JPH07174558A - レーザ測量設備と、該設備を用いたレーザ測量方法 - Google Patents

レーザ測量設備と、該設備を用いたレーザ測量方法

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JPH07174558A
JPH07174558A JP34401093A JP34401093A JPH07174558A JP H07174558 A JPH07174558 A JP H07174558A JP 34401093 A JP34401093 A JP 34401093A JP 34401093 A JP34401093 A JP 34401093A JP H07174558 A JPH07174558 A JP H07174558A
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JP
Japan
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point
angle
dimensional position
detection
emission
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Application number
JP34401093A
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English (en)
Inventor
Hiroshi Sakurai
浩 桜井
Tomonori Takada
知典 高田
Tatsunori Sada
達典 佐田
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Mitsui Construction Co Ltd
Original Assignee
Mitsui Construction Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】測量値に対する補正を頻繁に行って信頼性の高
い測量を行う。 【構成】基準ターゲット及び検出ターゲットを有し、レ
ーザ光を2つの射出点より走査させる第一、第二レーザ
光射出手段を設け、走査角θBP、θBQを検出する走
査角度検出手段16P、16Qと、両射出点から各基準
ターゲットに向かう第一、第二既知点方向HP1〜HP
4、HQ1〜HQ4を設定する既知点方向設定部35を
設け、走査角θBP、θBQと基準、検出ターゲットと
の対応関係を判定する第一、第二走査角判定部31、3
2と、該判定結果より、基準点に対する両射出点の相対
二次元位置SP、SQを演算する相対二次元位置演算部
33を設け、前記判定結果と相対二次元位置SP、SQ
より、検出点の二次元位置NJxを演算する二次元位置
演算部30と、二次元位置NJxを出力する出力部27
を設けて構成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光を利用して二
次元位置を検出する形で測量を行うのに好適なレーザ測
量設備と、該設備を用いたレーザ測量方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、X、Y座標等の二次元位置が既知
である複数の既知点に対する相対二次元位置がそれぞれ
求められ得る2つのレーザ射出点より、所定の走査平面
内でレーザ光をそれぞれ射出走査し、測量すべき検出点
に設置された検出用ターゲットより反射してくるこれら
レーザ光の方向を示す走査角をそれぞれ検出することに
より、2つのレーザ射出点に対する前記検出用ターゲッ
トの相対二次元位置を求め、複数の既知点に対する2つ
のレーザ射出点の相対二次元位置及び、2つのレーザ射
出点に対する検出用ターゲットの相対二次元位置によ
り、検出用ターゲットのX、Y座標等の二次元位置即
ち、測量すべき検出点のX、Y座標等の二次元位置を検
出するレーザ測量が提案され実施されている。また、前
記レーザ測量においては、空気中の温度ムラ等により、
射出されたレーザ光が屈折していることが多く、従っ
て、この屈折したレーザ光によって求められた前記検出
用ターゲットの、2つのレーザ射出点に対する相対二次
元位置は、レーザ光の屈折状態を反映した形で求められ
る。それ故、複数の既知点に対する2つのレーザ射出点
の相対二次元位置を、2つのレーザ射出点と各既知点と
の間でレーザ光をそれぞれ射出反射させ、該レーザ光の
各走査角を検出することによって、従って、レーザ光の
屈折状態を反映した形で求めるレーザ測量方法が提案さ
れ実施されている。即ち、レーザ光の屈折状態を反映し
た形で求められた、複数の既知点に対する2つのレーザ
射出点の相対二次元位置及び、レーザ光の屈折状態を反
映した形で求められた、2つのレーザ射出点に対する検
出用ターゲットの相対二次元位置により、検出点の二次
元位置が、レーザ光の屈折による誤差を補正する形で求
められる。なお、空気中の温度ムラ等の変化によるレー
ザ光の屈折状態の変化は不用意に変化するため、複数の
既知点に対する2つのレーザ射出点の相対二次元位置
は、極力頻繁に求められるほど、検出点の二次元位置を
求める際の誤差補正の信頼性が向上する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし従来、複数の既
知点に対する2つのレーザ射出点の相対二次元位置を求
める際の、2つのレーザ射出点と各既知点との間でレー
ザ光をそれぞれ射出反射させ、該レーザ光の各走査角を
検出する作業では、各既知点にターゲットを設置する形
で行われるが、これら複数のターゲットを同時に設置し
ておいて行うことは各ターゲットを識別することが出来
ず困難であったため、該作業は、1つの既知点にターゲ
ットを設置して走査角を検出し、検出後、該ターゲット
を撤去して、他の1つの既知点にターゲットを設置して
走査角を検出するという形で、従って、各既知点毎にタ
ーゲットの設置撤去を繰り返す形で行われていた。つま
り、該作業には時間と手間がかかっていたので、複数の
既知点に対する2つのレーザ射出点の相対二次元位置
を、極力頻繁に求めることが困難であり、検出点の二次
元位置を求める際の誤差補正の信頼性の向上が困難であ
った。
【0004】本発明は、上記事情に鑑み、時間と手間を
かけずに、複数の既知点に対する2つのレーザ射出点の
相対二次元位置を求め、従って、該相対二次元位置を極
力頻繁に求めることを容易にし、測量すべき検出点の二
次元位置を求める際の誤差補正の信頼性を高めることが
可能なレーザ測量設備及び、該設備を用いたレーザ測量
方法を提供することを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】即ち、本発明のうち第一
の発明は、二次元位置(NJ1〜NJ4)が既知なる複
数の基準点(K1〜K4)にそれぞれ設置される、レー
ザ光(LSP、LSQ)を反射させ得る反射部(QQ1
〜QQ4)が形成された、複数の基準ターゲット(6A
〜6D)及び、二次元位置(NJx)を検出すべき検出
点(Kx)に設置自在な、レーザ光(LSP、LSQ)
を反射させ得る反射部(QQx)が形成された、1つの
検出ターゲット(40)を有し、レーザ光(LSP、L
SQ)を第一射出点(PP)より射出し、射出したレー
ザ光(LSP、LSQ)を走査平面(SH)上で走査さ
せ得る第一レーザ光射出手段(11P、12P、13
P、17P)及び、レーザ光(LSP、LSQ)を第二
射出点(PQ)より射出し、射出したレーザ光(LS
P、LSQ)を走査平面(SH)上で走査させ得る第二
レーザ光射出手段(11Q、12Q、13Q、17Q)
を設け、前記第一レーザ光射出手段(11P、12P、
13P、17P)に、前記第一射出点(PP)より射出
され、前記反射部(QQ1〜QQ4、QQx)で反射さ
れたレーザ光(LSP、LSQ)の第一射出角度(θB
P)を検出し得る第一射出角度検出手段(16P)を設
け、前記第二レーザ光射出手段(11Q、12Q、13
