JPH07120322A - 光増幅器雑音指数測定装置 - Google Patents
光増幅器雑音指数測定装置Info
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- JPH07120322A JPH07120322A JP26931093A JP26931093A JPH07120322A JP H07120322 A JPH07120322 A JP H07120322A JP 26931093 A JP26931093 A JP 26931093A JP 26931093 A JP26931093 A JP 26931093A JP H07120322 A JPH07120322 A JP H07120322A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】
【目的】光増幅器のピーク波長での雑音レベルを自動で
決定して雑音指数を算出し、測定者の違いによる測定デ
ータのばらつきをなくす。 【構成】光スペクトラムアナライザ１で光増幅器の出力
を入力しスペクトラムを測定し、測定した各ｎ個の波長
Ｘと電力値Ｙをメモリ２に保存し、測定したピーク時の
波長Ｘｐと電力値Ｙｐをメモリ３に保存する。微分部４
でメモリ２の値を微分し、結果を入力し０クロス点検出
部５で０クロス点を探す。ピーク決定部６で０クロス点
を入力し０クロス点であるピーク波長Ｘｐから左右１番
目の０クロス点波長をＸｌ・Ｘｒとし、雑音関数作成部
７でメモリ２の０番目の値からＸｌの電力値Ｙ（０〜
ｌ）とＸｒからｎ番目の電力値Ｙ（ｒ〜ｎ）を取り出し
関数を作成し、雑音電力決定部８で同関数からＸｐ時の
雑音電力Ｎｐを算出する。雑音指数算出部９でピーク電
力値Ｙｐと雑音電力Ｎｐとから雑音指数を算出する。
決定して雑音指数を算出し、測定者の違いによる測定デ
ータのばらつきをなくす。 【構成】光スペクトラムアナライザ１で光増幅器の出力
を入力しスペクトラムを測定し、測定した各ｎ個の波長
Ｘと電力値Ｙをメモリ２に保存し、測定したピーク時の
波長Ｘｐと電力値Ｙｐをメモリ３に保存する。微分部４
でメモリ２の値を微分し、結果を入力し０クロス点検出
部５で０クロス点を探す。ピーク決定部６で０クロス点
を入力し０クロス点であるピーク波長Ｘｐから左右１番
目の０クロス点波長をＸｌ・Ｘｒとし、雑音関数作成部
７でメモリ２の０番目の値からＸｌの電力値Ｙ（０〜
ｌ）とＸｒからｎ番目の電力値Ｙ（ｒ〜ｎ）を取り出し
関数を作成し、雑音電力決定部８で同関数からＸｐ時の
雑音電力Ｎｐを算出する。雑音指数算出部９でピーク電
力値Ｙｐと雑音電力Ｎｐとから雑音指数を算出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光増幅器雑音指数測定
装置に関する。
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の公知例としては、ＹＨＰ株式会社
の光通信計測シンポジウム’９３で使用されたセミナ・
テキストＭＡＹ’９３の「Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ
Ａｍｐｌｉｆｉｅｒｓ…Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ ｏ
ｆ Ｇａｉｎ ａｎｄ Ｎｏｉｓｅ Ｆｉｇｕｒｅ」に
記載されているものが知られている。
の光通信計測シンポジウム’９３で使用されたセミナ・
テキストＭＡＹ’９３の「Ｏｐｔｉｃａｌ Ｆｉｂｅｒ
Ａｍｐｌｉｆｉｅｒｓ…Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ ｏ
ｆ Ｇａｉｎ ａｎｄ Ｎｏｉｓｅ Ｆｉｇｕｒｅ」に
