JPH07140007A - 溶融金属温度計測方法及び装置 - Google Patents
溶融金属温度計測方法及び装置Info
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- JPH07140007A JPH07140007A JP5290946A JP29094693A JPH07140007A JP H07140007 A JPH07140007 A JP H07140007A JP 5290946 A JP5290946 A JP 5290946A JP 29094693 A JP29094693 A JP 29094693A JP H07140007 A JPH07140007 A JP H07140007A
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Abstract
ファイバ長さの影響を除くことにより1km以上の長尺
の光ファイバを使用した計測を可能とし、また、長さの
補正の経過から光ファイバの長さを求めることを可能と
した溶融金属連続測温方法及び装置。 【構成】 一方の端部が溶融金属11中に連続又は間欠
的に供給される金属管被覆光ファイバ15と、該光ファ
イバ15の他方に端部に設けられ、光ファイバ15を導
波した放射光を受光して溶融金属の温度を検出する温度
変換手段35とを有する溶融金属温度計測装置におい
て、浸漬型熱電対20を溶融金属中に挿入して測定した
少なくとも一つの温度測定値に基いて、光ファイバ15
の長さの減少に伴って生じる温度変換手段35の演算係
数を修正してその誤差を補償する伝送損失演算器34を
有する。
Description
属の温度を連続的に測定する方法及び装置、特に消耗型
光ファイバを使用した放射温度計の適用に関するもので
ある。
消耗型の熱電対やセラミック保護管の中に挿入された熱
電対が用いられてきた。着脱式のセンサ・プローブは、
使い捨てであるため測温は間欠的であり、一回の測定毎
にセンサ・プローブを交換しなければならないので高価
になり、コストの点から測定回数を増やすことが困難で
あった。また、保護管式は耐久性に問題があり、計測時
間が40から50時間程度しか持続できない。
としては特公平4−64419号公報、特開昭61−9
1529号公報、特開昭62−19727号公報等に提
案されたものがある。これらの公報に開示されている温
度計測は、光ファイバ中を導波してくる赤外光を検出し
て温度を連続的に測定するという方法を採用している。
しかし、これらの測定方法においては、安定したガスパ
ージ効果を維持するのが困難であったり光ファイバの強
度に問題があり、長期の安定した連続測温は困難であ
る。
び特願平4−78736号において、上記の公報に開示
された計測方式の問題点を解決することを目的とした溶
融金属の放射温度計を提案した。この放射温度計は、金
属管被覆光ファイバを連続的に溶融金属に挿入し、光フ
ァイバを導波する赤外光を検出して温度を連続的に測定
するものであり、金属管被覆により光ファイバの機械的
強度を高めることにより溶融金属への挿入を可能にして
いる。しかし、このような光ファイバを消耗しながら使
用する方式の放射温度計は次の問題点がある。
ファイバの長さが短くなると伝送損失が低下し、指示温
度が上昇する。その結果、測定誤差を生じるとともも
に、検出光量が増大し放射温度計のレンジを越える場合
がでてくる。光検出器にSi(0.9μm)を使用した
ものを用い、光ファイバに通信用の石英光ファイバGI
ファイバ(50/125μm)を用いた試験では、誤差
は約10℃/100m(1200℃)である。 b)光ファイバ中の伝送損失が波長依存性e
−α(λ)・Xを持つため(但し、測定校正可能であ
り、α(λ)は長さ(位置)によって変化しないという
前提)、光フィバの長さが短くなると放射温度計の実効
波長がシフトし、温度変換関数が変化することにより誤
差を生じる。前記a)と同じ光ファイバを用いた試験に
おいて、光ファイバが10km消耗した場合の最大誤差
は22℃(1200℃)である。
に対しては、黒体炉により測定温度域全体にわたり温度
変換関数を測定し、校正を行っている。しかし、溶融金
属の測温を目的として放射温度計を使用する場合に、光
ファイバが消耗する度に、校正のために装置を取り外し
たのでは長尺ファイバを使用するメリットがない。オン
ラインにて迅速に校正できることが要求される。光ファ
イバの伝搬損失の補正方法として、例えば光ファイバの
繰り出し量をタッチロールのような機構で測定し、既知
のファイバ伝送損失特性から減衰量を計算で求めて補正