Q、17Q)に、前記第二射出点(PQ)より射出さ
れ、前記反射部(QQ1〜QQ4、QQx)で反射され
たレーザ光(LSP、LSQ)の第二射出角度(θB
Q)を検出し得る第二射出角度検出手段(16Q)を設
け、前記第一射出点(PP)から各基準ターゲット(6
A〜6D)の反射部(QQ1〜QQ4)に向かう各第一
基準点方向(HP1〜HP4)と、前記第二射出点(P
Q)から各基準ターゲット(6A〜6D)の反射部(Q
Q1〜QQ4)に向かう各第二基準点方向(HQ1〜H
Q4)とを設定し得る基準点方向設定部(35)を設
け、前記第一射出角度検出手段(16P)に、該第一射
出角度検出手段(16P)により検出された第一射出角
度(θBP)と前記第一基準点方向(HP1〜HP4)
とを比較して、該第一射出角度(θBP)と基準ターゲ
ット(6A〜6D)及び検出ターゲット(40)との対
応関係を判定する第一射出角度判定部(31)を設け、
前記第二射出角度検出手段(16Q)に、該第二射出角
度検出手段(16Q)により検出された第二射出角度
(θBQ)と前記第二基準点方向(HQ1〜HQ4)と
を比較して、該第二射出角度(θBQ)と基準ターゲッ
ト(6A〜6D)及び検出ターゲット(40)との対応
関係を判定する第二射出角度判定部(32)を設け、前
記第一射出角度判定部(31)及び前記第二射出角度判
定部(32)の判定結果に基づいて、複数の基準点(K
1〜K4)の二次元位置(NJ1〜NJ4)と、各基準
ターゲット(6A〜6D)に対応した第一、第二射出角
度(θBP、θBQ)より、これら基準点(K1〜K
4)に対する、第一、第二射出点(PP、PQ)の相対
二次元位置(SP、SQ)を演算する相対二次元位置演
算部(33)を設け、前記第一射出角度判定部(31)
及び前記第二射出角度判定部(32)の判定結果に基づ
いて、検出ターゲット(40)に対応した第一、第二射
出角度(θBP、θBQ)と、前記演算された相対二次
元位置(SP、SQ)とによって、前記検出点(Kx)
の二次元位置(NJx)を演算する二次元位置演算部
(30)を設け、二次元位置演算部(30)によって演
算された二次元位置(NJx)を出力し得る出力部(2
7)を設けて構成される。また、本発明のうち第二の発
明は、レーザ光(LSP、LSQ)を反射させ得る反射
部(QQ1〜QQ4)が形成された、複数の基準ターゲ
ット(6A〜6D)を、二次元位置(NJ1〜NJ4)
が既知なる複数の基準点(K1〜K4)にそれぞれ設置
し、第一射出点(PP)から各基準ターゲット(6A〜
6D)に向かう第一基準点方向(HP1〜HP4)を設
定し、第二射出点(PQ)から各基準ターゲット(6A
〜6D)に向かう第二基準点方向(HQ1〜HQ4)を
設定し、設定の後、レーザ光(LSP、LSQ)を反射
させ得る反射部(QQx)が形成された、1つの検出タ
ーゲット(40)を二次元位置(NJx)を検出すべき
検出点(Kx)に設置し、第一射出点(PP)及び第二
射出点(PQ)よりそれぞれレーザ光(LSP、LS
Q)を射出し、射出したレーザ光(LSP、LSQ)を
走査平面(SH)上で走査させ、前記第一射出点(P
P)より射出され、前記基準ターゲット(6A〜6D)
と検出ターゲット(40)の各反射部(QQ1〜QQ
4、QQx)で反射されたレーザ光(LSP、LSQ)
の各第一射出角度(θBP)を検出し、前記第二射出点
(PQ)より射出され、前記基準ターゲット(6A〜6
D)と検出ターゲット(40)の各反射部(QQ1〜Q
Q4、QQx)で反射されたレーザ光(LSP、LS
Q)の各第二射出角度(θBQ)を検出し、前記各第一
射出角度(θBP)と前記各第一基準点方向(HP1〜
HP4)とを比較して、検出された各第一射出角度(θ
BP)と各基準ターゲット(6A〜6D)及び検出ター
ゲット(40)との対応関係を判定し、前記各第二射出
角度(θBQ)と前記各第二基準点方向(HQ1〜HQ
4)とを比較して、検出された各第二射出角度(θB
Q)と各基準ターゲット(6A〜6D)及び検出ターゲ
ット(40)との対応関係を判定し、前記各基準ターゲ
ット(6A〜6D)に対応した各第一射出角度(θB
P)と、各第二射出角度(θBQ)とによって、各基準
ターゲット(6A〜6D)の設置された前記基準点(K
1〜K4)に対する、第一、第二射出点(PP、PQ)
の相対二次元位置(SP、SQ)を求め、検出ターゲッ
ト(40)に対応した第一、第二射出角度(θBP、θ
BQ)及び、演算された前記相対二次元位置(SP、S
Q)により、検出ターゲット(40)の設置された検出
点の二次元位置(NJx)を求めるようにして構成され
る。
【0006】なお、( )内の番号等は、図面における
対応する要素を示す、便宜的なものであり、従って、本
記述は図面上の記載に限定拘束されるものではない。以
下の作用の欄についても同様である。
【0007】
【作用】上記した構成により本発明のうち第一又は第二
の発明により測量作業を行うと、走査されたレーザ光
(LSP、LSQ)が複数の基準ターゲット(6A〜6
D)或いは検出ターゲット(40)等の複数位置で反射
し、これらレーザ光(LSP、LSQ)の第一、第二射
出角(θBP、θBQ)が略同時に検出された場合に
も、設定された第一、第二基準点方向(HP1〜HP
4、HQ1〜HQ4)とこれら第一、第二射出角(θB
P、θBQ)との比較により、第一、第二射出角(θB
P、θBQ)と、基準ターゲット(6A〜6D)及び検
出ターゲット(40)等との対応関係を判定することが
できる。
【0008】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づき説明す
る。図1は、本発明によるレーザ測量設備の一例におけ
る二次元位置検出装置を示したブロック図、図2は、図
1に示すレーザ測量設備を用いた測量作業における一工
程を示した模式図、図3は、図1に示すレーザ測量設備
におけるレーザ角度検出ユニットの内部を示した模式断
面図、図4は、図1に示すレーザ測量設備におけるレー
ザ角度検出ユニットを示した正面図である。
【0009】測量現場1には、図2に示すように、X、
Y座標からなる二次元位置NJxを求めるべき複数の検
出点Kxが存在する測量区域2と該測量区域2以外の区
域である非測量区域3が形成されており(なお、測量区
域2と非測量区域3との境界は二点鎖線で図示)、非測
量区域3には、予めX、Y座標からなる二次元位置NJ
1〜NJ4が検出され既知となっている4つの既知点K
1〜K4が設けられている。測量現場1には本発明によ
るレーザ測量設備5が設けられており、レーザ測量設備
5は4本の鉛直な棒状のターゲット6A〜6Dを、これ
らターゲット6A〜6Dを測量現場1の地面1aにそれ
ぞれ鉛直に立設固定させた形で設置し、しかもこれらタ
ーゲット6A〜6Dを各既知点K1〜K4においてそれ
ぞれ設置した形で有している。各ターゲット6A〜6D
の側部には反射部材6aがそれぞれ設けられており、反
射部材6aは、該反射部材6aにレーザ光が当たった場
合、このレーザ光を入射経路と同一の経路で反対方向に
反射させる再帰性を有している。また、レーザ測量設備
5は、ターゲット6A〜6Dと同様に形成された、1本
の検出用ターゲット40を、測量区域2の地面1aに鉛
直に立設固定でき、取外しできる形で、従って、設置自
在な形で有している。つまり、検出用ターゲット40
は、測量区域2の任意の検出点Kxにおいて設置するこ
とができる。なお、検出用ターゲット40の側部にも、
前記反射部材6aと同様のが反射部材40aが設けられ
ている。
【0010】また、レーザ測量設備5は、図1及び図2
に示すように、二次元位置検出装置7を有しており、二
次元位置検出装置7には、同様に構成された二機のレー
ザ角度検出ユニット9P、9Qが設けられている。レー
ザ角度検出ユニット9P(9Q)は、図3及び図4に示
すように、非測量区域3の地面1aに立設された三脚1
0aに支持固定された箱型のボックス10P(10Q)
を有しており、ボックス10P(10Q)の内部には、
レーザ発振部11P(11Q)、ハーフミラー12P
