JPH0719823A - 物体形状認識方法及びその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ノイズや外乱光の影響を抑制することにより
測定対象物の３次元形状等の測定精度の向上を図る。 【構成】 スリットレーザ光投光器１と、ＣＣＤカメラ
５と、スリットレーザ光を２本の平行なレーザ光に分岐
し測定対象物へ導くハーフミラー２，固定ミラー３，回
転ミラー４と、分岐レーザ光照射時にＣＣＤカメラ５に
より撮影した測定対象物の輝線を含む画像から分岐レー
ザ光照射前にＣＣＤカメラ５により撮影した測定対象物
の輝線を含まない画像を差し引いて輝線抽出用画像を作
成し，輝線抽出用画像において輝度が比較的高い部分を
識別し，高輝度部分の中から所定の間隔を有し所定の輝
度差を有する隣接した２つの高輝度部分を輝線として抽
出し，抽出輝線に基づき測定対象物の３次元形状を認識
するＣＰＵ８とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、物体形状認識方法及び
その装置に係り、特に、物体の３次元形状や地形等を測
定する場合に好適な物体形状認識方法及びその装置に関
する。

【０００２】

【従来の技術】従来、例えば図１１に示す如く、レーザ
投光器５０から発生させたスリット状のレーザ光Ｈを固
定ミラー５１及び回転ミラー５２で反射させて測定対象
物５３へ照射し、測定対象物５３へ照射したスリットレ
ーザ光Ｈによって生ずる輝線をＣＣＤカメラ５４（又は
ＰＳＤカメラ等）により撮像し、当該撮像データに基づ
き測定対象物５３の３次元形状を測定するようにした物
体形状検査装置が開発されている。この場合、撮像手段
としては、画像処理が可能なＣＣＤカメラが多く使用さ
れている。

【０００３】前述したスリットレーザ光を使用して物体
の形状を測定する場合には、図１２に示す如く、レーザ
投光器５０から測定対象物へ照射したスリットレーザ光
によって生ずる輝線を如何に抽出するかが測定精度を向
上させる上で重要となっている。即ち、図１３に示す如
く、測定対象物へ照射したスリットレーザ光によって生
ずる輝線をＸ−Ｙ座標軸に対応させた時、Ｙ軸に平行な
或る直線Ｌと交わる輝線は１本だけ存在するため、或る
直線Ｌと輝線との交点に対して上下方向の光切断面にお
ける波形を処理すれば輝線を抽出することができる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た従来技術にあっては、測定対象物へ照射したスリット
レーザ光をＣＣＤカメラで撮像する際に、例えば帯域通
過フィルタ等でノイズや外乱光を或る程度までは遮断す
ることは可能であるが、ノイズや外乱光を完全に除去す
ることはできないため、測定精度の面で問題があった。
また、例えば図１４に示す如く、測定対象物の形状如何
では輝線の付近に反射が生ずるため、正確な輝線を抽出
することができず、上記と同様に測定精度が低下する問
題があった。更に、例えば図１５に示す如く、輝線の近
傍にノイズが乗っていた場合、輝線抽出の基準をピーク
とした時はノイズＡが輝線として誤認識され、輝線抽出
の基準を所定区間の積分値（ピーク部分の面積）の最大
値とした時はノイズＢが輝線として誤認識される可能性
があるという不具合があった。

【０００５】

【発明の目的】本発明は、上記従来例の有する不都合を
改善し、特に、ノイズや外乱光の影響を抑制することに
より測定対象物の３次元形状等の測定精度の向上を図っ
た物体形状認識方法及びその装置の提供を目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明の物体形状認識方
法では、レーザ光を２本の平行なレーザ光に分岐した分
岐レーザ光を測定対象物へ照射すると共に当該分岐レー
ザ光の照射前後にわたって当該測定対象物を撮影し、前
記分岐レーザ光照射時に撮影した測定対象物の輝線を含
んだ画像から前記分岐レーザ光照射前に撮影した測定対
象物の輝線を含まない画像を差し引いて輝線抽出用画像
を作成し、当該輝線抽出用画像において輝度が比較的高
い部分を取り出し、当該高輝度部分の中から所定の間隔
を有し所定の輝度差を有する隣接した２つの高輝度部分
を輝線として抽出し、当該抽出輝線に基づき測定対象物
の３次元形状を認識する、という手法を採用している。

