JPH0693437A - High-frequency device - Google Patents

High-frequency device

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JPH0693437A
JPH0693437A JP24477892A JP24477892A JPH0693437A JP H0693437 A JPH0693437 A JP H0693437A JP 24477892 A JP24477892 A JP 24477892A JP 24477892 A JP24477892 A JP 24477892A JP H0693437 A JPH0693437 A JP H0693437A
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JP
Japan
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impedance
detector
matching
variable capacitor
phase
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP24477892A
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Japanese (ja)
Inventor
Tsutomu Kato
努 加藤
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Jeol Ltd
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Jeol Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To provide the high-frequency device which can attain matching in a short period of time without loss time. CONSTITUTION:An impedance detector 15 for detecting impedance and a phase detector 16 for detecting the phase difference between the voltage and current of a high frequency are separately provided. A floating inductance component 17 is provided between this impedance detector 15 and the phase detector 16. A wiring, such as coil or copper strip formed long, is used as this floating impedance component 17. The impedance detected by the impedance detector 15 is compared with a reference voltage in a comparing amplifier 8 and the differential signal thereof is supplied to a motor 9 for regulating a matching variable capacitor 4. The phase difference detected by the phase detector 16 is compared with a reference voltage in a comparing amplifier 10 and the differential signal thereof is supplied to a motor 11 for regulating a tuning variable capacitor 5.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、インピーダンスのマッ
チングを短時間に行うことができる高周波スパッタリン
グ装置やエッチング装置などの高周波装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a high frequency device such as a high frequency sputtering device or an etching device which can perform impedance matching in a short time.

【0002】[0002]

【従来の技術】高周波スパッタリング装置では、2枚の
電極間に高周波を印加し、一方の電極(試料)をスパッ
タリングし、試料表面のクリーニングなどを行ってい
る。また、別の高周波装置では、2枚の電極間に高周波
を印加し、一方の電極からスパッタされた粒子を電極に
接近して配置された基板上に付着させるようにしてい
る。図1はこのような高周波装置の概略を示しており、
1は高周波発振器である。高周波発振器1からの高周波
は、検出器2を介してマッチングボックス3に供給され
る。マッチングボックス3はマッチング可変コンデンサ
4、チューニング可変コンデンサ5、コイル6から構成
されている。マッチングボックス3からの高周波は、負
荷7に供給される。なお、検出器2は、マッチングボッ
クス3に入力する高周波の電圧,電流,電圧と電流の位
相差θを検出している。
2. Description of the Related Art In a high frequency sputtering apparatus, a high frequency is applied between two electrodes to sputter one electrode (sample) to clean the surface of the sample. In another high-frequency device, a high frequency is applied between two electrodes so that particles sputtered from one electrode are attached to a substrate arranged close to the electrode. FIG. 1 shows an outline of such a high frequency device,
1 is a high frequency oscillator. The high frequency from the high frequency oscillator 1 is supplied to the matching box 3 via the detector 2. The matching box 3 includes a matching variable capacitor 4, a tuning variable capacitor 5, and a coil 6. The high frequency from the matching box 3 is supplied to the load 7. The detector 2 detects the high-frequency voltage and current input to the matching box 3, and the phase difference θ between the voltage and the current.

【0003】このような構成において、検出器2によっ
て検出された電圧,電流,位相に基づいてインピーダン
スと位相とを求め、インピーダンスの値に基づいてマッ
チングボックス3内のマッチング可変コンデンサ4の容
量を変え、位相差に基づいてチューニング可変コンデン
サ5の容量を変えている。すなわち、検出器2によって
検出されたインピーダンスZは、比較増幅器8に供給さ
れ基準電圧と比較される。比較増幅器8の出力は、マッ
チング可変コンデンサ4を駆動するモータ9に供給され
る。その結果、インピーダンスZの値が基準電圧と等し
くなるようにモータ9によりマッチング可変コンデンサ
4が調整される。また、検出器2によって検出された位
相差θは、比較増幅器10に供給され基準電圧と比較さ
れる。比較増幅器10の出力は、チューニング可変コン
デンサ5を駆動するモータ11に供給される。その結
果、位相差θの値が基準電圧(0)と等しくなるように
モータ11によりマッチング可変コンデンサ5が調整さ
れる。
In such a configuration, the impedance and the phase are obtained based on the voltage, current and phase detected by the detector 2, and the capacitance of the matching variable capacitor 4 in the matching box 3 is changed based on the impedance value. , The capacitance of the tuning variable capacitor 5 is changed based on the phase difference. That is, the impedance Z detected by the detector 2 is supplied to the comparison amplifier 8 and compared with the reference voltage. The output of the comparison amplifier 8 is supplied to the motor 9 that drives the matching variable capacitor 4. As a result, the matching variable capacitor 4 is adjusted by the motor 9 so that the value of the impedance Z becomes equal to the reference voltage. Further, the phase difference θ detected by the detector 2 is supplied to the comparison amplifier 10 and compared with the reference voltage. The output of the comparison amplifier 10 is supplied to the motor 11 that drives the tuning variable capacitor 5. As a result, the matching variable capacitor 5 is adjusted by the motor 11 so that the value of the phase difference θ becomes equal to the reference voltage (0).

