JPH0691514B2 - Bit string match determination circuit - Google Patents

Bit string match determination circuit

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JPH0691514B2
JPH0691514B2 JP62007815A JP781587A JPH0691514B2 JP H0691514 B2 JPH0691514 B2 JP H0691514B2 JP 62007815 A JP62007815 A JP 62007815A JP 781587 A JP781587 A JP 781587A JP H0691514 B2 JPH0691514 B2 JP H0691514B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はビット列一致判定回路に関し、特に伝送ビット
誤りのような小さい確率のビット誤りを含む2列のビッ
ト列をビットごとに比較して得たビット一致判定信号に
基づいてビット列が同じであるかどうか判定するビット
列一致判定回路に関する。
The present invention relates to a bit string coincidence determination circuit, and in particular, it is obtained by comparing two bit strings including bit errors with a small probability such as transmission bit errors bit by bit. The present invention relates to a bit string match determination circuit that determines whether or not bit strings are the same based on a bit match determination signal.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

かかるビット列一致判定回路はデータを扱う電子装置に
おいてしばしば必要になる。予備回線をもつディジタル
マイクロ波通信システムの回線切替に用いる場合を例に
して、従来のビット列一致判定回路について説明する。
Such a bit string coincidence determination circuit is often required in electronic devices that handle data. A conventional bit string coincidence determination circuit will be described by taking as an example the case of use for line switching of a digital microwave communication system having a protection line.

ディジタルマイクロ波通信システムの現用回路と予備回
線とで並列伝送された二つのデータ(それぞれデータA,
Bとする)は、現用回線と予備回線との間の伝搬遅延差
等のためにビット位相が必ずしも一致しない。しかも、
伝搬遅延差は時間的に変動するので、データA,B間のビ
ット位相ずれも時間的に変動する。ビット位相が一致し
ていない状態で現用回線と予備回線とを回線切替する
と、切替時にビット誤りが発生する。このビット誤りの
発生を避けるため、ビット位相検出回路でデータA,Bの
ビット位相が一致しているかいないか判定し、一致して
いなければ相対ビット位相を強制的にずらせて一致さ
せ、その後に回線切替を行う。
Two data (data A, data A, respectively) transmitted in parallel by the working circuit and the protection line of the digital microwave communication system
B) does not necessarily have the same bit phase due to a propagation delay difference between the working line and the protection line. Moreover,
Since the propagation delay difference fluctuates with time, the bit phase shift between the data A and B also fluctuates with time. When the working line and the protection line are switched when the bit phases do not match, a bit error occurs at the time of switching. To avoid the occurrence of this bit error, the bit phase detection circuit determines whether the bit phases of data A and B match, and if they do not match, the relative bit phases are forcibly shifted to match and then Switch the line.

第2図は、ビット位相検出回路の第1の例を示すブロッ
ク図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a first example of the bit phase detection circuit.

第2図に示すビット位相検出回路は、データA,Bを入力
しビット一致判定信号Cを出力する排他的論理和回路
(以下EX-ORという)1と、ビット一致判定信号Cを入
力する従来のビット列一致判定回路2とを具備して構成
されている。
The bit phase detection circuit shown in FIG. 2 is an exclusive OR circuit (hereinafter referred to as EX-OR) 1 that inputs data A and B and outputs a bit match determination signal C, and a conventional one that inputs the bit match determination signal C. The bit string coincidence determination circuit 2 of FIG.

EX-OR1は、2入力が一致していれば“0"を、一致してい
なければ“1"を出力するから、データA,Bをビットごと
に比較して一致,不一致の判定結果を出力するビット比
較回路として動作する。
EX-OR1 outputs "0" if the two inputs match, and outputs "1" if they do not match. Therefore, data A and B are compared bit by bit, and a match / mismatch judgment result is output. Operates as a bit comparison circuit.

データA,Bのビット位相が一致しており、しかも伝送ビ
ット誤りがなければ、ビット一致判定信号Cは“0"の連
続になる。しかし、伝送ビット誤りのために“1"になる
こともある。データA,Bのビット位相が一致していなけ
れば、通常は大きい確率でビット一致判定信号Cが“1"
になる。
If the bit phases of the data A and B are in agreement and there is no transmission bit error, the bit coincidence determination signal C is continuous "0". However, it may be "1" due to transmission bit error. If the bit phases of the data A and B do not match, the bit match determination signal C is usually "1" with a high probability.
become.

