JPH07218565A - Detection method for component with jitter frequency - Google Patents

Detection method for component with jitter frequency

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JPH07218565A
JPH07218565A JP941594A JP941594A JPH07218565A JP H07218565 A JPH07218565 A JP H07218565A JP 941594 A JP941594 A JP 941594A JP 941594 A JP941594 A JP 941594A JP H07218565 A JPH07218565 A JP H07218565A
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Abstract

PURPOSE:To judge whether the peak waveform of spectrum with jitter frequency is attributed to aliasing or not. CONSTITUTION:A time signal x(t) is computed by interpolator computation of the interval of time series data P1, P2..., which does not necessarily have equal interval, sampling is carried out at slightly different two sampling frequencies fs1, fs2=fs1 + or -DELTAfs, DFT(discrete Fourier transformation) is carried out to compute spectrum XI (f=0-fs1/2) with Jitter discrete frequency and spectrum X2 (f=0-fs2/2) and also compute the frequency f11<f12<...<flm and f21<f22<...<f2m' at which respective peaks can have respectively prescribed values, and the peaks at f1i f2i are presumed to be true peaks and the peaks at f2i f1i+ or -DELTAfs are presumed to be attributed to aliasing. As the DFT, an FFT (fast Fourier transformation) can be used. Continuous data, sampling data, or migration average value can be used as the time series data P1, P2,.... It is preferable that the spectrum is displayed while the peak waveforms attributed to aliasing are eliminated or that the spectrum is displayed while the parts attributed to aliasing are made obvious.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は例えばある物理量の必
ずしも等間隔ではない時系列データを補間演算して連続
的な時間信号x(t) を求め、そのx(t) を周期ts でサ
ンプリングして等間隔離散時間信号x(nts )を求
め、その等間隔離散時間信号x(nts)に離散フーリ
エ変換(DFT)演算を行って離散周波数スペクトルX
(nΔf)を求めるようにした、物理量のジッタ周波数
成分の検出方法に関する。なおDFTとしては演算時間
を短縮させた高速フーリエ変換(FFT)がよく用いら
れる。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention finds a continuous time signal x (t) by interpolating time-series data of a certain physical quantity, which is not necessarily at regular intervals, and samples x (t) at a period ts. To obtain an evenly spaced discrete time signal x (nts) and perform a discrete Fourier transform (DFT) operation on the equally spaced discrete time signal x (nts) to obtain a discrete frequency spectrum X.
The present invention relates to a method for detecting a jitter frequency component of a physical quantity so as to obtain (nΔf). As the DFT, a fast Fourier transform (FFT) that shortens the calculation time is often used.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のこの種のジッタ検出方法に用いる
ジッタ測定装置1は図5に示すように、入力端子INa
又はINbに入力された信号は、測定信号生成回路2で
必要に応じレベル調整、波形整形などが施されて、例え
ば図6Aの信号v(t) が周期測定回路3a又は3bにそ
れぞれ入力され、各信号の周期データT1 ,T2 …及び
データ取得時刻t1 ,t2 …が連続的に測定され、それ
らの測定データがメモリ4a又は4bにそれぞれ書き込
まれる。測定量演算部5ではメモリ4a又は4bの周期
データTi から指定された物理量の種類(周期、周波
数、パルス幅、デューティ比、時間間隔、位相等)に応
じて、該当データP1 ,P2 ,P3 …(図6B)が必要
に応じ演算される。そして得られた非等間隔データ
1 ,P2 ,P3…が周波数成分解析部6に入力され
る。
2. Description of the Related Art As shown in FIG. 5, a jitter measuring apparatus 1 used in a conventional jitter detecting method of this type has an input terminal INa.
Alternatively, the signal input to INb is subjected to level adjustment, waveform shaping, etc. in the measurement signal generation circuit 2 as necessary, and for example, the signal v (t) of FIG. 6A is input to the period measurement circuit 3a or 3b, respectively. The period data T 1 , T 2, ... And data acquisition times t 1 , t 2, ... Of each signal are continuously measured, and the measured data are written in the memory 4a or 4b, respectively. In the measurement amount calculation unit 5, corresponding data P 1 , P 2 , and P 2 according to the type of physical quantity (cycle, frequency, pulse width, duty ratio, time interval, phase, etc.) specified from the cycle data Ti of the memory 4a or 4b. P 3 (FIG. 6B) is calculated as needed. Then, the obtained non-equidistant data P 1 , P 2 , P 3, ... Are input to the frequency component analysis unit 6.

【0003】周波数成分解析部6では、入力された非等
間隔データ列{Pi }のデータとデータとの間を補間演
算して、つまり補間曲線でつないで、物理量の連続的な
補間波形、つまり時間信号x(t) (図6B)が求められ
る。DFTによりジッタの離散周波数スペクトルを演算
するには、等間隔のデータが必要であるので、図6Cに
示すように、時間信号x(t) からサンプリング周波数f
s(サンプリング周期ts =1/fs )でサンプリング
して図6Cに示すようにN個のデータQ0 ,Q1
2 ,…QN-1 が抽出される。即ち、 Qn=x(nts );n=0,1,2,…N−1 … (1) サンプリング周波数fs は、サンプリング定理より、ジ
ツタの周波数スペクトルの測定しようとする帯域の上限
の2倍以上の周波数に選ばれる。DFT理論では、抽出
したN個の時系列データQ0 〜QN-1 が以後繰返し発生
するものと見なして演算が行われるので、そのような繰
返し波形と見なしても、そのための誤差が大きくならな
いように、時間信号x(t) の変化特性を考慮して、サン
プリングデータを抽出する範囲とその時間長Nts が設
定される。
The frequency component analysis unit 6 performs an interpolating operation between the data of the input non-equidistant data string {Pi} and the data, that is, by connecting with an interpolation curve to obtain a continuous interpolated waveform of the physical quantity, that is, The time signal x (t) (Fig. 6B) is determined. In order to calculate the discrete frequency spectrum of the jitter by the DFT, data at equal intervals are required. Therefore, as shown in FIG. 6C, the sampling frequency f
s (sampling period ts = 1 / fs) is sampled and N pieces of data Q 0 , Q 1 ,
Q 2 , ... Q N-1 are extracted. That is, Qn = x (nts); n = 0, 1, 2, ... N-1 (1) The sampling frequency fs is more than twice the upper limit of the band in which the frequency spectrum of the jitter is to be measured according to the sampling theorem. Is selected as the frequency. In the DFT theory, the N pieces of the extracted time series data Q 0 to Q N−1 are regarded as those that are repeatedly generated, and the calculation is performed. As described above, the sampling data extraction range and its time length Nts are set in consideration of the change characteristics of the time signal x (t).