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】図2はスミスチャート
によるマッチングボックス3への入力インピーダンスの
軌跡を示しており、チューニング可変コンデンサ5を固
定状態とし、マッチング可変コンデンサ4を可変とした
ものである。検出器2によって求められたインピーダン
ス|Z|がマッチングポイントインピーダンス(50
Ω)より大きいか小さいかに応じてマッチング可変コン
デンサ4の容量が変えられる。検出インピーダンス|Z
|が50Ωより大きい場合には、コンデンサ4の容量が
増加する方向に駆動される。また、検出インピーダンス
|Z|が50Ωより小さい場合には、コンデンサ4の容
量が減少する方向に駆動される。このような駆動方式で
は、図中の円状のインピーダンスの軌跡Iの内、点線
で示した領域が、インピーダンスZが50Ωより小さい
にも拘らず、逆に容量が増加する方向にコンデンサ4が
駆動され、容量が最大となった後に容量が減少する方向
にコンデンサ4が駆動される。そのため、マッチングを
取るまでにロスタイムが発生することになる。
FIG. 2 shows a locus of the input impedance to the matching box 3 according to the Smith chart, in which the tuning variable capacitor 5 is fixed and the matching variable capacitor 4 is variable. The impedance | Z | obtained by the detector 2 is the matching point impedance (50
The capacitance of the matching variable capacitor 4 can be changed according to whether it is larger or smaller. Detection impedance | Z
When | is larger than 50Ω, the capacitor 4 is driven in the direction of increasing capacity. If the detected impedance | Z | is smaller than 50Ω, the capacitor 4 is driven in the direction of decreasing its capacity. In such a drive system, the region shown by the dotted line in the circular impedance locus I Z in the figure has the capacitor 4 conversely increasing in capacity in spite of the impedance Z being smaller than 50Ω. The capacitor 4 is driven in such a direction that the capacitor 4 is driven and the capacity is reduced after the capacity is maximized. Therefore, loss time will occur before matching is performed.

【0005】図3はスミスチャートによるマッチングボ
ックス3への入力インピーダンスの軌跡を示しており、
チューニング可変コンデンサ5を可変とし、マッチング
可変コンデンサ4を固定状態としたものである。検出器
2によって検出された位相θに応じてチューニング可変
コンデンサ5の容量が変えられる。この場合、位相θが
正の場合、チユーニング可変コンデンサ5の容量は増加
する方向に駆動され、位相θが負の場合、コンデンサ5
の容量が減少する方向に駆動される。このような駆動方
式では、図中の円状のインピーダンスの軌跡Iθの内、
点線で示した領域が、位相θが正であるにも拘らず、逆
に容量が減少する方向にコンデンサ5が駆動され、容量
が最小となった後に容量が増加する方向にコンデンサ5
が駆動される。そのため、マッチングを取るまでにロス
タイムが発生することになる。
FIG. 3 shows the locus of the input impedance to the matching box 3 by the Smith chart,
The tuning variable capacitor 5 is variable, and the matching variable capacitor 4 is fixed. The capacitance of the tuning variable capacitor 5 is changed according to the phase θ detected by the detector 2. In this case, when the phase θ is positive, the capacitance of the tuning variable capacitor 5 is driven in an increasing direction, and when the phase θ is negative, the capacitor 5 is driven.
It is driven in the direction of decreasing the capacity of. In such a driving method, of the circular impedance locus Iθ in the figure,
In the region shown by the dotted line, although the phase θ is positive, the capacitor 5 is driven in the opposite direction in which the capacitance decreases, and the capacitor 5 increases in the direction in which the capacitance is minimized.
Is driven. Therefore, loss time will occur before matching is performed.

