JPH071798Y2 - Electronic component supply device - Google Patents

Electronic component supply device

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JPH071798Y2
JPH071798Y2 JP766591U JP766591U JPH071798Y2 JP H071798 Y2 JPH071798 Y2 JP H071798Y2 JP 766591 U JP766591 U JP 766591U JP 766591 U JP766591 U JP 766591U JP H071798 Y2 JPH071798 Y2 JP H071798Y2
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Japan
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chute
electronic component
jam
constant temperature
stopped
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JP766591U
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Inventor
利夫 尾亦
貴史 三岡
Original Assignee
株式会社テセック
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Publication date
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Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本考案は、IC、コンデンサ、デ
ィスクリートデバイス等の電子部品の検査、選別、捺印
装置等に使用して好適な電子部品の供給装置に関するも
のである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a device for supplying electronic parts suitable for use in inspection, selection, and marking devices for electronic parts such as ICs, capacitors, and discrete devices.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、IC、コンデンサ、ディスク
リートデバイス等のモールド型電子部品(以下総称して
電子部品と云う)の検査、選別、捺印等を行う装置にお
いては、未検査の電子部品を一端が開放するスティッ
ク、マガジン等の収納容器内に所定個数収納している。
デバイスを収納したスティックはストッカ内に積層待機
されており、検査時に最下段のものから順次デバイス供
給位置に移動されて開口端側を下方に向けて所定角度傾
斜される。すると、スティック内の電子部品は自重によ
ってシュート上に順次排出供給され、シュート上を滑動
して測定部へ導かれる。
2. Description of the Related Art Conventionally, in an apparatus for inspecting, selecting, marking, etc., a mold type electronic component (hereinafter collectively referred to as an electronic component) such as an IC, a capacitor, a discrete device, etc. A predetermined number is stored in a storage container such as a stick or magazine that opens.
The sticks containing the devices are stacked and waiting in the stocker, and at the time of inspection, the sticks are sequentially moved from the bottommost one to the device supply position and tilted at a predetermined angle with the opening end side facing downward. Then, the electronic components in the stick are sequentially discharged and supplied onto the chute by its own weight, and slide on the chute to be guided to the measuring unit.

【0003】図5はこのような電子部品の検査装置の従
来例を示すもので、1は多数の電子部品2を整列収納す
るスティック、3はローディング部4に設置され多数の
スティック1を収納するストッカ(デバイス収納部)、
5はデバイス2を搬送するシュートで、その傾斜角度は
電子部品一個当たりの検査時間によって決定される。ス
トッカ3内のスティック1は開口端が下に向くように反
時計方向に回動されてシュート5と同一傾斜角度に設定
保持されることにより、電子部品2をシュート5上に排
出する。電子部品2はリードを下に向けてシュート5上
に排出され、自重によって滑動して略垂直な測定部6に
一個ずつ順次導かれ、テスタ7によって特性測定され
る。測定部6の上方には上下方向に回動自在な反転装置
8が設けられており、これによって電子部品2の前後を
逆にし、リードをテスタ7側に向けることでテスタ7に
よる測定を容易にすると共に、アンローディング時の上
下方向の向きおよびスティック内のデバイスの位置とス
ティック出口の関係がローディング時と同じになるよう
にしている。テスタ7によって特性測定された電子部品
2は各カテゴリへその性能に応じて分類され、選別シュ
ート9を通ってアンローディグ部10に設置された空の
スティック11に順次収納され、次工程に搬送される。
FIG. 5 shows a conventional example of such an electronic component inspection apparatus. Reference numeral 1 is a stick for aligning and storing a large number of electronic components 2 and 3 is installed in a loading section 4 for storing a large number of sticks 1. Stocker (device storage),
The chute 5 conveys the device 2, and the inclination angle thereof is determined by the inspection time for each electronic component. The stick 1 in the stocker 3 is rotated counterclockwise so that the opening end faces downward and is set and held at the same inclination angle as the chute 5, so that the electronic component 2 is ejected onto the chute 5. The electronic components 2 are discharged onto the chute 5 with their leads facing downward, are slid by their own weight, are sequentially guided one by one to the substantially vertical measuring unit 6, and the characteristics are measured by the tester 7. A reversing device 8 which is rotatable in the vertical direction is provided above the measuring section 6, whereby the front and rear of the electronic component 2 are reversed and the leads are directed to the tester 7 side, thereby facilitating the measurement by the tester 7. In addition, the vertical direction at the time of unloading and the relationship between the position of the device in the stick and the stick outlet are the same as those at the time of loading. The electronic components 2 whose characteristics have been measured by the tester 7 are classified into respective categories according to their performances, passed through the sorting chute 9 and sequentially stored in the empty stick 11 installed in the unloading section 10, and are conveyed to the next process. .

