JPH0718691B2 - Inspection device for mounted printed circuit boards - Google Patents

Inspection device for mounted printed circuit boards

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JPH0718691B2
JPH0718691B2 JP15392088A JP15392088A JPH0718691B2 JP H0718691 B2 JPH0718691 B2 JP H0718691B2 JP 15392088 A JP15392088 A JP 15392088A JP 15392088 A JP15392088 A JP 15392088A JP H0718691 B2 JPH0718691 B2 JP H0718691B2
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circuit board
beam spot
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、実装済プリント基板の検査装置に関するもの
で、特に細く絞ったビームスポットを用いて実装された
部品の位置ずれ,ハンダ不良,ハンダブリッジ等を検査
せんとするものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection apparatus for a mounted printed circuit board, and in particular, misalignment of parts mounted by using a narrowed beam spot, defective solder, solder bridge, etc. Is to be inspected.

従来の技術 従来、実装済プリント基板の部品の位置ずれ,欠品,ハ
ンダ不良,ハンダブリッジ等を自動的に検査する装置と
して、マルチスリット光とカメラを用いる方法がある。
2. Description of the Related Art Conventionally, there is a method using a multi-slit light and a camera as an apparatus for automatically inspecting a positional deviation, a missing item, a solder defect, a solder bridge, etc. of a mounted printed circuit board component.

以下、図面を参照しながら説明する。第4図において、
55,56はそれぞれスリット光を照射する照射装置であ
り、54はカメラ、57は実装済プリント基板である。2つ
のスリット光は実装済プリント基板57に対し上方斜めか
らそれぞれの光軸が直交するように照射し、上方よりカ
メラ54で観察すると三角測量の原理で実装部品の高さを
測定出来る。また、この時マルチスリット照射装置55,5
6を交互に照射することにより、x,y方向(第4図参照)
の部品位置を知ることが出来る。
Hereinafter, description will be given with reference to the drawings. In FIG.
55 and 56 are irradiation devices that respectively irradiate slit light, 54 is a camera, and 57 is a mounted printed circuit board. The two slit lights are radiated onto the mounted printed circuit board 57 obliquely from above so that their optical axes are orthogonal to each other, and when observed by the camera 54 from above, the height of the mounted component can be measured by the principle of triangulation. At this time, the multi-slit irradiation device 55,5
By irradiating 6 alternately, x and y directions (see Fig. 4)
You can know the parts position of.

発明が解決しようとする課題 しかしながら上記のような構成では、ハンダ面検査の場
合その反射拡散特性が鏡面に近いため、ハンダ面の向き
とカメラの位置関係によっては、反射光が強すぎてカメ
ラた飽和してしまう場合や、反射光が弱すぎて検出出来
ない場合が生じてしまうという欠点があった。また、カ
メラによる観察視野には限界があり、検査対象の部品が
カメラ視野内に一部しか取り込めない場合が生じてく
る。このような場合は、複数の視野の画像情報をもって
1つの部品の検査を行う必要があるため、検査ソフトウ
ェアが複雑になるという問題がある。
However, in the above-mentioned configuration, in the case of solder surface inspection, the reflection / diffusion characteristic is close to a mirror surface. Therefore, depending on the orientation of the solder surface and the positional relationship of the camera, the reflected light may be too strong. There is a defect that it may be saturated, or the reflected light may be too weak to be detected. In addition, there is a limit to the observation field of view by the camera, and in some cases, only a part of the inspection target part can be captured within the camera field of view. In such a case, there is a problem that the inspection software becomes complicated because it is necessary to inspect one component with image information of a plurality of fields of view.

