JPH07230754A - 回路遮断器 - Google Patents
回路遮断器Info
- Publication number
- JPH07230754A JPH07230754A JP1819394A JP1819394A JPH07230754A JP H07230754 A JPH07230754 A JP H07230754A JP 1819394 A JP1819394 A JP 1819394A JP 1819394 A JP1819394 A JP 1819394A JP H07230754 A JPH07230754 A JP H07230754A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test button
- control means
- main circuit
- circuit breaker
- microcomputer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 制御手段を構成するマイクロコンピュータお
よびその周辺回路の半導体素子の熱的劣化を防ぐ。 【構成】 回路遮断器のテストボタン１６の動作機構部
に、所定の温度で変形して制御手段による引外し動作を
実行させる形状記憶合金１７を設ける。通電部のネジ締
付不良による異常発熱等が生じて、制御手段を構成する
マイクロコンピュータおよび周辺の半導体素子の限界温
度を越える場合には、形状記憶合金１７が変形してテス
トボタン１６の動作機構部が動作し、引外し装置を介し
て主回路接点をオフさせる。
よびその周辺回路の半導体素子の熱的劣化を防ぐ。 【構成】 回路遮断器のテストボタン１６の動作機構部
に、所定の温度で変形して制御手段による引外し動作を
実行させる形状記憶合金１７を設ける。通電部のネジ締
付不良による異常発熱等が生じて、制御手段を構成する
マイクロコンピュータおよび周辺の半導体素子の限界温
度を越える場合には、形状記憶合金１７が変形してテス
トボタン１６の動作機構部が動作し、引外し装置を介し
て主回路接点をオフさせる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、事故電流を検出したと
きに主回路接点を開放させるという引外し動作を行う回
路遮断器に関する。
きに主回路接点を開放させるという引外し動作を行う回
路遮断器に関する。
【０００２】
【従来の技術】負荷たる電動機に流れる負荷電流を検出
して、これが過電流例えば過負荷電流になった時に主回
路を遮断する回路遮断器としては、負荷電流をデジタル
電気信号として処理演算して、この演算結果が過負荷で
あると判断した時に、出力ポートから出力信号を出力す
る制御手段たるマイクロコンピュータを設け、このマイ
クロコンピュータの出力ポートからの出力信号により引
外し装置を動作させて、主回路に介在された主回路接点
をオフさせるようにした静止形のものが供給されてい
る。
して、これが過電流例えば過負荷電流になった時に主回
路を遮断する回路遮断器としては、負荷電流をデジタル
電気信号として処理演算して、この演算結果が過負荷で
あると判断した時に、出力ポートから出力信号を出力す
る制御手段たるマイクロコンピュータを設け、このマイ
クロコンピュータの出力ポートからの出力信号により引
外し装置を動作させて、主回路に介在された主回路接点
をオフさせるようにした静止形のものが供給されてい
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の構成による
と、初期段階ではマイクロコンピュータの熱的劣化は考
えられず正常に動作をする。しかしながら、通電部のネ
ジ締付不足により異常発熱が生じたり、または過負荷に
よる遮断動作の繰り返しにより、マイクロコンピュータ
およびその周辺の半導体素子に熱による経年変化があら
われると、過電流時の遮断不動作および過電流以下での
誤動作が起こることがある。
と、初期段階ではマイクロコンピュータの熱的劣化は考
えられず正常に動作をする。しかしながら、通電部のネ
ジ締付不足により異常発熱が生じたり、または過負荷に
よる遮断動作の繰り返しにより、マイクロコンピュータ
およびその周辺の半導体素子に熱による経年変化があら
われると、過電流時の遮断不動作および過電流以下での
誤動作が起こることがある。
【０００４】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは制御手段を構成するマイク
ロコンピュータおよびその周辺回路の半導体素子を主回
路内部の異常温度から保護することによって半導体素子
の熱的劣化を防ぐことのできる回路遮断器を提供するこ
とにある。
で、その目的とするところは制御手段を構成するマイク