記載されているものが知られている。
【０００３】この従来の光増幅器雑音指数測定装置につ
いて図面を参照して説明する。
いて図面を参照して説明する。
【０００４】図３は従来例の光増幅器雑音指数測定装置
を示すブロック図、図３（ａ）は従来例の光増幅器雑音
指数測定装置のブロック図、図３（ｂ）は従来例の光増
幅器雑音指数測定装置のメモリ２に入力されるスペクト
ラム図形データを示す図、図３（ｃ）は従来例の光増幅
器雑音指数測定装置のＸｐ±Δλ電力取り出し部１５で
取り出されたスペクトラム図形データを示す図である。
を示すブロック図、図３（ａ）は従来例の光増幅器雑音
指数測定装置のブロック図、図３（ｂ）は従来例の光増
幅器雑音指数測定装置のメモリ２に入力されるスペクト
ラム図形データを示す図、図３（ｃ）は従来例の光増幅
器雑音指数測定装置のＸｐ±Δλ電力取り出し部１５で
取り出されたスペクトラム図形データを示す図である。
【０００５】従来例の光増幅器雑音指数測定装置は、光
増幅器の出力を入力しスペクトラムを測定する光スペク
トラムアナライザ１と、光スペクトラムアナライザ１で
測定した各ｎ個の波長Ｘと電力値Ｙとを保存するメモリ
２と、メモリ２のデータを入力しＹａ１６、Ｙｂ１７を
取り出すＸｐ±Δλ電力取り出し部１５と、取り出され
たデータを入力しピーク波長での雑音電力Ｎｐを算出す
る雑音電力決定部１８と、メモリ３に保存されているピ
ーク電力値Ｙｐと雑音電力値Ｎｐとから雑音指数を算出
する雑音指数算出部９と、光スペクトラムアナライザ１
で測定したピーク時の波長Ｘｐと電力値Ｙｐとを保存す
るメモリ３とから構成される。
増幅器の出力を入力しスペクトラムを測定する光スペク
トラムアナライザ１と、光スペクトラムアナライザ１で
測定した各ｎ個の波長Ｘと電力値Ｙとを保存するメモリ
２と、メモリ２のデータを入力しＹａ１６、Ｙｂ１７を
取り出すＸｐ±Δλ電力取り出し部１５と、取り出され
たデータを入力しピーク波長での雑音電力Ｎｐを算出す
る雑音電力決定部１８と、メモリ３に保存されているピ
ーク電力値Ｙｐと雑音電力値Ｎｐとから雑音指数を算出
する雑音指数算出部９と、光スペクトラムアナライザ１
で測定したピーク時の波長Ｘｐと電力値Ｙｐとを保存す
るメモリ３とから構成される。
【０００６】次に、この従来例の光増幅器雑音指数測定
装置の動作について図面を参照して説明する。
装置の動作について図面を参照して説明する。
【０００７】図３（ａ）において、光増幅器の出力を光
スペクトラムアナライザ１に入力しスペクトラム図形と
そのピーク値とを測定する。図３（ｂ）に示すスペクト
ラム図形データ（波長、電力）をメモリ２に、ピーク値
（波長、電力）をメモリ３に取り込み保存する。図３
（ｃ）に示すようにメモリ２のデータをＸｐ±Δλ電力
取り出し部１５に入力しＹａ１６、Ｙｂ１７を取り出
す。取り出されたデータを雑音電力決定部１８に入力し
ピーク波長での雑音電力Ｎｐを算出する（２点の平均電
力値Ｎｐ＝（Ｙａ＋Ｙｂ）÷２）。雑音指数算出部９で
メモリ３に保存されているピーク電力値Ｙｐと雑音電力
値Ｎｐとから以下の雑音指数算出方法により雑音指数を
算出する。
スペクトラムアナライザ１に入力しスペクトラム図形と
そのピーク値とを測定する。図３（ｂ）に示すスペクト
ラム図形データ（波長、電力）をメモリ２に、ピーク値
（波長、電力）をメモリ３に取り込み保存する。図３
（ｃ）に示すようにメモリ２のデータをＸｐ±Δλ電力
取り出し部１５に入力しＹａ１６、Ｙｂ１７を取り出
す。取り出されたデータを雑音電力決定部１８に入力し
ピーク波長での雑音電力Ｎｐを算出する（２点の平均電
力値Ｎｐ＝（Ｙａ＋Ｙｂ）÷２）。雑音指数算出部９で
メモリ３に保存されているピーク電力値Ｙｐと雑音電力
値Ｎｐとから以下の雑音指数算出方法により雑音指数を