課題を解決するための手段 本発明の実装済プリント基板の検査装置は、細く絞られ
たビームスポットを発生する発生器を回転体上に設け、
前記ビームスポットを実装済プリント基板に対しほぼ垂
直に照射しつつ前記回転体を回転せしめることにより、
前記ビームスポットで実装済プリント基板の表面を走査
し、前記回転体上に設けられた光電変換素子によりその
反射光の反射角度と反射強度の少なくとも一方の変化を
順次検出し、実装済プリント基賠と前記ビームスポット
の交点である光点の高さあるいは前記光点の輝度情報の
少なくとも一方を計測することにより、実装済プリント
基板の検査を行わんとするものである。
Means for Solving the Problems An inspection device for a mounted printed circuit board according to the present invention is provided with a generator for generating a narrowed beam spot on a rotating body,
By rotating the rotator while irradiating the beam spot on the mounted printed circuit board substantially perpendicularly,
The surface of the mounted printed circuit board is scanned with the beam spot, and a change in at least one of the reflection angle and the reflection intensity of the reflected light is sequentially detected by the photoelectric conversion element provided on the rotating body, and the mounted printed substrate The mounted printed circuit board is inspected by measuring at least one of the height of the light spot which is the intersection of the beam spot and the brightness information of the light spot.

作用 上記構成によれば、検査すべき実装済プリント基板に垂
直な方向より照射されるビームスポットにより実装済プ
リント基板を走査するため、実装済プリント基板上の各
点は同一な条件で計測されることとなり、良好な検査が
可能となる。また、ビームスポットの反射光を受光する
光電変換素子をビームスポットの周囲に複数個配置して
いるため、実装済プリント基板からの反射光の拡散特性
が変化してもそれに伴う検査結果の変動は小さく出来る
ものである。また、実装済プリント基板の高さ、輝度情
報をメモリーに取り入れて検査すれば、同一部品に対し
ては同一検査ソフトウェアで対応出来るようになり、検
査ソフトウェアの作成が容易になるものである。
Effect According to the above configuration, since the mounted printed board is scanned by the beam spot irradiated from the direction perpendicular to the mounted printed board to be inspected, each point on the mounted printed board is measured under the same condition. As a result, good inspection can be performed. In addition, because multiple photoelectric conversion elements that receive the reflected light of the beam spot are arranged around the beam spot, even if the diffusion characteristics of the reflected light from the mounted printed circuit board change, the inspection result will not change. It can be made small. Also, if the height and brightness information of the mounted printed circuit board is taken into the memory and inspected, the same parts can be handled by the same inspection software, and the inspection software can be easily created.

実施例 以下、本発明の一実施例の実装済プリント基板自動検査
装置について、図面を参照しながら説明する。
Embodiment Hereinafter, a mounted printed circuit board automatic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は、ビームスポット投光用光学系と受光用光学系
群が一体となった単位検査装置の斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view of a unit inspection device in which an optical system for projecting a beam spot and an optical system group for receiving light are integrated.

