JPH07129999A - Optical information recording medium - Google Patents

Optical information recording medium

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JPH07129999A
JPH07129999A JP5294804A JP29480493A JPH07129999A JP H07129999 A JPH07129999 A JP H07129999A JP 5294804 A JP5294804 A JP 5294804A JP 29480493 A JP29480493 A JP 29480493A JP H07129999 A JPH07129999 A JP H07129999A
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JP
Japan
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protective layer
substrate
layer
recording medium
optical information
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Application number
JP5294804A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Katsuyuki Yamada
勝幸 山田
Yukio Ide
由紀雄 井手
Yoshiyuki Kageyama
喜之 影山
Masato Harigai
眞人 針谷
Osamu Nonoyama
治 野々山
Masayoshi Takahashi
正悦 高橋
Koji Deguchi
浩司 出口
Hiroko Iwasaki
博子 岩崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 高密度な記録・消去・再生のくり返しが可能
で信頼性が高く、しかも量産効率性にすぐれた光情報記
録媒体を提供する。 【構成】 プラスチック基板上に第1保護層、記録層、
第2保護層、反射放熱層及び第3保護層を順次積層した
構成を有し、レーザービームの照射により情報の記録・
消去・再生を可能とする光情報記録媒体において、第1
保護層、記録層、第2保護層、反射放熱層及び第3保護
層の全応力Sが下記一般式を満足することを特徴とする
光情報記録媒体。 【数1】 (但し、θ:フォーカスサーボ及び/又はトラッキング
サーボを可能とするレーザービームの基板への入射角 E:基板のヤング率 b:基板の厚さ l:(基板の外径−基板の孔径)×1/2 ν:基板のポアソン比 である)
(57) [Abstract] [Purpose] To provide an optical information recording medium capable of high-density recording / erasing / reproduction repeatedly, having high reliability, and having excellent mass production efficiency. [Structure] A first protective layer, a recording layer, and
It has a structure in which a second protective layer, a reflection / heat dissipation layer, and a third protective layer are sequentially stacked, and records information by irradiating a laser beam.
In the optical information recording medium capable of erasing / reproducing,
An optical information recording medium, wherein the total stress S of the protective layer, the recording layer, the second protective layer, the reflection / heat dissipation layer and the third protective layer satisfies the following general formula. [Equation 1] (However, θ: incident angle of the laser beam on the substrate which enables the focus servo and / or the tracking servo E: Young's modulus of the substrate b: thickness of the substrate 1: (outer diameter of substrate-hole diameter of substrate) × 1 / 2ν: Poisson's ratio of the substrate)

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は光情報記録媒体、特に相
変化形光情報記録媒体であって、光ビームを照射するこ
とにより記録層材料に相変化を生じさせ、情報の記録、
再生を行い、かつ書換が可能である光情報記録媒体に関
するものであり、光メモリー開連機器に応用される。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical information recording medium, and more particularly to a phase change type optical information recording medium, in which a phase change is caused in a recording layer material by irradiating a light beam to record information.
The present invention relates to a rewritable and rewritable optical information recording medium, and is applied to an optical memory open device.

【0002】[0002]

【従来の技術】電磁波、特にレーザービームの照射によ
る情報の記録、再生および消去が可能な光情報記録媒体
の一つとして、結晶−非結晶相間、あるいは結晶−結晶
相間の転移を利用する、いわゆる相変化形記録媒体がよ
く知られている。この相変化形記録媒体は特に光磁気記
録では困難な単一ビームによるオーバーライトが可能で
あり、ドライブ側の光学系もより単純化することができ
ることなどから、最近その研究開発が活発になってい
る。その代表的な例として、USP3530441に開
示されているように、Ge−Te、Ge−Te−Sn、
Ge−Te−S、Ge−Se−S、Ge−Se−Sb、
Ge−As−Se、In−Te、Se−Te、Se−A
sなどのいわゆるカルコゲン系合金材料があげられる。
また安定性、高速結晶化などの向上を目的に、Ge−T
e系にAu(特開昭61−219692)、Sn及びA
u(特開昭61−270190)、Pd(特開昭62−
19490)などを添加した材料の提案や記録/消去の
繰り返し性能向上を目的に、Ge−Te−Se−Sb、
Ge−Te−Sbの組成比を特定した材料(特開昭62
−73438、特開昭63−228433)の提案など
もなされている。しかしながら、そのいずれもが相変化
形書換可能光情報記録媒体として要求される諸特性のす
べてを満足しうるものとはいえない。特に記録感度、消
去感度の向上、オーバーライト時の消し残りによる消去
比低下の防止、ならびに記録部、未記録部の長寿命化が
解決すべき最重要課題となっている。次世代の光情報記
録媒体としては、記録密度の向上も重要な課題となって
いる。また、より効率的な量産化技術の開発も課題とな
っている。
2. Description of the Related Art As one of optical information recording media capable of recording, reproducing and erasing information by irradiation of electromagnetic waves, particularly laser beams, so-called transition utilizing a crystal-amorphous phase or a crystal-crystal phase is called. Phase change recording media are well known. This phase-change recording medium can be overwritten with a single beam, which is difficult for magneto-optical recording, and the optical system on the drive side can be simplified. There is. As a typical example thereof, as disclosed in US Pat. No. 3,530,441, Ge-Te, Ge-Te-Sn,
Ge-Te-S, Ge-Se-S, Ge-Se-Sb,
Ge-As-Se, In-Te, Se-Te, Se-A
Examples include so-called chalcogen-based alloy materials such as s.
In addition, for the purpose of improving stability and high-speed crystallization, Ge-T
Au (Japanese Patent Laid-Open No. 61-219692), Sn and A
u (JP-A-61-270190), Pd (JP-A-62-270190)
19490) and the like, for the purpose of proposing a material including added and improving repeatability of recording / erasing, Ge-Te-Se-Sb,
A material for which the composition ratio of Ge-Te-Sb is specified (Japanese Patent Laid-Open No. Sho 62-62).
-73438 and Japanese Patent Laid-Open No. 63-228433) have also been proposed. However, none of them can satisfy all of the characteristics required for a phase change rewritable optical information recording medium. In particular, improvement of recording sensitivity and erasing sensitivity, prevention of reduction of erasing ratio due to unerased portion during overwriting, and extension of life of recorded and unrecorded areas are the most important issues to be solved. For the next-generation optical information recording medium, improvement of recording density is also an important issue. In addition, the development of more efficient mass production technology is also an issue.

