JPH07153601A - チップ抵抗器の製造方法 - Google Patents
チップ抵抗器の製造方法Info
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- JPH07153601A JPH07153601A JP5301453A JP30145393A JPH07153601A JP H07153601 A JPH07153601 A JP H07153601A JP 5301453 A JP5301453 A JP 5301453A JP 30145393 A JP30145393 A JP 30145393A JP H07153601 A JPH07153601 A JP H07153601A
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- layer
- resistor
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- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【構成】 保護層4、マーキング層5および端子電極下
地層6のそれぞれの成分として硬化性樹脂を用い、抵抗
体表面に保護層4およびマーキング層5を積層して半硬
化状態に形成し、ついで端子電極下地層6を形成する部
位に導電ペーストを印刷し、加熱により保護層4、マー
キング層5および端子電極下地層6を同時に硬化させる
ことを特徴とするチップ抵抗器の製造方法。 【効果】 工程中の熱履歴による抵抗値の変動がなく、
高精度のチップ抵抗器を高い歩留りで製造できる。
地層6のそれぞれの成分として硬化性樹脂を用い、抵抗
体表面に保護層4およびマーキング層5を積層して半硬
化状態に形成し、ついで端子電極下地層6を形成する部
位に導電ペーストを印刷し、加熱により保護層4、マー
キング層5および端子電極下地層6を同時に硬化させる
ことを特徴とするチップ抵抗器の製造方法。 【効果】 工程中の熱履歴による抵抗値の変動がなく、
高精度のチップ抵抗器を高い歩留りで製造できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はチップ抵抗器の製造方法
に関し、さらに詳しくは、高精度の角形チップ抵抗器の
製造方法において、保護層、マーキング層および端子電
極下地層を形成する方法に関する。
に関し、さらに詳しくは、高精度の角形チップ抵抗器の
製造方法において、保護層、マーキング層および端子電
極下地層を形成する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】チップ抵抗器は、代表的には次のように
して製造される。すなわち、まずアルミナ基板上に、
銀、パラジウム、ガラスフリットおよびビヒクルからな
る一次電極をスクリーン印刷し、乾燥した後、焼成す
る。この一次電極上に、酸化ルテニウム、ガラスフリッ
ト及びビヒクルからなる抵抗体を印刷し、乾燥した後、
焼成する。この抵抗体の上に、ガラスフリットおよびビ
ヒクルからなるガラス保護層を印刷し、乾燥した後、焼
成する。その後、両端子電極間の抵抗を所望の値にそろ
えるために、レーザートリミングを行う。トリミング
後、耐湿性を向上させるために、さらにもう1層のガラ
ス保護層を重ねる。この際、通常、ペーストを印刷後、
乾燥して、さらにガラス質のマーキング層を印刷、乾燥
した後、600℃の焼成温度に10分間かける。ベルト
炉による連続操作では、投入から出炉までの間、高温に
30〜60分さらされる。基板を分割した後、その両端
に、導電粒子、ガラスフリットおよびビヒクルからなる
導電ペーストを塗布し、乾燥および600℃における焼
成によって端子電極下地層を形成する。ついで、該下地
層の上に、メッキによりニッケル層および半田層を形成
して、チップ抵抗器を得る。
して製造される。すなわち、まずアルミナ基板上に、
銀、パラジウム、ガラスフリットおよびビヒクルからな
る一次電極をスクリーン印刷し、乾燥した後、焼成す
る。この一次電極上に、酸化ルテニウム、ガラスフリッ
ト及びビヒクルからなる抵抗体を印刷し、乾燥した後、
焼成する。この抵抗体の上に、ガラスフリットおよびビ
ヒクルからなるガラス保護層を印刷し、乾燥した後、焼
成する。その後、両端子電極間の抵抗を所望の値にそろ
えるために、レーザートリミングを行う。トリミング
後、耐湿性を向上させるために、さらにもう1層のガラ
ス保護層を重ねる。この際、通常、ペーストを印刷後、
乾燥して、さらにガラス質のマーキング層を印刷、乾燥
した後、600℃の焼成温度に10分間かける。ベルト
炉による連続操作では、投入から出炉までの間、高温に
30〜60分さらされる。基板を分割した後、その両端
に、導電粒子、ガラスフリットおよびビヒクルからなる
導電ペーストを塗布し、乾燥および600℃における焼
成によって端子電極下地層を形成する。ついで、該下地
層の上に、メッキによりニッケル層および半田層を形成
して、チップ抵抗器を得る。
【0003】このように、レーザートリミングを行った
後に、600℃の焼成温度に少なくとも2回さらされる
ために、レーザートリミングによって所望の値に付与さ
れた両端子電極間の抵抗が、焼成温度の影響によって変
化する。そのため、抵抗値の誤差の幅を1〜5%の範囲
に収めた高精度のチップ抵抗器を得ようとすると、歩留
りが10〜50%と低くなる。
後に、600℃の焼成温度に少なくとも2回さらされる
ために、レーザートリミングによって所望の値に付与さ
れた両端子電極間の抵抗が、焼成温度の影響によって変
化する。そのため、抵抗値の誤差の幅を1〜5%の範囲
に収めた高精度のチップ抵抗器を得ようとすると、歩留
りが10〜50%と低くなる。
【0004】高温焼成による抵抗値の変動を避けること
を目的として、端子電極下地層を形成するのに、熱硬化
性樹脂を含有する導電ペーストを用いることが提案され
ている(特公昭58−46161号公報、特開昭61−
268001号公報)。この場合、端子電極金属層を形
成するためのニッケルメッキの下地層に対する付着性を
高めるためには、硬化後の該下地層の比抵抗を2×10
-5〜5×10-2Ω・cmの範囲に収めることが必要であ
る。そのため、該下地層の導電粒子としては、りん片状
銀粉が用いられる。しかし、そのような導電粒子を用い
ると、硬化後の端子電極下地層の色相が白色でアルミナ
基板と類似するので、導電ペーストの塗布不良の判別が
容易ではないという問題がある。
を目的として、端子電極下地層を形成するのに、熱硬化
性樹脂を含有する導電ペーストを用いることが提案され
ている(特公昭58−46161号公報、特開昭61−
268001号公報)。この場合、端子電極金属層を形
成するためのニッケルメッキの下地層に対する付着性を
高めるためには、硬化後の該下地層の比抵抗を2×10
-5〜5×10-2Ω・cmの範囲に収めることが必要であ