(12Q)、回転ミラー13P(13Q)、光センサ1
5P(15Q)、走査角度検出手段16P(16Q)、
走査駆動部17P(17Q)が設けられている(なお、
図4に示す正面図では、説明の便宜上、レーザ角度検出
ユニット9Pを、ボックス10Pを破断して内部が示さ
れる形で図示している。)。即ち、レーザ発振部11P
(11Q)により水平のうちの一方向に発振されたレー
ザ光LSP(LSQ)は、ハーフミラー12P(12
Q)の反射面12aに当たって、水平方向のうちの他の
方向である図の矢印DP(DQ)方向に屈曲反射するよ
うになっており、屈曲反射した該レーザ光LSP(LS
Q)は回転ミラー13P(13Q)に到達するようにな
っている。ところで、回転ミラー13P(13Q)は、
鉛直方向に平行な反射面13aを有しており、鉛直方向
の回転軸13bを中心に、図3の矢印GP(GQ)方向
(図の右回り方向)に回転自在に設けられている。ま
た、回転ミラー13P(13Q)は、回転軸13bを介
して、走査駆動部17P(17Q)によって図の矢印G
P(GQ)方向に回転駆動され得るようになっている。
つまり、矢印DP(DQ)方向に進んで回転ミラー13
P(13Q)に到達する前記レーザ光LSP(LSQ)
は、該回転ミラー13P(13Q)が矢印GP(GQ)
方向に回転駆動されることにより、鉛直な反射面13a
における法線方向即ち、図の矢印JP(JQ)方向が前
記ハーフミラー12P(12Q)側を向く場合に、反射
面13aの所定の反射位置PP(PQ)に当たり、該反
射位置PP(PQ)において、水平な矢印EP(EQ)
方向に反射するようになっている。なお、ボックス10
P(10Q)には、回転ミラー13P(13Q)の近傍
かつ水平側方において、レーザ出入窓19P(19Q)
が設けられており、前記矢印JP(JQ)方向と前記矢
印DP(DQ)方向とのなす角θAP(θAQ)が所定
の角度範囲βにある場合にのみ、回転ミラー13P(1
3Q)で反射した前記レーザ光LSP(LSQ)はレー
ザ出入窓19P(19Q)を通ってボックス10P(1
0Q)の外部に矢印EP(EQ)方向に進むことができ
るようになっている。また、矢印EP(EQ)方向と前
記矢印DP(DQ)方向とのなす角は走査角θBP(θ
BQ)となっており、走査角θBP(θBQ)は、前記
なす角θAP(θAQ)の2倍から180゜を引いた値
に等しい(なぜなら、反射角と入射角は等しいから)。
【0011】一方、光センサ15P(15Q)は、ハー
フミラー12P(12Q)を挾んで回転ミラー13P
(13Q)に対向する位置に設けられており、ターゲッ
トからの反射光としてのレーザ光LSP(LSQ)が外
部より水平にレーザ出入窓19P(19Q)を通して回
転ミラー13P(13Q)に到達し、反射面13aの反
射位置PP(PQ)で反射して前記矢印DP(DQ)方
向と反対方向の矢印FP(FQ)方向に進んでハーフミ
ラー12P(12Q)の反射面12aに到達した場合、
到達した該レーザ光LSP(LSQ)の一部は該ハーフ
ミラー12P(12Q)を透過直進して光センサ15P
(15Q)の受光部に受光されるようになっている。ま
た、走査駆動部17P(17Q)には、前記矢印DP
(DQ)方向に対する、該反射面13aの法線方向即
ち、図の矢印JP(JQ)方向のなす角θAP(θA
Q)を瞬時に検知し、該なす角θAP(θAQ)を、矢
印EP(EQ)方向と矢印DP(DQ)方向とのなす角
である前記走査角θBP(θBQ)に補正して、外部
(後述する制御手段20側)に出力し得る走査角度検出
手段16P(16Q)が設けられている。
【0012】以上のように構成されたレーザ角度検出ユ
ニット9P、9Qは、上述したように、ボックス10
P、10Qを支持している各三脚10a、10aを介し
て非測量区域3の地面1aに設置されており、各三脚1
0a、10aの上のボックス10P、10Qは、レーザ
出入窓19P、19Qが測量区域2側を向くように支持
固定されている。また、ボックス10P、10Qの向き
は、矢印DP、DQ方向、矢印EP、EQ方向、矢印F
P、FQ方向等が水平方向になるように調節されてお
り、各レーザ角度検出ユニット9P、9Qにおける回転
ミラー13P、13Qの反射位置PP、PQが、一定の
高さレベル(即ち、同じ標高)をもつ水平な走査平面S
H上に位置するように各三脚10a、10aの高さ等が
調節されている。つまり、レーザ角度検出ユニット9
P、9Qはレーザ光LSP、LSQを、走査平面SH上
でそれぞれ走査させ得るようになっている(なお、本実
施例ではレーザ角度検出ユニット9P、9Qの走査平面
は、同一の走査平面SHとなっているが、レーザ角度検
出ユニット9P、9Qの走査平面は、互いに平行であり
さえすれば、互いに異なった平面であってもよい。)。
【0013】一方、二次元位置検出装置7には、図1に
示すように、制御手段20が設けられている。制御手段
20は主制御部21を有しており、主制御部21にはバ
ス線21aを介して、受光検出部22P、22Q、レー
ザ制御部23P、23Q、走査駆動部制御部25P、2
5Q、キーボード等の入力部26、画像出力或いは印刷
出力等を行い得る出力部27、走査角メモリ部29、二
次元位置演算部30、第一走査角判定部31、第二走査
角判定部32、相対二次元位置演算部33、既知点方向
設定部35、二次元位置メモリ部36が接続されてい
る。また、主制御部21にはバス線21aを介して、前
記レーザ角度検出ユニット9P、9Qの走査角度検出手
段16P、16Qがそれぞれ接続されている。更に、受
光検出部22P、22Qは、前記レーザ角度検出ユニッ
ト9P、9Qの光センサ15P、15Qにそれぞれ接続
しており、レーザ制御部23P、23Qはレーザ発振部
11P、11Qにそれぞれ接続しており、走査駆動部制
御部25P、25Qは走査駆動部17P、17Qにそれ
ぞれ接続している。
【0014】レーザ測量設備5は以上のように構成され
ているので、該レーザ測量設備5を用いて測量現場1で
の測量作業を行うと次のようになる。なお、測量作業の
開始時において前記検出用ターゲット40は、未だ設置
されていないものとする。測量作業ではまず、既知点方
向設定算出作業を行う。即ち、図示しないオペレータが
二次元位置検出装置7を起動させると共に、制御手段2
0の入力部26を介して既知点方向設定作業開始の指示
を入力する。入力された作業開始の指示は、バス線21
aを介して主制御部21に伝送され、主制御部21はレ
ーザ制御部23P、23Qにレーザ発振を命令し、レー
ザ制御部23P、23Qはレーザ角検出ユニット9P、
9Qのレーザ発振部11P、11Qを始動させてレーザ
光LSP、LSQの発振を開始させる。その結果、各レ
ーザ発振部11P、11Qからは、以降継続してレーザ
光LSP、LSQが発振される。発振されたレーザ光L
SP、LSQはハーフミラー12P、12Qに反射して
図3の矢印DP、DQ方向にそれぞれ進み回転ミラー1
3P、13Qに到達する。更に主制御部21は、前記既
知点方向設定作業開始の指示を受けて、走査駆動部制御
部25P、25Qに回転ミラー13P、13Qの駆動を
それぞれ命令し、走査駆動部制御部25P、25Qは該
命令を受けてレーザ角検出ユニット9P、9Qの走査駆
動部17P、17Qを始動させて、回転ミラー13P、
13Qの回転駆動をそれぞれ開始させる。その結果、各
回転ミラー13P、13Qは以降継続して矢印GP、G
Q方向にそれぞれ回転駆動され続ける。よって、回転ミ
ラー13P、13Qが回転駆動されて、回転ミラー13
P、13Qの反射面13a、13aの法線方向である矢
印JP、JQ方向が所定の角度範囲βに属する度に、上
述したように回転ミラー13P、13Qに到達している
レーザ光LSP、LSQは、回転ミラー13P、13Q
の反射位置PP、PQにおいて反射して、レーザ出入窓
19P、19Qよりボックス10P、10Qの外部に矢
印EP、EQ方向に放たれる。つまり、測量現場1で
は、レーザ角検出ユニット9P、9Qから射出されたレ
ーザ光LSP、LSQが、反射位置PP、PQを含む水
平な前記走査平面SH上を走査している。なお、レーザ