【0006】ところで、図2の入力インピーダンスの軌
跡は、図1における検出器2とマッチングボックス3と
の間に浮遊インダクタンスδがあるために、その中心が
傾いており、このため、点線で示した可変コンデンサの
逆回転領域が生じる。このことから、浮遊インダクタン
スδをさらに大きくし、図4に示すようにインピーダン
スの軌跡Iの中心が90°ずらし、可変コンデンサの
逆回転領域を無くすことも考えられる。
By the way, the locus of the input impedance in FIG. 2 is inclined at the center because of the stray inductance δ between the detector 2 and the matching box 3 in FIG. 1, and therefore is shown by the dotted line. A reverse rotation region of the variable capacitor occurs. From this, it is conceivable to further increase the stray inductance δ and shift the center of the impedance locus I Z by 90 ° as shown in FIG. 4 to eliminate the reverse rotation region of the variable capacitor.

【0007】しかしながら、浮遊インダクタンスδを大
きくすると、図5に示すように、入力インピーダンスの
軌跡Iθの中心がさらに多きくずれ、点線で示した逆回
転領域はさらに広がってしまう。そのため、浮遊インダ
クタンスを大きくしても、マッチング可変コンデンサ4
の調整は短時間で行えるものの、チューニング可変コン
デンサ5の調整はさらに多くの時間が必要となってしま
い、結果としてマッチング時間の短縮には繋がらない。
However, when the stray inductance δ is increased, as shown in FIG. 5, the center of the locus Iθ of the input impedance is further displaced, and the reverse rotation region shown by the dotted line is further expanded. Therefore, even if the stray inductance is increased, the matching variable capacitor 4
However, the adjustment of the tuning variable capacitor 5 requires more time, and as a result, the matching time cannot be shortened.

【0008】本発明は、このような点に鑑みてなされた
もので、その目的は、ロスタイム少なく短時間にマッチ
ングを取ることができる高周波装置を実現するにある。
The present invention has been made in view of the above points, and an object thereof is to realize a high frequency device capable of performing matching in a short time with less loss time.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明に基づく高周波装
置は、高周波電源と、高周波電源からの高周波電力が供
給される負荷と、電源と負荷との間に配置され、マッチ
ング可変コンデンサとチューニング可変コンデンサとコ
イルとから成るマッチングボックスと、電源とマッチン
グボックスとの間に設けられた入力インピーダンスを検
出するインピーダンス検出器と、インピーダンス検出器
とマッチングボックスとの間に設けられた入力高周波の
電圧と電流との位相を検出する検出器と、インピーダン
ス検出器と位相検出器との間に配置されたインダクタン
ス成分を備え、インピーダンス検出器により検出された
インピーダンスに応じてマッチング可変コンデンサの容
量を調整し、位相検出器により検出された位相に応じて
チューニング可変コンデンサの容量を調整するように構
成したことを特徴としている。
A high frequency device according to the present invention is arranged between a high frequency power source, a load to which high frequency power is supplied from the high frequency power source, a power source and the load, and a matching variable capacitor and a tuning variable capacitor. A matching box composed of a capacitor and a coil, an impedance detector provided between the power supply and the matching box to detect the input impedance, and an input high frequency voltage and current provided between the impedance detector and the matching box. It has a detector that detects the phase of and, and an inductance component that is placed between the impedance detector and the phase detector, and adjusts the capacitance of the matching variable capacitor according to the impedance detected by the impedance detector. Variable tuning depending on the phase detected by the detector It is characterized by being configured to adjust the capacity of the capacitor.

【0010】[0010]

【作用】本発明に基づく高周波装置は、インピーダンス
検出器と位相検出器とを別個に設け、さらに、インピー
タンス検出器と位相検出器との間に浮遊インダンタクス
成分を挿入し、インピーダンス検出器により検出された
インピーダンスに応じてマッチング可変コンデンサの容
量を調整し、位相検出器により検出された位相に応じて
チューニング可変コンデンサの容量を調整する。
In the high frequency device according to the present invention, an impedance detector and a phase detector are separately provided, and a floating inductance component is inserted between the impedance detector and the phase detector to detect the impedance by the impedance detector. The capacitance of the matching variable capacitor is adjusted according to the impedance obtained, and the capacitance of the tuning variable capacitor is adjusted according to the phase detected by the phase detector.

【0011】[0011]

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。図6は本発明の一実施例を示しており、図
1の従来装置と同一番号は同一構成要素を示す。この実
施例で、高周波発振器1とマッチングボックス3との間
には、マッチングボックス3に入力する高周波のインピ
ーダンス|Z|を検出するインピーダンス検出器15
と、高周波の電圧と電流との位相差θを検出する位相検
出器16とが設けられている。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. FIG. 6 shows an embodiment of the present invention, in which the same reference numerals as those in the conventional apparatus of FIG. In this embodiment, between the high frequency oscillator 1 and the matching box 3, an impedance detector 15 for detecting the high frequency impedance | Z |
And a phase detector 16 for detecting the phase difference θ between the high frequency voltage and the current.

