JPH04105073A - Measuring device for effective value - Google Patents

Measuring device for effective value

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JPH04105073A
JPH04105073A JP22272290A JP22272290A JPH04105073A JP H04105073 A JPH04105073 A JP H04105073A JP 22272290 A JP22272290 A JP 22272290A JP 22272290 A JP22272290 A JP 22272290A JP H04105073 A JPH04105073 A JP H04105073A
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JP
Japan
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value
signal
period
square
sampling
Prior art date
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Application number
JP22272290A
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Japanese (ja)
Inventor
Yukiyoshi Hiraishi
行好 平石
Hidekazu Goto
英一 後藤
Yukio Kashiwabara
柏原 幸男
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
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Priority to AT91106470T priority patent/ATE140544T1/en
Priority to US07/696,393 priority patent/US5170115A/en
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Abstract

PURPOSE:To enable quick measurements to be taken with less expensive constitution by digitizing the sampling value of a measured signal during a certain period, and squaring or exponentially averaging the digitized value or extracting the square root thereof. CONSTITUTION:The instantaneous value Bn of a measured signal B at a terminal P1 is sampled in an S/H (sample/hold) circuit 1, and digitized with an ADC (A/D converter) 2. In addition, the square of the instantaneous value Bn is outputted from a square computing element 6. Thereafter, the outputted value is exponentially averaged with an exponential average computing element 7. Furthermore, the effective value of the signal B is outputted from a square root extraction computing element 8. According to the aforesaid construction, the period of the waveform of the signal B can be measured, independent of the multiple of a sampling period, and measurement and control circuits related to the period can be eliminated, thereby allowing cost reduction. Also, it is unnecessary to make computation until the integral multiple of the half-period of an input waveform agrees to the integral multiple of the sampling period, thereby preventing the occurrence of a long measurement response time.

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、被測定信号(入力電圧または入力電流)をデ
ィジタルサンプリングして、その実効値を測定するディ
ジタルサンプリング方式の実効値測定装置に関するもの
である。
[Detailed Description of the Invention] <Industrial Application Field> The present invention relates to a digital sampling type effective value measuring device that digitally samples a signal under test (input voltage or input current) and measures its effective value. It is.

〈従来の技術〉 アナログ/ディジタル変換回路を用いて、被測定信号を
ディジタルサンプリングし、その実効値を求める装置で
は、被測定信号波形の半周期の整数倍と、サンプリング
周期の整数倍とか一致しない場合に誤差が生じていた。
<Prior art> In a device that uses an analog/digital conversion circuit to digitally sample a signal under test and determine its effective value, an integer multiple of a half cycle of the signal under test waveform does not match an integer multiple of the sampling period. An error occurred in some cases.

これを図面で説明する。被測定信号Bの実効値Bn:被
測定信号のサンプリング値 で表される。ここで被測定信号Bが電圧信号であれば、
Bnはサンプリング電圧値であり、電流信号であれば、
サンプリング電流値である。
This will be explained using drawings. Effective value Bn of signal under test B: Represented by a sampling value of the signal under test. Here, if the signal under test B is a voltage signal,
Bn is the sampling voltage value, and if it is a current signal,
This is the sampling current value.

第5図に示す波形のように、被測定信号波形の半周期が
サンプリング周期TADの整数倍でない場合、即ち、 nl・T、/2’!’tn2− Tへ〇n n1=1.2,3゜ n2=2.3,4.・・・ Tin:被測定信号波形の周期 の場合、第5図のように端数が生じる。このように端数
が生じると、この端数だけ(1)式の平均値分(a F
、 Bn )に誤差が発生する。つまり、実効値BRH
3に誤差を与えてしまう。
As in the waveform shown in FIG. 5, when the half period of the signal under test waveform is not an integral multiple of the sampling period TAD, that is, nl·T,/2'! 'tn2- To T〇n n1=1.2,3゜n2=2.3,4. ...Tin: In the case of the period of the measured signal waveform, a fraction occurs as shown in FIG. When a fraction occurs in this way, this fraction is equal to the average value of equation (1) (a F
, Bn). In other words, the effective value BRH
3 will give an error.