る。そのため、該下地層の導電粒子としては、りん片状
銀粉が用いられる。しかし、そのような導電粒子を用い
ると、硬化後の端子電極下地層の色相が白色でアルミナ
基板と類似するので、導電ペーストの塗布不良の判別が
容易ではないという問題がある。
【0005】これを避けるために、着色を目的として銀
以外の導電粒子を配合すると、該下地層の比抵抗が高く
なり、同一の厚さのニッケルメッキ層を得るには、長時
間のメッキを行うことが必要となる。そのため、配合さ
れた卑金属の表面が酸化されて、絶縁層を形成しやすい
という問題がある。
以外の導電粒子を配合すると、該下地層の比抵抗が高く
なり、同一の厚さのニッケルメッキ層を得るには、長時
間のメッキを行うことが必要となる。そのため、配合さ
れた卑金属の表面が酸化されて、絶縁層を形成しやすい
という問題がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、高精
度のチップ抵抗器が高収率で得られ、しかも端子電極を
形成するための導電ペーストの塗布不良を光学的に識別
できるチップ抵抗器の製造方法を提供することである。
度のチップ抵抗器が高収率で得られ、しかも端子電極を
形成するための導電ペーストの塗布不良を光学的に識別
できるチップ抵抗器の製造方法を提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記の課
題を解決するために検討を重ねた結果、抵抗体のレーザ
ートリミングを行った後に、それぞれ硬化性樹脂を成分
として含む保護層、マーキング層および端子電極下地層
を、その順に印刷し、前二者はそれぞれ予備硬化状態に
して次の印刷工程に進めた上で、最終的に加熱硬化させ
ることにより、上記の目的を達成しうることを見出し
て、本発明を完成するに至った。
題を解決するために検討を重ねた結果、抵抗体のレーザ
ートリミングを行った後に、それぞれ硬化性樹脂を成分
として含む保護層、マーキング層および端子電極下地層
を、その順に印刷し、前二者はそれぞれ予備硬化状態に
して次の印刷工程に進めた上で、最終的に加熱硬化させ
ることにより、上記の目的を達成しうることを見出し
て、本発明を完成するに至った。
【0008】すなわち、本発明のチップ抵抗器の製造方
法は、 (A)基材の少なくとも一方の表面の両端部に一次電極
を形成し; (B)該一次電極の間に抵抗体を形成し; (C)該抵抗体をレーザートリミングすることによっ
て、該抵抗体に所定の抵抗値を付与し; (D)該抵抗体上に保護層を設け; (E)該保護層上にマーキング層を設け; (F)次に少なくとも基材端面を覆うように導電ペース
トを印刷し; (G)該導電ペーストを硬化させて端子電極下地層を形
成し;ついで (H)該端子電極下地層の上に端子電極金属層を形成す
る、チップ抵抗器の製造方法において、 (イ)工程(E)および(F)の保護層およびマーキン
グ層を、それぞれ熱または光もしくは電子線照射によっ
て硬化する硬化性樹脂を含むペーストを印刷して、半硬
化状態で形成し; (ロ)工程(F)において熱硬化性樹脂および導電粒子
を含む導電ペーストを印刷し; (ハ)工程(G)で該導電ペーストを硬化させると同時
に、上記(イ)で半硬化状態に形成した保護層およびマ
ーキング層を硬化させることを特徴とする。
法は、 (A)基材の少なくとも一方の表面の両端部に一次電極
を形成し; (B)該一次電極の間に抵抗体を形成し; (C)該抵抗体をレーザートリミングすることによっ
て、該抵抗体に所定の抵抗値を付与し; (D)該抵抗体上に保護層を設け; (E)該保護層上にマーキング層を設け; (F)次に少なくとも基材端面を覆うように導電ペース
トを印刷し; (G)該導電ペーストを硬化させて端子電極下地層を形
成し;ついで (H)該端子電極下地層の上に端子電極金属層を形成す
る、チップ抵抗器の製造方法において、 (イ)工程(E)および(F)の保護層およびマーキン
グ層を、それぞれ熱または光もしくは電子線照射によっ
て硬化する硬化性樹脂を含むペーストを印刷して、半硬
化状態で形成し; (ロ)工程(F)において熱硬化性樹脂および導電粒子
を含む導電ペーストを印刷し; (ハ)工程(G)で該導電ペーストを硬化させると同時
に、上記(イ)で半硬化状態に形成した保護層およびマ
ーキング層を硬化させることを特徴とする。
【0009】本発明の製造方法において特徴的なこと
は、チップ抵抗器の保護層、マーキング層および端子電
極下地層のそれぞれの成分として硬化性樹脂を用い、前
述のように、保護層およびマーキング層を半硬化状態に
した後、端子電極下地層とともに熱硬化させることで
る。この半硬化状態の保護層およびマーキング層の形成
は、加熱によっても、紫外線のような光または電子線の
照射によってもよい。
は、チップ抵抗器の保護層、マーキング層および端子電
極下地層のそれぞれの成分として硬化性樹脂を用い、前
述のように、保護層およびマーキング層を半硬化状態に
した後、端子電極下地層とともに熱硬化させることで
る。この半硬化状態の保護層およびマーキング層の形成
は、加熱によっても、紫外線のような光または電子線の
照射によってもよい。
【0010】図1に、本発明によって製造されるチップ
抵抗器の断面図を示す。基板(1)としては、通常、ア
ルミナが用いられる。
抵抗器の断面図を示す。基板(1)としては、通常、ア
ルミナが用いられる。
【0011】(A)一次電極の形成 まず、基板(1)の少なくとも一方の表面の両末端部
に、一次電極(2)を形成する。たとえば、スリットの
入った基板(1)の所定部位に、銀粉、パラジウム粉、
ガラスフリット、セルロースおよび溶媒を含むペースト
をスクリーン印刷し、乾燥した後、650〜950℃で
5〜15分焼成することによって、一次電極を形成す
る。
に、一次電極(2)を形成する。たとえば、スリットの
入った基板(1)の所定部位に、銀粉、パラジウム粉、
ガラスフリット、セルロースおよび溶媒を含むペースト
をスクリーン印刷し、乾燥した後、650〜950℃で
5〜15分焼成することによって、一次電極を形成す
る。
【0012】(B)抵抗体の形成 次に、抵抗体(3)を、上記の一次電極(2)を形成し
た基板(1)の表面の、該一次電極の間をつなぐように
形成する。すなわち、たとえば酸化ルテニウム、ガラス
フリット、セルロース、溶媒などからなるペーストをス
クリーン印刷し、乾燥した後、750〜950℃で5〜
10分焼成することによって、抵抗体を形成する。以上
の(2)および(3)の形成方法はいずれも例示であ
り、(2)および(3)の形成は、上記以外の任意の方
法または材料の組合せによってなされてもよい。
た基板(1)の表面の、該一次電極の間をつなぐように
形成する。すなわち、たとえば酸化ルテニウム、ガラス
フリット、セルロース、溶媒などからなるペーストをス
クリーン印刷し、乾燥した後、750〜950℃で5〜
10分焼成することによって、抵抗体を形成する。以上
の(2)および(3)の形成方法はいずれも例示であ
