JPH07209061A - 粉粒体レベル計 - Google Patents
粉粒体レベル計Info
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- JPH07209061A JPH07209061A JP6006247A JP624794A JPH07209061A JP H07209061 A JPH07209061 A JP H07209061A JP 6006247 A JP6006247 A JP 6006247A JP 624794 A JP624794 A JP 624794A JP H07209061 A JPH07209061 A JP H07209061A
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- Japan
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- granular material
- powder
- capacitance
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- electrodes
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- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 粉粒体を貯蔵するホッパに用いられるレベル
計に関し、粉粒体の堆積した内部に発生する空洞を事前
に見つけ、レベル計測の不具合をなくす。 【構成】 ホッパ1には電極3,4,5を間隔を置いて
配設し、粉粒体2が堆積してゆくに従ってそれらの静電
容量が変化し、大きくなる。静電容量計6,7,8から
の信号A,B,Cは演算器9内の比較器11に入り、装
置10からはあらかじめ測定された正常な静電容量のパ
ターンA’,B’,C’が入力され、両者は比較され、
異なっていれば粉粒体2の堆積内に空洞Hがあると判断
し、警報器13に指令し、警報信号15を出す。正常時
はレベル計算器12でレベル信号14を出すので粉粒体
2内の空洞が事前に発見でき、レベル値が実際のレベル
と異なるようなことがない。
計に関し、粉粒体の堆積した内部に発生する空洞を事前
に見つけ、レベル計測の不具合をなくす。 【構成】 ホッパ1には電極3,4,5を間隔を置いて
配設し、粉粒体2が堆積してゆくに従ってそれらの静電
容量が変化し、大きくなる。静電容量計6,7,8から
の信号A,B,Cは演算器9内の比較器11に入り、装
置10からはあらかじめ測定された正常な静電容量のパ
ターンA’,B’,C’が入力され、両者は比較され、
異なっていれば粉粒体2の堆積内に空洞Hがあると判断
し、警報器13に指令し、警報信号15を出す。正常時
はレベル計算器12でレベル信号14を出すので粉粒体
2内の空洞が事前に発見でき、レベル値が実際のレベル
と異なるようなことがない。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はチャー、灰、等の粉粒体
を貯蔵するホッパ等に適用される粉粒体レベル計に関す
る。
を貯蔵するホッパ等に適用される粉粒体レベル計に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来の静電容量を利用した粉粒体層のレ
ベル計測装置の構成を図3に示す。ホッパ21にたまっ
た粉粒体22が電極23の間に入り、電極23の静電容
量が変化する。静電容量計24はこの変化を検出し、得
られた容量値をレベル変換器25に送る。レベル変換器
25はあらかじめ測定された容量値とレベルの関係から
粉粒体の層レベルを出力する。
ベル計測装置の構成を図3に示す。ホッパ21にたまっ
た粉粒体22が電極23の間に入り、電極23の静電容
量が変化する。静電容量計24はこの変化を検出し、得
られた容量値をレベル変換器25に送る。レベル変換器
25はあらかじめ測定された容量値とレベルの関係から
粉粒体の層レベルを出力する。
【0003】図4はこの種のレベル計に用いられる電極
23の構造を示す断面図である。2枚の金属板23a,
23bを適当な間隔で絶縁物26を介して対面させて電
