JPH07210068A - Production of surface relief type hologram - Google Patents

Production of surface relief type hologram

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JPH07210068A
JPH07210068A JP385494A JP385494A JPH07210068A JP H07210068 A JPH07210068 A JP H07210068A JP 385494 A JP385494 A JP 385494A JP 385494 A JP385494 A JP 385494A JP H07210068 A JPH07210068 A JP H07210068A
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exposed
hologram
light
surface relief
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Abstract

PURPOSE:To obtain a hologram having desired diffraction efficiency by lessening loss of light at the time of exposure and arbitrarily controlling an exposure distribution in the production of the surface relief type hologram to be used for an optical scanner for scanning a laser beam, etc. CONSTITUTION:A hologram dry plate 10 formed of resist layer 12 and 14 consisting of plural inside and outside layers to be sensitized by light with different wavelengths is first exposed with interference fringes on the outer resist layer 14 by coherent two luminous fluxes to sensitize the outer resist layer 14 and the layer is developed. The inner resist layer 12 is then exposed by the luminous fluxes with the wavelength which does not transmit the outer resist layer 14 and sensitizes the inner resist layer 12 with the outer resist layer 14 after the development as a mask and thereafter, the outer resist layer 14 is removed and the inner resist layer 12 is developed, by which hologram patterns are obtd.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、レーザビームを走査
するための光走査装置などに用いられる表面レリーフ型
ホログラムの製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a surface relief hologram used in an optical scanning device for scanning a laser beam.

【0002】表面レリーフ型ホログラムは、透明板の表
面に凹凸により回折格子を形成したものであり、コヒー
レントな二光束により生じる干渉稿を露光、現像して形
成される。
The surface relief hologram is a transparent plate having a diffraction grating formed on the surface by unevenness, and is formed by exposing and developing an interference pattern generated by two coherent light beams.

【0003】しかし、そのような露光には光強度分布が
あり、それによって生じる露光量分布によって凹凸の深
さに分布が生じ、回折効率が位置によって異なってしま
うので、露光量が全体に均一になるように制御する必要
がある。
However, such an exposure has a light intensity distribution, and the distribution of the exposure amount generated thereby causes a distribution in the depth of the unevenness, and the diffraction efficiency varies depending on the position, so that the exposure amount is uniform over the entire surface. Need to be controlled.

【0004】[0004]

【従来の技術】図11は、従来の表面レリーフ型ホログ
ラムの製造のための干渉露光装置を示しており、レーザ
ビーム発振装置101から出射されたレーザビームがビ
ームスプリッタ102によって二光束に分けられ、各々
ミラー103で反射された後、NDフィルタ104を透
過してホログラム乾板100に達し、ホログラム乾板1
00表面のレジスト層に干渉稿が露光される。そしてそ
れを現像することによって、露光部分に溝が形成された
回折格子ができる。105はレンズである。
2. Description of the Related Art FIG. 11 shows an interference exposure apparatus for manufacturing a conventional surface relief hologram, in which a laser beam emitted from a laser beam oscillator 101 is split into two light beams by a beam splitter 102. After being reflected by the mirrors 103, they pass through the ND filter 104 and reach the hologram dry plate 100.
The interference pattern is exposed on the resist layer on the surface of 00. Then, by developing it, a diffraction grating having a groove formed in the exposed portion is formed. Reference numeral 105 is a lens.

【0005】このような干渉露光装置において、NDフ
ィルタ104に入射する前のレーザ光束の光強度は、図
12に示されるように、周辺ほど小さくなる分布を有し
ている。
In such an interference exposure apparatus, the light intensity of the laser beam before entering the ND filter 104 has a distribution that becomes smaller toward the periphery, as shown in FIG.

