JPH07105040B2 - Head switching mechanism for magnetic disk surface inspection - Google Patents

Head switching mechanism for magnetic disk surface inspection

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JPH07105040B2
JPH07105040B2 JP502187A JP502187A JPH07105040B2 JP H07105040 B2 JPH07105040 B2 JP H07105040B2 JP 502187 A JP502187 A JP 502187A JP 502187 A JP502187 A JP 502187A JP H07105040 B2 JPH07105040 B2 JP H07105040B2
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carriage
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清美 山口
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日立電子エンジニアリング株式会社
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    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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    • G11B33/10Indicating arrangements; Warning arrangements
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B23/00Record carriers not specific to the method of recording or reproducing; Accessories, e.g. containers, specially adapted for co-operation with the recording or reproducing apparatus ; Intermediate mediums; Apparatus or processes specially adapted for their manufacture
    • G11B23/50Reconditioning of record carriers; Cleaning of record carriers ; Carrying-off electrostatic charges
    • G11B23/505Reconditioning of record carriers; Cleaning of record carriers ; Carrying-off electrostatic charges of disk carriers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/84Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers

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  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、磁気ディスクの表面に存在する突起を除去
とその結果を検査する、磁気ディスクの表面突起検査装
置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a magnetic disk surface projection inspection apparatus for removing projections existing on the surface of a magnetic disk and inspecting the results.

[従来の技術] コンピュータシステムの記憶装置として使用される磁気
ディスクは、磁気媒体の微細化と性能の向上によります
ます高密度化している。このために磁気ディスクの表面
は極めて平滑なことが要求される。磁気ディスクの製造
においては、磁気膜の塗布後、これを平滑にするため研
磨(グラインド)されるが、研磨してもある程度、平滑
度(グライド)を阻害する突起があるので、さらにバー
ニッシュとよばれる工程により突起の除去がなされてい
る。これらの平滑化が行われたディスクに対して、突起
の有無が検査されるものであるが、研磨工程においては
微小な粒子が多量に発生するのでそれが検査装置および
その周辺に混入するのを避けて、バーニッシュとその結
果の検査は次段の工程とし、平滑検査装置(グライドテ
スター)とよばれる1装置で行われている。従って、グ
ライドテスターには、バーニッシュの機能と検査機能が
兼ねて設けられている。
[Prior Art] Magnetic disks used as storage devices for computer systems are becoming more and more dense due to the miniaturization of magnetic media and improvement in performance. Therefore, the surface of the magnetic disk is required to be extremely smooth. In the manufacture of magnetic disks, after the magnetic film is applied, it is ground (grinded) to make it smooth, but even if it is polished, there is a protrusion that hinders the smoothness (glide) to some extent, so that it is further burnished. The protrusion is removed by a process called. These smoothed discs are inspected for the presence or absence of protrusions, but since a large amount of fine particles are generated in the polishing process, it is possible to prevent them from entering the inspection device and its surroundings. Avoiding the above, the burnish and the inspection of the result are the next step, and are performed by one device called a smoothing inspection device (glide tester). Therefore, the glide tester is provided with both the burnishing function and the inspection function.

第2図は従来のグライドテスターのヘッドの切り替えお
よび移動機構の構造の概要を示す平面図で、磁気ディス
ク1に対してバーニッシュを行うバーニッシュヘッド2
と突起検査を行う突起検査ヘッド5とは互いに角度θを
なす支持具2aおよび5aに支持されて配置されている。各
支持具2aおよび5aは、それぞれキャリッジ3および6に
固定され、駆動モータ4および7により矢印Rの方向
(磁気ディスクの半径方向)に移動する。これらの動作
としては、まずキャリッジ6が後退して突起検査ヘッド
が磁気ディスク1から離れた状態で、キャリッジ3が前
進してバーニッシュヘッドが磁気ディスク1の表面に接
触して突起の除去がされ、表面全体の除去が終了する。
次に、バーニッシュヘッド2が後退し、代わって突起検
査ヘッド5が前進して検査が行う。検査の範囲は磁気デ
ィスク1の外側から中心までである。
FIG. 2 is a plan view showing an outline of the structure of a head switching and moving mechanism of a conventional glide tester, and a burnish head 2 for burnishing a magnetic disk 1.
The projection inspection head 5 for performing the projection inspection is disposed so as to be supported by the support tools 2a and 5a forming an angle θ with each other. The supports 2a and 5a are fixed to the carriages 3 and 6, respectively, and are moved in the direction of arrow R (radial direction of the magnetic disk) by the drive motors 4 and 7. As these operations, first, with the carriage 6 retracted and the projection inspection head separated from the magnetic disk 1, the carriage 3 advances and the burnish head contacts the surface of the magnetic disk 1 to remove the projection. , The removal of the entire surface is completed.
Next, the burnishing head 2 moves backward, and instead, the protrusion inspection head 5 moves forward to perform inspection. The range of inspection is from the outside to the center of the magnetic disk 1.

