JPH0722488A - Wafer carrying system for semiconductor manufacturing plant - Google Patents

Wafer carrying system for semiconductor manufacturing plant

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JPH0722488A
JPH0722488A JP16659093A JP16659093A JPH0722488A JP H0722488 A JPH0722488 A JP H0722488A JP 16659093 A JP16659093 A JP 16659093A JP 16659093 A JP16659093 A JP 16659093A JP H0722488 A JPH0722488 A JP H0722488A
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JP
Japan
Prior art keywords
wafer
semiconductor device
device manufacturing
elevator
transfer
Prior art date
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Pending
Application number
JP16659093A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masatsugu Komai
正嗣 駒井
Takahiko Oma
隆彦 大麻
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0722488A publication Critical patent/JPH0722488A/en
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a wafer carrying system for a semiconductor manufacturing plant so as to shorten wafer carrying path and the carrying time, reduce the occupying area in the semiconductor manufacturing plant and eventually reduce the initial cost and improve the carriage efficiency, manufacturing efficiency and yield. CONSTITUTION:For the wafer carrying system of a semiconductor device manufacturing plant provided with facilities 11, 12, 13, 14, 15 and 16 for at least two processes selected from CVD process, ion implanting process, etching process, photolithography process, washing process and diffusion process, a lift 17 is arranged at the center of a building 19. The facilities 11, 12, 13, 14, 15 and 16 for the processes are independently arranged on each floor of the building 19 and the lift 17 ascends and descends between the floors. A rotating carrier which carries wafers to the lift 17 is arranged on each floor for the single wafer transfer.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体装置製造工場のウ
エハ搬送システムに関し、より詳細には半導体装置を製
造するための各工程の設備を備え、自動制御によりウエ
ハが搬送される半導体装置製造工場のウエハ搬送システ
ムに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wafer transfer system in a semiconductor device manufacturing factory, and more particularly to a semiconductor device manufacturing factory in which equipment for each process for manufacturing a semiconductor device is provided and a wafer is transferred by automatic control. Wafer transfer system.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の半導体装置製造工場は、一般にC
VD工程、イオン注入工程、エッチング工程、フォトリ
ソグラフィ工程、洗浄工程および拡散工程等を施す設備
がゾーンレイアウトやベイレイアウト等のように平面的
に配置されている。
2. Description of the Related Art Conventional semiconductor device manufacturing plants generally use C
Equipment for performing a VD process, an ion implantation process, an etching process, a photolithography process, a cleaning process, a diffusion process, and the like are arranged in a plane such as a zone layout and a bay layout.

【0003】このような半導体装置製造工場におけるウ
エハ搬送システムには、ロボットやモノレールなどが用
いられている。
Robots and monorails are used in the wafer transfer system in such a semiconductor device manufacturing factory.

