JPH07111526B2 - Directional coupler type optical switch - Google Patents

Directional coupler type optical switch

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JPH07111526B2
JPH07111526B2 JP29128188A JP29128188A JPH07111526B2 JP H07111526 B2 JPH07111526 B2 JP H07111526B2 JP 29128188 A JP29128188 A JP 29128188A JP 29128188 A JP29128188 A JP 29128188A JP H07111526 B2 JPH07111526 B2 JP H07111526B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、将来の光通信システムや光情報処理システム
に等において重要なエレメントとなる半導体光スイッ
チ、特に方向性結合器型の光スイッチに関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a semiconductor optical switch, which is an important element in future optical communication systems and optical information processing systems, and more particularly to a directional coupler type optical switch. .

〔従来の技術〕[Conventional technology]

光スイッチは将来の高速光通信システム、光情報処理シ
ステム等のキーエレメントの1つと考えられ、各所で研
究開発が活発化してきている。光スイッチとしては、Li
NbO3等の誘電体を用いたものと、GaAsやInPの半導体を
用いたものとが考えられているが、光アンプ等の他の光
素子やFET等の電子回路との集積化が可能で、小型化、
他チャンネル化も容易な半導体光スイッチへの期待が近
年高まりつつある。このような半導体光スイッチとして
は、上記適用分野から考えて、高速動作、低消費電力動
作、低電圧動作、低損失動作、高集積の容易性等が要求
される。半導体光スイッチの方式としては、これまでに
電流注入に伴うバンド・フィリング効果もしくはフリー
キャリア・プラズマ効果による屈折率変化を用いた全反
射型スイッチ、電界印加に伴う電気光学効果による屈折
率変化を利用した方向性結合器型スイッチ、多重量子井
戸に電界を印加したときの励起子吸収ピークの移動に伴
う屈折率変化を用いた全反射型スイッチ等が試作検討さ
れているが、電流注入全反射型は動作速度が遅く、また
消費電力が大きいという難点がある。また、多重量子井
戸構造全反射型スイッチは本質的に低損失化が困難であ
るという問題点がある。これに対して電気光学効果を用
いた方向性結合器型スイッチは、全反射型に比べて素子
長は長くなるものの、高速、低消費電力動作が可能であ
り、また低損失であるという利点を有している。低損失
性に関しては、近年カポン(E.Kapon)らによって波長
1.52μmにおいて0.15dB/cmという低損失光導波路がGaA
s/AlGaAs系で実現できることがアプライド フィジック
ス レターズ(Applied Physics Letters)誌第50巻第2
3号1628〜1630ページ(1987)において報告されてい
る。GaAsおよびAlGaAsのバンドギャップ波長は、1・3
μm帯および1.5μm帯に比べて十分に短波長側にある
ため、上述のような低損失光導波路を実現することがで
きる。しかも、電気光学効果には波長依存性がほとんど
無いので、動作波長がバンドギャップから離れていても
屈折率変化はバンドギャップ近傍の場合と変わらない。
したがって、GaAs/AlGaAs系光導波路は長波長帯方向性
結合器型スイッチ材料として非常に有望である。
The optical switch is considered to be one of the key elements for future high-speed optical communication systems, optical information processing systems, etc., and research and development are becoming active in various places. As an optical switch, Li
One using a dielectric such as NbO 3 and one using a GaAs or InP semiconductor are considered, but it can be integrated with other optical elements such as optical amplifiers and electronic circuits such as FETs. ,Miniaturization,
In recent years, expectations for semiconductor optical switches that can easily be converted to other channels are increasing. Considering the above application fields, such a semiconductor optical switch is required to have a high speed operation, a low power consumption operation, a low voltage operation, a low loss operation, a high degree of integration, and the like. As the method of the semiconductor optical switch, the total reflection type switch that uses the refractive index change due to the band filling effect or the free carrier plasma effect accompanying the current injection, and the refractive index change due to the electro-optical effect due to the electric field application have been used so far. A directional coupler type switch and a total reflection type switch that uses the change in refractive index with the exciton absorption peak shift when an electric field is applied to multiple quantum wells have been experimentally studied. Has a drawback that the operation speed is slow and the power consumption is large. Further, the multi-quantum well structure total reflection type switch has a problem that it is essentially difficult to reduce the loss. On the other hand, the directional coupler switch using the electro-optic effect has a longer element length than the total reflection type switch, but has the advantages of high-speed operation, low power consumption operation, and low loss. Have Regarding the low loss property, in recent years, wavelengths have been determined by E. Kapon et al.
Low loss optical waveguide of 0.15 dB / cm at 1.52 μm is GaA
What can be realized with s / AlGaAs system Applied Physics Letters magazine Volume 50 Volume 2
No. 3, 1628-1630 (1987). Band gap wavelength of GaAs and AlGaAs is 1.3
Since the wavelengths are sufficiently shorter than those in the μm band and the 1.5 μm band, it is possible to realize the low loss optical waveguide as described above. Moreover, since the electro-optic effect has almost no wavelength dependence, the change in the refractive index is the same as in the vicinity of the band gap even when the operating wavelength is away from the band gap.
Therefore, the GaAs / AlGaAs optical waveguide is very promising as a long wavelength band directional coupler type switch material.

