JPH068754B2 - 多心一括光パワの測定方法および装置 - Google Patents

多心一括光パワの測定方法および装置

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JPH068754B2
JPH068754B2 JP6485786A JP6485786A JPH068754B2 JP H068754 B2 JPH068754 B2 JP H068754B2 JP 6485786 A JP6485786 A JP 6485786A JP 6485786 A JP6485786 A JP 6485786A JP H068754 B2 JPH068754 B2 JP H068754B2
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optical
optical fiber
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signal
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英二 前川
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は多数の光ファイバからの光パワを1個の光セン
サを用いて一括して測定するための方法および装置に関
するものである。
(従来の技術) 多数心の光ファイバからの光パワを1個の光センサで一
括して測定するための方法として、従来第3図に示す変
調方式がある。この方式は、測定する光ファイバ3a,
3b,3cのすべてに光源2a,2b,2cによって連
続して光を入射し、該光ファイバ3a,3b,3cから
の光を1個の光センサ4で一括して受光するものであ
り、該光ファイバ3a,3b,3cからの光を識別、分
離するために該光源2a,2b,2cに異なった周波数
を持つ発振器1a,1b,1cで振幅変調をかける方式
である。光ファイバ3a,3b,3cからの光は、各光
ファイバに対応して異なった周波数で変調されているの
で、光センサ4によって光−電流変換され、増幅器5に
よって増幅された受光信号の中から、測定したい光ファ
イバからの信号を、該所望光ファイバの変調周波数に対
応する帯域通過フィルタ6a,6b,6cを通すことに
より選択することができ、選択された信号のレベルを測
定することにより、所望光ファイバからの光パワを測定
することができる。
従来の測定方式はこのような方法であるので、測定する
光ファイバ以外からの光パワも測定時に光センサ4に当
っている。光センサは受光パワの増加に伴って雑音を発
生するので、該測定光ファイバ以外からの光パワは雑音
発生源となり、最小測定可能光パワのレベルを悪化させ
る。例えば5本の光ファイバの測定において、該光ファ
イバからの光パワが同等であるとすると、1本の光ファ
イバからのパワを測定する場合と比較して約7dB最小測
定可能パワの悪化を招く。さらに各光パワは振幅変調さ
れており、該振幅の大きさを測定することによって光パ
ワを測定するので、変調率が小さくなるに従って最小測
定可能パワを悪化させる。現在の光源の直線性からこの
変調率は0.5程度であり、従って無変調の場合と比較
して最小測定可能パワを約3dB悪化させる。従って従来
の方式による測定では、1本の光ファイバからの光パワ
を測定す場合と比較して、最小測定可能パワは、約10dB
(5本の光ファイバの測定時)程度悪くなる欠点があっ
た。
(発明が解決しようとする問題点) 本発明は最小測定可能レベルの悪化を招くことなく、多
心光ファイバからの光パワを一括して測定する測定方法
およびその装置を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、測定する多数の光ファイバに各光ファイバに
順次光を入射し、1本の光ファイバに光が入射している
とき他のファイバには光が入射しないようにし、入射し
た光の持続時間を各光ファイバごとに異ならしめ、光セ
ンサで受光した後、該光センサで変換された電気信号の
持続時間から該電気信号に対応する光ファイバを識別
し、該電気信号のレベルから該光ファイバからの出射パ
ワを測定する。
本発明は、任意の時刻における光センサの受光パワは、
1本の光ファイバからの光パワのみであり、光パワがど
の光ファイバからのものであるかを識別するのは、受光
信号の持続時間であり、光パワの測定は測定する光ファ
イバ以外からの光パワの雑音を含まない受光信号の大き
さであり、これらの点が従来の方法と異なる。
(実施例) 第1図(a),(b),(c),(d)は本発明の多心
一括光パワの測定方法を説明する図であって、2a,2
b,2cは光源、3a,3b,3cは光ファイバ、4は
光センサ、8a,8b,8cは駆動信号源、9は選択回
路、10は光センサと選択回路を結ぶ信号線、11は選択回
路から出る信号線、12a,12b,12cは駆動信号源の波
形、13は信号線10の信号波形、14は信号線11の信号波
形、24は駆動信号源8a,8b,8cを動作させるトリ
ガ回路である。
第1図(a)に示すように、光源2a,2b,2cは駆
動信号源8a,8b,8cによって駆動され、その光は
光ファイバ3a,3b,3cに入る。駆動信号源8a,
8b,8cは第1図(b)に示す信号波形12a,12b,
12cを持ち、これらはトリガ回路24によって順次発生さ
せられ、各波形ごとにその持続時間が異なり、同一周期
で繰り返した波形となっている。1周期内で各信号波形
12a,12b,12cは重ならないようになっている。光フ
ァイバ3a,3b,3cに入った光は、各光ファイバ内
で該光ファイバの損失に見合って減衰した後に出射さ
れ、光センサ4で受光され、電気信号に変換されて信号
線10で伝送される。このとき、信号線10の信号波形13は
第1図(c)に示すようになる。信号波形13の中で、選
択回路9で指定された時間幅を持つ第1図(d)に示す
波形のみが選択回路9を通り、この波形の大きさを測定
することにより光パワを測定する。
このような方法であるから、光センサには常に1本の光
ファイバからの光パワしか受光されず、測定光パワ以外
の光パワによって雑音が発生するということがない効果
がある。また測定したい光ファイバからの信号のみを取
り出して、その大きさを直接測定するので、変調効率等
による信号レベルの低下がないという効果がある。
第2図はこの方法を実現するための多心一括光パワの測
定装置の一実施例を示す回路ブロック図であって、第1
図(a)と同一の符号は同一のものを示し、15は電流−
電圧変換増幅器、16は低域通過フィルタ、17はアンド回
路、18はクロック発生回路、19は計数回路、20はアンド
回路、21は測定ファイバ指示回路、22は遅延回路、23は
ゲート回路である。
第2図において、光ファイバ3a,3b,3cから出た
光は、光センサ4で電気信号に変換され、該電気信号は
電流−電圧変換増幅器15によって測定に十分な大きさの
電圧信号に変換される。該電圧信号は雑音パワを抑える
ために該電圧信号を変形しない程度に十分な帯域を持つ
低域通過フィルタ16を通過させる。低域通過フィルタ16
を通った信号は測定用の主信号ラインと識別・選択用の
副信号ラインに分けられる。副信号ラインにおいては、
信号はアンド回路17で、クロック発生回路18のパルスと
アンドがとられる。
この時、信号は第1図(c)に示す信号波形13を持って
いるので、アンド回路17の出力波形は信号波形13の持続
時間に比例したパルス列になる。このパルス列を各周期
で計数回路19により数え、測定ファイバ指示回路21で与
えられた数と一致する場合のみアンド回路20によって出
力を出すようにする。アンド回路20からの信号によっ
て、主信号ライン上のゲート回路23は一定の時間ゲート
を開き、このとき副信号ラインを信号が伝搬する時間分
だけ遅延させるための遅延回路22を通った主信号がゲー
ト回路23を通過する。
このような構成になっているから、第1図(a)
(b),(c),(d)により説明した多心一括光パワ
の測定方法を実現することができ、光センサは常に1本
の光ファイバからの光パワしか受光せず、測定光パワ以
外の光パワによって雑音が発生するということなく、ま
た測定したい光ファイバからの信号のみを、変調効率等
による信号レベルの低下がないようにし、その大きさを
直接測定できる装置が実現される。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明による方法および装置を用
いれば、測定光以外の光パワによる雑音を発生させず、
また測定したい光ファイバの信号の大きさを直接測定す
るので、最小測定可能パワを悪化させることなく、多数
の光ファイバからの光パワを一括して測定できる利点が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図(a),(b),(c),(d)は本発明の多心
一括光パワの測定方法の説明図、 第2図は本発明の多心一括光パワの測定装置の一実施例
の回路ブロック図、 第3図は従来の変調方式による多心一括光パワの測定方
法の説明図である。 1…発振器 2a,2b,2c…光源 3a,3b,3c…光ファイバ 4…光センサ 5…増幅器 6…帯域通過フィルタ 7…整流回路 8…駆動信号源 9…選択回路 10…信号線 11…信号線 12…駆動信号源波形 13…信号線10の信号波形 14…信号線11の信号波形 15…電流−電圧変換増幅器 16…低域通過フィルタ 17…アンド回路 18…クロック発生回路 19…計数回路 20…アンド回路 21…測定ファイバ指示回路 22…遅延回路 23…ゲート回路 24…トリガ回路