ロコンピュータおよびその周辺回路の半導体素子を主回
路内部の異常温度から保護することによって半導体素子
の熱的劣化を防ぐことのできる回路遮断器を提供するこ
とにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の回路遮断器は、
主回路接点を介して主回路に流れる負荷電流を検出して
各相の負荷電流値に応じた各相用アナログ電圧信号を各
々出力する電流検出手段と、この電流検出手段からのア
ナログ電圧信号により示される負荷電流に基づいて引外
し装置を動作させ前記主回路接点をオフする制御手段
と、手動操作により前記引外し装置を動作させるテスト
ボタン動作機構部とを備えた回路遮断器において、前記
テストボタン動作機構部に、所定の温度で変形して前記
制御手段による引外し動作を実行させる形状記憶合金を
設けたことを特徴とする。この場合、テストボタンは漏
電動作特性用テストボタンであってもよい。
主回路接点を介して主回路に流れる負荷電流を検出して
各相の負荷電流値に応じた各相用アナログ電圧信号を各
々出力する電流検出手段と、この電流検出手段からのア
ナログ電圧信号により示される負荷電流に基づいて引外
し装置を動作させ前記主回路接点をオフする制御手段
と、手動操作により前記引外し装置を動作させるテスト
ボタン動作機構部とを備えた回路遮断器において、前記
テストボタン動作機構部に、所定の温度で変形して前記
制御手段による引外し動作を実行させる形状記憶合金を
設けたことを特徴とする。この場合、テストボタンは漏
電動作特性用テストボタンであってもよい。
【０００６】
【作用】本発明の回路遮断器によれば、過電流時の通電
部の発熱および過電流以下での通電部のネジ締付不良に
よる異常発熱等が生じて、制御手段を構成するマイクロ
コンピュータおよび周辺の半導体素子の限界温度を越え
る場合には、テストボタン動作機構部の形状記憶合金が
動作して引外し装置を介して主回路接点をオフさせるの
で、マイクロコンピュータおよび周辺回路の半導体素子
の熱的劣化を防止できる。
部の発熱および過電流以下での通電部のネジ締付不良に
よる異常発熱等が生じて、制御手段を構成するマイクロ
コンピュータおよび周辺の半導体素子の限界温度を越え
る場合には、テストボタン動作機構部の形状記憶合金が
動作して引外し装置を介して主回路接点をオフさせるの
で、マイクロコンピュータおよび周辺回路の半導体素子
の熱的劣化を防止できる。
【０００７】一般にこの種回路遮断器はマイクロコンピ
ュータおよび周辺回路の半導体素子の使用温度範囲内に
主回路の通電部の温度上昇を抑えるようになっている
が、過電流時およびネジの締付不足等による異常発熱
は、ほとんどの場合考慮されていない。従って前述した
ように、テストボタン動作機構部に形状記憶合金を使用
することにより、制御手段を構成するマイクロコンピュ
ータおよび周辺の半導体素子の熱的劣化を防ぐことがで
きる。
ュータおよび周辺回路の半導体素子の使用温度範囲内に
主回路の通電部の温度上昇を抑えるようになっている
が、過電流時およびネジの締付不足等による異常発熱
は、ほとんどの場合考慮されていない。従って前述した
ように、テストボタン動作機構部に形状記憶合金を使用
することにより、制御手段を構成するマイクロコンピュ
ータおよび周辺の半導体素子の熱的劣化を防ぐことがで
きる。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の一実施例につき図面を参照し
て説明する。先ず、図１に従って全体の構成について述
べる。すなわち１Ａ，１Ｂ，１Ｃは図示しない三相交流
電源に接続された電源端子であり、これらは、主回路接
点２Ａ，２Ｂ，２Ｃ並びに主回路導体３Ａ，３Ｂ，３Ｃ
を介して負荷側端子４Ａ，４Ｂ，４Ｃに各々接続されて
主回路５が構成されている。６Ａ，６Ｂ，６Ｃは主回路
導体３Ａ，３Ｂ，３Ｃを一次導体とする変流器であり、
これらの出力端子は電流検出回路７に変流器６Ａ，６
Ｂ，６Ｃの検出電流をこれに応じた値の検出電圧として
出力するものであり、一方出力端子は、アナログ／デジ
タル（Ａ／Ｄ）変換回路８の入力端子に接続されてい
る。そして、Ａ／Ｄ変換回路８の出力端子は、制御手段
たるマイクロコンピュータ９の入力ポートＩに接続され
ている。１０は電源回路であり、その入力端子は電流検
出回路７に接続され、電源端子および共通端子は電源ラ
イン１１および共通ライン１２に接続されている。ここ
で、電源回路１０は電流検出回路７に入力される電流を
直流定電圧に変換して電源ライン１１に出力するもので
あり、その電源ライン１１は、Ａ／Ｄ変換回路８の電源
端子ＶDDおよびマイクロコンピュータ９の電源端子ＶDD
に接続されている。
て説明する。先ず、図１に従って全体の構成について述
