JPH069750U - Structure of jet nozzle of solder bath - Google Patents

Structure of jet nozzle of solder bath

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JPH069750U
JPH069750U JP652392U JP652392U JPH069750U JP H069750 U JPH069750 U JP H069750U JP 652392 U JP652392 U JP 652392U JP 652392 U JP652392 U JP 652392U JP H069750 U JPH069750 U JP H069750U
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JP
Japan
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solder
jet
substrate
solder jet
row
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JP652392U
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Japanese (ja)
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尚之 伊佐治
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Denso Ten Ltd
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Denso Ten Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 噴流の電子部品への接触確率を上げ、はんだ
付け品質を向上させる。 【構成】 搬送される基板に対向する噴流ノズルの範囲
内において、はんだ噴流孔内の任意の点を通過する基板
の搬送方向に沿った軸線が、少なくとも1つの他のはん
だ噴流孔と交わると共に各はんだ噴流孔の基板の搬送方
向に沿った中心軸が、一致しないように構成した噴流ノ
ズル。
(57) [Summary] [Purpose] To improve the soldering quality by increasing the probability of contact of the jet with the electronic components. In the range of the jet nozzle facing the substrate to be transported, an axis along the transport direction of the substrate passing through an arbitrary point in the solder jet hole intersects with at least one other solder jet hole and A jet nozzle configured so that the central axes of the solder jet holes along the substrate transport direction do not match.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は、はんだ槽の噴流ノズルの構造に関する。 The present invention relates to a structure of a jet nozzle of a solder bath.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

基板に搭載された電子部品をはんだ付けする方法の一つに浸漬はんだ付け法が ある。この方法では、基板上の電子部品にフラックス塗布する、フラックス 塗布された基板を予熱する、熱した基板の電子部品を噴流はんだに浸漬させは んだ付けする、基板を冷却する、という工程によって電子部品がはんだ付けさ れる。 Immersion soldering is one of the methods for soldering electronic components mounted on a board. In this method, the flux is applied to the electronic components on the substrate, the flux-coated substrate is preheated, the electronic components on the heated substrate are immersed in the jet solder to be attached, and the substrate is cooled. The parts are soldered.

【0003】 図2はの工程を行うはんだ槽の構造を示した簡略図である。はんだ槽のケー ス71内には溶融したはんだ72が充填されており、このはんだ72はポンプ7 3の回転によって流動する。ポンプ73の駆動源はモータ74によって与えられ る。流動しているはんだ72は噴流ノズル75を介してノズル表面に噴流(乱流 波)76として泡状に吹出るが、この噴流76に搬送されてくる図示せぬ基板上 の電子部品を接触(浸漬)させはんだ付けする。FIG. 2 is a simplified diagram showing the structure of a solder bath for performing the step of. Molten solder 72 is filled in the case 71 of the solder bath, and the solder 72 flows by the rotation of the pump 73. The drive source of the pump 73 is provided by the motor 74. The flowing solder 72 blows out as a jet (turbulent wave) 76 on the nozzle surface via a jet nozzle 75 in the form of bubbles, and makes contact with electronic components on a substrate (not shown) conveyed to the jet 76. Dip) and solder.

【0004】 図3は図2で示した噴流ノズル75の上面図である。図中矢印は基板の搬送方 向を示すものである。このノズルには多数のはんだ噴流孔78が基板の搬送方向 に対して2列のはんだ噴流孔群76,77として設けられており、該はんだ噴流 孔群76、77内にある各はんだ噴流孔78からはんだが噴流する。FIG. 3 is a top view of the jet nozzle 75 shown in FIG. The arrows in the figure indicate the substrate transfer direction. A large number of solder jet holes 78 are provided in this nozzle as two rows of solder jet hole groups 76 and 77 in the substrate transport direction, and each solder jet hole 78 in the solder jet hole groups 76 and 77 is provided. The solder spouts from it.