【０００７】また、本発明の物体形状認識方法を具体化
する物体形状認識装置としては、測定対象物へ向けてレ
ーザ光を照射するレーザ光照射手段と、測定対象物を撮
影する撮影手段と、前記レーザ光照射手段によるレーザ
光照射時に前記撮影手段により撮影された測定対象物の
画像から前記レーザ光照射に伴い生じた輝線を抽出する
と共に，抽出した輝線に基づき測定対象物の３次元形状
を認識する形状認識手段とを備えた物体形状認識装置に
おいて、前記レーザ光照射手段のレーザ光照射方向側
に、当該レーザ光照射手段から照射されたレーザ光を２
本の平行なレーザ光に分岐すると共に当該分岐レーザ光
を測定対象物へ導くレーザ光分岐手段を設け、前記形状
認識手段が、前記レーザ光分岐手段による分岐レーザ光
照射時に前記撮影手段により撮影された測定対象物の輝
線を含んだ画像から前記分岐レーザ光照射前に撮影され
た測定対象物の輝線を含まない画像を差し引いて輝線抽
出用画像を作成する画像処理機能と，当該輝線抽出用画
像において輝度が比較的高い部分を識別する高輝度部分
識別機能と，当該高輝度部分の中から所定の間隔を有し
所定の輝度差を有する隣接した２つの高輝度部分を輝線
として抽出する輝線抽出機能とを具備する、という構成
を採っている。これにより、前述した目的を達成しよう
とするものである。

【０００８】

【作用】本発明によれば、レーザ光照射手段からレーザ
光を測定対象物へ向けて照射すると、レーザ光はレーザ
光分岐手段により２本の平行なレーザ光に分岐された
後、当該分岐レーザ光が測定対象物へ導かれ測定対象物
を照射する。また、撮影手段は、分岐レーザ光の照射前
後における測定対象物を撮影する。形状認識手段は、レ
ーザ光分岐手段による分岐レーザ光照射時に撮影手段に
より撮影した測定対象物の輝線を含んだ画像から、レー
ザ光分岐手段による分岐レーザ光照射前に撮影手段によ
り撮影した測定対象物の輝線を含まない画像を差し引
き、輝線抽出用画像を作成する。更に、形状認識手段
は、輝線抽出用画像において輝度が比較的高い部分を識
別すると共に、高輝度部分の中から所定の間隔を有し所
定の輝度差を有する隣接した２つの高輝度部分を輝線と
して抽出した後、抽出輝線に基づき測定対象物の３次元
形状を認識する。これにより、輝線の付近にノイズが発
生している場合においても輝線とノイズとを的確に区別
して輝線のみを抽出することが可能となるため、従来の
如く，輝線の付近にノイズや反射が生じた時にノイズを
輝線と誤認識したり反射の影響で輝線を正確に抽出でき
ない等の不具合を解消することができ、この結果、測定
対象物の形状認識精度を向上させることが可能となる。

【０００９】

【実施例】以下、本発明を適用してなる実施例を図面に
基づいて説明する。

【００１０】先ず、本実施例の物体形状測定装置の全体
構成を図２に基づき説明すると、物体形状測定装置は、
スリット状のレーザ光Ｈを発射するスリットレーザ光投
光器１と、スリットレーザ光投光器１のレーザ光発射側
前方の所定箇所に配置されたハーフミラー２と、ハーフ
ミラー２の後方の所定箇所に配置された固定ミラー３
と、ハーフミラー２及び固定ミラー３の反射面と対向す
る位置に配置された回転ミラー４と、測定対象物へ照射
された２本の平行なスリットレーザ光Ｈ１，Ｈ２によっ
て生ずる２本の輝線を撮像するＣＣＤカメラ５と、ＣＣ
Ｄカメラ５による撮像データに基づき測定対象物の３次
元形状を測定する測定装置本体６とを備える構成となっ
ている。図中符号１２はスリットレーザ光投光器１及び
ＣＣＤカメラ５を支持するシャフトを示し、符号１３，
１４はＣＣＤカメラ５を保持する保持部材を示す。