【0003】光情報記録媒体における高密度化を達成す
る方法は、 1)ビーム径を小さくする 2)トラックピッチを小さくする などが考えられ、それぞれの技術課題について検討され
ている。
As a method for achieving high density in an optical information recording medium, 1) decreasing the beam diameter, 2) decreasing the track pitch, etc. are considered, and the respective technical problems have been studied.

【0004】ここでビーム径を小さくすることにより高
密度化を達成する方法について考察してみると、光情報
記録におけるビーム径Dは、 D=K×(λ/NA) (1) (但し、K:定数、λ:波長、NA:レンズの開口率で
ある)と表わされる。従って、ビーム径を小さくするた
めには、波長λを小さくする方法が考えられ、実際に、
短波長化が検討されている。一方、レンズの開口率NA
を大きくすることによっても、ビーム径Dが小さくなる
ことがわかる。しかしながら、高NA化した場合、コマ
収差はディスク傾きに大きく影響される。コマ収差係数
Wcは、 Wc∞θt(NA)3 (2) (但し、θ:レーザービームの基板への入射角、t:基
板厚、Wc:コマ収差係数である)と表わされる。この
式(2)から、開口率を大きくして、かつWcを増大さ
せないためにはディスク基板厚を小さくすればよいこと
がわかる。実際に1.2mm厚にくらべて、0.6mm
厚の基板の方がディスク傾きの影響が小さい事が示され
ている(石田他、第53回応用物理学会学術溝演会要旨
集、p.927(1992))。しかし、基板が薄くな
ると、その上に作製する誘電体層、記録層、放熱層によ
る内部応力や熱応力によるディスクの変形によって、フ
ォーカスサーボやトラッキングサーボがかからないとい
った問題が生じてくる。
Considering a method for achieving high density by reducing the beam diameter, the beam diameter D in optical information recording is D = K × (λ / NA) (1) (however, K: constant, λ: wavelength, NA: aperture ratio of lens). Therefore, in order to reduce the beam diameter, a method of reducing the wavelength λ can be considered, and actually,
A shorter wavelength is being studied. On the other hand, the numerical aperture NA of the lens
It can be seen that the beam diameter D is also reduced by increasing the. However, when the NA is increased, the coma aberration is greatly affected by the disc tilt. The coma aberration coefficient Wc is expressed as Wc ∞ θt (NA) 3 (2) (where θ is the incident angle of the laser beam on the substrate, t is the substrate thickness, and Wc is the coma aberration coefficient). From this equation (2), it is understood that the disc substrate thickness should be reduced in order to increase the aperture ratio and not increase Wc. 0.6mm compared to 1.2mm thickness
It has been shown that the influence of the disc tilt is smaller on the thicker substrate (Ishida et al., Proc. Of the 53rd Academic Meeting of the Applied Physics Society, p. 927 (1992)). However, when the substrate becomes thin, there arises a problem that focus servo and tracking servo are not applied due to deformation of the disk due to internal stress and thermal stress due to the dielectric layer, recording layer, and heat dissipation layer formed thereon.

【0004】一方、光情報記録媒体の量産技術として
は、基板サイズに対する製膜条件の共通化といった課題
がある。現在、使用されている光ディスクの基板外径
は、2.5インチ、3.5インチ、5.25インチ、1
20mm、300mmと多様である。また、基板厚も
1.2mm、0.8mm、0.6mmと多様なサイズが
検討されている。これら基板サイズの違いは、作製され
る膜による基板変形の違いとなる。従って、基板サイズ
に応じた個々の記録媒体作製条件が存在してしまい、基
板サイズの異なる記録媒体を同一に作製することができ
ないため量産効率が悪くなっている。また、耐環境保護
膜には紫外線硬化樹脂が一般に使用されている。しか
し、紫外線硬化樹脂膜の形成はスピンコーターによるた
め毎葉式となっており、量変化に際しては、多数台のス
ピンコーターを用意しなければならない。したがって、
装置コストの増大、床面積の増大といった問題を生じて
いた。また、樹脂の硬化に紫外線を照射するためオゾン
の発生を生じ、その除外設備が必要であった。さらに、
スピンコートの際に、基板外に飛び散る紫外線硬化線硬
化樹脂液の回収も必要であった。
On the other hand, the mass production technology of optical information recording media has a problem that the film forming conditions are made common to the substrate size. Currently used optical discs have substrate outer diameters of 2.5 inches, 3.5 inches, 5.25 inches, 1
There are various types such as 20 mm and 300 mm. Also, various substrate thicknesses of 1.2 mm, 0.8 mm, and 0.6 mm are being studied. These differences in substrate size cause differences in substrate deformation due to the film to be produced. Therefore, there are individual recording medium manufacturing conditions according to the substrate size, and it is not possible to manufacture recording media having different substrate sizes in the same manner, which deteriorates mass production efficiency. Further, an ultraviolet curable resin is generally used for the environmental protection film. However, since the UV-curable resin film is formed by a spin coater, it is of a leaf type, and a large number of spin coaters must be prepared when the amount changes. Therefore,
There were problems such as an increase in equipment cost and an increase in floor area. Further, since ultraviolet rays are irradiated to cure the resin, ozone is generated, and equipment for excluding the ozone is required. further,
At the time of spin coating, it was also necessary to collect the ultraviolet curable ray curable resin liquid scattered outside the substrate.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、以上
のような事情に鑑み、高密度な記録・消去・再生のくり
返しが可能で信頼性が高く、しかも量産効率性にすぐれ
た光情報記録媒体を提供することにある。
In view of the above circumstances, an object of the present invention is optical information capable of high-density recording / erasing / reproduction repeatedly, having high reliability, and being excellent in mass production efficiency. To provide a recording medium.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明によれば、プラスチック基板上に第1保護
層、保護層、第2保護層、反射熱層及び第3保護層を順
次積層した構成を有し、レーザービームの照射により情
報の記録・消去・再生を可能とする光情報記録媒体にお
いて、第1保護層、記録層、第2保護層、反射放熱層及
び第3保護層の全応力Sが下記一般式を満足することを
特徴とする光情報記録媒体が提供される。
In order to solve the above problems, according to the present invention, a first protective layer, a protective layer, a second protective layer, a reflective heat layer and a third protective layer are sequentially laminated on a plastic substrate. In the optical information recording medium having the above-mentioned structure and capable of recording / erasing / reproducing information by irradiating a laser beam, in the first protective layer, the recording layer, the second protective layer, the reflection heat dissipation layer and the third protective layer, There is provided an optical information recording medium characterized in that the total stress S satisfies the following general formula.

