JPH0694769A - Ledモジュールの短絡検査方法 - Google Patents

Ledモジュールの短絡検査方法

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JPH0694769A
JPH0694769A JP4269555A JP26955592A JPH0694769A JP H0694769 A JPH0694769 A JP H0694769A JP 4269555 A JP4269555 A JP 4269555A JP 26955592 A JP26955592 A JP 26955592A JP H0694769 A JPH0694769 A JP H0694769A
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Masaaki Kato
正明 加藤
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 LEDモジュールを構成するLED素子の短
絡を簡単かつ確実に発見する。 【構成】 それぞれ5つのLED素子が直列に接続され
た第1〜第5のLED素子群G1 〜G5 を並列に接続し
てなるLEDモジュールの短絡検査方法であって、定格
電圧より低い電圧を印加し、発光したLED素子群があ
れば、当該LED素子群を構成するLED素子に短絡が
発生していると判断する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、複数個のLED素子が
直列に接続されたLED素子群を複数個並列に接続して
なるLEDモジュールの短絡検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示装置のバックライトやLED光
源アレイ等に用いられるLEDモジュールは、複数個の
LED素子が直列に接続したLED素子群を複数個並列
に接続することにより構成されている。かかるLEDモ
ジュールを構成するLED素子に短絡が生じることがあ
る。
【0003】このようなLED素子の短絡は、LEDモ
ジュールを定格電圧又は定格電流で点灯させ、その点灯
した状態を目視又は光学的センサによって観察すること
によって検査している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、1つの
LED素子のみが不点灯であるLEDモジュールを目視
検査したとてしも、見落としは必ず発生する。特に、多
くのLED素子を使用するものであればあるほど、すな
わちLED素子のドットピッチが密であればあるほど見
落としが発生し易くなる。
【0005】また、光学的センサをLEDモジュールの
長さ方向に移動させて、前記センサの出力をモニターす
る方法で検査したとしても、短絡が発生したLED素子
を含むLED素子群では、短絡したLED素子の分だけ
内部抵抗が低くなっているため、他のLED素子群より
多くの電流が流れる。このため、残りのLED素子が他
のLED素子群のそれより明るくなり、不点灯のLED
素子による照度降下を補うことになるので、短絡の有無
を発見することが困難になる。
【0006】本発明は上記事情に鑑みて創案されたもの
で、LEDモジュールを構成するLED素子の短絡を簡
単かつ確実に発見することができるLEDモジュールの
短絡検査方法を提供することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に係るLEDモジ
ュールの短絡検査方法は、複数個のLED素子が直列に
接続されたLED素子群を複数個並列に接続してなるL
EDモジュールの短絡検査方法であって、定格電圧より
低い電圧を印加し、発光したLED素子群があれば、当
該LED素子群を構成するLED素子に短絡が発生して
いると判断する。
【0008】また、本発明に係る他のLEDモジュール
の短絡検査方法は、複数個のLED素子が直列に接続さ
れたLED素子群を複数個並列に接続してなるLEDモ
ジュールの短絡検査方法であって、LEDモジュールに
印加する電圧を徐々に上昇させつつ電流値をモニター
し、電流値が上昇を始めるポイントが2以上あれば、い
ずれかのLED素子に短絡が発生していると判断する。
【0009】
【実施例】図1は本発明の第1の実施例に係るLEDモ
ジュールの短絡検査方法によって短絡が発生しているL
ED素子を含んだLED素子群のみが点灯した状態を示
す概略的説明図、図2はLEDモジュールの回路図、図
3はLED素子の短絡の原因を示す説明図、図4は本発
明の第2の実施例に係るLEDモジュールの短絡検査方
法を説明するグラフである。
【0010】まず、このLEDモジュールの短絡検査方
法の検査対象であるLEDモジュールの短絡検査方法に
ついて説明する。このLEDモジュールは、複数個(図
面では20個) のLED素子1〜20から構成されている。
すなわち、4個のLED素子と1つの抵抗Rが直列に接
続されてなる5つのLED素子群G1 〜G5 が並列に接
続されているのである。LED素子の短絡は、ボンディ
ングワイヤ30のタレ(図3の(A)参照)や、導電物31
の付着(図3の(B)参照)によって発生する。なお、
図面中、32はLEDチップ、33はダイボンディングパッ
ド、34はワイヤボンディングパッド、35はプリント基板
ベースをそれぞれ示している。
【0011】第1の実施例に係るLEDモジュールの短
絡検査方法は、前記LEDモジュールを構成するLED
素子のうち短絡が発生しているLED素子を含むLED
素子群を特定するものであって、LEDモジュールに定
格電圧より低い電圧を印加し、発光したLED素子群が
あれば、当該LED素子群を構成するLED素子に短絡
が発生していると判断する。
【0012】例えば、LEDモジュールを構成する20個
のLED素子1〜20のうち、第1のLED素子群G1
含まれるLED素子4が短絡しているとする。すると、
第1のLED素子群G1 の内部抵抗は、短絡が発生して
いるLED素子の分だけ低くなっている。従って、この
第1のLED素子群G1 は、他の第2〜第5のLED素
子群G2 〜G5 より低い電圧で点灯することになる。
【0013】このため、定格電圧より低い電圧を印加し
たLEDモジュールを目視又は光学的センサで検査する
ことにより、短絡が発生しているLED素子4を含む第
1のLED素子群G1 を容易に発見することができる。
なお、図1では、第1のLED素子群G1 の点灯を点々
で示している。
【0014】また、本発明の第2の実施例に係るLED
モジュールの短絡検査方法は、LEDモジュールに印加
する電圧を徐々に上昇させつつ電流値をモニターし、電
流値が上昇を始めるポイントが2以上あれば、いずれか
のLED素子に短絡が発生していると判断する。
【0015】すなわち、すべてのLED素子1〜20に短
絡が発生していないとすると、印加される電圧を徐々に
上昇させた場合の電流値は、図4(A)に示すように、
電流値が上昇を始めるポイントは1箇所だけであり、か
つ滑らかな曲線を描く。
【0016】これに対して、例えばLED素子4に短絡
が発生しているとすると、このLED素子4を含む第1
のLED素子群G1 に、他のLED素子群G2 〜G5
り早く電流が流れ始める。このため、このような場合に
は、電流値は図4(B)に示すように上昇を始めるポイ
ントは2箇所になる。これによって、いずれかのLED
素子に短絡が発生していると判断される。
【0017】
【発明の効果】第1の発明は、複数個のLED素子が直
列に接続されたLED素子群を複数個並列に接続してな
るLEDモジュールの短絡検査方法であって、短絡が発
生しているLED素子を含むLED素子群の内部抵抗は
他のLED素子群のそれより低く、定格電圧より低い電
圧で点灯することを利用している。従って、定格電圧よ
り低い電圧を印加し、発光したLED素子群があれば、
当該LED素子群を構成するLED素子に短絡が発生し
ていると判断することができる。
【0018】また、第2の発明は、同様の原理を応用し
ており、LEDモジュールに印加する電圧を徐々に上昇
させつつ電流値をモニターし、電流値が上昇を始めるポ
イントが2以上あれば、いずれかのLED素子に短絡が
発生していると判断する。
【0019】従って、両発明とも、従来の方法より簡単
かつ確実にLEDモジュールを構成するLED素子の短
絡を発見することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例に係るLEDモジュール
の短絡検査方法によって短絡が発生しているLED素子
を含んだLED素子群のみが点灯した状態を示す概略的
説明図である。
【図2】LEDモジュールの回路図である。
【図3】LED素子の短絡の原因を示す説明図である。
【図4】本発明の第2の実施例に係るLEDモジュール
の短絡検査方法を説明するグラフである。
【符号の説明】
1〜20 LED素子 4 短絡が発生しているLED素子 G1 〜G5 LED素子群