り、(2)および(3)の形成は、上記以外の任意の方
法または材料の組合せによってなされてもよい。
【0013】(C)所定の抵抗値の付与 次に、レーザートリミングによって、個々の抵抗体に所
定の抵抗値を付与する。
定の抵抗値を付与する。
【0014】(D)半硬化状態の保護層の形成 所定の抵抗値を付与した上記の抵抗体(3)を覆うよう
に、保護層を形成するためのペーストを、スクリーン印
刷などの方法によって印刷する。
に、保護層を形成するためのペーストを、スクリーン印
刷などの方法によって印刷する。
【0015】保護層を形成するためのペーストは、熱硬
化性樹脂、または光もしくは電子線で硬化するエネルギ
ー線硬化性樹脂を主成分として含み、必要に応じて、充
填剤、顔料、溶媒および/または添加剤を配合してもよ
い。
化性樹脂、または光もしくは電子線で硬化するエネルギ
ー線硬化性樹脂を主成分として含み、必要に応じて、充
填剤、顔料、溶媒および/または添加剤を配合してもよ
い。
【0016】保護層に用いられる熱硬化性樹脂として
は、各種の樹脂が用いられるが、耐湿性の優れているこ
とから、尿素樹脂、メラミン樹脂、グアナミン樹脂など
のアミノ樹脂;ビスフェノールA型、臭素化ビスフェノ
ールA型などのエポキシ樹脂;およびレゾール型などの
フェノール樹脂が好ましく、特に耐変色性を必要とする
場合は、アミノ樹脂およびエポキシ樹脂が好ましい。こ
れらの樹脂は、単独で用いても、2種以上を併用しても
よい。エポキシ樹脂の場合、硬化機構としては、自己硬
化型樹脂を用いても、またアミン類、イミダゾール類ま
たは酸無水物のような硬化剤を用いてもよい。アミノ樹
脂およびフェノール樹脂は、それぞれ保護層の構成成分
として用いられるほか、エポキシ樹脂の硬化剤として機
能してもよい。
は、各種の樹脂が用いられるが、耐湿性の優れているこ
とから、尿素樹脂、メラミン樹脂、グアナミン樹脂など
のアミノ樹脂;ビスフェノールA型、臭素化ビスフェノ
ールA型などのエポキシ樹脂;およびレゾール型などの
フェノール樹脂が好ましく、特に耐変色性を必要とする
場合は、アミノ樹脂およびエポキシ樹脂が好ましい。こ
れらの樹脂は、単独で用いても、2種以上を併用しても
よい。エポキシ樹脂の場合、硬化機構としては、自己硬
化型樹脂を用いても、またアミン類、イミダゾール類ま
たは酸無水物のような硬化剤を用いてもよい。アミノ樹
脂およびフェノール樹脂は、それぞれ保護層の構成成分
として用いられるほか、エポキシ樹脂の硬化剤として機
能してもよい。
【0017】保護層に用いられる光硬化性または電子線
硬化性樹脂としては、エポキシ(メタ)アクリレート樹
脂およびポリウレタン(メタ)アクリレート樹脂が挙げ
られ、単独で用いても、両者を併用してもよい。
硬化性樹脂としては、エポキシ(メタ)アクリレート樹
脂およびポリウレタン(メタ)アクリレート樹脂が挙げ
られ、単独で用いても、両者を併用してもよい。
【0018】充填剤としては、石英、カオリン、タル
ク、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウムなどの無機質粉
体が挙げられ、場合によっては、さら煙霧質シリカ、沈
殿シリカのような微粉末シリカを配合してもよい。良好
な印刷性を得るためには、石英のような充填剤を用いる
ことが好ましい。石英の平均粒径は、0.5〜50μm
であることが好ましい。充填剤の配合量は、上述の樹脂
100重量部に対して一般に0〜200重量部、好まし
くは10〜100重量部である。顔料としては、たとえ
ば酸化チタン、べんがら、カーボンブラックのような無
機顔料;フタロシアニン系顔料、アゾ系顔料、アンスラ
キノン系顔料、ジオキサジン系顔料などの有機顔料が挙
げられる。
ク、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウムなどの無機質粉
体が挙げられ、場合によっては、さら煙霧質シリカ、沈
殿シリカのような微粉末シリカを配合してもよい。良好
な印刷性を得るためには、石英のような充填剤を用いる
ことが好ましい。石英の平均粒径は、0.5〜50μm
であることが好ましい。充填剤の配合量は、上述の樹脂
100重量部に対して一般に0〜200重量部、好まし
くは10〜100重量部である。顔料としては、たとえ
ば酸化チタン、べんがら、カーボンブラックのような無
機顔料;フタロシアニン系顔料、アゾ系顔料、アンスラ
キノン系顔料、ジオキサジン系顔料などの有機顔料が挙
げられる。
【0019】溶媒としては、たとえば、トルエン、キシ
レン、エチルベンゼンなどの芳香族炭化水素系溶媒;メ
チルイソブチルケトン、シクロヘキサノンなどのケトン
系溶媒;エチレングリコールモノブチルエーテル、エチ
レングリコールモノブチルエーテルアセテート、ジエチ
レングリコールモノブチルエーテルなどのエーテルアル
コール系、エーテルエステル系溶媒などが挙げられる。
レン、エチルベンゼンなどの芳香族炭化水素系溶媒;メ
チルイソブチルケトン、シクロヘキサノンなどのケトン
系溶媒;エチレングリコールモノブチルエーテル、エチ
レングリコールモノブチルエーテルアセテート、ジエチ
レングリコールモノブチルエーテルなどのエーテルアル
コール系、エーテルエステル系溶媒などが挙げられる。
【0020】その他の添加剤としては、たとえば、レベ
リング剤、チキソトロピック剤、シランカップリング剤
などを、本発明の効果を妨げない範囲で使用できる。好
ましいシランカップリング剤としては、3−アミノプロ
ピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエト
キシシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプ
ロピルトリメトキシシラン、N−(2−アミノエチル)
−3−アミノプロピルメチルジメトキシラン、3−メル
カプトプロピルトリメトキシシラン、3−クロロプロピ
ルトリメトキシシラン、3−クロロプロピルメチルジメ
トキシシラン、3−クロロプロピルトリエトキシシラ
ン、3−クロロプロピルメチルジエトキシシラン、3−
グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシ
ドキシプロピルメチルジメトキシシラン、2−(3,4
−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン
などが例示される。
リング剤、チキソトロピック剤、シランカップリング剤
などを、本発明の効果を妨げない範囲で使用できる。好
ましいシランカップリング剤としては、3−アミノプロ
ピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエト
キシシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプ
ロピルトリメトキシシラン、N−(2−アミノエチル)
−3−アミノプロピルメチルジメトキシラン、3−メル
