JPH07161422A - Ic socket - Google Patents

Ic socket

Info

Publication number
JPH07161422A
JPH07161422A JP30680293A JP30680293A JPH07161422A JP H07161422 A JPH07161422 A JP H07161422A JP 30680293 A JP30680293 A JP 30680293A JP 30680293 A JP30680293 A JP 30680293A JP H07161422 A JPH07161422 A JP H07161422A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
contact pin
cam
socket
lead
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP30680293A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuyuki Iwamatsu
康之 岩松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Chemical Corp
Original Assignee
Toshiba Chemical Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Chemical Corp filed Critical Toshiba Chemical Corp
Priority to JP30680293A priority Critical patent/JPH07161422A/en
Publication of JPH07161422A publication Critical patent/JPH07161422A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Connecting Device With Holders (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain an IC socket in which electrical contact is always kept good 6K without having influence of an oxide cover film on the surface of an IC lead. CONSTITUTION:A spring part 5b for forcing a contact part 5a into an IC socket is provided in a contact pin 5, and a cam 37 cooperating with a slave part 5c is provided and the contact part 5a is reciprocated with rubbing the IC lead by cooperation of the slave part and the cam 37. The oxide cover film is cleansed and removed whenever ICs are attached and detached.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はICソケットに関する。FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to an IC socket.

【0002】[0002]

【従来の技術】ICソケットは、ICパッケージ(以下
単にICと呼ぶ)の電気的テストを行う自動検査装置等
において使用されている。図13は特開平4−1540
65号公報記載のICソケットの斜視図、図14〜図1
6は上記従来例要部の内部構造およびその作動を示す部
分断面図である。これらの図において、ベース部材1は
その上面と下面に開口する中央開口2を具え、この中央
開口2の上面側にはIC収容部3を設け、この収容部3
の少なくとも対向する2辺に沿って多数のコンタクト4
が並列配置されている。
2. Description of the Related Art IC sockets are used in automatic inspection devices for conducting electrical tests of IC packages (hereinafter simply referred to as ICs). FIG. 13 is Japanese Patent Laid-Open No. 4-1540.
FIG. 14 to FIG. 1 are perspective views of the IC socket described in Japanese Patent No. 65.
6 is a partial cross-sectional view showing the internal structure of the main part of the conventional example and its operation. In these figures, the base member 1 has a central opening 2 opening on the upper surface and the lower surface thereof, and an IC accommodation portion 3 is provided on the upper surface side of the central opening 2, and the accommodation portion 3
Multiple contacts 4 along at least two opposite sides of the
Are arranged in parallel.

【0003】上記コンタクト4はベース部材1に植立さ
れ、前記ベース部材1の下面から下方へ突出された接触
子5を具える。これらの接触子5に連接して平板部6が
設けられ、この平板部6をコンタクト4の植立壁の上面
で支持して垂直に立ち上げ、前記平板部6の上端内部壁
からバネ部7を連接する。このバネ部7は上記平板部6
との連接部(基部8)から下方へ延ばしさらに上方に折
返して連接部に近傍に達する湾曲型にしてある。すなわ
ち、バネ部7は下向きの湾曲型にし、基部8とこの基部
8から伸びる先端9との間に一定の小間隔10を形成し
て上方で開口するように湾曲角度を設定してある。この
湾曲バネ部7の先端9に内方へ傾斜する接触アーム11
を連接し、この接触アーム11の先端に内方へ突出しさ
らに下に向けられた接触突出部12を連接してある。
The contact 4 is provided on the base member 1 and includes a contactor 5 projecting downward from the lower surface of the base member 1. A flat plate portion 6 is provided so as to be connected to these contacts 5, and the flat plate portion 6 is supported by the upper surface of the planting wall of the contact 4 and rises vertically, and a spring portion 7 is provided from the upper inner wall of the flat plate portion 6. Connect. The spring portion 7 is the flat plate portion 6
It is a curved type that extends downward from the connection portion (base portion 8) with and folds back upward and reaches the vicinity of the connection portion. That is, the spring portion 7 is of a downwardly curved type, and a certain small gap 10 is formed between the base portion 8 and the tip 9 extending from the base portion 8 and the bending angle is set so as to open upward. A contact arm 11 inclined inwardly at the tip 9 of the curved spring portion 7.
And a contact protrusion 12 that protrudes inward and is directed downward is connected to the tip of the contact arm 11.