角検出ユニット9P、9Qから放たれるレーザ光LS
P、LSQが、走査平面SHにおいて共通して到達し得
る範囲は、角度範囲β、βの大きさ或いは、反射位置P
P、PQ間の水平距離或いは、レーザ出入窓19P、1
9Qの向き等に依存して決定されるが、本実施例の二次
元位置検出装置7においては、これら角度範囲β、βの
大きさ或いは、反射位置PP、PQ間の水平距離或い
は、レーザ出入窓19P、19Qの向き等が適宜設定さ
れており、レーザ角検出ユニット9P、9Qから放たれ
るレーザ光LSP、LSQが、走査平面SHにおいて共
通して到達し得る範囲内に、4本のターゲット6A〜6
Dの位置及び、測量区域2が含まれている。
【0015】以上のようにレーザ角検出ユニット9P、
9Qから射出されたレーザ光LSP、LSQは測量現場
1の走査平面SH上を走査しているので、射出されたレ
ーザ光LSP、LSQは、既知点K1〜K4に立設され
ている各ターゲット6A〜6Dに到達する。ところで、
各ターゲット6A〜6Dの側部には再帰性を有した反射
部材6aがそれぞれ設けられており、各ターゲット6A
〜6Dの反射位置QQ1〜QQ4に当たったレーザ光L
SP、LSQはターゲット6A〜6Dまでの往路と同一
経路をそれぞれ反対方向即ち、図3の矢印MP、MQ方
向にそれぞれ反射される(なお、同一のターゲット6A
〜6Dにおいてレーザ光LSP、LSQがそれぞれ当た
る位置は近似的に同一の位置とみなしており、各ターゲ
ット6A〜6Dに対してそれぞれ反射位置QQ1〜QQ
4としている。)。レーザ光LSP、LSQの速度(光
速)は回転ミラー13P、13Qの回転移動速度に比べ
て十分に高速であるため、レーザ光LSP、LSQが回
転ミラー13P、13Qで矢印EP、EQに反射された
後、各ターゲット6A〜6Dにおいて反射し、再び矢印
MP、MQ方向に回転ミラー13P、13Qに帰ってく
るまでの時間に回転移動する回転ミラー13P、13Q
の移動量はほとんどゼロに等しいとみなせる。つまり、
矢印MP、MQ方向に回転ミラー13P、13Qに帰っ
てくるレーザ光LSP、LSQは、これらが直前に回転
ミラー13P、13Qにおいて矢印EP、EQに反射し
た際の反射位置PP、PQと同一の反射位置PP、PQ
において反射するので、前記矢印DP、DQの反対方向
である図3の矢印FP、FQ方向に回転ミラー13P、
13Qにおいて反射してハーフミラー12P、12Qに
到達する。ハーフミラー12P、12Qに到達したレー
ザ光LSP、LSQの一部は該ハーフミラー12P、1
2Qを透過して光センサ15P、15Qに受け取られ
る。光センサ15P、15Qはレーザ光LSP、LSQ
を受け取ることによって、受光検出部22P、22Qに
それぞれ所定の電圧を出力し、受光検出部22P、22
Qは光センサ15P、15Qより出力された前記所定の
電圧を検出して、レーザ光LSP、LSQを受光したこ
とを示す受光信号S1、S1をそれぞれ主制御部21に
伝送する。
【0016】ところで、レーザ角度検出ユニット9P、
9Qの走査角度検出手段16P、16Qは、随時、回転
ミラー13P、13Qの法線方向である矢印JP、JQ
方向と矢印DP、DQ方向との前記なす角θAP、θA
Qをそれぞれ検出し、これらなす角θAP、θAQを、
上述したように、それぞれ矢印EP、EQ方向と矢印D
P、DQ方向とのなす角である走査角θBP、θBQに
補正した後、これら走査角θBP、θBQを主制御部2
1に伝送している。主制御部21は、受光検出部22
P、22Qより伝送された前記受光信号S1、S1を受
け取ることによって、当該時点における走査角度検出手
段16P、16Qより伝送された最新の走査角θBP、
θBQを走査角メモリ部29にそれぞれ伝送し入力す
る。以上説明したように、レーザ角度検出ユニット9
P、9Qから射出されたレーザ光LSP、LSQはそれ
ぞれ走査平面SH上を走査しており、これらレーザ光L
SP、LSQは走査する間に各ターゲット6A〜6Dに
順次到達し反射してレーザ角度検出ユニット9P、9Q
の光センサ15P、15Qに受け取られるので、受光検
出部22P、22Qは、各ターゲット6A〜6Dから反
射したレーザ光LSP、LSQを受光したことを示す受
光信号S1、S1を、これらレーザ光LSP、LSQが
光センサ15P、15Qに受け取られる毎に主制御部2
1に伝送する。主制御部21は、受光検出部22P、2
2Qより伝送されて来る各受光信号S1、S1を受け取
る毎に最新の走査角θBP、θBQを走査角メモリ部2
9にそれぞれ伝送入力する。つまり、走査角メモリ部2
9には、射出されたレーザ光LSP、LSQが各ターゲ
ット6A〜6Dで反射する際の各走査角θBP、θBQ
が入力されている。更に続けて走査角メモリ部29に走
査角θBP、θBQが入力され、走査角メモリ部29に
走査角θBP、θBQが各々4つづつ入力された後、走
査角メモリ部29は入力完了の信号を主制御部21に伝
送する。主制御部21は、該入力完了の信号に基づい
て、走査角度検出手段16P、16Qから走査角メモリ
部29への走査角θBP、θBQの伝送を停止する。
【0017】次いで、主制御部21は第一走査角判定部
31に命令して、走査角メモリ部29に入力されている
4つの前記走査角θBPが、射出されたレーザ光LSP
が4つのターゲット6A〜6D中のどのターゲットにお
いて反射した際の走査角θBPなのかを判定させる。ま
た、主制御部21は第二走査角判定部32に命令して、
走査角メモリ部29に入力されている4つの前記走査角
θBQが、射出されたレーザ光LSQが4つのターゲッ
ト6A〜6D中のどのターゲットにおいて反射した際の
走査角θBQなのかを判定させる。ところで、ターゲッ
ト6A〜6Dの各反射位置QQ1〜QQ4と、レーザ角
度検出ユニット9P、9Qの各反射位置PP、PQとの
位置関係は、図2に示すように、これら反射位置QQ1
〜QQ4、PP、PQが環状に並んでおり、かつ右回り
に反射位置PP、PQ、QQ1、QQ2、QQ3、QQ
4の順に並んだ状態にある。なお、測量現場1にはター
ゲット6A〜6D以外に、検出用ターゲット40等、レ
ーザ光LSP、LSQを反射させるものが何も設置され
ていない。また、前記両走査角判定部31、32には、
測量作業の開始前に予め入力部26を介して、上述した
反射位置QQ1〜QQ4と反射位置PP、PQとの位置
関係に関する情報が入力されているので、第一走査角判
定部31は、4つの走査角θBPのうち小さいものから
順に、ターゲット6A〜6Dに対応した走査角θBPで
あることを判定し、第二走査角判定部32は、4つの走
査角θBQのうち小さいものから順に、ターゲット6A
〜6Dに対応した走査角θBQであることを判定する。
判定の後、主制御部21は既知点方向設定部35に、走
査角メモリ部29に入力されている4つづつの走査角θ
BP、θBQを伝送し、また、第一走査角判定部31及
び第二走査角判定部32での判定結果を伝送する。既知
点方向設定部35では、ターゲット6Aに対応した走査
角θBP、θBQに対して、図2に示すように、所定の
角度α、αをそれぞれプラス・マイナスすることによっ
て、角度αの2倍の大きさの角度範囲をもった方向であ
る第一既知点方向HP1及び第二既知点方向HQ1をそ
れぞれ設定して記憶し、同様に、ターゲット6B〜6D
に対応した各走査角θBP、θBQに対しても、所定の
角度α、αをそれぞれプラス・マイナスすることによっ
て、第一既知点方向HP2〜HP4及び第二既知点方向
HQ2〜HQ4をそれぞれ設定して記憶する。第一既知
点方向HP1〜HP4及び第二既知点方向HQ1〜HQ
4の設定記憶により既知点方向設定作業が完了する。
【0018】既知点方向設定作業に続いて、1回目の二
次元位置検出作業を行う。まず、図示しない作業員は、
図2に示すように、1本の検出用ターゲット40をもっ
て、該検出用ターゲット40を検出すべき地面1aの検
出点Kxに鉛直に設置する。次いで、図示しないオペレ
ータは、入力部26を介して二次元位置検出作業の命令
を入力する。入力された二次元位置検出作業の命令は主