【００１１】スリットレーザ光投光器１は、レーザビー
ムを線状のスリットを通過させてスリット状のレーザ光
Ｈを発生し、ハーフミラー２へ向けて発射するようにな
っている。ハーフミラー２は、スリットレーザ光投光器
１から発射されたスリットレーザ光Ｈの所定光量を反射
させて回転ミラー４へ入射させる一方、スリットレーザ
光の残りの光量を固定ミラー３側へ透過させるようにな
っている。固定ミラー３は、ハーフミラー２を透過して
きたスリットレーザ光を反射させて回転ミラー４へ入射
させるようになっている。

【００１２】回転ミラー４は、スリットレーザ光投光器
１により適宜回転されてその反射面が調整されるように
なっており、ハーフミラー２により反射されてきたスリ
ットレーザ光を測定対象物へ向けて反射させると共に、
固定ミラー３により反射されてきたスリットレーザ光を
測定対象物へ向けて反射させるようになっている。即
ち、スリットレーザ光投光器１から発射されたスリット
レーザ光は、ハーフミラー２及び固定ミラー３により所
定間隔を有する２本の平行なスリットレーザ光として回
転ミラー４へ入射されると共に反射され、２本の平行な
スリットレーザ光Ｈ１，Ｈ２として測定対象物７の幅方
向（水平方向）へ照射されるようになっている。

【００１３】ＣＣＤカメラ５は、スリットレーザ光投光
器１からハーフミラー２，固定ミラー３，回転ミラー４
を介して測定対象物へ照射された２本の平行なスリット
レーザ光によって生ずる２本の輝線を撮像し、２本の輝
線の撮像に基づく撮像データを測定装置本体６の後述す
るＣＰＵ８へ出力するようになっている。

【００１４】この場合、図３に示す如く、スリットレー
ザ光投光器１から測定対象物へ照射した２本の平行なス
リットレーザ光によって生ずる２本の輝線Ｋ１，Ｋ２を
Ｘ−Ｙ座標軸に対応させた時、Ｙ軸に平行な或る直線Ｌ
と交わる２本の輝線Ｋ１，Ｋ２の光切断面においては間
隔ｄを隔てて隣接することになる。本実施例では、測定
対象物の形状測定に際しては、隣接する組合わせとして
の２本の輝線をノイズから分離して抽出することによ
り、従来のようにノイズや外乱光を輝線として誤認識す
る不具合を解消するようになっている。

【００１５】ここで、例えば図４に示す如く、２本の輝
線Ｋ１，Ｋ２の付近にノイズＡ，ノイズＢが乗っていた
場合に２本の輝線Ｋ１，Ｋ２を抽出する方法を説明する
と、先ず、輝線Ｋ１のピークとノイズＡのピークとを比
較すると、両者の距離が離れておりレベルも相異するた
め、両者は「輝線」の組合わせでは無く、ノイズＡは
「輝線」では無く「ノイズ」であることが判明する。次
に、輝線Ｋ１のピークと輝線Ｋ２のピークとを比較する
と、両者の距離が接近しておりレベルも同程度であるた
め、両者は「輝線」の組合わせであることが判明する。

【００１６】ノイズＡを「輝線」では無く「ノイズ」と
判定した場合は、図５に示す如く、ノイズＡの‘山’を
カットして次のピークを探す。この場合、所定区間の積
分値（ピーク部分の面積）を基準として輝線を抽出する
ことも可能である。ところで、前述した２本の輝線の間
隔ｄは、スリットレーザ光投光器１から測定対象物まで
の距離と，測定対象物の測定対象面の角度とによって一
定とはならないが、本実施例では、物体形状測定装置の
測定可能範囲において２本の輝線を分離できるような間
隔ｄとして設定すると共に、ＣＰＵ８の内部メモリに予
め記憶しておくようになっている。

【００１７】次に、本実施例の物体形状測定装置の主要
部を成す測定装置本体を中心とした構成を図１に基づき
説明すると、測定装置本体６は、ＣＰＵ（中央処理装
置）８と、スリットレーザ光角度制御部９と、ＲＡＭ１
０と、第１及び第２フレームメモリを有するフレームバ
ッファ１１とを備える構成となっている。ＣＰＵ８は、
スリットレーザ光投光器１から発射すべきスリットレー
ザ光の角度を指令する指令信号をスリットレーザ光角度
制御部９へ出力するようになっている。スリットレーザ
光角度制御部９は、指令信号に対応した角度のスリット
レーザ光をスリットレーザ光投光器１から発射させるよ
うに制御するようになっている。