カプトプロピルトリメトキシシラン、3−クロロプロピ
ルトリメトキシシラン、3−クロロプロピルメチルジメ
トキシシラン、3−クロロプロピルトリエトキシシラ
ン、3−クロロプロピルメチルジエトキシシラン、3−
グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシ
ドキシプロピルメチルジメトキシシラン、2−(3,4
−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン
などが例示される。
【0021】さらに、樹脂として光硬化性樹脂を用いる
ときは、光照射によってラジカルを発生するような、光
重合開始剤を配合する。さらに、tert−ブチルペルオキ
シベンゾエートなど、各種の有機過酸化物を配合して、
後加熱によって保護層の物性をさらに向上させることも
できる。また、このような光または電子線によって硬化
する樹脂を用いる場合、メチルメタクリレート、エチル
メタクリレート、ブチルメタクリレート、エチルアクリ
レートなどの反応性希釈剤を用いて、系の見掛粘度を下
げながら、硬化後の樹脂の物性を維持することができ
る。
ときは、光照射によってラジカルを発生するような、光
重合開始剤を配合する。さらに、tert−ブチルペルオキ
シベンゾエートなど、各種の有機過酸化物を配合して、
後加熱によって保護層の物性をさらに向上させることも
できる。また、このような光または電子線によって硬化
する樹脂を用いる場合、メチルメタクリレート、エチル
メタクリレート、ブチルメタクリレート、エチルアクリ
レートなどの反応性希釈剤を用いて、系の見掛粘度を下
げながら、硬化後の樹脂の物性を維持することができ
る。
【0022】上述のペーストを印刷または塗布し、必要
に応じて乾燥を行った後、加熱、あるいは紫外線のよう
な光または電子線を照射(以下、「加熱等」という)し
て、半硬化状態にする。加熱の場合、その条件は樹脂の
指触硬化性によっても異なるが、通常、80〜200℃
で5〜10分、たとえば150℃で5分である。紫外線
照射の場合、たとえば高圧水銀ランプにより、好ましく
は100〜3,000mJ/cm2の紫外線を10〜50秒、
たとえば500mJ/cm2の紫外線を30秒照射すればよ
い。電子線照射の場合も、公知の方法により、同様に
0.2〜20Mrad、たとえば1Mradの照射を行えばよ
く、いずれも短時間で、加熱を伴わずに半硬化状態の層
を形成できる。半硬化層を形成するための印刷と加熱等
とは、1回でもよく、必要な厚さを得るまで反復して行
ってもよい。
に応じて乾燥を行った後、加熱、あるいは紫外線のよう
な光または電子線を照射(以下、「加熱等」という)し
て、半硬化状態にする。加熱の場合、その条件は樹脂の
指触硬化性によっても異なるが、通常、80〜200℃
で5〜10分、たとえば150℃で5分である。紫外線
照射の場合、たとえば高圧水銀ランプにより、好ましく
は100〜3,000mJ/cm2の紫外線を10〜50秒、
たとえば500mJ/cm2の紫外線を30秒照射すればよ
い。電子線照射の場合も、公知の方法により、同様に
0.2〜20Mrad、たとえば1Mradの照射を行えばよ
く、いずれも短時間で、加熱を伴わずに半硬化状態の層
を形成できる。半硬化層を形成するための印刷と加熱等
とは、1回でもよく、必要な厚さを得るまで反復して行
ってもよい。
【0023】(E)半硬化状態のマーキング層の形成 ついで、このようにして形成された半硬化状態の保護層
(4)の表面の所望の部位に、所望の色と必要に応じて
図形および/または文字を呈するマーキング層(5)
を、半硬化状態に形成する。すなわち、(4)の表面の
所望の部位に、マーキング層を形成するためのペースト
を、スクリーン印刷などの方法によって印刷する。
(4)の表面の所望の部位に、所望の色と必要に応じて
図形および/または文字を呈するマーキング層(5)
を、半硬化状態に形成する。すなわち、(4)の表面の
所望の部位に、マーキング層を形成するためのペースト
を、スクリーン印刷などの方法によって印刷する。
【0024】マーキング層を形成するためのペースト
は、熱硬化性樹脂、または光もしくは電子線で硬化する
エネルギー線硬化性樹脂を主成分として含み、着色顔料
のほか、必要に応じて、微粉末シリカ、溶媒および/ま
たは添加剤を配合してもよい。
は、熱硬化性樹脂、または光もしくは電子線で硬化する
エネルギー線硬化性樹脂を主成分として含み、着色顔料
のほか、必要に応じて、微粉末シリカ、溶媒および/ま
たは添加剤を配合してもよい。
【0025】マーキング層に用いられる熱硬化性樹脂と
しては、各種の樹脂が用いられるが、特に耐変色性が優
れていることから、アミノ樹脂、エポキシ樹脂およびア
ルキド樹脂が好ましく、単独で用いても、2種以上を併
用してもよい。エポキシ樹脂とアミノ樹脂の組合せ、ま
たはエポキシ樹脂と硬化剤としてイミダゾール類との組
合せが特に好ましい。これらのアミノ樹脂およびエポキ
シ樹脂についての詳細は、さきに保護層に用いられる熱
硬化性樹脂について述べたのと同様である。
しては、各種の樹脂が用いられるが、特に耐変色性が優
れていることから、アミノ樹脂、エポキシ樹脂およびア
ルキド樹脂が好ましく、単独で用いても、2種以上を併
用してもよい。エポキシ樹脂とアミノ樹脂の組合せ、ま
たはエポキシ樹脂と硬化剤としてイミダゾール類との組
合せが特に好ましい。これらのアミノ樹脂およびエポキ
シ樹脂についての詳細は、さきに保護層に用いられる熱
硬化性樹脂について述べたのと同様である。
【0026】マーキング層に用いられる光硬化性または
電子線硬化性樹脂としては、エポキシ(メタ)アクリレ
ート樹脂およびポリウレタン(メタ)アクリレート樹脂
が挙げられ、単独で用いても、両者を併用してもよい。
電子線硬化性樹脂としては、エポキシ(メタ)アクリレ
ート樹脂およびポリウレタン(メタ)アクリレート樹脂
が挙げられ、単独で用いても、両者を併用してもよい。
【0027】顔料としては、たとえば、酸化チタン、べ
んがら、カーボンブラックのような無機顔料;フタロシ
アニン系顔料、アゾ系顔料、アンスラキノン系顔料、ジ
オキサジン系顔料などの有機顔料が挙げられる。顔料の
配合量は、上記の樹脂100重量部に対して一般に0.
1〜100重量部の範囲である。また、印刷性を向上さ
せる目的で、煙霧質シリカ、沈殿シリカのような微粉末
シリカを配合してもよい。マーキング層を形成するため
のペーストに配合される溶媒、その他の添加剤、ならび
に樹脂として光硬化性樹脂を用いるときに配合する光重
合開始剤、有機過酸化物および反応性希釈剤について
は、前述の保護層を形成するためのペーストに配合され
るものと同様なものが用いられる。
んがら、カーボンブラックのような無機顔料;フタロシ
アニン系顔料、アゾ系顔料、アンスラキノン系顔料、ジ
オキサジン系顔料などの有機顔料が挙げられる。顔料の
配合量は、上記の樹脂100重量部に対して一般に0.
