JPH07119707B2 - Optical disc inspection method - Google Patents
Optical disc inspection methodInfo
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- JPH07119707B2 JPH07119707B2 JP61261965A JP26196586A JPH07119707B2 JP H07119707 B2 JPH07119707 B2 JP H07119707B2 JP 61261965 A JP61261965 A JP 61261965A JP 26196586 A JP26196586 A JP 26196586A JP H07119707 B2 JPH07119707 B2 JP H07119707B2
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- optical disc
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9506—Optical discs
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光ディスク上の欠陥位置を視覚によって検
査するための方法に関する。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a method for visually inspecting a defect position on an optical disc.
光ディスクの検査には、光ディスクに対してキズ等の欠
陥の検出を行なった後、欠陥の検出された位置の状態を
顕微鏡を用いて視覚的に検査する、というものがある。As an inspection of an optical disk, there is a method of detecting a defect such as a scratch on the optical disk and then visually inspecting the state of the position where the defect is detected using a microscope.
従来この検査では、欠陥の検出された位置自体を直接視
覚的に探し出して該位置の状態を検査するようにしてい
た。Conventionally, in this inspection, the position itself where the defect is detected is directly visually searched to inspect the state of the position.
しかし、このように欠陥検出位置自体を直接視覚的に探
し出すことは、時間と熟練を要し、容易なことではな
い。そのため、このような作業を経た場合には、全体と
しての検査能率が低下することを避けることができなか
った。However, it is time-consuming, proficient, and not easy to directly visually find the defect detection position itself. Therefore, when such a work is performed, it is unavoidable that the inspection efficiency as a whole is lowered.
この発明は上述の点に鑑みてなされたもので、光ディス
ク上の欠陥位置を容易に視覚的に探し出すことができる
方法を提供し、これにより光ディスクの検査能率の向上
を図ろうとするものである。The present invention has been made in view of the above points, and provides a method capable of easily visually locating a defective position on an optical disc, and thereby aims to improve the inspection efficiency of the optical disc.
この発明に係る検査方法は、欠陥検査システムのディス
ク駆動装置に搭載された検査対象となる光ディスクにつ
いて欠陥の検出を行うステップと、前記光ディスクにお
ける、欠陥の検出された位置の円周方向両側近傍に位置
する所定数のバイトにわたり且つ所定数のトラックにか
けて、任意のライトデータパターンを記録するステップ
と、前記ディスク駆動装置から前記光ディスクを取り外
すステップと、取り外された前記光ディスク上において
前記ライトデータパターンが記録された箇所を目印とし
て、前記欠陥の検出された位置を顕微鏡で探し出し、該
位置の視覚的検査を行うステップとを具えたことを特徴
としている。An inspection method according to the present invention comprises a step of detecting a defect in an optical disk to be inspected mounted on a disk drive device of a defect inspection system, and a step of detecting a defect on the optical disk in the vicinity of both sides in the circumferential direction of the position where the defect is detected. Recording an arbitrary write data pattern over a predetermined number of bytes located and over a predetermined number of tracks; removing the optical disk from the disk drive; recording the write data pattern on the removed optical disk. The step of locating the detected position of the defect with a microscope and visually inspecting the position with the detected position as a mark.
本発明は、欠陥検査システムのディスク駆動装置に搭載
された光ディスクに対して、欠陥の検出を行い、欠陥が
検出された場合にはそのディスク駆動装置上でその欠陥
位置を円周方向で挟み、かつトラック方向に延びるよう
な形状となるようにライトデータパターンを記録する。
その後、ディスク駆動装置から光ディスクを取り外し、
顕微鏡を用いてその欠陥位置をライトデータパターンに
基づいて探し出し、欠陥の状態を検査する。The present invention detects a defect with respect to an optical disk mounted in a disk drive device of a defect inspection system, and when a defect is detected, the defect position is sandwiched in the circumferential direction on the disk drive device, In addition, the write data pattern is recorded so as to have a shape that extends in the track direction.
After that, remove the optical disk from the disk drive,
Using a microscope, the defect position is searched for based on the write data pattern, and the defect state is inspected.