制御部21に伝送される。ところで、測量現場1では、
レーザ角検出ユニット9P、9Qから射出されたレーザ
光LSP、LSQが前記走査平面SH上を継続して走査
しており、レーザ角検出ユニット9P、9Qから射出さ
れたレーザ光LSP、LSQは、既知点K1〜K4に設
置されている各ターゲット6A〜6D及び、設置された
検出用ターゲット40にそれぞれ到達する。各ターゲッ
ト6A〜6Dの反射位置QQ1〜QQ4及び、検出用タ
ーゲット40の反射位置QQxに当たったレーザ光LS
P、LSQはターゲット6A〜6D或いは、検出用ター
ゲット40までの往路と同一経路をそれぞれ反対方向即
ち、図3の矢印MP、MQ方向にそれぞれ反射される
(なお、検出用ターゲット40においてレーザ光LS
P、LSQがそれぞれ当たる位置は近似的に同一の位置
である反射位置QQxとしている。)。矢印MP、MQ
方向にそれぞれ反射されるレーザ光LSP、LSQは回
転ミラー13P、13Qの反射位置PP、PQにおいて
矢印FP、FQ方向に反射し、ハーフミラー12P、1
2Qに到達し、該ハーフミラー12P、12Qに到達し
たレーザ光LSP、LSQの一部が該ハーフミラー12
P、12Qを透過して光センサ15P、15Qに受け取
られる。光センサ15P、15Qはレーザ光LSP、L
SQを受け取ることによって、受光検出部22P、22
Qにそれぞれ所定の電圧を出力し、受光検出部22P、
22Qは光センサ15P、15Qより出力された前記所
定の電圧を検出して、レーザ光LSP、LSQを受光し
たことを示す受光信号S1、S1をそれぞれ主制御部2
1に伝送する。
【0019】また、レーザ角度検出ユニット9P、9Q
の走査角度検出手段16P、16Qは、随時、回転ミラ
ー13P、13Qのなす角θAP、θAQをそれぞれ検
出し、これらなす角θAP、θAQを走査角θBP、θ
BQに補正した後、これら走査角θBP、θBQを主制
御部21に伝送している。つまり、主制御部21は、受
光検出部22P、22Qより伝送された前記受光信号S
1、S1を受け取ることによって、当該時点の走査角度
検出手段16P、16Qより伝送された最新の走査角θ
BP、θBQを走査角メモリ部29にそれぞれ伝送入力
する。なお、現在の二次元位置検出作業以前に走査角メ
モリ部29に入力されていた走査角θBP、θBQは消
去される。以上説明したように、レーザ角度検出ユニッ
ト9P、9Qから射出されたレーザ光LSP、LSQは
走査平面SH上を走査しており、これらレーザ光LS
P、LSQは走査の間に各ターゲット6A〜6D、検出
用ターゲット40にそれぞれ到達し反射してレーザ角度
検出ユニット9P、9Qの光センサ15P、15Qに受
け取られるので、受光検出部22P、22Qは、各ター
ゲット6A〜6D、検出用ターゲット40から反射した
レーザ光LSP、LSQを受光したことを示す受光信号
S1、S1を、これらレーザ光LSP、LSQが光セン
サ15P、15Qに受け取られる毎に主制御部21に伝
送する。主制御部21は、受光検出部22P、22Qよ
り伝送されて来る各受光信号S1、S1を受け取る毎に
最新の走査角θBP、θBQを走査角メモリ部29にそ
れぞれ伝送入力する。つまり、走査角メモリ部29に
は、射出されたレーザ光LSP、LSQが各ターゲット
6A〜6D、検出用ターゲット40で反射する際の各走
査角θBP、θBQが入力されている。更に続けて走査
角メモリ部29に走査角θBP、θBQが入力され、走
査角メモリ部29に走査角θBP、θBQが各々5つづ
つ入力された後、走査角メモリ部29は入力完了の信号
を主制御部21に伝送する。主制御部21は、該入力完
了の信号に基づいて、走査角度検出手段16P、16Q
から走査角メモリ部29への走査角θBP、θBQの伝
送を停止する。
【0020】次いで、主制御部21は第一、第二走査角
判定部31、32に命令して走査角メモリ部29に入力
されている各々5つづつの前記走査角θBP、θBQと
ターゲット6A〜6D及び検出用ターゲット40との対
応関係を判定させる。ところで、第一、第二走査角判定
部31、32には、上述したように、ターゲット6A〜
6Dに対応した第一既知点方向HP1〜HP4、第二既
知点方向HQ1〜HQ4が設定され記憶されているが、
これら既知点方向HP1〜HP4、HQ1〜HQ4と走
査角メモリ部29に入力されている5つづつの走査角θ
BP、θBQとを比較することにより、走査角メモリ部
29に入力されている5つの走査角θBPのうち第一既
知点方向HP1〜HP4の各角度範囲(即ち、角αの2
倍)に含まれるものをそれぞれターゲット6A〜6Dに
対応した走査角θBPであると判定し、5つの走査角θ
BPのうち第一既知点方向HP1〜HP4の各角度範囲
のいずれにも含まれないものを検出用ターゲット40に
対応した走査角θBPであると判定する。同様にして、
走査角メモリ部29に入力されている5つの走査角θB
Qのうち第二既知点方向HQ1〜HQ4の各角度範囲
(即ち、角αの2倍)に含まれるものをそれぞれターゲ
ット6A〜6Dに対応した走査角θBQであると判定
し、5つの走査角θBQのうち第二既知点方向HQ1〜
HQ4の各角度範囲のいずれにも含まれないものを検出
用ターゲット40に対応した走査角θBQであると判定
する。なお、前記既知点方向設定作業時及び、1回目の
二次元位置検出作業時においてはいずれも、測量現場1
の空気に温度ムラが生じ、従って、射出されたレーザ光
LSP、LSQが該温度ムラによって屈折している可能
性が高い。また、空気の温度ムラは必ずしも一定ではな
いため、前記既知点方向設定作業時でのレーザ光LS
P、LSQの屈折状態と、1回目の二次元位置検出作業
時でのレーザ光LSP、LSQの屈折状態とでは異なっ
ている可能性が高い。しかし、ターゲット6A(6B〜
6D)に対応した第一既知点方向HP1〜HP4及び第
二既知点方向HQ1〜HQ4は所定の角度α、αをそれ
ぞれプラス・マイナスした角度範囲をもって設定されて
いる。つまり、屈折しないレーザ光LSP、LSQにお
いてターゲット6A(6B〜6D)に対応した走査角θ
BP、θBQ即ち、誤差のない走査角θBP、θBQが
検出されたと仮定した場合にも、該誤差のない走査角θ
BP、θBQの示す方向は対応した第一既知点方向HP
1(HP2〜HP4)及び、第二既知点方向HQ1(H
Q2〜HQ4)に含まれ、また、前記既知点方向設定作
業時とは屈折状態を異にしたレーザ光LSP、LSQに
おいてターゲット6A(6B〜6D)に対応した走査角
θBP、θBQが検出されたと仮定した場合にも、該走
査角θBP、θBQの示す方向は対応した第一既知点方
向HP1(HP2〜HP4)及び、第二既知点方向HQ
1(HQ2〜HQ4)に含まれるように、前記角度αの
2倍の角度範囲が設定されている。よって、1回目の二
次元位置検出作業で検出された走査角θBP、θBQが
前記既知点方向設定作業時に検出された走査角θBP、
θBQと異なっているとしても、1回目の二次元位置検
出作業で検出された走査角θBP、θBQは、前記既知
点方向設定作業時の走査角θBP、θBQに角度α、α
をプラス・マイナスした角度範囲内にそれぞれ収まるよ
うになっている。つまり、ターゲット6A〜6Dに対応
した各走査角θBP、θBQと、ターゲット6A〜6D
との対応関係は、これら走査角θBP、θBQと第一既
知点方向HP1〜HP4及び第二既知点方向HQ1〜H
Q4との比較によって必ず判定されるようになってい
る。また、ターゲット6A〜6D相互間の間隔等は、角
度範囲(即ち、角度αの2倍)をもった第一既知点方向
HP1〜HP4どうし或いは、角度範囲(即ち、角度α
の2倍)をもった第二既知点方向HQ1〜HQ4どうし
が互いに重なることが無いように(従って、第一既知点
方向HP1〜HP4どうし或いは、第二既知点方向HQ
1〜HQ4どうしが互いに区別しやすいように)予め設
定されている。また、反射位置PPと反射位置QQxと
の間のレーザ光LSPは第一既知点方向HP1〜HP4
のいずれとも重ならないようにターゲット6A〜6D相
互間の間隔等が予め設定されており、反射位置PQと反