さて、このようなグライドテスターは他の検査装置とと
もに磁気ディスク検査ラインが構成されて、流れ方式に
より各種の検査が行われているが、多くの検査ステーシ
ョンが連続するため、各装置の幅寸法はコンパクト化し
て極力小さくすることが要請されている。これに対し
て、第1図においては、2組のキャリッジ3および6の
なす角度θは、機構の配置上ほぼ直角に近く設定されて
いるため、空間占有率が大きい。ただしこの場合、角度
θを小さくして装置の横方向の寸法を縮小することには
機構上の無理があり行い難い。これに対して、簡易な方
法でコンパクト化できる方法が必要とされている。
By the way, in such a glide tester, a magnetic disk inspection line is configured with other inspection devices and various inspections are performed by a flow method, but since many inspection stations are continuous, the width dimension of each device is It is required to be compact and as small as possible. On the other hand, in FIG. 1, the angle θ formed by the two sets of carriages 3 and 6 is set to be nearly a right angle due to the arrangement of the mechanism, so that the space occupancy rate is large. However, in this case, it is difficult to reduce the angle θ to reduce the lateral dimension of the device because of mechanical difficulty. On the other hand, there is a need for a method that can be made compact by a simple method.

[発明の目的] この発明はグライドテスターにおいて、コンパクト化さ
れたヘッド切り替え機構を提供することを目的とするも
のである。
[Object of the Invention] An object of the present invention is to provide a compact head switching mechanism in a glide tester.

[問題点を解決するための手段] この発明は、回転中の磁気ディスクの表面に接触して、
表面に存在する突起を除去するバーニッシュヘッドと、
バーニッシュヘッドにより突起が除去された表面に残存
する突起を検査する突起検査ヘッドとよりなる磁気ディ
スク表面突起検査装置のヘッド切り替え機構であって、
バーニッシュヘッドと突起検査ヘッドとを取り付けたX
軸キャリッジと、X軸キャリッジを搭載したY軸キャリ
ッジとよりなる、X,Yキャリッジ機構を有するものであ
る。
[Means for Solving the Problems] The present invention makes contact with the surface of a rotating magnetic disk,
A burnish head that removes protrusions existing on the surface,
A head switching mechanism of a magnetic disk surface protrusion inspection device comprising a protrusion inspection head for inspecting protrusions remaining on the surface from which protrusions have been removed by a burnish head,
X with burnish head and protrusion inspection head attached
It has an X, Y carriage mechanism composed of an axis carriage and a Y axis carriage carrying an X axis carriage.

上記のX,Y軸キャリッジ機構としては、そのX軸キャリ
ッジの移動によりバーニッシュヘッドと突起検査ヘッド
が切り替えられて、磁気ディスクの表面の一定の半径上
の動作位置にそれぞれセットされる。また、セットされ
た各ヘッドは、Y軸キャリッジの移動により、上記の一
定の半径上を移動してそれぞれの動作をなすものであ
る。
In the X, Y-axis carriage mechanism, the burnish head and the projection inspection head are switched by the movement of the X-axis carriage, and they are set at operating positions on a constant radius on the surface of the magnetic disk. Further, each set head moves on the above-mentioned fixed radius by the movement of the Y-axis carriage to perform each operation.