従来方向性結合器型スイッチは素子長が数mmと長いとい
う問題点があったが、近年のRIBE(Reactive Ion Beam
Eching)等の微細加工技術の革新によりこの問題点も解
決しつつある。タケウチ(H.Takeuchi)らはGaAs/AlGaA
s方向性結合器型光スイッチにおいて素子長が1mm以下の
素子をRIBE技術と結晶成長の際の膜厚制御性に優れたMB
E法を用いて実現した。これはエレクトロニクス・レタ
ーズ(Electronics Letters)第122巻、第23号、1241頁
(1986年)に掲載されている。素子のスイッチング電圧
は5Vで各スイッチング状態におけるクロストークは14d
B、17dBと比較的良好な特性を示している。しかしなが
ら将来の光システムに適用可能なスイッチを考えると、
数100μm程度の小型化、更に多チャンネル化等が必要
であり、これを実現するためには結晶成長技術、プロセ
ス技術のより一層の制御性、再現性が要求される。
The conventional directional coupler type switch had the problem that the element length was as long as several mm, but in recent years RIBE (Reactive Ion Beam
This problem is being solved by the innovation of fine processing technology such as Eching). H. Takeuchi et al. Are GaAs / AlGaA
In the s-directional coupler type optical switch, an element with an element length of 1 mm or less is used for the RIBE technology and MB with excellent film thickness controllability during crystal growth.
It was realized using the E method. It is published in Electronics Letters, Vol. 122, No. 23, page 1241 (1986). The switching voltage of the device is 5V and the crosstalk in each switching state is 14d.
B and 17 dB show relatively good characteristics. However, considering a switch that can be applied to future optical systems,
It is necessary to reduce the size to a few hundreds of μm and to increase the number of channels, and in order to realize this, further controllability and reproducibility of crystal growth technology and process technology are required.

プロセス技術に関しては現在では幅1μm以下のパター
ンのエッチングもRIBEにより可能であり、微細加工の精
度及び再現性ともにスイッチ製作プロセスを行なう上で
はある程度十分である。
Regarding the process technology, at present, etching of patterns with a width of 1 μm or less is also possible by RIBE, and both the precision and reproducibility of fine processing are sufficient to some extent in the switch manufacturing process.

