JPH0684119A - Disc apparatus - Google Patents

Disc apparatus

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Publication number
JPH0684119A
JPH0684119A JP24421492A JP24421492A JPH0684119A JP H0684119 A JPH0684119 A JP H0684119A JP 24421492 A JP24421492 A JP 24421492A JP 24421492 A JP24421492 A JP 24421492A JP H0684119 A JPH0684119 A JP H0684119A
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JP
Japan
Prior art keywords
output
reference voltage
read
pulse
peak detection
Prior art date
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Pending
Application number
JP24421492A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akira Shinohara
朗 篠原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Teac Corp
Original Assignee
Teac Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Teac Corp filed Critical Teac Corp
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Publication of JPH0684119A publication Critical patent/JPH0684119A/en
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Abstract

PURPOSE:To positively detect the data in a disc of a fixed magnetic disc apparatus. CONSTITUTION:A differential circuit 18 is provided at the output stage of a head 3. A pulse indicating a peak of the read output waveform is formed based on the differential waveform. A gate pulse is formed by comparators 32, 33, and a read pulse is produced by an AND of the detecting pulse of the peak and the gate pulse. When a read error is detected, a reference voltage of the comparators 32, 33 is switched and the data is read again (re-tried).

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、固定磁気ディスク装置
(HDD)又はこれに類似のディスク装置に関し、更に
詳細には、デ−タの検出を確実に行うことができるディ
スク装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a fixed magnetic disk device (HDD) or a disk device similar thereto, and more particularly to a disk device capable of reliably detecting data.

【0002】[0002]

【従来の技術】固定磁気ディスク装置の記録媒体ディス
クは多数のトラック(シリンダ)を有し、各トラックに
は予め所定のトラックフォーマットが書き込まれてい
る。トラックフォーマットは、多数のセクタを含み、各
セクタにはIDフィールドとデータフィールドとが含ま
れている。各セクタにはCRC(Cyclic Redundancy
Check )データ及びECC( Error Correction Code )
デ−タが書き込まれているので、CRCデータ及びEC
Cデ−タに基づいてエラーチェックを行うことができ
る。訂正不可能なエラ−が検出されると、エラ−セクタ
を再読み取り(リトライ)する。
2. Description of the Related Art A recording medium disk of a fixed magnetic disk device has a large number of tracks (cylinders), and a predetermined track format is written in advance on each track. The track format includes a number of sectors, each sector including an ID field and a data field. CRC (Cyclic Redundancy)
Check) data and ECC (Error Correction Code)
Since the data is written, CRC data and EC
An error check can be performed based on the C data. When an uncorrectable error is detected, the error sector is reread (retry).

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、読み取り出力
波形のピ−クシフトが大幅に生じている場合、又は波形
歪みが大幅に生じている場合、又はディスクの欠陥や記
録不良による振幅低下が大幅に生じている場合にはリト
ライしてもデ−タを正確に読み取ることが不可能にな
る。
However, when the peak shift of the read output waveform is significantly generated, or when the waveform distortion is significantly generated, or the amplitude is significantly reduced due to a defect or recording defect of the disk. If it occurs, it becomes impossible to read the data accurately even if it is retried.