[作用] この発明による磁気ディスク表面検査用ヘッドの切り替
え機構においては、上記の機構の説明により判明するよ
うに、バーニッシュヘッドと突起検査ヘッドが同一のX
軸キャリッジに取り付けられているので、従来のほぼ直
角方向をなす2組のキャリッジを設けた場合に比較し
て、空間占有率がかなり低下してコンパクト化されるも
のである。
[Operation] In the magnetic disk surface inspection head switching mechanism according to the present invention, as is clear from the above description of the mechanism, the burnish head and the protrusion inspection head are the same X-axis.
Since it is attached to the shaft carriage, the space occupancy rate is considerably reduced and the device is made compact as compared with the case where two sets of carriages forming a substantially right angle are provided.

[実施例] 第1図はこの発明による、磁気ディスク表面検査用ヘッ
ドの切り替え機構の実施例における、構造を示す概略の
平面図である。図において、磁気ディスク1の一定の半
径線1aをバーニッシュヘッド2および突起検査ヘッド5
の動作線とし、バーニッシュヘッド2および突起検査ヘ
ッド5は、駆動モータ9の回転によるX軸キャリッジ8
の移動により、この半径線1aの位置に移動することによ
り切り替えられてそれぞれの動作を行う。各動作は、X
軸キャリッジ8を搭載するY軸キャリッジ10が駆動モー
タ11の回転により移動して、半径線1aに沿って磁気ディ
スク1の外側より中心まで、バーニッシュまたは突起検
査を行うものである。なお、ストッパ12はヘッド2が動
作位置にあるときのX軸キャリッジ8の右側の限界位置
である。なおこれ以外にもストッパが設けられるが、こ
こでは省略する。
[Embodiment] FIG. 1 is a schematic plan view showing the structure of an embodiment of a magnetic disk surface inspection head switching mechanism according to the present invention. In the figure, a constant radius line 1a of the magnetic disk 1 is indicated by a burnish head 2 and a projection inspection head 5.
The burnish head 2 and the projection inspection head 5 are the X-axis carriage 8 by the rotation of the drive motor 9.
By the movement of, the movement is switched to the position of the radius line 1a and the respective operations are performed. Each movement is X
The Y-axis carriage 10 carrying the axis carriage 8 is moved by the rotation of the drive motor 11, and the burnish or protrusion inspection is performed from the outside of the magnetic disk 1 to the center along the radius line 1a. The stopper 12 is the rightmost limit position of the X-axis carriage 8 when the head 2 is in the operating position. A stopper is provided in addition to this, but it is omitted here.

ここで従来の機構とこの発明による機構のサイズを比較
する。
Here, the sizes of the conventional mechanism and the mechanism according to the present invention are compared.

第2図に示した従来の機構において、磁気ディスク1の
中心と駆動モータ4の(後端)までの長さをAとする。
ヘッド5の側も同じである。次に第1図において、ヘッ
ド支持具2a、Y軸キャリッジ10などを第2のヘッド支持
具2a、キャリッジ3と同じ長さのものとすると、両者の
縦方向の大きさ寸法はほぼ同一である。しかし、横方向
については、第2図の場合はキャリッジ3と6が直角方
向にあるので、駆動モータ4と7の端部の間隔A′は、
ほぼ1.4Aである。これに対して、第1図の場合は、支持
具2aがX軸キャリッジ8の移動方向と直角に取り付けら
れているため、X軸キャリッジ8の長さをキャリッジ3
と等しいとすれば、その移動範囲BはAにほぼ等しい。
すなわち、第2図の場合に比較して第1図は横方向の寸
法を小さくコンパクト化できるものである。
In the conventional mechanism shown in FIG. 2, the length from the center of the magnetic disk 1 to the (rear end) of the drive motor 4 is A.
The head 5 side is also the same. Next, in FIG. 1, assuming that the head support 2a, the Y-axis carriage 10 and the like have the same length as the second head support 2a and the carriage 3, the vertical size dimensions of the two are substantially the same. . However, in the lateral direction, in the case of FIG. 2, since the carriages 3 and 6 are at right angles, the distance A ′ between the end portions of the drive motors 4 and 7 is
It is almost 1.4A. On the other hand, in the case of FIG. 1, since the support tool 2a is attached at a right angle to the moving direction of the X-axis carriage 8, the length of the X-axis carriage 8 is set to the carriage 3
And the moving range B is almost equal to A.
That is, compared with the case of FIG. 2, FIG. 1 has a smaller lateral dimension and can be made compact.