をする方法がある。しかし、この補正方法では、光ファ
イバ伝送損失特性の不均一性等から1km以上の長尺フ
ァイバでは十分な補正精度を得ることはできない。
する方法として、上記の特願平3−300862号では
2つの波長の異なる光を測定に用い、それぞれの波長に
おける光ファイバの伝送損失特性の違いを利用して真温
度を求めている。この2つの異なる波長の光を用いたフ
ァイバ長さ補正法(2波長温度計)は1km以下のファ
イバ長の補正には有効であるものの、それ以上の長さの
光ファイバの補正には光ファイバの伝送損失特性の不均
一性等から十分な精度を得ることはできない。
て、転炉、SUS炉、電気炉等の製錬炉、脱ガス等の製
錬炉等の容器内の溶鋼の温度を連続に測定することは、
終点温度の的中率の向上による耐火物消耗の抑制や品質
管理精度の向上による歩留まり向上など、多大な効果が
期待される。
炉による吹錬工程の炉内溶湯処理中温度を連続的に測定
したときの測定系統図を示したものである(特願平5−
249189号)。図において、溶融金属容器10には
溶融金属11が入っており、溶融金属容器10の側壁部
にはノズル12が貫通して設置されている。このノズル
12にはガイドパイプ13が挿入されており、ガイドパ
イプ13には光ファイバ送り装置14から送り出される
金属被覆光ファイバ15が挿入されると共に、パージガ
スが吹き込まれる。光ファイバ送り装置14は、金属被
覆光ファイバ15が巻回された光ファイバドラム16
と、金属被覆光ファイバ15を送り出すロール機構18
とから構成されている。金属被覆光ファイバ15の一方
の端部はガイドパイプ12を介して溶融金属容器10内
の溶融金属11に導かれ、他方の端部は赤外放射温度計
18に接続されている。また、浸漬型熱電対20が溶融
金属11に浸漬され、それは熱電対温度変換器21に接
続され、溶融金属11の温度が計測される。
ク値を読み取っていくと、浸漬型熱電対20の指示値と
良く一致していることが確認されている。また、光ファ
イバ送り装置14により金属被覆光ファイバ15を間欠
送りすると、指示値が一旦は低下するものの、繰り出し
を再開する度に指示値が復帰する。また、このように金
属被覆光ファイバ15を間欠的に送ることにより消耗量
を低減させることが可能になっている。浸漬型熱電対2
0の測定頻度が一吹錬工程につき1〜2回であることと
比較すると、消耗型光ファイバ温度計による連続測定に
よって得られる情報が飛躍的に増大し、操業に多大な貢
献をする。
1に消耗型光ファイバ温度計を適用した場合には、容器
の構造・スペースの制約や容器の姿勢が変動する等、上
部から光ファイバを挿入するには問題が多い。このた
め、容器側面又は底面に設けたノズルから光ファイバを
挿入するのが望ましいが、そのためには最低でも一炉代
測定が継続して行える事が保守の上でも望ましく、消耗
量にみあった長尺の光ファイバを予め用意する必要があ
る。例えば、転炉の炉代は約2〜3カ月であり、この間
の光ファイバの消耗量は約2kmに達する。従って、操
業の合理化を考えると最低でも1km、可能ならば10
km程度の長尺の光ファイバの使用が望まれる。
がら使用した場合には、上述のように光ファイバ長によ
って伝送損失が変化しそれにより感度特性が変化し、温
度指示値に大きな誤差を生じるようになるため、感度特
性の変化を適宜校正する必要がある。しかし、一旦設備
より撤去し従来のような校正炉などを用いて校正したの
では長尺ファイバを用いるメリットがなく、また、従来
のオンラインの光ファイバ長さの補正方法では十分な精
度を得る事ができない。さらに、オンラインで他の手段
により、その都度感度特性曲線を測定し直すことも考え
られるが、測定温度範囲をカバーするだけの測定点を得
るのは困難でありコスト的にも見合わないうえに、測定
中に感度特性そのものが変化してしまうため現実的では
ない。オンラインで他の手段による任意の温度での1点
の測定から校正できることが望ましい。
線温度計の光ファイバ長さの影響を除くことにより1k
m以上の長尺の光ファイバを使用した計測を可能とし、
また、長さの補正の経過から光ファイバの長さを求める
ことを可能とした溶融金属連続測温方法及び装置を提供
することにある。
る溶融金属温度計測方法は、金属管被覆光ファイバの一
方の端部を連続又は間欠的に溶融金属中に供給し、金属
管被覆光ファイバを導波する放射光をその光ファイバの
他方の端部に設けた赤外放射温度計に導いて溶融金属の
温度を計測する溶融金属温度計測方法において、浸漬型
熱電対を溶融金属中に挿入して測定した一つの温度測定
値に基いて、金属管被覆光ファイバの長さの減少に伴っ
て生じる誤差を補償する。