極を構成し、この両金属板23a,23bの間の静電容
量を測定するものである。通常、空気は誘電率が低い
が、金属板23a,23bの間に粉粒体が入ると誘電率
が高くなり、静電容量が増加して粉体の存在が確認でき
る。
23の構造を示す断面図である。2枚の金属板23a,
23bを適当な間隔で絶縁物26を介して対面させて電
極を構成し、この両金属板23a,23bの間の静電容
量を測定するものである。通常、空気は誘電率が低い
が、金属板23a,23bの間に粉粒体が入ると誘電率
が高くなり、静電容量が増加して粉体の存在が確認でき
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来のレベル計では電
極23a,23b間に入った粉粒体の量及び密度がレベ
ル決定の要因となっている。従って粉粒体が異常な形で
堆積したり、層の内部に空洞が出来てしまった場合、従
来のレベル計では実際のレベルと異なる値を出力してし
まう。
極23a,23b間に入った粉粒体の量及び密度がレベ
ル決定の要因となっている。従って粉粒体が異常な形で
堆積したり、層の内部に空洞が出来てしまった場合、従
来のレベル計では実際のレベルと異なる値を出力してし
まう。
【0005】本発明では、複数個設置した電極の容量変
化を、あらかじめ測定した正常状態の容量変化の傾向と
比較し粉粒体層の異常な堆積が発生した場合にはこれを
事前に知ることができる粉粒体レベル計を提供すること
を目的としている。
化を、あらかじめ測定した正常状態の容量変化の傾向と
比較し粉粒体層の異常な堆積が発生した場合にはこれを
事前に知ることができる粉粒体レベル計を提供すること
を目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明はそのため、粉粒
体層に電極を複数個設置し、各電極の静電容量の変化を
監視する。通常粉粒体がたまる場合、槽の下側に設置し
た電極から順に埋まっていき、それに合わせて静電容量
が大きくなっていく。また、完全に埋まった電極の静電
容量はそれ以上大きくならない。このように正常な状態
での各電極及び電極相互の静電容量変化の関係をあらか
じめ記憶しておき、これと現在の静電容量変化を演算器
に入力して比較することによって粉粒体の異常な堆積推
定するような手段とする。
体層に電極を複数個設置し、各電極の静電容量の変化を
監視する。通常粉粒体がたまる場合、槽の下側に設置し
た電極から順に埋まっていき、それに合わせて静電容量
が大きくなっていく。また、完全に埋まった電極の静電
容量はそれ以上大きくならない。このように正常な状態
での各電極及び電極相互の静電容量変化の関係をあらか
じめ記憶しておき、これと現在の静電容量変化を演算器
に入力して比較することによって粉粒体の異常な堆積推
定するような手段とする。
【0007】即ち、本発明は、一対の金属板からなる電
極を粉粒体槽内に設置し、同電極の金属板間に入る粉粒
体の量の変化による同金属板間の静電容量の変化を測定
して粉粒体の層レベルを測定する粉粒体レベル計におい
て、前記電極を前記粉粒体槽の高さ方向に複数個間隔を
置いて設置すると共に、同複数個の電極においてあらか
じめ測定した正常な静電容量の変化のパターンを記憶し
出力する装置と、同装置より出力するパターンと前記複
数の電極で測定した静電容量の変化とを比較して許容値
以上異る場合に前記粉粒体槽内部の粉粒体の堆積状態に
異常有りと推定する演算器とを具備してなることを特徴
とする粉粒体レベル計を提供する。
極を粉粒体槽内に設置し、同電極の金属板間に入る粉粒
体の量の変化による同金属板間の静電容量の変化を測定
して粉粒体の層レベルを測定する粉粒体レベル計におい
て、前記電極を前記粉粒体槽の高さ方向に複数個間隔を
置いて設置すると共に、同複数個の電極においてあらか
じめ測定した正常な静電容量の変化のパターンを記憶し
出力する装置と、同装置より出力するパターンと前記複
数の電極で測定した静電容量の変化とを比較して許容値
以上異る場合に前記粉粒体槽内部の粉粒体の堆積状態に
異常有りと推定する演算器とを具備してなることを特徴
とする粉粒体レベル計を提供する。
【0008】
【作用】本発明は、このような手段により、粉粒体が粉