【0004】図14に示すように上記バネ部7は接触用
アーム11および接触用突出部12を内方へ付勢しIC
23のリード25に接触させるように作用している。さ
らに、アーム11の先端、すなわちアーム11と接触用
突出部12との連接部から外方へ前掲するラッチ部13
を延設し、このラッチ部13の自由端に回動レバー14
の作用部15を係合させる。ラッチ部13と接触用突出
部12はコンタクトの自由端に配され互いに逆方向に延
びている。図13に示したように、前記回動レバー14
は前記コンタクト4の列と平行になるように延在し、そ
の一端側に外方へ向かって延出した操作部16を形成
し、他端側に上記ラッチ部13に係合する作用部15を
形成してある。回動レバー14とその操作部16および
作用部15は、接触用アーム11の外方においてコンタ
クト4の列と平行になるように延在し、コンタクト4の
列と平行な軸線Pを支点として上下に回動するよう設置
してある。 回動レバー14の両端には軸線Pへ向けて
突出された軸部17が設けられ、この軸部17をベース
1に形成した軸受部18に係合させ、回動としてある。
この軸受18は、上方へ向けて開口した凹欠部19を具
え、この凹欠部19に前記軸部17を係合させて回動レ
バー14を支持させ、必要に応じて上方に抜き取って取
り外せるようにしてある。また、軸受18への装着は前
記凹欠部19の上方から軸部17を落とし込んで行い得
るようになっている。
As shown in FIG. 14, the spring portion 7 urges the contact arm 11 and the contact protrusion 12 inward, and IC
It acts so as to contact the lead 25 of 23. Further, the latch portion 13 is provided outward from the tip of the arm 11, that is, the connecting portion between the arm 11 and the contact protrusion 12.
Is extended, and the rotation lever 14 is attached to the free end of the latch portion 13.
The action part 15 of is engaged. The latch portion 13 and the contact protrusion 12 are arranged at the free ends of the contacts and extend in opposite directions. As shown in FIG. 13, the rotation lever 14
Has an operating portion 16 extending parallel to the row of the contacts 4 and extending outwardly at one end thereof, and an operating portion 15 engaging with the latch portion 13 at the other end thereof. Has been formed. The rotating lever 14, its operating portion 16 and action portion 15 extend outside the contact arm 11 so as to be parallel to the row of contacts 4 and move up and down with an axis P parallel to the row of contacts 4 as a fulcrum. It is installed so that it can rotate. A shaft portion 17 protruding toward the axis P is provided at both ends of the rotating lever 14, and the shaft portion 17 is engaged with a bearing portion 18 formed on the base 1 for rotation.
The bearing 18 is provided with a recessed portion 19 which opens upward, and the shaft portion 17 is engaged with the recessed portion 19 to support the turning lever 14, and the support lever 18 can be pulled out and removed as necessary. Is done. Further, the bearing 18 can be mounted by dropping the shaft portion 17 from above the recessed portion 19.

【0005】また、前記回動レバー14の作用部15の
上面には、コンタクト4の列と平行に延びる係合溝20
が形成され、この係合溝20内に前記コンタクト4のラ
ッチ部13の鉤型に曲げた先端を若干の遊びを有するよ
うに落とし込んであり、これにより作用部15にラッチ
部13外方力を与えるようにしてある。すなわち、一列
のコンタクト群の全てのラッチ部13が上記1条の係合
溝20に係合されている。
An engaging groove 20 extending parallel to the row of contacts 4 is formed on the upper surface of the action portion 15 of the rotating lever 14.
A hook-shaped bent tip of the latch portion 13 of the contact 4 is dropped into the engaging groove 20 so as to have a slight play, whereby an external force of the latch portion 13 is applied to the action portion 15. I'm giving it. That is, all the latch portions 13 of the contact group in one row are engaged with the one engagement groove 20.

【0006】前記回動レバー14は、絶縁材により一体
成形してあり上記構成要素15、16、20、17成形
時に形成させる。
The rotating lever 14 is integrally molded of an insulating material and is formed at the time of molding the above-mentioned components 15, 16, 20, and 17.

【0007】上記構成の従来のICソケットにおいて
は、ICの着脱は次のようにしてなされる。先ず、IC
装着時には操作部16を例えばロボットによって押し下
げる。すると、回動レバー14をは軸部17を支点とし
て下方に回動され、作用部15がコンタクトのラッチ部
13を外方向へ引っ張り、これによりコンタクト4はバ
ネ部7の弾性に抗して外方変位し、IC収容部3に挿入
されるIC23のリード25と干渉しない位置に移行す
る。従って、ICは無負荷でソケットに挿入できる。挿
入が終わったところで、前記操作部16に対する押圧を
解除すれば作用部15に与えられているバネ部7の弾力
により前記回動レバー14は上方に回動し、押し下げ待
機状態を形成する。同時にコンタクト4の接触用アーム
11および接触用突出部12はバネ部7に付勢されて内
方へ変位し、ICのリード25の上面に押圧接触する。
In the conventional IC socket having the above structure, the IC is attached and detached as follows. First, IC
At the time of mounting, the operation unit 16 is pushed down by, for example, a robot. Then, the rotating lever 14 is rotated downward about the shaft portion 17 as a fulcrum, and the acting portion 15 pulls the latch portion 13 of the contact outward, whereby the contact 4 is moved outward against the elasticity of the spring portion 7. It is displaced to the side and moves to a position where it does not interfere with the leads 25 of the IC 23 inserted into the IC housing portion 3. Therefore, the IC can be inserted into the socket without load. When the insertion is finished, if the pressing force on the operating portion 16 is released, the rotating lever 14 is rotated upward by the elastic force of the spring portion 7 provided to the operating portion 15 to form a push-down standby state. At the same time, the contact arm 11 and the contact protrusion 12 of the contact 4 are urged by the spring portion 7 to be displaced inward, and come into pressure contact with the upper surface of the lead 25 of the IC.