このため、上記の端数による影響を小さくする方法とし
て、従来は、次のような方法があった。
For this reason, the following methods have conventionally been used to reduce the influence of the above-mentioned fractions.

■ 入力波形のサンプリング周期TADがnl・T−/
2=n2・TAD n となるように、”ADを調整制御する方法。
■ The sampling period TAD of the input waveform is nl・T−/
2=n2・TAD n A method of adjusting and controlling AD.

■ rll−T、 /2=n2− TAoとなるまで、
入力波+n 形の数サイクルにわたってサンプリングして実効値を演
算する方法。
■ Until rll-T, /2=n2-TAo,
A method of calculating the effective value by sampling the input wave + n over several cycles.

■ サンプリング周期TADを短くし、入力波形の周期
Tioに対する端数を極めて小さなものとしてその誤差
を小さくする方法。
(2) A method of reducing the error by shortening the sampling period TAD and making the fraction of the period Tio of the input waveform extremely small.

〈発明か解決しようとする課題〉 しかしながら、上記■〜■の従来方法には、それぞれ次
のような問題がある。
<Problems to be Solved by the Invention> However, the conventional methods (1) to (3) above each have the following problems.

■の方法は、サンプリング周期TADを調整制御するた
めのフェーズロック回路として、周波数可変範囲の大き
なものを必要とする。従って、回路構成が複雑になり、
かつ高価なものとなる問題かある。
Method (2) requires a phase lock circuit with a wide frequency variable range for adjusting and controlling the sampling period TAD. Therefore, the circuit configuration becomes complicated,
There is also the problem that it is expensive.

■の方法は、入力波形の半周期(T、/2)のn 整数倍と、サンプリング周期TAD/)整数倍とが一致
するまで測定ができないため、測定応答時間が長くなる
問題がある。
Method (2) has the problem that measurement response time becomes long because measurement cannot be performed until n integral multiples of the half period (T, /2) of the input waveform and integral multiples of the sampling period TAD/) match.

■の方法では、短い周期で次々と取り入れられるサンプ
リングデータを処理できる高速のアナログ/ディジタル
変換回路を必要とし、高価なものとなる問題かある。
The method (2) requires a high-speed analog/digital conversion circuit that can process sampling data that is taken in one after another in a short cycle, which poses the problem of being expensive.

本発明の目的は、上述の問題を解消するもので、サンプ
リング周期の調整を必要とせず、安価に構成でき、速や
かに実効値を測定できる実効値測定装置を提供すること
である。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems, and to provide an effective value measuring device that does not require adjustment of the sampling period, can be constructed at low cost, and can quickly measure effective values.

く課題を解決するための手段〉 本発明は、上記課題を解決するために アナログの被測定信号を或る周期でサンプリングし、こ
のサンプリング値をディジタル信号へ変換するAD変換
手段(1,2)と、 このAD変換手段のディジタル出力信号を2乗演算する
2乗演算器(6)と、 前記2乗演算されたデータを導入し−これに指数化平均
演算を加える指数化平均演算器(7)と、この指数化平
均演算器の出力を導入し、これの開平演算を行う開平演
算器(8)と、 からなる手段を講じたものである。
Means for Solving the Problems> In order to solve the above problems, the present invention provides AD conversion means (1, 2) that samples an analog signal under test at a certain period and converts this sampling value into a digital signal. , a squaring calculator (6) for squaring the digital output signal of this AD conversion means, and an exponential averaging calculator (7) for introducing the squared data and performing an exponential averaging operation on it. ), and a square root calculator (8) which introduces the output of this exponential averaging calculator and performs a square root calculation.

く作用〉 AD変換手段はアナログの被測定信号を或る周期でサン
プリングし、これをディジタル信号へ変換する。従って
、AD変換手段は、被測定信号(B)の瞬時値(an)
を取り込みこれを出力している。
Function> The AD conversion means samples the analog signal under test at a certain period and converts it into a digital signal. Therefore, the AD conversion means converts the instantaneous value (an) of the signal under measurement (B) into
It imports and outputs this.