【0006】そこで、NDフィルタ104は、図13に
示されるように、中央部分ほど透過率を小さくしてあ
る。その結果、ホログラム乾板100に達する光束(干
渉稿)の光強度分布は、図14に示されるように全体に
ほぼ均一になる。
Therefore, as shown in FIG. 13, the ND filter 104 has a smaller transmittance in the central portion. As a result, the light intensity distribution of the light flux (interference pattern) reaching the hologram dry plate 100 becomes substantially uniform as a whole as shown in FIG.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述のように
NDフィルタ等によって光束の一部をカットしてしまう
と光の損失が多くて効率が悪く、またNDフィルタの金
属膜に含まれている粒子によって散乱が生じ、それがノ
イズ光となって微細な露光量分布が発生するため、所望
の回折効率分布のホログラムを製造することができなか
った。
However, if a part of the light beam is cut by the ND filter or the like as described above, the efficiency of the light is large and the efficiency is low, and it is contained in the metal film of the ND filter. Since the particles cause scattering, which becomes noise light and a minute exposure amount distribution is generated, it is impossible to manufacture a hologram having a desired diffraction efficiency distribution.

【0008】そこで本発明は、露光の際の光の損失が少
なく、しかも露光量分布を任意に制御して所望の回折効
率のホログラムを得ることができる表面レリーフ型ホロ
グラムの製造方法を提供することを目的とする。
Therefore, the present invention provides a method for producing a surface relief hologram in which the loss of light at the time of exposure is small and the exposure dose distribution can be arbitrarily controlled to obtain a hologram having a desired diffraction efficiency. With the goal.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の表面レリーフ型ホログラムの製造方法は、
実施例を説明するための図1に示されるように、異なる
波長の光に感光する内外複数の層からなるレジスト層1
2,14が形成されたホログラム乾板10に、まず外側
のレジスト層14が感光する波長のコヒーレントな二光
束により外側のレジスト層14に干渉稿を露光してそれ
を現像し、次に現像された後の外側のレジスト層14を
マスクとして、外側のレジスト層14を透過せず内側の
レジスト層12が感光する波長の光束によって内側のレ
ジスト層12を露光した後、外側のレジスト層14を除
去し、内側のレジスト層12を現像してホログラムパタ
ーンを得ることを特徴とする。
In order to achieve the above object, a method for producing a surface relief hologram of the present invention comprises:
As shown in FIG. 1 for explaining an embodiment, a resist layer 1 composed of a plurality of inner and outer layers which are exposed to light of different wavelengths.
On the hologram dry plate 10 on which Nos. 2 and 14 are formed, first, an interference pattern is exposed to the outer resist layer 14 by two coherent light fluxes having a wavelength with which the outer resist layer 14 is exposed to develop it, and then it is developed. After the outer resist layer 14 is exposed, the inner resist layer 12 is exposed by a light flux having a wavelength that does not pass through the outer resist layer 14 and is exposed to the inner resist layer 12 using the latter outer resist layer 14 as a mask. The inner resist layer 12 is developed to obtain a hologram pattern.

【0010】なお、上記外側のレジスト層14に、上記
内側のレジスト層12を露光する波長の光を吸収する色
素を混合してもよい。また、上記内側のレジスト層12
と外側のレジスト層14との間に、両層12,14が混
合するのを阻止するための中間層13を設けてもよく、
上記中間層13が水溶性であるとよい。
The outer resist layer 14 may be mixed with a dye that absorbs light having a wavelength for exposing the inner resist layer 12. In addition, the inner resist layer 12
An intermediate layer 13 may be provided between the outer resist layer 14 and the outer resist layer 14 to prevent the layers 12 and 14 from being mixed with each other.
The intermediate layer 13 is preferably water-soluble.

【0011】そして、上記内側のレジスト層12を露光
する光束を一光束にして、その露光量分布を制御すると
よい。
Then, it is preferable that the light flux for exposing the inner resist layer 12 is made into one light flux and the exposure amount distribution thereof is controlled.

【0012】[0012]

【作用】まず、外側のレジスト層14が感光する波長の
コヒーレントな二光束によって外側のレジスト層14に
干渉稿を露光し、それを現像することによって、干渉稿
状の溝が外側のレジスト層14を貫通して形成される。
First, the interference pattern is exposed to the outer resist layer 14 by two coherent light fluxes having a wavelength with which the outer resist layer 14 is exposed, and by developing it, the groove of the interference pattern is formed on the outer resist layer 14. Is formed so as to penetrate through.