【0004】図6は従来の半導体装置製造工場を摸式的
に示した平面図であり、図7はフォトリソグラフィ工程
エリアを摸式的に示した平面図である。図中47は建屋
を示しており、1階建ての建屋47には、CVD工程エ
リア46、イオン注入工程エリア45、エッチング工程
エリア44、フォトリソグラフィ工程エリア43、洗浄
工程エリア42および拡散工程エリア41が各々の位置
に設けられている。また、例えばフォトリソグラフィ工
程エリア43にはフォトリソグラフィの各工程において
使用される装置として塗布・現像装置43c及び露光装
置43dが設置され、またフォトリソグラフィ工程エリ
ア43内には検査装置43eも設置されている。また、
塗布・現像装置43c及び露光装置43dの周囲にはロ
ボット用通路43bが形成され、ロボット用通路43b
には前記ウエハを搬送する搬送ロボット43aが配置さ
れており、前記ウエハが搬送ロボット43aにより各工
程エリア41、42、43、44、45、46の各装置
にロット単位で搬送されるようになっている。また、斜
線部分は搬送ロボット43aが移動及び動作するための
スペースを示している。また、建屋47内は前記ウエハ
のパーティクル等による汚染を防止するために全て高ク
リーン度のクリーンルームとなっている。さらに、前記
ウエハのロット管理にはホストコンピュータ(図示せ
ず)が用いられ、また該ホストコンピュータに処理の進
捗状況及びウエハ履歴の登録が行われ、さらに各半導体
装置の生産管理、各工程における処理状況も管理できる
体制が採られている。
FIG. 6 is a schematic plan view of a conventional semiconductor device manufacturing factory, and FIG. 7 is a schematic plan view of a photolithography process area. Reference numeral 47 in the figure denotes a building, and in the one-story building 47, a CVD process area 46, an ion implantation process area 45, an etching process area 44, a photolithography process area 43, a cleaning process area 42, and a diffusion process area 41. Are provided at each position. Further, for example, in the photolithography process area 43, a coating / developing device 43c and an exposure device 43d are installed as devices used in each process of photolithography, and an inspection device 43e is also installed in the photolithography process area 43. There is. Also,
A robot passage 43b is formed around the coating / developing device 43c and the exposure device 43d.
A transfer robot 43a for transferring the wafer is arranged in the wafer carrier, and the wafer is transferred by the transfer robot 43a to each device in each process area 41, 42, 43, 44, 45, 46 in lot units. ing. Further, the hatched portion shows the space for the transport robot 43a to move and operate. In addition, the inside of the building 47 is a clean room with a high degree of cleanliness in order to prevent contamination of the wafer by particles and the like. Further, a host computer (not shown) is used for the lot management of the wafer, the progress status of the process and the wafer history are registered in the host computer, and the production control of each semiconductor device and the process in each process are performed. A system is in place to manage the situation.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記した従来の半導体
装置製造工場のウエハ搬送システムにおいては、搬送ロ
ボット43aが左右に配置された各装置の間を移動して
動作するため、搬送ロボット43aのためのスペースが
広く設けられている。また、各工程エリア41、42、
43、44、45、46が1階建ての建屋47内に設け
られている。これらに起因して前記半導体装置製造工場
の占有敷地面積は広く、該半導体装置製造工場を建設す
るためには広い用地が必要であり、イニシャルコストが
高くつくという課題があった。
In the wafer transfer system of the conventional semiconductor device manufacturing plant described above, the transfer robot 43a moves between the respective devices arranged on the left and right, and therefore operates. The space is wide. In addition, each process area 41, 42,
43, 44, 45 and 46 are provided in a one-story building 47. Due to these factors, the occupied site area of the semiconductor device manufacturing factory is large, and a large site is required to construct the semiconductor device manufacturing factory, which causes a problem of high initial cost.

【0006】また、搬送ロボット43aが各工程エリア
41、42、43、44、45、46間及び各工程エリ
ア41、42、43、44、45、46内を平面的に移
動するため、前記ウエハ搬送システムの搬送経路が長
く、搬送に時間がかかり、搬送効率及び生産効率が悪い
という課題もあった。
Further, since the transfer robot 43a moves between the process areas 41, 42, 43, 44, 45, 46 and within the process areas 41, 42, 43, 44, 45, 46 in a plane, There is also a problem that the transportation route of the transportation system is long, the transportation takes time, and the transportation efficiency and the production efficiency are poor.

【0007】さらに、搬送に時間がかかるため、搬送中
の前記ウエハに多くのパーティクルが付着する確率が高
く、歩留まりが悪くなるという課題もあった。
Further, since it takes a long time to carry the wafer, there is a problem that a large number of particles are likely to adhere to the wafer being carried, resulting in a poor yield.

【0008】本発明は上記した課題に鑑みなされたもの
であって、ウエハの搬送経路を短縮することができ、搬
送時間を短縮することができ、しかも半導体装置製造工
場の占有敷地面積を大幅に縮小することができ、したが
ってイニシャルコストの削減と、搬送効率、生産効率及
び歩留まりの向上とを図ることができる半導体装置製造
工場のウエハ搬送システムを提供することを目的として
いる。
The present invention has been made in view of the above problems, and it is possible to shorten the wafer transfer path, shorten the transfer time, and significantly increase the area occupied by a semiconductor device manufacturing factory. An object of the present invention is to provide a wafer transfer system in a semiconductor device manufacturing factory, which can be reduced in size, and therefore can reduce initial cost and improve transfer efficiency, production efficiency, and yield.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明に係る半導体装置製造工場のウエハ搬送システ
ムは、CVD工程、イオン注入工程、エッチング工程、
フォトリソグラフィ工程、洗浄工程および拡散工程から
選ばれた少なくとも2つ以上の工程を施す設備を備えた
半導体装置製造工場のウエハ搬送システムにおいて、前
記各工程の設備が各階に独立して配置された建屋の中央
部には前記各階間を昇降する昇降機が配置され、前記各
階には前記昇降機との間でウエハの搬送動作を行う回転
式搬送機が配置され、枚葉処理を行うように構成されて
いることを特徴としている。
In order to achieve the above object, a wafer transfer system in a semiconductor device manufacturing factory according to the present invention comprises a CVD process, an ion implantation process, an etching process,
In a wafer transfer system of a semiconductor device manufacturing factory equipped with equipment for performing at least two steps selected from a photolithography step, a cleaning step and a diffusion step, a building in which the equipment for each step is independently arranged on each floor An elevator for raising and lowering each floor is arranged in the central part of the, and a rotary type carrier for carrying out a wafer transfer operation with the elevator is arranged for each floor, and is configured to perform single-wafer processing. It is characterized by being.