2乗演算器は、このAD変換手段のディジタル出力信号
を2乗演算する。従って、2乗演算器は、被測定信号の
瞬時値の2乗値(Bn)を出力することになる。
The squaring unit performs squaring on the digital output signal of the AD conversion means. Therefore, the square calculator outputs the square value (Bn) of the instantaneous value of the signal under measurement.

指数化平均演算器は、2乗演算されたデータを導入し、
これに指数化平均演算を加えるので所定の演算回数を行
うと anの指数化平均値、つまり1″ ′ 一ΣBnが得られる。
The exponential average calculator introduces squared data,
Since an indexed average calculation is added to this, by performing the predetermined number of calculations, the indexed average value of an, that is, 1''' - ΣBn is obtained.

″′L餅1 効値が得られる。″′L mochi 1 Effective value can be obtained.

〈実施例〉 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。<Example> Hereinafter, the present invention will be explained in detail using the drawings.

第1図は本発明に係る実効値測定装置の構成例を示す図
、第2図は第1図装置の各部の信号波形を示す図、第3
図と第4図は測定データと表示のタイミングを示す図で
ある。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of an effective value measuring device according to the present invention, FIG. 2 is a diagram showing signal waveforms of each part of the device in FIG. 1, and FIG.
FIG. 4 and FIG. 4 are diagrams showing measurement data and display timing.

第1図において、端子P1に加えられた被測定信号Bは
、電圧信号eでもよいし電流信号iでもよい、第1図装
置は、この電圧eまなはt流iの実効値を測定する装置
である。
In FIG. 1, the signal under test B applied to the terminal P1 may be a voltage signal e or a current signal i, and the device in FIG. 1 is a device for measuring the effective value of this voltage e or current i. It is.

端子P1に加えられたアナログの被測定信号Bは(第2
図(1)の波形参照)、サンプル・ホールド回路(以下
、単にS/8回路と記す)1に導かれる。
The analog signal under test B applied to terminal P1 is (second
(see waveform in FIG. 1)) and is guided to a sample-and-hold circuit (hereinafter simply referred to as an S/8 circuit) 1.

S/8回路1は、タロツク発生器3からクロック信号S
Cが加えられるたびに、その時点の被測定信号Bの瞬時
値8(t)をサンプリングし、前のサンプリングで取り
込んでいた値に代わり、新しく取り込んた値を出力する
ものである。第2図(1)の黒丸印は、各サンプリング
点を示している。なお、tはサンプリング回数を意味し
、t=1.2.3・・・である。そして、B(1)−B
1.8(2)=82.・・・B(n)= Bn、と表す
The S/8 circuit 1 receives the clock signal S from the tarock generator 3.
Each time C is added, the instantaneous value 8(t) of the signal under measurement B at that time is sampled, and the newly captured value is output in place of the value captured in the previous sampling. The black circles in FIG. 2(1) indicate each sampling point. Note that t means the number of samplings, and t=1.2.3... And B(1)-B
1.8(2)=82. ...B(n)=Bn.

アナログ・ディジタル変換器(以下、単にADCと記す
)2は、S/H回路1のアナログ出力信号を取り込み、
これをディジタル信号へ変換(このような変換を以下、
単にAD変換と記す)するものである。このADC2は
、タロツク信号SCを遅延させたスタート信号SDが加
えられると、この信号SOの印加時期を起点として、S
/H回路1から加えられている信号をディジタル信号へ
変換出力する。従って、n回目のサンプリングでは、瞬
時値Bnを出力する(第1図参照)。特許請求の範囲に
記載しなAD変換手段とは、このS/H回路1と、AD
C2で構成される。
An analog-to-digital converter (hereinafter simply referred to as ADC) 2 takes in the analog output signal of the S/H circuit 1, and
Convert this to a digital signal (such conversion is described below as
(simply referred to as AD conversion). When a start signal SD obtained by delaying the tarok signal SC is applied, the ADC 2 starts from the time when this signal SO is applied.
The signal applied from the /H circuit 1 is converted into a digital signal and output. Therefore, in the n-th sampling, the instantaneous value Bn is output (see FIG. 1). The AD conversion means not described in the claims refers to this S/H circuit 1 and the AD conversion means.
Consists of C2.