【0008】IC23をソケットから離脱させる場合に
は、操作部16を押し下げれば前記装着時と同様にコン
タクト4はIC23のリード25とは干渉しない位置に
移行するので、無負荷でIC23を離脱させることがで
きる。
When the IC 23 is detached from the socket, the contact 4 moves to a position where it does not interfere with the leads 25 of the IC 23 when the operating portion 16 is pushed down, so that the IC 23 is detached without load. be able to.

【0009】上記公報開示のICソケットは、IC23
のリード25を梃の原理でコンタクトに押圧接触させる
ものであるが、従来のICソケットにはこのほかにも特
開平1−143168号公報開示のもののように直接ア
ーム部を押し下げながらコンタクトピンを離間させてI
Cの着脱を容易としたもの、特開昭63−62175号
公報記載のもののように押えカバー部のコンタクトピン
を押す面にテーパを付し接触面が互いにずれながら接触
を形成するようにしたものがある。
The IC socket disclosed in the above publication is IC23.
In the conventional IC socket, the contact pin is separated while directly pushing down the arm portion like the one disclosed in JP-A-1-143168. Let me I
The one in which C is easily attached and detached, and the one in which the contact pin of the presser cover is pressed to form a contact while the contact surfaces are displaced from each other, as in JP-A-63-62175. There is.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】一般に、ICリードと
ICソケットのコンタクトピンとの良好な電気的接触を
得るには単なる接触圧のみでなく、接触面間の電気抵抗
が低いことが必要である。ICリード表面には酸化被膜
が形成されており、コンタクトピン接触部が垂直方向に
加工してきて接触した場合には両者間の接触が酸化被膜
を介しての接触となるため、良好な電気的接触を得るこ
とはできない。そのため、コンタクトピン接触部が、I
Cリード表面の酸化被膜を擦って除去可能となる角度で
接触し、良好な電気的接触が得られるようにすることが
考えられている。また、コンタクトピンの接触部が水平
に近い角度でICリードに進入するようにして、擦り合
いによる酸化被膜除去効果を高めることも考えられる
が、ICリードの平坦度が悪いと進入に際してコンタク
トピンの接触部とICリードとが接触してしまい、IC
リードの変形を生じるおそれがある。
Generally, in order to obtain good electrical contact between the IC lead and the contact pin of the IC socket, not only a simple contact pressure but also a low electrical resistance between the contact surfaces is required. An oxide film is formed on the surface of the IC lead, and when the contact pin contact portion is machined in the vertical direction and comes into contact with the contact pin, the contact between them becomes a contact through the oxide film, so that good electrical contact is made. Can't get Therefore, the contact pin contact portion is I
It is considered that the oxide film on the surface of the C lead is rubbed and contacted at an angle at which it can be removed so that good electrical contact is obtained. It is also considered that the contact portion of the contact pin enters the IC lead at an angle close to horizontal to enhance the effect of removing the oxide film by rubbing. The contact part and the IC lead come into contact, and the IC
The lead may be deformed.

【0011】このため, コンタクトピンの接触部のIC
リードに対する進入軌跡が重要な問題となっている。さ
らに、設計段階と実際に製作した場合とではずれが生じ
るのは避けられない。また、コンタクトピンの製作に際
しては、測定、評価と繰り返し行い長時間を要するた
め、設計要素が複雑になり設計が困難となっている。
Therefore, the IC of the contact portion of the contact pin is
The approach trajectory for the lead has become an important issue. Furthermore, it is unavoidable that there is a gap between the design stage and the case of actual fabrication. Further, in manufacturing the contact pin, measurement and evaluation are repeatedly performed, which requires a long time, which complicates design elements and makes designing difficult.