粒体槽に設置した下の電極から順にたまって複数の電極
を埋めてゆき、それに合わせて各電極の静電容量が大き
くなってゆく。電極が完全に埋まってしまい、電極の金
属板間が埋まると静電容量は飽和してそれ以上大きくな
らない。このような正常な状態の各電極での静電容量の
変化のパターンがあらかじめ測定され、記憶されている
ので、これらの正常なパターンと複数の電極で測定され
た現在の静電容量の変化とを演算器で比較し、両者の間
に差があり、正常なパターンと著しく異なる静電容量値
が測定されるとその対応する電極の位置で堆積した粉粒
体の中に空洞、等が発生し、堆積状態が異常であると推
定する。
粒体槽に設置した下の電極から順にたまって複数の電極
を埋めてゆき、それに合わせて各電極の静電容量が大き
くなってゆく。電極が完全に埋まってしまい、電極の金
属板間が埋まると静電容量は飽和してそれ以上大きくな
らない。このような正常な状態の各電極での静電容量の
変化のパターンがあらかじめ測定され、記憶されている
ので、これらの正常なパターンと複数の電極で測定され
た現在の静電容量の変化とを演算器で比較し、両者の間
に差があり、正常なパターンと著しく異なる静電容量値
が測定されるとその対応する電極の位置で堆積した粉粒
体の中に空洞、等が発生し、堆積状態が異常であると推
定する。
【0009】このような場合は、レベル値は実際のレベ
ルと異る値となるので事前に警報、等で知らせることが
でき、誤ったレベル計の測定を回避することができ、
又、粉粒体を槽から払い出す際に槽の下側だけが出てし
まい、上側が固着して動かない様な事態をまねく間違っ
たレベル検出も防ぐことができる。
ルと異る値となるので事前に警報、等で知らせることが
でき、誤ったレベル計の測定を回避することができ、
又、粉粒体を槽から払い出す際に槽の下側だけが出てし
まい、上側が固着して動かない様な事態をまねく間違っ
たレベル検出も防ぐことができる。
【0010】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を用いて具体的
に説明する。図1は本発明の一実施例に係る粉粒体レベ
ル計の構成図、図2はあらかじめ測定した各電極の静電
容量の変化と粉粒体層内に空洞等、ができて異常な形で
堆積した場合の各電極の静電容量変化を比較したもの
で、比較器9の処理内容を説明するための図である。
に説明する。図1は本発明の一実施例に係る粉粒体レベ
ル計の構成図、図2はあらかじめ測定した各電極の静電
容量の変化と粉粒体層内に空洞等、ができて異常な形で
堆積した場合の各電極の静電容量変化を比較したもの
で、比較器9の処理内容を説明するための図である。
【0011】図1においてホッパ1に3個の電極3,
4,5が高さ方向に適度な間隔をおいて取付けてある。
ホッパ1に粉粒体2が入ると各電極3,4,5の静電容
量が粉粒体2によって埋まる量で変化する。この静電容
量をおのおの静電容量計6,7,8で計測し、それらの
値A,B,Cを演算器9に入力する。
4,5が高さ方向に適度な間隔をおいて取付けてある。
ホッパ1に粉粒体2が入ると各電極3,4,5の静電容
量が粉粒体2によって埋まる量で変化する。この静電容
量をおのおの静電容量計6,7,8で計測し、それらの
値A,B,Cを演算器9に入力する。
【0012】演算器9は比較器11とレベル計算器1
2、警報器13より構成されており、入力された静電容
量値A,B,Cとあらかじめ測定してあった正常な静電
容量の変化A’,B’,C’を装置10から比較器11
に入力し、これらを比較処理し、2つの容量変化が同じ
であるか又は許容範囲以内の差であればレベル計算器1
2に容量値を送り、層レベル値14を出力する。また、
2つの容量変化が明らかに異なる場合、警報器13に容
量値を送り、警報15を出力する。
2、警報器13より構成されており、入力された静電容
量値A,B,Cとあらかじめ測定してあった正常な静電
容量の変化A’,B’,C’を装置10から比較器11
に入力し、これらを比較処理し、2つの容量変化が同じ
であるか又は許容範囲以内の差であればレベル計算器1
2に容量値を送り、層レベル値14を出力する。また、
2つの容量変化が明らかに異なる場合、警報器13に容
量値を送り、警報15を出力する。