【００１８】また、ＣＰＵ８は、ＣＣＤカメラ５で撮像
したスリットレーザ光発射前の測定対象物の撮像データ
（輝線が無い原画像データ）をフレームバッファ１１の
第１フレームメモリに記憶し、ＣＣＤカメラで撮像した
スリットレーザ光発射後の測定対象物の撮像データ（輝
線が有る画像データ）をフレームバッファ１１の第２フ
レームメモリに記憶するようになっている。更に、ＣＰ
Ｕ８は、後述する抽出した輝線の座標を計算し、計算し
た座標をデータベースとしてＲＡＭ１０に記憶するよう
になっている。

【００１９】次に、上記の如く構成した本実施例におけ
る「物体形状測定処理」及び「輝線抽出処理」を図６乃
至図１０に基づき説明する。

【００２０】「物体形状測定処理」（図６） 物体形状測定装置のＣＣＤカメラ５は、スリットレーザ
光投光器１から測定対象物へ２本の平行なスリットレー
ザ光を照射する前の時点における測定対象物を撮像し、
撮像データ（輝線の無い原画像データ）を測定装置本体
６のＣＰＵ８へ入力する。これにより、ＣＰＵ８は、輝
線の無い原画像データをフレームバッファ１１の第１フ
レームメモリに記憶する（ステップＳＡ１）。

【００２１】次に、ＣＰＵ８は、スリットレーザ光投光
器１から発射すべきスリットレーザ光の角度を指令する
指令信号をスリットレーザ光角度制御部９へ出力する
と、スリットレーザ光角度制御部９は、スリットレーザ
光投光器１からＣＰＵの指令信号に対応した角度のスリ
ットレーザ光を発射するように制御する。これにより、
スリットレーザ光投光器１から、ハーフミラー２，固定
ミラー３，回転ミラー４を介して２本の平行なスリット
レーザ光が測定対象物へ照射される（ステップＳＡ
２）。

【００２２】ＣＣＤカメラ５は、スリットレーザ光投光
器１からハーフミラー２，固定ミラー３，回転ミラー４
を介して測定対象物へ照射された２本の平行なスリット
レーザ光によって生ずる２本の輝線を撮像し、２本の輝
線の撮像に基づく撮像データ（輝線の有る画像データ）
を測定装置本体６のＣＰＵ８へ入力する。これにより、
ＣＰＵ８は、輝線の有る画像データをフレームバッファ
１１の第２フレームメモリに記憶する（ステップＳＡ
３）。

【００２３】次に、ＣＰＵ８は、フレームバッファ１１
の第１及び第２フレームメモリに記憶された「輝線の有
る画像データ」から「輝線の無い画像データ」を差し引
き、差し引きデータをフレームバッファ１１の第２フレ
ームメモリに記憶し当該メモリの内容を書き変える（ス
テップＳＡ４）。

【００２４】次に、ＣＰＵ８は、フレームバッファ１１
の第２フレームメモリの記憶内容に基づき２本の輝線を
抽出し、抽出した２本の輝線データをフレームバッファ
１１の第２フレームメモリに記憶し当該メモリの内容を
書き変える（ステップＳＡ５）。輝線抽出方法について
は、図７において詳述する。

【００２５】次に、ＣＰＵ８は、測定対象物に係る抽出
した輝線の座標を計算すると共に、計算した座標をデー
タベースとしてＲＡＭ１０に記憶する（ステップＳＡ
６）。この後、ＣＰＵ８は、測定対象物について予め決
めた範囲を測定したか否かを判定し（ステップＳＡ
７）、予め決めた範囲を測定していない場合はステップ
ＳＡ２以降の処理を繰返す一方、予め決めた範囲を測定
した場合は本処理を終了する。

【００２６】「輝線抽出処理」（図７） 物体形状測定装置のＣＰＵ８は、上記図６のステップＳ
Ａ４における「輝線の有る画像データ」から「輝線の無
い画像データ」を差し引いた画像の縦方向に沿ったｎ番
目の画像ライン（図８参照）について、２本のスリット
レーザ光により生じた２本の輝線がなまらないように低
域通過フィルタをかける（図９参照）（ステップＳＢ
１）。次に、ＣＰＵ８は、低域通過フィルタをかけた画
像ラインにおける輝度の高い局所ピーク部分に識別番号
（１，２，３・・・）を付与し（図１０参照）、その旨
を記憶する（ステップＳＢ２）。