【数1】 (但し、θ:フォーカスサーボ及び/又はトラッキング
サーボを可能とするレーザービームの基板への入射角 E:基板のヤング率 b:基板の厚さ l:(基板の外径−基板の孔径)×1/2 ν:基板のポアソン比 である)また、本発明によれば、上記構成において、第
3保護層が引張り応力を有することを特徴とする光情報
記録媒体が提供される。さらに、本発明によれば、上記
構成において、第3保護層が乾式プロセスで作製された
ものであることを特徴とする光情報記録媒体が提供され
る。上記においてθは光情報記録媒体のフォーカスおよ
びトラッキングを可能とするためにドライブから要求さ
れる値であり、ドライブの種類によって多少異なるもの
のドライブによって一義的に決まるものである。
[Equation 1] (However, θ: incident angle of a laser beam on a substrate that enables focus servo and / or tracking servo E: Young's modulus of substrate b: thickness of substrate l: (outer diameter of substrate-hole diameter of substrate) × 1 / 2 ν: Poisson's ratio of substrate) Further, according to the present invention, there is provided an optical information recording medium characterized in that the third protective layer has a tensile stress in the above-mentioned constitution. Further, according to the present invention, there is provided an optical information recording medium having the above-mentioned structure, wherein the third protective layer is manufactured by a dry process. In the above description, θ is a value required by the drive to enable focusing and tracking of the optical information recording medium, and it is uniquely determined by the drive although it varies slightly depending on the type of the drive.

【0007】以下本発明の光情報記録媒体について詳述
する。本発明の光情報記録媒体は、図1に示したよう
に、プラスチック基板/第1保護層/記録層/第2保護
層/反射放熱層/第3保護層を基本構成としており、記
録媒体の全応力S、つまり、第1保護層の応力(S
1p)+記録層の応力(Sr)+第2保護層の応力(S2
p)+反射放熱層の応力(Sm)+第3保護層の応力
(S3p)によって生じるプラスチック基板の変形が光
情報の記録、再生、消去を行う際のフォーカスサーボや
トラッキングサーボを可能とする範囲に調整したもので
ある。
The optical information recording medium of the present invention will be described in detail below. As shown in FIG. 1, the optical information recording medium of the present invention has a basic structure of a plastic substrate / first protective layer / recording layer / second protective layer / reflection heat dissipation layer / third protective layer. The total stress S, that is, the stress of the first protective layer (S
1 p) + stress of recording layer (Sr) + stress of second protective layer (S 2
p) + the stress of the reflective heat dissipation layer (Sm) + the deformation of the plastic substrate caused by the stress of the third protective layer (S 3 p) enables focus servo and tracking servo when recording, reproducing and erasing optical information. It is adjusted to the range to be.

【0008】一般に、薄膜の応力Sfは内部応力(σ
i)成分と熱応力(σt)成分の和として与えられる
(式3)。また、薄膜の応力Sfと図2で示すところの
基板変形量δは式(4)の関係を示すことが知られてい
る。 Sf=(σi+σt)d (3) δ={3(1−ν)l2/Eb2}Sf (4) (但し、Sf:薄膜の全応力 σi:薄膜の内部応力 σt:薄膜の熱応力 d:薄膜の厚さ δ:基板の変形量 ν:基板のポアソン比 l:基板の長さ((基板の外径−基板の孔径)×1/
2) E:基板のヤング率 b:基板の厚さ である。) さて、図2で、基板の変形量が充分小さいならば δ=l'sinθ=lsinθ (5) と表わされる。したがって式(4)は sinθ={3(1−ν)l/Eb2}Sf (6) となる。ここでSf=S=S1p+Sr+S2p+Sm+
3p、フォーカスサーボ、トラッキングサーボを可能
とする変形限界を±θとすれば、下記関係式が成立す
る。
Generally, the stress Sf of a thin film is the internal stress (σ
It is given as the sum of the i) component and the thermal stress (σt) component (equation 3). Further, it is known that the stress Sf of the thin film and the substrate deformation amount δ shown in FIG. 2 have the relationship of Expression (4). Sf = (σi + σt) d (3) δ = {3 (1-ν) l 2 / Eb 2 } Sf (4) (where Sf: total stress of thin film σi: internal stress of thin film σt: thermal stress of thin film d : Thickness of the thin film δ: Deformation amount of the substrate ν: Poisson's ratio of the substrate l: Length of the substrate ((outer diameter of substrate-hole diameter of substrate) × 1 /
2) E: Young's modulus of the substrate b: Thickness of the substrate. ) Now, in FIG. 2, if the amount of deformation of the substrate is sufficiently small, it can be expressed as δ = l'sin θ = l sin θ (5). Therefore, the expression (4) becomes sin θ = {3 (1-ν) l / Eb 2 } Sf (6). Here, Sf = S = S 1 p + Sr + S 2 p + Sm +
If the deformation limit that enables S 3 p, focus servo, and tracking servo is ± θ, the following relational expression holds.

【数2】 となる。本発明は式(7)を満足すべく全応力Sを調整
するものである。
[Equation 2] Becomes The present invention is to adjust the total stress S so as to satisfy the expression (7).

【0009】本発明で用いている第3の保護層の目的と
しては、 1)記録媒体の応力バランスをとる 2)パッシベーション能力を向上させる 3)紫外線硬化樹脂などの環境保護層の形成をドライプ
ロセスにする などが挙げられる。1)、2)の目的では、第3保護層
の上に紫外線硬化樹脂からなる膜を設けることもでき
る。3)の目的では、環境保護層を必要とせず、第3保
護層がその機能を発現する。
The purpose of the third protective layer used in the present invention is to 1) balance the stress of the recording medium, 2) improve the passivation ability, and 3) form an environmental protective layer such as an ultraviolet curable resin by a dry process. It is possible to use it. For the purposes of 1) and 2), a film made of an ultraviolet curable resin may be provided on the third protective layer. For the purpose of 3), the environmental protection layer is not required and the third protection layer exhibits its function.