【0012】また、ICの製造工程において最も問題と
なるのは、ICリードの変形である。ICリード変形の
最大の原因としては、IC移動時における変形が考えら
れる。そのため、IC製造工程においては、ICの移動
を全く人手によらず自動機械による移動としている。そ
の自動機械にICを装着するには、ICソケットが使用
されているが、ICリードの損傷を防止するには無負荷
状態でのICのソケットに対する着脱が要求される。而
して、ICの無負荷状態での着脱を可能とするには、I
Cの着脱に際してコンタクトピンの確実な開きが保証さ
れなければならない。上記コンタクトピンを開いた状態
としまたは開いた状態に保持するには、自動機械によっ
て押えカバーを押し下げコンタクトピンを外方に変位さ
せる。このコンタクトピンを外方に変位させるための押
圧力は、意図的に変化させられるものであることが好ま
しい。具体的にいえば、一定荷重でコンタクトピンの変
位がなされるもの、徐々に荷重が多く必要となるもの、
徐々に荷重が小さくなっても所用の変位が得られるもの
等があるが、特にコンタクトピンが開いた状態に保持す
るための荷重の小さなものが望ましい。
The most problematic factor in the IC manufacturing process is deformation of the IC leads. The largest cause of the deformation of the IC lead is considered to be the deformation when the IC is moved. Therefore, in the IC manufacturing process, the movement of the IC is performed by an automatic machine without any manual operation. An IC socket is used to mount an IC on the automatic machine, but in order to prevent damage to the IC lead, it is required to attach / detach the IC to / from the socket in an unloaded state. Therefore, in order to attach / detach the IC without load, I
When the C is attached or detached, the contact pin must be surely opened. To keep the contact pin open or to keep it open, the presser cover is pushed down by an automatic machine to displace the contact pin outward. It is preferable that the pressing force for displacing the contact pin outwardly be intentionally changed. Specifically, the contact pin is displaced under a constant load, the load gradually increases,
Some of them can obtain a desired displacement even if the load is gradually reduced, but it is particularly preferable that the contact pin has a small load for keeping it open.

【0013】本発明は上記の事情に基づきなされたもの
で、コンタクトピン接触部とICリードとの良好な電気
的接触が得られ、コンタクトピンの開閉に要する荷重を
任意に設定でき、しかも設計の容易なICソケットを提
供する。
The present invention has been made based on the above circumstances, and good electrical contact between the contact portion of the contact pin and the IC lead can be obtained, and the load required for opening and closing the contact pin can be set arbitrarily, and the design can be made. Provide an easy IC socket.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明のICソケット
は、ICパッケージの収容部を有するベース部材と、前
記収容部の少なくとも2辺に沿って前記ベース部材に多
数植立されたコンタクトピンと、前記ベース部材底面に
対して進退可能に設けられ上方に向けてばね力を印加し
た押えカバーとを有するソケットにおいて、前記コンタ
クトピンには前記ベース部材に固定されるベースと、こ
のベースに連接し前記収容部に向けての弾性を具えるば
ね部と、このばね部を介して前記ベースに連接し前記収
容部側の端部に接触部を有する従動部と、前記コンタク
トピンの列と平行な軸を中心として回動され前記従動部
と協働して前記接触部のICリードに対する動きを制御
するカムとを具え、前記カムには前記押えカバーの圧下
により前記カムを回動させる操作レバーを取り付けたこ
とを特徴とする。
An IC socket according to the present invention comprises a base member having a housing portion for an IC package, a plurality of contact pins erected on the base member along at least two sides of the housing portion, and In a socket having a pressing cover which is provided so as to be able to move forward and backward with respect to the bottom surface of a base member and which has a spring force applied upward, a base fixed to the base member is provided for the contact pin, and the housing is connected to the base A spring portion having elasticity toward the portion, a driven portion connected to the base through the spring portion and having a contact portion at an end portion on the accommodation portion side, and a shaft parallel to the row of the contact pins. A cam that is rotated about a center and that controls the movement of the contact portion with respect to the IC lead in cooperation with the driven portion. The cam rotates the cam by pressing down the pressing cover. Characterized in that attached the operating lever to be.

【0015】[0015]

【作用】上記構成の本発明のICソケットにおいては、
押えカバーを押し下げるとカムが回動され、コンタクト
ピンが開いた状態を保持しているため、ICのIC収容
部に対する無負荷での着脱が可能である。ICを挿入し
た後、押えカバーに対する加圧を停止すれば、押えカバ
ー、操作レバーは、操作レバーに加わっている上方への
ばね力により、操作レバーは押し上げられ、カムは前記
とは逆方向の回動をしコンタクトピンのばね部の弾性に
より、その接触部はICのリードと接触する。
In the IC socket of the present invention having the above structure,
When the pressing cover is pushed down, the cam is rotated and the contact pin is kept open, so that the IC can be attached / detached to / from the IC accommodating portion without load. If the pressure applied to the presser cover is stopped after inserting the IC, the presser cover and the operation lever are pushed up by the upward spring force applied to the operation lever, and the cam moves in the opposite direction to the above. Due to the elasticity of the spring portion of the contact pin, the contact portion comes into contact with the lead of the IC.

【0016】なお、コンタクトピンの接触部はICリー
ドに対して擦り合いながら進退するので、ICの装着、
離脱の都度、ICリード表面の酸化被膜の清掃、除去が
なされるので、良好な電気的接触が得られる。
Since the contact portion of the contact pin moves forward and backward while rubbing against the IC lead, mounting of the IC,
Since the oxide film on the surface of the IC lead is cleaned and removed every time it is detached, good electrical contact can be obtained.