なお、電流iが被測定信号Bの場合、通常、この電流i
は、電圧信号ν1へ変換されて端子P1へ加えられる。
Note that when the current i is the signal under test B, this current i
is converted into a voltage signal ν1 and applied to the terminal P1.

これについて説明を加える。抵抗値が既知のシャント抵
抗R5(図示せず)へ被測定電流iを流すと、電圧ν1
=R3−iが発生する。この電圧v1は、抵抗値R3が
既知であり、電圧v1を測定することで1=Vi/R3
より、被測定電流iを測定したことになる。本明細書で
は、このように電流iを変換した電圧信号ν1を被測定
電流iと称している。
I will add an explanation to this. When a current to be measured i is passed through a shunt resistor R5 (not shown) whose resistance value is known, a voltage ν1
=R3-i occurs. The resistance value R3 is known, and by measuring the voltage v1, 1=Vi/R3
Therefore, the current to be measured i has been measured. In this specification, the voltage signal ν1 obtained by converting the current i in this manner is referred to as the current to be measured i.

2乗演算器6は、ADC2の出力anを導入し、これを
2乗演算した値b(n)を出力する。
The square calculator 6 inputs the output an of the ADC 2, and outputs a value b(n) obtained by squaring the output an.

b(n)= Bn −Bn= Bn 即ち、2乗演算器6からは、サンプリング回数t=nに
おける瞬時値anの2乗値が出力される。2乗演算器6
の出力は、ディジタル値であるが、これをアナログ的に
表現したのが第2図(2)の実線波形である。第2図(
2)の実線波形は、サンプリング値Bl、 B2. B
3.・・・、 Bn、・・・の2乗値であるため、階段
状になる。なお第2図(2)の点線波形は、第2図(1
)の波形の理想的2乗波形である。
b(n)=Bn-Bn=Bn That is, the square value calculator 6 outputs the square value of the instantaneous value an at the sampling number t=n. Square calculator 6
The output is a digital value, and the solid line waveform in FIG. 2 (2) is an analog representation of this. Figure 2 (
The solid line waveform of 2) is the sampling value Bl, B2. B
3. Since it is the square value of ..., Bn, ..., it has a step-like shape. Note that the dotted line waveform in Figure 2 (2) is similar to Figure 2 (1).
) is the ideal square waveform of the waveform.

指数化平均演算器7は、2乗演算器6から出力されるデ
ータb(0)を指数化平均するものであり、その出力P
(n)をアナログ的に表現すると、第2図(3)となる
。説明を加える。指数化平均演算器7は、例えば演算部
71と、メモリ72を備えている。
The exponential averaging calculator 7 exponentially averages the data b(0) output from the square calculator 6, and its output P
If (n) is expressed in an analog way, it becomes (3) in Fig. 2. Add explanation. The exponential averaging calculator 7 includes, for example, a calculation section 71 and a memory 72.

演算部71は、2乗演算器6からデータb(n)が加え
られる毎に、(2)式の演算を繰り返す。つまり、演算
部71は、2乗演算器6から瞬時値anの2乗値b(n
)を、メモリ72から前回の演算結果P(n−1)を導
入し、(2)式の演算を行い、その出力P(n)をメモ
リ72に格納するとともに開平演算器8に加える。
The calculation unit 71 repeats the calculation of equation (2) every time data b(n) is added from the square calculation unit 6. That is, the calculation unit 71 receives the square value b(n
), the previous calculation result P(n-1) is introduced from the memory 72, the calculation of equation (2) is performed, and the output P(n) is stored in the memory 72 and added to the square root calculation unit 8.