【0010】一般に、光記録媒体はスパッタ法で作製さ
れている。しかし、スパッタ法で作製した従来の記録媒
体の各層、つまり、第1保護層/記録層/第2保護層/
反射放熱層に作用する応力は、一般的には圧縮応力であ
る。そのため、応力バランスをとるためには第3保護層
に引張り応力が作用することが効果的である。引張り応
力を有する膜は、ゾル・ゲル法やプラズマCVD法によ
って作製することができる。SiNxプラズマCVD膜
やSiONプラズマCVD膜は、その作製条件によって
応力を圧縮タイプのものから引張りタイプのものまで比
較的任意に制御できる。また、これら膜の厚さによって
も式(3)で表わされるように応力を制御することがで
きる。
Generally, the optical recording medium is manufactured by the sputtering method. However, each layer of the conventional recording medium produced by the sputtering method, that is, the first protective layer / recording layer / second protective layer /
The stress acting on the reflection / heat dissipation layer is generally a compressive stress. Therefore, in order to balance the stress, it is effective that tensile stress acts on the third protective layer. The film having tensile stress can be produced by a sol-gel method or a plasma CVD method. The stress of the SiNx plasma CVD film or the SiON plasma CVD film can be relatively arbitrarily controlled from the compression type to the tension type depending on the manufacturing conditions. Also, the stress can be controlled by the thickness of these films as expressed by the equation (3).

【0011】パッシベーション能力の向上のために形成
される第3保護層は、従来の記録媒体において外界から
保護するために設けられている紫外線硬化樹脂膜の役割
を補う機能を果す。光情報記録媒体は、温度、湿度、照
度などの外界変化に対して、紫外線硬化樹脂のみからな
る膜で保護されている場合が多く、それだけでは充分で
ない。この目的のためには、SiO2、Si34などの
無機物質の使用が望ましい。SiO2、Si34膜のパ
ッシベーション能力は、紫外線硬化樹脂膜にくらべて、
はるかにすぐれており、たとえば、H2Oの透過度は1
00分の1程度に抑えることができる。
The third protective layer formed to improve the passivation ability plays a role of supplementing the role of the ultraviolet curable resin film provided in the conventional recording medium for protecting it from the external environment. Optical information recording media are often protected against changes in the environment such as temperature, humidity, and illuminance with a film made of only an ultraviolet curable resin, which is not sufficient. For this purpose, it is desirable to use inorganic materials such as SiO 2 , Si 3 N 4 . The passivation ability of SiO 2 and Si 3 N 4 films is
Much better, for example, H 2 O has a permeability of 1
It can be suppressed to about 1/00.

【0012】前述したように、従来の記録媒体における
紫外線硬化樹脂膜形成はスピンコートによる毎葉処理で
あるため、量産効率が充分でなかった。また、オゾンの
発生、樹脂の回収といった問題も発生した。さらに、記
録密度の向上のため、トラックピッチが小さくなり、ス
ピンコート膜では溝構造を充分に被覆することが困難で
あった。これらの対策には、環境保護層をドライプロセ
スで作製する方法が効果的である。真空蒸着、スパッ
タ、光CVD、プラズマCVD、低温CVDなどのドラ
イプロセスのなかでも、プラズマCVDによる膜形成
が、厚膜化、大量・大面積処理といった点で有利であ
る。また、ドライプロセスでは、記録媒体の製膜に続け
て、真空を維持したまま連続で第3保護層を作製するこ
とも可能である。
As described above, the conventional UV-curable resin film formation on a recording medium is a spin coating process for each leaf, and therefore the mass production efficiency is not sufficient. Moreover, problems such as generation of ozone and recovery of resin also occurred. Further, due to the improvement in recording density, the track pitch becomes smaller, and it is difficult to sufficiently cover the groove structure with the spin coat film. A method for producing the environmental protection layer by a dry process is effective for these measures. Among dry processes such as vacuum deposition, sputtering, photo CVD, plasma CVD, and low temperature CVD, film formation by plasma CVD is advantageous in terms of thickening the film and treating a large amount of a large area. In the dry process, it is also possible to continuously form the third protective layer while maintaining the vacuum after the film formation of the recording medium.

【0013】図3に、本発明の記録媒体の第3保護膜を
作製するために使用可能なプラズマCVD装置を示す。
このプラズマCVD装置では、光ディスク基板が自公転
可能なトレイに設置され、トレイは前後の製膜チャンバ
ー間を移動できるトレイ移動機構が設けてあり、またト
レイの両面で製膜できるように、RF電極を2つ設けて
ある。環境保護層の作製のドライ化は、紫外線硬化樹脂
のスピンコートの際に要求されるクリーン度の高い環境
は必要としなくなる。従って、各製膜装置や搬送ライン
等のレイアウトの自由度が増し、量産工場の効率的利用
を可能とする。なお、図3において11は光ディスク基
板、12は基板自公転ユニット、13、13’はRf電
極、14はトレイ移動機構、15、15’はマッチング
回路、16、16’はRf電源、17は位相整合器であ
る。以上の様に、多様な目的を持つ第3保護層である
が、いずれの場合にもその応力は、式(7)を満足する
ように調整される。
FIG. 3 shows a plasma CVD apparatus that can be used to form the third protective film of the recording medium of the present invention.
In this plasma CVD apparatus, an optical disk substrate is installed on a tray that can be revolved around its axis, the tray is provided with a tray moving mechanism that can move between front and rear film forming chambers, and an RF electrode is provided to enable film formation on both sides of the tray. There are two. Drying the production of the environmental protection layer does not require an environment with high cleanliness required for spin coating of the ultraviolet curable resin. Therefore, the degree of freedom in the layout of each film forming apparatus, the transfer line, etc. is increased, and the mass production factory can be efficiently used. In FIG. 3, 11 is an optical disc substrate, 12 is a substrate rotation unit, 13 and 13 'are Rf electrodes, 14 is a tray moving mechanism, 15 and 15' are matching circuits, 16 and 16 'are Rf power supplies, and 17 is a phase. It is a matcher. As described above, the third protective layer has various purposes, but in any case, the stress is adjusted so as to satisfy the expression (7).