1は、たとえばレーザーを使ったビームスポット投光用
光学系、2,4,6,8は前記ビームスポットの反射面からの
反射光を受け、その反射面の高さ及び輝度情報を得るた
めの半導体位置検出素子(以下PSDと呼ぶ)のような光
電変換素子である。このPSDは、ある所定の長さを有
し、ビームスポットの照射位置に応じて複数の出力端子
の出力が相対的に変化するもので、これにはCCDライン
センサー等を用いることも可能である。3,5,7,9は、三
角測量を行うために実装済プリント基板からの反射ビー
ムスポットを前記光電変換素子2,4,6,8上にそれぞれ結
像するためのレンズ若しくはレンズ群である。これらの
光電変換素子およびレンズは、ビームスポット11の光軸
周辺に配置され、本実施例では4組をビームスポットを
中心とする同一円周上に等間隔に配置している。このビ
ームスポット光軸と光電変換素子の前に配置されたレン
ズの光軸とのなす角度θは、20〜30度が望ましい。理由
は、プリント基板上に実装されたチップ部品に付着され
たハンダは略々45度付近の傾斜を持っており、30度より
角度が大きくなると反射ビームスポット光が強すぎ光電
変換素子が飽和するという問題を生じる。また、角度を
20度より小さくしすぎると、三角測量の原理を用いて高
さを計測しているため精度が落ちるという問題が生じ
る。また、ビームスポット光が小さくなればなる程表面
の細かい凹凸も精度良く計測できる。従って、プリント
基板においては、部品等の測定対象物の大部分が高さ2m
m以内であるので、その中間高さであるプリント基板10
の表面より1mmの所にビームスポットの最小ポイントを
設定することにより平均的精度が最も上がることにな
る。10は実装済プリント基板、11はビームスポットであ
り、実装済プリント基板10に対してほぼ垂直に照射され
ている。
1 is an optical system for projecting a beam spot using, for example, a laser, and 2, 4, 6, 8 are for receiving the reflected light from the reflecting surface of the beam spot and for obtaining the height and brightness information of the reflecting surface. It is a photoelectric conversion element such as a semiconductor position detection element (hereinafter referred to as PSD). This PSD has a certain predetermined length, and the outputs of a plurality of output terminals relatively change according to the irradiation position of the beam spot, and it is possible to use a CCD line sensor or the like for this. . 3,5,7,9 are lenses or lens groups for respectively imaging the reflected beam spots from the mounted printed circuit board on the photoelectric conversion elements 2, 4, 6, 8 for performing triangulation. . These photoelectric conversion elements and lenses are arranged around the optical axis of the beam spot 11, and in this embodiment, four sets are arranged at equal intervals on the same circumference centered on the beam spot. The angle θ between the beam spot optical axis and the optical axis of the lens arranged in front of the photoelectric conversion element is preferably 20 to 30 degrees. The reason is that the solder attached to the chip components mounted on the printed circuit board has an inclination of about 45 degrees, and when the angle is larger than 30 degrees, the reflected beam spot light becomes too strong and the photoelectric conversion element saturates. Causes the problem. Also, the angle
If the angle is smaller than 20 degrees, the accuracy is lowered because the height is measured using the principle of triangulation. Further, the smaller the beam spot light, the more accurately the fine irregularities on the surface can be measured. Therefore, in the printed circuit board, most of the measuring objects such as parts are 2 m high.
Since it is within m, it is the intermediate height of the printed circuit board 10.
By setting the minimum point of the beam spot at 1 mm from the surface of, the average accuracy will be maximized. 10 is a mounted printed circuit board, and 11 is a beam spot, which is irradiated almost perpendicularly to the mounted printed circuit board 10.

第2図は、検査装置全体の斜視図である。13,14,15,16
は第1図で示した光学系群が一体になった一つの単位検
査装置である。12はモーター等の駆動源(図示せず)に
よりほぼ一定速度で回転駆動される回転円盤である。前
記単位検査装置13,14,15,16は、回転円盤12の中心に対
し同一円周上に等間隔に回転円盤12の回転に伴って、前
記ビームスポットが順次実装済プリント基板10を走査す
るよう配置されている。従って、実装済プリント基板10
を第2図に示すx,y,z座標系のy方向へ順次移動するこ
とにより実装済プリント基板10の全体をビームスポット
により走査することが可能となる。17は現在単位検査装
置14で走査している軌跡を示しており、18は直前に単位
検査装置15で走査した軌跡を示している。第2図におい
ては、単位検査装置14が走査完了すると実装済プリント
基板10がy軸方向へ移動して、次の単位検査装置13の走
査開始前に移動が終了するようになっており、無駄な時
間がなく最小時間で検査を終了することが出来る。
FIG. 2 is a perspective view of the entire inspection device. 13,14,15,16
Is a unit inspection device in which the optical system groups shown in FIG. 1 are integrated. Reference numeral 12 is a rotary disk that is rotationally driven at a substantially constant speed by a drive source (not shown) such as a motor. The unit inspecting devices 13, 14, 15, 16 scan the mounted printed circuit board 10 sequentially by the beam spots as the rotating disk 12 rotates at equal intervals on the same circumference with respect to the center of the rotating disk 12. Is arranged. Therefore, the mounted printed circuit board 10
By sequentially moving in the y direction of the x, y, z coordinate system shown in FIG. 2, it becomes possible to scan the entire mounted printed circuit board 10 with the beam spot. Reference numeral 17 indicates a locus which is currently scanned by the unit inspection device 14, and 18 indicates a locus scanned by the unit inspection device 15 immediately before. In FIG. 2, when the unit inspection device 14 completes scanning, the mounted printed circuit board 10 moves in the y-axis direction, and the movement ends before the next unit inspection device 13 starts scanning, which is a waste. The inspection can be completed in the minimum time without any time.