ビット列一致判定回路2は、ビット一致判定信号Cが
“0"になる回数および“1"になる回数をそれぞれ所定の
期間ごとに計数し、これらの計数値に基づきデータA,B
の一致,不一致を判定する。この判定結果を出力の判定
出力とする。
The bit string match determination circuit 2 counts the number of times the bit match determination signal C becomes “0” and the number of times it becomes “1” for each predetermined period, and based on these count values, the data A and B are counted.
Matches or disagrees with. This determination result is used as the output determination output.

ところが、データA,Bが軽負荷であり、ビットの変化成
分がほとんどない場合、ビット位相が一致していなくて
もビット一致判定信号Cが“1"になる確率は小さくな
る。例えば、データA,Bが2928ビット長の1フレームに
一つの“1"のフレーム同期ビットを含み、それ以外のビ
ットがすべて(伝送ビット誤りを除き)“0"になったと
仮定すると、データA,Bのビット位相が一致していない
とき、ビット一致判定信号Cが“1"になる確率は2/2928
≒7×10-4という小さい値になる。この場合にデータA,
Bの伝送ビット誤り率が7×10-4程度になると、ビット
一致判定信号Cが“1"になったのかビット位相の不一致
によるものか伝送ビット誤りによるものか区別できない
から、第2図に示すビット位相検出回路は頻繁に誤動作
する。
However, when the data A and B are lightly loaded and there is almost no bit change component, the probability that the bit match determination signal C becomes "1" becomes small even if the bit phases do not match. For example, assuming that data A and B include one frame synchronization bit of "1" in one frame of 2928 bit length and all other bits are "0" (excluding transmission bit error), data A and B When the bit phases of B and B do not match, the probability that the bit match determination signal C becomes "1" is 2/2928.
It becomes a small value of ≒ 7 × 10 -4 . In this case data A,
When the transmission bit error rate of B becomes about 7 × 10 −4 , it cannot be distinguished whether the bit coincidence determination signal C becomes “1”, the bit phase mismatch, or the transmission bit error. The bit phase detection circuit shown often malfunctions.

第3図は、より大きい伝送ビット誤り率においても誤動
作しないで使えるように提案された第2の例のビット位
相検出回路を示すブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram showing a bit phase detection circuit of a second example proposed so that it can be used without malfunction even at a higher transmission bit error rate.

第3図に示すビット位相検出回路は、それぞれデータA,
Bを入力しビット列A1〜A16,B1〜B16を出力する2個の直
列変換部3と、それぞれビット列AiおよびBi(iは1〜
16の整数)を入力しビット一致判定信号Ciを出力する16
個のEX-OR1と、それぞれビット一致判定信号Ciを入力し
ビット列一致判定信号Diを出力する16個のビット列一致
判定回路2と、ビット列一致判定信号D1〜D16を入力す
る論理和回路(以下ORという)4とを具備して構成され
ている。
The bit phase detection circuit shown in FIG.
Two serial conversion units 3 that input B and output bit strings A 1 to A 16 and B 1 to B 16 , and bit strings Ai and Bi (i is 1 to 1).
16 integer) and outputs the bit match determination signal Ci 16
EX-OR1, 16 bit string match judging circuits 2 each of which inputs a bit match judging signal Ci and outputs a bit string match judging signal Di, and an OR circuit (inputs the bit string match judging signals D 1 to D 16 4).

直列並列変換部3は、それぞれデータA,Bを16分周して1
6列のビット列A1〜A16,B1〜B16に変換する。この変換に
よって、ビット列A1〜A16,B1〜B16の1タイムスロット
はデータA,Bの1タイムスロットの16倍の長さになり、
データA,Bが1フレーム周期内に2928ビットを含むとし
てビット列A1〜A16,B1〜B16は同じ1フレーム周期内に2
928/16=183ビットを含む。2個の直列並列変換部3
は、データA,Bの同じタイムスロットのビットをビット
列A1〜A16,B1〜B16の同じ順番の列の同じタイムスロッ
トに配置するように、互に同期して分周する。
The serial-to-parallel converter 3 divides the data A and B into 16 and outputs 1
Converts to 6 bit strings A 1 to A 16 , B 1 to B 16 . By this conversion, one time slot of the bit string A 1 to A 16 , B 1 to B 16 is 16 times as long as one time slot of the data A and B,
Assuming that the data A and B include 2928 bits in one frame period, the bit strings A 1 to A 16 and B 1 to B 16 are 2 in the same one frame period.
Including 928/16 = 183 bits. Two serial-parallel converters 3
Divides the bits of the data A and B in the same time slot so as to be arranged in the same time slot of the bit strings A 1 to A 16 and B 1 to B 16 in the same order and in synchronization with each other.

