric circuit, since the impedance of the second capacitor is smaller than the impedance of the first capacitor, at least a part of the input frequency component is the second capacitor. It flows to the ground side through the capacitor of. That much
The frequency components output from the electric circuit are reduced.

【0010】これに対し、前記電気回路上に第2のコン
デンサが接続されていない場合には、入力された周波数
成分がアース側へ流れにくい。この際、電気回路には半
波波形が入力されることから、第1のコンデンサにより
半波が平滑化されて直流電圧が発生する。従って、第2
のコンデンサがある場合とない場合とでは、測定される
出力電圧が異なる。
On the other hand, when the second capacitor is not connected on the electric circuit, the input frequency component is hard to flow to the ground side. At this time, since the half-wave waveform is input to the electric circuit, the half-wave is smoothed by the first capacitor and a DC voltage is generated. Therefore, the second
The measured output voltage is different with and without the capacitor.

【0011】そして、第3の工程においては、前記第2
の工程で測定された出力電圧の絶対値と、予め設定され
た判定値とが比較される。判定値は、第1のコンデンサ
のみが電気的に接続されているときの電気回路の出力電
圧の絶対値よりも小さく設定されている。
In the third step, the second step
The absolute value of the output voltage measured in the step of (3) and the preset determination value are compared. The judgment value is set smaller than the absolute value of the output voltage of the electric circuit when only the first capacitor is electrically connected.

【0012】第4の工程では、前記第3の工程での比較
により、出力電圧の絶対値が判定値以下のときには、電
気回路に対し第2のコンデンサが電気的に接続されてい
るものと判定される。また、出力電圧が判定値よりも大
きいときには、電気回路に対し第2のコンデンサが電気
的に接続されていないものと判定される。
In the fourth step, as a result of the comparison in the third step, when the absolute value of the output voltage is less than the judgment value, it is judged that the second capacitor is electrically connected to the electric circuit. To be done. When the output voltage is larger than the determination value, it is determined that the second capacitor is not electrically connected to the electric circuit.

【0013】このように第1の発明では、第2のコンデ
ンサの静電容量が第1のコンデンサの静電容量の公差よ
りも小さくても、第2のコンデンサの電気的接続の有無
が検査される。
As described above, according to the first aspect of the invention, even if the capacitance of the second capacitor is smaller than the tolerance of the capacitance of the first capacitor, it is inspected whether the second capacitor is electrically connected or not. It

【0014】第2の発明においては、第1の工程で、第
2のコンデンサのインピーダンスが最も小さくなるとき
の周波数の半波波形が電気回路に入力される。このた
め、電気回路に第2のコンデンサが接続されている場合
には、入力された周波数成分の多くが第2のコンデンサ
を通ってアース側へ流れる。その分、電気回路から出力
される周波数成分がわずかとなる。このため、第2のコ
ンデンサが接続されている場合と、接続されていない場
合とでは、第2の工程で測定される出力電圧が大きく異
なる。従って、両コンデンサのインピーダンスのばらつ
きを考慮して判定値を設定することにより、第4の工程
での判定の精度を高めることが可能となる。
In the second aspect of the invention, in the first step, a half-wave waveform having a frequency at which the impedance of the second capacitor is minimized is input to the electric circuit. Therefore, when the second capacitor is connected to the electric circuit, most of the input frequency components flow to the ground side through the second capacitor. As a result, the frequency component output from the electric circuit becomes small. Therefore, the output voltage measured in the second step is greatly different between the case where the second capacitor is connected and the case where the second capacitor is not connected. Therefore, it is possible to improve the accuracy of the determination in the fourth step by setting the determination value in consideration of the impedance variation of both capacitors.

【0015】[0015]

【実施例】以下、第1及び第2の発明を具体化した一実
施例を図1〜図3に従って説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment embodying the first and second inventions will be described below with reference to FIGS.