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数個のLED素子が直列に接続された
    LED素子群を複数個並列に接続してなるLEDモジュ
    ールの短絡検査方法において、定格電圧より低い電圧を
    印加し、発光したLED素子群があれば、当該LED素
    子群を構成するLED素子に短絡が発生していると判断
    することを特徴とするLEDモジュールの短絡検査方
    法。
  2. 【請求項2】 複数個のLED素子が直列に接続された
    LED素子群を複数個並列に接続してなるLEDモジュ
    ールの短絡検査方法において、LEDモジュールに印加
    する電圧を徐々に上昇させつつ電流値をモニターし、電
    流値が上昇を始めるポイントが2以上あれば、いずれか
    のLED素子に短絡が発生していると判断することを特
    徴とするLEDモジュールの短絡検査方法。
JP4269555A 1992-09-11 1992-09-11 Ledモジュールの短絡検査方法 Expired - Lifetime JP2849967B2 (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010287611A (ja) * 2009-06-09 2010-12-24 Mitsubishi Electric Corp Led異常検出回路、列車用表示器、led駆動回路、およびled異常検出方法
JP2012149946A (ja) * 2011-01-18 2012-08-09 Sharp Corp 検査装置、検査方法およびプログラム
CN103558539A (zh) * 2013-11-07 2014-02-05 韦胜国 一种led的检测方法
EP2752575A4 (en) * 2011-09-02 2015-12-09 Toyota Motor Co Ltd FUEL FEEDING DEVICE FOR INTERNAL COMBUSTION ENGINES

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