結晶成長技術に関しては、膜厚の制御性が非常に優れて
いるMBE法が主に用いられている。MBE法は膜厚に関して
はオングストロームオーダーの成長の制御性を有してい
るが、一般の装置の場合AlGaAsの混晶を成長する時のAl
組成の制御性はそれ程高くなく±0.1程度組成がゆらぐ
こともある。Alの組成のゆらぎはAlGaAs層の屈折率のゆ
らぎとなる。GaAs系の方向性結合器型の光スイッチの場
合、AlGaAsの屈折率のゆらぎは主にクラッド層の屈折率
の設定値からのずれとなって現れる。その大きさはAlの
組成が±0.1ずれると波長1.55μmでは±0.05程度であ
る。
As for the crystal growth technique, the MBE method, which has excellent controllability of film thickness, is mainly used. The MBE method has the controllability of the growth on the order of angstroms with respect to the film thickness, but in the case of general equipment, Al when growing a mixed crystal of AlGaAs
The controllability of the composition is not so high, and the composition may fluctuate by about ± 0.1. Fluctuations in the composition of Al cause fluctuations in the refractive index of the AlGaAs layer. In the case of a GaAs-based directional coupler type optical switch, fluctuations in the refractive index of AlGaAs mainly appear as a deviation from the set value of the refractive index of the cladding layer. The size is about ± 0.05 at a wavelength of 1.55 μm when the composition of Al deviates by ± 0.1.

第2図に方向性結合器の完成結合長l0のクラッド層の屈
折率依存性の一例を示す。波長は1.55μm、その時のガ
イド層の屈折率は材料をGaAsとし3.38とした。その他の
形状パラメータは図示したとおりである。この場合はク
ラッド層の屈折率が3.16のとき完全結合長l0が1mmとな
っている。実際のデバイスでは素子長と完全結合長l0
ずれがクロストークの原因となっている。方向性結合器
の1エレメントのみを考えれば試作したデバイスで完全
結合長を測定してから、それに合う様に素子長をへき開
すればかなり良いクロストークが得られるが、多チャン
ネル化や集積化を考える場合この手法は適用できず、素
子長と完全結合長が一致する様に設計する必要がある。
第2図に示す様にクラッド層の屈折率のずれが完全結合
長の設計値からのずれつまりクロストークの増大を招
く。デバイスに必要なクロストークを−15dB以下とする
第2図よりわかる様にクラッドの屈折率は3.16±0.04以
内でなければならない。前述した様に現状でのAlGaAs成
長におけるAl組成の制御性より屈折率の制御性は±0.05
程度であるため、デバイスの要求を再現性よく満足する
ことはできない。従ってこの状況では製作精度が更に厳
しくなってくるデバイスの小型化、高性能化は困難であ
る。
FIG. 2 shows an example of the refractive index dependence of the cladding layer of the completed coupling length l 0 of the directional coupler. The wavelength was 1.55 μm, and the refractive index of the guide layer at that time was 3.38 with GaAs as the material. The other shape parameters are as shown. In this case, the complete bond length l 0 is 1 mm when the refractive index of the cladding layer is 3.16. In actual devices, crosstalk is caused by the deviation between the element length and the perfect coupling length l 0 . Considering only one element of the directional coupler, if you measure the complete coupling length with a prototype device and then cleave the element length to match it, you can get quite good crosstalk, but you can increase the number of channels and integration. Considering this, this method cannot be applied, and it is necessary to design so that the device length and the complete coupling length match.
As shown in FIG. 2, the deviation of the refractive index of the cladding layer causes the deviation of the perfect coupling length from the designed value, that is, the increase of crosstalk. As can be seen from Fig. 2 that the crosstalk required for the device is -15 dB or less, the refractive index of the cladding must be within 3.16 ± 0.04. As described above, the controllability of the refractive index is ± 0.05 from the controllability of Al composition in the current AlGaAs growth.
However, the demands of the device cannot be satisfied with good reproducibility. Therefore, in this situation, it is difficult to reduce the size and improve the performance of the device, the manufacturing precision of which becomes more severe.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be Solved by the Invention]

本発明の目的は、以上の問題点を解決した方向性結合器
型光スイッチを提供することにある。
An object of the present invention is to provide a directional coupler type optical switch that solves the above problems.

〔課題を解決するための手段〕[Means for Solving the Problems]

本発明による方向性結合器型光スイッチは、GaAs基板上
にGaAsとAlAsより構成される超格子構造の第1のクラッ
ド層、GaAsより成るガイド層、GaAsとAlAsより構成され
る超格子構造の第2のクラッド層が順次積層された層構
造を有する2本の近接した光導波路から成ることを特徴
とするものである。
A directional coupler type optical switch according to the present invention comprises a first cladding layer of a superlattice structure composed of GaAs and AlAs, a guide layer composed of GaAs, and a superlattice structure composed of GaAs and AlAs on a GaAs substrate. The second clad layer is composed of two adjacent optical waveguides having a layered structure in which the second clad layer is sequentially laminated.