【0014】本発明の光情報記録媒体は、基本的に、図
1に示したように、グルーブ付プラスチック基板1上
に、第1保護層2/記録層3/第2保護層4/反射放熱
層5/第3保護層6が設けられて構成されているが、必
要に応じて、第3保護層6の上に、さらに環境保護層と
して紫外線硬化樹脂膜を設けることもできる。
The optical information recording medium of the present invention basically comprises, as shown in FIG. 1, a first protective layer 2, a recording layer 3, a second protective layer 4 and a reflected heat radiation on a plastic substrate 1 with a groove. Although the layer 5 / third protective layer 6 is provided and configured, an ultraviolet curable resin film may be further provided as an environmental protection layer on the third protective layer 6 as necessary.

【0015】次に本発明の光情報記録媒体各層について
説明する。基板の材料は通常、ガラス、セラミックス、
あるいは樹脂であり、樹脂基板が成形性、コストの点で
好適である。樹脂の代表例としてはポリカーボネート樹
脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチレン樹脂、
アクリロニトリル−スチレン共重合体樹脂、ポリエチレ
ン樹脂、ポリプロピレン樹脂、シリコーン系樹脂、フッ
素系樹脂、ABS樹脂、ウレタン樹脂などがあげられる
が、加工性、光学特性などの点でポリカーボネート樹
脂、アクリル系樹脂が好ましい。また基板の形状として
はディスク状、カード状あるいはシート状であってもよ
い。
Next, each layer of the optical information recording medium of the present invention will be described. Substrate materials are usually glass, ceramics,
Alternatively, it is a resin, and a resin substrate is preferable in terms of moldability and cost. Typical examples of the resin are polycarbonate resin, acrylic resin, epoxy resin, polystyrene resin,
Examples thereof include acrylonitrile-styrene copolymer resin, polyethylene resin, polypropylene resin, silicone resin, fluorine resin, ABS resin, urethane resin, and the like, but polycarbonate resin and acrylic resin are preferable in terms of processability and optical characteristics. . The shape of the substrate may be disk-shaped, card-shaped or sheet-shaped.

【0016】保護層の材料としては、SiO、Si
2、ZnO、SnO2、Al23、TiO2、In
23、MgO、ZrO2などの金属酸化物、Si34
AlN、TiN、BN、ZrNなどの窒化物、ZnS、
In23、TaS4などの硫化物、SiC、TaC、B4
C、WC、TiC、ZrCなどの炭化物やダイヤモンド
状カーボンあるいはそれらの混合物が挙げられる。特に
AlN、BN、SiC、Cなどの熱伝導率が1W/cm
・K以上の保護層が適している。通常μmオーダー以下
の薄膜、特に保護層に使用しているような絶縁体薄膜そ
のものの熱伝導率測定は極めて困難である。そこで本明
細書で記載する熱伝導率は同じ物質のパルク状態を測定
対象とし、縦方向直接法、あるいはレーザーフラッシュ
法を用いて測定した値である。また、保護層は必要に応
じて不純物を含んでいてもよい。但し保護層の融点は記
録層の融点よりも高いことが必要である。また、必要に
応じて保護層を多層化することもできる。このような保
護層は各種気相成長法、たとえば真空蒸着法、スパッタ
リング法、プラズマCVD法、光CVD法、イオンプレ
ーティング法、電子ビーム蒸着法などによって形成でき
る。保護層の膜厚としては100〜5000Å、好適に
は200〜3000Åとするのがよい。保護層が200
Åよりも薄くなると基板への熱ダメージを生じてしま
い、逆に5000Åよりも厚くなると感度の低下をきた
したり、界面剥離を生じやすくなる。
Materials for the protective layer include SiO and Si.
O 2 , ZnO, SnO 2 , Al 2 O 3 , TiO 2 , In
2 O 3 , metal oxides such as MgO and ZrO 2 , Si 3 N 4 ,
AlN, TiN, BN, nitrides such as ZrN, ZnS,
In 2 S 3 , TaS 4 and other sulfides, SiC, TaC, B 4
Examples thereof include carbides such as C, WC, TiC, and ZrC, diamond-like carbon, and mixtures thereof. Especially, the thermal conductivity of AlN, BN, SiC, C, etc. is 1 W / cm.
・ A protective layer of K or higher is suitable. It is extremely difficult to measure the thermal conductivity of a thin film of the order of μm or less, particularly an insulating thin film itself used for a protective layer. Therefore, the thermal conductivity described in this specification is a value measured by the vertical direction direct method or the laser flash method, with the parc state of the same substance being measured. Further, the protective layer may contain impurities as necessary. However, the melting point of the protective layer needs to be higher than the melting point of the recording layer. Further, the protective layer may be multi-layered if necessary. Such a protective layer can be formed by various vapor deposition methods such as a vacuum vapor deposition method, a sputtering method, a plasma CVD method, a photo CVD method, an ion plating method and an electron beam vapor deposition method. The thickness of the protective layer is 100 to 5000 Å, preferably 200 to 3000 Å. 200 protective layer
When the thickness is less than Å, the substrate is thermally damaged, and when the thickness is more than 5000 Å, the sensitivity is lowered and the interfacial peeling is likely to occur.

【0017】記録層としては、GeSbTe、AgIn
SbTeに代表される相変化形物質が使用可能である。
また、本発明は相変化形光情報記録媒体に限らず、Fe
TbCoなどの光磁気記録媒体にも応用可能であるが、
AgInSbTe系記録膜を用いた相変化形光情報記録
媒体がその感度、消去特性等の特性にすぐれており、特
に有効である。なかでも、消去および初期化状態におい
て化学量論組成に近いAgSbTe2が記録層に存在し
ている情報記録媒体が有効である。それは、AgSbT
2が等方的な結晶構造である立方晶構造をもつため、
たとえばレーザー光により高温から急冷されアモルファ
ス相となる際(記録−準安定状態への転移)には高速で
均一な相変化がおこり、物理的、化学的にばらつきの少
ないアモルファス相となるためである。このアモルファ
ス相の微細な構造は解析が困難であり、詳細は不明であ
るが、たとえばアモルファス相の化学量論組成あるいは
それに近いAgSbTe2とアモルファス相InSbの
組み合わせ、または全く別の単一アモルファス相等にな
っていると考えられる。AgInSbTeの組成は蛍光
X線、ICP等によって決められる。明細書では蛍光X
線で得られた値を使用している。
As the recording layer, GeSbTe, AgIn
A phase change material represented by SbTe can be used.
Further, the present invention is not limited to the phase change type optical information recording medium,
Although it can be applied to magneto-optical recording media such as TbCo,
The phase change type optical information recording medium using the AgInSbTe recording film has excellent characteristics such as sensitivity and erasing characteristics and is particularly effective. Above all, an information recording medium in which AgSbTe 2 having a stoichiometric composition in the erased and initialized state is present in the recording layer is effective. It is AgSbT
Since e 2 has a cubic crystal structure that is an isotropic crystal structure,
This is because, for example, when the amorphous phase is rapidly cooled from a high temperature by a laser beam and becomes an amorphous phase (transition to recording-metastable state), a uniform phase change occurs at a high speed, and the amorphous phase has little physical or chemical variation. . It is difficult to analyze the fine structure of this amorphous phase, and the details are unknown. For example, the stoichiometric composition of the amorphous phase or a combination of AgSbTe 2 and the amorphous phase InSb close to it, or a completely different single amorphous phase, etc. It is thought that it has become. The composition of AgInSbTe is determined by fluorescent X-rays, ICP and the like. Fluorescence X in the description
It uses the values obtained from the line.