【0004】ところで、電子部品2はデバイスジャム
(モールドバリの干渉による電子部品同士の結合)、摩
擦などによりシュート5中で停止し易く、これを解消す
るために通常適宜なジャム解消部材や手で電子部品2を
叩いたり、あるいはまた圧縮空気を吹き付けてシュート
下方へ強制移動させるようにしている。この場合、シュ
ート5や測定部6を恒温槽内に収納配置して電子部品2
の低温テスト(−55°C〜0°C程度)や高温テスト
(50°C〜150°C程度)を行う供給装置にあって
は、電子部品2がシュート5中で停止する度に恒温槽の
カバーまたは窓を開いてジャムを解消したり、または恒
温槽の周壁に設けられ通常栓によって閉止されている穴
の前記栓を外してここから適宜な棒を挿入し、電子部品
2を突いて動かすようにしている。
By the way, the electronic component 2 is easily stopped in the chute 5 due to device jam (bonding of electronic components due to interference of mold burr), friction, etc. In order to eliminate this, an appropriate jam eliminating member or hand is usually used. The electronic component 2 is struck or compressed air is blown to forcefully move the electronic component 2 below the chute. In this case, the chute 5 and the measuring unit 6 are housed and arranged in a thermostatic chamber, and the electronic component 2
In the supply device that performs the low temperature test (about -55 ° C to 0 ° C) and the high temperature test (about 50 ° C to 150 ° C), the thermostatic bath is used every time the electronic component 2 stops in the chute 5. Open the cover or window to eliminate the jam, or remove the plug of the hole that is usually provided on the peripheral wall of the thermostatic chamber and closed by the plug, insert an appropriate rod from here, and poke the electronic component 2 I try to move it.

【0005】[0005]

【考案が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな低温または高温環境下で電子部品2の検査を行うよ
うにした従来装置にあっては、電子部品2のジャムが発
生すると、その都度カバーや窓を開いてジャムの解消を
図っているため、恒温槽内部の温度が変化し、ジャム解
消後内部温度が所定温度に戻るまで検査を中断せざるを
得ず、そのため装置の稼働率および信頼性を低下させる
と云う問題があった。また、低温検査の場合は、恒温槽
を長い時間開けていると、内部に湿気が入り、霜付きの
原因になり、ジャムの多発、電子部品2の温度特性への
影響等も考えられる。なお、恒温槽の周壁に穴を明けた
程度では、その付近のジャムしか解消できず、圧縮空気
の使用はその供給源や配管を必要とするため設備が大掛
かりで、高価になると云う問題があった。
However, in the conventional apparatus which inspects the electronic component 2 in such a low temperature or high temperature environment, when a jam of the electronic component 2 occurs, a cover or a cover is required each time. Since the window is opened to eliminate the jam, the temperature inside the thermostatic chamber changes, and the inspection must be interrupted until the internal temperature returns to the specified temperature after the jam is eliminated, and therefore the operating rate and reliability of the device. There was a problem that it lowered. Further, in the case of low-temperature inspection, if the constant temperature bath is opened for a long time, moisture may enter the inside, causing frost, frequent occurrence of jams, and influence on the temperature characteristics of the electronic component 2. In addition, there is a problem that if you make a hole in the peripheral wall of the constant temperature tank, only the jam in the vicinity can be resolved, and the use of compressed air requires a supply source and piping, so the equipment is large and expensive. It was