射位置QQxとの間のレーザ光LSQは第二既知点方向
HQ1〜HQ4のいずれとも重ならないようにターゲッ
ト6A〜6D相互間の間隔等が予め設定されている。従
って、走査角メモリ部29に入力されている5つづつの
走査角θBP、θBQと第一既知点方向HP1〜HP
4、第二既知点方向HQ1〜HQ4を比較することによ
り、走査角メモリ部29に入力されている各々5つづつ
の前記走査角θBP、θBQとターゲット6A〜6D及
び検出用ターゲット40との対応関係を判定することが
できた。
【0021】一方、5つづつの走査角θBP、θBQと
ターゲット6A〜6D及び検出用ターゲット40との対
応関係の判定の後、主制御部21は相対二次元位置演算
部33に、走査角メモリ部29に入力されている5つづ
つの走査角θBP、θBQを伝送し、また、第一走査角
判定部31及び第二走査角判定部32での判定結果を伝
送して、相対二次元位置の算出作業を行わせる。相対二
次元位置演算部33には、測量作業の開始前に、予め入
力部26を介して既知点K1〜K4の二次元位置NJ1
〜NJ4が入力されており、相対二次元位置演算部33
は、これら二次元位置NJ1〜NJ4及び、伝送された
走査角θBP、θBQ及び、伝送された判定結果より、
所定の解析方法によって反射位置PP、PQの既知点K
1〜K4に対する相対二次元位置SP、SQを演算算出
する。即ち、反射位置PPについては、図2に示すよう
に、既知点K1〜K4に対する走査角θBPがそれぞれ
検出されているので、反射位置PPを頂点とする∠K1
・PP・K2が、既知点K2に対する走査角θBPから
既知点K1に対する走査角θBPを減じた大きさとして
算出され、同様に、反射位置PPを頂点とする∠K2・
PP・K3、∠K3・PP・K4、∠K1・PP・K
3、∠K1・PP・K4、∠K2・PP・K4が算出さ
れる。また、既知点K1〜K4の二次元位置NJ1〜N
J4はそれぞれ既知であるから、線分K1−K2、K2
−K3、K3−K4、K1−K3、K1−K4、K2−
K4の大きさがそれぞれ算出される。つまり、反射位置
PPは、線分K1−K2(K2−K3、K3−K4、K
1−K3、K1−K4、K2−K4)を弦とし、該弦に
対する円周角が∠K1・PP・K2(∠K2・PP・K
3、∠K3・PP・K4、∠K1・PP・K3、∠K1
・PP・K4、∠K2・PP・K4)となる円周上の点
であることから、これら複数の円周の交点として求めら
れる。即ち、反射位置PPの既知点K1〜K4に対する
相対二次元位置SPが算出された。反射位置PQについ
ても同様にして、反射位置PQを頂点とする∠K1・P
Q・K2、∠K2・PQ・K3、∠K3・PQ・K4、
∠K1・PQ・K3、∠K1・PQ・K4、∠K2・P
Q・K4が算出され、線分K1−K2、K2−K3、K
3−K4、K1−K3、K1−K4、K2−K4の大き
さがそれぞれ算出されるので、弦と円周角と円周の性質
を利用して、反射位置PQの既知点K1〜K4に対する
相対二次元位置SQが算出される。ところで、測量現場
1においては、上述したように、空気の温度ムラが生じ
ている可能性が高く、従って、射出されるレーザ光LS
P、LSQが屈折している可能性が高いので、前記相対
二次元位置SP、SQの算出の際に用いられた4つづつ
の走査角θBP、θBQは誤差をもっている可能性が高
い。例えば、この1回目の二次元位置検出作業におい
て、レーザ光LSP、LSQが屈折しており、各走査角
θBP、θBQが誤差をもっているとすると、誤差を含
んだ走査角θBP、θBQから算出される相対二次元位
置SP、SQは、走査角θBP、θBQの各誤差が平均
される形で算出されることになる。また、誤差を含んだ
走査角θBP、θBQから算出される計算上の相対二次
元位置SP、SQと反射位置PP、PQの実際の二次元
位置(X、Y座標)とは当然一致していない。
【0022】算出された相対二次元位置SP、SQは主
制御部21に伝送され、主制御部21は、受け取った相
対二次元位置SP、SQを二次元位置演算部30に伝送
する。また、主制御部21は、走査角メモリ部29に入
力されている5つづつの走査角θBP、θBQを伝送
し、また、第一走査角判定部31及び第二走査角判定部
32での判定結果を伝送して、二次元位置演算部30に
検出点Kxの二次元位置の演算算出を所定の解析方法に
よって行わせる。即ち、反射位置PP、PQの二次元位
置を既知であると仮定すると、検出用ターゲット40に
対する走査角θBP、θBQが検出されているため、反
射位置QQx、PP、PQをそれぞれ頂点とする三角形
が決定することから反射位置QQxの反射位置PP、P
Qに対する相対二次元位置SRが算出される。反射位置
PP、PQの既知点K1〜K4に対する相対二次元位置
SP、SQが求まっているので、該相対二次元位置S
P、SQと前記相対二次元位置SRより、反射位置QQ
xの既知点K1〜K4に対する相対二次元位置即ち、反
射位置QQxの鉛直下方の検出点Kxの既知点K1〜K
4に対する相対二次元位置が二次元位置NJxとして算
出される。ところで、上述したように、この1回目の二
次元位置検出作業において、レーザ光LSP、LSQが
屈折しており、検出用ターゲット40に対する走査角θ
BP、θBQが誤差をもっているとすると、算出された
検出点Kxの二次元位置NJxが、実際の値(X、Y座
標)に一致していると仮定した場合、検出用ターゲット
40に対する前記走査角θBP、θBQに基づいて示さ
れる、検出点Kxに対して相対的な反射位置PP、PQ
の計算上の相対二次元位置は、前記走査角θBP、θB
Qのもつ誤差のため、実際の反射位置PP、PQの位置
(X、Y座標)に一致せず、前記相対二次元位置SP、
SQに略一致するはずである。従って、算出された反射
位置PP、PQの計算上の前記相対二次元位置SP、S
Q及び検出用ターゲット40に対する走査角θBP、θ
BQを使って、逆に、検出点Kxの二次元位置NJxを
算出した場合、算出された該二次元位置NJxは実際の
値(X、Y座標)に略一致している。即ち、レーザ光L
SP、LSQの屈折状態を反映した形で求められた、複
数の既知点K1〜K4に対する反射位置PP、PQの相
対二次元位置SP、SQ及び、レーザ光LSP、LSQ
の屈折状態を反映した形で求められた、反射位置PP、
PQに対する検出点Kxの相対二次元位置SRにより、
検出点Kxの二次元位置NJxが、レーザ光LSP、L
SQの屈折による誤差を補正する形で求められた。二次
元位置演算部30は、以上のように算出した二次元位置
NJxを二次元位置メモリ部36に伝送し記憶させるこ
とにより、1回目の二次元位置検出作業を完了する。
【0023】続いて、2回目、3回目、……、と上述し
た二次元位置検出作業を、1回目の二次元位置検出作業
と同様にして繰り返して行う。即ち、次回の二次元位置
検出作業では、検出用ターゲット40を検出すべき地面
1aの次の検出点Kxに鉛直に移動させて立設設置させ
ることにより、レーザ角検出ユニット9P、9Qから射
出され走査されているレーザ光LSP、LSQがターゲ
ット6A〜6D及び検出用ターゲット40でそれぞれ反
射してレーザ角検出ユニット9P、9Qに受け取られ、
レーザ光LSP、LSQを受け取った際の走査角θB
P、θBQが走査角度検出手段16P、16Qによって
それぞれ検出され、検出された最新の走査角θBP、θ
BQが各々5つづつ走査角メモリ部29にそれぞれ伝送
入力され、入力された各々5つづつの走査角θBP、θ
BQとターゲット6A〜6D及び検出用ターゲット40
との対応関係が、設定されている第一既知点方向HP1
〜HP4、第二既知点方向HQ1〜HQ4を利用する形
で第一、第二走査角判定部31、32によって判定さ
れ、入力されている5つづつの走査角θBP、θBQ及
び第一、第二走査角判定部31、32での判定結果に基
づいて反射位置PP、PQの既知点K1〜K4に対する
相対二次元位置SP、SQが演算算出され、入力されて
いる5つづつの走査角θBP、θBQ及び第一、第二走
査角判定部31、32での判定結果及び算出された相対
二次元位置SP、SQに基づいて検出点Kxの二次元位