【0018】本発明の記録層は各種気相成長法、たとえ
ば真空蒸着法、スパッタリング法、プラズマCVD法、
光CVD法、イオンプレーティング法、電子ビーム蒸着
法などによって形成できる。気相成長法以外にゾル・ゲ
ル法のような湿式プロセスも使用可能である。記録層の
膜厚としては100〜10000Å、好適には200〜
3000Åとするのがよい。100Åより薄いと光吸収
能が著しく低下し、記録層としての役割をはたさなくな
る。また、10000Åより厚いと高速で均一な相変化
がおこりにくくなる。
The recording layer of the present invention may be formed by various vapor deposition methods such as vacuum vapor deposition, sputtering, plasma CVD,
It can be formed by a photo CVD method, an ion plating method, an electron beam evaporation method, or the like. In addition to the vapor phase growth method, a wet process such as a sol-gel method can also be used. The film thickness of the recording layer is 100 to 10000Å, preferably 200 to
It is good to set it to 3000Å. When the thickness is less than 100Å, the light absorption ability is remarkably lowered and the recording layer cannot serve as a recording layer. If it is thicker than 10000Å, uniform phase change at high speed is difficult to occur.

【0019】反射放熱層としては、Al、Au、Agな
どの金属材料、またはそれらの合金などを用いることが
できる。反射放熱層は必ずしも必要ではないが、過剰な
熱を放出し記録媒体自身への熱負担を軽減するために設
けるほうが望ましい。このような反射放熱層は各種気相
成長法、たとえば真空蒸着法、スパッタリング法、プラ
ズマCVD法、光CVD法、イオンプレーティング法、
電子ビーム蒸着法などによって形成できる。
For the reflection / heat dissipation layer, a metal material such as Al, Au, Ag, or an alloy thereof can be used. The reflection / heat dissipation layer is not always necessary, but it is desirable to provide it in order to release excess heat and reduce the heat load on the recording medium itself. Such a reflective heat dissipation layer may be formed by various vapor deposition methods such as vacuum deposition method, sputtering method, plasma CVD method, photo CVD method, ion plating method,
It can be formed by an electron beam evaporation method or the like.

【0020】[0020]

【実施例】以下、実施例によって本発明を具体的に説明
する。但し、これらの実施例は本発明をなんら制限する
ものではない。
EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples. However, these examples do not limit the present invention.

【0021】実施例1 120mmφ、0.6mm厚、ヤング率200kgf/
mm2、ポアソン比0.3、基板の長さ52.5mmの
グルーブ付ポリカーボネート基板上に、2000Å厚Z
nS・SiO2(75:25)、Ag0.10In0.15
0.46Te0.29(380Å)、AlN(300Å)、A
g(700Å)をスパッタ法により積層した。この段階
で、基板は膜面を凸とする圧縮応力を有していた。次い
で、第3保護層として、SiNx膜を図3の装置を用い
てプラズマCVD法により、引張り応力80MPaに制
御しながら、1000Å形成した。このSiNx膜の作
製条件は、放電周波数13.56MHz、電力0.3W
/cm2、圧力0.1torr(SiH4+NH3)とし
た。次にSiNx膜の上に環境保護層として紫外線硬化
樹脂を形成し、本発明による光ディスクとした。このよ
うにして作製した光ディスクの全応力は10Pa・mで
あった。レーザービームの光ディスクへの入射角は0.
1度であったため、この媒体構成の場合、全応力Sが−
32Pa・m〜+32Pa・mのときサーボが可能とな
るが、本実施例の光ディスクはこの条件を満足するもの
であった。また、この光ディスクに対して、NA0.
6、波長780nmのピックアップを用いて、線速1.
2m/s、記録周波数720KHz、200KHz(5
0%デューティ)でオーバーライトを行った。その結
果、52dBのC/N、−35dBの消去比が得られ
た。
Example 1 120 mmφ, 0.6 mm thickness, Young's modulus 200 kgf /
mm 2, Poisson's ratio of 0.3, a groove with polycarbonate substrate length 52.5mm substrate, 2000 Å thickness Z
nS · SiO 2 (75:25), Ag 0. 10 In 0. 15 S
d 0. 46 Te 0. 29 (380Å), AlN (300Å), A
g (700Å) was laminated by a sputtering method. At this stage, the substrate had a compressive stress having a convex film surface. Then, as the third protective layer, a SiNx film was formed by the plasma CVD method using the apparatus of FIG. The conditions for producing this SiNx film are as follows: discharge frequency 13.56 MHz, power 0.3 W
/ Cm 2 , and the pressure was 0.1 torr (SiH 4 + NH 3 ). Next, an ultraviolet curable resin was formed as an environmental protection layer on the SiNx film to obtain an optical disk according to the present invention. The total stress of the optical disc thus manufactured was 10 Pa · m. The incident angle of the laser beam on the optical disk is 0.
Since it was 1 degree, in the case of this medium configuration, the total stress S is −
Servo is possible in the range of 32 Pa · m to +32 Pa · m, but the optical disk of this embodiment satisfies this condition. In addition, NA0.
6, a linear velocity of 1.
2 m / s, recording frequency 720 KHz, 200 KHz (5
Overwriting was performed at 0% duty. As a result, a C / N of 52 dB and an erasing ratio of -35 dB were obtained.