P(n)−P(n−1)+(1/G) ・ (b(n)
−P(n−1))      (2)Pin) :サン
プリング回数t=口までに処理された指数化平均結果 P(n−1) :サンプリング回数t = 1n−1)
までに処理された指数化平均結果 b(n) :サンプリング回数t=nにおける被測定信
号の瞬時値の2乗値 1/G:指数化定数(なお、1/G ((1)ここで、
1/G <(1であるから、b(n)が指数化平均演算
器7へ加えられるたびに、(2)式の演算を繰り返すと
、第2図(3)の波形となる。即ち、(2)式は、この
演算を繰り返すとP(n)は、b(n)の波形の平均値
になることを意味する。従って、第2図(3)の最終値
は、bfn)の平均値と一致する。
P(n)-P(n-1)+(1/G) ・(b(n)
-P(n-1)) (2)Pin): Number of samplings t = Indexed average result processed up to the beginning P(n-1): Number of samplings t = 1n-1)
Exponential average result b(n) processed up to this point: Square value of the instantaneous value of the signal under measurement at the number of sampling times t=n 1/G: Exponentialization constant (1/G ((1) Here,
Since 1/G < (1), if the calculation of equation (2) is repeated every time b(n) is added to the exponential averaging calculator 7, the waveform shown in FIG. 2 (3) will be obtained. That is, Equation (2) means that if this calculation is repeated, P(n) becomes the average value of the waveform of b(n). Therefore, the final value in Figure 2 (3) is the average value of bfn). matches the value.

つまり、指数化平均演算器7がら、b(n)= an 
 のなお、第2図(3)は、僅かの演算回数でPfn)
の値は、一定なるように描いたが、実際には、例えば、
演算回数n = 1000を繰り返すことで、P(n)
の値は、一定となる。
In other words, from the exponential averaging calculator 7, b(n) = an
In addition, Fig. 2 (3) can be calculated using only a small number of calculations (Pfn)
The value of is drawn to be constant, but in reality, for example,
By repeating the calculation number of times n = 1000, P(n)
The value of becomes constant.

信号Bの実効値を出力する。Outputs the effective value of signal B.

このような機能の2乗演算器6と、指数化平均演算器7
と、開平演算器8は、例えばディジタル・シグナルプロ
セッサ(以下、DSPと記す)5を用いて構成すること
ができる。
A square calculator 6 with such functions and an exponential average calculator 7
The square root calculator 8 can be configured using, for example, a digital signal processor (hereinafter referred to as DSP) 5.

中央処理装置(以下、端にCPuと記す)9は、に表示
する。
The central processing unit (hereinafter referred to as CPU) 9 displays.

なお、演算回数は、タロツク信号の回数と一致するので
、第1図では分周器11を用い、所定のタロツク数が発
生するとCPU 9へ信号を加え、所定の演算回数を行
ったことを知らせている。
Note that the number of calculations matches the number of tallock signals, so in FIG. 1, a frequency divider 11 is used, and when a predetermined number of tallocks occurs, a signal is added to the CPU 9 to notify that the predetermined number of calculations have been performed. ing.

以上のような第1図装置において、時刻TSを起点とし
て、端子P1に、例えば第2図(1)に示す波形の被測
定信号(電圧信号でも電流信号でもよい)が加えられた
とする。ここで、タロツク発生器3からS/8回路1へ
周期TADのタロツク信号SCが加えられるので、第2
図(1)に示す黒丸印のサンプルデータが取り込まれる
。そして、このデータは次々とADC2にてディジタル
値に変換される。
Assume that in the apparatus shown in FIG. 1 as described above, a signal to be measured (which may be a voltage signal or a current signal) having a waveform shown in FIG. 2 (1), for example, is applied to the terminal P1 starting from time TS. Here, since the tally signal SC with period TAD is applied from the tally generator 3 to the S/8 circuit 1, the second
The sample data indicated by the black circles shown in Figure (1) is imported. Then, this data is successively converted into digital values by the ADC 2.

なお、遅延線4は、S/8回路1に加えられるクロック
信号SCのタイミングを僅かに遅延させるもので、ホー
ルド状態が安定した値をADC2が取り込めるようにし
ている。
Note that the delay line 4 slightly delays the timing of the clock signal SC applied to the S/8 circuit 1, so that the ADC 2 can take in a value with a stable hold state.