【0012】また、インピーダンス検出器8と位相検出
器9との間には、浮遊インダクタンス成分17が設けら
れている。この浮遊インダクタンス成分17としては、
コイルや長くされた銅帯板などの配線が用いられる。イ
ンピーダンス検出器15によって検出されたインピーダ
ンスは、比較増幅器8で基準電圧と比較され、その差信
号がマッチング可変コンデンサ4を調整するモータ9に
供給され、また、位相検出器16によって検出された位
相差は、比較増幅器10で基準電圧と比較され、その差
信号がチューニング可変コンデンサ5を調整するモータ
11に供給される。このような構成の動作を次に説明す
る。
A floating inductance component 17 is provided between the impedance detector 8 and the phase detector 9. As the stray inductance component 17,
Wiring such as coils and elongated copper strips are used. The impedance detected by the impedance detector 15 is compared with the reference voltage by the comparison amplifier 8, the difference signal is supplied to the motor 9 that adjusts the matching variable capacitor 4, and the phase difference detected by the phase detector 16 is detected. Is compared with a reference voltage by a comparison amplifier 10, and the difference signal is supplied to a motor 11 that adjusts the tuning variable capacitor 5. The operation of such a configuration will be described below.

【0013】上記した構成で、高周波発振器1からの高
周波電力は、負荷7に印加されるが、その際、高周波発
振器1と負荷側のインピーダンスを整合させ、効率よく
高周波を負荷7に供給するため、マッチングボックス3
内のマッチング可変コンデンサ4、チューニング可変コ
ンデンサ5を調整し、インピーダンスマッチングを行
う。以下、この実施例におけるインピーダンスマッチン
グの動作を説明する。
With the above-described structure, the high frequency power from the high frequency oscillator 1 is applied to the load 7. At this time, the high frequency oscillator 1 and the load side impedance are matched to efficiently supply the high frequency to the load 7. , Matching box 3
The matching variable capacitor 4 and the tuning variable capacitor 5 therein are adjusted to perform impedance matching. The operation of impedance matching in this embodiment will be described below.

【0014】まず、インピーダンス検出器15によって
検出されたマッチングボックス3への高周波の入力イン
ピーダンス|Z|が、比較増幅器8で基準電圧と比較さ
れ、その差信号がマッチングボックス3内のマッチング
可変コンデンサ4を調整するモータ9に供給される。モ
ータ9はインピーダンスの値が所定の値(例えば50オ
ーム)となるようにコンデンサ4を調整する。このとき
の検出器15とマッチングボックス3との間の浮遊イン
ダクタンスは、インダクタンス成分17による浮遊イン
ダクタンスδと位相検出器16とマッチングボックス
3との間の浮遊インダクタンスδとが加算されたもの
となり、その値は大きくされている。その結果、インピ
ーダンスの軌跡Iは、図4に示すようにその中心が9
0°回転し、逆回転領域のない状態とされる。従って、
マッチング可変コンデンサ4の調整を短時間に行うこと
ができる。
First, the high frequency input impedance │Z│ to the matching box 3 detected by the impedance detector 15 is compared with the reference voltage by the comparison amplifier 8, and the difference signal is compared with the matching variable capacitor 4 in the matching box 3. Is supplied to the motor 9 for adjusting The motor 9 adjusts the capacitor 4 so that the impedance value becomes a predetermined value (for example, 50 ohm). The stray inductance between the detector 15 and the matching box 3 at this time is the sum of the stray inductance δ 2 due to the inductance component 17 and the stray inductance δ 1 between the phase detector 16 and the matching box 3. , Its value has been increased. As a result, the impedance locus I Z has a center of 9 as shown in FIG.
It is rotated by 0 ° so that there is no reverse rotation area. Therefore,
The matching variable capacitor 4 can be adjusted in a short time.