【0006】したがって、本考案は上記したような従来
の問題点に鑑みてなされたもので、その目的とするとこ
ろは、比較的簡単な構成で、恒温槽を開くことなく外部
から電子部品のジャムを簡単に解消することができるよ
うにした電子部品の供給装置を提供することにある。
Therefore, the present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and its purpose is to have a relatively simple structure and to jam electronic parts from the outside without opening a constant temperature bath. An object of the present invention is to provide an electronic component supply device capable of easily solving the above problems.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本考案は上記目的を達成
するため、恒温槽の内部に電子部品を移送するシュート
と、軸周りに回動自在で一端部が恒温槽外部へ突出し前
記シュートと略平行に且つシュートの略全長に亙って進
退移動されるジャム解消棒を配設してなり、このジャム
解消棒の他端部に前記シュート中に引っ掛かって停止し
ている電子部品を叩いて滑動させるブレードを設けたも
のである。
In order to achieve the above object, the present invention provides a chute for transferring electronic parts inside a thermostatic chamber, and a chute that is rotatable around an axis and has one end protruding outside the thermostatic chamber. A jam eliminating rod that is moved back and forth over substantially the entire length of the chute is arranged, and the electronic component that is stopped by being caught in the chute at the other end of the jam eliminating rod is hit. It is provided with a sliding blade.

【0008】[0008]

【作用】本考案において、ジャム解消棒は恒温槽の外部
に常時突出する一端部を操作されることにより、シュー
トと略平行に進退移動されると共に軸周りに回動され、
ブレ−ドがシュート途中に停止している電子部品を叩く
か押して移動させる。
In the present invention, the jam eliminating rod is moved forwards and backwards substantially parallel to the chute and rotated around the axis by operating the one end portion which constantly projects to the outside of the constant temperature bath.
The blade strikes or pushes an electronic component that is stopped mid-shoot to move it.

【0009】[0009]

【実施例】以下、本考案を図面に示す実施例に基づいて
詳細に説明する。図1は恒温槽の断面図、図2はシュー
トとジャム解消棒の要部平面図、図3は同シュートとジ
ャム解消棒の断面図、図4は電子部品の供給装置を示す
正面図である。なお、図中図5と同一構成部品のものに
対しては同一符号を以て示しその説明を省略する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will now be described in detail with reference to the embodiments shown in the drawings. FIG. 1 is a sectional view of a thermostatic chamber, FIG. 2 is a plan view of essential parts of a chute and a jam eliminating rod, FIG. 3 is a sectional view of the chute and a jam eliminating rod, and FIG. 4 is a front view showing a supply device for electronic parts. . In the figure, the same components as those in FIG. 5 are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

【0010】図4において、15は検査装置本体、16
はシュート5を内蔵し内部が所定温度(例:+150°
C〜−50°C)に設定保持される恒温槽、17はオペ
レ−ションボックス、18は空のスティック11の収納
容器、19はデバイス供給位置20に配設された供給シ
ュート、21、22は供給シュート19に対応して配設
されたクロスシュート、23は測定部6を所定温度に設
定保持する恒温槽である。
In FIG. 4, reference numeral 15 denotes an inspection apparatus main body, and 16
Has a built-in chute 5 and has a predetermined temperature inside (eg: + 150 °
C to −50 ° C.), a constant temperature bath, 17 is an operation box, 18 is a storage container for the empty stick 11, 19 is a supply chute arranged at the device supply position 20, and 21 and 22 are A cross chute arranged corresponding to the supply chute 19 and a constant temperature bath 23 for holding the measuring unit 6 at a predetermined temperature.