それぞれのEX-OR1は、ビット列A1〜A16とビット列B1〜B
16との同じ順番の列同士をビットごとに比較して、ビッ
ト一致判定信号C1〜C16を出力する。データA,Bのビット
位相が一致していればビット列A1〜A16とビット列B1〜B
16とは、伝送ビット誤りを除き、同じ順番の列同士ビッ
ト位相まで一致するので、ビット一致判定信号C1〜C16
は、伝送ビット誤りを除き、すべて“0"の連続になる。
データA,Bのビット位相が一致していなければ、ビット
列A1〜A16とビット列B1〜B16との同じ順番の列同士は一
致しないから、ビット一致判定信号C1〜C16に“1"が発
生する。
Each EX-OR1 consists of bit string A 1 to A 16 and bit string B 1 to B.
Columns in the same order as 16 are compared bit by bit, and bit match determination signals C 1 to C 16 are output. If the bit phases of data A and B match, bit string A 1 to A 16 and bit string B 1 to B
16 means that the bit phases of the columns in the same order match each other except the transmission bit error, so that the bit matching determination signals C 1 to C 16
Are all consecutive "0" except for transmission bit error.
If the bit phases of the data A and B do not match, the bit strings A 1 to A 16 and the bit strings B 1 to B 16 do not match in the same order, so the bit match determination signals C 1 to C 16 1 "occurs.

それぞれのビット列一致判定回路2は、ビット一致判定
信号C1〜C16に基づきビット列A1〜A16とビット列B1〜B
16との同じ順番の列同士の一致,不一致を判定し、一致
しているとき“0"、一致していないとき“1"になるビッ
ト列一致判定信号D1〜D16を出力する。
Each of the bit string match determination circuits 2 has a bit string A 1 to A 16 and a bit string B 1 to B 16 based on the bit match determination signals C 1 to C 16.
Matching or non-matching between the columns in the same order as 16 is judged, and bit string matching judgment signals D 1 to D 16 which are “0” when they match and “1” when they do not match are output.

データA,Bのビット位相が一致していればビット列一致
判定信号D1〜D16がすべて“0"になるから、OR4の出力信
号である判定出力は“0"になる。ビット位相が一致して
いなければビット列一致判定信号D1〜D16の少くとも二
つが“1"になるから、判定出力は“1"になる。
Data A, because if bit phase and B they match the bit string matching determination signal D 1 to D 16 all become "0", the judgment output is the output signal of the OR4 becomes "0". If the bit phases do not match, at least two of the bit string match determination signals D 1 to D 16 become “1”, and the determination output becomes “1”.

第3図に示すビット位相検出回路は、16個のビット列一
致判定信号D1〜D16によってデータA,Bのビット位相の一
致,不一致を判定しており、判定のための情報が第2図
に示すビット位相検出回路と比較して相対的に多いの
で、より確かに判定できる。
The bit phase detection circuit shown in FIG. 3 determines whether or not the bit phases of the data A and B coincide with each other by 16 bit string coincidence determination signals D 1 to D 16 , and the information for the determination is shown in FIG. Since the number of bit phase detection circuits is relatively large as compared with the bit phase detection circuit shown in FIG.

さて、データA,Bの各ビットが1フレーム周期内の一つ
の“1"のフレーム同期ビットを除きすべて(伝送ビット
誤りを除き)“0"になったとすると、ビット列A1〜A16,
B1〜B16のうちそれぞれ1列にのみ1フレーム周期内に
1ビット“1"が現われ、その他のビットはすべて“0"に
なる。この場合、データA,Bのビット位相が一致してい
なければ、ビット列A1〜A16とビット列B1〜B16とは2組
の同じ順番の列同士でのみ不一致となり、ビット列一致
判定信号D1〜D16のうち二つが“1"になる。この場合、
フレーム同期ビットを含むビット列に“1"が現われる確
率は1/183≒5.5×10-3となるから、データA,Bの伝送ビ
ット誤り率が5.5×10-3程度になると第3図に示すビッ
ト位相検出回路は頻繁に誤動作するようになる。
Now, the data A, when each bit of B is to become all but the frame synchronization bit of a "1" in one frame period (except for transmission bit errors) "0", the bit string A 1 to A 16,
B 1 .about.B appear one bit "1" only in one frame period in each one row of the 16, the other bits are all "0". In this case, if the bit phases of the data A and B do not match, the bit strings A 1 to A 16 and the bit strings B 1 to B 16 do not match only in two sets having the same order, and the bit string match determination signal D Two of 1 to D 16 become “1”. in this case,
Since the probability of "1" appearing in the bit string including the frame synchronization bit is 1/183 ≈ 5.5 × 10 -3 , the transmission bit error rate of data A and B is about 5.5 × 10 -3 , as shown in Fig. 3. The bit phase detection circuit often malfunctions.