1〜100重量部の範囲である。また、印刷性を向上さ
せる目的で、煙霧質シリカ、沈殿シリカのような微粉末
シリカを配合してもよい。マーキング層を形成するため
のペーストに配合される溶媒、その他の添加剤、ならび
に樹脂として光硬化性樹脂を用いるときに配合する光重
合開始剤、有機過酸化物および反応性希釈剤について
は、前述の保護層を形成するためのペーストに配合され
るものと同様なものが用いられる。
【0028】上述のペーストを印刷し、必要に応じて乾
燥を行った後、加熱等によって半硬化状態にする。加熱
等の条件は、樹脂によっても異なるが、前述の保護層の
半硬化とほぼ同じでよい。
燥を行った後、加熱等によって半硬化状態にする。加熱
等の条件は、樹脂によっても異なるが、前述の保護層の
半硬化とほぼ同じでよい。
【0029】(F)導電ペーストの印刷 次に、基板端部の端子電極下地層(6)を形成する部位
に、すなわち、代表的には、図1に示すように、基板の
端面から基板末端部の1次電極(2)の一部の表面を覆
うように、該下地層を形成するための導電ペーストを、
スクリーン印刷、ロール転写などの方法によって印刷す
る。
に、すなわち、代表的には、図1に示すように、基板の
端面から基板末端部の1次電極(2)の一部の表面を覆
うように、該下地層を形成するための導電ペーストを、
スクリーン印刷、ロール転写などの方法によって印刷す
る。
【0030】導電ペーストは、熱硬化性樹脂の少なくと
も1種と導電粒子の少なくとも1種とを含む。該下地層
中の導電粒子の含有量は、好ましくは25〜50容量
%、さらに好ましくは35〜47容量%である。
も1種と導電粒子の少なくとも1種とを含む。該下地層
中の導電粒子の含有量は、好ましくは25〜50容量
%、さらに好ましくは35〜47容量%である。
【0031】導電ペーストに用いられる熱硬化性樹脂と
しては、各種の樹脂が用いられるが、耐熱性および接着
強度の優れていることから、尿素樹脂、メラミン樹脂、
グアナミン樹脂などのアミノ樹脂;ビスフェノールA
型、臭素化ビスフェノールA型などのエポキシ樹脂;レ
ゾール型、ノボラック型などのフェノール樹脂およびポ
リイミド樹脂が好ましく、単独で用いても、2種以上を
併用してもよい。エポキシ樹脂の場合、硬化機構として
は、自己硬化型樹脂を用いても、またアミン類、イミダ
ゾール類または酸無水物のような硬化剤を用いてもよ
い。アミノ樹脂は、端子電極下地層の構成成分として用
いられるほか、エポキシ樹脂の硬化剤として機能しても
よい。
しては、各種の樹脂が用いられるが、耐熱性および接着
強度の優れていることから、尿素樹脂、メラミン樹脂、
グアナミン樹脂などのアミノ樹脂;ビスフェノールA
型、臭素化ビスフェノールA型などのエポキシ樹脂;レ
ゾール型、ノボラック型などのフェノール樹脂およびポ
リイミド樹脂が好ましく、単独で用いても、2種以上を
併用してもよい。エポキシ樹脂の場合、硬化機構として
は、自己硬化型樹脂を用いても、またアミン類、イミダ
ゾール類または酸無水物のような硬化剤を用いてもよ
い。アミノ樹脂は、端子電極下地層の構成成分として用
いられるほか、エポキシ樹脂の硬化剤として機能しても
よい。
【0032】導電粒子としては、球状、りん片状、針
状、枝状など各種形状の各種の金属粉および/または炭
素質物が用いられるが、抵抗値が小さいことと、色相か
ら、銀、ニッケル、銅、ステンレスまたは炭素質物が好
ましい。導電粒子の粒子の大きさは、金属粉の場合0.
05〜30μm が好ましく、0.1〜20μm がさらに
好ましい。炭素質物の場合0.02〜20μm が好まし
い。粒子の大きさが上記の値より細かすぎると抵抗が高
く、また塗布後の表面状態が悪い。大きすぎると表面に
粒子による凹凸を生じて表面状態が悪く、とくに微小チ
ップの場合に、その影響が大きい。このような導電粒子
としては、たとえば粒径が0.05〜5μm の球状銀
粉、球状ニッケル粉および球状銅粉;アスペクト比5〜
200、りん片の大きさ0.5〜30μm のりん片状銀
粉、りん片状銅粉およびりん片状ステンレス粉;長さ2
〜30μm の電解銀粉および電解銅粉;ならびにアセチ
レンブラック、ランプブラック、ファーネスブラックな
どのカーボンブラック;および大きさ1〜20μm のグ
ラフィイトなどが挙げられる。
状、枝状など各種形状の各種の金属粉および/または炭
素質物が用いられるが、抵抗値が小さいことと、色相か
ら、銀、ニッケル、銅、ステンレスまたは炭素質物が好
ましい。導電粒子の粒子の大きさは、金属粉の場合0.
05〜30μm が好ましく、0.1〜20μm がさらに
好ましい。炭素質物の場合0.02〜20μm が好まし
い。粒子の大きさが上記の値より細かすぎると抵抗が高
く、また塗布後の表面状態が悪い。大きすぎると表面に
粒子による凹凸を生じて表面状態が悪く、とくに微小チ
ップの場合に、その影響が大きい。このような導電粒子
としては、たとえば粒径が0.05〜5μm の球状銀
粉、球状ニッケル粉および球状銅粉;アスペクト比5〜
200、りん片の大きさ0.5〜30μm のりん片状銀
粉、りん片状銅粉およびりん片状ステンレス粉;長さ2
〜30μm の電解銀粉および電解銅粉;ならびにアセチ
レンブラック、ランプブラック、ファーネスブラックな
どのカーボンブラック;および大きさ1〜20μm のグ
ラフィイトなどが挙げられる。
【0033】このような導電粒子を用いて、アルミナ基
板と端子電極下地層との反射率(入射角45°)の差が
20%以上になるように、導電粒子の種類、形状および
大きさを選択することが、目視または光学的手段による
印刷状態の判別を容易にするうえで好ましい。低い比抵
抗と、上記の反射率の差とを有する端子電極下地層を得
るためには、好ましくは導電粒子中にりん片状銀粉を3
〜90容量%、より好ましくは5〜50容量%と、残余
の着色導電粒子とを含有する。この場合、着色導電粒子
としては、粒径0.05〜0.3μm の球状銀粉を導電
粒子中の30〜97容量%用いるか、あるいはニッケ
ル、銅、ステンレス、カーボンブラックおよびグラファ
イト粉の少なくとも1種を、導電粒子中の5〜15容量
%用いることが好ましい。良好なメッキ付着性を得るた
めには、りん片状銀粉に併用する着色導電粒子として
は、球状銀粉または銅粉を用いることが好ましい。
板と端子電極下地層との反射率(入射角45°)の差が
20%以上になるように、導電粒子の種類、形状および
大きさを選択することが、目視または光学的手段による
印刷状態の判別を容易にするうえで好ましい。低い比抵
抗と、上記の反射率の差とを有する端子電極下地層を得
るためには、好ましくは導電粒子中にりん片状銀粉を3
〜90容量%、より好ましくは5〜50容量%と、残余
の着色導電粒子とを含有する。この場合、着色導電粒子
としては、粒径0.05〜0.3μm の球状銀粉を導電
粒子中の30〜97容量%用いるか、あるいはニッケ
ル、銅、ステンレス、カーボンブラックおよびグラファ
イト粉の少なくとも1種を、導電粒子中の5〜15容量
%用いることが好ましい。良好なメッキ付着性を得るた
めには、りん片状銀粉に併用する着色導電粒子として
は、球状銀粉または銅粉を用いることが好ましい。
【0034】端子電極下地層を形成するための導電ペー
ストには、上記の硬化性樹脂と、導電粒子のほかに、必
要に応じて、溶媒および/または添加剤を配合してもよ
い。溶媒および添加剤としては、さきに保護層を形成す
るためのペーストについて述べたのと同様のものを用い
てもよい。
ストには、上記の硬化性樹脂と、導電粒子のほかに、必
要に応じて、溶媒および/または添加剤を配合してもよ
い。溶媒および添加剤としては、さきに保護層を形成す
るためのペーストについて述べたのと同様のものを用い
てもよい。
【0035】(G)導電ペーストの硬化による端子電極
下地層の形成ならびに保護層およびマーキング層の硬化 上述のようにして印刷された導電ペーストの熱硬化性樹