【0005】[0005]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

電子部品、特にチップ(チップ部品)においてはフラックス工程時等の際に図 示せぬ基板のランドとチップとの接合部分、つまりチップをはんだ付けすべき部 分に、はんだ付けを阻害するガス(あるいは空気)がよく溜まることがある。従 って図3の矢印Aで示すように、基板上のチップが2つのはんだ噴流孔を通過す れば、最初に通過したはんだ噴流孔の噴流圧力によってガスを追い出し、次のは んだ噴流孔の噴流によって確実にはんだ付けを行うことができる。しかしながら 、チップの通過領域はまちまちであり、例えば図3の矢印Bで示すように最初の はんだ噴流孔のみ通過し、次のはんだ噴流孔を通過しない場合、すなわち1つの はんだ噴流孔だけを通過した場合、ガスが接合部分に溜まったままであるので、 はんだが接合部分に付かなくなり(すなわちはんだの不ぬれ)、接触不良が生じ るなどしてはんだ付け品質が低下する。 In the case of electronic parts, especially chips (chip parts), the gas that hinders soldering (or Air) may accumulate well. Therefore, as shown by arrow A in Fig. 3, if the chip on the board passes through two solder jet holes, the gas is expelled by the jet pressure of the solder jet hole that passed first, and the next jet jet The jet flow of the holes ensures reliable soldering. However, the passage area of the chip is different, and, for example, as shown by the arrow B in FIG. 3, only the first solder jet hole passes and the next solder jet hole does not pass, that is, only one solder jet hole is passed. In this case, since the gas remains accumulated in the joint, the solder will not adhere to the joint (that is, the solder will not get wet), resulting in poor contact, resulting in poor soldering quality.

【0006】 本考案は噴流の電子部品への接触確率を上げ、はんだ付け品質を向上させるこ とを目的とするものである。An object of the present invention is to improve the soldering quality by increasing the contact probability of a jet flow with an electronic component.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

上述した問題点を解決するために本考案は、搬送される基板上の電子部品に対 して多数のはんだ噴流孔からはんだを噴流させる、はんだ槽の噴流ノズルの構造 において、 前記搬送される基板に対向した範囲内における各はんだ噴流孔内の任意の点を 通る基板の搬送方向に沿った軸線が、少なくとも1つ以上の他のはんだ噴流孔と 交わると共に、前記各はんだ噴流孔の前記基板の搬送方向に沿った中心軸が、互 いに一致しないよう構成されていることを特徴とするものである。 In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a structure of a jet nozzle of a solder bath, in which solder is jetted from a large number of solder jet holes to electronic components on a substrate to be transported, The axis line along the transfer direction of the substrate passing through an arbitrary point in each solder jet hole in the range facing each other intersects with at least one or more other solder jet holes, and It is characterized in that the central axes along the transport direction are configured so as not to coincide with each other.

【0008】[0008]

【作用】[Action]

本考案は、搬送される基板に対向した範囲内において、各はんだ噴流孔内の任 意の点を通過する、基板の搬送方向に沿った軸線が少なくとも1つ以上の他のは んだ噴流孔と交わるため、電子部品を少なくとも2つのはんだ噴流孔(噴流)に ほぼ浸漬させることができて、電子部品の噴流への接触確率が上がることになる 。但し、この構成だけだと図4に示すように基板の搬送方向に沿ったはんだ噴流 孔の中心軸が一致するという特殊な場合を生ずることがある。この場合、図中の 矢印アで示すように電子部品がはんだ噴流孔間の隙間を通過してしまうと、その 電子部品にはんだが噴流されないので、本考案では各はんだ噴流孔の、前記基板 の搬送方向に沿った中心軸は互いに一致しないよう構成してある。以上により電 子部品が、搬送される基板に対向した範囲内における噴流ノズルのどこを通過し ても、その電子部品を少なくとも2つのはんだ噴流孔(噴流)に確実に浸漬させ ることができる。従って、最初に通過した列のはんだ噴流孔の噴流でガスを追い 出し、次に通過した列のはんだ噴流孔の噴流により確実に基板ランドと電子部品 との接合部分をはんだ付けすることができる。 The present invention provides a jet hole having at least one other axis along the substrate transport direction that passes through an arbitrary point in each solder jet hole within a range facing the substrate to be transported. Therefore, the electronic component can be substantially immersed in the at least two solder jet holes (jet flows), and the contact probability of the electronic component to the jet flow is increased. However, with this configuration alone, a special case may occur in which the central axes of the solder jet holes along the carrying direction of the substrate coincide, as shown in FIG. In this case, when the electronic component passes through the gap between the solder jet holes as shown by the arrow A in the figure, the solder is not jetted to the electronic component. The central axes along the transport direction are configured so as not to coincide with each other. As described above, the electronic component can be surely immersed in the at least two solder jet holes (jet streams) regardless of where the jet nozzle in the range facing the substrate to be transported passes. Therefore, the gas can be expelled by the jet flow of the solder jet holes of the row that has passed first, and the joint portion between the board land and the electronic component can be reliably soldered by the jet flow of the solder jet holes of the row that has passed next.