装置は、一方の端部が溶融金属中に連続又は間欠的に供
給される金属管被覆光ファイバと、前記光ファイバの他
方の端部に設けられ、その光ファイバを導波する放射光
を受光して溶融金属の温度を検出する温度変換手段とを
有する溶融金属温度計測装置において、浸漬型熱電対を
溶融金属中に挿入して測定した少なくとも一つの温度測
定値に基いて、前記光ファイバの長さの減少に伴って生
じる温度変換手段の演算係数を修正してその誤差を補償
する補償演算手段を有するものである。本発明の他の態
様による溶融金属温度計測装置は、上記の溶融金属温度
計測装置における補償演算手段が、前記光ファイバから
の放射光に対応する信号を増幅し、温度変換手段に出力
する増幅手段と、温度変換手段の出力が浸漬型熱電対の
指示値と一致するように増幅手段の増幅率を調整する増
幅度制御手段とを有するものである。本発明の他の態様
による溶融金属温度計測装置は、上記の溶融金属温度計
測装置において、前記光ファイバからの放射光に対応し
た信号を増幅し、補償演算手段に送り出す前置増幅手段
と、この前置増幅手段の出力に応じてその増幅率を自動
的に調整する増幅度切替手段とを有するものである。
装置は、上記の溶融金属温度計測装置において、前記光
ファイバからの放射光に対応した信号と、浸漬型熱電対
指示値との誤差補正量に基いて光ファイバ長を求めるフ
ァイバ長演算手段を有するものである。本発明の他の態
様による溶融金属温度計測装置は、上記の溶融金属温度
計測装置において、前記光ファイバの他方の端部に設け
られ、放射光を検出する検出素子と、この検出素子の入
射面に設けられた波長選択フィルタとを有するものであ
る。本発明の他の態様による溶融金属温度計測装置にお
いて、上記補償演算手段は更に、前記光ファイバからの
放射光に対応した信号と浸漬型熱電対の指示値とが一致
するように増幅手段の増幅率を調整する手段と、増幅手
段の増幅率に基いて温度変換器のパラメータを求めて調
整するパラメータ演算手段とを有するものである。
装置は、上記の溶融金属温度計測装置において、前記光
ファイバの長さが減少した時に生じる温度変換器の誤差
を、浸漬型熱電対を溶融金属中に挿入して測定した複数
回の温度測定値を用いてそれぞれ求めた誤差補正量の平
均から校正する平均値演算手段を有するものである。本
発明の他の態様による溶融金属温度計測装置は、上記の
溶融金属温度計測装置において、前記光ファイバの長さ
が1km以上に適用される。本発明の他の態様による溶
融金属温度計測装置は、上記の溶融金属温度計測装置に
おいて、前記光ファイバはその芯線が通信用石英光ファ
イバから構成されている。本発明の他の態様による溶融
金属温度計測装置は、上記の溶融金属温度計測装置にお
いて、温度変換器は単色温度計から構成されている。本
発明の他の態様による溶融金属温度計測装置は、上記の
溶融金属温度計測装置において、温度変換器は二色温度
計から構成されている。
方法について説明する。消耗型光ファイバ温度計を利用
した溶融金属温度測定装置の構成は例えば後述する実施
例の図1に示される構成になっており、消耗型光ファイ
バ温度計を利用した溶融金属温度計測装置の場合には光
ファイバの先端から進入した光は光ファイバの伝送損失
により減衰する。そして、減衰特性は波長の関数になっ
ている。最近の通信用の石英光ファイバの伝送損失は著
しく小さくなっているが、図8に示す既に公表されてい
る測定例からも明らかなように、波長0.9μmでは2
〜3dB/kmである。
放射温度計の感度特性について考察する。溶融金属中に
挿入した光ファイバ先端部では黒体炉条件が成り立つと
いう実験的知見が得られており、黒体の分光放射輝度L
はプランクの放射則により次式で表される。 L(λ、T)=2C1 /{λ5 ×(EXP(C2 /λT)−1} …(1) λT≦λmT(λmT=2.8978*10-3m・K)
の領域ではウィーンの(2)式で近似できる。 L(λ、T)=2C1 ×EXP(−C2 /λT)/λ-5 …(2) 但し、λ:波長 T:温度 (K) C1 =5.9548*10-7W*m2 、 C2 =0.014388m・K 光ファイバを導波した後に検出される光量E(T、X)
は次式に示される。
性を含めた検出器の分光感度特性 G(λ、X) :光ファイバの透過率 α(λ) :光ファイバの伝送損失 X :光ファイバ長
属温度計測装置への光ファイバの長さの変動は、次の2
重の誤差要因となる。 1)光ファイバの消耗に伴い、伝送損失による減衰が小
さくなり、検出光量が増加し、指示温度が上昇し誤差と
なるとともに、信号レベルが温度変換回路部のダイナミ
ックレンジを越えて、出力が飽和する。例として、Si