脂を硬化して、端子電極下地層(6)を形成すると同時
に、さきに半硬化状態に形成した保護層(4)およびマ
ーキング層(5)を硬化するために、加熱を行う。加熱
は、好ましくは150〜250℃で10〜60分行う。
このようにして形成された端子電極下地層の基板端面か
らの厚さは、5〜100μm であることが好ましい。5
μm 未満ではリード引張強さが低くなり、100μm を
越すとメッキ付着性が悪くなる。
下地層の形成ならびに保護層およびマーキング層の硬化 上述のようにして印刷された導電ペーストの熱硬化性樹
脂を硬化して、端子電極下地層(6)を形成すると同時
に、さきに半硬化状態に形成した保護層(4)およびマ
ーキング層(5)を硬化するために、加熱を行う。加熱
は、好ましくは150〜250℃で10〜60分行う。
このようにして形成された端子電極下地層の基板端面か
らの厚さは、5〜100μm であることが好ましい。5
μm 未満ではリード引張強さが低くなり、100μm を
越すとメッキ付着性が悪くなる。
【0036】(H)端子電極金属層の形成 上記のようにして形成された端子電極下地層(6)の表
面に、たとえば金属メッキを施して端子電極の金属層
(7)を形成する。メッキは電気メッキ、無電解メッキ
のいずれでもよいが、導電部分に選択的にメッキを施す
ことが容易であり、メッキ強度も高いことから、電気メ
ッキが好ましい。該金属層(7)は、下地層の上に容易
にメッキでき、比抵抗も満足しうるニッケルを第1層と
し、該ニッケル層の酸化を防止するために半田を第2層
とする2層構造であることが好ましい。メッキの方法と
条件は常法どおりで差支えない。
面に、たとえば金属メッキを施して端子電極の金属層
(7)を形成する。メッキは電気メッキ、無電解メッキ
のいずれでもよいが、導電部分に選択的にメッキを施す
ことが容易であり、メッキ強度も高いことから、電気メ
ッキが好ましい。該金属層(7)は、下地層の上に容易
にメッキでき、比抵抗も満足しうるニッケルを第1層と
し、該ニッケル層の酸化を防止するために半田を第2層
とする2層構造であることが好ましい。メッキの方法と
条件は常法どおりで差支えない。
【0037】このほか、本発明の特徴を損なわない範囲
で、他の任意の工程を追加しても差支えない。
で、他の任意の工程を追加しても差支えない。
【0038】
【発明の効果】本発明の製造方法によって製造されるチ
ップ抵抗器は、所望の抵抗値を付与された後に、過酷な
熱履歴を受けずに保護層、マーキング層および端子電極
が形成されるので、工程中の熱履歴による抵抗値の変動
がない。それゆえ、高精度のチップ抵抗器を高い歩留り
で得ることができる。
ップ抵抗器は、所望の抵抗値を付与された後に、過酷な
熱履歴を受けずに保護層、マーキング層および端子電極
が形成されるので、工程中の熱履歴による抵抗値の変動
がない。それゆえ、高精度のチップ抵抗器を高い歩留り
で得ることができる。
【0039】また、端子電極下地層を形成するための導
電ペーストの反射率を基材のアルミナと異なるように処
方しうるので、該導電ペーストの印刷不良の判定も容易
である。
電ペーストの反射率を基材のアルミナと異なるように処
方しうるので、該導電ペーストの印刷不良の判定も容易
である。
【0040】したがって、本発明によって合理的に高精
度のチップ抵抗器を製造することができる。本発明によ
って製造されたチップ抵抗器は、液晶表示装置、テレビ
受像器、移動電話器およびその他の小型電子機器に組み
込まれる抵抗器として有用である。
度のチップ抵抗器を製造することができる。本発明によ
って製造されたチップ抵抗器は、液晶表示装置、テレビ
受像器、移動電話器およびその他の小型電子機器に組み
込まれる抵抗器として有用である。
【0041】
【実施例】以下、本発明を実施例によってさらに詳細に
説明する。本発明はこれらの実施例によって限定される
ものではない。以下、とくにことわらないかぎり、部は
重量部を示す。ただし、導電ペーストの組成は容量部を
示す。なお、実施例に用いられた試験法は下記のとおり
である。
説明する。本発明はこれらの実施例によって限定される
ものではない。以下、とくにことわらないかぎり、部は
重量部を示す。ただし、導電ペーストの組成は容量部を
示す。なお、実施例に用いられた試験法は下記のとおり
である。
【0042】体積抵抗率 硬化した塗膜について、極超絶縁計を用いて、室温20
±3℃、相対湿度50±15%の測定環境で体積抵抗率
(100V 、1分値)を測定する。
±3℃、相対湿度50±15%の測定環境で体積抵抗率
(100V 、1分値)を測定する。
【0043】PCT(プレッシャークッカー試験) 上記の体積抵抗率の測定に用いた塗膜を、121℃(水
蒸気飽和)に設定したプレッシャークッカー中に20時
間放置した後、取出して、室温に30分放置する。この
塗膜について、上記と同様にして体積抵抗率を測定す
る。
蒸気飽和)に設定したプレッシャークッカー中に20時
間放置した後、取出して、室温に30分放置する。この
塗膜について、上記と同様にして体積抵抗率を測定す
る。
【0044】印刷性 スクリーン印刷後の塗膜について、付着したペーストの
形状(エッジだれなど)を観察して、評価する。
形状(エッジだれなど)を観察して、評価する。
【0045】ファインライン性 400メッシュ、乳剤厚さ10μm のマスクを用い、文
字の綿幅40μm でスクリーン印刷を行って、その状態
を観察し、評価する。
字の綿幅40μm でスクリーン印刷を行って、その状態
を観察し、評価する。
【0046】連続印刷性 連続して100回のスクリーン印刷を行い、同様にファ
インライン性の評価を行う。
インライン性の評価を行う。
【0047】反射率 ユニバーサルグロスメータTC105A(安田精機株式
会社製)を用い、入・反射角45°で測定し、アルミナ
基板の反射率を100%として表示する。
会社製)を用い、入・反射角45°で測定し、アルミナ
基板の反射率を100%として表示する。
【0048】メッキ付着性 温度50℃、pH4のワット浴を使用して、電流密度2A/
dm2 で30分間メッキを行い、20分後のメッキの付着
状態を観察して、4段階で評価する。
dm2 で30分間メッキを行い、20分後のメッキの付着
状態を観察して、4段階で評価する。
【0049】リード引張強度 ニッケル層および半田層を形成した一方の端子電極を、
直径1mmの半田ボールによって、ガラスエポキシ樹脂基
板の上に形成した銅箔に半田付けする。次に、他方の端
子電極に、直径0.5mmの半田ボールによって、直径
0.5mmの半田メッキ銅リード線を半田付けする。つい
で、上記のリード線を水平に引張って、半田ボールとの
間の接着破断強度を測定する。
直径1mmの半田ボールによって、ガラスエポキシ樹脂基
板の上に形成した銅箔に半田付けする。次に、他方の端
子電極に、直径0.5mmの半田ボールによって、直径
0.5mmの半田メッキ銅リード線を半田付けする。つい
で、上記のリード線を水平に引張って、半田ボールとの
間の接着破断強度を測定する。
【0050】参考例1〜4 これらの参考例では、各種の熱硬化性樹脂を用いて、加
熱によって硬化させて得た保護層についてのモデル実験
を示す。
熱によって硬化させて得た保護層についてのモデル実験
を示す。
【0051】熱硬化性樹脂、石英粉、各種の添加剤およ
び溶媒を用いて、表1に示す組成のペーストを調製し
た。この樹脂組成物を、40mm×60mmのステンレス板
の表面のうちの30mm×45mmの部分にスクリーン印刷
し、室温で10〜15分放置した後、150℃で5分間
加熱して硬化させた。ついで、同一の部分に2回目のス
クリーン印刷を行い、同一条件で硬化させた。さらに、
同一の部分に3回目のスクリーン印刷を行い、最終加熱
条件を200℃、30分間に変えた以外は同様にして、
硬化塗膜を形成した。このようにして形成した塗膜につ
いて、体積抵抗率およびPCTにかけた後の体積抵抗率