【００２７】次に、ＣＰＵ８は、当該画像ラインの識別
番号を付与した隣接する局所ピーク部分（識別番号ｍの
局所ピーク部分と識別番号（ｍ＋１）の局所ピーク部
分）の間の距離が設定幅（上述した２本の輝線の間隔ｄ
に相当する幅）よりも広いか狭いかを判定し（ステップ
ＳＢ３）、広いと判定した場合はステップＳＢ４の処理
を実行し、狭いと判定した場合はステップＳＢ６の処理
を実行する（但し、ｍ＝１，２，３・・・）。

【００２８】ＣＰＵ８は、当該画像ラインの識別番号を
付与した隣接する局所ピーク部分（識別番号ｍの局所ピ
ーク部分と識別番号（ｍ＋１）の局所ピーク部分）の間
の距離が設定幅よりも広いと判定した場合は、両局所ピ
ーク部分は２本の輝線の組合わせでは無いと判断し、判
定対象の局所ピーク部分の識別番号を‘１’増加させ、
ステップＳＢ３へ戻る。即ち、当該画像ラインの識別番
号を付与した隣接する局所ピーク部分の間の距離判定を
順次行う（ステップＳＢ４）。そして、識別番号（ｍ＋
１）が局所ピーク部分の数を超えた場合は、ステップＳ
Ｂ１へ戻り画像の縦方向に沿ったｎ番目以後の画像ライ
ンについて上記の処理を繰返す。

【００２９】他方、ＣＰＵ８は、当該画像ラインの識別
番号を付与した隣接する局所ピーク部分（識別番号ｍの
局所ピーク部分と識別番号（ｍ＋１）の局所ピーク部
分）の間の距離が設定幅よりも狭いと判定した場合は、
隣接する局所ピーク部分（識別番号ｍの局所ピーク部分
と識別番号（ｍ＋１）の局所ピーク部分）のレベル差が
予め設定された値より大きいか小さいかを判定する（ス
テップＳＢ６）。

【００３０】ＣＰＵ８は、当該画像ラインの隣接する局
所ピーク部分（識別番号ｍの局所ピーク部分と識別番号
（ｍ＋１）の局所ピーク部分）のレベル差が設定値より
大きいと判定した場合は，ステップＳＢ４の処理を実行
する一方、レベル差が設定値より小さいと判定した場合
は，両局所ピーク部分を２本の輝線と判断し，フレーム
バッファ１１に記憶してある両局所ピーク部分に対応し
たデータを輝線データとして確定する（ステップＳＢ
７）。この後、ステップＳＢ１へ戻り画像の縦方向に沿
ったｎ番目以後の画像ラインについて上記の処理を繰返
す。

【００３１】上述したように、本実施例によれば、スリ
ットレーザ光投光器１から測定対象物へ向けて２本の平
行なスリットレーザ光を照射し，当該２本の平行なスリ
ットレーザ光が照射された測定対象物を撮影した画像か
ら所定間隔以内で所定レベル差以内の２本の輝線を抽出
し，抽出した２本の輝線に基づき物体形状を判定するた
め、輝線の付近にノイズが発生している場合でも、輝線
とノイズとを的確に区別して輝線のみを抽出することが
可能となる。これにより、従来の如く，輝線の付近にノ
イズや反射が生じた時にノイズを輝線と誤認識したり反
射の影響で輝線を正確に抽出できない等の不具合を解消
することができるため、物体形状の測定精度を向上させ
ることが可能となる。

【００３２】この場合、本実施例では、上述した画像ラ
インの複数の局所ピーク部分から抽出すべき２本の輝線
の光切断面形状の特徴パターンを予め記憶しておき、画
像ラインの複数の局所ピーク部分から前記特徴パターン
を有するものをパターンマッチング手法により抽出する
ようにすることも可能である。