[発明の効果] 以上の説明により明らかなように、この発明による磁気
ディスク表面検査用ヘッドの切り替え機構においては、
従来磁気ディスクの中心で直交する2軸の方向に設けら
れていたバーニッシュヘッドと突起検査ヘッドのキャリ
ッジに対して、キャリッジを中心から離れた位置で直交
するX,Y軸方向とし、ヘッドおよび支持具の取り付けを
Y軸方向とすることにより、X軸(横)方向の寸法が縮
小される効果があり、磁気ディスク検査ラインのグライ
ドテスターのコンパクト化に寄与するものである。
EFFECTS OF THE INVENTION As is clear from the above description, in the magnetic disk surface inspection head switching mechanism according to the present invention,
With respect to the carriage of the burnish head and the projection inspection head, which were conventionally provided in the directions of two axes orthogonal to the center of the magnetic disk, the carriage is set to the X and Y axis directions orthogonal to each other at a position away from the center, and the head and support are provided. By mounting the tool in the Y-axis direction, the dimension in the X-axis (horizontal) direction can be reduced, which contributes to downsizing of the glide tester in the magnetic disk inspection line.

【図面の簡単な説明】 第1図は、この発明による磁気ディスク表面検査用ヘッ
ドの切り替え機構の実施例における、構造を示す平面
図、第2図は従来のヘッド切り替え機構の構造の平面図
である。 1……磁気ディスク、1a……半径線、 2……バーニッシュヘッド、2a……支持具、 3,6……キャリッジ、5……突起検査ヘッド、 5a……支持具、4,7,9,11……駆動モータ、 8……X軸キャリッジ、10……Y軸キャリッジ、 12……ストッパ。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a plan view showing the structure of an embodiment of a magnetic disk surface inspection head switching mechanism according to the present invention, and FIG. 2 is a plan view of the structure of a conventional head switching mechanism. is there. 1 ... Magnetic disk, 1a ... Radial line, 2 ... Burnish head, 2a ... Supporting tool, 3,6 ... Carriage, 5 ... Projection inspection head, 5a ... Supporting tool, 4, 7, 9 , 11 …… Drive motor, 8 …… X-axis carriage, 10 …… Y-axis carriage, 12 …… Stopper.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】回転中の磁気ディスクの表面に接触して、
該表面に存在する突起を除去するバーニッシュヘッド
と、該バーニッシュヘッドにより該突起が除去された上
記表面に残存する突起を検査する突起検査ヘッドとより
なる磁気ディスク表面突起検査装置において、上記バー
ニッシュヘッドと上記突起検査ヘッドとを取り付けたX
軸キャリッジと、該X軸キャリッジを搭載したY軸キャ
リッジとよりなるX,Yキャリッジ機構を有することを特
徴とする、磁気ディスク表面検査用ヘッドの切り替え機
構。
1. A surface of a rotating magnetic disk is contacted,
In the magnetic disk surface protrusion inspection apparatus, the burnish head for removing protrusions existing on the surface, and the protrusion inspection head for inspecting protrusions remaining on the surface after the protrusions are removed by the burnish head, X with the nish head and the projection inspection head attached
A switching mechanism for a magnetic disk surface inspection head, comprising an X, Y carriage mechanism comprising an axis carriage and a Y axis carriage carrying the X axis carriage.
【請求項2】X軸方向の移動により上記バーニッシュヘ
ッドと上記突起検査ヘッドとが切り替えられて、上記磁
気ディスクの表面の一定の半径上の動作位置にそれぞれ
をセットする上記X軸キャリッジと、該セットされた上
記バーニッシュヘッドと上記突起検査ヘッドを、上記一
定の半径上をそれぞれ移動させる上記Y軸キャリッジと
よりなる上記X,Y軸キャリッジ機構を有する、特許請求
の範囲第1項記載の磁気ディスク表面検査用ヘッドの切
り替え機構。
2. The X-axis carriage for switching between the burnish head and the projection inspection head by moving in the X-axis direction, and setting each of them to an operating position on a constant radius of the surface of the magnetic disk, The X, Y-axis carriage mechanism comprising the Y-axis carriage for moving the set burnishing head and the projection inspection head respectively on the fixed radius. Head switching mechanism for magnetic disk surface inspection.
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