【0004】このようにして抽出された等間隔データQ
0 〜QN-1 を用いてDFT演算が行われ、図6Dに示す
ような離散周波数スペクトルX(nΔf);n=0,
1,2,…N−1が得られる。Δfは Δf=fs /N … (2) スペクトルデータをDn と置けば、 Dn =X(nΔf); n=0,1,…,N−1 … (3) 離散周波数スペクトル(振幅)Xは、周波数fに対して
偶然数、つまりf=0に対して左右対称な特性となり
(対称性をもち)、またスペクトルXが周波数間隔fs
で繰返す周期性をもつことから、スペクトルX(f=0
〜fs )はfs /2(ナイキスト周波数と言う)を中心
に左右対称な波形S,S* が得られ、ナイキスト周波数
fs /2付近までのスペクトルが表示部7に表示され
る。
The equally-spaced data Q extracted in this way
The DFT operation is performed using 0 to Q N−1, and the discrete frequency spectrum X (nΔf) as shown in FIG. 6D; n = 0,
1, 2, ... N-1 are obtained. Δf is Δf = fs / N (2) If the spectral data is set to Dn, Dn = X (nΔf); n = 0, 1, ..., N-1 (3) The discrete frequency spectrum (amplitude) X is It has a characteristic that it is bilaterally symmetrical with respect to the frequency f, that is, f = 0 (having symmetry), and the spectrum X has a frequency interval fs.
The spectrum X (f = 0
.About.fs), symmetrical waveforms S and S * are obtained around fs / 2 (referred to as Nyquist frequency), and the spectrum up to the vicinity of Nyquist frequency fs / 2 is displayed on the display unit 7.

【0005】x(t) よりサンプリングするデータの数N
は、Nに応じてDFTの演算量が増加することや、周波
数スペクトルXが0〜fs /2の間にΔfの間隔でN/
2個のデータで表示されることも考慮して選定しなけれ
ばならない。
The number N of data to be sampled from x (t)
Indicates that the amount of DFT operation increases in accordance with N, and that the frequency spectrum X is 0 / fs / 2 with N / at intervals of Δf.
It must be selected in consideration of the fact that it is displayed as two data.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】DFT演算して求めた
周波数スペクトルX(f=0〜fs /2)には、ナイキ
スト周波数fs /2以上のスペクトル成分があると、そ
れがfs /2の点で折り返されて、もともと存在するス
ペクトルに重ねられた特性となる。このfs /2以上の
スペクトルが折り返されて重なることをエリアシング
(aliasing)と呼んでいる。
If the frequency spectrum X (f = 0 to fs / 2) obtained by the DFT operation has a spectrum component with a Nyquist frequency of fs / 2 or more, this is the point of fs / 2. It will be folded back at, and it will be a characteristic that is superimposed on the existing spectrum. The folding and overlapping of the spectra of fs / 2 or more is called aliasing.

【0007】いま時間信号x(t) が表す物理量を周波数
とし、この周波数波形x(t) が x(t) =fc +ΔF cos2πPt … (4) fc =FM波の中心周波数(キャリア) ΔF=周波数最大偏移 P=変調信号周波数 で表された場合を考える。
Now, the physical quantity represented by the time signal x (t) is taken as a frequency, and this frequency waveform x (t) is x (t) = fc + ΔF cos2πPt (4) fc = FM frequency center frequency (carrier) ΔF = frequency Consider the case where the maximum deviation P = modulation signal frequency.

【0008】(イ)fc =10 ,ΔF=2, P=3
(kHz) (図2A) (ロ)fc =10 ,ΔF=2, P=7(kHz)
(図3A) の場合のスペクトルを考察する。f=0〜5kHzのス
ペクトル(ジッタ成分)を求めるものとして、fs1=1
0kHzに設定して、サンプル値x(nts1);(n=
0,1,2,…,N−1;ts1=1/fs1)を抽出し、
DFT演算を行ってスペクトルX1 (nΔf1 )(Δf
1 =fs1/N)を求める。
(B) fc = 10, ΔF = 2, P = 3
(KHz) (FIG. 2A) (b) fc = 10, ΔF = 2, P = 7 (kHz)
Consider the spectrum for (FIG. 3A). As for obtaining the spectrum (jitter component) of f = 0 to 5 kHz, fs 1 = 1
Set to 0 kHz and sample value x (nts 1 ); (n =
0, 1, 2, ..., N-1; ts 1 = 1 / fs 1 ) is extracted,
DFT operation is performed to obtain spectrum X 1 (nΔf 1 ) (Δf
1 = fs 1 / N) is calculated.