【0017】[0017]

【実施例】図13〜図16と同一部分には同一符号を付
した図1は、本発明の第1の実施例のコンタクトピン前
進状態における断面図、図2は前記実施例のコンタクト
ピン後退状態における断面図である。これらの図におい
て、ベース部材1にはIC収容部2が設けられ、ベース
部材1の前記IC収容部2の少なくとも2辺に沿ってコ
ンタクトピン5が植立されている。これらのコンタクト
ピン5はIC23のリード25と対向する位置に配置さ
れている。また、前記コンタクトピン5はICリード2
5と接触するための接触部5a、開閉時の弾性を付与す
るためのバネ部5b、後に説明するカム37と接触して
カム37に動かされる従動部5c、ベース部5dを具え
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 in which the same parts as those in FIGS. 13 to 16 are denoted by the same reference numerals is a sectional view of a contact pin in the advanced state of the first embodiment of the present invention, and FIG. It is sectional drawing in a state. In these figures, the base member 1 is provided with an IC housing portion 2, and contact pins 5 are planted along at least two sides of the IC housing portion 2 of the base member 1. These contact pins 5 are arranged at positions facing the leads 25 of the IC 23. The contact pin 5 is the IC lead 2
5, a contact portion 5a for contacting with 5, a spring portion 5b for imparting elasticity at the time of opening and closing, a driven portion 5c which is brought into contact with the cam 37 described later and moved by the cam 37, and a base portion 5d.

【0018】図中34は押えカバーであり上下に摺動可
能としてある。カム37は固定軸37aを中心として回
動可能としてあり、前記カム37端面には先端を前記押
えカバー34の直下に位置させた操作レバー36が固定
されている。カム37は各頂角に丸みをもたせた変形五
角形状をなしている。前記変形五角形は、互いに垂直な
三辺と、それら三辺の中の対向する二辺の頂点同士を結
び斜交する二斜辺とからなり、上記二斜辺の中でIC収
容部3側は他方よりも長くされている。また、コンタク
トピン5の従動部5cの形状も前記カム37の輪郭に合
わせて決定されている。
Reference numeral 34 in the drawing denotes a pressing cover which can be slid vertically. The cam 37 is rotatable about a fixed shaft 37a, and an operation lever 36 having its tip positioned immediately below the pressing cover 34 is fixed to the end surface of the cam 37. The cam 37 has a modified pentagonal shape with rounded corners. The modified pentagon is composed of three sides that are perpendicular to each other and two oblique sides that connect the vertices of two opposite sides of the three sides and obliquely intersect with each other. Has also been long. The shape of the driven portion 5c of the contact pin 5 is also determined according to the contour of the cam 37.

【0019】上記構成の第1の実施例において、図1の
状態において押えカバー35を押し下げると操作レバー
36が押し下げられてカム37が回動し、コンタクトピ
ン5の従動部5cがカム37の斜辺に持ち上げられて、
接触部5aを後退させる。この後退の変位量は、コンタ
クトピン5とカム37の接触する点と、カム37の支点
との距離によって定まるので(前記距離小→変位量小:
前記距離大→変位量大)、前記距離を選定することによ
って任意の変位量に設定できる。
In the first embodiment having the above-mentioned structure, when the pressing cover 35 is pushed down in the state shown in FIG. 1, the operating lever 36 is pushed down and the cam 37 rotates, so that the driven portion 5c of the contact pin 5 causes the oblique side of the cam 37. Lifted up to
The contact portion 5a is retracted. The amount of this backward displacement is determined by the distance between the contact point of the contact pin 5 and the cam 37 and the fulcrum of the cam 37 (small distance described above → small displacement:
By setting the distance, it is possible to set an arbitrary displacement amount.

【0020】また、前記のコンタクトピン変位に要する
荷重は、コンタクトピン5とカム37の接触する点と、
カム37の支点との距離によって定まるので(前記距離
小→荷重:前記距離大→荷重大)前記距離を選定するこ
とによってコンタクトピン開閉に要する荷重を任意に設
定できる。
The load required for the displacement of the contact pin is the contact point between the contact pin 5 and the cam 37,
Since the distance is determined by the distance from the fulcrum of the cam 37 (small distance → load: large distance → large load), the load required to open / close the contact pin can be arbitrarily set by selecting the distance.