検出器(ピーク波長0.9μm)により1600℃の被
検体を測定したときには、光ファイバが10km消耗し
た場合には、消耗前(校正時)に比べて検出光量は約2
00倍に増え、指示温度は4700℃となる(図9参
照)。 2)光ファイバの伝送損失αは波長の関数であることか
ら、光ファイバの消耗と被検体の温度変化にともない、
光ファイバを伝搬した後に検出器にて検出される放射光
のスペクトルが変化する。そのため、次式に示される同
じ温度変換関数Eを使用することができなくなる。
を、図10の波長特性を有する硝子フィルタ(CS7−
69)と組み合わせて使用した場合には、光ファイバの
消耗に伴う測定されるスペクトルの変化は図11に示す
ように変化する。光ファイバが20km消耗した場合に
は、ピーク波長が1.02μmから0.92μmヘシフ
トしている。図12は光ファイバの消耗量が増加するに
つれて指示温度誤差が増加する様子を示している。光フ
ァイバ長10km、1200℃における誤差は約22℃
になる。
合:
バの伝送損失が一様であるとした場合には、上記の誤差
要因の内、1)のみが存在する。その場合の検出光量は
次式により与えられる。
透過率Gが変化し未知であるとする。この時、浸漬熱電
対で測定した温度T′を用いれば上式の積分式内の関数
(P及びL(λ、T′))は既知であるので、積分を実
行し、次式により検出光量Eから光ファイバの透過率G
を求めることが可能である。
ァイバの透過率Gを用いて次式により誤差なく検出光量
Eから温度Tを算出することができる。
に、この求められた光ファイバの透過率Gと既知の光フ
ァイバの減衰特性αとから光ファイバ長Xを計算するこ
とが可能である。ここで特徴として言えるのは、任意の
温度での一回の測定だけで光ファイバの減衰補正量が求
められるという点である。即ち、任意状態の溶融金属を
温度校正用に用いることができ、校正器の条件設定が不
要である。検出器の感度波長域での減衰特性の一様性を
成立させるためには、例えば検出器の入射面に単色フィ
ルタ(比較的狭い範囲の波長しか通さないフィルタ)を
挿入する。単色フィルタは上記仮定を成り立たせるとと
もに、ファイバ長変化の影響を軽減させる効果も持つ。
図9に示すように、1μm以上の長波長を透過させるフ
ィルタを使用することにより光ファイバの透過率変化が
著しく抑制される。
場合: (G(λ、x)=e−α(λ)・X(但しα(λ)は既
知とする) 現実にはフィルタの透過帯域が狭いと光量が微弱とな
り、光検出器のS/Nが劣化するため、広い帯域幅のフ
ィルタを使用するのが望ましい場合もある。その場合に
は、伝送損失の波長依存性を考慮にいれてファイバ長さ
変化の影響を補正する必要がある。浸漬熱電対で測定し
た温度T′を用いて(3)式の積分を実行して得られる
関数E(X)は光ファイバ長Xの単調減少関数であり、
従って、既知のTと検出光量Eから次式により光ファイ
バ長Xを一意に求めることができる。なお、P(λ)、
e−α(λ)、L(λ、T′)は既知だから種々のXに
ついて(3)式の積分値が光ファイバ長Xの関数として
計算で求められる。
みの関数となり、検出光量Eに基づいて次式により温度
Tを誤差なく求めることが可能になる。
温度での1回の測定だけで光ファイバ長の影響が補正で
きるという点がある。
温度計測装置の構成を示したブロック図である。図にお
いて、金属管被覆光ファイバ15の出力端からの光信号
は光学フィルタ(単色フィルタ)30を介して光検出器
31に導かれ、前置増幅器32にて増幅される。この前
置増幅器32は増幅率切替回路33によりその増幅率が
切り替え変えられる。前置増幅器32の出力は伝送損失
演算器34及び温度変換器35にそれぞれ入力される。
伝送損失演算器34は、熱電対信号入力部36を介して
入力される熱電対信号T´及び前置増幅器32の出力に
基いて光ファイバ長Xを求める。温度変換器35は前置
増幅器32の出力に基いて温度Tを求める。
計測装置においては、伝送損失演算器34は、浸漬型熱
電対20により測定され熱電対信号入力部36を介して
入力された溶融金属温度T´と、前置増幅器32の出力
である光ファイバ温度計の検出光量Eとを使用して次式
により光ファイイバ長Xを求める。なお、光ファイバ温
度計の検出光量E、即ちは金属管被覆光ファイバ15の
出力端からの光信号は光学フィルタ(単色フィルタ)3
0により波長帯域についての制限を受けた光量信号であ
る。
た光ファイイバ長Xに基いて温度変換器35中の関数で
ある光ファイバの透過率Gを変更する機構を備えてい
る。従って、温度変換器35は前置増幅器32の出力に
基いて次式により溶融金属の温度Tを求めるが、関数G
がXに依存して変更されるので、溶融金属の温度Tは伝