【0010】[0010]

【作用】上記構成の半導体装置製造工場のウエハ搬送シ
ステムによれば、前記各工程の設備が前記各階に独立し
て配置されているので、前記各工程の設備のクリーン度
を各工程に最適なレベルに別個に設定することが可能と
なる。
According to the wafer transfer system of the semiconductor device manufacturing plant having the above-mentioned structure, since the equipment of each process is independently arranged on each floor, the cleanliness of the equipment of each process is optimal for each process. It is possible to set the level separately.

【0011】また、前記建屋の中央部には前記各階間を
昇降する前記昇降機が配置され、前記半導体装置製造工
場が立体的な構造となっているので、該半導体装置製造
工場の占有敷地面積が大幅に縮小され、該半導体装置製
造工場の建設用地を大幅に縮小することが可能となり、
イニシャルコストの大幅な削減が図られる。
Further, since the elevator for moving up and down between the floors is arranged in the central part of the building and the semiconductor device manufacturing factory has a three-dimensional structure, the area occupied by the semiconductor device manufacturing factory is Significantly reduced, it is possible to significantly reduce the construction site of the semiconductor device manufacturing plant,
Significant reduction of initial cost can be achieved.

【0012】さらに、前記建屋の中央部には前記各階間
を昇降する前記昇降機が配置され、前記各階には前記昇
降機との間でウエハの搬送動作を行う前記回転式搬送機
が配置されているので、前記ウエハの搬送が各工程の設
備間においては前記昇降機により、また前記各工程の設
備内においては前記回転式搬送機により行なわれるた
め、搬送用ロボットを用いる必要がなくなり、該搬送用
ロボットの動作スペースが不要となり、前記ウエハの搬
送経路が短縮され、搬送時間も短縮されることとなり、
搬送効率及び生産効率が向上する。
Further, the elevator for moving up and down between the floors is arranged in the central portion of the building, and the rotary transfer machine for carrying out a wafer transfer operation with the elevator is arranged on the floors. Therefore, since the transfer of the wafer is performed by the elevator between the equipment of each process and the rotary transfer machine in the equipment of each process, it is not necessary to use a transfer robot, and the transfer robot is not required. Operation space is not required, the transfer path of the wafer is shortened, and the transfer time is also shortened.
Transport efficiency and production efficiency are improved.

【0013】また、前記ウエハの前記搬送経路の短縮に
より、前記各工程の設備の面積が縮小され、前記半導体
装置製造工場の占有敷地面積が縮小され、イニシャルコ
ストの削減が図られる。
Further, by shortening the transfer route of the wafer, the area of equipment for each process is reduced, the area of the site occupied by the semiconductor device manufacturing factory is reduced, and the initial cost is reduced.

【0014】しかも、搬送経路及び時間が短縮されるた
め、前記ウエハにパーティクルが付着する確率が下が
り、歩留まりが向上する。
Moreover, since the transfer route and time are shortened, the probability that particles adhere to the wafer is reduced, and the yield is improved.

【0015】さらに、枚葉処理を行うように構成されて
いるので、多品種少量のウエハを処理する場合において
も対応し得ることとなる。また、前記ウエハをロット単
位で搬送する場合のような時間のロスがなくなる。すな
わち、複数枚の前記ウエハを処理する場合であっても、
最初のウエハの処理を最後のウエハの処理の終了を待つ
ことなく次に進ませることが可能となる。このため、搬
送時間が大幅に短縮され、搬送効率が向上し、また生産
効率が向上する。
Further, since the single-wafer processing is carried out, it is possible to deal with the case of processing a large number of wafers of various kinds. In addition, there is no time loss as in the case where the wafer is transferred in lot units. That is, even when processing a plurality of wafers,
It is possible to advance the processing of the first wafer to the next without waiting for the completion of the processing of the last wafer. Therefore, the transportation time is significantly shortened, the transportation efficiency is improved, and the production efficiency is improved.

