JPH07128037A - 面粗さ評価方法、面粗さ評価装置、ブラスト処理方法及びブラスト処理制御装置 - Google Patents
面粗さ評価方法、面粗さ評価装置、ブラスト処理方法及びブラスト処理制御装置Info
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- JPH07128037A JPH07128037A JP27551093A JP27551093A JPH07128037A JP H07128037 A JPH07128037 A JP H07128037A JP 27551093 A JP27551093 A JP 27551093A JP 27551093 A JP27551093 A JP 27551093A JP H07128037 A JPH07128037 A JP H07128037A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】処理面の面粗さを厳格に評価し、粗面化を確実
に好適に完了することを可能とする。 【構成・作用】被処理品の処理済の処理面を実測して距
離と高さとの面波形を求め、この面波形をフーリエ変換
して周波数とパワースペクトルとの周波数分析関係に変
換する。周波数分析関係は処理面の凹凸の高さとともに
凹凸のうねりについても表している。
に好適に完了することを可能とする。 【構成・作用】被処理品の処理済の処理面を実測して距
離と高さとの面波形を求め、この面波形をフーリエ変換
して周波数とパワースペクトルとの周波数分析関係に変
換する。周波数分析関係は処理面の凹凸の高さとともに
凹凸のうねりについても表している。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、面粗さ評価方法、面粗
さ評価装置、ブラスト処理方法及びブラスト処理制御装
置に関する。これら面粗さ評価方法等は、例えばエンジ
ンブロックのボアに皮膜を溶射する前段階として利用可
能である。
さ評価装置、ブラスト処理方法及びブラスト処理制御装
置に関する。これら面粗さ評価方法等は、例えばエンジ
ンブロックのボアに皮膜を溶射する前段階として利用可
能である。
【０００２】
【従来の技術】従来、被処理品の処理済の処理面の面粗
さは、規格（ＪＩＳ Ｂ０６０１）において、中心線平
均粗さ（Ｒａ）、最大高さ（Ｒｍａｘ）及び十点平均粗
さ（Ｒｚ）の３種類により評価されるべく規定されてい
る。そして、これら３種類の評価は必要な要求により使
い分けられ、例えばブラスト処理方法による処理面の粗
面化完了もいづれかにより判断されていた。
さは、規格（ＪＩＳ Ｂ０６０１）において、中心線平
均粗さ（Ｒａ）、最大高さ（Ｒｍａｘ）及び十点平均粗
さ（Ｒｚ）の３種類により評価されるべく規定されてい
る。そして、これら３種類の評価は必要な要求により使
い分けられ、例えばブラスト処理方法による処理面の粗
面化完了もいづれかにより判断されていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記規格の面
粗さ評価方法では、処理面の凹凸の高さについては評価
しているものの、処理面の凹凸のうねりについては評価
していないため、面粗さを厳格に評価することができな
い。このため、上記規格の面粗さ評価方法に基づき粗面
化完了を判断するのでは、処理面の粗面化が本当に好適
に完了されているのか否かが明らかではない。
粗さ評価方法では、処理面の凹凸の高さについては評価
しているものの、処理面の凹凸のうねりについては評価
していないため、面粗さを厳格に評価することができな
い。このため、上記規格の面粗さ評価方法に基づき粗面
化完了を判断するのでは、処理面の粗面化が本当に好適
に完了されているのか否かが明らかではない。
【０００４】すなわち、例えば図１７に示すように、被
処理品としてエンジンブロックＷを採用し、その処理面
としてのボアＷ1 にブラスト処理方法を実行するとき、
上下動及び回転可能なノズルＮを介してブラスト材Ｂを
投射する。そして、アンカー効果を期待し、処理済のボ
アＷ1 に溶射により皮膜を被覆する。この場合、他の条
件を同一とすれば、図１８に示すように、使い古した旧
ブラスト材ＢｏではボアＷ1 を１５〜３５Ｒｚ程度しか
粗面化できないのに対し、新品の新ブラスト材Ｂｎでは
ボアＷ1 を８０〜１１５Ｒｚ程度まで粗面化できる。そ
して、処理済のボアＷ1 に溶射により皮膜を被覆する
と、図１９に示すように、旧ブラスト材Ｂｏにより処理
したボアＷ1 では２ｋｇ／ｍｍ2 程度しか密着強度が得
られないのに対し、新ブラスト材Ｂｎにより処理したボ
アＷ1 では５ｋｇ／ｍｍ2 程度の高い密着強度が得られ
る。これは、図２０に粒度分布を示すように、処理個数
が多くなれば、ブラスト材Ｂが破砕され、微細化してし
まうことによる。
処理品としてエンジンブロックＷを採用し、その処理面
としてのボアＷ1 にブラスト処理方法を実行するとき、
上下動及び回転可能なノズルＮを介してブラスト材Ｂを
投射する。そして、アンカー効果を期待し、処理済のボ
アＷ1 に溶射により皮膜を被覆する。この場合、他の条
件を同一とすれば、図１８に示すように、使い古した旧
ブラスト材ＢｏではボアＷ1 を１５〜３５Ｒｚ程度しか
粗面化できないのに対し、新品の新ブラスト材Ｂｎでは
ボアＷ1 を８０〜１１５Ｒｚ程度まで粗面化できる。そ
して、処理済のボアＷ1 に溶射により皮膜を被覆する
と、図１９に示すように、旧ブラスト材Ｂｏにより処理
したボアＷ1 では２ｋｇ／ｍｍ2 程度しか密着強度が得
られないのに対し、新ブラスト材Ｂｎにより処理したボ
アＷ1 では５ｋｇ／ｍｍ2 程度の高い密着強度が得られ
る。これは、図２０に粒度分布を示すように、処理個数
が多くなれば、ブラスト材Ｂが破砕され、微細化してし
まうことによる。
【０００５】この状態では、図１８に示す十点平均粗さ
（Ｒｚ）の高低又は処理個数に基づき粗面化完了・未完
了が判断可能である。一般的には、機械的接触式表面形
状測定装置による全数測定又は同装置による抜き取り測
定により、十点平均粗さ（Ｒｚ）が基準より低いなら
ば、旧ブラスト材Ｂｏを新ブラスト材Ｂｎに交換する。
また、一定処理個数に至った時点でブラスト材Ｂの交換
を行う。そして、ブラスト処理方法を再実行する。
（Ｒｚ）の高低又は処理個数に基づき粗面化完了・未完
了が判断可能である。一般的には、機械的接触式表面形
状測定装置による全数測定又は同装置による抜き取り測