【0013】図2はあらかじめ測定した粉粒体が正常に
たまった時の静電容量の変化16,17,18を実線で
示し、実際に測定した静電容量の変化19,20,21
を点線で示し、(a),(b),(c)は図1における
電極3,4,5に対応している図である。
たまった時の静電容量の変化16,17,18を実線で
示し、実際に測定した静電容量の変化19,20,21
を点線で示し、(a),(b),(c)は図1における
電極3,4,5に対応している図である。
【0014】これらの曲線は何かの原因で粉粒体層内部
に図1に示すような空洞H、等が出来てしまった場合の
電極5,4,3の静電容量の変化をそれぞれ点線19,
20,21で示しているが、これらを比較、検討する
と、この図から、(a)の曲線21が「0」でないこと
から、粉粒体はある程度たまっているが、電極3がうま
る程度まで粉粒体がホッパ1にたまっていないことが分
かる。又、(b)の曲線20はあらかじめ測定した変化
17と比べ、ほとんど同じであるので電極4はほぼ粉粒
体で正常にうまっていると判断される。更に、(c)の
曲線19はあらかじめ設定された曲線16に比べて飽和
時の値が小さい。従って電極5は全体が粉粒体に埋って
ないことが分かる。つまり、電極5は最下部にあり、全
部埋まるべきであるが、図1に示すように、空洞Hが生
じており電極5は粉粒体に埋っているが粉粒体内部で電
極の一部分が空洞Hにより粉粒体に接してないと推定さ
れる。
に図1に示すような空洞H、等が出来てしまった場合の
電極5,4,3の静電容量の変化をそれぞれ点線19,
20,21で示しているが、これらを比較、検討する
と、この図から、(a)の曲線21が「0」でないこと
から、粉粒体はある程度たまっているが、電極3がうま
る程度まで粉粒体がホッパ1にたまっていないことが分
かる。又、(b)の曲線20はあらかじめ測定した変化
17と比べ、ほとんど同じであるので電極4はほぼ粉粒
体で正常にうまっていると判断される。更に、(c)の
曲線19はあらかじめ設定された曲線16に比べて飽和
時の値が小さい。従って電極5は全体が粉粒体に埋って
ないことが分かる。つまり、電極5は最下部にあり、全
部埋まるべきであるが、図1に示すように、空洞Hが生
じており電極5は粉粒体に埋っているが粉粒体内部で電
極の一部分が空洞Hにより粉粒体に接してないと推定さ
れる。
【0015】次に、このような構成の粉粒体レベル計の
作用を説明する。まず、ホッパ1内に電極3,4,5を
下から順に間隔を置いて3個設置する。粉粒体2がホッ
パ1内に除々にたまってゆき、電極5,4,3と順に埋
まってゆき、それに従って各電極の静電容量が大きくな
ってゆくのでこの変化は静電容量計6,7,8で検出し
て演算器9の比較器11に信号A,B,Cとして入力さ
れる。
作用を説明する。まず、ホッパ1内に電極3,4,5を
下から順に間隔を置いて3個設置する。粉粒体2がホッ
パ1内に除々にたまってゆき、電極5,4,3と順に埋
まってゆき、それに従って各電極の静電容量が大きくな
ってゆくのでこの変化は静電容量計6,7,8で検出し
て演算器9の比較器11に信号A,B,Cとして入力さ
れる。
【0016】一方、粉粒体が正常に堆積した時の静電容
量の変化曲線を同じ電極4,5,6の配置として測定し
ておき、パターンA’,B’,C’として装置10に記
憶しておく。これらのパターンA’,B’,C’を装置
10より比較器11に入力する。なお、これらのあらか
じめ記憶しておくパターンは装置10に記憶させておい
ても良く、又、外部の装置より入力しても良いものであ
る。
量の変化曲線を同じ電極4,5,6の配置として測定し
ておき、パターンA’,B’,C’として装置10に記
憶しておく。これらのパターンA’,B’,C’を装置
10より比較器11に入力する。なお、これらのあらか
じめ記憶しておくパターンは装置10に記憶させておい
ても良く、又、外部の装置より入力しても良いものであ
る。
【0017】比較器11ではこれらのA,B,Cと
A’,B’,C’をそれぞれ前述のように比較し、図2
(C)のようにCとC’に差があれば電極5の部分の粉
粒体内部に空洞Hが発生していると判断し、警報器13
に指令を出し、警報器13は警報信号15を発し、音声