【0009】(イ)の場合にはX1 (nΔf1 )は図2
Bに示すようにf11=P=3kHzにピークを持つ波形
1 と、ナイキスト周波数fs1/2を中心として波形S
1 と対称な波形S1 * が得られる。(ロ)の場合は、ナ
イキスト周波数fs1/2=5kHz以上のジッタ成分P
=7kHzが存在する例である。DFT演算して求めた
スペクトルX1 (nΔf1)は、図3Bに示すように、
ジッタの周波数P=7kHzを中心にした波形がfs1
2の点で折り返されて、fs1/2−(P−fs1/2)=
fs1−P=10−7=3kHzの点にピークをもつエリ
アシングによるピーク波形S1eが現れると共に、fs1
2を中心にしてピーク波形S1eに対称な、7kHzにピ
ークをもつピーク波形S1e * が現れる。しかし、表示部
7には(イ)、(ロ)共f=0〜fs1/2の範囲が表示
される。
In the case of (a), X 1 (nΔf 1 ) is as shown in FIG.
As shown in B, a waveform S 1 having a peak at f1 1 = P = 3 kHz and a waveform S centering on the Nyquist frequency fs 1/2
1 and the symmetrical waveform S 1 * is obtained. For (b), the Nyquist frequency fs 1/2 = 5kHz or more jitter component P
= 7 kHz is an example. The spectrum X 1 (nΔf 1 ) obtained by the DFT calculation is as shown in FIG. 3B.
The waveform centered around the jitter frequency P = 7 kHz is fs 1 /
Folded in terms of 2, fs 1 / 2- (P -fs 1/2) =
A peak waveform S 1e due to aliasing having a peak at a point of fs 1 −P = 10 −7 = 3 kHz appears, and fs 1 /
A peak waveform S 1e * having a peak at 7 kHz appears, which is symmetrical with respect to the peak waveform S 1e around 2. However, the display unit 7 displays the range of f = 0 to fs 1/2 for both (a) and (b).

【0010】図2B及び図3Bに示された離散周波数ス
ペクトルのピーク波形S1 とS1eはほぼ同様な特性であ
る。前述の周波数波形x(t) に関する(4)式及び
(イ)、(ロ)の特性は、実際には周波数スペクトルを
求める前からあらかじめ正確に知ることはできないの
で、図2B又は図3Bを見ただけではエリアシングのピ
ーク波形なのかそうでないのか判別できないと言う問題
がある。
The peak waveforms S 1 and S 1e of the discrete frequency spectrum shown in FIGS. 2B and 3B have almost the same characteristics. The characteristics of equation (4) and (a) and (b) relating to the above-mentioned frequency waveform x (t) cannot be accurately known in advance before actually obtaining the frequency spectrum, so see FIG. 2B or FIG. 3B. There is a problem that it is impossible to determine whether it is the peak waveform of aliasing or not by just doing it.

【0011】この発明の目的は、ジッタの離散周波数ス
ペクトルXのピーク波形がエリアシングピークによるも
のであるか否かを判別できるようにしようとするもので
ある。
An object of the present invention is to make it possible to determine whether or not the peak waveform of the discrete frequency spectrum X of jitter is due to an aliasing peak.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

(1)請求項1のジッタ周波数成分検出方法では、任意
の物理量に関する時系列の非等間隔又は等間隔のディジ
タルデータに対して、隣接データ間を補間曲線でつない
で、連続する時間信号x(t) (tは時間)を求め、その
時間信号x(t)に対して、僅かに異なる第1、第2のサ
ンプリング周波数fs1,fs2=fs1+Δfs を設定す
る。前記時間信号x(t) から第1、第2のサンプリング
周期ts1=1/fs1,ts2=1/fs2でサンプリングし
て、第1、第2の離散時間信号(等間隔離散データ列)
x(nts1),x(nts2)(n=0,1,2,…,N
−1)を抽出する。それらの第1、第2離散時間信号x
(nts1),x(nts2)に対する離散フーリエ変換
(DFT)演算を行って、第1、第2の離散周波数スペ
クトルX1 (f=0〜fs1/2),X2 (f=0〜fs2
/2)を求める。
(1) In the jitter frequency component detecting method according to the first aspect, continuous time signals x (are connected by interpolating adjacent data with time-sequential non-equidistant or equidistant digital data relating to an arbitrary physical quantity. t) (t is time) is obtained, and slightly different first and second sampling frequencies fs 1 , fs 2 = fs 1 + Δfs are set for the time signal x (t). The first and second discrete time signals (equal interval discrete data) are sampled from the time signal x (t) at the first and second sampling periods ts 1 = 1 / fs 1 and ts 2 = 1 / fs 2. Row)
x (nts 1 ), x (nts 2 ) (n = 0, 1, 2, ..., N
-1) is extracted. Their first and second discrete time signals x
(Nts 1), x (nts 2) by performing a discrete Fourier transform (DFT) operation on the first and second discrete frequency spectrum X 1 (f = 0~fs 1/ 2), X 2 (f = 0 ~ Fs 2
/ 2) is calculated.