【0013】次に、それをマスクとして内側のレジスト
層12を露光する。この露光は一光束でよく、コヒーレ
ント性も不要であり、露光時に容易に露光量分布を調整
することができる。
Next, the inner resist layer 12 is exposed by using it as a mask. This exposure requires only one light flux, does not require coherence, and the exposure dose distribution can be easily adjusted during exposure.

【0014】そして、外側のレジスト層14を除去して
内側のレジスト層12を現像することにより、内側のレ
ジスト層12に露光量に対応する深さの凹凸からなる回
折格子が形成される。
Then, the resist layer 14 on the outer side is removed and the resist layer 12 on the inner side is developed to form a diffraction grating having unevenness of a depth corresponding to the exposure amount on the inner resist layer 12.

【0015】また、内側のレジスト層12を露光する波
長の光を吸収する色素を外側のレジスト層14に混合さ
せれば、内側のレジスト層12を露光する際の外側のレ
ジスト層14の遮光作用がより高まるので、回折格子を
より深くきれいな形に形成して回折効率を高めることが
できる。
Further, when a dye that absorbs light having a wavelength for exposing the inner resist layer 12 is mixed with the outer resist layer 14, the light shielding action of the outer resist layer 14 when exposing the inner resist layer 12 is performed. , The diffraction efficiency can be improved by forming the diffraction grating in a deeper and cleaner shape.

【0016】また、内外両レジスト層12,14の間に
中間層13を設けることにより、両レジスト層12,1
4の混合が防止され、中間層13として水溶性のものを
用いることにより、内側のレジスト層12を露光した後
で中間層13を容易に洗い流して除去することができ
る。
Further, by providing the intermediate layer 13 between the inner and outer resist layers 12, 14, both resist layers 12, 1 are formed.
4 is prevented from mixing, and by using a water-soluble intermediate layer 13, the intermediate layer 13 can be easily washed off and removed after the inner resist layer 12 is exposed.

【0017】[0017]

【実施例】図面を参照して実施例を説明する。図2は本
発明の第1の実施例で用いられるホログラム乾板10を
示しており、短波長側に感度を有する例えばi線(波長
365nm)用ポジ型レジストを透明なガラス基板11
上に塗布して、例えば厚さが2μmの下側のレジスト層
12を形成する。
Embodiments will be described with reference to the drawings. FIG. 2 shows a hologram dry plate 10 used in the first embodiment of the present invention. For example, a positive resist for i-line (wavelength 365 nm) having a sensitivity on the short wavelength side is formed of a transparent glass substrate 11.
The resist layer 12 having a thickness of, for example, 2 μm is formed on the lower side by applying the resist layer 12 thereon.

【0018】そしてその表面に、有機溶剤に対する耐性
を有する水溶性樹脂を塗布して中間層13とした後、そ
の表面に、長波長側に感度を有する例えばg線(波長4
37nm)用ポジ型レジストを塗布して、例えば厚さが
1μmの外側のレジスト層14を形成する。これがホロ
グラム乾板10である。
Then, a water-soluble resin having resistance to an organic solvent is applied to the surface to form the intermediate layer 13, and then, for example, g-line (wavelength 4) having sensitivity on the long wavelength side is applied to the surface.
37 nm) positive resist is applied to form an outer resist layer 14 having a thickness of 1 μm, for example. This is the hologram dry plate 10.

【0019】図3及び図4は内側のレジスト層12の分
光感度と分光透過率を示している。このように、内側の
レジスト層12はi線域に感度があり、i線域からg線
域まで高い透過率を有している。
FIGS. 3 and 4 show the spectral sensitivity and the spectral transmittance of the inner resist layer 12. Thus, the inner resist layer 12 is sensitive to the i-line region and has a high transmittance from the i-line region to the g-line region.