【0021】押えカバー34を押し下げた状態では、コ
ンタクトピンが開いた状態を保持しているため、IC2
3のIC収容部2に対する着脱が可能である。ICを挿
入した後、押えカバー34に対する加圧を停止すれば、
ばね35によって操作レバー36に加わっている上方へ
のばね力により、操作レバー36は押し上げられ図1の
状態に戻り、カム37は前記とは逆方向の回動をしコン
タクトピン5のばね部5bの弾性により、その接触部5
aはIC23のリード25と接触する。
When the presser cover 34 is pushed down, the contact pin is kept open, so that the IC2
3 can be attached to and detached from the IC housing portion 2. If the pressurization to the presser cover 34 is stopped after inserting the IC,
The upward spring force exerted on the operating lever 36 by the spring 35 pushes up the operating lever 36 and returns to the state of FIG. 1, and the cam 37 rotates in the opposite direction to the spring portion 5b of the contact pin 5. Due to the elasticity of the contact part 5
a contacts the lead 25 of the IC 23.

【0022】なお、上記実施例においては、コンタクト
ピン5の接触部5aはICリードに対して擦り合いなが
ら進退するので、IC23の装着、離脱の都度、ICリ
ード表面の酸化被膜の清掃、除去がなされるので、良好
な電気的接触が得られる。
In the above embodiment, since the contact portion 5a of the contact pin 5 advances and retreats while rubbing against the IC lead, the oxide film on the surface of the IC lead can be cleaned and removed every time the IC 23 is attached or detached. As such, good electrical contact is obtained.

【0023】図1、図2と同一部分には同一符号を付し
た図3は、本発明の第2の実施例のコンタクトピン前進
時の断面図、図4は前記実施例のコンタクトピン後退時
の断面図である。これらの図において、操作レバー36
の先端と押えカバー34とはリンク38で連結されてい
る。押えカバー34と操作レバー36との間にリンク3
8が介在されており、押えカバー34の動きが前記リン
ク38を介し操作レバー36に伝達されるほかは、第1
の実施例と同様の作用効果が得られる。
FIG. 3 in which the same parts as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals is a sectional view of the second embodiment of the present invention when the contact pin is advanced, and FIG. 4 is the time when the contact pin of the above embodiment is retracted. FIG. In these figures, the operating lever 36
The tip of the and the presser cover 34 are connected by a link 38. Link 3 is provided between the presser cover 34 and the operation lever 36.
8 is interposed, and the movement of the presser cover 34 is transmitted to the operation lever 36 via the link 38.
The same effect as that of the embodiment can be obtained.

【0024】図1〜図4と同一部分には同一符号を付し
た図5は、本発明の第3の実施例のコンタクトピン前進
時の断面図、図6は前記実施例のコンタクトピン後退時
の断面図である。これらの図において、押えカバー34
の下面にはラック棒39が垂下され、操作レバー36の
先端は、前記ラック棒39に噛合する歯を具える扇形歯
車部36aとされている。この実施例においては、押え
カバー34の動きがラック棒39、扇形歯車部36aを
介して操作レバー36に伝達されるほかは、前記各実施
例と同様に作動し、同様の効果が得られる。
FIG. 5, in which the same parts as those in FIGS. 1 to 4 are designated by the same reference numerals, is a sectional view of the third embodiment of the present invention when the contact pin is advanced, and FIG. FIG. In these figures, the presser cover 34
A rack rod 39 hangs on the lower surface of the operation lever 36, and the tip of the operating lever 36 is a fan-shaped gear portion 36a having teeth that mesh with the rack rod 39. In this embodiment, the movement of the presser cover 34 is transmitted to the operating lever 36 via the rack rod 39 and the fan-shaped gear portion 36a, and the operation is the same as in the above-mentioned respective embodiments, and the same effect is obtained.

【0025】図1〜図6と同一部分には同一符号を付し
た図7は、本発明の第4の実施例のコンタクトピン前進
時の断面図、図8は前記実施例のコンタクトピン後退時
の断面図である。これらの図において、コンタクトピン
5の従動部5cはへの字状の頂点から、反IC収容部2
側の辺に垂直な分岐5c1 が突出されており、カム37
は前記第1〜第3の実施例とは逆向き、すなわち変形五
角形の頂点を下にして設置されている。この実施例にお
いては、押えカバー34の押圧によって従動部5c上面
に当接しているカム37が回動され、これによってコン
タクトピン5の接触部5aが後退される。その他の作動
は前記各実施例と同様であり、同様の効本発明の第2の
実施例のコンタクトピン前進時の断面図、図4は前記実
施例のコンタクトピン後退時の断面図果が得られる。
7 in which the same parts as those in FIGS. 1 to 6 are given the same symbols, FIG. 7 is a sectional view of the contact pin of the fourth embodiment of the present invention when it is advanced, and FIG. 8 is the contact pin of the above embodiment when it is retracted. FIG. In these figures, the driven portion 5c of the contact pin 5 is shown from the V-shaped apex to the anti-IC accommodation portion 2
The branch 5c 1 perpendicular to the side is projected, and the cam 37
Is installed in the opposite direction to the first to third embodiments, that is, with the apex of the modified pentagon facing downward. In this embodiment, the pressing of the pressing cover 34 causes the cam 37, which is in contact with the upper surface of the driven portion 5c, to rotate, whereby the contact portion 5a of the contact pin 5 is retracted. Other operations are the same as those of the above-mentioned respective embodiments, and the same effect is obtained in the sectional view of the second embodiment of the present invention when the contact pin is advanced, and FIG. To be