【0011】前記恒温槽16は、電子部品2の低温テス
トや高温テストを行うために設けられるもので、内部の
空気温度を一定に保ち、前記クロスシュート21、22
から固定シュート24を経て送られてくる常温の電子部
品2を所定温度に冷却したり、加熱したりする。固定シ
ュート24は図1に示すように恒温槽16の上流側壁面
16aに開設された挿通孔25に貫通して設けられてい
る。前記シュート5は、マルチシュートを形成するもの
で、前記恒温槽16内に配設された回転軸26に設けら
れた円板27a、27bの外周に周方向に等配されて複
数個配設されている。前記回転軸26は、前記恒温槽1
6内に配設された軸保持部材28、28にベアリング2
9を介して回転自在に保持されており、恒温槽16の上
流側壁面16aから外部へ突出する突出端にモータ30
の回転がインデックスドライブ装置31および回転伝達
機構を形成するベルト32およびプーリ33a〜33c
を介して伝達されることにより、一定時間毎に一定角度
だけ間欠的に回転され、順次前記シュート5を電子部品
2の受取位置に移動停止させる。この受取位置は、前記
固定シュート24と同一軸線上で、シュート5の上流側
開口端がシュート24の下流側開口端と近接対向する位
置とされ、これによって固定シュート24内の電子部品
2がシュート5に導かれる。そして、電子部品2はシュ
ート5内に一定時間収納され所定温度に加熱もしくは冷
却される。電子部品2の加熱手段としては一般にヒータ
が使用され、恒温槽16内部の空気を熱し、ファンで攪
拌することで内部温度の均一化を図る。冷却にする場合
は、液体窒素が気化した低温ガスを恒温槽16内に噴出
して行う。前記シュート5の下流側開口端には不図示の
ストッパが設けられており、このストッパは回転軸26
が一回転する毎に動作してシュート5を開く。そして、
シュート5が開くと、内部の電子部品2は搬送シュート
34を通って測定部6へ送られる。なお、本実施例にお
いてはシュート5をマルチシュートで構成したが、デバ
イスサイズが小さく熱容量が小さい電子部品2の場合は
短時間で冷却もしくは加熱されるため、マルチシュート
にする必要がない。いずれにしても、所定温度に達した
電子部品2は、一個ずつ分離されて測定部6へ送られて
テスタ7により特性測定され、しかる後分類シャトル
(図示せず)によって測定結果に基づいて収納容器18
内の指定された分類カテゴリのスティック11内に収納
されることは従来装置と同様である。
The constant temperature chamber 16 is provided to perform a low temperature test and a high temperature test of the electronic component 2, and keeps the internal air temperature constant, and the cross shoots 21 and 22.
The electronic component 2 at room temperature sent from the fixed chute 24 through the fixed chute 24 is cooled or heated to a predetermined temperature. As shown in FIG. 1, the fixed chute 24 is provided so as to penetrate an insertion hole 25 formed in the upstream side wall surface 16a of the constant temperature bath 16. The chute 5 forms a multi-chute, and a plurality of chute 5 are arranged at equal intervals in the circumferential direction on the outer circumferences of the disks 27a and 27b provided on the rotary shaft 26 provided in the constant temperature bath 16. ing. The rotary shaft 26 is the constant temperature bath 1.
The bearing 2 is attached to the shaft holding members 28, 28 arranged in
9 is rotatably held via the motor 9, and the motor 30
Rotation of the index drive device 31 and the belt 32 and pulleys 33a to 33c that form the rotation transmission mechanism.
By being transmitted via the motor, the chutes 5 are intermittently rotated by a constant angle at regular intervals, and the chute 5 is sequentially stopped at the receiving position of the electronic component 2. This receiving position is a position where the upstream opening end of the chute 5 closely faces the downstream opening end of the chute 24 on the same axis as the fixed chute 24, whereby the electronic component 2 in the fixed chute 24 shoots. Guided to 5. Then, the electronic component 2 is housed in the chute 5 for a certain period of time and heated or cooled to a predetermined temperature. A heater is generally used as a heating means of the electronic component 2, and the air inside the constant temperature bath 16 is heated and agitated by a fan to make the internal temperature uniform. In the case of cooling, a low temperature gas in which liquid nitrogen is vaporized is jetted into the constant temperature bath 16. A stopper (not shown) is provided at the downstream opening end of the chute 5, and the stopper is the rotating shaft 26.
Moves every one revolution to open the chute 5. And
When the chute 5 is opened, the internal electronic component 2 is sent to the measuring unit 6 through the transfer chute 34. Although the chute 5 is configured by a multi-shoot in the present embodiment, the electronic component 2 having a small device size and a small heat capacity is cooled or heated in a short time, and thus it is not necessary to use the multi-shoot. In any case, the electronic components 2 that have reached the predetermined temperature are separated one by one and sent to the measurement unit 6 and the characteristics are measured by the tester 7, and then stored based on the measurement results by the classification shuttle (not shown). Container 18
It is stored in the stick 11 of the designated classification category in the same as the conventional device.