【0020】図5及び図6は外側のレジスト層14の分
光感度と分光透過率を示しており、このように、外側の
レジスト層14はg線域に感度があり、g線域の透過率
は高いがi線域の透過率は極めて低い。したがって、内
側のレジスト層12が感光する波長の光は、外側のレジ
スト層14によって遮られる。
FIGS. 5 and 6 show the spectral sensitivity and the spectral transmittance of the outer resist layer 14, and thus, the outer resist layer 14 is sensitive to the g-line region and the transmittance of the g-line region. Is high, but the transmittance in the i-line region is extremely low. Therefore, light having a wavelength that the inner resist layer 12 is exposed to is blocked by the outer resist layer 14.

【0021】中間層13は、上述のような内側のレジス
ト層12と外側のレジスト層14とが直接触れ合って混
合しないようにするためのものであり、例えば透明なポ
リビニルアルコールなどを用いることができる。
The intermediate layer 13 is for preventing the inner resist layer 12 and the outer resist layer 14 from directly touching and mixing with each other as described above, and for example, transparent polyvinyl alcohol or the like can be used. .

【0022】図7は、第1の実施例における干渉露光装
置を示しており、g線に近い441.6nmの波長のコ
ヒーレントなレーザビームを発振するHe−Cdレーザ
発振装置1から出射されたレーザビームが、ビームスプ
リッタ2によって二光束に分けられ、各々ミラー3で反
射された後、ホログラム乾板10に達して、ホログラム
乾板10の外側のレジスト層14に干渉稿が露光され
る。5はレンズである。そして、外側のレジスト層14
に露光された干渉稿を現像すると、露光部分が外側のレ
ジスト層14を貫通する溝になる。
FIG. 7 shows an interference exposure apparatus according to the first embodiment, in which a laser emitted from a He-Cd laser oscillator 1 which oscillates a coherent laser beam having a wavelength of 441.6 nm close to the g-line. The beam is split into two light beams by the beam splitter 2 and reflected by the mirrors 3, respectively, and then reaches the hologram dry plate 10, and the interference pattern is exposed on the resist layer 14 outside the hologram dry plate 10. 5 is a lens. Then, the outer resist layer 14
When the interference pattern exposed to the above is developed, the exposed portion becomes a groove penetrating the outer resist layer 14.

【0023】そこで図1に示されるように、その外側の
レジスト層14をマスクとして、i線域の波長の光を出
射する水銀ランプ6をホログラム乾板10に照射して、
一光束露光を行う。外側のレジスト層14はi線域の波
長の光に対して強い吸収性があるので、外側のレジスト
層14の存在しない溝部分を通った光によって、内側の
レジスト層12が露光される。
Therefore, as shown in FIG. 1, the hologram dry plate 10 is irradiated with a mercury lamp 6 which emits light having a wavelength in the i-line region, using the resist layer 14 on the outside as a mask.
Single-beam exposure is performed. Since the outer resist layer 14 has strong absorption of light having a wavelength in the i-line region, the inner resist layer 12 is exposed by the light passing through the groove portion where the outer resist layer 14 does not exist.

【0024】このような水銀ランプ6等による一光束露
光は、被露光部に対する部分露光を容易に行うことがで
きるので、例えば被露光部を部分毎に時間を変えて露光
する等の方法により、任意の露光量分布を容易に与える
ことができる。
In the one-beam exposure using the mercury lamp 6 or the like, partial exposure can be easily performed on the exposed portion. Therefore, for example, the exposed portion is exposed by changing the time for each portion. An arbitrary exposure dose distribution can be easily given.

【0025】その露光が終了したら、外側のレジスト層
14を有機溶剤で溶かして除去した後、中間層13を水
で溶かして除去する。そして、内側のレジスト層12を
アルカリを用いて現像処置することにより、露光部分が
凹溝になり、図8に示されるような、回折格子として用
いることのできるホログラムパターンが得られる。
After the exposure is finished, the outer resist layer 14 is dissolved and removed with an organic solvent, and then the intermediate layer 13 is dissolved and removed with water. Then, the resist layer 12 on the inner side is subjected to a developing treatment with an alkali so that the exposed portion becomes a concave groove, and a hologram pattern which can be used as a diffraction grating as shown in FIG. 8 is obtained.