送損失を考慮したものとなっている。
31の検出信号が温度変換回路35のダイナミックレン
ジを越えることを防ぐために増幅率切替器33を設けて
おり、温度変換器35へ入力される信号が一定のレベル
内に入るよう自動的に前置増幅器32の増幅率を切り替
えるようにしている。
る溶融温度金属温度計測装置の構成を示したブロック図
である。本実施例においては光ファイバ15を出射した
光は波長フィルタ(単色フィルタ)30を透過すること
により、その波長帯域では伝送損失が一定になるように
してある。前置増幅器の32の出力である検出光量E
は、可変増幅器(1/G)37を介して温度変換器38
へ入力され、温度変換器38は次式により溶融金属の温
度Tを求め、温度出力が得られる。
中の伝送損失を補正するため、浸漬熱電対20により測
定された溶融金属温度T′及び光検出器31の検出光量
Eを用いて次式により光ファイバの透過率Gを求め、そ
の光ファイバの透過率Gに基いて可変増幅器(1/G)
37の増幅率を変更する。更に、ファイバ長さ演算器3
9はその光ファイバの透過率の変化と予め求めた光ファ
イバの伝送損失特性から光ファイバの消耗量を求め、そ
して、それにより光ファイバ長Xを求める。
る溶融温度金属温度計測装置の構成を示したブロック図
である。本実施例においても、光ファイバ15を出射し
た光は波長フィルタ30を透過し、その波長帯域では伝
送損失が一定になるようにしてあり、可変増幅器(1/
G)37により増幅された検出光量Eは温度変換器38
へ入力され、温度変換器38は上記の実施例の場合と同
様に(11)式により溶融金属の温度Tを求め、温度出
力が得られる。
の伝送損失を補正するため、浸漬熱電対により測定され
た溶融金属温度T′と本装置の出力Tの差が0になるよ
う増幅器(1/G)37の増幅率を調節するフィードバ
ック機構を設けている。このフィードバック機構は、浸
漬熱電対により測定した溶融金属温度T′と光ファイバ
温度計の出力Tとの差を求める比較器40と、この比較
器40の比較結果に基いて関数Gを調整するGコントロ
ーラ41とから構成されており、浸漬熱電対20との指
示誤差がなくなるよう調節された増幅器37の増幅率の
変化分は光ファイバ中の伝送損失の減少と一致する。従
って、ファイバ長さ演算器39は、増幅率変化と予め求
めた光ファイバの伝送損失特性から光ファイバの消耗量
を求め、そして、それにより光ファイバ長Xを求める。
本実施例の特徴は、補正がフィードバックで行われるた
め、構造が簡単で複雑な演算を必要としないばかりでな
く、補正後は指示値が一致することが保証される点にあ
る。
る溶融温度金属温度計測装置の構成を示したブロック図
である。JISの規格でも用いられているように(計測
自動制御学会編新編温度計測」p256)、単色温度計
の特性は次に示すようにA,B,Cの三つのパラメータ
で表すことができ、スペクトルが幅を持つ場合でも良い
近似が成り立つことが知られている。 E(T)=C×EXP(−C2 /(A×T+B)) …(13) 光ファイバの減衰を考慮に入れた場合には、この近似は
各ファイバ長ごとに成り立つものであるが、3つのパラ
メータA,B,Cはファイバ長が短くなるに伴い変化す
る(図11〜図13と同じ条件でのパラメータA,B,
Cの波長特性シミュレーション結果を図14に示
す。)。即ち、パラメータA,B,Cはファイバ長Xの
関数として表すことが可能であり、(3)式の近似式と
して以下の式が成り立つ。 E(T、X)=C(X)×EXP(−C2 /(A(X)×T+B(X))) …(14) これまでに扱った伝送損失の波長依存性が無視できる場
合と言うのは、この式のパラメータA,Bの長さ依存性
が無視できる場合に相当し、パラメータCが光ファイバ
の透過率Gに対応する。3つの関数A(X),B
(X),C(X)は、使用する光ファイバ、光学フィル
タ、及びフォトダイオードの特性のみで決まるため、予
め求めておくことは可能であり、光ファイバ長X又はパ
ラメータC(Gと等価)が求まれば、A,Bも一意に決
めることができる。
り、検出光量Eが可変増幅器(1/G)37を介して温
度変換器38へ入力され、温度変換器38は次式により
温度Tを求めて、温度出力が得られる。 T=−C2 /(A×LOG(E/G))−B/A …(15) また、本実施例においては、光ファイバ中の伝送損失を
補正するために、浸漬熱電対により測定した溶融金属温
度T′と本装置の出力Tとの差が0になるよう増幅器3
7の増幅率を調節するフィードバック機構を設けてい
る。このフィードバッグ機構は、浸漬熱電対により測定
した溶融金属温度T′と光ファイバ温度計の出力Tとの