【0004】そこで、本発明の目的はデ−タの読み取り
を正確に行うことができるディスク装置を提供すること
にある。
Therefore, it is an object of the present invention to provide a disk device which can read data accurately.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明は、複数のセクタを含むトラックにデ−タが書
き込まれている記録媒体ディスクから前記デ−タを読み
取るためのディスク装置であって、前記ディスクの回転
手段と、前記ディスクに書き込まれた前記デ−タを読み
取るための読み取り手段と、前記読み取り手段に結合さ
れ、前記読み取り手段から得られた読み取り出力波形を
微分する微分回路と、前記微分回路に結合され、前記微
分回路から得られた微分出力がこの微分出力の最大値
(山の値)と最小値(谷の値)とのほぼ中間の基準電圧
レベルを横切る時点に同期して前記読み取り出力波形の
ピークを示すピーク検出パルスを形成するピーク検出パ
ルス形成回路と、前記読み取り手段から得られた正常の
読み取り出力波形におけるピークレベルと前記基準電圧
レベルとの間に設定された電圧レベルの異なる複数の参
照電圧を選択的に発生する参照電圧発生手段と、一方の
入力端子が前記信号読み取り手段に結合され、他方の入
力端子が前記参照電圧発生手段に結合された電圧比較手
段と、前記ピーク検出パルス形成回路と前記電圧比較手
段とに結合され、前記電圧比較手段から得られた前記読
み取り出力波形が前記参照電圧を横切っていることを示
す出力パルスの期間に前記ピーク検出パルスが位置して
いる時にのみ前記ピーク検出パルスに対応するリードパ
ルスを出力するように形成されたリードパルス形成手段
と、前記リードパルス形成手段に結合され、前記リード
パルスに基づいて前記デ−タがエラ−なく読み取られた
か否かを検出するエラ−検出手段と、前記エラ−検出手
段から得られたエラ−を示す信号に応答して少なくとも
エラ−が生じたセクタのデ−タの再読み取りを行ように
前記読み取り手段による走査を制御し且つ前記再読み取
り時に前記参照電圧が前記読取り出力波形を横切る時間
幅が長くなるように前記参照電圧のレベルを制御する制
御手段とを備えたディスク装置に係わるものである。な
お、請求項2に示すように正相読み取り出力と逆相読み
取り出力とを得るように構成し、それぞれの微分出力を
得るように構成することができる。
The present invention for achieving the above object provides a disk apparatus for reading data from a recording medium disk in which data is written in a track including a plurality of sectors. A disc rotation means, a reading means for reading the data written on the disc, and a differentiating circuit coupled to the reading means for differentiating a read output waveform obtained from the reading means. And when the differential output obtained from the differential circuit crosses a reference voltage level approximately halfway between the maximum value (peak value) and the minimum value (valley value) of the differential output. A peak detection pulse forming circuit that forms a peak detection pulse indicating the peak of the read output waveform in synchronization with the normal read output waveform obtained from the reading means. Reference voltage generating means for selectively generating a plurality of reference voltages having different voltage levels set between the peak level and the reference voltage level, and one input terminal coupled to the signal reading means and the other An input terminal is coupled to the voltage comparing means coupled to the reference voltage generating means, the peak detection pulse forming circuit and the voltage comparing means, and the read output waveform obtained from the voltage comparing means indicates the reference voltage. Read pulse forming means formed so as to output a read pulse corresponding to the peak detection pulse only when the peak detection pulse is positioned in the period of the output pulse indicating that the read pulse is formed, and the read pulse forming means. An error detection unit that is coupled to, and detects whether or not the data is read without error based on the read pulse, In response to a signal indicating the error obtained from the error detecting means, the scanning by the reading means is controlled so as to reread the data of at least the sector in which the error has occurred, and at the time of the rereading, the scanning is controlled. The present invention relates to a disk device having a control means for controlling the level of the reference voltage so that the time width of the reference voltage crossing the read output waveform becomes long. It should be noted that, as described in claim 2, it can be configured to obtain a normal phase reading output and a negative phase reading output, and to obtain respective differential outputs.

【0006】[0006]