【0016】[0016]

【実施例】以下、本発明に係る半導体装置製造工場のウ
エハ搬送システムの実施例を図面に基づいて説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a wafer transfer system in a semiconductor device manufacturing factory according to the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0017】図1は実施例に係る半導体装置製造工場を
摸式的に示した断面図であり、図2は実施例に係るフォ
トリソグラフィ工程エリアを摸式的に示した平面図であ
る。
FIG. 1 is a sectional view schematically showing a semiconductor device manufacturing factory according to the embodiment, and FIG. 2 is a plan view schematically showing a photolithography process area according to the embodiment.

【0018】図中19は建屋を示しており、6階建ての
建屋19内の1階には拡散工程エリア11が配置され、
2階には洗浄工程エリア12が配置され、3階にはフォ
トリソグラフィ工程エリア13が配置され、4階にはエ
ッチング工程エリア14が配置され、5階にはイオン注
入工程エリア15が配置され、6階にはCVD工程エリ
ア16が配置されている。また、建屋19の中央部には
各階間を昇降する昇降機17が配置され、この昇降機1
7により各工程エリア11、12、13、14、15、
16間にウエハが搬送されるようになっている。また、
建屋19の側部には前記各階間を昇降する装置用昇降機
18が配置され、この装置用昇降機18により各工程エ
リア11、12、13、14、15、16に装置が搬入
されるようになっている。
Reference numeral 19 in the figure indicates a building, and the diffusion process area 11 is arranged on the first floor of the 6-story building 19.
A cleaning process area 12 is arranged on the second floor, a photolithography process area 13 is arranged on the third floor, an etching process area 14 is arranged on the fourth floor, and an ion implantation process area 15 is arranged on the fifth floor. A CVD process area 16 is arranged on the 6th floor. In addition, an elevator 17 for raising and lowering each floor is arranged in the center of the building 19.
7, each process area 11, 12, 13, 14, 15,
The wafer is transferred between 16 units. Also,
A device elevator 18 for moving up and down between the floors is arranged on the side of the building 19, and the device elevator 18 carries the device into each process area 11, 12, 13, 14, 15, 16. ing.

【0019】また、図2に示したようにフォトリソグラ
フィ工程エリア13の中央部には円形状の昇降機通路1
7aが形成され、昇降機通路17a内を昇降機17が昇
降するようになっている。また、昇降機通路17aには
4か所の開閉可能なウエハ搬出入用ドア13cが形成さ
れ、昇降機通路17aの周囲には回転式搬送機13aが
配置されており、回転式搬送機13aには前記ウエハに
露光あるいは現像処理等を施すための装置13bが設置
されている。これら昇降機17と回転式搬送機13aと
によりウエハ搬送システムが前記ウエハの枚葉処理を行
うように構成されており、前記ウエハは昇降機17から
ウエハ搬出入用ドア13cを通り回転式搬送機13aに
受け取られ、各装置13bに搬送されるようになってい
る。なお、ここでは省略したが、その他の階の各工程エ
リア11、12、14、15、16においても上記した
フォトリソグラフィ工程エリア13と同様に構成されて
いる。また、フォトリソグラフィ工程エリア13及び昇
降機通路17aは高レベルのクリーンルームとなってお
り、その他の各工程エリア11、12、14、15、1
6は各工程に最適なレベルのクリーンルームとなってい
る。
Further, as shown in FIG. 2, a circular elevator passage 1 is formed at the center of the photolithography process area 13.
7a is formed so that the elevator 17 moves up and down in the elevator passage 17a. Further, in the elevator passage 17a, four wafer loading / unloading doors 13c that can be opened and closed are formed, and a rotary carrier 13a is arranged around the elevator passage 17a. An apparatus 13b for exposing or developing the wafer is installed. The wafer transfer system is configured to perform the single-wafer processing of the wafer by the elevator 17 and the rotary transfer device 13a, and the wafer is transferred from the elevator 17 to the rotary transfer device 13a through the wafer loading / unloading door 13c. It is received and conveyed to each device 13b. Although omitted here, the process areas 11, 12, 14, 15, and 16 on the other floors are also configured similarly to the photolithography process area 13 described above. The photolithography process area 13 and the elevator passage 17a are high-level clean rooms, and the other process areas 11, 12, 14, 15, 1
6 is a clean room of the optimum level for each process.