第3図は、光電変換素子からの照射位置により相対的に
値が変化する2つの電流出力を演算して高さ情報及び輝
度情報を得るための本装置の電気回路を示している。19
は光電変換素子2の2つの電流出力から割算器52を通し
て高さ情報を得、また、前記2つの電流出力の和よりオ
ペアンプ53を通して輝度情報を得ている高さ及び輝度情
報検出回路である。20,21,22も前記高さ及び輝度情報検
出回路19と同様の検出回路であり、光電変換素子4,6,8
に接続されている。この場合、光電変換素子を4個使用
しているため高さ及び輝度情報も一つの光点に対して4
個出力される。23は、4個の高さ情報から一つの高さ情
報を得る高さ情報選択回路であり、選択方法として例え
ば4個の内最大レベルと最小レベルを除いた残りの二つ
の平均を取る方法がある。24は23と同様に、4個の輝度
情報から一つの輝度情報を得る輝度情報選択回路であ
り、選択方法として例えば4個の内最大レベルを取る方
法がある。このように選択回路23,24はRAM25の節約及び
前処理をつけることによるCPU26の負荷軽減の目的で設
けられたものである。前記2つの選択回路23,24の出力
は、CPU26のバスに接続されているRAM25へ送られる。前
記CPU26では、前記RAM25より読み出された高さ及び輝度
情報と、予め基準となる実装済プリント基板から得られ
て予め記憶されている高さ情報及び輝度情報とを比較
し、被検査実装済プリント基板の良否を決定する。
FIG. 3 shows an electric circuit of this device for calculating height information and luminance information by calculating two current outputs whose values relatively change depending on the irradiation position from the photoelectric conversion element. 19
Is a height and brightness information detection circuit that obtains height information from two current outputs of the photoelectric conversion element 2 through a divider 52 and brightness information through an operational amplifier 53 from the sum of the two current outputs. . 20,21,22 is also a detection circuit similar to the height and luminance information detection circuit 19, photoelectric conversion elements 4,6,8
It is connected to the. In this case, since four photoelectric conversion elements are used, the height and brightness information is 4 for one light spot.
Are output individually. Reference numeral 23 is a height information selection circuit that obtains one height information from four height information. As a selection method, for example, the method of taking the average of the remaining two excluding the maximum level and the minimum level of the four is there. Like 23, 24 is a brightness information selection circuit that obtains one brightness information from four brightness information, and as a selection method, there is a method of taking the maximum level of four, for example. As described above, the selection circuits 23 and 24 are provided for the purpose of saving the RAM 25 and reducing the load on the CPU 26 by adding the preprocessing. The outputs of the two selection circuits 23 and 24 are sent to the RAM 25 connected to the bus of the CPU 26. In the CPU 26, the height and luminance information read from the RAM 25 is compared with the height information and the luminance information which are obtained from the pre-mounted printed circuit board and are stored in advance, and are mounted for inspection. Determines the quality of the printed circuit board.

以上のように、本実施例は検査すべき実装済プリント基
板に垂直にビームスポットを照射し、そのビームスポッ
トをその周囲に配置された光電変換素子と共に移動せし
めながら実装済プリント基板の各点の高さ及び輝度の変
化を計測するものであるため、実装済プリント基板の各
点は同一条件で計測され良好な検査が望めるものであ
る。
As described above, in the present embodiment, the mounted printed circuit board to be inspected is irradiated with a beam spot vertically, and the beam spot is moved together with the photoelectric conversion elements arranged around it so that each point of the mounted printed circuit board Since the changes in height and brightness are measured, each point of the mounted printed circuit board is measured under the same conditions, and good inspection can be expected.