【0009】[0009]

【実施例】【Example】

図1は本考案の一実施例である噴流ノズルの構造を示す上面図である。チップ 5やランド6を搭載した基板4は左右のガイドレール8に案内されて噴流ノズル 上へ搬送される。本考案の噴流ノズルは、このガイドレール8の範囲内(噴流さ れるべき基板4の範囲内)で構成されるものである。 FIG. 1 is a top view showing the structure of a jet nozzle which is an embodiment of the present invention. The substrate 4 on which the chips 5 and the lands 6 are mounted is guided by the left and right guide rails 8 and conveyed onto the jet nozzle. The jet nozzle of the present invention is constructed within the range of the guide rail 8 (within the range of the substrate 4 to be jetted).

【0010】 本例のノズルでは多数のはんだ噴流孔11,12,13が基板の搬送方向に対 して3列分(図中点線で囲んだもの)のはんだ噴流孔群1,2,3として設けら れており、しかも各はんだ噴流孔はその任意の点を通る、基板の搬送方向に沿っ た軸線(図中破線で示す)が他のはんだ噴流孔と交わるよう構成されている。即 ち、はんだ噴流孔12を例にとるとはんだ噴流孔12内の点dは第二列のはんだ 噴流孔群2にあるはんだ噴流孔21と第三列のはんだ噴流孔群3にあるはんだ噴 流孔31と交わっており、点eは第三列のはんだ噴流孔群3にあるはんだ噴流孔 31と交わっており、点fは第二列のはんだ噴流孔群2にあるはんだ噴流孔22 と交わっており、そして点gは第二列のはんだ噴流孔群2にあるはんだ噴流孔2 2と第三列のはんだ噴流孔群3にあるはんだ噴流孔32と交わっている。各列内 におけるはんだ噴流孔どうしの間隔は等しく、また各列どうしの間隔も等しい。 更にこの場合はんだ噴流孔の直径は各列とも全て4〜5ミリの範囲内で統一して ある(4〜5ミリの範囲内を越えると噴流が成立しないことがある)。また各列 毎にこの範囲内で多少はんだ噴流孔の大きさが異なるようにしてもよい。In the nozzle of this example, a large number of solder jet holes 11, 12 and 13 are arranged in three rows (enclosed by dotted lines in the figure) of solder jet hole groups 1, 2 and 3 in the substrate transport direction. Further, each solder jet hole is provided so that an axis line (shown by a broken line in the figure) passing through an arbitrary point along the substrate transport direction intersects with another solder jet hole. Taking the solder jet holes 12 as an example, the point d in the solder jet holes 12 is the solder jet holes 21 in the second row solder jet hole group 2 and the solder jet holes in the third row solder jet hole group 3. The point e intersects with the solder jet hole 31 in the solder jet hole group 3 in the third row, and the point f intersects with the solder jet hole 22 in the solder jet hole group 2 in the second row. The point g intersects the solder jet holes 22 in the second row solder jet hole group 2 and the solder jet holes 32 in the third row solder jet hole group 3. The intervals between the solder jet holes in each row are equal, and the intervals between the rows are also equal. Further, in this case, the diameters of the solder jet holes are unified within the range of 4 to 5 mm in each row (the jet may not be formed if the diameter exceeds the range of 4 to 5 mm). Also, the size of the solder jet holes may be slightly different within this range for each row.