【0020】なお、本実施例に係る半導体装置製造工場
の占有敷地面積を算出したところ、従来の半導体装置製
造工場の占有敷地面積の約1/6に縮小されることを確
認することができた。
When the area occupied by the semiconductor device manufacturing factory according to this embodiment was calculated, it was confirmed that the area was reduced to about 1/6 of the area occupied by the conventional semiconductor device manufacturing factory. .

【0021】また、本実施例に係る半導体装置製造工場
におけるウエハ搬送経路の長さを算出したところ、従来
の半導体装置製造工場におけるウエハ搬送経路の長さの
約1/3〜1/4に短縮されることを確認することがで
きた。
Further, when the length of the wafer transfer path in the semiconductor device manufacturing factory according to the present embodiment is calculated, it is reduced to about 1/3 to 1/4 of the length of the wafer transfer path in the conventional semiconductor device manufacturing factory. I was able to confirm that it will be done.

【0022】上記したように本実施例に係る半導体装置
製造工場のウエハ搬送システムあっては、各工程エリア
11、12、13、14、15、16が各階に独立して
配置されているので、各工程エリア11、12、13、
14、15、16のクリーン度を各工程に最適なレベル
に別個に設定することができる。
As described above, in the wafer transfer system of the semiconductor device manufacturing factory according to this embodiment, since the process areas 11, 12, 13, 14, 15, 16 are arranged independently on each floor, Each process area 11, 12, 13,
The cleanliness of 14, 15 and 16 can be individually set to the optimum level for each process.

【0023】また、建屋19の中央部には前記各階間を
昇降する昇降機17が配置され、前記半導体装置製造工
場が立体的な構造となっているので、該半導体装置製造
工場の占有敷地面積を大幅に縮小することができ、該半
導体装置製造工場の建設用地を大幅に縮小することがで
き、イニシャルコストを大幅に削減することができる。
Further, since the elevator 17 for moving up and down between the floors is arranged in the center of the building 19 and the semiconductor device manufacturing factory has a three-dimensional structure, the area occupied by the semiconductor device manufacturing factory is reduced. It is possible to greatly reduce the size of the construction site of the semiconductor device manufacturing plant, and it is possible to significantly reduce the initial cost.

【0024】さらに、建屋19の中央部には前記各階間
を昇降する昇降機17が配置され、前記各階には昇降機
17との間で前記ウエハの搬送動作を行う回転式搬送機
13aが配置されているので、前記ウエハの搬送が各工
程エリア11、12、13、14、15、16間におい
ては昇降機17により、また例えばフォトリソグラフィ
工程エリア13内においては回転式搬送機13aにより
行なわれるため、搬送用ロボットを用いる必要がなくな
り、該搬送用ロボットの動作スペースが不要となり、前
記ウエハの搬送経路を短縮することができ、搬送時間を
短縮することができ、搬送効率及び生産効率を向上させ
ることができる。
Further, an elevator 17 for moving up and down between the floors is arranged in the central portion of the building 19, and a rotary transfer machine 13a for transferring the wafer with the elevator 17 is installed on each floor. Therefore, the wafer is transferred by the elevator 17 between the process areas 11, 12, 13, 14, 15, 16 and by the rotary transfer machine 13a in the photolithography process area 13, for example. It is not necessary to use a transfer robot, an operating space for the transfer robot is not required, the transfer path of the wafer can be shortened, the transfer time can be shortened, and transfer efficiency and production efficiency can be improved. it can.

【0025】また、前記ウエハの搬送経路の短縮によ
り、各工程エリア11、12、13、14、15、16
の面積を縮小することができ、前記半導体装置製造工場
の占有敷地面積を縮小することができ、イニシャルコス
トの削減を図ることができる。
Further, by shortening the transfer route of the wafer, each process area 11, 12, 13, 14, 15, 16 is formed.
The area of the semiconductor device manufacturing plant can be reduced, and the initial cost can be reduced.

【0026】しかも、搬送経路及び時間が短縮されるた
め、前記ウエハにパーティクルが付着する確率を下げる
ことができ、製品の歩留まりを向上させることができ
る。
Moreover, since the transfer route and time are shortened, the probability that particles adhere to the wafer can be reduced, and the product yield can be improved.