【0012】図4において、前記2本のクロスシュート
21、22は、本出願人によって既に出願された特願平
2−321159号に詳細に開示されたものと同一のも
ので、同一形状で、同一長さを有し、それぞれ恒温槽1
6側端部がデバイス入口兼排出口を形成し、他端が閉塞
されている。またこれらのクロスシュート21、22
は、ロータリーアクチュエータ(図示せず)等によって
時計および反時計方向に交互に180度だけ間欠的に回
動される水平な回動軸38にその軸線を挟んで両側に、
且つ垂直面内にて前記軸線と略同一角度で交叉するよう
点対称に配設されている。そして回動軸38が半回転す
ると、一方のクロスシュート、例えば21がデバイス受
取位置に、他方のクロスシュート22がデバイス排出位
置に移動されて交互にその位置を入れ替え、デバイス受
取位置においては前記デバイス入口兼排出口を上に向け
て傾斜されることにより、スティック1より所定数の電
子部品2が供給シュート19を通って落下収納され、デ
バイス排出位置において前記デバイス入口兼排出口を下
に向けて傾斜されることにより、内部の電子部品2が一
個ずつ自重によって前記固定シュート24に排出される
ようになっている。
In FIG. 4, the two cross chutes 21 and 22 are the same as those disclosed in detail in Japanese Patent Application No. 2-321159 already filed by the present applicant, and have the same shape, It has the same length and each is in a constant temperature bath 1.
The 6-side end portion forms a device inlet / outlet port, and the other end is closed. Also, these cross shoots 21, 22
Is a horizontal rotary shaft 38 that is intermittently rotated by 180 degrees in a clockwise and counterclockwise direction alternately by a rotary actuator (not shown) or the like, with its axis sandwiched between both sides,
Moreover, they are arranged point-symmetrically so as to intersect with the axis at substantially the same angle in the vertical plane. Then, when the rotating shaft 38 makes a half rotation, one cross chute, for example, 21 is moved to the device receiving position and the other cross chute 22 is moved to the device ejecting position, and the positions are alternately exchanged. By tilting the inlet / outlet port upward, a predetermined number of electronic components 2 are dropped and stored from the stick 1 through the supply chute 19, and the device inlet / outlet port is directed downward at the device ejection position. By being inclined, the internal electronic components 2 are discharged one by one to the fixed chute 24 by their own weight.