【0016】図1の電気回路1は、例えば、自動車用エ
ンジンの燃料噴射制御等を行う電子制御装置(ECU)
の入力回路の一部を示している。この電気回路1上に
は、互いに静電容量の大きく異なる第1のコンデンサと
しての電解コンデンサ2と、第2のコンデンサとしての
セラミックコンデンサ3とが並列に設けられている。す
なわち、電気回路1の入力端子4とアース5との間には
セラミックコンデンサ3が設けられている。入力端子4
及びセラミックコンデンサ3のプラス側端子間の接続点
aと、アース5との間には電解コンデンサ2が設けられ
ている。接続点a及び電解コンデンサ2のプラス側端子
間の接続点bに出力端子6が接続されている。
The electric circuit 1 of FIG. 1 is, for example, an electronic control unit (ECU) for controlling fuel injection of an automobile engine.
3 shows a part of the input circuit of. On this electric circuit 1, an electrolytic capacitor 2 as a first capacitor and a ceramic capacitor 3 as a second capacitor, which have greatly different electrostatic capacitances, are provided in parallel. That is, the ceramic capacitor 3 is provided between the input terminal 4 of the electric circuit 1 and the ground 5. Input terminal 4
The electrolytic capacitor 2 is provided between the ground 5 and the connection point a between the positive terminals of the ceramic capacitor 3. The output terminal 6 is connected to the connection point a and the connection point b between the plus side terminals of the electrolytic capacitor 2.

【0017】電解コンデンサ2は、電気分解によって生
成した金属の酸化被膜を極板間の誘電体としたコンデン
サであり、被膜が薄いために小型で大容量が得られる特
性を有する。本実施例では、この電解コンデンサ2の電
極金属としてアルミニウムが用いられている。セラミッ
クコンデンサ3は誘電体として誘電率の大きなセラミッ
クが用いられたコンデンサである。電解コンデンサ2の
静電容量が10〜100μFであるのに対し、セラミッ
クコンデンサ3の静電容量は0.01〜0.1μF程度
である。そして、セラミックコンデンサ3の静電容量は
電解コンデンサ2の静電容量の公差(±10〜20%)
よりも小さい。
The electrolytic capacitor 2 is a capacitor in which a metal oxide film produced by electrolysis is used as a dielectric between the electrode plates, and has a characteristic that it is small in size and has a large capacity because the film is thin. In this embodiment, aluminum is used as the electrode metal of this electrolytic capacitor 2. The ceramic capacitor 3 is a capacitor using a ceramic having a large dielectric constant as a dielectric. The capacitance of the electrolytic capacitor 2 is 10 to 100 μF, while the capacitance of the ceramic capacitor 3 is about 0.01 to 0.1 μF. The capacitance of the ceramic capacitor 3 is the tolerance of the capacitance of the electrolytic capacitor 2 (± 10 to 20%).
Smaller than.

【0018】電解コンデンサ2とセラミックコンデンサ
3とでは、図2に示すように、周波数に対するインピー
ダンス(容量リアクタンス)の特性が大きく異なる。す
なわち、電解コンデンサ2に関しては、約100KHz よ
りも低い周波数域では、周波数が高くなるに従いインピ
ーダンスが減少する。100KHz 近傍でインピーダンス
が最も小さくなる。約100KHz よりも高い周波数域で
は、周波数が高くなるに従いインピーダンスが増加す
る。一方、セラミックコンデンサ3に関しては、約10
MHz よりも低い周波数域では、周波数が高くなるに従い
インピーダンスが減少する。10MHz 近傍でインピーダ
ンスが最も小さな値(ほぼ零)になる。約10MHz より
も高い周波数域では、周波数が高くなるに従いインピー
ダンスが増加する。
As shown in FIG. 2, the electrolytic capacitor 2 and the ceramic capacitor 3 have greatly different impedance (capacitance reactance) characteristics with respect to frequency. That is, with respect to the electrolytic capacitor 2, the impedance decreases as the frequency increases in the frequency range lower than about 100 KHz. The impedance becomes the smallest near 100 KHz. In the frequency range higher than about 100 KHz, the impedance increases as the frequency increases. On the other hand, regarding the ceramic capacitor 3, about 10
In the frequency range lower than MHz, the impedance decreases as the frequency increases. The impedance becomes the smallest value (nearly zero) near 10MHz. In the frequency range higher than about 10 MHz, the impedance increases as the frequency increases.