以上説明したように、第2図に示すビット位相検出回路
が7×10-4程度の伝送ビット誤り率で頻繁に誤動作する
ようになるのに対し、第3図に示すビット位相検出回路
は5.5×10-3程度の伝送ビット誤り率で頻繁に誤動作す
るようになるから、より大きい伝送ビット誤り率におい
ても誤動作しないで使える。
As described above, the bit phase detection circuit shown in FIG. 2 frequently malfunctions with a transmission bit error rate of about 7 × 10 -4 , whereas the bit phase detection circuit shown in FIG. Since it often malfunctions at a transmission bit error rate of about × 10 -3, it can be used without malfunction even at a higher transmission bit error rate.

第4図は、従来のビット列一致判定回路2の一例を示す
ブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram showing an example of a conventional bit string match determination circuit 2.

第4図に示す従来例は、ビット一致判定信号Ciを入力す
る否定回路(以下NOTという)11と、ビット一致判定信
号Ciを入力しパルスP1を出力する第1NOカウンタ12と、N
OT11の出力信号を入力しパルスP2を出力する第1YESカウ
ンタ13と、否定積回路(以下NANDという)16,17とを備
えて構成されている。NAND16はパルスP1とNAND17の出力
信号とを入力しビット列一致判定信号Diを出力する。NA
ND17はパルスP2とNAND16の出力信号とを入力する。
In the conventional example shown in FIG. 4, a negation circuit (hereinafter referred to as NOT) 11 that inputs a bit coincidence determination signal Ci, a first NO counter 12 that inputs a bit coincidence determination signal Ci and outputs a pulse P 1 , and N
A first YES counter 13 that receives the output signal of the OT 11 and outputs a pulse P 2 and NAND circuits (hereinafter referred to as NAND) 16 and 17 are configured. The NAND 16 inputs the pulse P 1 and the output signal of the NAND 17, and outputs a bit string coincidence determination signal Di. NA
ND17 inputs the pulse P 2 and the output signal of NAND16.

第4図に示す従来例の動作について、第3図に示すビッ
ト位相検出回路に使用されるものとして以下説明する。
The operation of the conventional example shown in FIG. 4 will be described below assuming that it is used in the bit phase detection circuit shown in FIG.

第1NOカウンタ12はデータA,Bの5フレーム同期ごと(ビ
ット列Ai,Biの183×5ビットごと)にビット一致判定信
号Ciが“1"になる(ビット列Ai,Biのタイムスロット長
を単位としての)回数を計数し、計数値が4に達すると
負のパルスP1を出力する。第1YESカウンタ13はビット列
A1〜A16,B1〜B16の16ビットごとにNOT11の出力信号が
“1"になる(ビット一致判定信号Ciが“0"になる)回数
を計数し、計数値が12に達すると負のパルスP2を出力す
る。
The first NO counter 12 sets the bit coincidence determination signal Ci to “1” every 5 frame synchronization of the data A and B (every 183 × 5 bits of the bit strings Ai and Bi) (in units of the time slot length of the bit strings Ai and Bi). The number of times is counted, and when the count value reaches 4, a negative pulse P 1 is output. The first YES counter 13 is a bit string
A 1 ~A 16, B 1 NOT11 output signal of every 16 bits of .about.B 16 becomes "1" (bit match determination signal Ci is "0") and counts the number of times, the count value is reach the 12 Then, the negative pulse P 2 is output.

NAND16,17は、パルスP1でセットされパルスP2でリセッ
トされるR-S型フリップフロップとして相互結線されて
いるから、ビット列一致判定信号Diは、パルスP1が入力
すると“1"、パルスP2が入力すると“0"になる。
NAND16,17 is because they are mutually connected with a pulse P 2 is set at the pulse P 1 as RS type flip-flop is reset, the bit string matching determination signal Di is, when the pulse P 1 is inputted "1", the pulse P 2 When is input, it becomes "0".