定により、十点平均粗さ（Ｒｚ）が基準より低いなら
ば、旧ブラスト材Ｂｏを新ブラスト材Ｂｎに交換する。
また、一定処理個数に至った時点でブラスト材Ｂの交換
を行う。そして、ブラスト処理方法を再実行する。
【０００６】この後、図２１に示すように、ボアＷ1 を
１００Ｒｚ程度まで粗面化し、十点平均粗さ（Ｒｚ）に
差異がないことに基づき粗面化完了と判断される。そし
て、ボアＷ1 に皮膜を被覆する。しかし、この場合、図
２２に示すように、十点平均粗さ（Ｒｚ）ではボアＷ1
に差異がないにもかかわらず、ノズル交換前では３ｋｇ
／ｍｍ2 程度しか密着強度が得られないのに対し、ノズ
ル交換後では４ｋｇ／ｍｍ2 程度の高い密着強度が得ら
れることがある。これは、新ノズルＮでは当初設定の４
５°の投射角度でブラスト材Ｂを投射可能であるが、処
理個数が多くなることにより、ノズルＮの投射角度が変
化してしまうことによる。
１００Ｒｚ程度まで粗面化し、十点平均粗さ（Ｒｚ）に
差異がないことに基づき粗面化完了と判断される。そし
て、ボアＷ1 に皮膜を被覆する。しかし、この場合、図
２２に示すように、十点平均粗さ（Ｒｚ）ではボアＷ1
に差異がないにもかかわらず、ノズル交換前では３ｋｇ
／ｍｍ2 程度しか密着強度が得られないのに対し、ノズ
ル交換後では４ｋｇ／ｍｍ2 程度の高い密着強度が得ら
れることがある。これは、新ノズルＮでは当初設定の４
５°の投射角度でブラスト材Ｂを投射可能であるが、処
理個数が多くなることにより、ノズルＮの投射角度が変
化してしまうことによる。
【０００７】したがって、上記規格の面粗さ評価方法に
基づき粗面化完了を判断するのでは、処理面の凹凸のう
ねりについての評価がないことより、処理面の粗面化が
本当に好適に完了されているのか否かが明らかでなく、
処理済の処理面に皮膜を確実に高い密着強度の下で被覆
することができない。第１、２発明は、上記従来の実情
に鑑みてなされたものであって、面粗さを厳格に評価す
ることが可能な面粗さ評価方法及び面粗さ評価装置を提
供することを目的とする。
基づき粗面化完了を判断するのでは、処理面の凹凸のう
ねりについての評価がないことより、処理面の粗面化が
本当に好適に完了されているのか否かが明らかでなく、
処理済の処理面に皮膜を確実に高い密着強度の下で被覆
することができない。第１、２発明は、上記従来の実情
に鑑みてなされたものであって、面粗さを厳格に評価す
ることが可能な面粗さ評価方法及び面粗さ評価装置を提
供することを目的とする。
【０００８】そして、第３、４発明は、処理面の粗面化
を確実に好適に完了することが可能なブラスト処理方法
及びブラスト処理制御装置を提供することを目的とす
る。
を確実に好適に完了することが可能なブラスト処理方法
及びブラスト処理制御装置を提供することを目的とす
る。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記目的
に鑑みて鋭意研究を重ねた結果、面波形をフーリエ変換
して得られた周波数分析関係が処理面の凹凸の高さとと
もに凹凸のうねりについても表していることを発見し
た。そして、かかる発見に基づき、第１〜４発明を完成
した。すなわち、 （１）第１発明の面粗さ評価方法は、被処理品の処理済
の処理面を実測して距離と高さとの面波形を求める実測
工程と、該面波形をフーリエ変換して周波数とパワース
ペクトルとの周波数分析関係に変換する変換工程とを有
し、該周波数分析関係に基づき該処理面の面粗さを評価
することを特徴とする。
に鑑みて鋭意研究を重ねた結果、面波形をフーリエ変換
して得られた周波数分析関係が処理面の凹凸の高さとと
もに凹凸のうねりについても表していることを発見し
た。そして、かかる発見に基づき、第１〜４発明を完成
した。すなわち、 （１）第１発明の面粗さ評価方法は、被処理品の処理済
の処理面を実測して距離と高さとの面波形を求める実測
工程と、該面波形をフーリエ変換して周波数とパワース
ペクトルとの周波数分析関係に変換する変換工程とを有
し、該周波数分析関係に基づき該処理面の面粗さを評価
することを特徴とする。
【００１０】（２）第２発明の面粗さ評価装置は、被処
理品の処理済の処理面を実測して距離と高さとの面波形
を求める実測手段と、該面波形をフーリエ変換して周波
数とパワースペクトルとの周波数分析関係に変換する変
換手段と、該周波数分析関係を表示する表示手段と、を
有することを特徴とする。 （３）第３発明のブラスト処理方法は、ブラスト材を被
処理品の処理面にノズルを介して投射し、該処理面を粗
面化するブラスト処理方法において、処理済の前記処理
面を実測して距離と高さとの面波形を求める実測工程
と、該面波形をフーリエ変換して周波数とパワースペク
トルとの周波数分析関係に変換する変換工程とを有し、
該周波数分析関係が基準より低周波数側に変位している
場合に、前記ブラスト材及び前記ノズルの少なくとも一
方を交換することを特徴とする。
理品の処理済の処理面を実測して距離と高さとの面波形
を求める実測手段と、該面波形をフーリエ変換して周波
数とパワースペクトルとの周波数分析関係に変換する変
換手段と、該周波数分析関係を表示する表示手段と、を
有することを特徴とする。 （３）第３発明のブラスト処理方法は、ブラスト材を被
処理品の処理面にノズルを介して投射し、該処理面を粗
面化するブラスト処理方法において、処理済の前記処理
面を実測して距離と高さとの面波形を求める実測工程
と、該面波形をフーリエ変換して周波数とパワースペク
トルとの周波数分析関係に変換する変換工程とを有し、
該周波数分析関係が基準より低周波数側に変位している
場合に、前記ブラスト材及び前記ノズルの少なくとも一
方を交換することを特徴とする。
【００１１】（４）第４発明のブラスト処理制御装置
は、ブラスト材を被処理品の処理面にノズルを介して投
射し、該処理面を粗面化する時に用いられるブラスト処
理制御装置であって、処理済の前記処理面を実測して距
離と高さとの面波形を求める実測手段と、該面波形をフ
ーリエ変換して周波数とパワースペクトルとの周波数分
析関係に変換する変換手段と、該周波数分析関係を基準
と比較する比較手段と、該周波数分析関係が該基準より
低周波数側に変位している場合に警告信号を発する警告
発信手段と、を有することを特徴とする。
は、ブラスト材を被処理品の処理面にノズルを介して投
射し、該処理面を粗面化する時に用いられるブラスト処
理制御装置であって、処理済の前記処理面を実測して距