差が求める比較器40と、この比較器40の比較結果に
基いて関数(光ファイバの透過率)Gを調整するGコン
トローラ41と、パラメータ演算器42とから構成され
ている。このパラメータ演算器42は、関数(光ファイ
バの透過率)G´に基いてパラメータA,Bを求めるよ
うにしたものであり、その演算結果に基いて温度変換器
38の該当するパラメータA,Bを変更するように構成
されている。また、浸漬熱電対20との指示誤差がなく
なるよう調節された可変増幅器37の増幅率変化分は光
ファイバ中の伝送損失の減少と一致することになるの
で、上述の実施例と同様に、ファイバ長さ演算器39
は、増幅率変化と予め求めた光ファイバの伝送損失特性
から光ファイバの消耗量を求め、そして、それにより光
ファイバ長Xを求める。
ックで行われるため、構造が簡単で複雑な演算を必要と
しないばかりでなく、演算誤差が含まれないため補正後
は指示値が一致することが保証される点、及び、測定波
長帯域での伝送損失の均一性を仮定しないため狭帯域の
光学フィルタを必要とせず、長いファイバを使用して透
過光量が微弱な場合でも十分な光量を得られる点にあ
る。
る溶融温度金属温度計測装置の構成を示したブロック図
である。温度変換器38が(11)式を用いて温度を求
めるのは上述の実施例と同一であるが、本実施例におい
ては、光ファイバ中の伝送損失を補正するため、浸漬熱
電対20により測定した溶融金属温度T′と本装置の出
力Tの差が0になるよう増幅器(1/G′)37の増幅
率を調節するフィードバック機構(比較器40,Gコン
トローラ41)を設けた他に、関数(光ファイバの透過
率)G′m から関数(光ファイバの透過率)Gを求める
ための平均値演算部43を設けている。平均値演算部4
3は関数Gを過去のG′の値の平均として例えば以下の
ように求める。 G=(G′m +EXP(−αXm-1 )×G′m-1 +…… +EXP(−αXm-N+1 )×G′m-N+1 )/N …(16) 但し、Xi はi番目の構成演算からのファイバ消耗量、
G′i i番目の透過率校正値である。また、ファイバ長
さ演算器39は、上述の実施例と同様に、浸漬熱電対と
の指示誤差がなくなるよう調節された可変増幅器37の
増幅率変化分は光ファイバ中の伝送損失の減少と一致す
ることを利用して、増幅率変化と予め求めた光ファイバ
の伝送損失特性から光ファイバの消耗量を求め、それに
より光ファイバ長Xを求めている。
がN回の測定の平均から光ファイバの透過率Gを求めて
いるため、各測定に含まれる誤差がならされ、補正の精
度が向上する点にある。なお、図5の実施例では伝送損
失の波長依存性が無視できる場合について示したが、図
4に示した波長依存性を無視することを必要としない実
施例についても同様に構成することができることは言う
までもない。
る溶融温度金属温度計測装置の構成を示したブロック図
である。本実施例は単色放射温度計に留まらず、図示の
ように2色温度計(放射率は波長によらず、一定の前提
で2波長における強度比を比較演算し、εによらない測
温をする)の場合でも適用が可能である。光ファイバ1
5を導波した光は分波器44により2つの光束に分けら
れ、それぞれ狭帯域の波長フィルタ(透過波長λ1 、λ
2 )45,46を透過した後に、光検出器47,31で
光電変換され、前置増幅器48,32により増幅され
る。前置増幅器48,32の出力である検出光量信号E
1 、E2 には以下の関係式が成り立つ。 E1 (T、X) =EXP(−α(λ1 )×X)×L(λ1 、T) …(17) E2 (T、X) =EXP(−α(λ2 )×X)×L(λ2 、T) …(18) 検出光量信号E1 は可変増幅器(G)37により増幅さ
れた後、除算器49により検出光量信号E2 との比が求
められ、次式に表される信号が2色温度計温度変換器5
0に入力される。 G×E1 /E2 =G×EXP((−α(λ1 )+α(λ2 ))×X) ×L(λ1 、T)/L(λ2 、T) …(19)
れるためには G×EXP((−α(λ1 )+α(λ2 ))×X)=1 …(20) が成り立つ必要があるが、光ファイバ長Xの変化により
この値は変動する。この変化を補正するため、本実施例
においても、浸漬熱電対20により測定された溶融金属
温度T′と本装置の出力Tとの差が0になるよう可変増
幅器(G)37の増幅度Gを調節するフィードバック機
構(比較器41,Gコントローラ42)を設けている。
また、浸漬熱電対20との指示誤差がなくなるよう調節
された増幅器37の増幅率変化分は光ファイバ中の伝送
損失の2つの波長での比と一致することとなり、ファイ
バ長さ演算器39は上述の実施例と同様な演算処理によ