【0026】このようにして得られるホログラムパター
ンの溝の深さは、内側のレジスト層12に対する露光量
に対応する。したがって、水銀ランプ6による露光量を
部分毎に変えることによって、溝深さを任意に制御し
て、所望の回折効率分布を得ることができる。
The depth of the groove of the hologram pattern thus obtained corresponds to the exposure amount for the inner resist layer 12. Therefore, by changing the exposure amount of the mercury lamp 6 for each part, the groove depth can be arbitrarily controlled and a desired diffraction efficiency distribution can be obtained.

【0027】次に、本発明の第2の実施例について説明
をする。ここでは、i線域の波長の光をよく吸収する色
素を外側のレジスト層14に混合させる。すると、図9
に示されるように、外側のレジスト層14のi線域の透
過率がさらに小さくなる。
Next, a second embodiment of the present invention will be described. Here, a dye that absorbs light having a wavelength in the i-ray region is mixed with the outer resist layer 14. Then, as shown in FIG.
As shown in, the transmittance of the outer resist layer 14 in the i-line region is further reduced.

【0028】そのような外側のレジスト層14を用いて
前述の第1の実施例と同様にしてホログラムパターンを
形成する。すると、外側のレジスト層14をマスクとし
て行われる内側のレジスト層12に対する露光のコント
ラストが大きくなるので、図10に示されるように、形
くずれの少ない、より深い溝のホログラムパターンを得
ることができる。
A hologram pattern is formed using such an outer resist layer 14 in the same manner as in the first embodiment. Then, the contrast of the exposure to the inner resist layer 12 performed using the outer resist layer 14 as a mask becomes large, and as shown in FIG. 10, it is possible to obtain a hologram pattern of a deeper groove with less shape loss. .

【0029】[0029]

【発明の効果】本発明によれば、ホログラムパターンを
形成するためのレジスト層に対して任意の露光量分布で
露光することができるので、溝深さを任意に制御して所
望の回折効率分布でホログラムを製造することができ
る。また、干渉稿を得るための二光束露光の際には、コ
ヒーレント光束をフィルター等を通すことなくホログラ
ム乾板の表面に直接的に露光するので露光のロスが少な
く、露光時間を短縮することによって歩留まりが向上す
る等の効果がある。
According to the present invention, since the resist layer for forming the hologram pattern can be exposed with an arbitrary exposure amount distribution, the groove depth can be arbitrarily controlled to obtain a desired diffraction efficiency distribution. Holograms can be manufactured with. In addition, when performing two-beam exposure to obtain an interference pattern, the coherent light beam is directly exposed to the surface of the hologram dry plate without passing through a filter or the like, so there is little exposure loss and the yield is shortened by shortening the exposure time. Has the effect of improving

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1の実施例の工程図である。FIG. 1 is a process drawing of a first embodiment.

【図2】第1の実施例のホログラム乾板の断面図であ
る。
FIG. 2 is a sectional view of a hologram dry plate according to the first embodiment.

【図3】第1の実施例の内側のレジスト層の分光感度特
性線図である。
FIG. 3 is a spectral sensitivity characteristic diagram of a resist layer on the inner side of the first embodiment.

【図4】第1の実施例の内側のレジスト層の分光透過率
特性線図である。
FIG. 4 is a spectral transmittance characteristic diagram of a resist layer on the inner side of the first embodiment.

【図5】第1の実施例の外側のレジスト層の分光感度特
性線図である。
FIG. 5 is a spectral sensitivity characteristic diagram of the resist layer on the outer side of the first embodiment.

【図6】第1の実施例の外側のレジスト層の分光透過率
特性線図である。
FIG. 6 is a spectral transmittance characteristic diagram of a resist layer on the outer side of the first embodiment.

【図7】第1の実施例の干渉露光装置の略示図である。FIG. 7 is a schematic view of an interference exposure apparatus of the first embodiment.

【図8】第1の実施例により得られるホログラムパター
ンの断面図である。
FIG. 8 is a cross-sectional view of a hologram pattern obtained according to the first embodiment.