離と高さとの面波形を求める実測手段と、該面波形をフ
ーリエ変換して周波数とパワースペクトルとの周波数分
析関係に変換する変換手段と、該周波数分析関係を基準
と比較する比較手段と、該周波数分析関係が該基準より
低周波数側に変位している場合に警告信号を発する警告
発信手段と、を有することを特徴とする。
【００１２】実測工程は、例えば「オプトロニクス（１
９８５年１１月号、第７７〜８２頁）」、「日経メカニ
カル（１９７９年８月６日号、第７３〜８０頁）」、
「東芝レビュー（１９８９年５月号、第４１３〜４１６
頁）」に記載されているように、光学的非接触式表面形
状測定装置により行うことが好ましい。また、実測手段
は、上記光学的非接触式表面形状測定装置であることが
好ましい。
９８５年１１月号、第７７〜８２頁）」、「日経メカニ
カル（１９７９年８月６日号、第７３〜８０頁）」、
「東芝レビュー（１９８９年５月号、第４１３〜４１６
頁）」に記載されているように、光学的非接触式表面形
状測定装置により行うことが好ましい。また、実測手段
は、上記光学的非接触式表面形状測定装置であることが
好ましい。
【００１３】
【作用】（１）第１発明の面粗さ評価方法では、実測工
程において、被処理品の処理済の処理面を実測し、距離
と高さとの面波形を求める。そして、変換工程におい
て、この面波形をフーリエ変換し、周波数とパワースペ
クトルとの周波数分析関係に変換する。
程において、被処理品の処理済の処理面を実測し、距離
と高さとの面波形を求める。そして、変換工程におい
て、この面波形をフーリエ変換し、周波数とパワースペ
クトルとの周波数分析関係に変換する。
【００１４】ここで、面波形と周波数分析関係との関係
について述べる。まず、図１〜３に示す３種類の距離と
高さとの面波形を考える。これら面波形は被処理品の処
理済の処理面に存在する凹凸に対応している。図１の面
波形を基本形とすれば、図２の面波形は距離を変えずに
高さが２倍になったものであり、図３の面波形は高さを
変えずに距離が２倍になったものである。これら面波形
の高さを振幅に置換し、距離を周期に置換すれば、図１
の面波形に対し、図２の面波形は周期が同一で振幅が２
倍になったものであり、図３の面波形は振幅が同一で周
期が２倍になったものである。
について述べる。まず、図１〜３に示す３種類の距離と
高さとの面波形を考える。これら面波形は被処理品の処
理済の処理面に存在する凹凸に対応している。図１の面
波形を基本形とすれば、図２の面波形は距離を変えずに
高さが２倍になったものであり、図３の面波形は高さを
変えずに距離が２倍になったものである。これら面波形
の高さを振幅に置換し、距離を周期に置換すれば、図１
の面波形に対し、図２の面波形は周期が同一で振幅が２
倍になったものであり、図３の面波形は振幅が同一で周
期が２倍になったものである。
【００１５】図１及び図２の面波形をフーリエ変換すれ
ば、図４に示す周波数（Ｈｚ）とパワースペクトルとの
周波数分析関係が得られる。また、図１及び図３の面波
形をフーリエ変換すれば、図５に示す周波数（Ｈｚ）と
パワースペクトルとの周波数分析関係が得られる。な
お、図４及び図５の縦軸であるパワースペクトルは、図
１の面波形で考えれば、図６に示す斜線部分の面積を示
す。また、図４及び図５の横軸は周波数（Ｈｚ）を対数
で示している。
ば、図４に示す周波数（Ｈｚ）とパワースペクトルとの
周波数分析関係が得られる。また、図１及び図３の面波
形をフーリエ変換すれば、図５に示す周波数（Ｈｚ）と
パワースペクトルとの周波数分析関係が得られる。な
お、図４及び図５の縦軸であるパワースペクトルは、図
１の面波形で考えれば、図６に示す斜線部分の面積を示
す。また、図４及び図５の横軸は周波数（Ｈｚ）を対数
で示している。
【００１６】図４の周波数分析関係より、図１の基本形
の面波形に対し、図２の振幅を２倍にした面波形はパワ
ースペクトルが３倍となることがわかる。また、図５の
周波数分析関係より、図１の基本形の面波形に対し、図
３の周期を２倍にした面波形はパワースペクトルが高周
波数側へ変位していることがわかる。つまり、面波形の
高さを置換した振幅はパワースペクトルの大小に現れ、
面波形の距離を置換した周期はパワースペクトルの変位
量に現れることがわかる。
の面波形に対し、図２の振幅を２倍にした面波形はパワ
ースペクトルが３倍となることがわかる。また、図５の
周波数分析関係より、図１の基本形の面波形に対し、図
３の周期を２倍にした面波形はパワースペクトルが高周
波数側へ変位していることがわかる。つまり、面波形の
高さを置換した振幅はパワースペクトルの大小に現れ、
面波形の距離を置換した周期はパワースペクトルの変位
量に現れることがわかる。
【００１７】現実の被処理品の処理済の処理面は、図７
に示すように、大きい周期の波形の上に細かい周期の波
形が重なった形状をしており、このように重なった波形
の面波形も特定の周波数分析関係として得られる。例え
ば、光学的非接触式表面形状測定装置により処理面を実
測すれば、図８に示す面波形が得られる。この面波形を
フーリエ変換すれば、図９に示す周波数分析関係が得ら
れる。
に示すように、大きい周期の波形の上に細かい周期の波
形が重なった形状をしており、このように重なった波形
の面波形も特定の周波数分析関係として得られる。例え
ば、光学的非接触式表面形状測定装置により処理面を実
測すれば、図８に示す面波形が得られる。この面波形を
フーリエ変換すれば、図９に示す周波数分析関係が得ら
れる。
【００１８】したがって、周波数分析関係は処理面の凹
凸の高さとともに凹凸のうねりについても表しているこ
とがわかる。このため、周波数分析関係に基づき処理面
の面粗さを評価すれば、面粗さは厳格に評価される。 （２）第２発明の面粗さ評価装置では、実測手段は、被
処理品の処理済の処理面を実測し、距離と高さとの面波
形を求める。そして、変換手段は、この面波形をフーリ
エ変換し、周波数とパワースペクトルとの周波数分析関
係に変換する。
凸の高さとともに凹凸のうねりについても表しているこ
とがわかる。このため、周波数分析関係に基づき処理面
の面粗さを評価すれば、面粗さは厳格に評価される。 （２）第２発明の面粗さ評価装置では、実測手段は、被
処理品の処理済の処理面を実測し、距離と高さとの面波
形を求める。そして、変換手段は、この面波形をフーリ
エ変換し、周波数とパワースペクトルとの周波数分析関
係に変換する。
【００１９】したがって、上記面波形と周波数分析関係
