JPH07130691A - Automatic wafer grinder - Google Patents

Automatic wafer grinder

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Publication number
JPH07130691A
JPH07130691A JP5275222A JP27522293A JPH07130691A JP H07130691 A JPH07130691 A JP H07130691A JP 5275222 A JP5275222 A JP 5275222A JP 27522293 A JP27522293 A JP 27522293A JP H07130691 A JPH07130691 A JP H07130691A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
machine
grinding
robot
clean room
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5275222A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hajime Katayama
元 片山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Komatsu Ltd
Original Assignee
Komatsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Komatsu Ltd filed Critical Komatsu Ltd
Priority to JP5275222A priority Critical patent/JPH07130691A/en
Publication of JPH07130691A publication Critical patent/JPH07130691A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To provide an automatic wafer grinder capable of unattended operation of grinding, polishing and cleaning wafers. CONSTITUTION:A robot 1, surrounded by grinders 3 and 4, a polishing machine 5 and a cleaning device 6, carries wafers 2 under process. This arrangement makes unattended operation in production lines possible because of automated grinding, polishing and cleaning of wafers.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明はウエハの研削及び研摩
を自動化したウエハ自動研削装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic wafer grinding apparatus for automatically grinding and polishing a wafer.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来集積回路(IC)などに使用するウ
エハは半導体インゴットをスライスすることにより製造
しているが、スライス後は表面を研摩する必要がある。
このため従来から、研削したウエハの表面を研摩する装
置が提案されている。例えば特公昭63−207559
号公報、特公昭62−43832号公報など。
2. Description of the Related Art Conventionally, a wafer used for an integrated circuit (IC) or the like is manufactured by slicing a semiconductor ingot, but the surface needs to be polished after slicing.
For this reason, conventionally, an apparatus for polishing the surface of a ground wafer has been proposed. For example, Japanese Patent Publication No. 63-207559
And Japanese Patent Publication No. 62-43832.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし従来の装置で
は、製造工程が自動化されていないため、量産ラインへ
の導入が難しいと共に、近年のようにウエハが大口径化
した場合、各工程間のワークの搬送に専用の搬送装置を
設置しなければならず、搬送装置の標準化が難しいなど
の不具合もあった。この発明はかかる従来の不具合を改
善するためになされたもので、各工程の自動化と、搬送
装置の標準化を可能にしたウエハ研削装置を提供するこ
とを目的とするものである。
However, in the conventional apparatus, since the manufacturing process is not automated, it is difficult to introduce it into the mass production line, and when the wafer has a large diameter as in recent years, the work between each process is not performed. There was also a problem that it was difficult to standardize the transfer device because a special transfer device had to be installed for the transfer of the transfer device. The present invention has been made in order to improve the conventional problems, and an object of the present invention is to provide a wafer grinding apparatus capable of automating each process and standardizing a transfer device.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】この発明は上記目的を達
成するために、必要な基数の研削機と研摩機および洗浄
機をロボットの周辺に配置し、かつ各工程で加工するウ
エハの搬送を上記ロボットで搬送するようにしたもので
ある。
In order to achieve the above object, the present invention arranges a necessary number of radix machines such as a grinding machine, a polishing machine and a cleaning machine around a robot, and conveys a wafer to be processed in each step. The robot is used for carrying.

【0005】[0005]

【作 用】上記構成によりウエハの研削、研摩及び洗
浄が自動化できると共に、各機器の標準化により、量産
ラインに応じた機器の増減や機器毎の増減も容易に行え
る。
[Operation] With the above configuration, the grinding, polishing and cleaning of the wafer can be automated, and standardization of each device makes it easy to increase or decrease the number of devices according to the mass production line or each device.

【0006】[0006]

【実 施 例】この発明の一実施例を図面を参照して詳
述する。図1はウエハ研削装置の全体的な配置図、図2
は作用を示すフローチャート、図3は他の実施例を示す
説明図である。図1において1はウエハ2の搬送を行う
ロボットで、このロボット1の周囲に、ロボット1を中
心にして複数基の研削機3,4と1基の研摩機5及び洗
浄機6、そしてアンローディングモジュール7及びロー
ディングモジュール8が反時計回り方向に順次配置され
ており、研削機3と研削機4の間にはウエハ2を仮置き
し、また反転する反転機9が配置されている。これら各
機器は予じめ標準化されて製造されていて、生産ライン
に応じて基数が増減できるようになっており、また機器
毎に更新も可能になっている。
Embodiment An embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is an overall layout of the wafer grinding machine, FIG.
Is a flow chart showing the operation, and FIG. 3 is an explanatory view showing another embodiment. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a robot for carrying a wafer 2. Around the robot 1, a plurality of grinders 3, 4 centering on the robot 1, a grinder 5 and a cleaning machine 6, and an unloading machine. A module 7 and a loading module 8 are sequentially arranged in the counterclockwise direction, and a reversing machine 9 for temporarily placing the wafer 2 and reversing the wafer 2 is arranged between the grinding machine 3 and the grinding machine 4. Each of these devices has been standardized and manufactured in advance, the number of bases can be increased or decreased according to the production line, and each device can be updated.