〔作用〕[Action]

本発明に用いられているGaAs/AlAs超格子構造のクラッ
ド層においては、その屈折率を決定するAlの組成比はGa
AsとAlAsの各層厚の比で決まる。また各層厚は成長時間
で制御でき、MBE法等の結晶成長装置の発達により、か
なり高い精度まで制御可能となっている。従ってそれに
応じてGaAs/AlAs超格子構造クラッド層中のAlの割合、
つまり、クラッド層の屈折率の制御性も高くする事がで
きる。またMBE法を用いればRHEEDを使うことによりGaAs
/AlAsの超格子の成長を行ないながら各成長層厚をモニ
タすることが可能であり、結晶成長終了時点でクラッド
層中のAlの組成、即ち、屈折率を確認することができる
ため、たとえ設計値と実際のAl組成が異なっていたとし
ても、次段のプロセスへのフィードバックが即可能であ
るために、最終的に完成された光スイッチの高性能化が
図れる。従って導波路のクラッド層をGaAs/AlAs超格子
構造とした本発明の方向性結合器型光スイッチは、スイ
ッチの特性に大きく影響するクラッド層の屈折率を高い
精度で制御することが可能であり、スイッチの小型化、
高性能化には非常に有益である。
In the clad layer of the GaAs / AlAs superlattice structure used in the present invention, the Al composition ratio that determines the refractive index is Ga
It is determined by the ratio of each layer thickness of As and AlAs. In addition, the thickness of each layer can be controlled by the growth time, and with the development of crystal growth equipment such as the MBE method, it has become possible to control to a very high degree of accuracy. Therefore, the proportion of Al in the GaAs / AlAs superlattice structure cladding layer is accordingly changed,
That is, the controllability of the refractive index of the clad layer can be improved. Also, if MBE method is used, RHEED is used to make GaAs
It is possible to monitor the thickness of each growth layer while growing the / AlAs superlattice, and to confirm the Al composition in the cladding layer, that is, the refractive index, at the end of crystal growth. Even if the value and the actual Al composition are different, immediate feedback to the next process is possible, so that the performance of the finally completed optical switch can be improved. Therefore, the directional coupler type optical switch of the present invention in which the clad layer of the waveguide has a GaAs / AlAs superlattice structure can control the refractive index of the clad layer, which greatly affects the characteristics of the switch, with high accuracy. , Switch miniaturization,
It is very useful for high performance.

〔実施例〕〔Example〕

以下図面を用いて本発明を詳細に説明する。 The present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第1図は本発明による方向性結合器型光スイッチの一実
施例を示す図である。これを用いて光スイッチの製造方
法及びその構成を説明する。
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of a directional coupler type optical switch according to the present invention. A method of manufacturing an optical switch and its configuration will be described using this.