又は警報ランプ等を点灯してホッパ1の電極5の部分に
空洞がある旨、警報する。なお、前述の差は、あらかじ
め許容範囲を定めておき、この許容値以内の差は、正常
とみなすようにすれば、より実用的となる。
A’,B’,C’をそれぞれ前述のように比較し、図2
(C)のようにCとC’に差があれば電極5の部分の粉
粒体内部に空洞Hが発生していると判断し、警報器13
に指令を出し、警報器13は警報信号15を発し、音声
又は警報ランプ等を点灯してホッパ1の電極5の部分に
空洞がある旨、警報する。なお、前述の差は、あらかじ
め許容範囲を定めておき、この許容値以内の差は、正常
とみなすようにすれば、より実用的となる。
【0018】異常がない場合にはレベル計算器12へ正
常な静電容量の信号を送り、計算器12はそれらの信号
に基づいてホッパ1内の粉粒体の層レベル値を算出して
レベル信号14を出力する。
常な静電容量の信号を送り、計算器12はそれらの信号
に基づいてホッパ1内の粉粒体の層レベル値を算出して
レベル信号14を出力する。
【0019】なお、上記実施例では、電極の数を3個と
して説明したが、本発明においては、電極数を3個に限
定するものではなく、ホッパのサイズや粉粒体の種類に
より電極の数、配置、間隔を任意に設定すれば前述と同
じ作用、効果を奏するものである。
して説明したが、本発明においては、電極数を3個に限
定するものではなく、ホッパのサイズや粉粒体の種類に
より電極の数、配置、間隔を任意に設定すれば前述と同
じ作用、効果を奏するものである。
【0020】以上、説明の実施例によれば、電極4,
5,6をホッパ1内に順次配置し、粉粒体2の堆積によ
る静電容量の変化A,B,Cを測定し、あらかじめ測定
した正常な変化曲線A’,B’,C’とを演算器9で比
較することにより粉粒体2内の空洞Hの発生の異常を判
定し、警報器13により警報信号14を出すようなレベ
ル計としたので、ホッパ1内の粉粒体2内部の空洞発生
が事前に発見でき、これに起因する実際のレベルと異な
るレベル値を出力してトラブルを発生することが未然に
防止されるものである。
5,6をホッパ1内に順次配置し、粉粒体2の堆積によ
る静電容量の変化A,B,Cを測定し、あらかじめ測定
した正常な変化曲線A’,B’,C’とを演算器9で比
較することにより粉粒体2内の空洞Hの発生の異常を判
定し、警報器13により警報信号14を出すようなレベ
ル計としたので、ホッパ1内の粉粒体2内部の空洞発生
が事前に発見でき、これに起因する実際のレベルと異な
るレベル値を出力してトラブルを発生することが未然に
防止されるものである。
【0021】
【発明の効果】以上、具体的に説明したように、本発明
のレベル計によれば、粉粒体槽に電極を複数枚順次配置
して粉粒体の堆積による静電容量の変化を測定し、あら
かじめ測定しておいた正常な静電容量の変化のパターン
と、これら測定した変化とを演算器で比較することによ
り、粉粒体槽内での粉粒体内部の空洞発生、等の異常の
発生を判断し、粉粒体の堆積状態に異常が発生した場合
には警報、等を発するようにすれば、粉粒体内部の堆積
の異常状態が事前に発見できると共にこれに起因して起
るレベル値が実際のレベル値と異なるような事態を防止
することができるものである。
のレベル計によれば、粉粒体槽に電極を複数枚順次配置
して粉粒体の堆積による静電容量の変化を測定し、あら
かじめ測定しておいた正常な静電容量の変化のパターン
と、これら測定した変化とを演算器で比較することによ
り、粉粒体槽内での粉粒体内部の空洞発生、等の異常の
発生を判断し、粉粒体の堆積状態に異常が発生した場合
には警報、等を発するようにすれば、粉粒体内部の堆積
の異常状態が事前に発見できると共にこれに起因して起
るレベル値が実際のレベル値と異なるような事態を防止
することができるものである。
【図1】本発明の一実施例に係る粉粒体レベル計の構成
図である。
図である。
【図2】本発明の一実施例に係る実際の静電容量測定値
とあらかじめ測定した正常な測定値との曲線を示す図
で、(a),(b),(c)はホッパ上方から配置され
た3枚の電極での状態を示す。
とあらかじめ測定した正常な測定値との曲線を示す図
で、(a),(b),(c)はホッパ上方から配置され
た3枚の電極での状態を示す。