【0019】従って、周波数が10MHz のときにはセラ
ミックコンデンサ3のインピーダンスが最小値となるの
に対し、電解コンデンサ2のインピーダンスは比較的大
きな値となる。本実施例では、このように所定の周波数
(この場合10MHz )で電解コンデンサ2とセラミック
コンデンサ3とでインピーダンスが大きく異なる現象
を、セラミックコンデンサ3の接続の有無の検査に利用
している。
Therefore, when the frequency is 10 MHz, the impedance of the ceramic capacitor 3 has a minimum value, while the impedance of the electrolytic capacitor 2 has a relatively large value. In this embodiment, the phenomenon that the impedances of the electrolytic capacitor 2 and the ceramic capacitor 3 are greatly different at a predetermined frequency (10 MHz in this case) is used for the inspection of the presence or absence of the connection of the ceramic capacitor 3.

【0020】ここで、本実施例のインサーキットテスト
方法では、セラミックコンデンサ3の有無を検査する、
つまり、欠品しているかどうかを確認するだけであり、
その静電容量の値までは測定しない。これは、ECUの
製造工程では、自動実装機により電子基板にコンデンサ
2,3を実装しているため、静電容量の異なる別のコン
デンサ2,3を誤って実装する可能性よりも、実装時及
びその後の欠落による欠品の可能性の方が高いからであ
る。
Here, in the in-circuit test method of this embodiment, the presence or absence of the ceramic capacitor 3 is inspected.
In other words, just check if you are out of stock,
It does not measure up to the value of its capacitance. This is because the capacitors 2 and 3 are mounted on the electronic board by the automatic mounting machine in the manufacturing process of the ECU, so it is more likely that the capacitors 2 and 3 having different electrostatic capacities are mounted by mistake during mounting. Also, there is a higher possibility that the product will be out of stock due to the subsequent missing.

【0021】前記インサーキットテスト方法の実施に用
いられるテスタは、通常インサーキットテスタと称され
ている比較的小型で軽量な汎用の測定機器であり、本実
施例の方法のために特別に設計されたものではない。こ
のテスタは、高周波の正弦波形を整流して半波波形にす
る機能と、直流電圧を測定する機能とを備えている。
The tester used for carrying out the in-circuit test method is a relatively small and lightweight general-purpose measuring instrument usually called an in-circuit tester, and is specially designed for the method of this embodiment. Not a thing. This tester has a function of rectifying a high-frequency sine waveform into a half-wave waveform and a function of measuring a DC voltage.

【0022】次に、前記テスタを用いて行われるインサ
ーキットテスト方法について、工程毎に説明する。第1
の工程の実施に先立ち、セラミックコンデンサ3のイン
ピーダンスが最も小さく、電解コンデンサ2のインピー
ダンスが大きくなるときの周波数を決定する。この周波
数は上述したように、セラミックコンデンサ3のインピ
ーダンスがほぼ零となる10MHz である。
Next, the in-circuit test method performed by using the tester will be described step by step. First
Prior to the execution of the step (1), the frequency when the impedance of the ceramic capacitor 3 is the smallest and the impedance of the electrolytic capacitor 2 is large is determined. This frequency is 10 MHz at which the impedance of the ceramic capacitor 3 becomes almost zero, as described above.

【0023】まず、第1の工程において、前記電気回路
1の入力端子4及び出力端子6にテスタを接続する。図
3(a)に示すように、前記周波数(10MHz )を有す
る高周波の電圧をテスタ内で整流して正側の半波波形の
電圧を生成し、これを電気回路1の入力端子4に供給す
る。
First, in the first step, a tester is connected to the input terminal 4 and the output terminal 6 of the electric circuit 1. As shown in FIG. 3A, a high frequency voltage having the frequency (10 MHz) is rectified in a tester to generate a half-wave voltage on the positive side, which is supplied to the input terminal 4 of the electric circuit 1. To do.