また、実装済プリント基板からの反射光は、ビームスポ
ットの周囲に配置された複数の光電変換素子により受光
されるよう構成されているため、実装済プリント基板か
らの反射光が種々の拡散特性になってもそれに伴う検査
結果の変動を小さくできるものである。尚、実施例では
実装済プリント基板上の高さと輝度の両方を検出するよ
う構成しているが、検出精度が低くても良いという場合
には、その一方のみを検査するような構成にして良いも
のである。
Further, since the reflected light from the mounted printed circuit board is configured to be received by the plurality of photoelectric conversion elements arranged around the beam spot, the reflected light from the mounted printed circuit board has various diffusion characteristics. Even so, it is possible to reduce the fluctuation of the inspection result accompanying it. In the embodiment, both the height and the brightness on the mounted printed circuit board are detected, but when the detection accuracy may be low, only one of them may be inspected. It is a thing.

発明の効果 以上のように本発明によれば、ビームスポットを実装済
プリント基板へほぼ垂直に照射し、その光軸のまわりに
受光光学系を複数個配置し、それら照射,受光光学系が
一体となって実装済プリント基板上を計測しながら走査
していくことにより、従来の検査機では困難であったハ
ンダ面の検査が良好に行えるようになった。
EFFECTS OF THE INVENTION As described above, according to the present invention, a mounted printed circuit board is irradiated with a beam spot substantially vertically, and a plurality of light receiving optical systems are arranged around the optical axis, and the irradiation and light receiving optical systems are integrated. By measuring and scanning the mounted printed circuit board, it became possible to satisfactorily perform the inspection of the solder surface, which was difficult with the conventional inspection machine.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の実装済プリント基板検査装置の一実施
例におけるビームスポット投光用光学系と受光用光学系
群が一体となった一単位の検査装置の斜視図、第2図は
同実施例の要部を示す斜視図、第3図は同検査装置の電
気回路のブロック図、第4図は従来のプリント基板検査
装置の斜視図である。 1……ビームスポット投光用光学系、2,4,6,8……光電
変換素子、3,5,7,9……レンズ、10……プリント基板、1
1……ビームスポット、12……回転円盤、13,14,15,16…
…単位検査装置、19,20,21,22……高さ及び輝度情報検
出回路、23……高さ情報選択回路、24……輝度情報選択
回路、25……RAM、26……CPU。
FIG. 1 is a perspective view of a unit of an inspection device in which an optical system for projecting a beam spot and an optical system group for receiving light are integrated in one embodiment of the mounted printed circuit board inspection device of the present invention, and FIG. 2 is the same. FIG. 3 is a perspective view showing a main part of the embodiment, FIG. 3 is a block diagram of an electric circuit of the inspection apparatus, and FIG. 4 is a perspective view of a conventional printed circuit board inspection apparatus. 1 …… Optical system for projecting beam spot, 2,4,6,8 …… Photoelectric conversion element, 3,5,7,9 …… Lens, 10 …… Printed circuit board, 1
1 …… Beam spot, 12 …… Rotating disk, 13,14,15,16…
… Unit inspection device, 19,20,21,22 …… Height and brightness information detection circuit, 23 …… Height information selection circuit, 24 …… Brightness information selection circuit, 25 …… RAM, 26 …… CPU.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平1−320417(JP,A) 特開 平2−187619(JP,A) 特開 平2−187615(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) Reference JP-A-1-320417 (JP, A) JP-A2-187619 (JP, A) JP-A-2-187615 (JP, A)