【0013】それら第1、第2の周波数スペクトル
1 ,X2 の振幅が所定値以上のピークとなる周波数f
11<f12<…<f1m及び、f21<f22<…<f2m をそれ
ぞれ求め、前記第1、第2周波数スペクトルX1 ,X2
のピークの周波数f1i ,f2i (i=1〜m)を比較し、
f1i ≒f2i (i=1,2,…,m)となるピークは真の
ピークと判定し、f2i ≒f1i ±Δfs (i=1,2,
…,m)となるピークはエリアシングによるピークと判
定する。 (2)請求項2の発明では、任意の物理量に関する時系
列の非等間隔又は等間隔のディジタルデータ{Pi}に
対して、僅かに異なる第1、第2のサンプリング周波数
fs1 ,fs2 =fs1±Δfsを設定し、前記時系列デ
ィジタルデータ{Pi}から、第1、第2のサンプリン
グ周期ts1 =1/fs1 ,ts2 =1/fs2 の各サ
ンプリング時刻の近傍に存在するデータを抽出して第
1、第2の時系列データ{Ui},{Vi}を作成す
る。それら第1、第2の時系列データ{Ui},{V
i}を補間して、時間間隔が前記第1、第2のサンプリ
ング周期ts1 ,ts2 にそれぞれ等しい第1、第2の
等間隔データ列(離散時間信号)x 1(nts1),x
2 (nts2)(n=0,1,2,…N−1)を抽出し、
以後前記(1)項と同様の処理を行うものである。 (3)請求項3の発明では、前記(1)又は(2)項記
載のジッタ周波数成分の検出方法において、離散フーリ
エ変換(DFT)が高速フーリエ変換(FFT)とされ
る。
The first and second frequency spectra
X1, X2Frequency f at which the amplitude of the signal reaches a peak above a predetermined value
11<F12<... <f1m and f21<F22<... <f2m it
Obtain each of the first and second frequency spectra X1, X2
The peak frequencies f1i and f2i (i = 1 to m) are compared,
The peak at which f1i ≈ f2i (i = 1, 2, ..., M) is true
The peak is determined and f2i ≈ f1i ± Δfs (i = 1, 2,
,, m) is determined to be the peak due to aliasing.
Set. (2) In the invention of claim 2, the time system relating to an arbitrary physical quantity
For non-uniform or evenly-spaced digital data {Pi} in columns
In contrast, slightly different first and second sampling frequencies
fs1, Fs2= Fs1Set ± Δfs and set the time series
From the digital data {Pi}, the first and second sample
Cycle ts1= 1 / fs1, Ts2= 1 / fs2Each service
Extract the data existing near the sampling time
Create 1st and 2nd time series data {Ui}, {Vi}
It The first and second time series data {Ui}, {V
i} is interpolated, and the time interval is the first and second sample
Long cycle ts1, Ts2The first and second equal to
Equidistant data string (discrete time signal) x 1(nts1), X
2(Nts2) (N = 0, 1, 2, ... N-1),
After that, the same processing as the above item (1) is performed. (3) In the invention of claim 3, the above (1) or (2)
In the method of detecting the jitter frequency component shown in
D) Transform (DFT) is called Fast Fourier Transform (FFT)
It

【0014】(4)請求項4の発明では、前記(1)乃
至(3)項のいずれかに記載のジッタ周波数成分の検出
方法において、前記ディジタルデータがサンプリングデ
ータとされる。 (5)請求項5の発明では、前記(1)乃至(3)項の
いずれかに記載のジッタ周波数成分の検出方法におい
て、前記ディジタルデータが前記物理量の移動平均値と
される。
(4) In the invention of claim 4, in the method of detecting a jitter frequency component according to any one of (1) to (3), the digital data is sampling data. (5) In the invention of claim 5, in the method of detecting a jitter frequency component according to any one of (1) to (3), the digital data is a moving average value of the physical quantity.

【0015】(6)請求項6の発明では、前記(1)乃
至(5)項のいずれかに記載のジッタ周波数成分の検出
方法において、前記エリアシングと判定されたピーク特
性を削除して周波数スペクトルX1 又はX2 を画像表示
する。 (7)請求項7の発明では、前記(1)乃至(5)項の
いずれかに記載のジッタ周波数成分の検出方法におい
て、前記周波数スペクトルX1 又はX2 と共にそれらス
ペクトルのどの部分がエリアシングによるピーク波形で
あるかを画像表示するものである。
(6) According to the invention of claim 6, in the method of detecting a jitter frequency component according to any one of (1) to (5), the peak characteristic judged as the aliasing is deleted and the frequency is eliminated. The spectrum X 1 or X 2 is displayed as an image. (7) In the invention of claim 7, in the method of detecting a jitter frequency component according to any one of (1) to (5), which part of the spectrum is aliased together with the frequency spectrum X 1 or X 2. This is an image display of whether the peak waveform is due to.

【0016】[0016]

【実施例】「発明が解決しようとする課題」で述べた
(イ)及び(ロ)の場合を例に説明する。周波数f=0
〜fs1/2の周波数スペクトル(ジッタ)を求めるもの
としてfs1=10kHzを設定するが、この発明では更
にfs1と僅かに異なる第2のサンプリング周波数fs2
用いる。いまそれをfs2=11kHzとする。従ってΔ
fs =fs2−fs1=1kHzである。
Embodiments The cases (a) and (b) described in "Problems to be solved by the invention" will be described as an example. Frequency f = 0
Setting the fs 1 = 10 kHz as seeking ~fs 1/2 of the frequency spectrum (jitter), but further fs 1 and slightly different second using the sampling frequency fs 2 in the present invention. Now let it be fs 2 = 11 kHz. Therefore Δ
fs = fs 2 -fs 1 = is 1kHz.

【0017】(イ)の場合 サンプリング周波数fs1=10kHzの場合の離散周波
数スペクトルX1 (nΔf1 )(n=0,1,2,…,
N−1)は既に図2Bに示した通りである。周波数fs2
でサンプリングしたN個の離散データx(nts2)(n
=1〜N−1)に対してDFT演算を行って、離散周波
数スペクトルX2 (nΔf2 );(しかしΔf2 =fs2
/N)を求めると図2Cのようになる。f21=P=3k
Hzをピークとするジッタのピーク波形S2 と、fs2
2を中心として波形S2 と対称な波形S2 * が存在す
る。このことは周波数信号x(t) が(4)式で表される
ことから当然である。ナイキスト周波数fs2/2以下の
表示範囲においては、ピーク波形S1 とS2 のピーク周
波数f11,f21は、 f11=f21=P … (5) であり、サンプリング周波数を変えても変化しない。
Case (a) Discrete frequency spectrum X 1 (nΔf 1 ) (n = 0, 1, 2, ..., When sampling frequency fs 1 = 10 kHz)
N-1) is as already shown in FIG. 2B. Frequency fs 2
N discrete data x (nts 2 ) (n
= 1 to N-1) by performing a DFT operation on a discrete frequency spectrum X 2 (nΔf 2); (but Δf 2 = fs 2
/ N) is obtained as shown in FIG. 2C. f2 1 = P = 3k
The peak waveform S 2 of the jitter whose peak is Hz and fs 2 /
2 is a waveform S 2 and symmetrical waveform S 2 * exists around the. This is natural because the frequency signal x (t) is expressed by the equation (4). In the Nyquist frequency fs 2/2 or less of the display range, the peak frequencies f1 1, f2 1 peak waveform S 1 and S 2 are f1 1 = f2 1 = P ... (5), be changed sampling frequency It does not change.