【0024】続いて、第2の工程において、前記第1の
工程で入力された電圧(入力電圧VI )に応じて電気回
路1から出力される直流電圧(出力電圧VO )を測定す
る。この出力電圧VO は、セラミックコンデンサ3が電
気的に接続されている場合といない場合とでは、図3
(b)に示すように異なる。まず、セラミックコンデン
サ3が接続されている場合、この周波数信号に対してコ
ンデンサ3はそのインピーダンスがほぼ零であるため
に、入力端子4から入力された周波数成分がセラミック
コンデンサ3を通ってアース5側へ流れ、出力端子6に
は前記周波数成分が出力されない。従って、出力端子6
から取り出される出力電圧VO は、図3(b)において
二点鎖線で示すようにほぼ零ボルトとなる。
Then, in the second step, the DC voltage (output voltage VO) output from the electric circuit 1 is measured according to the voltage (input voltage VI) input in the first step. This output voltage VO is shown in FIG. 3 when the ceramic capacitor 3 is electrically connected and when it is not electrically connected.
Different as shown in (b). First, when the ceramic capacitor 3 is connected, since the impedance of the capacitor 3 is substantially zero for this frequency signal, the frequency component input from the input terminal 4 passes through the ceramic capacitor 3 and is connected to the ground 5 side. The frequency component is not output to the output terminal 6. Therefore, the output terminal 6
The output voltage VO taken out from the output is approximately zero volts as shown by the chain double-dashed line in FIG. 3 (b).

【0025】これに対し、前記電気回路1上にセラミッ
クコンデンサ3が接続されていない場合、電解コンデン
サ2のインピーダンスが高いために、入力端子4から入
力された周波数成分がアース5側へ流れることがない。
この際、仮に入力波形が正弦波であれば出力電圧VO は
零ボルトとなる。しかし、本実施例では入力端子4に正
側の半波波形が入力されることから、電解コンデンサ2
により半波が平滑化されて図3(b)において実線で示
すような正の直流電圧が発生する。
On the other hand, when the ceramic capacitor 3 is not connected to the electric circuit 1, the frequency component input from the input terminal 4 may flow to the earth 5 side because the impedance of the electrolytic capacitor 2 is high. Absent.
At this time, if the input waveform is a sine wave, the output voltage VO will be zero volts. However, in this embodiment, since the positive half-wave waveform is input to the input terminal 4, the electrolytic capacitor 2
As a result, the half wave is smoothed to generate a positive DC voltage as shown by the solid line in FIG.

【0026】次に、第3の工程においては、前記第2の
工程で測定された出力電圧VO の絶対値と予め設定され
た判定値αとを比較する。判定値αは、電解コンデンサ
2のみが電気的に接続されているときの電気回路1の出
力電圧VO の絶対値よりも小さく設定されている。本実
施例では、この判定値αとして、両コンデンサ2,3の
インピーダンスのばらつきを考慮して、零ボルトよりも
若干大きな値が用いられる。
Next, in the third step, the absolute value of the output voltage VO measured in the second step is compared with a preset judgment value α. The determination value α is set to be smaller than the absolute value of the output voltage VO of the electric circuit 1 when only the electrolytic capacitor 2 is electrically connected. In this embodiment, a value slightly larger than zero volt is used as the determination value α in consideration of the variation in the impedances of the capacitors 2 and 3.

【0027】第4の工程では、前記第3の工程での比較
により、出力電圧VO の絶対値が判定値α以下のときに
は、電気回路1に対しセラミックコンデンサ3が電気的
に接続されていると判定する。出力電圧VO が判定値α
よりも大きな場合には、セラミックコンデンサ3が接続
されていないと判定する。
In the fourth step, as a result of the comparison in the third step, when the absolute value of the output voltage VO is less than the judgment value α, it is determined that the ceramic capacitor 3 is electrically connected to the electric circuit 1. judge. The output voltage VO is the judgment value α
If it is larger than the above, it is determined that the ceramic capacitor 3 is not connected.