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】回転駆動される回転体と、その回転体に対
して相対的に検査すべきプリント基板を移動せしめる手
段と、前記回転体の回転中心を中心とする略同一円周上
に位置し、それぞれ前記プリント基板に略垂直な方向よ
りビームスポットを照射し、そのビームスポットが前記
回転体の回転に伴って順次プリント基板を走査するよう
前記回転体上に配置された複数のビームスポット発生手
段と、前記回転体上にそれぞれの前記ビームスポットを
中心として放射状に配置され、前記プリント基板よりの
前記ビームスポットの反射光を受光して、その反射光の
受光位置に応じた検出出力を発生する複数の光電変換手
段とを備え、前記検出出力として前記プリント基板面上
の凹凸に応じた出力を得ることを特徴とする実装済プリ
ント基板の検査装置。
1. A rotary body which is rotationally driven, a means for moving a printed circuit board to be inspected relative to the rotary body, and a position on substantially the same circumference around a rotation center of the rotary body. Then, a plurality of beam spots are arranged on the rotating body so that each of the printed board is irradiated with a beam spot in a direction substantially vertical, and the beam spot sequentially scans the printed board as the rotating body rotates. Means and radially arranged around each of the beam spots on the rotating body, receives the reflected light of the beam spot from the printed circuit board, and generates a detection output according to the receiving position of the reflected light. And a plurality of photoelectric conversion means for obtaining the output according to the unevenness on the surface of the printed board as the detection output. .
【請求項2】回転駆動される回転体と、その回転体に対
して相対的に検査すべきプリント基板を移動せしめる手
段と、前記回転体の回転中心を中心とする略同一円周上
に位置し、それぞれ前記プリント基板に略垂直な方向よ
りビームスポットを照射し、そのビームスポットが前記
回転体の回転に伴って順次プリント基板を走査するよう
前記回転体上に配置された複数のビームスポット発生手
段と、前記回転体上にそれぞれの前記ビームスポットを
中心として放射状に配置され、前記プリント基板よりの
前記ビームスポットの反射光を受光して、その反射光の
受光位置に応じた第1の検出出力と輝度に応じた第2の
検出出力とを発生する複数の光電変換手段を備え、前記
第1の検出出力により前記プリント基板上の凹凸に応じ
た出力を得、前記第2の検出出力により前記プリント基
板面上の各位置の輝度に応じた出力を得ることを特徴と
する実装済プリント基板の検査装置。
2. A rotating body that is rotationally driven, a means for moving a printed circuit board to be inspected relative to the rotating body, and a position on substantially the same circumference around the rotation center of the rotating body. Then, a plurality of beam spots are arranged on the rotating body so that each of the printed board is irradiated with a beam spot in a direction substantially vertical, and the beam spot sequentially scans the printed board as the rotating body rotates. Means for radiating the beam spots on the rotator around the respective beam spots, and receives the reflected light of the beam spots from the printed circuit board, and performs a first detection according to the light receiving position of the reflected light. A plurality of photoelectric conversion means for generating an output and a second detection output according to the brightness, and an output according to the unevenness on the printed circuit board is obtained by the first detection output, Second detection output by the inspection apparatus of the populated printed circuit board, characterized in that to obtain an output corresponding to the luminance of each position on the printed circuit board surface.
【請求項3】プリント基板上のビームスポットの照射位
置より前記ビームスポットに対し20〜30度の範囲に光電
変換素子を配置したことを特徴とする特許請求の範囲第
1項または第2項記載の実装済プリント基板の検査装
置。
3. A photoelectric conversion element is arranged within a range of 20 to 30 degrees from the irradiation position of the beam spot on the printed circuit board, and the photoelectric conversion element is arranged in the range of 1 or 2. Inspection device for mounted printed circuit boards.
【請求項4】ビームスポットは、プリント基板表面の標
準位置より略1mm上方で収束するよう絞られていること
を特徴とする特許請求の範囲第1項または第2項記載の
実装済プリント基板の検査装置。
4. The mounted printed circuit board according to claim 1 or 2, wherein the beam spot is narrowed so as to converge approximately 1 mm above a standard position on the surface of the printed circuit board. Inspection device.
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