【0026】図1〜図8と同一部分には同一符号を付し
た図9は、本発明の第5の実施例のコンタクトピン前進
時の断面図、図10は前記実施例のコンタクトピン後退
時の断面図である。これらの図において、前記第4の実
施例の作動レバー36はリンク28を介して押えカバー
34下面に連結されている。この実施例では、押えカバ
ー34の動きがリンク38を介して作動レバー36に伝
達されるほかは、前記各実施例と同様の作動がなされ同
様の効果を得ることができる。
9 in which the same parts as those in FIGS. 1 to 8 are denoted by the same reference numerals is a sectional view of the fifth embodiment of the present invention when the contact pin is advanced, and FIG. FIG. In these drawings, the operating lever 36 of the fourth embodiment is connected to the lower surface of the pressing cover 34 via a link 28. In this embodiment, the movement of the presser cover 34 is transmitted to the actuating lever 36 via the link 38, and the same operation as that in each of the above-described embodiments is performed and the same effect can be obtained.

【0027】図1〜図10と同一部分には同一符号を付
した図11は、本発明の第6の実施例のコンタクトピン
前進時の断面図、図12は前記実施例のコンタクトピン
後退時の断面図である。これらの図において、押えカバ
ー34下面にラック棒39が垂下され、作動レバー36
の先端には前記ラック棒38と噛合する歯を有する扇形
歯車部36aが設けられている。この実施例でも前記各
実施例と同様に作動し、同様の効果が得られる。
11 in which the same parts as those in FIGS. 1 to 10 are denoted by the same reference numerals is a sectional view of a sixth embodiment of the present invention when a contact pin is advanced, and FIG. 12 is a time when the contact pin of the above embodiment is retracted. FIG. In these drawings, a rack rod 39 is hung on the lower surface of the presser cover 34, and the operating lever 36
A fan-shaped gear portion 36a having teeth that mesh with the rack rod 38 is provided at the tip of the. Also in this embodiment, the same operation as that of each of the above-mentioned embodiments is performed and the same effect is obtained.

【0028】[0028]

【発明の効果】上記構成の本発明のICソケットにおい
ては、ICリード表面の酸化膜により良好な電気的接触
が妨げられるはない。また、設計製作が容易であり、設
計と実際の製作とのずれが少ないので、短期間で新製品
の開発を行うことができる。
In the IC socket of the present invention having the above structure, the oxide film on the surface of the IC lead does not prevent good electrical contact. Further, the design and manufacture are easy, and the deviation between the design and the actual manufacture is small, so that a new product can be developed in a short period of time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例のコンタクトピン前進状
態における断面図。
FIG. 1 is a sectional view of a contact pin according to a first embodiment of the present invention in an advanced state.

【図2】前記実施例のコンタクトピン後退状態における
断面図。
FIG. 2 is a sectional view of the contact pin in the retracted state of the embodiment.

【図3】本発明の第2の実施例のコンタクトピン前進時
の断面図。
FIG. 3 is a sectional view of the second embodiment of the present invention when the contact pin is advanced.

【図4】前記実施例のコンタクトピン後退時の断面図。FIG. 4 is a cross-sectional view of the contact pin of the embodiment when retracted.

【図5】本発明の第3の実施例のコンタクトピン前進時
の断面図。
FIG. 5 is a sectional view of the third embodiment of the present invention when the contact pin is advanced.

【図6】前記実施例のコンタクトピン後退時の断面図。FIG. 6 is a cross-sectional view of the contact pin of the embodiment when retracted.

【図7】本発明の第4の実施例のコンタクトピン前進時
の断面図。
FIG. 7 is a cross-sectional view of the fourth embodiment of the present invention when the contact pin is advanced.

【図8】前記実施例のコンタクトピン後退時の断面図。FIG. 8 is a sectional view of the contact pin of the embodiment when retracted.

【図9】本発明の第5の実施例のコンタクトピン前進時
の断面図。
FIG. 9 is a sectional view of the contact pin according to the fifth embodiment of the present invention when it is advanced.

【図10】前記実施例のコンタクトピン後退時の断面
図。
FIG. 10 is a sectional view of the contact pin of the embodiment when retracted.

【図11】本発明の第6の実施例のコンタクトピン前進
時の断面図。
FIG. 11 is a sectional view of the sixth embodiment of the present invention when the contact pin is advanced.

【図12】前記実施例のコンタクトピン後退時の断面
図。
FIG. 12 is a cross-sectional view of the contact pin of the embodiment when retracted.

