JPH0712678A - 受光素子特性検査装置 - Google Patents
受光素子特性検査装置Info
- Publication number
- JPH0712678A JPH0712678A JP15649393A JP15649393A JPH0712678A JP H0712678 A JPH0712678 A JP H0712678A JP 15649393 A JP15649393 A JP 15649393A JP 15649393 A JP15649393 A JP 15649393A JP H0712678 A JPH0712678 A JP H0712678A
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- Japan
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- light
- receiving element
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- photodetector
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】複数の光量に対する受光素子の特性を検査する
装置において、ある安定した光量から別のある安定した
光量への立ち上がりに対する特性検査を行い、且つ光源
の寿命を長期化し、また光量の制御に関し複雑な制御を
不要とする。 【構成】ある光量に予め設定した光源１ａ，１ｂとそれ
ぞれの光源１ａ，１ｂに対応したライトガイド３ａ，３
ｂとの間にシャッター２ａ，２ｂを設け、制御部６でシ
ャッター２ａ，２ｂのＯＮ／ＯＦＦを制御してライトガ
イド３ａ，３ｂをまとめるユニット４により合成された
光量をライトガイド５で受光素子８に照光し、検査部７
で受光素子８の出力を取り込み、受光素子８の特性を検
査する。
装置において、ある安定した光量から別のある安定した
光量への立ち上がりに対する特性検査を行い、且つ光源
の寿命を長期化し、また光量の制御に関し複雑な制御を
不要とする。 【構成】ある光量に予め設定した光源１ａ，１ｂとそれ
ぞれの光源１ａ，１ｂに対応したライトガイド３ａ，３
ｂとの間にシャッター２ａ，２ｂを設け、制御部６でシ
ャッター２ａ，２ｂのＯＮ／ＯＦＦを制御してライトガ
イド３ａ，３ｂをまとめるユニット４により合成された
光量をライトガイド５で受光素子８に照光し、検査部７
で受光素子８の出力を取り込み、受光素子８の特性を検
査する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、受光素子特性検査装置
に関し、特に光量の立ち上がりに対する受光素子の特性
検査装置に関する。
に関し、特に光量の立ち上がりに対する受光素子の特性
検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の受光素子特性検査装置について図
面を参照して説明する。
面を参照して説明する。
【０００３】図２は従来の一実施例の受光素子特性検査
装置を示す構成図である。
装置を示す構成図である。
【０００４】この従来の受光素子特性検査装置は、光源
１１と、ライトガイド１２と、光量を制御する制御部１
３と、受光素子１５の出力を取り込み検査する検査部１
４とを有しており、制御部１３の制御電圧によって光源
１１の光量を制御し、ライトガイド１２を介して受光素
子１５に照光し、ある光量に対する受光素子１５の出力
を検査部１４で取り込み、特性検査を行っている。
１１と、ライトガイド１２と、光量を制御する制御部１
３と、受光素子１５の出力を取り込み検査する検査部１
４とを有しており、制御部１３の制御電圧によって光源
１１の光量を制御し、ライトガイド１２を介して受光素
子１５に照光し、ある光量に対する受光素子１５の出力
を検査部１４で取り込み、特性検査を行っている。
【０００５】図３は従来の他の実施例の受光素子特性検
査装置を示す構成図である。
査装置を示す構成図である。
【０００６】この従来の受光素子特性検査装置は、光源
１１と、ライトガイド１２と、光源１１とライトガイド
１２の間に設けられた絞り１６と、絞り量を制御する制
御部１３と、受光素子１５の出力を取り込み、検査を行
う検査部１４とを有しており、光源１１の光量は一定に
保ちながら、制御部１３からの信号で絞り１６の絞り量
を制御することによって光量を制御し、ライトガイド１
２を介して受光素子１５に照光し、ある光量に対する受
光素子１５の出力を検査部１４で取り込み、特性検査を
行っている。
１１と、ライトガイド１２と、光源１１とライトガイド
１２の間に設けられた絞り１６と、絞り量を制御する制
御部１３と、受光素子１５の出力を取り込み、検査を行
う検査部１４とを有しており、光源１１の光量は一定に
保ちながら、制御部１３からの信号で絞り１６の絞り量
を制御することによって光量を制御し、ライトガイド１
２を介して受光素子１５に照光し、ある光量に対する受
光素子１５の出力を検査部１４で取り込み、特性検査を
行っている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の受光素
子特性検査装置では、光源の光量を制御部からの制御電
圧により変化させるため、光源の寿命が短くなり、また
光源の光量が制定するまで時間を要するため、ある安定
した光量から、別のある安定した光量への立ち上がりに