【0018】(ロ)の場合 fs1=10kHzの場合のスペクトルX2 (nΔf2
(n=0,1,2,…,N−1)は既に図3Bに示して
ある。サンプリング周波数fs2=11kHzでサンプリ
ングしたN個のデータx(nts2)(n=0〜N−1)
に対してDFT演算して求めたスペクトルX2 (nΔf
2 );(しかしΔf2 =fs2/N)は図3Cのようにな
る。P=7kHzのジッタ成分はナイキスト周波数fs2
/2=5.5kHzで折り返されて、f21=fs2−P=
4kHzにエリアシングによるピーク波形S2eが現れ、
またfs2/2を中心にしてピーク波形S2eと対称なピー
ク波形S2e * がP=7kHzの点に現れる。
In the case of (b) The spectrum X 2 (nΔf 2 ) when fs 1 = 10 kHz
(N = 0, 1, 2, ..., N-1) have already been shown in FIG. 3B. N pieces of data x (nts 2 ) (n = 0 to N−1) sampled at the sampling frequency fs 2 = 11 kHz
The spectrum X 2 (nΔf
2 ); (but Δf 2 = fs 2 / N) is as shown in FIG. 3C. The jitter component of P = 7 kHz is the Nyquist frequency fs 2
Folded at /2=5.5 kHz, f2 1 = fs 2 -P =
The peak waveform S 2e due to aliasing appears at 4 kHz,
The fs 2/2 around the peak waveform S 2e and symmetrical peak waveform S 2e * appears in a point P = 7 kHz.

【0019】f11=fs1−P=3kHzに対して、f21
=fs2−P=4kHz,Δfs =1kHzであるから f21=f11+Δfs … (6) を満足していることが分る。このように図3Bのエリア
シングによるピーク周波数f11は、サンプリング周波数
fs1を±Δfs だけシフトさせれば、折り返し点fs1
2が±Δfs /2だけずれるので、f21=f11±Δfs
にシフトすることからエリアシングによるピークである
ことを判別できる。
For f1 1 = fs 1 -P = 3 kHz, f2 1
= Fs 2 −P = 4 kHz and Δfs = 1 kHz, it can be seen that f2 1 = f1 1 + Δfs (6) is satisfied. As described above, the peak frequency f1 1 due to the aliasing in FIG. 3B can be obtained by shifting the sampling frequency fs 1 by ± Δfs and the folding point fs 1 /
Since 2 is shifted by ± Δfs / 2, f2 1 = f1 1 ± Δfs
It is possible to determine that the peak is due to aliasing by shifting to.

【0020】一般にナイキスト周波数fs1/2,fs2
2以下に所定値以上のピーク値をもつm(2以上の整
数)組のピーク周波数 f11<f12<…<f1m ; f21<f22<…<f2m … (7) をもつ場合には、ピーク周波数f1i とf2i(i=1,2,
…,m)とを比較し、 f1i ≒f2i (i=1,2,…,m) … (8) となるピークは真のピークと判定し、 f2i ≒f1i ±Δfs (i=1,2,…,m) … (9) となるピークはエリアシングによるピークと判定するこ
とができる。
[0020] In general, the Nyquist frequency fs 1/2, fs 2 /
In the case of m (integer of 2 or more) pairs of peak frequencies f1 1 <f1 2 <... <f1m; f2 1 <f2 2 <... <f2m ... (7) , Peak frequencies f1i and f2i (i = 1, 2,
, M) and f1i ≈ f2i (i = 1, 2, ..., M) (8) is determined to be a true peak, and f2i ≈ f1i ± Δfs (i = 1, 2, , M) (9) can be determined as a peak due to aliasing.

【0021】以上述べたこの発明の物理量のジッタ周波
数成分の検出方法をまとめると図1が得られる。 (変形例;請求項2)変形例を図6を参照して説明す
る。時系列ディジタルデータ{Pi}に対して、僅かに
異なる2つのサンプリング周波数fs1,fs2=fs1±Δ
fs を設定する(ステップS0 )。次に時系列データ
{Pi}からサンプリング周期ts1=1/fs1の各サン
プリング時刻の近傍の第1の時系列データ{Ui}を抽
出する(ステップS1 )。同様に時系列データ{Pi}
からサンプリング周期ts2=1/fs2の各サンプリング
時刻の近傍の第2の時系列データ{Vi}を抽出する
(ステップS2 )。
FIG. 1 is obtained by summarizing the method of detecting the jitter frequency component of the physical quantity of the present invention described above. (Modification; Claim 2) A modification will be described with reference to FIG. Two sampling frequencies fs 1 and fs 2 = fs 1 ± Δ that are slightly different from the time-series digital data {Pi}
Set fs (step S 0 ). Next, the first time series data {Ui} in the vicinity of each sampling time of the sampling period ts 1 = 1 / fs 1 is extracted from the time series data {Pi} (step S 1 ). Similarly, time series data {Pi}
Then, the second time series data {Vi} in the vicinity of each sampling time of the sampling cycle ts 2 = 1 / fs 2 is extracted (step S 2 ).