【0015】一方、位相検出器16で検出された位相差
θは、比較増幅器10で基準電圧と比較され、その差信
号がチューニング可変コンデンサ5を調整するモータ1
1に供給される。モータ11は位相差θの値がゼロとな
るようにコンデンサ5を調整する。このときの検出器1
6とマッチングボックス3との間の浮遊インダクタンス
は、δであり、このδを極めて小さくすることによ
り、インピーダンスの軌跡Iθは図3に示したようにな
る。従って、逆回転領域は点線で示したように非常に範
囲が狭く、比較的短時間にチューニング可変コンデンサ
の調整を行うことができることになる。
On the other hand, the phase difference θ detected by the phase detector 16 is compared with the reference voltage by the comparison amplifier 10, and the difference signal adjusts the tuning variable capacitor 5.
1 is supplied. The motor 11 adjusts the capacitor 5 so that the value of the phase difference θ becomes zero. Detector 1 at this time
Stray inductance between 6 and matching box 3 is [delta] 1, by very small this [delta] 1, the impedance locus Iθ is as shown in FIG. Therefore, the reverse rotation region has a very narrow range as shown by the dotted line, and the tuning variable capacitor can be adjusted in a relatively short time.

【0016】[0016]

【発明の効果】以上説明したように、本発明に基づく高
周波装置は、インピーダンス検出器と位相検出器とを別
個に設け、さらに、インピータンス検出器と位相検出器
との間に浮遊インダンタクス成分を挿入し、インピーダ
ンス検出器により検出されたインピーダンスに応じてマ
ッチング可変コンデンサの容量を調整し、位相検出器に
より検出された位相に応じてチューニング可変コンデン
サの容量を調整するように構成したので、ロスタイムな
く短時間にマッチングを取ることができる。
As described above, in the high frequency device according to the present invention, the impedance detector and the phase detector are separately provided, and the floating inductance component is provided between the impedance detector and the phase detector. Inserted, the capacitance of the matching variable capacitor is adjusted according to the impedance detected by the impedance detector, and the capacitance of the tuning variable capacitor is adjusted according to the phase detected by the phase detector, so there is no loss time. Matching can be done in a short time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】従来の高周波装置の概略を示す図である。FIG. 1 is a diagram schematically showing a conventional high frequency device.

【図2】インピーダンスの軌跡を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a locus of impedance.

【図3】インピーダンスの軌跡を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a locus of impedance.

【図4】インピーダンスの軌跡を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a locus of impedance.

【図5】インピーダンスの軌跡を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a locus of impedance.

【図6】本発明の一実施例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 高周波発振器 3 マッチングボックス 4 マッチング可変コンデンサ 5 チューニング可変コンデンサ 7 負荷 8,10 比較増幅器 9,11 モータ 15 インピーダンス検出器 16 位相検出器 17 浮遊インダクタンス成分 1 High Frequency Oscillator 3 Matching Box 4 Matching Variable Capacitor 5 Tuning Variable Capacitor 7 Load 8,10 Comparative Amplifier 9,11 Motor 15 Impedance Detector 16 Phase Detector 17 Stray Inductance Component

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 高周波電源と、高周波電源からの高周波
電力が供給される負荷と、電源と負荷との間に配置さ
れ、マッチング可変コンデンサとチューニング可変コン
デンサとコイルとから成るマッチングボックスと、電源
とマッチングボックスとの間に設けられた入力インピー
ダンスを検出するインピーダンス検出器と、インピーダ
ンス検出器とマッチングボックスとの間に設けられた入
力高周波の電圧と電流との位相を検出する検出器と、イ
ンピーダンス検出器と位相検出器との間に配置されたイ
ンダクタンス成分を備え、インピーダンス検出器により
検出されたインピーダンスに応じてマッチング可変コン
デンサの容量を調整し、位相検出器により検出された位
相に応じてチューニング可変コンデンサの容量を調整す
るように構成した高周波装置。
1. A high-frequency power supply, a load to which high-frequency power is supplied from the high-frequency power supply, a matching box that is disposed between the power supply and the load, and includes a matching variable capacitor, a tuning variable capacitor, and a coil, and a power supply. An impedance detector provided between the matching box and the impedance detector for detecting the input impedance, a detector provided between the impedance detector and the matching box for detecting the phase of the input high frequency voltage and current, and impedance detection It has an inductance component placed between the phase detector and the phase detector, adjusts the capacitance of the matching variable capacitor according to the impedance detected by the impedance detector, and changes the tuning according to the phase detected by the phase detector. A high frequency configured to adjust the capacitance of the capacitor Wave device.
JP24477892A 1992-09-14 1992-09-14 High-frequency device Withdrawn JPH0693437A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000512460A (en) * 1996-06-13 2000-09-19 アールエフ・パワー・プロダクツ・インコーポレーテッド Method and apparatus for matching variable load impedance to RF generator impedance
KR100463754B1 (en) * 1996-06-29 2005-06-07 삼성코닝 주식회사 Method and apparatus for manufacturing ITO glass

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