【0022】実施例2 5 1/4インチ、0.6mm厚、ヤング率200kgf/
mm2、ポアソン比0.3、基板の長さ57.5mmの
グルーブ付ポリカーボネート基板上に、1500Å厚Z
nS・SiO2(80:20)、Ag0.10In0.15
0.46Te0.29(250Å)、AlN(350Å)、A
g(800Å)、SiO2(700Å)をスパッタ法に
より積層した。次に環境保護層として、紫外線硬化樹脂
をSiO2上に形成し、本発明による光ディスクとし
た。この光ディスクの全応力は−20Pa・mであっ
た。この媒体構成の場合、レーザービームのサーボを可
能とする媒体の全応力は−30Pa・m〜+30Pa・
mであるが、本実施例の光ディスクの全応力は、この条
件を満足するものであった。なお、そのときレーザービ
ームの光ディスクへの入射角は0.2度であった。この
ようにして作製した光ディスクに対して、NA0.6、
波長780nmのピックアップを用いて、線速1.2m
/s、記録周波数720KHz、200KHz(50%
デューティ)でオーバーライトを行った。その結果、5
0dBのC/N、−35dBの消去比が得られた。ま
た、この光ディスクを100ppmH2S雰囲気に50
0時間放置後もAgの腐食は発生せず、初期同様の記録
特性が得られた。
Example 2 5 1/4 inch, 0.6 mm thickness, Young's modulus 200 kgf /
mm 2, Poisson's ratio of 0.3, a groove with polycarbonate substrate length 57.5mm substrate, 1500 Å thickness Z
nS · SiO 2 (80:20), Ag 0. 10 In 0. 15 S
d 0. 46 Te 0. 29 (250Å), AlN (350Å), A
g (800 Å) and SiO 2 (700 Å) were laminated by a sputtering method. Next, an ultraviolet curable resin was formed on SiO 2 as an environmental protection layer to obtain an optical disk according to the present invention. The total stress of this optical disk was −20 Pa · m. In the case of this medium structure, the total stress of the medium that enables the laser beam servo is −30 Pa · m to +30 Pa · m.
However, the total stress of the optical disk of this example satisfies this condition. At that time, the incident angle of the laser beam on the optical disk was 0.2 degree. For the optical disc manufactured in this manner, NA 0.6,
Using a pickup with a wavelength of 780 nm, a linear velocity of 1.2 m
/ S, recording frequency 720 KHz, 200 KHz (50%
Duty) was used for overwriting. As a result, 5
A C / N of 0 dB and an erase ratio of -35 dB were obtained. In addition, this optical disk was exposed to 100 ppm H 2 S atmosphere at 50
Corrosion of Ag did not occur even after standing for 0 hour, and the same recording characteristics as in the initial stage were obtained.

【0023】実施例3 5 1/4インチ、0.6mm厚、ヤング率200kgf/
mm2、ポアソン比0.3、基板の長さ57.5mmの
グルーブ付ポリカーボネート基板上に、1500Å厚Z
nS・SiO2(85:15)/Ag0.10In0.15
0.46Te0.29(200Å)/SiNx(300Å)/
Al(700Å)をスパッタ法により積層した。次いで
第3保護層として、図3に示したプラズマCVD装置に
よって、カーボン膜を1.0μm形成し、本発明による
光ディスクとした。第3保護層の作製条件は下記の通り
とした。 放電周波数 13.56MHz 電 力 0.2 W/cm2 圧 力 0.1 torr(CH4) 但し、第3保護層を形成する前に、Al表面をH2プラ
ズマにより処理した。第3保護層は、C,Hを主成分と
して、Hを35原子%含有していることがFTIRの吸
収よりわかった。この第3保護層は通常の硬質カーボン
膜にくらべて多量の水素を含有しているため、内部応力
は−10MPaと小さかった。この光ディスクのサーボ
を可能とする媒体の全応力の理論値は−30Pa・m〜
+30Pa・mであるが、本実施例の光ディスクの全応
力は−25Pa・mであり、前に条件を満足するもので
あった。なお、レーザービームの光ディスクへの入射角
は0.2度であった。このようにして作製した光ディス
クに対して、NA0.6、波長780nmのピックアッ
プを用いて、7m/sの線速でオーバーライトを行った
ところ、52dBのC/Nと−35dBの消去比が得ら
れた。この光ディスクは、環境保護層を第3保護層が兼
ねているので、紫外線硬化樹脂の形成プロセスを割愛で
きるため、量産効率を向上させることができるものであ
る。
Example 3 5 1/4 inch, 0.6 mm thickness, Young's modulus 200 kgf /
mm 2, Poisson's ratio of 0.3, a groove with polycarbonate substrate length 57.5mm substrate, 1500 Å thickness Z
nS · SiO 2 (85:15) / Ag 0. 10 In 0. 15 S
b 0. 46 Te 0. 29 (200Å) / SiNx (300Å) /
Al (700Å) was laminated by a sputtering method. Next, as the third protective layer, a carbon film having a thickness of 1.0 μm was formed by the plasma CVD apparatus shown in FIG. 3 to obtain an optical disc according to the present invention. The manufacturing conditions of the third protective layer were as follows. Discharge frequency 13.56 MHz Electric power 0.2 W / cm 2 Pressure 0.1 torr (CH 4 ) However, before forming the third protective layer, the Al surface was treated with H 2 plasma. It was found from FTIR absorption that the third protective layer contained C and H as main components and contained H at 35 atom%. Since the third protective layer contains a large amount of hydrogen as compared with the normal hard carbon film, the internal stress was small at -10 MPa. The theoretical value of the total stress of the medium that enables the servo of this optical disk is -30 Pa · m ~
Although it was +30 Pa · m, the total stress of the optical disk of this example was −25 Pa · m, which satisfied the above condition. The incident angle of the laser beam on the optical disk was 0.2 degree. When the optical disc manufactured in this manner was overwritten at a linear velocity of 7 m / s using a pickup having a NA of 0.6 and a wavelength of 780 nm, a C / N of 52 dB and an erasing ratio of -35 dB were obtained. Was given. In this optical disc, since the third protective layer also serves as the environmental protection layer, the process of forming the ultraviolet curable resin can be omitted, so that the mass production efficiency can be improved.