算出する。
【０００８】この雑音指数算出方法は数式１による。
【０００９】
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の従来雑
音電力の決定は測定者の目視に頼るか、図３に示したよ
うにピーク波長を中心として左右にΔλ波長分ずらした
波長での雑音電力の平均値をピーク波長での雑音電力と
していたが、前者の場合は測定者間の測定値のばらつき
が生じたり、後者の場合はピークの線幅に依存してその
都度Δλの値を変更する必要がある。
音電力の決定は測定者の目視に頼るか、図３に示したよ
うにピーク波長を中心として左右にΔλ波長分ずらした
波長での雑音電力の平均値をピーク波長での雑音電力と
していたが、前者の場合は測定者間の測定値のばらつき
が生じたり、後者の場合はピークの線幅に依存してその
都度Δλの値を変更する必要がある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明の光増幅器雑音指
数測定装置は、光増幅器の出力信号を入力しスペクトラ
ムを測定する光スペクトラムアナライザと、光スペクト
ラムアナライザで測定したｎ個の波長データＸとｎ個の
電力データＹとを保存する第一のメモリと、光スペクト
ラムアナライザで測定したピーク時の波長データＸｐと
電力データＹｐとを保存する第二のメモリと、第一のメ
モリに保存されているデータを入力し微分する微分部
と、微分部にて微分されたデータを入力し０クロスとな
る点を検出する０クロス点検出部と、０クロス検出部か
らのデータを入力し０クロス点であるピーク波長Ｘｐか
ら左に１番目の０クロス点波長をＸｌとしＸｐから右に
１番目の０クロス波長をＸｒとするピーク立ち上がり／
立ち下がり決定部と、第一のメモリに保存されているデ
ータのＸ（０）からピーク立ち上がり／立ち下がり決定
部で決められた０クロス点Ｘｌまでの電力値Ｙ（０〜
ｌ）とＸｒからＸ（ｎ）までの電力値Ｙ（ｒ〜ｎ）とを
取り出し雑音電力近似関数を作成する雑音関数作成部
と、雑音関数作成部にて作成された関数に第二のメモリ
に保存されているピーク波長データＸｐ時の雑音電力Ｎ
ｐを算出する雑音電力決定部と、第二のメモリに保存さ
れているピーク電力値Ｙｐと雑音電力決定部で求められ
た雑音電力Ｎｐとから雑音指数を算出する雑音指数算出
部とを含むことを特徴としている。
数測定装置は、光増幅器の出力信号を入力しスペクトラ
ムを測定する光スペクトラムアナライザと、光スペクト
ラムアナライザで測定したｎ個の波長データＸとｎ個の
電力データＹとを保存する第一のメモリと、光スペクト
ラムアナライザで測定したピーク時の波長データＸｐと
電力データＹｐとを保存する第二のメモリと、第一のメ
モリに保存されているデータを入力し微分する微分部
と、微分部にて微分されたデータを入力し０クロスとな
る点を検出する０クロス点検出部と、０クロス検出部か
らのデータを入力し０クロス点であるピーク波長Ｘｐか
ら左に１番目の０クロス点波長をＸｌとしＸｐから右に
１番目の０クロス波長をＸｒとするピーク立ち上がり／
立ち下がり決定部と、第一のメモリに保存されているデ
ータのＸ（０）からピーク立ち上がり／立ち下がり決定
部で決められた０クロス点Ｘｌまでの電力値Ｙ（０〜
ｌ）とＸｒからＸ（ｎ）までの電力値Ｙ（ｒ〜ｎ）とを
取り出し雑音電力近似関数を作成する雑音関数作成部
と、雑音関数作成部にて作成された関数に第二のメモリ
に保存されているピーク波長データＸｐ時の雑音電力Ｎ
ｐを算出する雑音電力決定部と、第二のメモリに保存さ
れているピーク電力値Ｙｐと雑音電力決定部で求められ
た雑音電力Ｎｐとから雑音指数を算出する雑音指数算出
部とを含むことを特徴としている。