【0013】さて、前記恒温槽16の内部には前記シュ
ート5に導かれた電子部品2が何らかの原因で停止した
場合、これを解消するジャム解消棒42が配設されてい
る。ジャム解消棒42は、図1〜図4に示すように前記
シュート5より長く形成されて、シュート5と略平行に
配設されるもので、ガイド部材43によって回動自在に
且つ進退移動自在に保持されており、一端部が前記恒温
槽16の上流側壁面16aに開設された挿通孔(図示せ
ず)より気密のベアリング(図示せず)を介して外部へ
突出し、他端部には電子部品2のジャムを解消するブレ
ード44が一体的に設けられている。ブレード44は、
ジャム解消棒42と直交するように設けられ、その先端
部が下方に向かって略直角に折曲されたL字形状とさ
れ、通常は前記シュート5の下流側に設けられたレスト
45に係止されている。前記シュート5の上面には長手
方向略全長に亙って延在する連続した(もしくは不連続
な)長孔47が形成されている。またこのシュート5に
対応して前記恒温槽16の上面には覗き窓48が形成さ
れており、これによって電子部品2がシュート5の途中
で停止しているか否かを一目で確認することができる。
覗き窓48は透明ガラス49によって気密に閉鎖されて
いる。電子部品2がシュート5の途中で引っ掛かった場
合は、ジャム解消棒42の外端部を把持してレスト45
からブレード44を外し、覗き窓48から見ながらジャ
ム解消棒42を引き出してブレード44を電子部品2が
停止している位置まで移動させ、しかる後ジャム解消棒
42を図3において時計方向に回動させてブレード44
の先端部を長孔47内に挿入し、停止している電子部品
2の上面を軽く叩くか、下流側に押すことにより簡単に
ジャムを解消することができる。ジャム解消後は、ジャ
ム解消棒42を元に位置に戻してブレード44をレスト
45に引っ掛けておく。なお、このような構成からなる
ジャム解消手段としてのジャム解消棒42は、図4に示
すように前記測定部6を所定温度に保持する恒温槽23
にも設けられるものである。
A jam eliminating rod 42 is provided inside the constant temperature bath 16 for eliminating the electronic component 2 guided to the chute 5 when it stops for some reason. As shown in FIGS. 1 to 4, the jam eliminating rod 42 is formed to be longer than the chute 5 and is disposed substantially parallel to the chute 5, and is rotatably and reciprocally moved by the guide member 43. It is held, one end of which protrudes to the outside through an airtight bearing (not shown) from an insertion hole (not shown) formed in the upstream side wall surface 16a of the thermostat 16, and the other end has an electron. A blade 44 that eliminates a jam of the component 2 is integrally provided. The blade 44 is
The jam eliminating rod 42 is provided so as to be orthogonal to the jam eliminating rod 42, and the tip end thereof is bent downward at a substantially right angle to form an L-shape, which is normally locked to a rest 45 provided on the downstream side of the chute 5. Has been done. A continuous (or discontinuous) long hole 47 extending over substantially the entire length in the longitudinal direction is formed on the upper surface of the chute 5. A viewing window 48 is formed on the upper surface of the constant temperature bath 16 corresponding to the chute 5, so that it can be checked at a glance whether the electronic component 2 is stopped in the middle of the chute 5. .
The viewing window 48 is hermetically closed by a transparent glass 49. If the electronic component 2 is caught in the middle of the chute 5, the outer end of the jam eliminating rod 42 is grasped and the rest 45 is held.
Remove the blade 44 from the above, pull out the jam eliminating rod 42 while looking through the peep window 48, move the blade 44 to the position where the electronic component 2 is stopped, and then rotate the jam eliminating rod 42 clockwise in FIG. Let the blade 44
The jam can be easily eliminated by inserting the tip of the above into the long hole 47 and tapping the top surface of the stopped electronic component 2 or pushing it to the downstream side. After clearing the jam, the jam clearing rod 42 is returned to the original position and the blade 44 is hooked on the rest 45. The jam eliminating rod 42 as the jam eliminating means having the above-described structure is used in the constant temperature bath 23 for keeping the measuring unit 6 at a predetermined temperature as shown in FIG.
Is also provided.