【図13】従来のICソケットの外観図。FIG. 13 is an external view of a conventional IC socket.

【図14】その接点駆動部の動きを示す断面図。FIG. 14 is a sectional view showing the movement of the contact drive unit.

【図15】その接点駆動部の動きを示す断面図。FIG. 15 is a sectional view showing the movement of the contact drive unit.

【図16】その接点駆動部の動きを示す断面図。FIG. 16 is a sectional view showing the movement of the contact drive unit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…ベース部材 2…IC収容部 5…コンタクトピン 5a…接触部 5b…ばね部 5c…従動部 5d…ベース 23…IC 25…ICリード 34…押えカバー 35…ばね 36…作動レバー 37…カム DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Base member 2 ... IC accommodation part 5 ... Contact pin 5a ... Contact part 5b ... Spring part 5c ... Followed part 5d ... Base 23 ... IC 25 ... IC lead 34 ... Presser cover 35 ... Spring 36 ... Actuating lever 37 ... Cam

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ICパッケージの収容部を有するベース
部材と、前記収容部の少なくとも2辺に沿って前記ベー
ス部材に多数植立されたコンタクトピンと、前記ベース
部材底面に対して進退可能に設けられ上方に向けてばね
力を印加した押えカバーとを有するソケットにおいて、
前記コンタクトピンには前記ベース部材に固定されるベ
ースと、このベースに連接し前記収容部に向けての弾性
を具えるばね部と、このばね部を介して前記ベースに連
接し前記収容部側の端部に接触部を有する従動部と、前
記コンタクトピンの列と平行な軸を中心として回動され
前記従動部と協働して前記接触部のICリードに対する
動きを制御するカムとを具え、前記カムには前記押えカ
バーの圧下により前記カムを回動させる操作レバーを取
り付けたことを特徴とするICソケット。
1. A base member having an accommodating portion of an IC package, a plurality of contact pins erected in the base member along at least two sides of the accommodating portion, and a retractable member with respect to a bottom surface of the base member. In a socket having a pressing cover to which a spring force is applied upward,
The contact pin has a base fixed to the base member, a spring portion connected to the base and having elasticity toward the accommodating portion, and a spring portion connected to the base via the spring portion for accommodating portion side. A driven portion having a contact portion at an end thereof, and a cam which is rotated about an axis parallel to the row of the contact pins and cooperates with the driven portion to control the movement of the contact portion with respect to the IC lead. The IC socket is characterized in that an operating lever for rotating the cam by pressing the pressing cover is attached to the cam.
JP30680293A 1993-12-07 1993-12-07 Ic socket Withdrawn JPH07161422A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30680293A JPH07161422A (en) 1993-12-07 1993-12-07 Ic socket

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30680293A JPH07161422A (en) 1993-12-07 1993-12-07 Ic socket

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07161422A true JPH07161422A (en) 1995-06-23

Family

ID=17961438

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30680293A Withdrawn JPH07161422A (en) 1993-12-07 1993-12-07 Ic socket

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07161422A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6720599B2 (en) 2001-03-26 2004-04-13 Seiko Epson Corporation Ferroelectric memory and electronic apparatus
WO2010038556A1 (en) * 2008-10-03 2010-04-08 山一電機株式会社 Ic socket
KR101121519B1 (en) * 2010-08-04 2012-02-28 김대수 Latch device for connecting terminal of LED module test socket

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6720599B2 (en) 2001-03-26 2004-04-13 Seiko Epson Corporation Ferroelectric memory and electronic apparatus
WO2010038556A1 (en) * 2008-10-03 2010-04-08 山一電機株式会社 Ic socket
KR101121519B1 (en) * 2010-08-04 2012-02-28 김대수 Latch device for connecting terminal of LED module test socket

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2973161B2 (en) Socket and test method of semiconductor device using socket
US5364284A (en) Socket
JP4301669B2 (en) socket
EP0699018B1 (en) Socket apparatus
JP2001210438A (en) Socket
JPH05343146A (en) Ic socket
US5139437A (en) Socket
JPH0794252A (en) Socket
JP2003017208A (en) Socket for semiconductor device
JP3739626B2 (en) Socket for electrical parts
JPH07161422A (en) Ic socket
JPH0632241B2 (en) Socket for electrical parts
JPH0656784B2 (en) Socket for electrical parts
JPH09245920A (en) Ic pressing mechanism of ic socket
JP3302046B2 (en) IC socket
JP2000195631A (en) Socket for electrical component
JPH088016A (en) Ic socket
JP3007179U (en) Test socket for electronic devices
KR100898409B1 (en) Burn-in socket for lead-frame type chip package
JP4038828B2 (en) IC socket
JP3942936B2 (en) Socket for electrical parts
JP2004228042A (en) Socket for electric component
JP3683057B2 (en) IC package socket
JP4021984B2 (en) Socket for electrical parts
JPH05343145A (en) Ic socket

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20010306