を測定し、印刷性を評価した。その結果を表1に示す。
び溶媒を用いて、表1に示す組成のペーストを調製し
た。この樹脂組成物を、40mm×60mmのステンレス板
の表面のうちの30mm×45mmの部分にスクリーン印刷
し、室温で10〜15分放置した後、150℃で5分間
加熱して硬化させた。ついで、同一の部分に2回目のス
クリーン印刷を行い、同一条件で硬化させた。さらに、
同一の部分に3回目のスクリーン印刷を行い、最終加熱
条件を200℃、30分間に変えた以外は同様にして、
硬化塗膜を形成した。このようにして形成した塗膜につ
いて、体積抵抗率およびPCTにかけた後の体積抵抗率
を測定し、印刷性を評価した。その結果を表1に示す。
【0052】
【表1】
【0053】参考例5〜7 これらの参考例では、各種のエネルギー線硬化性樹脂を
用いて、紫外線または電子線の照射によって半硬化状態
とした後、加熱によって硬化させて得た保護層について
のモデル実験を示す。
用いて、紫外線または電子線の照射によって半硬化状態
とした後、加熱によって硬化させて得た保護層について
のモデル実験を示す。
【0054】エネルギー線硬化性樹脂、石英粉および各
種の添加剤を用いて、表2に示す組成のペーストを調製
した。この樹脂組成物を、参考例1〜4と同様にしてス
テンレス板にスクリーン印刷し、参考例5および6では
高圧水銀ランプにより500mJ/cm2の紫外線を照射して
半硬化状態とし、この印刷および照射を3回繰返した。
参考例8では、紫外線照射に代えて、電子線照射装置に
より、各回1Mradの電子線を照射した。ついで、各参考
例とも200℃で30分間の加熱を行って、完全に硬化
した保護層を形成した。このようにして形成した塗膜に
ついて、体積抵抗率およびPCTにかけた後の体積抵抗
率を測定し、印刷性を評価した。その結果を表2に示
す。
種の添加剤を用いて、表2に示す組成のペーストを調製
した。この樹脂組成物を、参考例1〜4と同様にしてス
テンレス板にスクリーン印刷し、参考例5および6では
高圧水銀ランプにより500mJ/cm2の紫外線を照射して
半硬化状態とし、この印刷および照射を3回繰返した。
参考例8では、紫外線照射に代えて、電子線照射装置に
より、各回1Mradの電子線を照射した。ついで、各参考
例とも200℃で30分間の加熱を行って、完全に硬化
した保護層を形成した。このようにして形成した塗膜に
ついて、体積抵抗率およびPCTにかけた後の体積抵抗
率を測定し、印刷性を評価した。その結果を表2に示
す。
【0055】
【表2】
【0056】参考例8、9 これらの参考例では、熱硬化性樹脂を用いて、加熱によ
って硬化させて得たマーキング層についてのモデル実験
を示す。
って硬化させて得たマーキング層についてのモデル実験
を示す。
【0057】熱硬化性樹脂、顔料および溶媒を用いて、
表3に示す組成のペーストを調製した。これを、反覆印
刷を行なわずに参考例1〜4と同様にスクリーン印刷を
1回行った後、150℃で5分間、ついで200℃で3
0分間の加熱を行って完全に硬化させた。ただし、スク
リーン印刷は、前述のファインライン性評価のようにし
て行った。このようにして形成した塗膜について、ファ
インライン性と連続印刷性を評価した。その結果を表3
に示す。
表3に示す組成のペーストを調製した。これを、反覆印
刷を行なわずに参考例1〜4と同様にスクリーン印刷を
1回行った後、150℃で5分間、ついで200℃で3
0分間の加熱を行って完全に硬化させた。ただし、スク
リーン印刷は、前述のファインライン性評価のようにし
て行った。このようにして形成した塗膜について、ファ
インライン性と連続印刷性を評価した。その結果を表3
に示す。
【0058】
【表3】
【0059】参考例10〜12 これらの参考例では、各種のエネルギー線硬化性樹脂を
用いて、紫外線または電子線の照射によって半硬化状態
とした後、加熱によって硬化させて得たマーキング層に
ついてのモデル実験を示す。
用いて、紫外線または電子線の照射によって半硬化状態
とした後、加熱によって硬化させて得たマーキング層に
ついてのモデル実験を示す。
【0060】エネルギー線硬化性樹脂、顔料および各種
の添加剤を用いて、表4に示す組成のペーストを調製し
た。これを、参考例8、9と同様にしてスクリーン印刷
を行い、照射した後、200℃で30分間の加熱を行っ
た。ただし、参考例10、11は参考例5、6と同様の
紫外線照射、参考例12は参考例7と同様の電子線照射
によった。このようにして形成した塗膜について、ファ
インライン性と連続印刷性を評価した。その結果を表4
に示す。
の添加剤を用いて、表4に示す組成のペーストを調製し
た。これを、参考例8、9と同様にしてスクリーン印刷
を行い、照射した後、200℃で30分間の加熱を行っ
た。ただし、参考例10、11は参考例5、6と同様の
紫外線照射、参考例12は参考例7と同様の電子線照射
によった。このようにして形成した塗膜について、ファ
インライン性と連続印刷性を評価した。その結果を表4
に示す。
【0061】
【表4】
【0062】実施例1〜6 アルミナ基板(1)の表面に2%のパラジウムを含む銀
ペーストから形成された一次電極(2)および酸化ルテ
ニウム抵抗体(3)を形成し、レーザートリミングを行
って、抵抗値20 kΩの抵抗器基幹部を形成した。これ
に、参考例1〜7に用いた組成のペーストから選ばれ
た、表5に参考例番号で示した、保護層形成のためのペ
ーストを1回スクリーン印刷した。ついで、実施例1、
3および4では、150℃、5分間の加熱を行い、半硬
化状態の保護層(4)を形成した。また、実施例2、5
および6では、500mJ/cm2の紫外線照射を行い、同様
に半硬化状態の保護層(4)を形成した。次に、参考例
8〜12に用いた組成のペーストから選ばれた、表5に
参考例番号で示した、マーキング層を形成するためのペ
ーストをスクリーン印刷した。ついで保護層の形成に用
いたのと同じ条件で、実施例1、3および4では加熱、
実施例2、5および6では紫外線照射により、それぞれ
半硬化状態のマーキング層(5)を形成した。
ペーストから形成された一次電極(2)および酸化ルテ
ニウム抵抗体(3)を形成し、レーザートリミングを行
って、抵抗値20 kΩの抵抗器基幹部を形成した。これ
に、参考例1〜7に用いた組成のペーストから選ばれ
た、表5に参考例番号で示した、保護層形成のためのペ
ーストを1回スクリーン印刷した。ついで、実施例1、
3および4では、150℃、5分間の加熱を行い、半硬
化状態の保護層(4)を形成した。また、実施例2、5
および6では、500mJ/cm2の紫外線照射を行い、同様
に半硬化状態の保護層(4)を形成した。次に、参考例
8〜12に用いた組成のペーストから選ばれた、表5に
参考例番号で示した、マーキング層を形成するためのペ
ーストをスクリーン印刷した。ついで保護層の形成に用
いたのと同じ条件で、実施例1、3および4では加熱、
実施例2、5および6では紫外線照射により、それぞれ
半硬化状態のマーキング層(5)を形成した。
【0063】次に、基板端部の端子電極下地層を形成す
る部位に、表5に示す組成の導電ペーストをスクリーン
印刷し、全体を200℃で30分間加熱することによ
り、(4)、(5)を完全に硬化させると同時に、端面
への付着厚さ30μm の、硬化した端子電極下地層
(6)を形成した。この下地層(6)の反射率、比抵
抗、メッキ付着性およびリード引張強度を測定した。こ
れらの結果を表5に示す。
る部位に、表5に示す組成の導電ペーストをスクリーン
印刷し、全体を200℃で30分間加熱することによ
り、(4)、(5)を完全に硬化させると同時に、端面
への付着厚さ30μm の、硬化した端子電極下地層
(6)を形成した。この下地層(6)の反射率、比抵
抗、メッキ付着性およびリード引張強度を測定した。こ
れらの結果を表5に示す。
【0064】このようにして得られた(6)に、ニッケ