【0028】このように本実施例では、半波波形の電圧
を電気回路1に入力するとともに、その電気回路1から
の出力電圧VO を測定し、その絶対値が判定値α以下の
ときにのみ、セラミックコンデンサ3が電気的に接続さ
れていると判定している。このため、電解コンデンサ2
に対しセラミックコンデンサ3が並列に接続され、しか
もセラミックコンデンサ3の静電容量が電解コンデンサ
2の静電容量の公差よりも小さくても、そのコンデンサ
3の電気的接続の有無を確実に検査することができる。
As described above, in this embodiment, the voltage of the half-wave waveform is input to the electric circuit 1 and the output voltage VO from the electric circuit 1 is measured, and only when the absolute value is less than the judgment value α. , It is determined that the ceramic capacitor 3 is electrically connected. Therefore, the electrolytic capacitor 2
On the other hand, even if the ceramic capacitor 3 is connected in parallel and the capacitance of the ceramic capacitor 3 is smaller than the tolerance of the capacitance of the electrolytic capacitor 2, the presence or absence of electrical connection of the capacitor 3 can be surely inspected. You can

【0029】また、本実施例では半波波形の周波数を、
セラミックコンデンサ3のインピーダンスが最も小さく
なるときの周波数に設定している。このため、電気回路
1にセラミックコンデンサ3が接続されている場合に
は、入力された周波数成分の多くが同コンデンサ3を通
ってアース5側へ流れる。その分、電気回路1から出力
される周波数成分がわずかとなる。このため、半波波形
の周波数が、上記周波数(インピーダンスが最も小さく
なるときの周波数)以外の値に設定された場合に比較し
て、セラミックコンデンサ3が接続されているときの出
力電圧VO と、接続されていないときの出力電圧VO と
の差が大きくなる。従って、両コンデンサ2,3のイン
ピーダンスにばらつきがあっても、そのばらつきを考慮
して判定値αを設定することにより、第4の工程におい
て精度の高い判定を行うことができる。
In this embodiment, the frequency of the half wave waveform is
The frequency is set so that the impedance of the ceramic capacitor 3 becomes the smallest. Therefore, when the ceramic capacitor 3 is connected to the electric circuit 1, most of the input frequency components flow through the capacitor 3 to the ground 5 side. As a result, the frequency component output from the electric circuit 1 becomes small. Therefore, as compared with the case where the frequency of the half-wave waveform is set to a value other than the above frequency (the frequency when the impedance becomes the smallest), the output voltage VO when the ceramic capacitor 3 is connected, The difference from the output voltage VO when not connected becomes large. Therefore, even if the impedances of the capacitors 2 and 3 vary, by setting the determination value α in consideration of the variation, highly accurate determination can be performed in the fourth step.

【0030】特に、第2のコンデンサとしてセラミック
コンデンサ3を用いた本実施例では、第1の工程で、同
コンデンサ3のインピーダンスがほぼ零となるときの周
波数(10MHz )の半波波形が電気回路1に入力され
る。このため、セラミックコンデンサ3が接続されてい
る場合の出力電力VO と、接続されていない場合の出力
電圧VO との差が最も大きくなる。従って、第4の工程
での判定の精度を最も高めることが可能となる。
Particularly, in the present embodiment using the ceramic capacitor 3 as the second capacitor, the half-wave waveform of the frequency (10 MHz) when the impedance of the capacitor 3 becomes almost zero in the first step is an electric circuit. Input to 1. Therefore, the difference between the output power VO when the ceramic capacitor 3 is connected and the output voltage VO when the ceramic capacitor 3 is not connected is the largest. Therefore, the accuracy of the determination in the fourth step can be maximized.

【0031】さらに、本実施例では、テスタ内部におい
て10MHz の正弦波形を整流して正側の半波波形を生成
するようにしている。このため、複雑かつ高価な高周波
測定技術を利用しないですむ。また、テスタが従来より
備えている機能を利用して直流の出力電圧VO を測定し
ているので、専用のテスタを新たに用いることなく、セ
ラミックコンデンサ3の接続の有無を検査できる。
Further, in this embodiment, the 10 MHz sine waveform is rectified inside the tester to generate a positive half-wave waveform. Therefore, it is not necessary to use complicated and expensive high frequency measurement technology. Further, since the DC output voltage VO is measured by utilizing the function that the tester has conventionally provided, it is possible to inspect whether or not the ceramic capacitor 3 is connected without newly using a dedicated tester.