ここで、ライトデータパターンは複数バイトにわたりト
ラック方向に延びるような形状で記録されているため、
視覚的に容易に確認し易くなっている。故に、顕微鏡で
その欠陥位置を探し出す場合、まず、このライトデータ
パターンの記録位置が探し出され、次にライトデータパ
ターンの挟まれた付近に存在する欠陥が探し出され、そ
の状態が検査される。従って、本発明によれば、欠陥位
置自体を直接視覚的に探し出すよりも、容易に欠陥位置
を探し出すことができ、検査効率を飛躍的に向上させる
ことができる。Here, since the write data pattern is recorded in a shape that extends in the track direction over a plurality of bytes,
It is easy to check visually. Therefore, when finding the defect position with a microscope, first, the recording position of this write data pattern is searched, then the defect existing near the sandwiched write data pattern is searched, and its state is inspected. . Therefore, according to the present invention, it is possible to easily find the defect position rather than directly visually find the defect position itself, and it is possible to dramatically improve the inspection efficiency.
以下、添付図面を参照してこの発明に係る検査方法の一
実施例を詳細に説明する。An embodiment of an inspection method according to the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings.
まず、光ディスクを欠陥検査システムのディスク駆動装
置に搭載し、該光ディスクに対してキズ等の欠陥の検出
を行なう（第１図のステップ101）。この検出処理自体
は周知の事項なので、その処理内容の説明は省略する。First, the optical disk is mounted on the disk drive device of the defect inspection system, and defects such as scratches are detected on the optical disk (step 101 in FIG. 1). Since this detection processing itself is a well-known matter, the description of the processing content is omitted.
この結果、第２図に示すように光ディスク１上の或るセ
クタ内のデータフィールド内の位置ｘに欠陥が検出され
ると、該セクタ内の、同期信号の記録された位置Ａを基
準の位置として、基準位置Ａから欠陥位置ｘまでの円周
上の距離Paを求める（第１図のステップ102）。As a result, as shown in FIG. 2, when a defect is detected at the position x in the data field in a certain sector on the optical disc 1, the position A where the sync signal is recorded in the sector is used as a reference position. As a result, the distance Pa on the circumference from the reference position A to the defect position x is obtained (step 102 in FIG. 1).
続いて、距離Paよりも僅かに小さな距離P1と、距離Paよ
りも僅かに大きな距離P2とを任意に設定する。そして、
第２図に示すように、基準位置Ａから距離P1の箇所及び
基準位置Ａから距離P2の箇所に、夫々所定のバイト数の
範囲にわたり且つ所定の複数のトラックにかけて、任意
のライトデータパターンを記録する（第１図のステップ
103）。Subsequently, a distance P 1 slightly smaller than the distance Pa and a distance P 2 slightly larger than the distance Pa are arbitrarily set. And
As shown in FIG. 2, an arbitrary write data pattern is provided at a position at a distance P 1 from the reference position A and at a position at a distance P 2 from the reference position A over a predetermined number of bytes and over a plurality of predetermined tracks. Record (step in FIG. 1)
103).
これにより、欠陥位置ｘを間に挟み且つ夫々欠陥位置ｘ
の近傍である２箇所に、ライトデータパターンが記録さ
れる。例えばこのライトデータパターンはノイズのよう
なデータであり、ある程度の範囲にわたってこのような
パターンが書込まれることにより、光ディスクを見たと
きそのパターンの箇所を視覚的に容易に確認し得るよう
になっている。As a result, the defect position x is sandwiched and the defect position x
Write data patterns are recorded at two locations near the. For example, this write data pattern is data like noise, and by writing such a pattern over a certain range, it becomes possible to easily visually confirm the location of the pattern when the optical disc is viewed. ing.