【００１２】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【００１３】図１は本発明による光増幅器雑音指数測定
装置の一実施例を示すブロック図、図１（ａ）は本実施
例の光増幅器雑音指数測定装置のブロック図、図１
（ｂ）は本実施例の光増幅器雑音指数測定装置のメモリ
２に入力されるスペクトラム図形データを示す図、図１
（ｃ）は本実施例の光増幅器雑音指数測定装置の微分部
４で微分された値とスペクトラム図形データとの関係を
示す図、図１（ｄ）は本実施例の光増幅器雑音指数測定
装置のＯクロス点検出部５で検出された値とスペクトラ
ム図形データとの関係を示す図、図１（ｅ）は本実施例
の光増幅器雑音指数測定装置のピーク立上り下り決定部
６で検出された値とスペクトラム図形データとの関係を
示す図、図２は本実施例の光増幅器雑音指数測定装置で
雑音電力値Ｎｐを決定する過程を説明するための図、図
２（ａ）はスペクトラム図形データを示す図、図２
（ｂ）はスペクトラム図形データを微分した値を示す
図、図２（ｃ）は近似関数より求められた雑音電力値を
示す図である。
装置の一実施例を示すブロック図、図１（ａ）は本実施
例の光増幅器雑音指数測定装置のブロック図、図１
（ｂ）は本実施例の光増幅器雑音指数測定装置のメモリ
２に入力されるスペクトラム図形データを示す図、図１
（ｃ）は本実施例の光増幅器雑音指数測定装置の微分部
４で微分された値とスペクトラム図形データとの関係を
示す図、図１（ｄ）は本実施例の光増幅器雑音指数測定
装置のＯクロス点検出部５で検出された値とスペクトラ
ム図形データとの関係を示す図、図１（ｅ）は本実施例
の光増幅器雑音指数測定装置のピーク立上り下り決定部
６で検出された値とスペクトラム図形データとの関係を
示す図、図２は本実施例の光増幅器雑音指数測定装置で
雑音電力値Ｎｐを決定する過程を説明するための図、図
２（ａ）はスペクトラム図形データを示す図、図２
（ｂ）はスペクトラム図形データを微分した値を示す
図、図２（ｃ）は近似関数より求められた雑音電力値を
示す図である。
【００１４】図１において、この実施例の光増幅器雑音
指数測定装置は、光増幅器の出力を入力しスペクトラム
を測定する光スペクトラムアナライザ１と、光スペクト
ラムアナライザ１で測定した各ｎ個の波長Ｘと電力値Ｙ
とを保存するメモリ２と、同じく測定したピーク時の波
長Ｘｐと電力値Ｙｐとを保存するメモリ３と、メモリ２
の値を微分する微分部４と、微分された値を入力し０ク
ロスとなる点を探す０クロス点検出部５と、０クロス点
を入力し０クロス点であるピーク波長Ｘｐから左右１番
目の０クロス点波長をＸｌ・Ｘｒとするピーク立上り／
立下り決定部６と、メモリ２の０番目の値からＸｌまで
の電力値Ｙ（０〜ｌ）とＸｒからｎ番目までの電力値Ｙ
（ｒ〜ｎ）とを取り出し関数を作成する雑音関数作成部
７と、同関数からＸｐ時の雑音電力Ｎｐを算出する雑音
電力決定部８と、ピーク電力値Ｙｐと雑音電力Ｎｐとか
ら雑音指数を算出する雑音指数算出部９とから構成され
る。
指数測定装置は、光増幅器の出力を入力しスペクトラム
を測定する光スペクトラムアナライザ１と、光スペクト
ラムアナライザ１で測定した各ｎ個の波長Ｘと電力値Ｙ
とを保存するメモリ２と、同じく測定したピーク時の波
長Ｘｐと電力値Ｙｐとを保存するメモリ３と、メモリ２
の値を微分する微分部４と、微分された値を入力し０ク
ロスとなる点を探す０クロス点検出部５と、０クロス点
を入力し０クロス点であるピーク波長Ｘｐから左右１番
目の０クロス点波長をＸｌ・Ｘｒとするピーク立上り／
立下り決定部６と、メモリ２の０番目の値からＸｌまで
の電力値Ｙ（０〜ｌ）とＸｒからｎ番目までの電力値Ｙ
（ｒ〜ｎ）とを取り出し関数を作成する雑音関数作成部
７と、同関数からＸｐ時の雑音電力Ｎｐを算出する雑音