ルメッキおよび半田メッキを施すことによって端子電極
金属層(7)を形成し、チップ抵抗器を完成した。この
ような製造法によって、各実施例についてそれぞれ1
0,000個のチップ抵抗器を作製して、歩留りを評価
した。外観はすべて良好であり、抵抗値の誤差1%以内
の歩留りは、表5に示すように、いずれも99%を越し
ており、従来法が約10%であったのに比べて、歩留り
の飛躍的な向上が認められた。
ルメッキおよび半田メッキを施すことによって端子電極
金属層(7)を形成し、チップ抵抗器を完成した。この
ような製造法によって、各実施例についてそれぞれ1
0,000個のチップ抵抗器を作製して、歩留りを評価
した。外観はすべて良好であり、抵抗値の誤差1%以内
の歩留りは、表5に示すように、いずれも99%を越し
ており、従来法が約10%であったのに比べて、歩留り
の飛躍的な向上が認められた。
【0065】
【表5】
【0066】実施例7〜10 実施例4に用いた導電ペーストを用いて、端面への付着
厚さを5〜80μm の間で変化させた以外は実施例4と
同様にして、端子電圧下地層を形成し、そのメッキ付着
性およびリード引張強度を求めた。表6に示すように、
付着厚さを変えても、メッキ付着性とリード引張強度は
ほとんど変わらなかった。
厚さを5〜80μm の間で変化させた以外は実施例4と
同様にして、端子電圧下地層を形成し、そのメッキ付着
性およびリード引張強度を求めた。表6に示すように、
付着厚さを変えても、メッキ付着性とリード引張強度は
ほとんど変わらなかった。
【0067】
【表6】
【図1】チップ抵抗器の断面図である。
1 基板 2 一次電極 3 抵抗体 4 保護層 5 マーキング層 6 端子電極下地層 7 端子電極金属層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01C 17/242 (72)発明者 山田 弘二 新潟県新潟市濁川3993番地 北陸塗料株式 会社内 (72)発明者 鈴木 憲一 新潟県新潟市濁川3993番地 北陸塗料株式 会社内
Claims (5)
- 【請求項1】 (A)基材の少なくとも一方の表面の両
端部に一次電極を形成し; (B)該一次電極の間に抵抗体を形成し; (C)該抵抗体をレーザートリミングすることによっ
て、該抵抗体に所定の抵抗値を付与し; (D)該抵抗体上に保護層を設け; (E)該保護層上にマーキング層を設け; (F)次に少なくとも基材端面を覆うように導電ペース
トを印刷し; (G)該導電ペーストを硬化させて端子電極下地層を形
成し;ついで (H)該端子電極下地層の上に端子電極金属層を形成す
る、チップ抵抗器の製造方法において、 (イ)工程(D)および(E)の保護層およびマーキン
グ層を、それぞれ熱または光もしくは電子線照射によっ
て硬化する硬化性樹脂を含むペーストを印刷して、半硬
化状態で形成し; (ロ)工程(F)で熱硬化性樹脂および導電粒子を含む
導電ペーストを印刷し; (ハ)工程(G)で該導電ペーストを硬化させると同時
に、上記(イ)で半硬化状態に形成した保護層およびマ
ーキング層を硬化させることを特徴とするチップ抵抗器
の製造方法。 - 【請求項2】 工程(D)で用いられる硬化性樹脂が、
アミノ樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、エポキシ
(メタ)アクリレート樹脂およびポリウレタン(メタ)
アクリレート樹脂の少なくとも1種である請求項1記載
の製造方法。 - 【請求項3】 工程(E)で用いられる硬化性樹脂が、
アミノ樹脂、エポキシ樹脂、アルキド樹脂、エポキシ
(メタ)アクリレート樹脂およびポリウレタン(メタ)
アクリレート樹脂の少なくとも1種である請求項1記載
の製造方法。 - 【請求項4】 工程(F)で用いられる硬化性樹脂が、
アミノ樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂およびポリ
イミド樹脂の少なくとも1種である請求項1記載の製造
方法。 - 【請求項5】 工程(F)で用いられる導電粒子が、該
導電粒子の5〜50容量%のりん片状銀粉を含有する請
求項1記載の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5301453A JPH07153601A (ja) | 1993-12-01 | 1993-12-01 | チップ抵抗器の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5301453A JPH07153601A (ja) | 1993-12-01 | 1993-12-01 | チップ抵抗器の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07153601A true JPH07153601A (ja) | 1995-06-16 |
Family
ID=17897078
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5301453A Pending JPH07153601A (ja) | 1993-12-01 | 1993-12-01 | チップ抵抗器の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07153601A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998038652A3 (en) * | 1997-02-26 | 1998-12-10 | Koninkl Philips Electronics Nv | Thick film chip resistor and its manufacture |
JP2002025338A (ja) * | 2000-07-11 | 2002-01-25 | Tsuchiya Co Ltd | 着色導電ペーストおよびそれを用いる導電積層体とその製造方法 |
JP2010168408A (ja) * | 2009-01-20 | 2010-08-05 | Risho Kogyo Co Ltd | 白色プリプレグ、白色積層板、及び金属箔張り白色積層板 |
JP2014122259A (ja) * | 2012-12-20 | 2014-07-03 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 保護膜層用封止剤組成物及びそれを用いた電子部品 |
-
1993
- 1993-12-01 JP JP5301453A patent/JPH07153601A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998038652A3 (en) * | 1997-02-26 | 1998-12-10 | Koninkl Philips Electronics Nv | Thick film chip resistor and its manufacture |
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JP4572023B2 (ja) * | 2000-07-11 | 2010-10-27 | 株式会社槌屋 | 着色導電ペーストおよびそれを用いる導電積層体とその製造方法 |
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JP2014122259A (ja) * | 2012-12-20 | 2014-07-03 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 保護膜層用封止剤組成物及びそれを用いた電子部品 |
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