【図9】第2の実施例の外側のレジスト層の分光透過率
特性線図である。
FIG. 9 is a spectral transmittance characteristic diagram of a resist layer on the outside of the second example.

【図10】第2の実施例により得られるホログラムパタ
ーンの断面図である。
FIG. 10 is a cross-sectional view of a hologram pattern obtained according to the second embodiment.

【図11】従来例の干渉露光装置の略示図である。FIG. 11 is a schematic diagram of a conventional interference exposure apparatus.

【図12】従来例の光強度分布特性線図である。FIG. 12 is a light intensity distribution characteristic diagram of a conventional example.

【図13】従来例のフィルタの透過率分布特性線図であ
る。
FIG. 13 is a transmittance distribution characteristic diagram of a conventional filter.

【図14】従来例の露光強度分布特性線図である。FIG. 14 is an exposure intensity distribution characteristic diagram of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 ホログラム乾板 11 ガラス基板 12 内側のレジスト層 13 中間層 14 外側のレジスト層 10 Hologram Dry Plate 11 Glass Substrate 12 Inner Resist Layer 13 Intermediate Layer 14 Outer Resist Layer

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】異なる波長の光に感光する内外複数の層か
らなるレジスト層(12,14)が形成されたホログラ
ム乾板(10)に、まず外側のレジスト層(14)が感
光する波長のコヒーレントな二光束により外側のレジス
ト層(14)に干渉稿を露光してそれを現像し、次に現
像された後の外側のレジスト層(14)をマスクとし
て、外側のレジスト層(14)を透過せず内側のレジス
ト層(12)が感光する波長の光束によって内側のレジ
スト層(12)を露光した後、外側のレジスト層(1
4)を除去し、内側のレジスト層(12)を現像してホ
ログラムパターンを得ることを特徴とする表面レリーフ
型ホログラムの製造方法。
1. A hologram dry plate (10) on which a resist layer (12, 14) composed of a plurality of inner and outer layers which are exposed to light of different wavelengths is formed, and first, a coherent wavelength of which the outer resist layer (14) is exposed. The outer resist layer (14) is exposed to the outer resist layer (14) by two light fluxes and developed, and then the outer resist layer (14) after development is used as a mask to pass through the outer resist layer (14). Without exposing the inner resist layer (12) with a light flux having a wavelength that the inner resist layer (12) is exposed to, the outer resist layer (1) is exposed.
4) is removed and the inner resist layer (12) is developed to obtain a hologram pattern, which is a method for producing a surface relief hologram.
【請求項2】上記外側のレジスト層(14)に、上記内
側のレジスト層(12)を露光する波長の光を吸収する
色素を混合した請求項1記載の表面レリーフ型ホログラ
ムの製造方法。
2. The method for producing a surface relief hologram according to claim 1, wherein the outer resist layer (14) is mixed with a dye which absorbs light having a wavelength for exposing the inner resist layer (12).
【請求項3】上記内側のレジスト層(12)と外側のレ
ジスト層(14)との間に、両層(12,14)が混合
するのを阻止するための中間層(13)が設けられてい
る請求項1又は2記載の表面レリーフ型ホログラムの製
造方法。
3. An intermediate layer (13) is provided between the inner resist layer (12) and the outer resist layer (14) to prevent both layers (12, 14) from mixing with each other. The method for producing a surface relief hologram according to claim 1 or 2.
【請求項4】上記中間層(13)が水溶性である請求項
3記載の表面レリーフ型ホログラムの製造方法。
4. The method for producing a surface relief hologram according to claim 3, wherein the intermediate layer (13) is water-soluble.
【請求項5】上記内側のレジスト層(12)を露光する
光束が一光束であり、その露光量分布が制御される請求
項1、2、3又は4記載の表面レリーフ型ホログラムの
製造方法。
5. The method for producing a surface relief hologram according to claim 1, wherein the light flux for exposing the inner resist layer (12) is one light flux, and the exposure amount distribution is controlled.
JP00385494A 1994-01-19 1994-01-19 Method for producing surface relief hologram Expired - Lifetime JP3394079B2 (en)

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