電力決定部８と、ピーク電力値Ｙｐと雑音電力Ｎｐとか
ら雑音指数を算出する雑音指数算出部９とから構成され
る。
【００１５】次に、本実施例の光増幅器雑音指数測定装
置の動作について図面を参照して説明する。
置の動作について図面を参照して説明する。
【００１６】図１（ａ）において、光増幅器の出力を光
スペクトラムアナライザ１に入力しスペクトラム図形と
そのピーク値を測定する。図１（ｂ）および図２（ａ）
に示すスペクトラム図形データ（波長、電力）をメモリ
２に、ピーク値（波長、電力）をメモリ３に取り込み保
存する。図１（ｃ）に示すようにメモリ２のデータを微
分部４に入力し微分する。図１（ｄ）に示すように微分
されたデータを０クロス点検出部５に入力し０クロスと
なる点を検出する。検出された０クロスデータをピーク
立ち上がり／立ち下がり決定部６に入力する。図１
（ｅ）に示すようにピーク立ち上がり／立ち下がり決定
部６ではピーク波長Ｘｐを中心に左側に１番目の０クロ
ス点Ｘｌ１１（ピーク立ち上がり点１３）とＸｐを中心
に右側に１番目の０クロス点Ｘｒ１２（ピーク立ち下が
り点１４）とを決定する。図２（ｂ）に示すように雑音
関数作成部７ではメモリ２に保存されているデータの０
番目から０クロス点Ｘｌ１１までの電力値と、Ｘｒから
０クロス点Ｘｒ１２とからｎ番目までの電力値から雑音
部の近似関数を作成する（最小２乗法等による）。図２
（ｃ）に示すように雑音電力決定部８では雑音関数作成
部７で作成された近似関数にメモリ３に保存されている
ピーク時の波長Ｘｐを代入しその時の雑音電力値Ｎｐを
決定する。雑音指数算出部９でメモリ３に保存されてい
るピーク電力値Ｙｐと雑音電力値Ｎｐから以下の雑音指
数算出方法により雑音指数を算出する。
スペクトラムアナライザ１に入力しスペクトラム図形と
そのピーク値を測定する。図１（ｂ）および図２（ａ）
に示すスペクトラム図形データ（波長、電力）をメモリ
２に、ピーク値（波長、電力）をメモリ３に取り込み保
存する。図１（ｃ）に示すようにメモリ２のデータを微
分部４に入力し微分する。図１（ｄ）に示すように微分
されたデータを０クロス点検出部５に入力し０クロスと
なる点を検出する。検出された０クロスデータをピーク
立ち上がり／立ち下がり決定部６に入力する。図１
（ｅ）に示すようにピーク立ち上がり／立ち下がり決定
部６ではピーク波長Ｘｐを中心に左側に１番目の０クロ
ス点Ｘｌ１１（ピーク立ち上がり点１３）とＸｐを中心
に右側に１番目の０クロス点Ｘｒ１２（ピーク立ち下が
り点１４）とを決定する。図２（ｂ）に示すように雑音
関数作成部７ではメモリ２に保存されているデータの０
番目から０クロス点Ｘｌ１１までの電力値と、Ｘｒから
０クロス点Ｘｒ１２とからｎ番目までの電力値から雑音
部の近似関数を作成する（最小２乗法等による）。図２
（ｃ）に示すように雑音電力決定部８では雑音関数作成
部７で作成された近似関数にメモリ３に保存されている
ピーク時の波長Ｘｐを代入しその時の雑音電力値Ｎｐを
決定する。雑音指数算出部９でメモリ３に保存されてい
るピーク電力値Ｙｐと雑音電力値Ｎｐから以下の雑音指
数算出方法により雑音指数を算出する。
【００１７】この雑音指数算出方法は数式１による。
【００１８】
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光増幅器
雑音指数測定装置は、ピークの立ち上がり立ち下がりを
判断することにより、ピークの幅には依存することな
く、また、振動する複数の雑音電力データから関数近似
を行うことにより、２点の電力データの平均からピーク
波長雑音電力値を算出するより確度が向上し、測定デー
タのばらつきを最小限に抑えることができるという効果
を奏する。
雑音指数測定装置は、ピークの立ち上がり立ち下がりを