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】多数の光ファイバから出射する光パワを1
    個の光センサを用いて一括して測定する測定方法におい
    て、該光ファイバへの入射光パワを各光ファイバごとに
    順次切り換えることにより入射し、すなわち1本の光フ
    ァイバに光が入射しているとき、他の光ファイバに光が
    入射しないようにせしめ、該入射光の入射持続時間を各
    光ファイバごとに異ならしめ、光センサで受光した後、
    該光センサで変換された電気信号の持続時間から該電気
    信号に対応する光ファイバを識別し、該電気信号のレベ
    ルから該光ファイバからの出射パワを測定することを特
    徴とする多心一括光パワの測定方法。
  2. 【請求項2】多数の光ファイバから出射する光パワを1
    個の光センサを用いて一括して測定する測定装置におい
    て、該光ファイバへの入射光パワを各光ファイバごとに
    順次切り換えて入射するとともに、各光ファイバごとに
    入射光の持続時間を異ならしめる回路と、光センサで光
    −電気変換をした電気信号を増幅する増幅器と、該増幅
    器の出力信号を受けて該電気信号の持続時間を測定する
    回路と、測定する光ファイバに対応した持続時間を指定
    する回路と、該指定した持続時間と前記電気信号の持続
    時間とが一致しているかを比較する回路と、該比較回路
    で前記両持続時間が一致ている時のみ前記電気信号を通
    過させる回路と、前記電気信号を通過させるために時間
    を調整するための遅延回路とを有することを特徴とする
    多心一括光パワの測定装置。
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JPS62222129A JPS62222129A (ja) 1987-09-30
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