n+‐GaAs基板1上にMBE法を用いてn+‐GaAs/AlAs超格子
クラッド層2,p-‐GaAsガイド層3,p-GaAs/AlAs超格子ク
ラッド層4,p+‐GaAsキャップ層5を順次エピタキシャル
成長する。このときn+‐GaAs/AlAs超格子クラッド層2
及びp-GaAs/AlAs超格子クラッド層4のGaAsとAlAsの膜
厚をそれぞれ16Å,12Å,これらを360周期とし、クラッ
ド層はそれぞれ約1μm積層する。またp-‐GaAsガイド
層3は0.4μm、p+‐GaAsキャップ層5は0.2μmとす
る。結晶成長終了後、p側電極金属をエピタキシャル面
全面に形成した後、通常のフォトリソグラフィ法とRIBE
法のエッチング法を用いて、p側電極6、p+‐GaAsキャ
ップ層5、p-GaAs/AlAs超格子クラッド層4を幅3μ
m、深さ0.92μmの2本の近接したリブ型ストライプ形
状に加工し、2本の平行に近接した光導波路を形成す
る。また2本の光導波路の間隔は2.3μmである。最後
にn+‐GaAs基板1側にn側電極7を形成し、アロイを行
なう。なお、各層のキャリア濃度はn+‐GaAs基板1が2
×1018cm-3程度、n+‐GaAs/AlAS超格子クラッド層2が
5×1017cm-3程度、p-‐GaASガイド層3が1×1015cm-3
程度、p-GaAs/AlAs超格子クラッド層4が5×1017cm-3
程度、p+‐GaAsキャップ層5が2×1018cm-3程度として
いるため、p側電極6とn側電極7の間に逆バイアスを
印加することによりp-‐GaAsガイド層3に電界を印加す
ることができる。また2本の光導波路の一方のp側電極
をn側電極と同電位にすることにより、他方の導波路の
みに電界を印加することが可能である。以上が本発明に
よる方向性結合器型光スイッチの製造方法及びその構成
の一例であり、上述の構成により得られた光スイッチの
特性が従来よりも改善される点について以下に述べる。
MB + on n + -GaAs substrate 1 n + -GaAs / AlAs superlattice cladding layer 2, p -- GaAs guide layer 3, p-GaAs / AlAs superlattice cladding layer 4, p + -GaAs cap layer 5 is sequentially epitaxially grown. At this time, n + -GaAs / AlAs superlattice cladding layer 2
The p-GaAs / AlAs superlattice clad layer 4 has GaAs and AlAs film thicknesses of 16Å and 12Å, respectively, and these periods have 360 periods, and the clad layers are laminated by about 1 μm each. The p -GaAs guide layer 3 is 0.4 μm, and the p + -GaAs cap layer 5 is 0.2 μm. After the crystal growth is completed, a p-side electrode metal is formed on the entire surface of the epitaxial surface, and then the ordinary photolithography method and RIBE are used.
The p-side electrode 6, the p + -GaAs cap layer 5, and the p-GaAs / AlAs superlattice clad layer 4 are 3 μm wide by using the etching method of
m and a depth of 0.92 μm to form two adjacent rib-shaped stripes to form two parallel optical waveguides. The distance between the two optical waveguides is 2.3 μm. Finally, the n-side electrode 7 is formed on the n + -GaAs substrate 1 side and alloyed. The carrier concentration of each layer is 2 for the n + -GaAs substrate 1.
× 10 18 cm -3 , n + -GaAs / AlAS superlattice cladding layer 2 is 5 × 10 17 cm -3 , p -- GaAS guide layer 3 is 1 × 10 15 cm -3
The p-GaAs / AlAs superlattice cladding layer 4 is 5 × 10 17 cm -3
Since the p + -GaAs cap layer 5 is set to about 2 × 10 18 cm -3 , an electric field is applied to the p -- GaAs guide layer 3 by applying a reverse bias between the p-side electrode 6 and the n-side electrode 7. Can be applied. Further, by setting one p-side electrode of the two optical waveguides to have the same potential as the n-side electrode, it is possible to apply an electric field only to the other waveguide. The above is an example of the method of manufacturing the directional coupler type optical switch according to the present invention and the configuration thereof, and the point that the characteristics of the optical switch obtained by the above configuration are improved as compared with the conventional one will be described below.