との関係より、表示手段に表示される周波数分析関係で
面粗さは厳格に評価される。 （３）第３発明のブラスト処理方法では、実測工程にお
いて、被処理品の処理済の処理面を実測し、距離と高さ
との面波形を求める。そして、変換工程において、この
面波形をフーリエ変換し、周波数とパワースペクトルと
の周波数分析関係に変換する。
との関係より、表示手段に表示される周波数分析関係で
面粗さは厳格に評価される。 （３）第３発明のブラスト処理方法では、実測工程にお
いて、被処理品の処理済の処理面を実測し、距離と高さ
との面波形を求める。そして、変換工程において、この
面波形をフーリエ変換し、周波数とパワースペクトルと
の周波数分析関係に変換する。
【００２０】したがって、上記面波形と周波数分析関係
との関係より、周波数分析関係が基準より低周波数側に
変位しておれば、ブラスト材及びノズルの少なくとも一
方が寿命であると判断されるので、この段階では処理面
の粗面化は未完了であり、これらの一方を交換して再度
ブラスト処理を行うことにより、処理面の粗面化は確実
に好適に完了される。
との関係より、周波数分析関係が基準より低周波数側に
変位しておれば、ブラスト材及びノズルの少なくとも一
方が寿命であると判断されるので、この段階では処理面
の粗面化は未完了であり、これらの一方を交換して再度
ブラスト処理を行うことにより、処理面の粗面化は確実
に好適に完了される。
【００２１】（４）第４発明のブラスト処理制御装置で
は、実測手段は、被処理品の処理済の処理面を実測し、
距離と高さとの面波形を求める。そして、変換手段は、
この面波形をフーリエ変換して周波数とパワースペクト
ルとの周波数分析関係に変換する。したがって、上記面
波形と周波数分析関係との関係より、比較手段が周波数
分析関係を基準と比較し、周波数分析関係が基準より低
周波数側に変位している場合、警告発信手段が警告信号
を発すれば、ブラスト材及びノズルの少なくとも一方が
寿命であると判断されるので、この段階では処理面の粗
面化は未完了であり、これらの一方を交換して再度ブラ
スト処理を行うことにより、処理面の粗面化は確実に好
適に完了される。
は、実測手段は、被処理品の処理済の処理面を実測し、
距離と高さとの面波形を求める。そして、変換手段は、
この面波形をフーリエ変換して周波数とパワースペクト
ルとの周波数分析関係に変換する。したがって、上記面
波形と周波数分析関係との関係より、比較手段が周波数
分析関係を基準と比較し、周波数分析関係が基準より低
周波数側に変位している場合、警告発信手段が警告信号
を発すれば、ブラスト材及びノズルの少なくとも一方が
寿命であると判断されるので、この段階では処理面の粗
面化は未完了であり、これらの一方を交換して再度ブラ
スト処理を行うことにより、処理面の粗面化は確実に好
適に完了される。
【００２２】なお、光学的非接触式表面形状測定装置に
より行う場合には、全数測定が容易である。
より行う場合には、全数測定が容易である。
【００２３】
【実施例】以下、被処理品としてエンジンブロックＷを
採用し、その処理面としてのボアＷ1 にブラスト処理方
法を実行した場合について具体的に説明する。 （実施例１）実施例１は第１、２発明を具体化したもの
であり、この面粗さ評価方法では、新・旧ブラスト材Ｂ
ｎ、Ｂｏを使い分ける。ここで、旧ブラスト材Ｂｏは、
前記図１８〜２０に示すように、ボアＷ1 を１５〜３５
Ｒｚ程度しか粗面化できないものであり、新ブラスト材
ＢｎはボアＷ1 を８０〜１１５Ｒｚ程度まで粗面化でき
るものである。他の条件は同一である。
採用し、その処理面としてのボアＷ1 にブラスト処理方
法を実行した場合について具体的に説明する。 （実施例１）実施例１は第１、２発明を具体化したもの
であり、この面粗さ評価方法では、新・旧ブラスト材Ｂ
ｎ、Ｂｏを使い分ける。ここで、旧ブラスト材Ｂｏは、
前記図１８〜２０に示すように、ボアＷ1 を１５〜３５
Ｒｚ程度しか粗面化できないものであり、新ブラスト材
ＢｎはボアＷ1 を８０〜１１５Ｒｚ程度まで粗面化でき
るものである。他の条件は同一である。
【００２４】まず、実測工程において、光学的非接触式
表面形状測定装置によりボアＷ1 を実測し、２種の面波
形を求める。なお、光学的非接触式表面形状測定装置で
は、図１０にその一部を模式的に示すように、Ｈｅ−Ｎ
ｅレーザ発振器１が上下動可能に設けられており、Ｈｅ
−Ｎｅレーザ発振器１の下方には照射光を透過させると
ともにボアＷ1 からの反射光を全反射させる半透明反射
鏡２が設けられ、半透明反射鏡２の下方には照射光及び
反射光を全反射させる反射鏡３が設けられている。ま
た、半透明反射鏡２の側方にはＣＣＤセンサ４が設けら
れており、ＣＣＤセンサ４はマイコン５に接続されてい
る。マイコン５は、図１１にブロック図を示すように、
ＣＣＤセンサ４からの入力信号により処理済のボアＷ1
を実測して面波形を求める実測手段６と、面波形をフー
リエ変換して周波数分析関係に変換する変換手段７とを
有する。マイコン５の変換手段７は表示手段としてのモ
ニタ８に接続されている。
表面形状測定装置によりボアＷ1 を実測し、２種の面波
形を求める。なお、光学的非接触式表面形状測定装置で
は、図１０にその一部を模式的に示すように、Ｈｅ−Ｎ
ｅレーザ発振器１が上下動可能に設けられており、Ｈｅ
−Ｎｅレーザ発振器１の下方には照射光を透過させると
ともにボアＷ1 からの反射光を全反射させる半透明反射
鏡２が設けられ、半透明反射鏡２の下方には照射光及び
反射光を全反射させる反射鏡３が設けられている。ま
た、半透明反射鏡２の側方にはＣＣＤセンサ４が設けら
れており、ＣＣＤセンサ４はマイコン５に接続されてい
る。マイコン５は、図１１にブロック図を示すように、
ＣＣＤセンサ４からの入力信号により処理済のボアＷ1
を実測して面波形を求める実測手段６と、面波形をフー
リエ変換して周波数分析関係に変換する変換手段７とを
有する。マイコン５の変換手段７は表示手段としてのモ
ニタ８に接続されている。
【００２５】そして、変換工程において、マイコン５の
変換手段７は２種の面波形をフーリエ変換して図１２に
示す２種の周波数分析関係に変換し、モニタ８に表示さ
せる。図１２の実線は新ブラスト材Ｂｎによりブラスト
処理方法を実行した場合の周波数分析関係であり、図１
２の破線は旧ブラスト材Ｂｏによりブラスト処理方法を
実行した場合の周波数分析関係である。
変換手段７は２種の面波形をフーリエ変換して図１２に
示す２種の周波数分析関係に変換し、モニタ８に表示さ