【0022】第1、第2の時系列データ{Ui}、{V
i}をそれぞれ補間して、時間間隔がサンプリング周期
ts1,ts2にそれぞれ等しい離散時間信号(等間隔離散
データ列)x1(nts1),x2 (nts2)(n=0,
1,2,…N−1)を抽出する(ステップS3
4 )。それ以降のステップS5 〜S9 の処理は図1の
場合と同様であるので説明を省略する。
First and second time series data {Ui}, {V
i} respectively by interpolating, respectively equal discrete time signal time interval is the sampling period ts 1, ts 2 (equidistant discrete data sequence) x 1 (nts 1), x 2 (nts 2) (n = 0,
1, 2, ..., N-1) are extracted (step S 3 ,
S 4 ). Omitted because the processing of the subsequent steps S 5 to S 9 are the same as in FIG.

【0023】なおDFTとしてはFFT(高速フーリエ
変換)を用いて演算時間を短縮するのが望ましい(請求
項3)。この発明のジッタ周波数成分の検出に用いる測
定装置のブロック構成は従来と同様に図5で与えられ
る。しかし、メモリ4a又は4bに取り込む周期データ
は、図6Aに示したような連続データT1 ,T2
3 ,…の場合の他、図4に示すような、適当なインタ
ーバルを置いて取得したサンプリングデータであっても
よい。その場合には測定量演算部5で求める離散データ
1 ,P2 ,…もサンプリングデータとなる(請求項
4)。場合によっては測定量演算部5がメモリ4a又は
4bへ連続的に取り込まれた周期データの中から、何個
か飛び飛びにデータをサンプリングして、指定された物
理量を演算してもよい。その場合にもデータPi はサン
プリングデータとなる(請求項4)。
It is desirable to use FFT (Fast Fourier Transform) as the DFT to shorten the calculation time (claim 3). The block configuration of the measuring device used for detecting the jitter frequency component of the present invention is given in FIG. However, the periodic data fetched in the memory 4a or 4b is the continuous data T 1 , T 2 ,
In addition to the case of T 3 , ..., Sampling data acquired at appropriate intervals as shown in FIG. 4 may be used. In that case, the discrete data P 1 , P 2 , ... Obtained by the measurement amount calculation unit 5 are also sampling data (claim 4). Depending on the case, the measured quantity calculation unit 5 may sample some of the periodic data continuously captured in the memory 4a or 4b to calculate the designated physical quantity. Even in that case, the data Pi becomes sampling data (claim 4).

【0024】更に周期測定回路3a又は3bは所定時間
T内の連続周期データの移動平均Taiを求めて(電子回
路による方法と、ディジタル演算による方法とがあ
る)、メモリ4a又は4bに与えてもよい。測定量演算
部5では周期の移動平均Taiより物理量P1 ,P2 ,…
を求め、そのP1 ,P2 ,…を近似的な移動平均値と見
なし、これを離散データとしてもよい(請求項5)。場
合によっては、測定量演算部5がメモリ4a又は4bへ
連続的に取り込まれた周期データを用いて、所定時間T
内の移動平均値Taiを求め、それより物理量P1
2 ,…を求め、そのP 1 ,P2 ,…を近似的な移動平
均値と見なしてもよい(請求項5)。
Further, the period measuring circuit 3a or 3b is set for a predetermined time.
Obtain the moving average Tai of the continuous cycle data in T (electronic time
There is a method by the road and a method by the digital operation.
May be provided to the memory 4a or 4b. Measured amount calculation
In part 5, the physical quantity P is calculated from the moving average Tai of the cycle.1, P2、…
And ask for P1, P2,,… are regarded as approximate moving averages
None, this may be discrete data (claim 5). Place
Depending on the situation, the measured amount calculation unit 5 may move to the memory 4a or 4b.
A predetermined time T
The moving average value Tai is calculated and the physical quantity P is calculated from it.1
P2,,,, P, 1, P2,… Is an approximate moving flat
It may be regarded as an average value (Claim 5).

【0025】ジッタの周波数スペクトルを画像表示する
場合に、エリアシングと判定したピーク波形を削除して
スペクトルX1 又はX2 を表示してもよい(請求項
6)。他の方法として、周波数スペクトルX1 又はX2
と共に、それらスペクトルのどの部分がエリアシングに
よるピーク波形であるかを画像表示することもできる
(請求項7)。
When the frequency spectrum of the jitter is displayed as an image, the peak waveform determined to be aliasing may be deleted and the spectrum X 1 or X 2 may be displayed (claim 6). Alternatively, the frequency spectrum X 1 or X 2
At the same time, it is possible to display an image of which part of the spectrum is the peak waveform due to aliasing.

【0026】入力端子INa,INbに同じ信号を入力
し、測定信号生成回路2は一方の信号の極性を反転させ
て、それぞれの信号の図6Aに示す周期T1 ,T2 ,…
を測定してメモリ4a,4bに取り込み、データ数を2
倍に増やすこともできる。これ迄の説明では周波数成分
解析部6に入力される時系列ディジタルデータ{Pi }
は非等時間間隔データしたが、等時間間隔データであっ
てもよいことは明らかである。
The same signal is input to the input terminals INa and INb, the measurement signal generation circuit 2 inverts the polarity of one signal, and the periods T 1 , T 2 , ... Of the respective signals shown in FIG. 6A.
Is measured and stored in memories 4a and 4b, and the number of data is 2
It can be doubled. In the above description, the time series digital data {Pi} input to the frequency component analysis unit 6
Although the non-isochronous data is used, it is obvious that the data may be isochronous data.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上述べたように、この発明によれば、
時間信号x(t) 又は時系列データ{Pi }に対して僅か
に異なるサンプリング周波数fs1,fs2を設定し、必要
に応じデータを補間してサンプリングして、DFT演算
を行い、ジッタの離散周波数スペクトルX1 (nΔ
1 ),X2 (nΔf2 )のピーク周波数を比較するこ
とによって、ピーク波形がエリアシングによるものであ
るか否かを容易に判別できる。
As described above, according to the present invention,
Sampling frequencies fs 1 and fs 2 that are slightly different for the time signal x (t) or the time-series data {Pi} are set, data is interpolated and sampled as necessary, DFT calculation is performed, and jitter dispersion is performed. Frequency spectrum X 1 (nΔ
By comparing the peak frequencies of f 1 ), X 2 (nΔf 2 ), it is possible to easily determine whether or not the peak waveform is due to aliasing.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明のジッタ周波数成分の検出方法を示す
フローチャート。
FIG. 1 is a flowchart showing a method for detecting a jitter frequency component of the present invention.