この記録が終了すると、光ディスクを駆動装置から取外
す（第１図のステップ104）。そして、光ディスク上
の、ライトデータパターンの記録された前記２箇所を、
顕微鏡を用いて視覚的に探し出す。これにより、該２箇
所の間に挟まった欠陥位置ｘをも容易に探し出すことが
できる。このようにして探し出された欠陥位置ｘの状態
を、顕微鏡で観察する（第１図のステップ105）。When this recording is completed, the optical disc is removed from the drive unit (step 104 in FIG. 1). Then, on the optical disc, the two locations where the write data pattern is recorded are
Visually seek using a microscope. This makes it possible to easily find the defect position x sandwiched between the two locations. The state of the defect position x thus found is observed with a microscope (step 105 in FIG. 1).
以上のようにして、光ディスクの検査が行なわれる。The optical disc is inspected as described above.
尚、この実施例では光ディスクに対してこの発明に係る
検査方法を適用しているが、光磁気ディスク等他の種類
の光学式ディスク型記録媒体に対してこの検査方法を適
用してもよい。Although the inspection method according to the present invention is applied to the optical disk in this embodiment, the inspection method may be applied to other types of optical disk type recording media such as a magneto-optical disk.
以上の通り、この発明に係る検査方法によれば、光ディ
スク上の欠陥位置を容易に視覚的に探し出すことができ
る。したがって、該欠陥位置の状態を観察する処理を含
む光ディスクの検査において、検査能率の向上を図るこ
とができるという効果を奏する。As described above, according to the inspection method of the present invention, the defect position on the optical disk can be easily found visually. Therefore, in the inspection of the optical disc including the process of observing the state of the defect position, the inspection efficiency can be improved.
第１図はこの発明に係る検査方法を用いた光ディスクの
検査の過程の一例を示すフローチャート、第２図は光デ
ィスク上の欠陥位置の存在するセクタ及び該セクタ内の
ライトデータパターンの記録位置等を示す図である。 １……光ディスクFIG. 1 is a flow chart showing an example of a process of inspecting an optical disc using the inspection method according to the present invention, and FIG. 2 shows a sector where a defective position exists on the optical disc and a recording position of a write data pattern in the sector. FIG. 1 ... Optical disc
Claims (1)
載された検査対象となる光ディスクについて欠陥の検出
を行うステップと、 前記光ディスクにおける、欠陥の検出された位置の円周
方向両側近傍に位置する所定数のバイトにわたり且つ所
定数のトラックにかけて、任意のライトデータパターン
を記録するステップと、 前記ディスク駆動装置から前記光ディスクを取り外すス
テップと、 取り外された前記光ディスク上において前記ライトデー
タパターンが記録された箇所を目印として、前記欠陥の
検出された位置を顕微鏡で探し出し、該位置の視覚的検
査を行うステップと を具えたことを特徴とする光ディスクの検査方法。1. A step of detecting a defect in an optical disk to be inspected, which is mounted in a disk drive device of a defect inspection system, and a predetermined position located near both sides in the circumferential direction of the position where the defect is detected in the optical disk. Recording an arbitrary write data pattern over a number of bytes and over a predetermined number of tracks; removing the optical disk from the disk drive device; and a location on the removed optical disk where the write data pattern is recorded And a step of visually locating the position where the defect is detected with a microscope and visually inspecting the position.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61261965A JPH07119707B2 (en) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | Optical disc inspection method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61261965A JPH07119707B2 (en) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | Optical disc inspection method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63117245A JPS63117245A (en) | 1988-05-21 |
| JPH07119707B2 true JPH07119707B2 (en) | 1995-12-20 |
Family
ID=17369116
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61261965A Expired - Lifetime JPH07119707B2 (en) | 1986-11-05 | 1986-11-05 | Optical disc inspection method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07119707B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0695398B2 (en) * | 1986-12-16 | 1994-11-24 | 日本電気株式会社 | Optical disk defect position recording device |
| JPH063283A (en) * | 1992-06-18 | 1994-01-11 | Kao Corp | Method and device for inspecting defect of magnetic tape |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5897648A (en) * | 1981-12-07 | 1983-06-10 | Nec Corp | Marking device for minute fault |
-
1986
- 1986-11-05 JP JP61261965A patent/JPH07119707B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63117245A (en) | 1988-05-21 |
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