ビット列Ai,Biの伝送ビット誤りが無視できる場合、ビ
ット列Ai,Biが一致していればビット一致判定信号Ciは
すべて“0"になるからパルスP1は発生せず、パルスP2
発生してビット列一致判定信号Diは“0"になる。ビット
列Ai,Biが一致していず、ビット一致判定信号Ciが1フ
レーム周期内に少くとも1回“1"になれば5フレーム周
期ごとにパルスP1が発生するので、ビット列一致判定信
号Diは“1"になる。ビット列Ai,Biが一致していなくと
もパルスP2が発生することもあるから、パルスP2が発生
すると、次のパルスP1が発生するまでビット列一致判定
信号Diは“0"になる。
When the transmission bit error of the bit strings Ai and Bi can be ignored, if the bit strings Ai and Bi match, the bit match determination signals Ci all become “0”, so the pulse P 1 does not occur and the pulse P 2 occurs. The bit string match determination signal Di becomes "0". If the bit strings Ai and Bi do not match and the bit match determination signal Ci becomes "1" at least once within one frame period, a pulse P 1 is generated every 5 frame periods. It becomes "1". Since the pulse P 2 may occur even if the bit strings Ai and Bi do not match, when the pulse P 2 occurs, the bit string match determination signal Di becomes “0” until the next pulse P 1 occurs.

以上説明したように、第4図に示す従来例は、1フレー
ムに1回でもビット一致判定信号が“1"になればビット
列Ai,Biの不一致を検出できる。したがって、伝送ビッ
ト誤りによって1フレームに1回程度ビット一致判定信
号Ciが誤って出力されるようになると誤動作する。誤動
作の確率は伝送ビット誤り率の減少と共に小さくなるが
急激には小さくならないので、小さな誤動作確率が必要
な場合、1フレームに1回伝送ビット誤りが発生する伝
送ビット誤り率(3×10-4程度)より十分小さい伝送ビ
ット誤り率でしか使用できない。
As described above, in the conventional example shown in FIG. 4, if the bit match determination signal becomes "1" even once in one frame, the mismatch between the bit strings Ai and Bi can be detected. Therefore, if the bit coincidence determination signal Ci is erroneously output about once per frame due to a transmission bit error, a malfunction occurs. The malfunction probability decreases as the transmission bit error rate decreases, but does not decrease rapidly. Therefore, if a small malfunction probability is required, the transmission bit error rate (3 × 10 -4) occurs once in one frame. Can be used only with a transmission bit error rate sufficiently smaller than

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

以上説明したように従来のビット列一致判定回路は、ビ
ット一致判定信号の確率的な誤りによって誤動作する確
率がビット一致判定信号の誤り率の減少によって急激に
は小さくならないので、ビット一致判定信号の誤り率が
ごく小さくないと使えないという欠点がある。
As described above, in the conventional bit string match determination circuit, the probability of malfunction due to the stochastic error of the bit match determination signal does not sharply decrease due to the decrease in the error rate of the bit match determination signal. It has the drawback that it cannot be used unless the rate is very small.

本発明の目的は、ビット一致判定信号の誤り率の減少に
よって誤動作の確率が急激に小さくなるビット列一致判
定回路を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a bit string coincidence judging circuit in which the probability of malfunction is sharply reduced by reducing the error rate of the bit coincidence judging signal.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明のビット列一致判定回路は、2列のビット列をビ
ットごとに比較して一致しているかいないかを判定する
ビット比較手段の判定結果が不一致を示す回数を第1の
期間ごとに計数して計数値が第1のしきい値に達すると
第1のパルスを出力する第1の計数手段と、前記判定結
果が一致を示す回数を前記第1の期間より短い第2の期
間ごとに計数して計数値が第2のしきい値に達すると第
2のパルスを出力する第2の計数手段と、前記第1のパ
ルスを前記第1の期間の2倍以上である第3の期間ごと
に計数して計数値が第3のしきい値に達すると第3のパ
ルスを出力する第3の計数手段と、前記第2のパルスを
計数して計数値が前記第2のパルスの前記第1の期間に
おいて可能な最大発生数より大きい第4のしきい値に達
すると第4のパルスを出力し前記第1のパルスでクリア
される第4の計数手段と、前記第3のパルスが入力する
と2つの状態のうち第1の状態をとり前記第4のパルス
が入力すると前記2つの状態のうち第2の状態をとる2
値の一致判定信号を出力する論理回路手段とを備えて構
成される。
The bit string coincidence judging circuit of the present invention counts, for each first period, the number of times that the judgment result of the bit comparison means for comparing two bit strings for each bit to judge whether or not they coincide with each other. A first counting unit that outputs a first pulse when the count value reaches a first threshold value, and the number of times that the determination result indicates a match is counted for each second period that is shorter than the first period. Second counting means for outputting a second pulse when the count value reaches a second threshold value, and the first pulse for each third period that is twice or more the first period. Third counting means for counting and outputting a third pulse when the count value reaches the third threshold value; and for counting the second pulse, the first count value is the first pulse of the second pulse. If the fourth threshold is exceeded that is greater than the maximum number of possible occurrences during Is output and is cleared by the first pulse, and when the third pulse is input, the first state is taken out of two states, and when the fourth pulse is input, the two states are output. 2 of which takes the second state
And a logic circuit means for outputting a value coincidence determination signal.