せる。図１２の実線は新ブラスト材Ｂｎによりブラスト
処理方法を実行した場合の周波数分析関係であり、図１
２の破線は旧ブラスト材Ｂｏによりブラスト処理方法を
実行した場合の周波数分析関係である。
【００２６】図１２の２種の周波数分析関係より、新ブ
ラスト材Ｂｎによる周波数分析関係のピーク値Ｐが旧ブ
ラスト材Ｂｏによる周波数分析関係のピーク値Ｐ’より
も低周波数側へ変位していることがわかる。したがっ
て、図１２の２種の周波数分析関係はボアＷ1 の凹凸の
高さとともに凹凸のうねりについても表しているため、
図１２の２種の周波数分析関係に基づき、例えばピーク
値の低周波数側への変位、パターンの変位等により、ボ
アＷ1の面粗さを評価すれば、面粗さは厳格に評価でき
ることがわかる。 （実施例２）実施例２も第１、２発明を具体化したもの
であり、この面粗さ評価方法では、ノズル交換前・後で
差異を設けている。ここで、ノズル交換前・後のブラス
ト処理方法は、前記図２１及び図２２に示すように、十
点平均粗さ（Ｒｚ）ではボアＷ1 に差異がないにもかか
わらず、ノズル交換前は３ｋｇ／ｍｍ2 程度しか皮膜の
密着強度が得られない状態であるのに対し、ノズル交換
後は４ｋｇ／ｍｍ2 程度の高い密着強度が得られる状態
である。他の条件は同一である。
ラスト材Ｂｎによる周波数分析関係のピーク値Ｐが旧ブ
ラスト材Ｂｏによる周波数分析関係のピーク値Ｐ’より
も低周波数側へ変位していることがわかる。したがっ
て、図１２の２種の周波数分析関係はボアＷ1 の凹凸の
高さとともに凹凸のうねりについても表しているため、
図１２の２種の周波数分析関係に基づき、例えばピーク
値の低周波数側への変位、パターンの変位等により、ボ
アＷ1の面粗さを評価すれば、面粗さは厳格に評価でき
ることがわかる。 （実施例２）実施例２も第１、２発明を具体化したもの
であり、この面粗さ評価方法では、ノズル交換前・後で
差異を設けている。ここで、ノズル交換前・後のブラス
ト処理方法は、前記図２１及び図２２に示すように、十
点平均粗さ（Ｒｚ）ではボアＷ1 に差異がないにもかか
わらず、ノズル交換前は３ｋｇ／ｍｍ2 程度しか皮膜の
密着強度が得られない状態であるのに対し、ノズル交換
後は４ｋｇ／ｍｍ2 程度の高い密着強度が得られる状態
である。他の条件は同一である。
【００２７】まず、実測工程において、上記光学的非接
触式表面形状測定装置によりボアＷ 1 を実測し、２種の
面波形を求める。そして、変換工程において、２種の面
波形をフーリエ変換して図１３に示す２種の周波数分析
関係に変換し、モニタ８に表示させる。図１３の破線は
ノズル交換前でブラスト処理方法を実行した場合の周波
数分析関係であり、図１３の実線はノズル交換後でブラ
スト処理方法を実行した場合の周波数分析関係である。
触式表面形状測定装置によりボアＷ 1 を実測し、２種の
面波形を求める。そして、変換工程において、２種の面
波形をフーリエ変換して図１３に示す２種の周波数分析
関係に変換し、モニタ８に表示させる。図１３の破線は
ノズル交換前でブラスト処理方法を実行した場合の周波
数分析関係であり、図１３の実線はノズル交換後でブラ
スト処理方法を実行した場合の周波数分析関係である。
【００２８】図１３の２種の周波数分析関係より、ノズ
ル交換後の周波数分析関係はノズル交換前の周波数分析
関係よりも低周波数側に多くパワースペクトルを有して
いることがわかる。したがって、この面粗さ評価方法で
は、十点平均粗さ（Ｒｚ）では判断が不可能であったボ
アＷ1 の差異を判断可能である。このため、この面粗さ
評価方法によれば、ボアＷ1 の粗面化が本当に好適に完
了されているのか否かが明らかであり、処理済のボアＷ
1 に皮膜を確実に高い密着強度の下で被覆できることが
わかる。 （実施例３）実施例３は第３、４発明を具体化したもの
である。このブラスト処理方法は、図１４に示すよう
に、前工程からエンジンブロックＷを投入し、そのボア
Ｗ1 にブラスト処理を実行し、処理済のボアＷ1 の面粗
さを検査（評価）し、ボアＷ1に溶射により皮膜を被覆
し、搬出するという一連のラインで具体化したものであ
る。
ル交換後の周波数分析関係はノズル交換前の周波数分析
関係よりも低周波数側に多くパワースペクトルを有して
いることがわかる。したがって、この面粗さ評価方法で
は、十点平均粗さ（Ｒｚ）では判断が不可能であったボ
アＷ1 の差異を判断可能である。このため、この面粗さ
評価方法によれば、ボアＷ1 の粗面化が本当に好適に完
了されているのか否かが明らかであり、処理済のボアＷ
1 に皮膜を確実に高い密着強度の下で被覆できることが
わかる。 （実施例３）実施例３は第３、４発明を具体化したもの
である。このブラスト処理方法は、図１４に示すよう
に、前工程からエンジンブロックＷを投入し、そのボア
Ｗ1 にブラスト処理を実行し、処理済のボアＷ1 の面粗
さを検査（評価）し、ボアＷ1に溶射により皮膜を被覆
し、搬出するという一連のラインで具体化したものであ
る。
【００２９】このラインは、ブラスト処理制御装置によ
り制御されている。このブラスト処理制御装置は、上記
光学的非接触式表面形状測定装置及びマイコン９からな
る。マイコン９は、図１５にブロック図を示すように、
ＣＣＤセンサ４からの入力信号により処理済のボアＷ1
を実測して面波形を求める実測手段１０と、面波形をフ
ーリエ変換して周波数分析関係に変換する変換手段１１
と、周波数分析関係を基準と比較する比較手段１２と、
周波数分析関係が基準より低周波数側に変位している場
合に警告信号を発する警告発信手段１３と、を有する。
警告発信手段１３はモニタ１４及びライン制御装置１５
に接続され、ライン制御装置１５は警告信号に基づいて
再度ブラスト処理すべくエンジンブロックＷを搬送可能
になされている。また、マイコン９のＲＯＭには基準周
波数Ｐ0 （実施例では、０．１（Ｈｚ））がメモリされ
ている。
り制御されている。このブラスト処理制御装置は、上記
光学的非接触式表面形状測定装置及びマイコン９からな
る。マイコン９は、図１５にブロック図を示すように、
ＣＣＤセンサ４からの入力信号により処理済のボアＷ1
を実測して面波形を求める実測手段１０と、面波形をフ
ーリエ変換して周波数分析関係に変換する変換手段１１
と、周波数分析関係を基準と比較する比較手段１２と、
周波数分析関係が基準より低周波数側に変位している場
合に警告信号を発する警告発信手段１３と、を有する。
警告発信手段１３はモニタ１４及びライン制御装置１５