【0027】さらに、枚葉処理を行うように構成されて
いるので、多品種少量のウエハを処理する場合において
も対応することができる。また、前記ウエハをロット単
位で搬送する場合のような時間のロスをなくすことがで
きる。すなわち、複数枚の前記ウエハを処理する場合で
あっても、最初のウエハの処理を最後のウエハの処理の
終了を待つことなく次に進ませることができる。このた
め、搬送時間を大幅に短縮することができ、搬送効率を
向上させることができ、また生産効率を向上させること
もできる。
Further, since the single-wafer processing is carried out, it is possible to deal with the case where a large number of wafers of a wide variety are processed. Further, it is possible to eliminate the time loss that occurs when the wafers are transferred in lot units. That is, even when processing a plurality of wafers, the processing of the first wafer can proceed to the next without waiting for the end of the processing of the last wafer. For this reason, the transfer time can be significantly shortened, the transfer efficiency can be improved, and the production efficiency can also be improved.

【0028】図3は別の実施例に係る半導体装置製造工
場におけるフォトリソグラフィ工程エリアを摸式的に示
した平面図である。なお、半導体装置製造工場全体とし
ては上記した実施例に係る半導体装置製造工場の構成と
同様の構成を有しているため、ここではその説明を省略
する。図中20は空間またはユーティリティを示してお
り、ユーティリティ20の周囲には回転式搬送機23a
が配置されている。また、フォトリソグラフィ工程エリ
ア23の中央部には矩形形状の昇降機通路27aが形成
され、昇降機通路27a内を昇降機27が昇降するよう
になっている。また、昇降機通路27aには4か所の開
閉可能なウエハ搬出入用ドア23bを介してセッティン
グ装置23cが配置されている。また、フォトリソグラ
フィ工程エリア23内にはフォトリソグラフィの各工程
において使用される装置として塗布装置23e、露光装
置23f、現像装置23g及び検査装置23hが設置さ
れている。また、これらの装置と回転式搬送機23aと
の間には待機エリア23dが形成されている。そして、
セッティング装置23cにより関連付けらた昇降機27
と回転式搬送機23aとによりウエハ搬送システムが構
成されている。なお、ここでは省略したが、その他の階
の各工程エリアにおいても上記したフォトリソグラフィ
工程エリア23と同様に構成されている。また、フォト
リソグラフィ工程エリア23及び昇降機通路27aは高
レベルのクリーンルームとなっており、その他の前記各
工程エリアは各工程に最適なレベルのクリーンルームと
なっている。また、ユーティリティ20はクリーンルー
ムにする必要はない。
FIG. 3 is a schematic plan view showing a photolithography process area in a semiconductor device manufacturing factory according to another embodiment. Since the entire semiconductor device manufacturing factory has the same structure as the semiconductor device manufacturing factory according to the above-described embodiment, the description thereof is omitted here. In the figure, 20 indicates a space or a utility, and a rotary carrier 23a is provided around the utility 20.
Are arranged. A rectangular elevator passage 27a is formed in the center of the photolithography process area 23, and the elevator 27 is moved up and down in the elevator passage 27a. In addition, a setting device 23c is arranged in the elevator passage 27a via four wafer loading / unloading doors 23b that can be opened and closed. Further, in the photolithography process area 23, a coating device 23e, an exposure device 23f, a developing device 23g, and an inspection device 23h are installed as devices used in each process of photolithography. A standby area 23d is formed between these devices and the rotary carrier 23a. And
Elevator 27 associated by setting device 23c
And the rotary transfer machine 23a constitute a wafer transfer system. Although omitted here, each process area on the other floors has the same structure as the photolithography process area 23 described above. The photolithography process area 23 and the elevator passage 27a are high-level clean rooms, and the other process areas are clean rooms of optimum levels for each process. Also, the utility 20 need not be a clean room.

【0029】このような構成の半導体装置製造工場のウ
エハ搬送システムにおいては、前記ウエハが図4及び図
5に示したような枚葉式のウエハ治具37に設置される
ようになっており、ウエハ治具37は溝部35aを有す
る水平方向固定治具35及びオリフラ溝36aを有する
オリフラ固定治具36により構成されている。このよう
なウエハ治具37に垂直に立てて設置されたウエハS
は、昇降機27から搬出入用ドア23bを通りセッティ
ング装置23cにより回転式搬送機23aに設置され、
その後回転式搬送機23aにより所定の待機エリア23
dに搬送され、各装置での処理を待つようになってい
る。
In the wafer transfer system of the semiconductor device manufacturing plant having such a structure, the wafer is set on the single wafer type wafer jig 37 as shown in FIGS. 4 and 5. The wafer jig 37 is composed of a horizontal fixing jig 35 having a groove 35a and an orientation flat fixing jig 36 having an orientation flat groove 36a. A wafer S vertically installed on such a wafer jig 37.
Is installed on the rotary carrier 23a by the setting device 23c from the elevator 27 through the loading / unloading door 23b,
After that, a predetermined waiting area 23 is set by the rotary carrier 23a.
It is transported to d and waits for processing in each device.