〔実施例〕〔Example〕

以下実施例を示す図面を参照して本発明について詳細に
説明する。
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings illustrating an embodiment.

第1図は、本発明のビット列一致判定回路の一実施例を
示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a bit string coincidence judging circuit of the present invention.

第1図に示す実施例は、第4図に示す従来例に第2NOカ
ウンタ14と第2YESカウンタ15とを付加して構成されてい
る。第2NOカウンタ14は、パルスP1を入力し、パルスP3
をNAND16へ出力する。第2YESカウンタ15は、パルスP1,P
2を入力し、パルスP4をNAND17へ出力する。
The embodiment shown in FIG. 1 is configured by adding a second NO counter 14 and a second YES counter 15 to the conventional example shown in FIG. The second NO counter 14 receives the pulse P 1 and receives the pulse P 3
Is output to NAND16. The second YES counter 15 outputs the pulses P 1 , P
Input 2 and output pulse P 4 to NAND17.

第4図に示す従来例の説明で用いたのと同じ使用条件、
すなわち、ビット一致判定信号Ciを得た2列のビット列
は183ビットで1フレームを構成し、ビット列同士が一
致していなければビット一致判定信号Ciが1フレーム周
期内に少くとも1回は“1"になるという使用条件のもと
で、第1図に示す実施例の動作について説明する。
The same use conditions as used in the description of the conventional example shown in FIG.
That is, the two bit strings that have obtained the bit match determination signal Ci form one frame with 183 bits, and if the bit strings do not match each other, the bit match determination signal Ci is "1" at least once within one frame period. The operation of the embodiment shown in FIG. 1 will be described under the use condition of ".

第2NOカウンタ14は、5×16フレーム周期ごとにパルスP
1が入力する回数を計数し、計数値が14に達すると負の
パルスP3を出力する。第2YESカウンタ15は、パルスP2
入力する回数を計数し、計数値が92に達すると負のパル
スP4を発生し、また、パルスP1が入力するとクリアされ
る(計数値が0になる)。既に述べたように、第1NOカ
ウンタ12の計数期間が5フレームであり、この計数期間
におけるパルスP2の可能な最大発生数は5×183/16<58
である。第2YESカウンタ15の計数しきい値を58より大き
い92に設定している。
The second NO counter 14 outputs a pulse P every 5 × 16 frame periods.
The number of times 1 is input is counted, and when the count value reaches 14, a negative pulse P 3 is output. The second YES counter 15 counts the number of times the pulse P 2 is input, generates a negative pulse P 4 when the count value reaches 92, and is cleared when the pulse P 1 is input (the count value becomes 0). Become). As described above, the counting period of the first NO counter 12 is 5 frames, and the maximum number of pulses P 2 that can be generated during this counting period is 5 × 183/16 <58.
Is. The count threshold of the second YES counter 15 is set to 92, which is larger than 58.