に接続され、ライン制御装置１５は警告信号に基づいて
再度ブラスト処理すべくエンジンブロックＷを搬送可能
になされている。また、マイコン９のＲＯＭには基準周
波数Ｐ0 （実施例では、０．１（Ｈｚ））がメモリされ
ている。
【００３０】マイコン９は、図１６に示すフローチャー
トに従いボアＷ1 の面粗さを検査する。まず、ステップ
Ｓ１００においてＣＣＤセンサ４から信号等が入力さ
れ、ステップＳ１０１において面波形を求める。そし
て、ステップＳ１０２において、面波形をフーリエ変換
し、周波数分析関係を求める。次いで、ステップＳ１０
３において周波数分析関係のピーク値Ｐを算出し、ステ
ップＳ１０４においてピーク値Ｐが基準周波数Ｐ0 より
低いか否か判断する。
トに従いボアＷ1 の面粗さを検査する。まず、ステップ
Ｓ１００においてＣＣＤセンサ４から信号等が入力さ
れ、ステップＳ１０１において面波形を求める。そし
て、ステップＳ１０２において、面波形をフーリエ変換
し、周波数分析関係を求める。次いで、ステップＳ１０
３において周波数分析関係のピーク値Ｐを算出し、ステ
ップＳ１０４においてピーク値Ｐが基準周波数Ｐ0 より
低いか否か判断する。
【００３１】ステップＳ１０４でＹＥＳであれば、前記
実施例１における図１２のように、周波数分析関係のピ
ーク値Ｐが基準Ｓよりも低周波数側へ変位し、ブラスト
材Ｂ及びノズルＮの少なくとも一方が寿命であるため、
ステップＳ１０５に進んで警告信号を送出し、リターン
する。モニタ１４は警告信号によりブラスト材Ｂ及びノ
ズルＮの少なくとも一方を交換すべく表示する。また、
ライン制御装置１５は警告信号により再度ブラスト処理
すべくエンジンブロックＷを搬送する。
実施例１における図１２のように、周波数分析関係のピ
ーク値Ｐが基準Ｓよりも低周波数側へ変位し、ブラスト
材Ｂ及びノズルＮの少なくとも一方が寿命であるため、
ステップＳ１０５に進んで警告信号を送出し、リターン
する。モニタ１４は警告信号によりブラスト材Ｂ及びノ
ズルＮの少なくとも一方を交換すべく表示する。また、
ライン制御装置１５は警告信号により再度ブラスト処理
すべくエンジンブロックＷを搬送する。
【００３２】一方、ステップＳ１０４でＮＯであれば、
ブラスト材Ｂ及びノズルＮは未だ寿命ではないため、検
査を継続すべく、リターンする。検査を通過したエンジ
ンブロックＷはボアＷ1 に溶射により皮膜が被覆され、
搬出される。したがって、このブラスト処理方法では、
ブラスト材Ｂ及びノズルＮの少なくとも一方が寿命であ
ると判断し、これによりこれらの少なくとも一方を交換
することが可能になり、これらの一方を交換して再度ブ
ラスト処理を行うことにより、ボアＷ1 の粗面化を確実
に好適に完了することができる。また、粗面化未完了の
ボアＷ1 に皮膜を溶射することがないため、ボアＷ1 に
皮膜を確実に高い密着強度の下で被覆することができ
る。
ブラスト材Ｂ及びノズルＮは未だ寿命ではないため、検
査を継続すべく、リターンする。検査を通過したエンジ
ンブロックＷはボアＷ1 に溶射により皮膜が被覆され、
搬出される。したがって、このブラスト処理方法では、
ブラスト材Ｂ及びノズルＮの少なくとも一方が寿命であ
ると判断し、これによりこれらの少なくとも一方を交換
することが可能になり、これらの一方を交換して再度ブ
ラスト処理を行うことにより、ボアＷ1 の粗面化を確実
に好適に完了することができる。また、粗面化未完了の
ボアＷ1 に皮膜を溶射することがないため、ボアＷ1 に
皮膜を確実に高い密着強度の下で被覆することができ
る。
【００３３】さらに、このブラスト処理方法では、容易
に全数測定を行うことができるため、抜き取り測定する
場合と比較して面粗さをより厳格に評価することが可能
となる。
に全数測定を行うことができるため、抜き取り測定する
場合と比較して面粗さをより厳格に評価することが可能
となる。
【００３４】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明の面粗さ評
価方法、面粗さ評価装置、ブラスト処理方法及びブラス
ト処理制御装置は、特許請求の範囲記載の構成を採用し
ているため、次のような効果を奏することができる。第
１発明の面粗さ評価方法及び第２発明の面粗さ評価装置
では、面粗さを厳格に評価することが可能である。
価方法、面粗さ評価装置、ブラスト処理方法及びブラス
ト処理制御装置は、特許請求の範囲記載の構成を採用し
ているため、次のような効果を奏することができる。第
１発明の面粗さ評価方法及び第２発明の面粗さ評価装置
では、面粗さを厳格に評価することが可能である。
【００３５】第３発明のブラスト処理方法及び第４発明
のブラスト処理制御装置では、処理面の粗面化を確実に
好適に完了することが可能である。したがって、これら
面粗さ評価方法、面粗さ評価装置、ブラスト処理方法及
びブラスト処理制御装置を採用すれば、処理面に皮膜を
確実に高い密着強度の下で被覆することができる。
のブラスト処理制御装置では、処理面の粗面化を確実に
好適に完了することが可能である。したがって、これら
面粗さ評価方法、面粗さ評価装置、ブラスト処理方法及
びブラスト処理制御装置を採用すれば、処理面に皮膜を
確実に高い密着強度の下で被覆することができる。
【図１】基本形の面波形を示す関係図である。
【図２】基本形の高さを２倍にした面波形を示す関係図
である。
である。
【図３】基本形の距離を２倍にした面波形を示す関係図
である。
である。
【図４】図１及び図２の面波形をフーリエ変換した周波
数分析関係を示す関係図である。
数分析関係を示す関係図である。
【図５】図１及び図３の面波形をフーリエ変換した周波
数分析関係を示す関係図である。
数分析関係を示す関係図である。
【図６】パワースペクトルと面波形との関係を示す関係
図である。
図である。
【図７】現実の面波形を示す関係図である。
【図８】実測した面波形を示す関係図である。
【図９】図８の面波形をフーリエ変換した周波数分析関
係を示す関係図である。
係を示す関係図である。
【図１０】実施例１における光学的非接触式表面形状測
定装置の一部模式図である。
定装置の一部模式図である。
【図１１】実施例１におけるマイコンのブロック図（ク
レーム対応図）である。
レーム対応図）である。
【図１２】実施例１において、新・旧ブラスト材による
周波数分析関係を示す関係図である。
周波数分析関係を示す関係図である。
【図１３】実施例２において、ノズル交換前・後による