【００３３】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
分岐レーザ光照射時に撮影した測定対象物の輝線を含ん
だ画像から分岐レーザ光照射前に撮影した測定対象物の
輝線を含まない画像を差し引いて輝線抽出用画像を作成
し，輝線抽出用画像において輝度が比較的高い部分を取
り出し，高輝度部分の中から所定の間隔を有し所定の輝
度差を有する隣接した２つの高輝度部分を輝線として抽
出し，抽出輝線に基づき測定対象物の３次元形状を認識
するため、輝線の付近にノイズが発生している場合にお
いても輝線とノイズとを的確に区別して輝線のみを抽出
することが可能となり、従って、従来の如く，輝線の付
近にノイズや反射が生じた時にノイズを輝線と誤認識し
たり反射の影響で輝線を正確に抽出できない等の不具合
を解消することができ、この結果、測定対象物の形状認
識精度を向上させることが可能となる、という優れた効
果を奏することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用した本実施例の物体形状測定装置
の主要部の構成を示すブロック図である。

【図２】本実施例の物体形状測定装置の全体構成を示す
説明図である。

【図３】本実施例における２本の輝線を示す説明図であ
る。

【図４】本実施例における２本の輝線及びノイズを示す
説明図である。

【図５】図４でノイズをカットした状態を示す説明図で
ある。

【図６】本実施例における物体形状測定処理を示す流れ
図である。

【図７】本実施例における物体形状測定処理の一部を成
す輝線抽出処理を示す流れ図である。

【図８】本実施例における画像ラインを示す説明図であ
る。

【図９】図８の画像ラインに低域通過フィルタをかけた
場合の説明図である。

【図１０】図９の画像ラインの局所ピーク部分に識別番
号を付与した説明図である。

【図１１】従来例における物体形状検査装置の構成を示
す説明図である。

【図１２】従来例における輝線を示す説明図である。

【図１３】従来例における輝線抽出を示す説明図であ
る。

【図１４】従来例における輝線付近に反射が生じた場合
の説明図である。

【図１５】従来例における輝線及びノイズを示す説明図
である。

【符号の説明】

１ レーザ光照射手段としてのスリットレーザ光投光器 ２ レーザ光分岐手段としてのハーフミラー ３ レーザ光分岐手段としての固定ミラー ４ レーザ光分岐手段としての回転ミラー ５ 撮影手段としてのＣＣＤカメラ ６ 測定装置本体 ７ 測定対象物 ８ 形状認識手段としてのＣＰＵ ９ スリットレーザ光角度制御部 １０ ＲＡＭ １１ フレームバッファ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 レーザ光を２本の平行なレーザ光に分岐
   した分岐レーザ光を測定対象物へ照射すると共に当該分
   岐レーザ光の照射前後にわたって当該測定対象物を撮影
   し、前記分岐レーザ光照射時に撮影した測定対象物の輝
   線を含んだ画像から前記分岐レーザ光照射前に撮影した
   測定対象物の輝線を含まない画像を差し引いて輝線抽出
   用画像を作成し、当該輝線抽出用画像において輝度が比
   較的高い部分を取り出し、当該高輝度部分の中から所定
   の間隔を有し所定の輝度差を有する隣接した２つの高輝
   度部分を輝線として抽出し、当該抽出輝線に基づき測定
   対象物の３次元形状を認識することを特徴とする物体形
   状認識方法。
2. 【請求項２】 測定対象物へ向けてレーザ光を照射する
   レーザ光照射手段と、測定対象物を撮影する撮影手段
   と、前記レーザ光照射手段によるレーザ光照射時に前記
   撮影手段により撮影された測定対象物の画像から前記レ
   ーザ光照射に伴い生じた輝線を抽出すると共に，抽出し
   た輝線に基づき測定対象物の３次元形状を認識する形状
   認識手段とを備えた物体形状認識装置において、 前記レーザ光照射手段のレーザ光照射方向側に、当該レ
   ーザ光照射手段から照射されたレーザ光を２本の平行な
   レーザ光に分岐すると共に当該分岐レーザ光を測定対象
   物へ導くレーザ光分岐手段を設け、 前記形状認識手段が、前記レーザ光分岐手段による分岐
   レーザ光照射時に前記撮影手段により撮影された測定対
   象物の輝線を含んだ画像から前記分岐レーザ光照射前に
   撮影された測定対象物の輝線を含まない画像を差し引い
   て輝線抽出用画像を作成する画像処理機能と，当該輝線
   抽出用画像において輝度が比較的高い部分を識別する高
   輝度部分識別機能と，当該高輝度部分の中から所定の間
   隔を有し所定の輝度差を有する隣接した２つの高輝度部
   分を輝線として抽出する輝線抽出機能とを具備したこと
   を特徴とする物体形状認識装置。