べる。すなわち１Ａ，１Ｂ，１Ｃは図示しない三相交流
電源に接続された電源端子であり、これらは、主回路接
点２Ａ，２Ｂ，２Ｃ並びに主回路導体３Ａ，３Ｂ，３Ｃ
を介して負荷側端子４Ａ，４Ｂ，４Ｃに各々接続されて
主回路５が構成されている。６Ａ，６Ｂ，６Ｃは主回路
導体３Ａ，３Ｂ，３Ｃを一次導体とする変流器であり、
これらの出力端子は電流検出回路７に変流器６Ａ，６
Ｂ，６Ｃの検出電流をこれに応じた値の検出電圧として
出力するものであり、一方出力端子は、アナログ／デジ
タル（Ａ／Ｄ）変換回路８の入力端子に接続されてい
る。そして、Ａ／Ｄ変換回路８の出力端子は、制御手段
たるマイクロコンピュータ９の入力ポートＩに接続され
ている。１０は電源回路であり、その入力端子は電流検
出回路７に接続され、電源端子および共通端子は電源ラ
イン１１および共通ライン１２に接続されている。ここ
で、電源回路１０は電流検出回路７に入力される電流を
直流定電圧に変換して電源ライン１１に出力するもので
あり、その電源ライン１１は、Ａ／Ｄ変換回路８の電源
端子ＶDDおよびマイクロコンピュータ９の電源端子ＶDD
に接続されている。
【０００９】１３は、引外し装置であり、その一方の端
子は電流検出回路７から導出された電源ライン１４に接
続され、他方の端子は、半導体スイッチング素子たるサ
イリスタ１５を介して共通ライン１２に接続されてい
る。この引外し装置１３は、サイリスタ１５がオンされ
ると電源ライン１４と共通ライン１２との間に生ずる電
圧が印加されて動作し、主回路接点２Ａ，２Ｂ，２Ｃを
オフさせるようになっている。
子は電流検出回路７から導出された電源ライン１４に接
続され、他方の端子は、半導体スイッチング素子たるサ
イリスタ１５を介して共通ライン１２に接続されてい
る。この引外し装置１３は、サイリスタ１５がオンされ
ると電源ライン１４と共通ライン１２との間に生ずる電
圧が印加されて動作し、主回路接点２Ａ，２Ｂ，２Ｃを
オフさせるようになっている。
【００１０】さて、１６は形状記憶合金を使用したバネ
を有するテストボタンであり、以下これについて述べ
る。例えば、保守点検時に使用する動作チェック用のテ
ストボタン１６には、所定の温度で変形する形状記憶合
金を使用したバネ１７を内蔵しており、この動きについ
て図２にて説明する。通常は、バネの力を利用せず指先
等で点検できるようになっており、じゃまにならない程
度に取付けておき、異常発熱が生じてある温度に達した
とき形状記憶合金からなるバネ１７が伸びて引外し装置
１３の係合レバー１８をテストボタン１６の先端部にて
押すことにより、回路遮断器の主回路接点を開放する。
これは、過電流特性に関係なく回路遮断器内部温度が異
常温度に達したとき、即座に動作するものである。
を有するテストボタンであり、以下これについて述べ
る。例えば、保守点検時に使用する動作チェック用のテ
ストボタン１６には、所定の温度で変形する形状記憶合
金を使用したバネ１７を内蔵しており、この動きについ
て図２にて説明する。通常は、バネの力を利用せず指先
等で点検できるようになっており、じゃまにならない程
度に取付けておき、異常発熱が生じてある温度に達した
とき形状記憶合金からなるバネ１７が伸びて引外し装置
１３の係合レバー１８をテストボタン１６の先端部にて
押すことにより、回路遮断器の主回路接点を開放する。
これは、過電流特性に関係なく回路遮断器内部温度が異
常温度に達したとき、即座に動作するものである。
【００１１】また回路遮断器が漏電遮断器である場合に
おいても、漏電動作特性用テストボタンを上記実施例の
保守点検用テストボタン１６と同じ構成とし、形状記憶
合金からなるバネ１７を内臓させ、過電流部分または漏
電部分で発熱が起こった場合にバネ１７が形状変形する
ように構成することにより、マイクロコンピュータおよ
び周辺の半導体素子の熱的劣化による誤動作の防止をす
ることができる。
おいても、漏電動作特性用テストボタンを上記実施例の
保守点検用テストボタン１６と同じ構成とし、形状記憶
合金からなるバネ１７を内臓させ、過電流部分または漏
電部分で発熱が起こった場合にバネ１７が形状変形する
ように構成することにより、マイクロコンピュータおよ
び周辺の半導体素子の熱的劣化による誤動作の防止をす
ることができる。
【００１２】このように本実施例によれば、主回路５の
内部温度が過電流および主回路導体３Ａ，３Ｂ，３Ｃ等
のネジ締付不良による異常発熱をテストボタン１６に内
蔵している形状記憶合金からなるバネ１７によって検知
し、引外し装置１３を駆動し、主回路５の主回路接点２
Ａ，２Ｂ，２Ｃをオフさせ、マイクロコンピュータ９お
よび周辺の半導体素子の熱的劣化による誤動作の防止を
することができる。
内部温度が過電流および主回路導体３Ａ，３Ｂ，３Ｃ等