【0011】 但し、本例では、図4で説明したように各列におけるはんだ噴流孔の中心軸( 実線で示す)は各列毎に異なるようにしてある。このようにすることによって各 列におけるはんだ噴流孔が整列して一致してしまうことを防止している。 このようなノズルの構成において、例えば基板4に搭載されたチップ5(基板 4の裏側にあるので点線で示す)が矢印Aで示す線上で搬送されると、チップ5 は第一列のはんだ噴流孔群1のはんだ噴流孔を通過し、このときの噴流圧力によ ってチップ5と基板のランド6(基板4の裏側にあるので点線で示す)の接合部 に溜まったガスが追い出される。そしてチップ5は第二列のはんだ噴流孔群2の はんだ噴流孔も通過し、このときに接合部がこのはんだ噴流孔の噴流に浸漬する が、第一列のはんだ噴流孔群1のはんだ噴流孔の噴流によってガスがなくなって いるのではんだの不ぬれがなくなり、このときの噴流によって確実に接合部がは んだ付けされる。However, in this example, as described with reference to FIG. 4, the central axis (shown by the solid line) of the solder jet holes in each row is different for each row. By doing so, it is possible to prevent the solder jet holes in each row from being aligned and aligned with each other. In such a nozzle configuration, for example, when the chip 5 mounted on the substrate 4 (shown by a dotted line because it is on the back side of the substrate 4) is conveyed on the line indicated by the arrow A, the chip 5 is ejected in the first row. The gas that has passed through the solder jet holes of hole group 1 is expelled by the jet pressure at this time at the junction between chip 5 and land 6 of the substrate (shown by the dotted line because it is on the back side of substrate 4). Then, the chip 5 also passes through the solder jet holes of the solder jet hole group 2 of the second row, and at this time the joint is immersed in the jet stream of this solder jet hole, but the solder jet of the solder jet hole group 1 of the first row Since the gas in the holes is exhausted, the solder does not get wet, and the jet flow at this time ensures that the joint is firmly attached.

【0012】 またチップ5がBで示す線上で搬送された場合、チップ5は第一列のはんだ噴 流孔群1のはんだ噴流孔を通過しないが、第二列のはんだ噴流孔群2及び第三列 のはんだ噴流孔群3のはんだ噴流孔はそれぞれ通過するので、第二列のはんだ噴 流孔群2のはんだ噴流孔によってガスが放出され、そして第三列のはんだ噴流孔 群3のはんだ噴流孔によってはんだ付けが確実に行われる。When the chip 5 is conveyed on the line indicated by B, the chip 5 does not pass through the solder jet holes of the solder jet hole group 1 of the first row, but the solder jet hole group 2 of the second row and the solder jet hole group 2 of the second row. Since the solder jet holes of the third row solder jet hole group 3 pass through, respectively, gas is released by the solder jet holes of the second row solder jet hole group 2, and the solder of the third row solder jet hole group 3 The jet holes ensure soldering.

【0013】 更にチップ5がCで示す線上で搬送された場合は、チップ5は第一列1のはん だ噴流孔を通過するが、第二列2のはんだ噴流孔は通過しない。ところがチップ 5は次の第三列3のはんだ噴流孔を通過するので、第一列のはんだ噴流孔群1に よってガスが放出され、更に第三列のはんだ噴流孔群3によってはんだ付けが確 実に行われる。Further, when the chips 5 are conveyed on the line indicated by C, the chips 5 pass through the solder jet holes of the first row 1 but not the solder jet holes of the second row 2. However, since the chip 5 passes through the solder jet holes of the next third row 3, gas is released by the solder jet hole group 1 of the first row, and soldering is surely performed by the solder jet hole group 3 of the third row. It's really done.