周波数分析関係を示す関係図である。
周波数分析関係を示す関係図である。
【図１４】実施例３において、ブラスト処理方法をライ
ン化した様子を示す斜視図である。
ン化した様子を示す斜視図である。
【図１５】実施例３におけるマイコンのブロック図（ク
レーム対応図）である。
レーム対応図）である。
【図１６】実施例３におけるマイコンのフローチャート
である。
である。
【図１７】ブラスト処理方法を示す模式断面図である。
【図１８】新・旧ブラスト材による十点平均粗さを示す
関係図である。
関係図である。
【図１９】新・旧ブラスト材による皮膜の密着強度を示
す関係図である。
す関係図である。
【図２０】新・旧ブラスト材による粒度分布を示す関係
図である。
図である。
【図２１】ノズル交換前・後による十点平均粗さを示す
関係図である。
関係図である。
【図２２】ノズル交換前・後による皮膜の密着強度を示
す関係図である。
す関係図である。
Ｗ…エンジンブロック（被処理品） Ｗ1 …ボア（処理
面） Ｂ…ブラスト材 Ｎ…ノズル １０、
６…実測手段 １１、７…変換手段 ８、１４…表示手段 １２…
比較手段 １３…警告発信手段
面） Ｂ…ブラスト材 Ｎ…ノズル １０、
６…実測手段 １１、７…変換手段 ８、１４…表示手段 １２…
比較手段 １３…警告発信手段
Claims (4)
- 【請求項１】被処理品の処理済の処理面を実測して距離
と高さとの面波形を求める実測工程と、該面波形をフー
リエ変換して周波数とパワースペクトルとの周波数分析
関係に変換する変換工程とを有し、該周波数分析関係に
基づき該処理面の面粗さを評価することを特徴とする面
粗さ評価方法。 - 【請求項２】被処理品の処理済の処理面を実測して距離
と高さとの面波形を求める実測手段と、該面波形をフー
リエ変換して周波数とパワースペクトルとの周波数分析
関係に変換する変換手段と、該周波数分析関係を表示す
る表示手段と、を有することを特徴とする面粗さ評価装
置。 - 【請求項３】ブラスト材を被処理品の処理面にノズルを
介して投射し、該処理面を粗面化するブラスト処理方法
において、 処理済の前記処理面を実測して距離と高さとの面波形を
求める実測工程と、該面波形をフーリエ変換して周波数
とパワースペクトルとの周波数分析関係に変換する変換
工程とを有し、該周波数分析関係が基準より低周波数側
に変位している場合に、前記ブラスト材及び前記ノズル
の少なくとも一方を交換することを特徴とするブラスト
処理方法。 - 【請求項４】ブラスト材を被処理品の処理面にノズルを
介して投射し、該処理面を粗面化する時に用いられるブ
ラスト処理制御装置であって、 処理済の前記処理面を実測して距離と高さとの面波形を
求める実測手段と、該面波形をフーリエ変換して周波数
とパワースペクトルとの周波数分析関係に変換する変換
手段と、該周波数分析関係を基準と比較する比較手段
と、該周波数分析関係が該基準より低周波数側に変位し
ている場合に警告信号を発する警告発信手段と、を有す
ることを特徴とするブラスト処理制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27551093A JPH07128037A (ja) | 1993-11-04 | 1993-11-04 | 面粗さ評価方法、面粗さ評価装置、ブラスト処理方法及びブラスト処理制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27551093A JPH07128037A (ja) | 1993-11-04 | 1993-11-04 | 面粗さ評価方法、面粗さ評価装置、ブラスト処理方法及びブラスト処理制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07128037A true JPH07128037A (ja) | 1995-05-19 |
Family
ID=17556489
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27551093A Pending JPH07128037A (ja) | 1993-11-04 | 1993-11-04 | 面粗さ評価方法、面粗さ評価装置、ブラスト処理方法及びブラスト処理制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07128037A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0811825A2 (de) * | 1996-06-04 | 1997-12-10 | Wagner International Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Beschaffenheit einer Werkstückoberfläche |
| US6628409B2 (en) | 2000-11-23 | 2003-09-30 | Infineon Technologies Ag | Method for determining the distance between periodic structures on an integrated circuit or a photomask |
| JP2004142007A (ja) * | 2002-10-23 | 2004-05-20 | Fuji Seisakusho:Kk | ブラスト加工条件の検査方法及び検査システム |
| JP2005193308A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-07-21 | Trecenti Technologies Inc | ブラスト処理装置およびブラスト処理方法 |
| JP2015521956A (ja) * | 2012-06-27 | 2015-08-03 | 新東工業株式会社 | ショット処理方法、ショットピーニング評価方法、及びショットピーニング評価用組付構造 |
| WO2017217121A1 (ja) * | 2016-06-15 | 2017-12-21 | 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス | 外観検査装置、表面処理システム、外観検査方法、プログラム、および投射材交換判断方法 |