対する特性検査が行えなかった。あるいは光量を絞り量
で制御するために、絞り量に対する複雑な制御が必要で
あった。
子特性検査装置では、光源の光量を制御部からの制御電
圧により変化させるため、光源の寿命が短くなり、また
光源の光量が制定するまで時間を要するため、ある安定
した光量から、別のある安定した光量への立ち上がりに
対する特性検査が行えなかった。あるいは光量を絞り量
で制御するために、絞り量に対する複雑な制御が必要で
あった。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の受光素子特性検
査装置は、複数の光量に予め設定した複数の光源と、そ
れに対応する数の第一のライトガイドと、それぞれの光
源と第一のライトガイドとの間に設けたシャッターと、
複数の第一のライトガイドをまとめるユニットと、ユニ
ットにより合成された光量を受光素子に照光する第二の
ライトガイドと、シャッターのＯＮ／ＯＦＦを制御する
制御部と、受光素子の出力を取り込み検査する検査部と
を備えることを特徴とする。
査装置は、複数の光量に予め設定した複数の光源と、そ
れに対応する数の第一のライトガイドと、それぞれの光
源と第一のライトガイドとの間に設けたシャッターと、
複数の第一のライトガイドをまとめるユニットと、ユニ
ットにより合成された光量を受光素子に照光する第二の
ライトガイドと、シャッターのＯＮ／ＯＦＦを制御する
制御部と、受光素子の出力を取り込み検査する検査部と
を備えることを特徴とする。
【０００９】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【００１０】図１は本発明による受光素子特性検査装置
の一実施例を示す構成図である。
の一実施例を示す構成図である。
【００１１】本実施例の受光素子特性検査装置は、ある
光量に予め設定した光源１ａ，１ｂと、それに対応した
ライトガイド３ａ，３ｂと、それぞれの光源とライトガ
イドとの間に設けたシャッター２ａ，２ｂと、ライトガ
イド３ａ，３ｂをまとめるユニット４と、ユニット４に
より合成された光量を受光素子８に照光するライトガイ
ド５と、シャッター２ａ，２ｂのＯＮ／ＯＦＦを制御す
る制御部６と、受光素子８の出力を取り込み、特性を検
査する検査部７とから構成されている。
光量に予め設定した光源１ａ，１ｂと、それに対応した
ライトガイド３ａ，３ｂと、それぞれの光源とライトガ
イドとの間に設けたシャッター２ａ，２ｂと、ライトガ
イド３ａ，３ｂをまとめるユニット４と、ユニット４に
より合成された光量を受光素子８に照光するライトガイ
ド５と、シャッター２ａ，２ｂのＯＮ／ＯＦＦを制御す
る制御部６と、受光素子８の出力を取り込み、特性を検
査する検査部７とから構成されている。
【００１２】次に、本実施例の受光素子特性検査装置の
動作について図１を参照して説明する。
動作について図１を参照して説明する。
【００１３】まず受光素子８に対して照光していない状
態から、光源１ａに設定した光量までの立ち上がりに対
する受光素子８の特性検査を行う場合には、シャッター
２ａ，２ｂを閉じている状態から、制御部６の信号によ
りシャッター２ａを開口することで、受光素子８には光
源１ａに設定した光量がライトガイド５を介して照光さ
れる。そのときの出力を検査部７で取り込むことで、照
光していない状態から、光源１ａに設定した光量までの
立ち上がりに対する、受光素子８の特性検査が行える。
態から、光源１ａに設定した光量までの立ち上がりに対
する受光素子８の特性検査を行う場合には、シャッター
２ａ，２ｂを閉じている状態から、制御部６の信号によ
りシャッター２ａを開口することで、受光素子８には光
源１ａに設定した光量がライトガイド５を介して照光さ
れる。そのときの出力を検査部７で取り込むことで、照
光していない状態から、光源１ａに設定した光量までの
立ち上がりに対する、受光素子８の特性検査が行える。
【００１４】次に光源１ａに設定した光量から、光源１
ａ，１ｂで同時照光した時の光量までの立ち上がりに対
する、受光素子８の特性検査を行う場合は、シャッター
２ａを開口し、シャッター２ｂを閉じた状態から、制御
部６の信号によりシャッター２ｂを開口することで、受
光素子８には光源１ａに設定した光量と、光源１ｂに設
定した光量がユニット４により合成され、ライトガイド
５を介して照光される。そのときの出力を検査部７で取
り込むことで、光源１ａに設定した光量から、光源１
ａ，１ｂで同時照光した時の光量までの立ち上がりに対
する、受光素子８の特性検査が行える。
ａ，１ｂで同時照光した時の光量までの立ち上がりに対
する、受光素子８の特性検査を行う場合は、シャッター
２ａを開口し、シャッター２ｂを閉じた状態から、制御
部６の信号によりシャッター２ｂを開口することで、受
光素子８には光源１ａに設定した光量と、光源１ｂに設
定した光量がユニット４により合成され、ライトガイド
５を介して照光される。そのときの出力を検査部７で取
り込むことで、光源１ａに設定した光量から、光源１
ａ，１ｂで同時照光した時の光量までの立ち上がりに対
する、受光素子８の特性検査が行える。
【００１５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の受光素子
特性検査装置は、複数の光量に予め設定した複数の光源
と、それに対応する数のライトガイドと、それぞれの光
源とライトガイドの間に設けたシャッター機構と、複数