り光ファイバ長Xを求めている。
路として示したが、構成の全部又は一部をデジタル回路
に置き換えることができることは言うまでもない。
得られている。 1)熱電対を用いた消耗型浸漬温度計に代わって、安価
で高精度かつ応答性の速い溶融金属の連続温度計測を可
能にしており、特に1km以上の長尺ファイバの使用が
可能になったことにより、溶融金属容器の側面もしくは
底面から光ファイバを挿入使用できることとなり、適用
対象が格段に広がる。製鉄プロセスにおいて転炉、電気
炉、その他製錬炉、連続鋳造のタンディッシュなどの温
度制御精度の向上という多大な効果を生むなど、工業的
な価値は極めて大きい。 2)温度計測と同時にファイバ長も同時計測でき、これ
により新しい複合計測の可能性が生じ、今後産業への利
用が期待できる。
属温度計測装置の構成を示すブロック図である。
金属温度計測装置の構成を示すブロック図である。
金属温度計測装置の構成を示すブロック図である。
金属温度計測装置の構成を示すブロック図である。
金属温度計測装置の構成を示すブロック図である。
金属温度計測装置の構成を示すブロック図である。
ロック図である。
した図である。
特性図である。
ある。
化を示した特性図である。
トによる指示温度誤差の特性図である。
特性図である。
イバ長依存性を示した特性図である。
Claims (12)
- 【請求項1】 金属管被覆光ファイバの一方の端部を連
続又は間欠的に溶融金属中に供給し、前記光ファイバを
導波した放射光を当該光ファイバの他方の端部に設けた
赤外放射温度計に導いて溶融金属の温度を計測する溶融
金属温度計測方法において、 浸漬型熱電対を溶融金属中に挿入して測定した一つの温
度測定値に基いて、前記光ファイバの長さの減少に伴っ
て生じる誤差を補償することを特徴とする溶融金属温度
計測方法。 - 【請求項2】 一方の端部が溶融金属中に連続又は間欠
的に供給される金属管被覆光ファイバと、該光ファイバ
の他方の端部に設けられ、当該光ファイバを導波した放
射光を受光して溶融金属の温度を検出する温度変換手段
とを有する溶融金属温度計測装置において、 浸漬型熱電対を溶融金属中に挿入して測定した少なくと
も一つの温度測定値に基いて、前記光ファイバの長さの
減少に伴って生じる温度変換手段の演算係数を修正して
その誤差を補償する補償演算手段を有することを特徴と
する溶融金属温度計測装置。 - 【請求項3】 前記補償演算手段は、前記光ファイバか
らの放射光に対応する信号を増幅し、温度変換手段に出
力する増幅手段と、前記温度変換手段の出力が上記浸漬
型熱電対の指示値と一致するように前記増幅手段の増幅
率を調整する増幅度制御手段とを有することを特徴とす
る請求項2記載の溶融金属温度計測装置。 - 【請求項4】 前記光ファイバからの放射光に対応した
信号を増幅し、前記補償演算手段に送り出す前置増幅手
段と、該前置増幅手段の出力に応じてその増幅率を自動
的に調整する増幅度切替手段とを有する請求項3記載の
溶融金属温度計測装置。 - 【請求項5】 前記光ファイバからの放射光に対応した
信号と、上記浸漬型熱電対指示値との誤差補正量に基い
て光ファイバ長を求めるファイバ長さ演算手段を有する
ことを特徴とする請求項2、3、又は4記載の記載の溶
融金属温度計測装置。 - 【請求項6】 前記光ファイバの他方の端部に設けら
れ、放射光を検出する検出素子と、該検出素子の入射面
に設けられた波長選択フィルタとを有することを特徴と
請求項2、3、4又は5記載の消耗型光ファイバ温度計
測装置。 - 【請求項7】 前記補償演算手段は、前記光ファイバか
らの放射光に対応した信号と前記浸漬型熱電対の指示値
とが一致するように前記増幅手段の増幅率を調整する手
段と、前記増幅手段の増幅率に基いて前記温度変換器の
パラメータを求めて調整するパラメータ演算手段とを有
することを特徴とする請求項2記載の溶融金属温度計測
装置。 - 【請求項8】 前記光ファイバの長さが減少した時に生
じる前記温度変換器の誤差を、浸漬型熱電対を溶融金属
中に挿入して測定した複数回の温度測定値を用いてそれ
ぞれ求めた誤差補正量から校正する平均値演算手段を有
することを特徴とする請求項3、4、5、6又は7記載
の溶融金属温度計測装置。 - 【請求項9】 前記光ファイバの長さが1km以上であ
る事を特徴とする請求項2、3、4、5、6、7又は8
記載の溶融金属温度計測装置。 - 【請求項10】 前記光ファイバはその芯線が通信用石
英光ファイバであることを特徴とする請求項2、3、
4、5、6、7、8又9は記載の溶融金属温度計測装
置。 - 【請求項11】 前記温度変換器は単色温度計であるこ