【0007】次に図2のフローチャートによりウエハ2
の研削及び研摩工程を説明する。スライシングマシン
(図示せず)により半導体インゴットよりスライスされ
たウエハ2は、ベベリング加工後複数枚がカセット12
に収容された状態で図1のローディングモジュール8に
セットされる(ステップ21)。その後ステップ22で
ロボット1によりローディングモジュール8よりウエハ
2が1枚取出されて研削機3へ搬送され、研削機3によ
りウエハ2のA面(片面)が研削される(ステップ2
3)。
Next, referring to the flow chart of FIG.
The grinding and polishing steps of will be described. As for the wafer 2 sliced from the semiconductor ingot by a slicing machine (not shown), a plurality of wafers 2 are cassette 12 after beveling processing.
1 is set in the loading module 8 of FIG. 1 (step 21). Thereafter, in step 22, the robot 1 takes out one wafer 2 from the loading module 8 and conveys it to the grinder 3. The grinder 3 grinds the A surface (one surface) of the wafer 2 (step 2).
3).

【0008】A面の研削が完了したウエハ2は、ロボッ
ト1により反転機9へ搬送され(ステップ24)、反転
機9によりA面とB面が反転(ステップ25)された
後、再びロボット1により研削機4へ搬送(ステップ2
6)されて、ステップ27でウエハ2のB面が研削され
る。
The wafer 2 whose surface A has been ground is transferred to the reversing machine 9 by the robot 1 (step 24), and the surfaces A and B are reversed by the reversing machine 9 (step 25). Conveyed to the grinding machine 4 (Step 2
6) Then, in step 27, the B surface of the wafer 2 is ground.

【0009】B面の研削が完了したウエハ2は、ロボッ
ト1により研摩機5へ搬送(ステップ28)され、研摩
機5により片面が研摩(ステップ29)される。そして
研摩の完了したウエハ2は、ロボット1により洗浄機6
へ搬送(ステップ30)され、洗浄機6により洗浄され
て、研削工程および研摩工程で発生した切粉などが除去
される(ステップ31)。洗浄の完了したウエハ2は、
再びロボット1によりアンローディングモジュール7へ
搬送(ステップ32)され、ステップ33でアンローデ
ィングモジュール7の空カセット12′内に収容され
る。
The wafer 2 whose surface B has been ground is transferred to the polishing machine 5 by the robot 1 (step 28), and one surface is polished by the polishing machine 5 (step 29). Then, the polished wafer 2 is cleaned by the robot 1 to the cleaning machine 6
Is conveyed to (step 30) and washed by the washing machine 6 to remove chips and the like generated in the grinding process and the polishing process (step 31). The cleaned wafer 2 is
The robot 1 again transfers the unloading module 7 to the unloading module 7 (step 32), and in step 33, the unloading module 7 stores the empty cassette 12 ′.

【0010】以下上記動作を連続的に繰返してウエハ2
両面の研削と片面の研摩及び洗浄を自動的に行うもの
で、各工程間のウエハ2の搬送にロボット1を使用する
ことにより無人化運転が可能になる。
Thereafter, the above operation is continuously repeated to perform the wafer 2
Since both sides are ground and one side is polished and cleaned automatically, unmanned operation can be performed by using the robot 1 to transfer the wafer 2 between the steps.

【0011】なお図3に示すように、研削機3,4や研
摩機5、洗浄機6、反転機9及びロボット1などをクリ
ーンルーム14に、またアンローディングモジュール7
やローディングモジュール8をクリーンルーム14と非
クリーンルーム15の境界に設置して、ウエハ2の出し
入れを非クリーンルーム15側より行うようにすれば、
作業者がクリーンルーム14へ入って作業する必要がな
いため、防塵服を着用するなどの手間が不要になると共
に、クリーンルーム14内の無人化が可能になる。図3
中16は搬送台車である。
As shown in FIG. 3, the grinders 3, 4 and the grinder 5, the washing machine 6, the reversing machine 9 and the robot 1 are provided in the clean room 14, and the unloading module 7 is used.
If the loading module 8 is installed at the boundary between the clean room 14 and the non-clean room 15 and the wafer 2 is loaded and unloaded from the non-clean room 15 side,
Since it is not necessary for the worker to enter the clean room 14 to work, it is not necessary to wear dustproof clothes and the like, and the clean room 14 can be made unmanned. Figure 3
Medium 16 is a carriage.