【0014】 以上のように本例ではチップ5がどこを通過しても少なくとも2つのはんだ噴 流孔の噴流を通過するよう構成されているので、チップ5の噴流接触確率が上が ることになる。 本例では3列分、すなわち3つのはんだ噴流孔全てを通過してもチップ5の噴 流への浸漬時間は2つのはんだ噴流孔分通過したものと殆ど差がなく、チップ5 の耐熱性を心配する必要はない。As described above, in this example, the chip 5 is configured to pass the jets of at least two solder jet holes regardless of where it passes, so that the jet contact probability of the chip 5 is increased. Become. In this example, the dipping time of the chip 5 in the jet is almost the same as when passing through the three rows, that is, all three solder jet holes. Don't worry.

【0015】 尚、本例でははんだ噴流孔群を3列として説明したが、上述した耐熱性に問題 がなければ4列以上でもよく、また列の形状を整えなくてもよい。更に本例では チップのみについて説明したが、これに限らずトランジスタなど多様な電子部品 に適用できるのはいうまでもない。In this example, the solder jet hole group is described as three rows, but if there is no problem with the above-mentioned heat resistance, it may be four rows or more, and the row shapes may not be arranged. Further, although only the chip has been described in this example, it is needless to say that the present invention can be applied to various electronic components such as a transistor without being limited to this.

【0016】[0016]

【効果】【effect】

以上、本考案によれば、噴流の電子部品への接触確率を上げ、はんだ付け不具 合をなくしてはんだ付け品質の向上を図ることができる。 As described above, according to the present invention, it is possible to improve the soldering quality by increasing the contact probability of the jet flow with the electronic component and eliminating the soldering failure.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本考案の一実施例である噴流ノズルの構造を示
す上面図である。
FIG. 1 is a top view showing the structure of a jet nozzle according to an embodiment of the present invention.

【図2】従来のはんだ槽の構造を示す簡略図である。FIG. 2 is a simplified diagram showing the structure of a conventional solder bath.

【図3】従来の噴流ノズル75を示す上面図である。FIG. 3 is a top view showing a conventional jet nozzle 75.

【図4】特殊な噴流ノズルの構造を示す上面図である。FIG. 4 is a top view showing the structure of a special jet nozzle.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・第一列のはんだ噴流孔群 2・・・第二列のはんだ噴流孔群 3・・・第三列のはんだ噴流孔群 1 ... First row solder jet hole group 2 ... Second row solder jet hole group 3 ... Third row solder jet hole group

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 搬送される基板上の電子部品に対して多
数のはんだ噴流孔からはんだを噴流させる、はんだ槽の
噴流ノズルの構造において、 前記搬送される基板に対向した範囲内における各はんだ
噴流孔内の任意の点を通る基板の搬送方向に沿った軸線
が、少なくとも1つ以上の他のはんだ噴流孔と交わると
共に、前記各はんだ噴流孔の前記基板の搬送方向に沿っ
た中心軸が、互いに一致しないよう構成されていること
を特徴とするはんだ槽の噴流ノズルの構造。
1. A structure of a jet nozzle of a solder bath, in which solder is jetted from a large number of solder jet holes to an electronic component on a substrate to be transported, each solder jet in a range facing the substrate to be transported. An axis along the carrying direction of the substrate passing through any point in the hole intersects with at least one or more other solder jet holes, and a central axis of each solder jet hole along the carrying direction of the substrate, A structure of a jet nozzle of a solder bath, which is configured so as not to coincide with each other.
JP652392U 1992-02-18 1992-02-18 Structure of jet nozzle of solder bath Pending JPH069750U (en)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0284264A (en) * 1988-09-20 1990-03-26 Tamura Seisakusho Co Ltd Jet type soldering device

Patent Citations (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0284264A (en) * 1988-09-20 1990-03-26 Tamura Seisakusho Co Ltd Jet type soldering device

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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19950214