【0032】なお、本発明は次のような別の実施例に具
体化することができる。 (1)前記実施例では、半波波形を得るために、セラミ
ックコンデンサ3のインピーダンスが最も小さくなると
きの周波数(10MHz )の正弦波形を整流したが、それ
以外の周波数の正弦波形を整流するようにしてもよい。
ただし、この場合の周波数は、電解コンデンサ2のイン
ピーダンスよりも、セラミックコンデンサ3のインピー
ダンスが小さくなる周波数の範囲から選択する必要があ
る。
The present invention can be embodied in the following other embodiments. (1) In the above embodiment, in order to obtain a half-wave waveform, the sine waveform of the frequency (10 MHz) when the impedance of the ceramic capacitor 3 is the smallest is rectified, but sine waveforms of other frequencies are rectified. You may
However, the frequency in this case needs to be selected from a frequency range in which the impedance of the ceramic capacitor 3 becomes smaller than the impedance of the electrolytic capacitor 2.

【0033】(2)電気回路1に負側の半波波形を入力
するようにしてもよい。この場合には、電気回路1の出
力電圧VO も負となるので、第2の工程での判定値αと
の比較には、この出力電圧VO の絶対値を用いる。
(2) A negative half-wave waveform may be input to the electric circuit 1. In this case, since the output voltage VO of the electric circuit 1 also becomes negative, the absolute value of this output voltage VO is used for comparison with the determination value α in the second step.

【0034】(3)本発明は、第1のコンデンサとして
電解コンデンサ2以外のコンデンサを用い、第2のコン
デンサとしてセラミックコンデンサ3以外のコンデンサ
を用いた電気回路にも適用できる。第1のコンデンサと
しては例えばフィルムコンデンサを用いることができ、
第2のコンデンサとしては例えばタンタルコンデンサを
用いることができる。
(3) The present invention can be applied to an electric circuit using a capacitor other than the electrolytic capacitor 2 as the first capacitor and a capacitor other than the ceramic capacitor 3 as the second capacitor. For example, a film capacitor can be used as the first capacitor,
For example, a tantalum capacitor can be used as the second capacitor.

【0035】(4)前記実施例での正弦波に代えて、方
形波、のこぎり波、三角波、パルス波等を整流して半波
波形を得るようにしてもよい。
(4) Instead of the sine wave in the above embodiment, a square wave, a sawtooth wave, a triangular wave, a pulse wave or the like may be rectified to obtain a half-wave waveform.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上詳述したように第1の発明では、第
1のコンデンサのインピーダンスよりも第2のコンデン
サのインピーダンスが小さくなるときの周波数を有する
電圧の半波波形を電気回路に入力する。電気回路からの
出力電圧を測定する。第1のコンデンサのみが電気的に
接続されているときの電気回路の出力電圧の絶対値より
も小さく設定された判定値と、前記出力電圧の絶対値と
を比較する。そして、出力電圧の絶対値が判定値以下の
ときにのみ、電気回路に第2のコンデンサが電気的に接
続されていると判定するようにしている。このため、静
電容量の異なる第1及び第2のコンデンサが並列に接続
された電気回路において、静電容量の小さい方の第2の
コンデンサが電気回路上に接続されているか否かを確実
に検査できる。
As described above in detail, in the first invention, the half-wave waveform of the voltage having the frequency when the impedance of the second capacitor becomes smaller than the impedance of the first capacitor is input to the electric circuit. . Measure the output voltage from the electrical circuit. The determination value set to be smaller than the absolute value of the output voltage of the electric circuit when only the first capacitor is electrically connected is compared with the absolute value of the output voltage. Then, only when the absolute value of the output voltage is less than or equal to the determination value, it is determined that the second capacitor is electrically connected to the electric circuit. Therefore, in the electric circuit in which the first and second capacitors having different electrostatic capacities are connected in parallel, it is ensured whether or not the second capacitor having the smaller electrostatic capacity is connected on the electric circuit. Can be inspected.