【発明の作用及び効果】本発明においては、電圧比較手
段の出力パルスは微分手段に基づいて得られたピーク検
出パルスが真のピークを示す信号であるか否かの判断に
使用される。即ち、比較手段の出力パルスの期間内にピ
ーク検出パルスが発生した時のみ真のピークと判定され
る。従って、ノイズ等による偽りのピークは除外され
る。比較手段の出力パルス(ゲートパルス)の有無及び
幅は読み取り出力波形に依存している。読み取り出力波
形が参照電圧を横切らない場合には出力パルス(ゲート
パルス)が発生しない。比較手段から出力パルス(ゲー
トパルス)が発生しなければ、ピーク検出パルスが真の
ピークであるか否かの判定が不可能になり、ピーク検出
パルスに対応するリードパルスも発生しない。この結
果、エラ−検出手段はエラ−を示す出力を発生する。本
発明においては、エラ−が検出されると、読み取り出力
波形が低振幅であっても比較出力パルス(ゲ−トパル
ス)が得られ且つ比較手段の出力パルス(ゲ−トパル
ス)の幅が広げられるように参照電圧が制御される。こ
の結果、読み取り出力波形が低振幅の場合でも比較出力
パルス(ゲ−トパルス)が得られ、リ−ドパルスを得る
ことが可能になる。また、ピ−ク検出パルスの時間軸上
のずれが生じていてもこれを検出することができる。
In the present invention, the output pulse of the voltage comparing means is used to judge whether or not the peak detection pulse obtained based on the differentiating means is a signal showing a true peak. That is, only when the peak detection pulse is generated within the period of the output pulse of the comparison means, the true peak is determined. Therefore, false peaks due to noise or the like are excluded. The presence or absence and the width of the output pulse (gate pulse) of the comparison means depend on the read output waveform. If the read output waveform does not cross the reference voltage, no output pulse (gate pulse) is generated. If the output pulse (gate pulse) is not generated from the comparison means, it becomes impossible to determine whether or not the peak detection pulse is the true peak, and the read pulse corresponding to the peak detection pulse is not generated. As a result, the error detecting means produces an output indicating an error. In the present invention, when an error is detected, a comparison output pulse (gate pulse) can be obtained and the width of the output pulse (gate pulse) of the comparison means can be widened even if the read output waveform has a low amplitude. The reference voltage is controlled so that As a result, even if the read output waveform has a low amplitude, a comparison output pulse (gate pulse) can be obtained and a read pulse can be obtained. Further, even if the peak detection pulse is deviated on the time axis, it can be detected.

【0007】[0007]

【第1の実施例】次に、図1〜図10を参照して本発明
の実施例に係わる固定磁気ディスク装置を説明する。図
1において、記録媒体磁気ディスク1は着脱不能にディ
スクモータ2に結合されている。モータ2はディスク1
を高速且つ定速回転させる。読み取り手段としての磁気
ヘッド3はコア4とコイル5とから成り、アーム6に支
持されている。アーム6の先端のヘッド3をディスク1
の半径方向に移動させて所定トラックに位置決めするた
めにアーム6はヘッド移動装置7に結合されている。
First Embodiment Next, a fixed magnetic disk device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In FIG. 1, a recording medium magnetic disk 1 is non-detachably coupled to a disk motor 2. Motor 2 is disk 1
Rotate at high speed and constant speed. The magnetic head 3 as a reading means is composed of a core 4 and a coil 5, and is supported by an arm 6. The head 3 at the tip of the arm 6 is attached to the disk 1
The arm 6 is connected to a head moving device 7 for moving the arm 6 in the radial direction of the position and positioning it on a predetermined track.

【0008】ディスク1は同心円状に多数のトラック
(シリンダ)8を有し、各トラック8には所定のトラッ
クフォーマットに従ってデ−タが記録されている。1つ
のトラックのフォーマットは多数(この例では43個)
のセクタ9を含み、各セクタ9は、図2に概略的に示す
ようにIDフィールド10とデータフィールド11とを
含み、IDフィールド10にはアドレス信号記録領域1
2とCRCデータ記録領域13とが設けられている。ま
た、データフィールド11には主データ(情報)記録領
域14とECCデ−タ記録領域15とが設けられてい
る。1つのセクタ9には、図2の他にトラッキングサー
ボのための信号、同期信号等が書き込まれた領域及びギ
ャップが設けられているが、これ等の図示は省略されて
いる。
The disk 1 has a large number of concentric tracks (cylinders) 8, and data is recorded on each track 8 according to a predetermined track format. There are many formats for one track (43 in this example)
2, each sector 9 includes an ID field 10 and a data field 11 as schematically shown in FIG. 2, and the ID field 10 includes the address signal recording area 1
2 and a CRC data recording area 13 are provided. The data field 11 is provided with a main data (information) recording area 14 and an ECC data recording area 15. In addition to FIG. 2, one sector 9 is provided with a region and a gap in which a signal for tracking servo, a synchronizing signal, etc. are written, but these are omitted in the drawing.