ビット一致判定信号Ciの確率的な誤りが無視できる場
合、ビット一致判定信号Ciを得たビット列同士が一致し
ていれば、パルスP1は発生せず、その結果、パルスP3
発生しない。一方、16ビットごとにパルスP2が発生し、
16×92ビット(約8フレーム)ごとにパルスP4が発生す
るので、ビット列一致判定信号Diは“0"になり、“1"に
なることはない。ビット列同志が一致していないと、5
フレームごとにパルスP1が発生し、5×16フレームには
発生回数が16になるからパルスP3が発生し、ビット列一
致判定信号Diは“1"になる。一方、パルスP1の発生によ
り第2YESカウンタ15がクリアされ、パルスP1が次に発生
するまでに発生するパルスP2の最大数は58以下と92より
小さいのでパルスP4は発生しない。したがって、ビット
列同志が一致していなければビット列一致判定信号Diは
“1"を保持し続ける。
When the probabilistic error of the bit match determination signal Ci can be ignored, if the bit strings that have obtained the bit match determination signal Ci match, pulse P 1 does not occur, and as a result, pulse P 3 does not occur. On the other hand, a pulse P 2 is generated every 16 bits,
Since the pulse P 4 is generated every 16 × 92 bits (about 8 frames), the bit string coincidence determination signal Di becomes “0” and never becomes “1”. If the bit strings do not match, 5
A pulse P 1 is generated for each frame, and the number of occurrences is 16 in 5 × 16 frames, so a pulse P 3 is generated and the bit string coincidence determination signal Di becomes “1”. On the other hand, the 2YES counter 15 is cleared by the occurrence of pulses P 1, no pulse P 4 is generated because the maximum number of pulses P 2 generated by the pulse P 1 is then generated 58 or less and less than 92. Therefore, if the bit strings do not match each other, the bit string match determination signal Di continues to hold "1".

ビット一致判定信号Ciの誤り率が5.5×10-3程度になる
と、ビット列同志が一致していてもパルスP1が発生す
る。しかし、パルスP1の誤った発生によってパルスP3
発生する確率は小さく、しかも、パルスP1の誤発生の確
率が小さくなるとパルスP3の誤発生の確率は急激に小さ
くなる。したがって、ビット一致判定信号Ciの誤り率が
5.5×10-3よりわずかに小さくなれば、パルスP3の誤発
生の確率はきわめて小さくなり、ビット列一致判定信号
Diが誤って“1"になる確率もきわめて小さくなる。
When the error rate of the bit match determination signal Ci becomes about 5.5 × 10 −3 , the pulse P 1 is generated even if the bit strings match each other. However, the probability that the pulse P 3 is generated by the occurrence of erroneous pulses P 1 is small and the probability of false generation of the pulse P 3 when the probability of erroneous generated pulses P 1 decreases sharply decreases. Therefore, the error rate of the bit match determination signal Ci is
If it becomes slightly smaller than 5.5 × 10 -3 , the probability of false occurrence of pulse P 3 becomes extremely small, and the bit string match determination signal
The probability that Di will be "1" by mistake is extremely small.

以上説明したように第1図に示す実施例は、ビット列同
志が一致していないときビット一致判定信号Ciが1フレ
ーム(183ビット)中1回しか“1"にならないような軽
負荷なビット列でも不一致を検出でき、しかも、ビット
一致判定信号Ciの誤り率が5.5×10-3にごく接近するま
では、一致を誤って不一致と判定する確率はきわめて小
さい。
As described above, the embodiment shown in FIG. 1 can be applied to a light load bit string in which the bit match determination signal Ci becomes "1" only once in one frame (183 bits) when the bit strings do not match each other. Until a mismatch can be detected and the error rate of the bit match determination signal Ci approaches 5.5 × 10 −3 , the probability of erroneously determining a mismatch as a mismatch is extremely small.

第1図に示す実施例を第3図に示すビット位相検出回路
に用いれば、データA,Bの伝送ビット誤り率が5.5×10-3
程度に劣化するまで、きわめて正確にビット位相の一
致,不一致を判定できる。
When the embodiment shown in FIG. 1 is used in the bit phase detection circuit shown in FIG. 3, the transmission bit error rate of data A and B is 5.5 × 10 −3.
It is possible to judge the coincidence and non-coincidence of the bit phase extremely accurately until the deterioration is caused to some extent.