置NJxが演算算出され、算出された二次元位置NJx
が二次元位置メモリ部36に伝送記憶されるようにして
二次元位置検出作業が行われる。上記二次元位置検出作
業を、検出すべき検出点Kx全てについて繰返し行い、
検出すべき検出点Kx全てについての二次元位置NJx
が二次元位置メモリ部36に伝送記憶されることによっ
て、全ての二次元位置検出作業を完了する。全ての二次
元位置検出作業が完了した後、図示しないオペレータが
入力部26を介して、二次元位置NJxの出力命令を入
力する。主制御部21は該出力命令を受けて、二次元位
置メモリ部36に記憶されている二次元位置NJxを出
力部27に伝送して、出力部27に二次元位置NJxの
出力を命令する。出力部27は該命令に従って、二次元
位置NJxを図示しないオペレータ等が認識し得る形
(例えば、ディスプレイによる画像出力や印刷出力等)
で外部に出力する。出力することにより測量作業の全て
の工程が完了する。
【0024】なお、上述の実施例では、既知点方向設定
作業において、射出走査させたレーザ光LSP、LSQ
をターゲット6A〜6Dに反射させると共に、反射時の
走査角θBP、θBQを検出し、これら走査角θBP、
θBQに基づいてターゲット6A〜6Dに向かう第一既
知点方向HP1〜HP4、第二既知点方向HQ1〜HQ
4を設定した。しかし、レーザ光LSP、LSQを射出
する反射位置PP、PQのX、Y座標が既知であるなら
ば、反射位置PP、PQから各既知点K1〜K4に向か
う方向が、反射位置PP、PQ及び既知点K1〜K4の
X、Y座標の値によって幾何学的に演算できる。従っ
て、反射位置PP、PQのX、Y座標が既知である場合
には、既知点方向設定作業は、レーザ光LSP、LSQ
を射出走査させることなく、反射位置PP、PQ及び既
知点K1〜K4のX、Y座標の値を利用した演算によっ
て行うことができる。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のうち第一
の発明は、二次元位置NJ1〜NJ4等の二次元位置が
既知なる複数の既知点K1〜K4等の基準点にそれぞれ
設置される、レーザ光LSP、LSQ等のレーザ光を反
射させ得る反射位置QQ1〜QQ4等の反射部が形成さ
れた、複数のターゲット6A〜6D等の基準ターゲット
及び、二次元位置NJx等の二次元位置を検出すべき検
出点Kx等の検出点に設置自在な、レーザ光を反射させ
得る反射位置QQx等の反射部が形成された、1つの検
出用ターゲット40等の検出ターゲットを有し、レーザ
光を反射位置PP等の第一射出点より射出し、射出した
レーザ光を走査平面SH等の走査平面上で走査させ得る
レーザ発振部11P、ハーフミラー12P、回転ミラー
13P、走査駆動部17P等の第一レーザ光射出手段及
び、レーザ光を反射位置PQ等の第二射出点より射出
し、射出したレーザ光を走査平面SH等の走査平面上で
走査させ得るレーザ発振部11Q、ハーフミラー12
Q、回転ミラー13Q、走査駆動部17Q等の第二レー
ザ光射出手段を設け、前記第一レーザ光射出手段に、前
記第一射出点より射出され、前記反射部で反射されたレ
ーザ光の走査角θBP等の第一射出角度を検出し得る走
査角度検出手段16P等の第一射出角度検出手段を設
け、前記第二レーザ光射出手段に、前記第二射出点より
射出され、前記反射部で反射されたレーザ光の走査角θ
BQ等の第二射出角度を検出し得る走査角度検出手段1
6Q等の第二射出角度検出手段を設け、前記第一射出点
から各基準ターゲットの反射部に向かう第一既知点方向
HP1〜HP4等の各第一基準点方向と、前記第二射出
点から各基準ターゲットの反射部に向かう第二既知点方
向HQ1〜HQ4等の各第二基準点方向とを設定し得る
既知点方向設定部35等の基準点方向設定部を設け、前
記第一射出角度検出手段に、該第一射出角度検出手段に
より検出された第一射出角度と前記第一基準点方向とを
比較して、該第一射出角度と基準ターゲット及び検出タ
ーゲットとの対応関係を判定する第一走査角判定部31
等の第一射出角度判定部を設け、前記第二射出角度検出
手段に、該第二射出角度検出手段により検出された第二
射出角度と前記第二基準点方向とを比較して、該第二射
出角度と基準ターゲット及び検出ターゲットとの対応関
係を判定する第二走査角判定部32等の第二射出角度判
定部を設け、前記第一射出角度判定部及び前記第二射出
角度判定部の判定結果に基づいて、複数の基準点の二次
元位置と、各基準ターゲットに対応した第一、第二射出
角度より、これら基準点に対する、第一、第二射出点の
相対二次元位置SP、SQ等の相対二次元位置を演算す
る相対二次元位置演算部33等の相対二次元位置演算部
を設け、前記第一射出角度判定部及び前記第二射出角度
判定部の判定結果に基づいて、検出ターゲットに対応し
た第一、第二射出角度と、前記演算された相対二次元位
置とによって、前記検出点の二次元位置を演算する二次
元位置演算部30等の二次元位置演算部を設け、二次元
位置演算部によって演算された二次元位置を出力し得る
出力部27等の出力部を設けて構成されるので、本発明
によるレーザ測量設備を用いて測量作業を行うと、走査
されたレーザ光が複数の基準ターゲット或いは検出ター
ゲット等の複数位置で反射し、これらレーザ光の第一、
第二射出角が略同時に検出された場合にも、設定された
第一、第二基準点方向とこれら第一、第二射出角との比
較により、第一、第二射出角と、基準ターゲット及び検
出ターゲット等との対応関係を判定することができるの
で、第一、第二射出点の相対二次元位置及び検出点の二
次元位置は、複数の基準ターゲット或いは検出ターゲッ
トが全て設置されている状態のままで演算され得る。ま
た、複数のターゲットが設置された基準点に対する、第
一、第二射出点の相対二次元位置はレーザ光の屈折状態
を反映した形で演算され、演算された該相対二次元位置
に基づいて、検出ターゲットが設置された検出点の二次
元位置を演算することにより、演算される該二次元位置
はレーザ光の屈折状態による実際の値との誤差を補正し
た形で演算されることから、検出点の二次元位置を、そ
の誤差を補正した形で求めることは、全ての基準ターゲ
ットを設置したままで行えるため時間と手間がかからな
い。従って、空気中の温度ムラ等の変化によるレーザ光
の屈折状態の変化は不用意に変化するが、検出点の二次
元位置を求める際の誤差補正を提供している、第一、第
二射出点の相対二次元位置の演算が、検出点の二次元位
置を求める毎に行われる形で、極力頻繁に行われ得るの
で、検出点の二次元位置を求める際の誤差補正の信頼性
が高く、よって、演算される検出点の二次元位置の値に
対する信頼性が高い。また、本発明のうち第二の発明
は、レーザ光LSP、LSQ等のレーザ光を反射させ得
る反射位置QQ1〜QQ4等の反射部が形成された、複
数のターゲット6A〜6D等の基準ターゲットを、二次
元位置NJ1〜NJ4等の二次元位置が既知なる複数の
既知点K1〜K4等の基準点にそれぞれ設置し、第一射
出点から各基準ターゲットに向かう第一既知点方向HP
1〜HP4等の第一基準点方向を設定し、第二射出点か
ら各基準ターゲットに向かう第二既知点方向HQ1〜H
Q4等の第二基準点方向を設定し、設定の後、レーザ光
を反射させ得る反射位置QQx等の反射部が形成され
た、1つの検出用ターゲット40等の検出ターゲットを
二次元位置NJx等の二次元位置を検出すべき検出点K
x等の検出点に設置し、第一射出点及び第二射出点より
それぞれレーザ光を射出し、射出したレーザ光を走査平
面SH等の走査平面上で走査させ、前記第一射出点より
射出され、前記基準ターゲットと検出ターゲットの各反
射部で反射されたレーザ光の各第一射出角度を検出し、
前記第二射出点より射出され、前記基準ターゲットと検
出ターゲットの各反射部で反射されたレーザ光の各第二
射出角度を検出し、前記各第一射出角度と前記各第一基
準点方向とを比較して、検出された各第一射出角度と各
基準ターゲット及び検出ターゲットとの対応関係を判定
し、前記各第二射出角度と前記各第二基準点方向とを比
較して、検出された各第二射出角度と各基準ターゲット