【0030】本実施例に係る半導体装置製造工場のウエ
ハ搬送システムにあっては、上記した実施例に係る半導
体装置製造工場のウエハ搬送システムと同様の効果を得
ることができる他、セッティング装置23cが配置され
ているため、昇降機27により搬送されてきたウエハS
を選択することができる。
In the wafer transfer system of the semiconductor device manufacturing factory according to this embodiment, the same effects as those of the wafer transfer system of the semiconductor device manufacturing factory according to the above-described embodiments can be obtained, and the setting device 23c is provided. Since the wafer S has been placed, the wafer S transferred by the elevator 27
Can be selected.

【0031】また、待機エリア23dが形成されている
ため、回転式搬送機23aのスループットへの影響を無
くすことができる。
Further, since the standby area 23d is formed, it is possible to eliminate the influence on the throughput of the rotary carrier 23a.

【0032】さらに、ウエハSをウエハ治具37により
垂直状態で移動させることができるため、水平状態での
移動の場合よりもより一層パーティクルの付着を防止す
ることができ、製品の歩留まりを一層向上させることが
できる。
Further, since the wafer S can be moved in the vertical state by the wafer jig 37, it is possible to prevent particles from adhering more than in the case where the wafer S is moved in the horizontal state, and the product yield is further improved. Can be made.

【0033】またウエハSが大口径化した場合でも、ウ
エハ治具37の溝部35aの調整を行なうことにより、
低コストで対応することができる。
Even when the wafer S has a large diameter, by adjusting the groove portion 35a of the wafer jig 37,
It can be handled at low cost.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上詳述したように本発明に係る半導体
装置製造工場のウエハ搬送システムにおいては、各工程
の設備が各階に独立して配置されているので、前記各工
程の設備のクリーン度を各工程に最適なレベルに別個に
設定することができる。
As described above in detail, in the wafer transfer system of the semiconductor device manufacturing plant according to the present invention, since the equipment of each process is independently arranged on each floor, the cleanliness of the equipment of each process is Can be individually set to an optimum level for each process.

【0035】また、前記建屋の中央部には前記各階間を
昇降する前記昇降機が配置され、前記半導体装置製造工
場が立体的な構造となっているので、該半導体装置製造
工場の占有敷地面積を大幅に縮小することができ、該半
導体装置製造工場の建設用地を大幅に縮小することがで
き、イニシャルコストを大幅に削減することができる。
Further, since the elevator for moving up and down between the floors is arranged in the central part of the building and the semiconductor device manufacturing factory has a three-dimensional structure, the area occupied by the semiconductor device manufacturing factory is reduced. It is possible to greatly reduce the size of the construction site of the semiconductor device manufacturing plant, and it is possible to significantly reduce the initial cost.

【0036】さらに、前記建屋の中央部には前記各階間
を昇降する前記昇降機が配置され、前記各階には前記昇
降機との間でウエハの搬送動作を行う前記回転式搬送機
が配置されているので、前記ウエハの搬送が前記各工程
の設備間においては前記昇降機により、また前記各工程
の設備内においては前記回転式搬送機により行なわれる
ため、搬送用ロボットを用いる必要がなくなり、該搬送
用ロボットの動作スペースが不要となり、前記ウエハの
搬送経路を短縮することができ、搬送時間を短縮するこ
とができ、搬送効率及び生産効率を向上させることがで
きる。
Further, the elevator for moving up and down between the floors is arranged in the central portion of the building, and the rotary transfer machine for carrying out a wafer transfer operation with the elevator is arranged on each floor. Therefore, since the transfer of the wafer is performed by the elevator between the facilities of each process and by the rotary transfer machine in the facility of each process, it is not necessary to use a transfer robot. The operation space of the robot becomes unnecessary, the transfer path of the wafer can be shortened, the transfer time can be shortened, and the transfer efficiency and the production efficiency can be improved.