のネジ締付不良による異常発熱をテストボタン１６に内
蔵している形状記憶合金からなるバネ１７によって検知
し、引外し装置１３を駆動し、主回路５の主回路接点２
Ａ，２Ｂ，２Ｃをオフさせ、マイクロコンピュータ９お
よび周辺の半導体素子の熱的劣化による誤動作の防止を
することができる。
【００１３】
【発明の効果】本発明によれば、遮断器内部の過電流時
の発熱および通電部のネジ等の締付不良による異常発熱
を検知できるようにしたので、制御手段の回路素子の熱
的劣化による故障或いは外来ノイズ等による誤動作が頻
繁に起こらないようにすることができる回路遮断器を提
供することができる。
の発熱および通電部のネジ等の締付不良による異常発熱
を検知できるようにしたので、制御手段の回路素子の熱
的劣化による故障或いは外来ノイズ等による誤動作が頻
繁に起こらないようにすることができる回路遮断器を提
供することができる。
【図１】本発明の一実施例を示す回路遮断器全体の電気
的構成図
的構成図
【図２】本発明の主要部の概略構成を示す破断図
２Ａ，２Ｂ，２Ｃは主回路接点，３Ａ，３Ｂ，３Ｃは主
回路導体，５は主回路，６Ａ，６Ｂ，６Ｃは変流器，７
は電流検出回路，８はＡ／Ｄ変換器，９はマイクロコン
ピュータ，１０は電源回路、１１，１４は電源ライン，
１２は共通ライン，１３は引外し装置，１５はサイリス
タ，１６はテストボタン，１７はバネ，１８は係合レバ
ーを示す。
回路導体，５は主回路，６Ａ，６Ｂ，６Ｃは変流器，７
は電流検出回路，８はＡ／Ｄ変換器，９はマイクロコン
ピュータ，１０は電源回路、１１，１４は電源ライン，
１２は共通ライン，１３は引外し装置，１５はサイリス
タ，１６はテストボタン，１７はバネ，１８は係合レバ
ーを示す。
Claims (2)
- 【請求項１】 主回路接点を介して主回路に流れる負荷
電流を検出して各相の負荷電流値に応じた各相用アナロ
グ電圧信号を各々出力する電流検出手段と、この電流検
出手段からのアナログ電圧信号により示される負荷電流
に基づいて引外し装置を動作させ前記主回路接点をオフ
する制御手段と、手動操作により前記引外し装置を動作
させるテストボタン動作機構部とを備えた回路遮断器に
おいて、前記テストボタン動作機構部に、所定の温度で
変形して前記制御手段による引外し動作を実行させる形
状記憶合金を設けたことを特徴とする回路遮断器。 - 【請求項２】 テストボタンが漏電動作特性用テストボ
タンであることを特徴とする請求項１記載の回路遮断
器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1819394A JPH07230754A (ja) | 1994-02-15 | 1994-02-15 | 回路遮断器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1819394A JPH07230754A (ja) | 1994-02-15 | 1994-02-15 | 回路遮断器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07230754A true JPH07230754A (ja) | 1995-08-29 |
Family
ID=11964798
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1819394A Pending JPH07230754A (ja) | 1994-02-15 | 1994-02-15 | 回路遮断器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07230754A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CZ300117B6 (cs) * | 2006-01-25 | 2009-02-11 | Oez, S. R. O. | Vnejší tlacítko pro elektrický prístroj, zvlášte pro výkonový jistic |
-
1994
- 1994-02-15 JP JP1819394A patent/JPH07230754A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CZ300117B6 (cs) * | 2006-01-25 | 2009-02-11 | Oez, S. R. O. | Vnejší tlacítko pro elektrický prístroj, zvlášte pro výkonový jistic |
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