| JP2017227621A (ja) * | 2016-06-15 | 2017-12-28 | 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス | 外観検査装置、表面処理システム、外観検査方法、プログラム、および投射材交換判断方法 |
| CN109986472A (zh) * | 2019-04-12 | 2019-07-09 | 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所 | 一种基于干涉仪复合测量的射流抛光去除函数提取方法 |
| GB2593399A (en) * | 2020-06-23 | 2021-09-22 | Univ Jiangsu | Visual stereo dynamic 3D detection device for fluid spraying |
| WO2023210503A1 (ja) * | 2022-04-25 | 2023-11-02 | 国立大学法人九州大学 | ブラスト状態評価装置、ブラスト状態評価システム、ブラスト状態評価方法、及び、ブラスト状態評価プログラム |
-
1993
- 1993-11-04 JP JP27551093A patent/JPH07128037A/ja active Pending
Cited By (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0811825A2 (de) * | 1996-06-04 | 1997-12-10 | Wagner International Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Beschaffenheit einer Werkstückoberfläche |
| EP0811825A3 (de) * | 1996-06-04 | 1998-04-22 | Wagner International Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Beschaffenheit einer Werkstückoberfläche |
| US6628409B2 (en) | 2000-11-23 | 2003-09-30 | Infineon Technologies Ag | Method for determining the distance between periodic structures on an integrated circuit or a photomask |
| JP2004142007A (ja) * | 2002-10-23 | 2004-05-20 | Fuji Seisakusho:Kk | ブラスト加工条件の検査方法及び検査システム |
| JP2005193308A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-07-21 | Trecenti Technologies Inc | ブラスト処理装置およびブラスト処理方法 |
| US9821434B2 (en) | 2012-06-27 | 2017-11-21 | Sintokogio, Ltd. | Shot peening method, shot peening evaluation method, and shot peening evaluation assembly structure |
| JP2015521956A (ja) * | 2012-06-27 | 2015-08-03 | 新東工業株式会社 | ショット処理方法、ショットピーニング評価方法、及びショットピーニング評価用組付構造 |
| WO2017217121A1 (ja) * | 2016-06-15 | 2017-12-21 | 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス | 外観検査装置、表面処理システム、外観検査方法、プログラム、および投射材交換判断方法 |
| JP2017227621A (ja) * | 2016-06-15 | 2017-12-28 | 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス | 外観検査装置、表面処理システム、外観検査方法、プログラム、および投射材交換判断方法 |
| TWI630070B (zh) * | 2016-06-15 | 2018-07-21 | 斯庫林集團股份有限公司 | 外觀檢查裝置、表面處理系統、外觀檢查方法、外觀檢查程式及投射材交換判斷方法 |
| EP3474004A4 (en) * | 2016-06-15 | 2020-01-15 | SCREEN Holdings Co., Ltd. | APPEARANCE INSPECTION DEVICE, SURFACE PROCESSING SYSTEM, APPEARANCE INSPECTION METHOD, PROGRAM AND METHOD FOR DETERMINING REPLACEMENT OF PROJECTION MATERIAL |
| CN109986472A (zh) * | 2019-04-12 | 2019-07-09 | 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所 | 一种基于干涉仪复合测量的射流抛光去除函数提取方法 |
| GB2593399A (en) * | 2020-06-23 | 2021-09-22 | Univ Jiangsu | Visual stereo dynamic 3D detection device for fluid spraying |
| GB2593399B (en) * | 2020-06-23 | 2022-06-29 | Univ Jiangsu | Visual stereo dynamic 3D detection device for fluid spraying |
| WO2023210503A1 (ja) * | 2022-04-25 | 2023-11-02 | 国立大学法人九州大学 | ブラスト状態評価装置、ブラスト状態評価システム、ブラスト状態評価方法、及び、ブラスト状態評価プログラム |
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