2乗演算器6は、被測定信号Bの瞬時値Bnの2乗値b
fn)= anを出力する。このb(n)をアナログ的
に示すと、第2図(2)に示す実線の波形となる。
The square calculator 6 calculates the square value b of the instantaneous value Bn of the signal under measurement B.
Output fn)=an. If this b(n) is represented in analog form, it becomes a solid line waveform shown in FIG. 2 (2).

この第2図(2)の黒丸印のデータbin)に、指数化
平均演算器7にて、上記(2)式の演算を加えると、P
(n)の値の軌跡は、第2図(3)に示すような波形と
なる。このようにして得られたP(nlの最終的に落ち
着いた値が、(被測定信号の実効値)2である。
When the calculation of the above equation (2) is added to the data bin marked with a black circle in FIG. 2 (2) by the exponential averaging calculator 7, P
The trajectory of the value of (n) has a waveform as shown in FIG. 2 (3). The finally settled value of P(nl) obtained in this way is (effective value of the signal under measurement) 2.

開平演算器8はこの(被測定信号の実効gl)2そして
、第2図(3)に示すPin)が一定になる所定の演算
回数(例えば、nA)か繰り返されると、分周器11か
ら信号がCPU 9に加えられ、CPU 9は、その時
の開平演算器8の出力を読み込み、その値に基づいて、
実効値を表示器10に表示する。
When the square root calculator 8 repeats this calculation a predetermined number of times (for example, nA) such that the effective gl of the signal under test 2 and Pin shown in FIG. The signal is applied to the CPU 9, the CPU 9 reads the output of the square root calculator 8 at that time, and based on that value,
The effective value is displayed on the display 10.

なお、上述において開平演算器8は、演算部71の出力
信号を、常時、開平演算する如く説明したが、分周器1
1の信号がCPt19へ加えられた時のみ開平演算を行
うようにしてもよい。
In the above description, it has been explained that the square root calculator 8 always performs a square root calculation on the output signal of the calculation unit 71, but the frequency divider 1
The square root calculation may be performed only when a signal of 1 is applied to the CPt19.

第1図装置では、第3図と第4図に示す2通りの表示方
法が考えられる。
In the apparatus shown in FIG. 1, two display methods shown in FIGS. 3 and 4 are possible.

第3図の表示方法は、指数化平均出力P(n)が最終値
または最終値付近になる点(△印)に基づく開平演算器
8の出力を表示しく表示値を更新し)、その後メモリ7
2の内容をクリアしくPfni)をOとする)、再度0
から演算を始める方法である。
The display method in Fig. 3 is to update the display value to display the output of the square root calculator 8 based on the point (△ mark) where the indexed average output P(n) becomes the final value or near the final value), and then the display value is updated to display the output of the square root calculator 8. 7
Clear the contents of 2 and set Pfni) to O), then set it to 0 again.
This is a method to start calculation from .

第4図の表示方法は、メモリ72のデータをクリアせず
、一定演算回数毎に、その時の指数化平均出力P(n)
に基づく開平演算器8の出力を表示する方法である。
The display method shown in FIG. 4 does not clear the data in the memory 72, but displays the indexed average output P(n) for each fixed number of calculations.
This is a method of displaying the output of the square root calculator 8 based on .

く本発明の効果〉 以上述べたように本発明によれば、次の効果が得られる
Effects of the Present Invention> As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained.

(1)被測定信号波形の周期がサンプリング周期の整数
倍か否かに関係なく測定できるため、被測定信号波形の
周期を測定する回路が不要となる。そしてサンプリング
周期を入力波形の周期の整数分の1になるように制御す
る手段も不要となる。従って、コストを低減できる。
(1) Since measurement can be performed regardless of whether the period of the signal under test waveform is an integral multiple of the sampling period, a circuit for measuring the period of the signal under test waveform is not required. Also, there is no need for means for controlling the sampling period to be an integer fraction of the period of the input waveform. Therefore, costs can be reduced.