判断することにより、ピークの幅には依存することな
く、また、振動する複数の雑音電力データから関数近似
を行うことにより、２点の電力データの平均からピーク
波長雑音電力値を算出するより確度が向上し、測定デー
タのばらつきを最小限に抑えることができるという効果
を奏する。
【図１】本発明による光増幅器雑音指数測定装置の一実
施例を示すブロック図である。図１（ａ）は本実施例の
光増幅器雑音指数測定装置のブロック図である。図１
（ｂ）は本実施例の光増幅器雑音指数測定装置のメモリ
２に入力されるスペクトラム図形データを示す図であ
る。図１（ｃ）は本実施例の光増幅器雑音指数測定装置
の微分部４で微分された値とスペクトラム図形データと
の関係を示す図である。図１（ｄ）は本実施例の光増幅
器雑音指数測定装置のＯクロス点検出部５で検出された
値とスペクトラム図形データとの関係を示す図である。
図１（ｅ）は本実施例の光増幅器雑音指数測定装置のピ
ーク立上り下り決定部６で検出された値とスペクトラム
図形データとの関係を示す図である。
施例を示すブロック図である。図１（ａ）は本実施例の
光増幅器雑音指数測定装置のブロック図である。図１
（ｂ）は本実施例の光増幅器雑音指数測定装置のメモリ
２に入力されるスペクトラム図形データを示す図であ
る。図１（ｃ）は本実施例の光増幅器雑音指数測定装置
の微分部４で微分された値とスペクトラム図形データと
の関係を示す図である。図１（ｄ）は本実施例の光増幅
器雑音指数測定装置のＯクロス点検出部５で検出された
値とスペクトラム図形データとの関係を示す図である。
図１（ｅ）は本実施例の光増幅器雑音指数測定装置のピ
ーク立上り下り決定部６で検出された値とスペクトラム
図形データとの関係を示す図である。
【図２】本実施例の光増幅器雑音指数測定装置で雑音電
力値Ｎｐを決定する過程を説明するための図である。図
２（ａ）はスペクトラム図形データを示す図である。図
２（ｂ）はスペクトラム図形データを微分した値を示す
図である。図２（ｃ）は近似関数より求められた雑音電
力値を示す図である。
力値Ｎｐを決定する過程を説明するための図である。図
２（ａ）はスペクトラム図形データを示す図である。図
２（ｂ）はスペクトラム図形データを微分した値を示す
図である。図２（ｃ）は近似関数より求められた雑音電
力値を示す図である。
【図３】従来例の光増幅器雑音指数測定装置を示すブロ
ック図である。図３（ａ）は従来例の光増幅器雑音指数
測定装置のブロック図である。図３（ｂ）は従来例の光
増幅器雑音指数測定装置のメモリ２に入力されるスペク
トラム図形データを示す図である。図３（ｃ）は従来例
の光増幅器雑音指数測定装置のＸｐ±Δλ電力取り出し
部１５で取り出されたスペクトラム図形データを示す図
である。
ック図である。図３（ａ）は従来例の光増幅器雑音指数
測定装置のブロック図である。図３（ｂ）は従来例の光
増幅器雑音指数測定装置のメモリ２に入力されるスペク
トラム図形データを示す図である。図３（ｃ）は従来例
の光増幅器雑音指数測定装置のＸｐ±Δλ電力取り出し
部１５で取り出されたスペクトラム図形データを示す図
である。
１ 光スペクトラムアナライザ ２，３ メモリ ４ 微分部 ５ ０クロス点検出部 ６ ピーク立ち上がり／立ち下がり決定部 ７ 雑音関数作成部 ８，１８ 雑音電力決定部 ９ 雑音指数算出部 １０，１１，１２ ０クロス点 １３ ピーク立ち上がり点 １４ ピーク立ち下がり点 １５ ピーク波長±Δλ電力取り出し部 １６，１７ ピーク波長±Δλ時電力値
Claims (1)
- 【請求項１】（Ａ）光増幅器の出力信号を入力しスペク
トラムを測定する光スペクトラムアナライザと、（Ｂ）
前記光スペクトラムアナライザで測定したｎ個の波長デ
ータＸとｎ個の電力データＹとを保存する第一のメモリ