とを特徴とする請求項2記載の溶融金属温度計測装置。 - 【請求項12】 前記温度変換器は二色温度計であるこ
とを特徴とする請求項2記載の溶融金属温度計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5290946A JP2976781B2 (ja) | 1993-11-19 | 1993-11-19 | 溶融金属温度計測方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP5290946A JP2976781B2 (ja) | 1993-11-19 | 1993-11-19 | 溶融金属温度計測方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07140007A true JPH07140007A (ja) | 1995-06-02 |
JP2976781B2 JP2976781B2 (ja) | 1999-11-10 |
Family
ID=17762537
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5290946A Expired - Lifetime JP2976781B2 (ja) | 1993-11-19 | 1993-11-19 | 溶融金属温度計測方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2976781B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002139383A (ja) * | 2000-10-31 | 2002-05-17 | Heriosu:Kk | 溶融金属温度測定用の浸漬型光ファイバ放射温度計及び溶融金属の温度測定方法 |
JP2017534880A (ja) * | 2014-09-01 | 2017-11-24 | ミンコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングMINKON GmbH | 溶融金属の光学的温度検出のための方法およびそのような方法を実施する繰り出し装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10331125B3 (de) * | 2003-07-09 | 2004-09-16 | Heraeus Electro-Nite International N.V. | Verfahren zum Abgleichen und Messen in Schmelzen mittels optischer Fasern sowie Vorrichtung dazu und deren Verwendung |
-
1993
- 1993-11-19 JP JP5290946A patent/JP2976781B2/ja not_active Expired - Lifetime
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JP2002139383A (ja) * | 2000-10-31 | 2002-05-17 | Heriosu:Kk | 溶融金属温度測定用の浸漬型光ファイバ放射温度計及び溶融金属の温度測定方法 |
JP4616456B2 (ja) * | 2000-10-31 | 2011-01-19 | 株式会社ヘリオス | 溶融金属温度測定用の浸漬型光ファイバ放射温度計及び溶融金属の温度測定方法 |
JP2017534880A (ja) * | 2014-09-01 | 2017-11-24 | ミンコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングMINKON GmbH | 溶融金属の光学的温度検出のための方法およびそのような方法を実施する繰り出し装置 |
US10228288B2 (en) | 2014-09-01 | 2019-03-12 | Minkon GmbH | Method for optically determining the temperature of a molten metal, and reeling device for carrying out said method |
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JP2976781B2 (ja) | 1999-11-10 |
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