なお、第1図に示す実施例において、パルスP2が発生す
ると第1YESカウンタがクリアされて、次の計測をすぐ始
めるようにすることもできる。このようにすれば判定時
間を短縮できる。このときも、第1NOカウンタ12の計数
期間(5×183ビット)におけるパルスP2の最大発生数
(5×183/12<77)が第2YESカウンタ15の計数しきい値
(92)より小さいことが必要である。更に、パルスP4
よって第2NOカウンタをクリアするようにもできる。こ
うすれば、ビット列同志が一致から不一致に変ったとき
第2NOカウンタが必ず0から計数を始めるので、パルスP
3の確かさが向上する。
In the embodiment shown in FIG. 1, the first YES counter may be cleared when the pulse P 2 is generated, and the next measurement may be started immediately. By doing so, the determination time can be shortened. Also at this time, the maximum number of pulses P 2 (5 × 183/12 <77) in the counting period (5 × 183 bits) of the first NO counter 12 is smaller than the counting threshold (92) of the second YES counter 15. is necessary. Further, the second NO counter can be cleared by the pulse P 4 . By doing this, the second NO counter always starts counting from 0 when the bit strings change from coincidence to disagreement.
The certainty of 3 improves.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように本発明のビット列一致判定回路は、
第3の計数手段(第2NOカウンタ)によって第1のパル
ス(パルスP1)の発生頻度を判定することにより、ビッ
ト比較手段の判定結果の誤り率が減少すると誤動作の確
率が急激に小さくなるようにしているので、ビット比較
手段の判定結果の誤り率が劣化しても頻繁に誤動作を始
めるまでは、ビット列の一致,不一致をきわめて正確に
判定できるという効果があり、また、第1のパルスによ
り第4のパルス(パルスP4)の発生を禁止しているの
で、ビット列が一致していないとき、一致を示す判定結
果を全然ださないという効果もある。
As described above, the bit string match determination circuit of the present invention is
By determining the frequency of occurrence of the first pulse (pulse P 1 ) by the third counting means (second NO counter), the probability of malfunction will decrease sharply if the error rate of the determination result of the bit comparison means decreases. Therefore, even if the error rate of the determination result of the bit comparison means deteriorates, there is an effect that it is possible to determine whether the bit strings match or do not match very accurately until the malfunction frequently starts, and by the first pulse. Since the generation of the fourth pulse (pulse P 4 ) is prohibited, there is also an effect that when the bit strings do not match, no determination result indicating the match is obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は、本発明のビット列一致判定回路の一実施例を
示すブロック図、 第2図,第3図は、ビット列一致判定回路の応用例であ
るビット位相検出回路の第1,第2の例を示すブロック
図、 第4図は、従来のビット列一致判定回路の一例を示すブ
ロック図である。 11……NOT(否定回路)、12……第1NOカウンタ、13……
第1YESカウンタ、14……第2NOカウンタ、15……第2YES
カウンタ、16,17……NAND(否定積回路)。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a bit string coincidence judging circuit of the present invention, and FIGS. 2 and 3 are first and second examples of a bit phase detecting circuit which is an application example of the bit string coincidence judging circuit. FIG. 4 is a block diagram showing an example, and FIG. 4 is a block diagram showing an example of a conventional bit string match determination circuit. 11 …… NOT (Negation circuit), 12 …… First NO counter, 13 ……
1st YES counter, 14 ... 2nd NO counter, 15 ... 2nd YES
Counter, 16, 17 ... NAND (Negative product circuit).

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】2列のビット列をビットごとに比較して一
致しているかいないかを判定するビット比較手段の判定
結果が不一致を示す回数を第1の期間ごとに計数して計
数値が第1のしきい値に達すると第1のパルスを出力す
る第1の計数手段と、 前記判定結果が一致を示す回数を前記第1の期間より短
い第2の期間ごとに計数して計数値が第2のしきい値に
達すると第2のパルスを出力する第2の計数手段と、 前記第1のパルスを前記第1の期間の2倍以上である第
3の期間ごとに計数して計数値が第3のしきい値に達す
ると第3のパルスを出力する第3の計数手段と、 前記第2のパルスを計数して計数値が前記第2のパルス
の前記第1の期間において可能な最大発生数より大きい
第4のしきい値に達すると第4のパルスを出力し前記第
1のパルスでクリアされる第4の計数手段と、 前記第3のパルスが入力すると2つの状態のうち第1の
状態をとり前記第4のパルスが入力すると前記2つの状
態のうち第2の状態をとる2値の一致判定信号を出力す
る論理回路手段と を備えたことを特徴とするビット列一致判定回路。
1. The number of times that the determination result of a bit comparison unit that determines whether or not there is a match by comparing two bit strings for each bit is counted every first period and the counted value is A first counting unit that outputs a first pulse when the threshold value of 1 is reached, and a count value obtained by counting the number of times that the determination result indicates a match for each second period that is shorter than the first period. Second counting means for outputting a second pulse when the second threshold value is reached; and counting and counting the first pulse for each third period that is at least twice the first period. Third counting means for outputting a third pulse when the numerical value reaches a third threshold value, and counting value of the second pulse is possible in the first period of the second pulse. If a fourth threshold value larger than the maximum number of occurrences is reached, a fourth pulse is output and the first pulse is output. A fourth counting means which is cleared by a pulse; and when the third pulse is input, the first state of the two states is taken, and when the fourth pulse is input, the second state of the two states is taken. And a logic circuit means for outputting a binary match determination signal.
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