及び検出ターゲットとの対応関係を判定し、前記各基準
ターゲットに対応した各第一射出角度と、各第二射出角
度とによって、各基準ターゲットの設置された前記基準
点に対する、第一、第二射出点の相対二次元位置SP、
SQ等の相対二次元位置を求め、検出ターゲットに対応
した第一、第二射出角度及び、演算された前記相対二次
元位置により、検出ターゲットの設置された検出点の二
次元位置を求めるようにして構成されるので、第一の発
明と同様に、検出点の二次元位置を求める際の誤差補正
を提供している、第一、第二射出点の相対二次元位置の
演算が、検出点の二次元位置を求める毎に行われる形
で、極力頻繁に行われ得るので、検出点の二次元位置を
求める際の誤差補正の信頼性が高く、よって、演算され
る検出点の二次元位置の値に対する信頼性が高い。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明によるレーザ測量設備の一例に
おける二次元位置検出装置を示したブロック図である。
【図2】図2は、図1に示すレーザ測量設備を用いた測
量作業における一工程を示した模式図である。
【図3】図3は、図1に示すレーザ測量設備におけるレ
ーザ角度検出ユニットの内部を示した模式断面図であ
る。
【図4】図4は、図1に示すレーザ測量設備におけるレ
ーザ角度検出ユニットを示した正面図である。
【符号の説明】
5……レーザ測量設備 6A〜6D……基準ターゲット(ターゲット) 11P……第一レーザ光射出手段(レーザ発振部) 11Q……第二レーザ光射出手段(レーザ発振部) 12P……第一レーザ光射出手段(ハーフミラー) 12Q……第二レーザ光射出手段(ハーフミラー) 13P……第一レーザ光射出手段(回転ミラー) 13Q……第二レーザ光射出手段(回転ミラー) 16P……第一射出角度検出手段(走査角度検出手段) 16Q……第二射出角度検出手段(走査角度検出手段) 17P……第一レーザ光射出手段(走査駆動部) 17Q……第二レーザ光射出手段(走査駆動部) 27……出力部 30……二次元位置演算部 31……第一射出角度判定部(第一走査角判定部) 32……第二射出角度判定部(第二走査角判定部) 33……相対二次元位置演算部 35……基準点方向設定部(既知点方向設定部) 40……検出ターゲット(検出用ターゲット) HP1〜HP4……第一基準点方向(第一既知点方向) HQ1〜HQ4……第二基準点方向(第二既知点方向) K1〜K4……基準点(既知点) Kx……検出点 LSP、LSQ……レーザ光 NJ1〜NJ4、NJx……二次元位置 PQ……第二射出点(反射位置) PP……第一射出点(反射位置) QQ1〜QQ4、QQx……反射部(反射位置) SP、SQ……相対二次元位置 SH……走査平面 θBP……第一射出角度(走査角) θBQ……第二射出角度(走査角)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】二次元位置が既知なる複数の基準点にそれ
    ぞれ設置される、レーザ光を反射させ得る反射部が形成
    された、複数の基準ターゲット及び、二次元位置を検出
    すべき検出点に設置自在な、レーザ光を反射させ得る反
    射部が形成された、1つの検出ターゲットを有し、 レーザ光を第一射出点より射出し、射出したレーザ光を
    走査平面上で走査させ得る第一レーザ光射出手段及び、
    レーザ光を第二射出点より射出し、射出したレーザ光を
    走査平面上で走査させ得る第二レーザ光射出手段を設
    け、 前記第一レーザ光射出手段に、前記第一射出点より射出
    され、前記反射部で反射されたレーザ光の第一射出角度
    を検出し得る第一射出角度検出手段を設け、 前記第二レーザ光射出手段に、前記第二射出点より射出
    され、前記反射部で反射されたレーザ光の第二射出角度
    を検出し得る第二射出角度検出手段を設け、 前記第一射出点から各基準ターゲットの反射部に向かう
    各第一基準点方向と、前記第二射出点から各基準ターゲ
    ットの反射部に向かう各第二基準点方向とを設定し得る
    基準点方向設定部を設け、 前記第一射出角度検出手段に、該第一射出角度検出手段
    により検出された第一射出角度と前記第一基準点方向と
    を比較して、該第一射出角度と基準ターゲット及び検出
    ターゲットとの対応関係を判定する第一射出角度判定部
    を設け、 前記第二射出角度検出手段に、該第二射出角度検出手段
    により検出された第二射出角度と前記第二基準点方向と
    を比較して、該第二射出角度と基準ターゲット及び検出
    ターゲットとの対応関係を判定する第二射出角度判定部
    を設け、 前記第一射出角度判定部及び前記第二射出角度判定部の
    判定結果に基づいて、複数の基準点の二次元位置と、各
    基準ターゲットに対応した第一、第二射出角度より、こ
    れら基準点に対する、第一、第二射出点の相対二次元位
    置を演算する相対二次元位置演算部を設け、 前記第一射出角度判定部及び前記第二射出角度判定部の
    判定結果に基づいて、検出ターゲットに対応した第一、
    第二射出角度と、前記演算された相対二次元位置とによ
    って、前記検出点の二次元位置を演算する二次元位置演
    算部を設け、 二次元位置演算部によって演算された二次元位置を出力
    し得る出力部を設けて構成したレーザ測量設備。
  2. 【請求項2】レーザ光を反射させ得る反射部が形成され
    た、複数の基準ターゲットを、二次元位置が既知なる複
    数の基準点にそれぞれ設置し、 第一射出点から各基準ターゲットに向かう第一基準点方
    向を設定し、 第二射出点から各基準ターゲットに向かう第二基準点方
    向を設定し、 設定の後、レーザ光を反射させ得る反射部が形成され
    た、1つの検出ターゲットを二次元位置を検出すべき検
    出点に設置し、 第一射出点及び第二射出点よりそれぞれレーザ光を射出
    し、射出したレーザ光を走査平面上で走査させ、 前記第一射出点より射出され、前記基準ターゲットと検
    出ターゲットの各反射部で反射されたレーザ光の各第一
    射出角度を検出し、 前記第二射出点より射出され、前記基準ターゲットと検
    出ターゲットの各反射部で反射されたレーザ光の各第二
    射出角度を検出し、 前記各第一射出角度と前記各第一基準点方向とを比較し
    て、検出された各第一射出角度と各基準ターゲット及び
    検出ターゲットとの対応関係を判定し、 前記各第二射出角度と前記各第二基準点方向とを比較し
    て、検出された各第二射出角度と各基準ターゲット及び
    検出ターゲットとの対応関係を判定し、 前記各基準ターゲットに対応した各第一射出角度と、各
    第二射出角度とによって、各基準ターゲットの設置され
    た前記基準点に対する、第一、第二射出点の相対二次元
    位置を求め、 検出ターゲットに対応した第一、第二射出角度及び、演
    算された前記相対二次元位置により、検出ターゲットの
    設置された検出点の二次元位置を求めるようにして構成
    したレーザ測量方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005148071A (ja) * 2003-11-15 2005-06-09 Samsung Electronics Co Ltd 3次元位置測定センサー

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005148071A (ja) * 2003-11-15 2005-06-09 Samsung Electronics Co Ltd 3次元位置測定センサー
JP4564827B2 (ja) * 2003-11-15 2010-10-20 三星電子株式会社 3次元位置測定センサー

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