【0014】かくしてこのような構成からなる電子部品
の供給装置にあっては、電子部品がジャム、摩擦等によ
ってシュート5の途中で停止した場合、恒温槽16を開
く必要がなく、外部からジャム解消棒42を進退移動さ
せると共に回動させ、停止している電子部品2をブレー
ド44で叩くだけでよいため、恒温槽16の内部温度が
変化したり、外気、特に湿気が恒温槽16内に侵入した
りすることがなく、速やかに測定を再開させることがで
きる。また、ジャム解消手段の構成も簡単である。
Thus, in the electronic component supplying apparatus having such a structure, when the electronic component is stopped in the middle of the chute 5 due to jam, friction or the like, it is not necessary to open the thermostatic chamber 16 and the jam is eliminated from the outside. Since the rod 42 is moved back and forth and rotated and the stopped electronic component 2 is only hit by the blade 44, the internal temperature of the constant temperature chamber 16 changes, and the outside air, particularly humidity enters the constant temperature chamber 16. The measurement can be promptly restarted without any trouble. Moreover, the configuration of the jam eliminating means is also simple.

【0015】[0015]

【考案の効果】以上説明したように本考案に係る電子部
品の供給装置は、シュートが配設された恒温槽内にジャ
ム解消棒を前記シュートと略平行に、進退移動自在に且
つ回動自在に配設してその一端部を恒温槽の外部に突出
させ、デバイスジャム、摩耗等によって電子部品がシュ
ート中で停止した場合、前記ジャム解消棒を外部から操
作して停止している電子部品を叩く(もしくは押す)よ
うに構成したので、恒温槽を開くことなく停止している
電子部品を簡単に移動させることができる。従って、恒
温槽の内部温度が変化せず、また外気も侵入する恐れが
なく、装置の稼働率および信頼性を向上させることがで
きる。
As described above, in the electronic component supplying apparatus according to the present invention, the jam eliminating rod is movably and reciprocally movable substantially parallel to the chute in the thermostatic chamber in which the chute is arranged. When the electronic parts are stopped in the chute due to device jam, wear, etc., one end of the electronic parts is operated to stop the electronic parts which are stopped by operating the jam eliminating rod from the outside. Since it is configured to be tapped (or pushed), it is possible to easily move the stopped electronic component without opening the constant temperature bath. Therefore, the internal temperature of the constant temperature bath does not change, and there is no risk of invasion of outside air, and the operating rate and reliability of the device can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】恒温槽の断面図である。FIG. 1 is a sectional view of a constant temperature bath.

【図2】シュートとジャム解消棒の要部平面図である。FIG. 2 is a plan view of essential parts of a chute and a jam clearing rod.

【図3】同シュートとジャム解消棒の断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of the chute and the jam clearing rod.

【図4】電子部品の供給装置を示す正面図である。FIG. 4 is a front view showing a device for supplying electronic components.

【図5】従来の電子部品の検査装置を示す概略正面図で
ある。
FIG. 5 is a schematic front view showing a conventional electronic component inspection apparatus.

【符号の説明】 1 スティック 2 電子部品 5 シュート 6 測定部 16 恒温槽 42 ジャム解消棒 44 ブレード 45 ストッパ 47 長孔 48 覗き窓[Explanation of symbols] 1 stick 2 electronic parts 5 chute 6 measuring part 16 constant temperature bath 42 jam clearing rod 44 blade 45 stopper 47 long hole 48 viewing window

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/66 G 7630−4M 23/00 A ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Office reference number FI technical display location H01L 21/66 G 7630-4M 23/00 A

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 恒温槽の内部に電子部品を移送するシュ
ートと、軸周りに回動自在で一端部が恒温槽外部へ突出
し前記シュートと略平行に且つシュートの略全長に亙っ
て進退移動されるジャム解消棒を配設してなり、このジ
ャム解消棒の他端部に前記シュート中に引っ掛かって停
止している電子部品を叩いて滑動させるブレードを設け
たことを特徴とする電子部品の供給装置。
1. A chute for transferring electronic parts into a thermostat, and a chute that is rotatable around an axis and has one end protruding outside the thermostat and is moved back and forth substantially parallel to the chute and substantially the entire length of the chute. A jam eliminating rod is provided, and a blade for hitting and sliding an electronic component which is caught in the chute and stopped is provided at the other end of the jam eliminating rod. Supply device.
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