従来例及び第2図でも示した様に、方向性結合器型光ス
イッチの特性はクラッド層の屈折率に大きく依存する。
実施例においてはクラッド層をGaAs16Å、AlAs12Åの超
格子構造となっているためクラッド層中のAlの組成比x
はx=0.43である。各層の成長速度のバラツキによりAl
As層の層厚のゆらぎが±0.5Å以内だとしてもAlの組成
比のゆらぎは±0.01程度であり、これに対応する屈折率
のゆらぎは±0.005であり従来に比べ屈折率の制御性が
大幅に改善されている。従って第1図に示した実施例に
おいては波長1.55μmの光に対して完全結合長を1mmに
設計しているので素子長を1mmとしておけば入射光8の
ほとんどの光は出射光9aとして取り出すことができ、ク
ロストークの成分である出射光9bは−20dB以下に押える
ことができる。また2本の導波路の一方に電圧を印加し
導波路の伝搬定数を ずらすことにより出射光9aと9bのスイッチングを行なう
ことができ、この時のクロストークも同様に−20dB以下
と良いものが得られる。
As shown in the conventional example and FIG. 2, the characteristics of the directional coupler type optical switch largely depend on the refractive index of the cladding layer.
In the embodiment, since the clad layer has a superlattice structure of GaAs16Å and AlAs12Å, the Al composition ratio x in the clad layer x
Is x = 0.43. Due to variations in the growth rate of each layer, Al
Even if the fluctuation of the layer thickness of the As layer is within ± 0.5Å, the fluctuation of the Al composition ratio is about ± 0.01, and the fluctuation of the refractive index corresponding to this is ± 0.005. Has been greatly improved. Therefore, in the embodiment shown in FIG. 1, since the perfect coupling length is designed to be 1 mm for the light having the wavelength of 1.55 μm, if the element length is set to 1 mm, most of the incident light 8 is extracted as the outgoing light 9a. The output light 9b, which is a crosstalk component, can be suppressed to -20 dB or less. In addition, applying a voltage to one of the two waveguides By shifting them, the outgoing lights 9a and 9b can be switched, and the crosstalk at this time is also good at −20 dB or less.

本実施例におけるスイッチは波長1.55μmで動作するも
のであるが、1.3μm帯で動作させる様に設計すること
も可能であり、その場合でも同様な効果は十分に得られ
る。
Although the switch in this embodiment operates at a wavelength of 1.55 μm, it can be designed to operate in the 1.3 μm band, and even in that case, the same effect can be sufficiently obtained.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上述べた様に本発明の方向性結合器型光スイッチにお
いてはクラッド層の屈折率に大きく依存するクロストー
ク特性を大幅に改善することが可能となる。従って従来
の様に各デバイスに対して完全結合長の測定を行なう必
要なくデバイスの素子長が設計どおりに得られるためデ
バイス製作における各パタメータの精度が必要とされる
スイッチの小型化、クロストークが加算されるスイッチ
の多チャンネル化においては本発明は非常に有益であ
る。
As described above, in the directional coupler type optical switch of the present invention, it is possible to greatly improve the crosstalk characteristic which largely depends on the refractive index of the cladding layer. Therefore, the element length of the device can be obtained as designed without the need to measure the complete coupling length for each device as in the past, which requires precision of each parameter in device fabrication. The present invention is very useful for increasing the number of channels of added switches.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す図、第2図は方向性結
合器型光スイッチにおける完全結合長のクラッド層の屈
折率依存性の一例を示す図である。 図において1はn+‐GaAs基板、2はn+‐GaAs/AlAs超格
子クラッド層、3はp-‐GaAsガイド層、4はp-GaAs/AlA
s超格子クラッド層、5はp+‐GaAsキャップ層、6はp
側電極、7はn側電極、8は入射光、9a,9bは出射光で
ある。
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing an example of the refractive index dependence of the cladding layer of the complete coupling length in a directional coupler type optical switch. In the figure, 1 is an n + -GaAs substrate, 2 is an n + -GaAs / AlAs superlattice cladding layer, 3 is a p -- GaAs guide layer, and 4 is p-GaAs / AlA.
s superlattice cladding layer, 5 is p + -GaAs cap layer, 6 is p
Side electrodes, 7 is an n-side electrode, 8 is incident light, and 9a and 9b are outgoing lights.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】GaAs基板上に、GaAsとAlAsより構成される
超格子構造の第1のクラッド層、GaAsより成るガイド
層、GaAsとAlAsより構成される超格子構造の第2のクラ
ッド層が順次積層された層構造を有する2本の近接した
光導波路から成ることを特徴とする方向性結合型光スイ
ッチ。
1. A GaAs substrate on which a first clad layer of a superlattice structure composed of GaAs and AlAs, a guide layer of GaAs, and a second clad layer of a superlattice structure composed of GaAs and AlAs are provided. A directional coupling type optical switch comprising two adjacent optical waveguides having a layered structure which is sequentially laminated.
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