(2)入力波形の半周期の整数倍と、サンプリング周期
TADの整数倍とが一致するまで演算すると言うことが
ないため、測定応答時間が長くなることはない。
(2) Since calculations are not performed until an integral multiple of the half period of the input waveform matches an integral multiple of the sampling period TAD, the measurement response time does not become long.

(3)またサンプリング周期を短くしなくて良いため、
高価なADCを使用する必要がない。
(3) Also, since there is no need to shorten the sampling period,
There is no need to use expensive ADCs.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明に係る実効値測定装置の構成例を示す図
、第2図は第1図装置の各部の信号波形を示す図、第3
図と第4図は測定データと表示のタイミングを示す図、
第5図は従来例を説明する図である。 1・・・S/8回路、2・・・ADC,3・・・タロツ
ク発生器、6・・・2乗演算器、7・・・指数化平均演
算器、8・・・開平演算器、9・・・CPu。 ζ7、
FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of an effective value measuring device according to the present invention, FIG. 2 is a diagram showing signal waveforms of each part of the device in FIG. 1, and FIG.
Figure 4 shows the timing of measurement data and display.
FIG. 5 is a diagram illustrating a conventional example. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... S/8 circuit, 2... ADC, 3... Tarock generator, 6... Square calculator, 7... Exponential average calculator, 8... Square root calculator, 9...CPu. ζ7,

Claims (1)

【特許請求の範囲】 アナログの被測定信号を或る周期でサンプリングし、こ
のサンプリング値をディジタル信号へ変換するAD変換
手段(1、2)と、 このAD変換手段のディジタル出力信号を2乗演算する
2乗演算器(6)と、 前記2乗演算されたデータを導入し、これに指数化平均
演算を加える指数化平均演算器(7)と、この指数化平
均演算器の出力を導入し、これの開平演算を行う開平演
算器(8)と、 を備えた実効値測定装置。
[Claims] AD conversion means (1, 2) that samples an analog signal under test at a certain period and converts the sampled value into a digital signal, and performs a squaring operation on the digital output signal of the AD conversion means. A squaring calculator (6) that inputs the squared data and performs an exponential averaging operation thereon; , a square root calculator (8) that performs a square root calculation of these, and an effective value measuring device.
JP22272290A 1990-08-23 1990-08-24 Measuring device for effective value Pending JPH04105073A (en)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005274145A (en) * 2004-03-22 2005-10-06 Agilent Technol Inc Measuring method, module and system
JP2007071576A (en) * 2005-09-05 2007-03-22 Mitsubishi Electric Corp Voltage measuring apparatus
KR100755681B1 (en) * 2006-06-30 2007-09-05 삼성전자주식회사 Apparatus and method for converting analog signal into digital signal
JP2007278954A (en) * 2006-04-11 2007-10-25 Alpine Electronics Inc Consumed current measuring device
CN102207518A (en) * 2011-03-11 2011-10-05 华为技术有限公司 Method and device for detecting effective value of alternating current (AC) voltage
CN104360092A (en) * 2014-10-10 2015-02-18 广东电网有限责任公司电力科学研究院 Instantaneous speed measuring method

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005274145A (en) * 2004-03-22 2005-10-06 Agilent Technol Inc Measuring method, module and system
JP2007071576A (en) * 2005-09-05 2007-03-22 Mitsubishi Electric Corp Voltage measuring apparatus
JP2007278954A (en) * 2006-04-11 2007-10-25 Alpine Electronics Inc Consumed current measuring device
JP4623521B2 (en) * 2006-04-11 2011-02-02 アルパイン株式会社 Current consumption measuring device
KR100755681B1 (en) * 2006-06-30 2007-09-05 삼성전자주식회사 Apparatus and method for converting analog signal into digital signal
US7605729B2 (en) 2006-06-30 2009-10-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus and method for converting analog signal into digital signal taking average value of analog signal for sample period
CN102207518A (en) * 2011-03-11 2011-10-05 华为技术有限公司 Method and device for detecting effective value of alternating current (AC) voltage
CN104360092A (en) * 2014-10-10 2015-02-18 广东电网有限责任公司电力科学研究院 Instantaneous speed measuring method

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