【0012】[0012]

【発明の効果】この発明は以上詳述したように、研削機
や研摩機及び洗浄機などを標準化してロボットの周辺に
配置し、各工程間の搬送をロボットで行うようにしたこ
とから、ウエハの研削、研摩、洗浄工程が自動化でき、
ウエハの量産化が可能になる。またウエハの搬送にロボ
ットを使用したことにより、大口径のウエハにも容易に
対応できると共に、各機器の標準化により量産ラインの
規模に応じて各機器を増減したり、各機器毎の更新や大
型化などが容易に行えるようになる。
As described above in detail, according to the present invention, the grinding machine, the polishing machine, the washing machine and the like are standardized and arranged around the robot, and the robot performs the transfer between the steps. The wafer grinding, polishing, and cleaning processes can be automated,
Mass production of wafers becomes possible. Also, by using a robot to transfer wafers, it is possible to easily handle large-diameter wafers, and standardize each device to increase or decrease each device according to the scale of the mass production line, to update each device or to install a large size. It will be easier to implement.

【0013】また装置全体をクリーンルームへ設置し、
ウエハの出し入れのみを非クリーンルーム側より行うよ
うにすることにより、クリーンルーム内の無人化が可能
になると共に、局部的にクリーンルームを設けるだけで
よいため経済的である。
The entire apparatus is installed in a clean room,
Since only the wafer is loaded and unloaded from the non-clean room side, the clean room can be unmanned, and it is economical because only the clean room needs to be locally provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の一実施例になるウエハ研削装置の全
体的な配置である。
FIG. 1 is an overall arrangement of a wafer grinding apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】この発明の一実施例になるウエハ研削装置の作
用を示すフローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart showing the operation of the wafer grinding apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図3】この発明の他の実施例になるウエハ研削装置の
説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of a wafer grinding apparatus according to another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…ロボット、2…ウエハ、3,4…研削機、5…研摩
機、6…洗浄機、7…アンローディングモジュール、8
…ローディングモジュール、9…反転機、14…クリー
ンルーム、15…非クリーンルーム。
1 ... Robot, 2 ... Wafer, 3, 4 ... Grinding machine, 5 ... Polishing machine, 6 ... Cleaning machine, 7 ... Unloading module, 8
… Loading module, 9… Reversing machine, 14… Clean room, 15… Non-clean room.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 必要な基数の研削機3,4と研摩機5及
び洗浄機6をロボット1の周辺に配置し、かつ各工程で
加工するウエハ2の搬送を上記ロボット1で行うことを
特徴とするウエハ自動研削装置。
1. Arrangement of grinding machines 3 and 4, a polishing machine 5 and a cleaning machine 6 having a necessary number of radii around the robot 1, and the wafer 1 to be processed in each step is conveyed by the robot 1. Wafer automatic grinding machine.
【請求項2】 複数の研削機3,4の間にウエハ2を反
転する反転機9を設置してなる請求項1記載のウエハ自
動研削装置。
2. The automatic wafer grinding machine according to claim 1, wherein a reversing machine 9 for reversing the wafer 2 is installed between the plurality of grinding machines 3 and 4.
【請求項3】 第1工程の研削機3と最終工程の洗浄機
6の間にローディングモジュール及びアンローディング
モジユール8,7を設置してなる請求項1記載のウエハ
自動研削装置。
3. The automatic wafer grinding apparatus according to claim 1, wherein a loading module and unloading modules 8 and 7 are installed between the grinding machine 3 in the first step and the cleaning machine 6 in the final step.
【請求項4】 研削機3,4や研摩機5、洗浄機6、反
転機9及びロボット1などをクリーンルーム14に、ま
たアンローディングモジュール7やローディングモジュ
ール8をクリーンルーム14と非クリーンルーム15の
境界に設置して、ウエハ2の出し入れを非クリーンルー
ム15側より行うようにしてなる請求項1記載のウエハ
自動研削装置。
4. The grinders 3, 4, the grinder 5, the washer 6, the reversing machine 9, the robot 1 and the like are provided in the clean room 14, and the unloading module 7 and the loading module 8 are provided at the boundary between the clean room 14 and the non-clean room 15. The automatic wafer grinding apparatus according to claim 1, wherein the automatic wafer grinding machine is installed so that the wafer 2 can be loaded and unloaded from the non-clean room 15 side.
JP5275222A 1993-11-04 1993-11-04 Automatic wafer grinder Pending JPH07130691A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5275222A JPH07130691A (en) 1993-11-04 1993-11-04 Automatic wafer grinder

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
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Publications (1)

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JPH07130691A true JPH07130691A (en) 1995-05-19

Family

ID=17552411

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5275222A Pending JPH07130691A (en) 1993-11-04 1993-11-04 Automatic wafer grinder

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JP (1) JPH07130691A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0827809A1 (en) * 1996-09-04 1998-03-11 Ebara Corporation Polishing apparatus
CN103406809A (en) * 2013-08-01 2013-11-27 朝阳北方机床有限公司 Double-column circular table surface grinder

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