【0024】実施例4 実施例3において、第3保護層(環境保護層を兼ねる)
として、テトラエトキシシランSi(O−C254
2を出発材料としたプラズマCVD膜を用いた以外は
同様にして光ディスクを作製した。テトラエトキシシラ
ンのプラズマCVD膜は、Si、Oを主成分として、部
分的にSi−H、Si−OC25、Si−OHを含有し
ていることがFTIRにより明らかとなった。これら分
解残基が膜中に残ることによって、膜の内部応力は低下
し、全応力は−15Pa・mとなった。従って、この光
ディスクはフォーカスサーボ、トラッキングサーボであ
った。このようにして作製した光ディスクを実施例3と
同様に評価したところ、50dBのC/N、−35dB
の消去比が得られた。この光ディスクは、作製プロセス
をすべてドライプロセスで連続製膜できるため、量産効
率の向上を図ることができるものであった。
Example 4 In Example 3, the third protective layer (also serves as an environmental protection layer)
As an example, an optical disk was prepared in the same manner except that a plasma CVD film using tetraethoxysilane Si (O—C 2 H 5 ) 4 and O 2 as starting materials was used. FTIR has revealed that the plasma CVD film of tetraethoxysilane mainly contains Si and O and partially contains Si—H, Si—OC 2 H 5 and Si—OH. By leaving these decomposed residues in the film, the internal stress of the film decreased and the total stress became −15 Pa · m. Therefore, this optical disk was a focus servo and a tracking servo. When the optical disk thus manufactured was evaluated in the same manner as in Example 3, the C / N of 50 dB and the value of −35 dB were obtained.
The erase ratio of was obtained. Since this optical disk can be continuously formed into a film by a dry process, it is possible to improve mass production efficiency.

【0025】[0025]

【発明の効果】本発明によれば、プラスチック基板の薄
形化に伴う基板変形を膜応力のバランスによって回避す
ることができるため、高密度記録が可能となる。また、
応力を制御された第3保護層を形成することで、耐湿
性、耐ガス性等が向上する。さらに、紫外線硬化樹脂膜
にかわる第3保護層をドライプロセスで作製したもの
は、量産効率の向上、クリーンルームの有効活用、O3
生成の回避といった利点が得られる。
According to the present invention, since the deformation of the substrate due to the thinning of the plastic substrate can be avoided by the balance of the film stress, high density recording can be realized. Also,
By forming the stress-controlled third protective layer, moisture resistance, gas resistance and the like are improved. Further, a third protective layer which replaces the UV-curable resin film as prepared by a dry process, the improvement of production efficiency, effective use of clean room, O 3
The advantage of avoiding generation is obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による光情報記録媒体の層構成を模式的
に示す断面図である。
FIG. 1 is a sectional view schematically showing a layer structure of an optical information recording medium according to the present invention.

【図2】基板変形の説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of substrate deformation.

【図3】第3保護層の作製装置例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing an example of an apparatus for producing a third protective layer.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 プラスチック基板 2 第1保護層 3 記録層 4 第2保護層 5 放熱反射層 6 第3保護層 1 Plastic Substrate 2 First Protective Layer 3 Recording Layer 4 Second Protective Layer 5 Heat Dissipation Reflective Layer 6 Third Protective Layer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 針谷 眞人 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株式 会社リコー内 (72)発明者 野々山 治 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株式 会社リコー内 (72)発明者 高橋 正悦 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株式 会社リコー内 (72)発明者 出口 浩司 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株式 会社リコー内 (72)発明者 岩崎 博子 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株式 会社リコー内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Masato Haritani 1-3-6 Nakamagome, Ota-ku, Tokyo Within Ricoh Company (72) Inventor Osamu Nonoyama 1-3-6 Nakamagome, Ota-ku, Tokyo Shares Inside the Ricoh Company (72) Inventor Masaetsu Takahashi 1-3-6 Nakamagome, Ota-ku, Tokyo Within Ricoh Company Ltd. (72) Inventor Koji Deguchi 1-3-6 Nakamagome, Ota-ku, Tokyo Within Ricoh Company ( 72) Inventor Hiroko Iwasaki 1-3-6 Nakamagome, Ota-ku, Tokyo Within Ricoh Co., Ltd.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プラスチック基板上に第1保護層、記録
層、第2保護層、反射放熱層及び第3保護層を順次積層
した構成を有し、レーザービームの照射により情報の記
録・消去・再生を可能とする光情報記録媒体において、
第1保護層、記録層、第2保護層、反射放熱層及び第3
保護層の全応力Sが下記一般式を満足することを特徴と
する光情報記録媒体。 【数1】 (但し、θ:フォーカスサーボ及び/又はトラッキング
サーボを可能とするレーザービームの基板への入射角 E:基板のヤング率 b:基板の厚さ l:(基板の外径−基板の孔径)×1/2 ν:基板のポアソン比 である)
1. A structure in which a first protective layer, a recording layer, a second protective layer, a reflective heat dissipation layer and a third protective layer are sequentially laminated on a plastic substrate, and information is recorded / erased / irradiated by laser beam irradiation. In an optical information recording medium that enables reproduction,
First protective layer, recording layer, second protective layer, reflective heat dissipation layer and third
An optical information recording medium, wherein the total stress S of the protective layer satisfies the following general formula. [Equation 1] (However, θ: incident angle of a laser beam on a substrate that enables focus servo and / or tracking servo E: Young's modulus of substrate b: thickness of substrate l: (outer diameter of substrate-hole diameter of substrate) × 1 / 2ν: Poisson's ratio of the substrate)
【請求項2】 第3保護層が引張り応力を有することを
特徴とする請求項1に記載の光情報記録媒体。
2. The optical information recording medium according to claim 1, wherein the third protective layer has a tensile stress.
【請求項3】 第3保護層が乾式プロセスで作製された
ものであることを特徴とする請求項1又は2に記載の光
情報記録媒体。
3. The optical information recording medium according to claim 1, wherein the third protective layer is manufactured by a dry process.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1996017344A1 (en) * 1994-11-28 1996-06-06 Asahi Kasei Kogyo Kabushiki Kaisha Optical recording medium

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1996017344A1 (en) * 1994-11-28 1996-06-06 Asahi Kasei Kogyo Kabushiki Kaisha Optical recording medium

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