【図2】この発明の一例を説明するための波形図。FIG. 2 is a waveform diagram for explaining an example of the present invention.

【図3】この発明の他の例を説明するための波形図。FIG. 3 is a waveform chart for explaining another example of the present invention.

【図4】Aは図5の周期測定回路3a又は3bの入力信
号v(t) の波形図、Bはそれらの回路より出力されるデ
ータとデータ取得のタイミングを示す図。
4A is a waveform diagram of an input signal v (t) of the period measuring circuit 3a or 3b of FIG. 5, and B is a diagram showing data output from those circuits and timing of data acquisition.

【図5】この発明及び従来のジッタ周波数成分検出方法
に用いるジッタ測定装置のブロック図。
FIG. 5 is a block diagram of a jitter measuring device used in the present invention and a conventional jitter frequency component detecting method.

【図6】この発明の変形例を示すフローチャート。FIG. 6 is a flowchart showing a modified example of the present invention.

【図7】従来のジッタ周波数成分検出方法を説明する波
形図。
FIG. 7 is a waveform diagram illustrating a conventional jitter frequency component detection method.

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 任意の物理量に関する時系列の非等間隔
又は等間隔のディジタルデータに対して、隣接データ間
を補間曲線でつないで、連続する時間信号x(t) (tは
時間)を求め、 その時間信号x(t) に対して、僅かに異なる第1、第2
のサンプリング周波数fs1,fs2=fs1±Δfsを設定
し、 前記時間信号x(t) から第1、第2のサンプリング周期
ts1=1/fs1,ts2=1/fs2でサンプリングして、
第1、第2の離散時間信号(等間隔離散データ列)x
(nts1),x(nts2)(n=0,1,2,…N−
1)を抽出し、 それらの第1、第2離散時間信号x(nts1),x(n
ts2)に対する離散フーリエ変換(DFT)演算を行っ
て、第1、第2の離散周波数スペクトルX1 (f=0〜
fs1/2),X2 (f=0〜fs2/2)を求め、 それら第1、第2の周波数スペクトルX1 ,X2 の振幅
が所定値以上のピークとなる周波数f11<f12<…<f
1m及びf21<f22<…<f2m をそれぞれ求め、 前記第1、第2周波数スペクトルX1 ,X2 のピークの
周波数 f1i ,f2i(i=1〜m)を比較し、 f1i ≒f2i (i=1,2,…m)となるピークは真のピ
ークと判定し、 f2i ≒f1i ±Δfs (i=1,2,…m)となるピーク
はエリアシングによるピークと判定することを特徴とす
る、 ジッタ周波数成分の検出方法。
1. A continuous time signal x (t) (t is time) is obtained by connecting adjacent data with interpolation curves for time-sequential non-equidistant or equidistant digital data relating to an arbitrary physical quantity. , The first and second slightly different with respect to the time signal x (t)
Sampling frequencies fs 1 and fs 2 = fs 1 ± Δfs are set, and sampling is performed from the time signal x (t) at the first and second sampling periods ts 1 = 1 / fs 1 and ts 2 = 1 / fs 2 . do it,
First and second discrete time signals (equal-interval discrete data sequence) x
(Nts 1 ), x (nts 2 ) (n = 0, 1, 2, ... N-
1) and extract their first and second discrete time signals x (nts 1 ), x (n
A discrete Fourier transform (DFT) operation is performed on ts 2 ) to obtain first and second discrete frequency spectra X 1 (f = 0 to 0).
fs 1/2), X 2 (f = 0~fs 2/2) asking them first, frequency f1 1 second amplitude of the frequency spectrum X 1, X 2 becomes a predetermined value or more peaks <f1 2 <... <f
1m and f2 1 <f2 2 <... <f2m are obtained, and the frequencies f1i and f2i (i = 1 to m) of the peaks of the first and second frequency spectra X 1 and X 2 are compared to obtain f1i ≈f2i ( A peak having i = 1, 2, ..., M) is determined to be a true peak, and a peak having f2i ≈f1i ± Δfs (i = 1, 2, ..., M) is determined to be a peak due to aliasing. Yes, the method for detecting the jitter frequency component.
【請求項2】 任意の物理量に関する時系列の非等間隔
又は等間隔のディジタルデータ{Pi}に対して、僅か
に異なる第1、第2のサンプリング周波数fs1 ,fs
2 =fs1±Δfsを設定し、 前記時系列ディジタルデータ{Pi}から、第1、第2
のサンプリング周期ts1 =1/fs1 ,ts2 =1/
fs2 の各サンプリング時刻の近傍に存在する第1、第
2の時系列データ{Ui},{Vi}を抽出し、 それら第1、第2の時系列データ{Ui},{Vi}を
補間して、時間間隔が前記第1、第2のサンプリング周
期ts1 ,ts2 にそれぞれ等しい第1、第2の離散時
間信号(等間隔離散データ列)x1(nts1),x2 (n
ts2)(n=0,1,2,…N−1)を抽出し、 それらの第1、第2離散時間信号x1(nts1),x
2 (nts2)に対する離散フーリエ変換(DFT)演算
を行って、第1、第2の離散周波数スペクトルX1(f
=0〜fs1/2),X2 (f=0〜fs2/2)を求め、 それら第1、第2の周波数スペクトルX1 ,X2 の振幅
が所定値以上のピークとなる周波数f11 <f12 <…<f1
m 及びf21 <f22 <…<f2m をそれぞれ求め、 前記第1、第2周波数スペクトルX1 ,X2 のピークの
周波数f1i ,f2i (i=1〜m)を比較し、 f1i ≒f2i (i=1,2,…m)となるピークは真のピ
ークと判定し、 f2i ≒f1i ±Δfs(i=1,2,…m)となるピーク
はエリアシングによるピークと判定することを特徴とす
る、 ジッタ周波数成分の検出方法。
2. First and second sampling frequencies fs 1 and fs which are slightly different from the time-sequential non-equidistant or equidistant digital data {Pi} relating to an arbitrary physical quantity.
2 = fs 1 ± Δfs is set, and the first and second data are obtained from the time-series digital data {Pi}.
Sampling periods ts 1 = 1 / fs 1 and ts 2 = 1 /