と、（Ｃ）前記光スペクトラムアナライザで測定したピ
ーク時の波長データＸｐと電力データＹｐとを保存する
第二のメモリと、（Ｄ）前記第一のメモリに保存されて
いるデータを入力し微分する微分部と、（Ｅ）前記微分
部にて微分されたデータを入力し０クロスとなる点を検
出する０クロス点検出部と、（Ｆ）前記０クロス検出部
からのデータを入力し０クロス点であるピーク波長Ｘｐ
から左に１番目の０クロス点波長をＸｌとしＸｐから右
に１番目の０クロス波長をＸｒとするピーク立ち上がり
／立ち下がり決定部と、（Ｇ）前記第一のメモリに保存
されているデータのＸ（０）から前記ピーク立ち上がり
／立ち下がり決定部で決められた０クロス点Ｘｌまでの
電力値Ｙ（０〜ｌ）とＸｒからＸ（ｎ）までの電力値Ｙ
（ｒ〜ｎ）とを取り出し雑音電力近似関数を作成する雑
音関数作成部と、（Ｈ）前記雑音関数作成部にて作成さ
れた関数に前記第二のメモリに保存されているピーク波
長データＸｐ時の雑音電力Ｎｐを算出する雑音電力決定
部と、（Ｉ）前記第二のメモリに保存されているピーク
電力値Ｙｐと前記雑音電力決定部で求められた雑音電力
Ｎｐとから雑音指数を算出する雑音指数算出部と、 を含むことを特徴とする光増幅器雑音指数測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26931093A JPH07120322A (ja) | 1993-10-28 | 1993-10-28 | 光増幅器雑音指数測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26931093A JPH07120322A (ja) | 1993-10-28 | 1993-10-28 | 光増幅器雑音指数測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07120322A true JPH07120322A (ja) | 1995-05-12 |
Family
ID=17470563
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26931093A Pending JPH07120322A (ja) | 1993-10-28 | 1993-10-28 | 光増幅器雑音指数測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07120322A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH051953A (ja) * | 1991-06-24 | 1993-01-08 | Shimadzu Corp | ピーク判定方法 |
| JPH05133841A (ja) * | 1991-11-15 | 1993-05-28 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 雑音指数の測定方法及び装置 |
-
1993
- 1993-10-28 JP JP26931093A patent/JPH07120322A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH051953A (ja) * | 1991-06-24 | 1993-01-08 | Shimadzu Corp | ピーク判定方法 |
| JPH05133841A (ja) * | 1991-11-15 | 1993-05-28 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 雑音指数の測定方法及び装置 |
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