【図3】従来の粉粒体レベル計の構成図である。
【図4】粉粒体レベル計での一般的な電極の断面図であ
る。
る。
【符号の説明】 1 ホッパ 2 粉粒体 3 電極(上) 4 電極(中) 5 電極(下) 6 静電容量計(上) 7 静電容量計(中) 8 静電容量計(下) 9 演算器 10 入力装置 11 比較器 12 レベル計算器 13 警報器 14 レベル信号 15 警報信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 天野 一朗 長崎市飽の浦町1番1号 三菱重工業株式 会社長崎造船所内
Claims (1)
- 【請求項1】 一対の金属板からなる電極を粉粒体槽内
に設置し、同電極の金属板間に入る粉粒体の量の変化に
よる同金属板間の静電容量の変化を測定して粉粒体の層
レベルを測定する粉粒体レベル計において、前記電極を
前記粉粒体槽の高さ方向に複数個間隔を置いて設置する
と共に、同複数個の電極においてあらかじめ測定した正
常な静電容量の変化のパターンを記憶し、出力する装置
と、同装置より出力するパターンと前記複数の電極で測
定した静電容量の変化とを比較して許容値以上異る場合
に前記粉粒体槽内部の粉粒体の堆積状態に異常有りと推
定する演算器とを具備してなることを特徴とする粉粒体
レベル計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP00624794A JP3170130B2 (ja) | 1994-01-25 | 1994-01-25 | 粉粒体レベル計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP00624794A JP3170130B2 (ja) | 1994-01-25 | 1994-01-25 | 粉粒体レベル計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07209061A true JPH07209061A (ja) | 1995-08-11 |
JP3170130B2 JP3170130B2 (ja) | 2001-05-28 |
Family
ID=11633173
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP00624794A Expired - Fee Related JP3170130B2 (ja) | 1994-01-25 | 1994-01-25 | 粉粒体レベル計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3170130B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013152131A (ja) * | 2012-01-25 | 2013-08-08 | Meiji Shiryo Kk | タンク及びタンク内の内容物管理システム |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102020122196B3 (de) | 2020-08-25 | 2021-09-30 | Dürr Dental SE | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Speicherfunktionalität einer Speicherfolie für Röntgenbilder |
-
1994
- 1994-01-25 JP JP00624794A patent/JP3170130B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013152131A (ja) * | 2012-01-25 | 2013-08-08 | Meiji Shiryo Kk | タンク及びタンク内の内容物管理システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3170130B2 (ja) | 2001-05-28 |
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