【0037】また、前記ウエハの搬送経路の短縮によ
り、前記各工程の設備の面積を縮小することができ、前
記半導体装置製造工場の占有敷地面積を縮小することが
でき、イニシャルコストの削減を図ることができる。
Further, by shortening the wafer transfer path, the area of equipment for each step can be reduced, the area of the site occupied by the semiconductor device manufacturing factory can be reduced, and the initial cost can be reduced. be able to.

【0038】しかも、搬送経路及び時間が短縮されるた
め、前記ウエハにパーティクルが付着する確率を下げる
ことができ、製品の歩留まりを向上させることができ
る。
Moreover, since the transfer route and the time are shortened, the probability that particles adhere to the wafer can be reduced, and the yield of products can be improved.

【0039】さらに、枚葉処理を行うように構成されて
いるので、多品種少量のウエハを処理する場合において
も対応することができる。また、前記ウエハをロット単
位で搬送する場合のような時間のロスをなくすことがで
きる。すなわち、複数枚の前記ウエハを処理する場合で
あっても、最初のウエハの処理を最後のウエハの処理の
終了を待つことなく次に進ませることができる。このた
め、搬送時間を大幅に短縮することができ、搬送効率を
向上させることができ、また生産効率を向上させること
もできる。
Further, since the single-wafer processing is carried out, it is possible to deal with the case of processing a large number of kinds of a small number of wafers. Further, it is possible to eliminate the time loss that occurs when the wafers are transferred in lot units. That is, even when processing a plurality of wafers, the processing of the first wafer can proceed to the next without waiting for the end of the processing of the last wafer. For this reason, the transfer time can be significantly shortened, the transfer efficiency can be improved, and the production efficiency can also be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る半導体装置製造工場を摸式的に示
した断面図である。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a semiconductor device manufacturing factory according to the present invention.

【図2】実施例に係るフォトリソグラフィ工程エリアを
摸式的に示した平面図である。
FIG. 2 is a plan view schematically showing a photolithography process area according to an embodiment.

【図3】別の実施例に係るフォトリソグラフィ工程エリ
アを摸式的に示した平面図である。
FIG. 3 is a plan view schematically showing a photolithography process area according to another embodiment.

【図4】別の実施例に係る半導体装置製造工場において
用いられるウエハ治具を摸式的に示した上面図である。
FIG. 4 is a schematic top view showing a wafer jig used in a semiconductor device manufacturing factory according to another embodiment.

【図5】別の実施例に係るウエハ治具を摸式的に示した
断面図である。
FIG. 5 is a schematic cross-sectional view of a wafer jig according to another embodiment.

【図6】従来の半導体装置製造工場を摸式的に示した平
面図である。
FIG. 6 is a plan view schematically showing a conventional semiconductor device manufacturing factory.

【図7】従来の半導体装置製造工場におけるフォトリソ
グラフィ工程エリアを摸式的に示した平面図である。
FIG. 7 is a schematic plan view showing a photolithography process area in a conventional semiconductor device manufacturing factory.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11、12、13、14、15、16、23 工程エ
リア(工程の設備) 13a、23a 回転式搬送機 17、27 昇降機 19 建屋
11, 12, 13, 14, 15, 16, 23 Process area (process equipment) 13a, 23a Rotary carrier 17, 27 Elevator 19 Building

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 CVD工程、イオン注入工程、エッチン
グ工程、フォトリソグラフィ工程、洗浄工程および拡散
工程から選ばれた少なくとも2つ以上の工程を施す設備
を備えた半導体装置製造工場のウエハ搬送システムにお
いて、前記各工程の設備が各階に独立して配置された建
屋の中央部には前記各階間を昇降する昇降機が配置さ
れ、前記各階には前記昇降機との間でウエハの搬送動作
を行う回転式搬送機が配置され、枚葉処理を行うように
構成されていることを特徴とする半導体装置製造工場の
ウエハ搬送システム。
1. A wafer transfer system in a semiconductor device manufacturing factory, comprising a facility for performing at least two steps selected from a CVD step, an ion implantation step, an etching step, a photolithography step, a cleaning step and a diffusion step, An elevator for moving up and down between the floors is arranged in the central portion of a building where the equipment for each process is independently arranged on each floor, and a rotary transfer for performing wafer transfer operation with the elevator on each floor. A wafer transfer system for a semiconductor device manufacturing plant, wherein the machines are arranged and configured to perform single-wafer processing.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6328768B1 (en) 1996-10-28 2001-12-11 Nec Corporation Semiconductor device manufacturing line

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