【0037】第2の発明では、半波波形の周波数を、第
2のコンデンサのインピーダンスが最も小さくなるとき
の周波数にしている。このため、第1の発明の効果に加
え、第4の工程での判定の精度を高めることができる。
In the second invention, the frequency of the half-wave waveform is set to the frequency at which the impedance of the second capacitor becomes the smallest. Therefore, in addition to the effect of the first invention, the accuracy of the determination in the fourth step can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1及び第2の発明を具体化した一実施例のイ
ンサーキットテスト方法が適用されるECUの入力回路
の一部を示す回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a part of an input circuit of an ECU to which an in-circuit test method of an embodiment embodying the first and second inventions is applied.

【図2】一実施例の電解コンデンサ及びセラミックコン
デンサの電気特性(周波数に対するインピーダンスの関
係)を示すグラフである。
FIG. 2 is a graph showing electrical characteristics (relationship of impedance to frequency) of an electrolytic capacitor and a ceramic capacitor of an example.

【図3】(a)は一実施例において電気回路に入力され
る半波波形を示す波形図であり、(b)は電気回路から
出力される出力電圧を示す波形図である。
FIG. 3A is a waveform diagram showing a half-wave waveform input to an electric circuit in one embodiment, and FIG. 3B is a waveform diagram showing an output voltage output from the electric circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…電気回路、2…第1のコンデンサとしての電解コン
デンサ、3…第2のコンデンサとしてのセラミックコン
デンサ、VO …出力電圧、α…判定値。
1 ... Electric circuit, 2 ... Electrolytic capacitor as first capacitor, 3 ... Ceramic capacitor as second capacitor, VO ... Output voltage, α ... Judgment value.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第1のコンデンサと、前記第1のコンデ
ンサに対し並列に設けられ、かつその静電容量の公差よ
りも小さな静電容量を有する第2のコンデンサとを備え
た電気回路に用いられる方法であって、 前記第1のコンデンサのインピーダンスよりも第2のコ
ンデンサのインピーダンスが小さくなるときの周波数を
有する電圧の半波波形を前記電気回路に入力する第1の
工程と、 前記第1の工程で入力された電圧に応じて電気回路から
出力される電圧を測定する第2の工程と、 前記第2の工程で測定された出力電圧の絶対値と、第1
のコンデンサのみが電気的に接続されているときの電気
回路の出力電圧の絶対値よりも小さく設定された判定値
とを比較する第3の工程と、 前記第3の工程での比較により、出力電圧の絶対値が判
定値以下のときにのみ、電気回路に対し第2のコンデン
サが電気的に接続されていると判定する第4の工程とを
備えたコンデンサのインサーキットテスト方法。
1. An electric circuit comprising: a first capacitor; and a second capacitor provided in parallel with the first capacitor and having a capacitance smaller than a tolerance of the capacitance thereof. A first step of inputting to the electric circuit a half-wave waveform of a voltage having a frequency at which the impedance of the second capacitor becomes smaller than the impedance of the first capacitor. The second step of measuring the voltage output from the electric circuit according to the voltage input in the step of; and the absolute value of the output voltage measured in the second step;
Output from the third step of comparing the judgment value set to be smaller than the absolute value of the output voltage of the electric circuit when only the capacitor of (3) is electrically connected, and the comparison in the third step. And a fourth step of determining that the second capacitor is electrically connected to the electric circuit only when the absolute value of the voltage is less than or equal to the determination value.
【請求項2】 前記半波波形の周波数は、第2のコンデ
ンサのインピーダンスが最も小さくなるときの周波数で
ある請求項1に記載のコンデンサのインサーキットテス
ト方法。
2. The capacitor in-circuit test method according to claim 1, wherein the frequency of the half-wave waveform is a frequency at which the impedance of the second capacitor is minimized.
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