のライトガイドをまとめるユニットと、ユニットにより
合成された光量を受光素子に照光するライトガイドと、
シャッターのＯＮ／ＯＦＦを制御する制御部と、受光素
子の出力を取り込み検査する検査部とを備えることによ
り、光量の変更をシャッターのＯＮ／ＯＦＦの信号だけ
で行えるため、光源の寿命が長期化し、ある安定した光
量から、別のある安定した光量への立ち上がりに対する
特性検査が行え、また絞り量に対する複雑な制御を必要
としないという効果を有する。
特性検査装置は、複数の光量に予め設定した複数の光源
と、それに対応する数のライトガイドと、それぞれの光
源とライトガイドの間に設けたシャッター機構と、複数
のライトガイドをまとめるユニットと、ユニットにより
合成された光量を受光素子に照光するライトガイドと、
シャッターのＯＮ／ＯＦＦを制御する制御部と、受光素
子の出力を取り込み検査する検査部とを備えることによ
り、光量の変更をシャッターのＯＮ／ＯＦＦの信号だけ
で行えるため、光源の寿命が長期化し、ある安定した光
量から、別のある安定した光量への立ち上がりに対する
特性検査が行え、また絞り量に対する複雑な制御を必要
としないという効果を有する。
【図１】本発明による受光素子特性検査装置の一実施例
を示す構成図である。
を示す構成図である。
【図２】従来の一実施例の受光素子特性検査装置を示す
構成図である。
構成図である。
【図３】従来の他の実施例の受光素子特性検査装置を示
す構成図である。
す構成図である。
１ａ，１ｂ 光源 ２ａ，２ｂ シャッター ３ａ, ３ｂ ライトガイド ４ ユニット ５ ライトガイド ６ 制御部 ７ 検査部 ８ 受光素子 １１ 光源 １２ ライトガイド １３ 制御部 １４ 検査部 １５ 受光素子 １６ 絞り
Claims (1)
- 【請求項１】 複数の光量に予め設定した複数の光源
と、それに対応する数の第一のライトガイドと、それぞ
れの光源と第一のライトガイドとの間に設けたシャッタ
ーと、前記複数の第一のライトガイドをまとめるユニッ
トと、前記ユニットにより合成された光量を受光素子に
照光する第二のライトガイドと、前記シャッターのＯＮ
／ＯＦＦを制御する制御部と、前記受光素子の出力を取
り込み検査する検査部とを備えることを特徴とする受光
素子特性検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15649393A JPH0712678A (ja) | 1993-06-28 | 1993-06-28 | 受光素子特性検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15649393A JPH0712678A (ja) | 1993-06-28 | 1993-06-28 | 受光素子特性検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0712678A true JPH0712678A (ja) | 1995-01-17 |
Family
ID=15628963
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15649393A Pending JPH0712678A (ja) | 1993-06-28 | 1993-06-28 | 受光素子特性検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0712678A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000508821A (ja) * | 1996-04-17 | 2000-07-11 | ディーコン アクティー ゼルスカブ | 光を制御する方法および装置 |
| JP2013181765A (ja) * | 2012-02-29 | 2013-09-12 | Kyocera Document Solutions Inc | 指向性角度測定システム及び指向性角度測定方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03231135A (ja) * | 1990-02-06 | 1991-10-15 | Yokogawa Electric Corp | 光パワーメータのリニアリティ測定器 |
-
1993
- 1993-06-28 JP JP15649393A patent/JPH0712678A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03231135A (ja) * | 1990-02-06 | 1991-10-15 | Yokogawa Electric Corp | 光パワーメータのリニアリティ測定器 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000508821A (ja) * | 1996-04-17 | 2000-07-11 | ディーコン アクティー ゼルスカブ | 光を制御する方法および装置 |
| JP2013181765A (ja) * | 2012-02-29 | 2013-09-12 | Kyocera Document Solutions Inc | 指向性角度測定システム及び指向性角度測定方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19960402 |