First and second time series data {Ui}, {Vi} existing in the vicinity of each sampling time of fs 2 are extracted, and the first and second time series data {Ui}, {Vi} are interpolated. Then, the first and second discrete time signals (equal-interval discrete data strings) x 1 (nts 1 ), x 2 (n have time intervals equal to the first and second sampling periods ts 1 and ts 2 respectively.
ts 2 ) (n = 0, 1, 2, ... N−1) and extracts their first and second discrete time signals x 1 (nts 1 ), x
2 (nts 2 ) is subjected to a discrete Fourier transform (DFT) operation to obtain the first and second discrete frequency spectra X 1 (f
= 0~fs 1/2), X 2 obtains the (f = 0~fs 2/2) , their first, frequency second amplitude of the frequency spectrum X 1, X 2 becomes a predetermined value or more peaks f1 1 <f1 2 <... <f1
m and f2 1 <f2 2 <... <f2m are obtained, and the frequencies f1i and f2i (i = 1 to m) of the peaks of the first and second frequency spectra X 1 and X 2 are compared to obtain f1i ≈f2i ( A peak having i = 1, 2, ..., M) is determined to be a true peak, and a peak having f2i ≈f1i ± Δfs (i = 1, 2, ..., M) is determined to be a peak due to aliasing. Yes, the method for detecting the jitter frequency component.
【請求項3】 請求項1又は2記載のジッタ周波数成分
の検出方法において、前記離散フーリエ変換(DFT)
が高速フーリエ変換(FFT)であることを特徴とす
る。
3. The method of detecting a jitter frequency component according to claim 1, wherein the discrete Fourier transform (DFT) is performed.
Is a fast Fourier transform (FFT).
【請求項4】 請求項1乃至3のいずれかに記載のジッ
タ周波数成分の検出方法において、前記ディジタルデー
タがサンプリングデータであることを特徴とする。
4. The method of detecting a jitter frequency component according to claim 1, wherein the digital data is sampling data.
【請求項5】 請求項1乃至3のいずれかに記載のジッ
タ周波数成分の検出方法において、前記ディジタルデー
タが前記物理量の移動平均値であることを特徴とする。
5. The method for detecting a jitter frequency component according to claim 1, wherein the digital data is a moving average value of the physical quantity.
【請求項6】 請求項1乃至5のいずれかに記載のジッ
タ周波数成分の検出方法において、前記エリアシングと
判定されたピーク特性を削除して前記周波数スペクトル
1 又はX2 を画像表示することを特徴とする。
6. The method for detecting a jitter frequency component according to claim 1, wherein the peak characteristic determined to be the aliasing is deleted and the frequency spectrum X 1 or X 2 is displayed as an image. Is characterized by.
【請求項7】 請求項1乃至5のいずれかに記載のジッ
タ周波数成分の検出方法において、前記周波数スペクト
ルX1 又はX2 と共にそれらスペクトルのどの部分がエ
リアシングによるピーク波形であるかを画像表示するこ
とを特徴とする。
7. The method for detecting a jitter frequency component according to claim 1, wherein the frequency spectrum X 1 or X 2 and which part of the spectrum is a peak waveform due to aliasing are displayed as an image. It is characterized by doing.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001073455A1 (en) * 2000-03-29 2001-10-04 Advantest Corporation Jitter estimating device and estimating method
WO2002097711A1 (en) * 2001-05-25 2002-12-05 Optoelectronics Co., Ltd. Optical information reading apparatus
JP2003222646A (en) * 2002-01-31 2003-08-08 Mitsubishi Electric Corp Frequency analyzer
JP2006017710A (en) * 2004-06-29 2006-01-19 Agilent Technol Inc Method of measuring frequency response of jitter
JP4619402B2 (en) * 2005-02-01 2011-01-26 株式会社日立国際電気 Spectral analysis method, distortion detection apparatus, distortion compensation amplification apparatus

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001073455A1 (en) * 2000-03-29 2001-10-04 Advantest Corporation Jitter estimating device and estimating method
US6990417B2 (en) 2000-03-29 2006-01-24 Advantest Corporation Jitter estimating apparatus and estimating method
WO2002097711A1 (en) * 2001-05-25 2002-12-05 Optoelectronics Co., Ltd. Optical information reading apparatus
US6945462B2 (en) 2001-05-25 2005-09-20 Optoelectronics Co., Ltd. Optical information reading apparatus
JP2003222646A (en) * 2002-01-31 2003-08-08 Mitsubishi Electric Corp Frequency analyzer
JP2006017710A (en) * 2004-06-29 2006-01-19 Agilent Technol Inc Method of measuring frequency response of jitter
JP4619402B2 (en) * 2005-02-01 2011-01-26 株式会社日立国際電気 Spectral analysis method, distortion detection apparatus, distortion compensation amplification apparatus

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