【0009】再び図1を説明すると、ヘッド3のコイル
5は差動信号出力手段としての差動増幅回路16に接続
されている。ディスク1とヘッド3との間に相対的走査
運動が生じることにより、差動増幅回路16の一対の出
力ライン17a、17bには図5(A)に示す正相読み
取り出力波形と図5(B)に示す逆相読み取り出力波形
とが得られる。なお、図5(A)(B)では4ビットの
論理の“1”の出力が原理的に示されている。
Referring again to FIG. 1, the coil 5 of the head 3 is connected to a differential amplifier circuit 16 as a differential signal output means. Since the relative scanning motion is generated between the disk 1 and the head 3, the pair of output lines 17a and 17b of the differential amplifier circuit 16 has the positive phase read output waveform shown in FIG. The reverse phase read output waveform shown in FIG. 5A and 5B, the output of 4-bit logic "1" is shown in principle.

【0010】差動増幅回路16の一対の出力ライン17
a、17bに結合された差動型微分回路18は図5
(A)(B)に示す正相及び逆相読み取り出力波形をそ
れぞれ微分して図5(C)(D)に示す正相及び逆相の
微分出力を一対の出力ライン19a、19bに出力す
る。なお、図5(A)〜(D)の各波形は直流の基準電
圧レベル(2V)L0 を中心にして振動する波形であ
る。この基準電圧レベルL0 は各波形の最大値(山の
値)と最小値(谷の値)との中心値である。
A pair of output lines 17 of the differential amplifier circuit 16
The differential type differentiating circuit 18 coupled to a and 17b is shown in FIG.
The positive phase and negative phase read output waveforms shown in (A) and (B) are respectively differentiated, and the positive phase and negative phase differential outputs shown in (C) and (D) of FIG. 5 are output to the pair of output lines 19a and 19b. . The waveforms shown in FIGS. 5A to 5D are waveforms that oscillate around the DC reference voltage level (2V) L0. This reference voltage level L0 is the center value between the maximum value (peak value) and the minimum value (valley value) of each waveform.

【0011】微分回路18の一対の出力ライン19a、
19bに結合されたピーク検出パルス形成回路20は一
般はゼロクロス検出回路と呼ばれるものであり、図5
(C)(D)に示す正相及び逆相の微分出力が基準電圧
レベルL0 を横切る時点を検出し、この時点に対応させ
て図5(E)に示すピーク検出パルスをライン21に発
生するものである。
A pair of output lines 19a of the differentiating circuit 18,
The peak detection pulse forming circuit 20 coupled to 19b is generally called a zero-cross detection circuit, and is shown in FIG.
(C) Detects the time point when the positive and negative phase differential outputs shown in (D) cross the reference voltage level L0, and generates the peak detection pulse shown in FIG. It is a thing.

【0012】図3は図1の微分回路18とピーク検出パ
ルス形成回路20とを原理的に示し、図6は図3のA〜
G点の状態を示す。微分回路18は差動増幅器22と、
抵抗23とコンデンサ24の時定数回路の組み合せによ
って構成されている。ピーク検出パルス形成回路20
は、第1及び第2のピーク検出用コンパレータ25、2
6と、ピーク検出用基準電圧レベル付与手段としての基
準電圧源27と、ピーク検出パルス発生回路28とから
成る。なお、ピーク検出パルス発生回路28は一対のモ
ノマルチバイブレータ(MMV)29、30とORゲー
ト31とから成る。第1のピーク検出用コンパレータ2
5の一方の入力端子は一方の微分出力ライン19aに接
続され、他方の入力端子は基準電圧源27に接続されて
いる。従って、第1のピーク検出用コンパレータ25は
図6(A)に示すライン19aの微分出力aと基準電圧
源27の基準電圧レベルL0 とを比較し、微分出力aが
基準電圧レベルL0 を横切る期間に対応するパルス幅を
有する図6(C)の比較出力パルスを発生する。また、
第2のピーク検出用コンパレータ26は図6(B)に示
すライン19bの逆相微分出力bと基準電圧レベルL0
とを比較し、図6(D)に示す比較出力パルスを発生す
る。一対のコンパレータ25、26に接続された一対の
MMV29、30は、図6(C)(D)の比較出力パル
スの前縁に同期して図6(E)(F)に示すパルスを出
力する。MMV29、30に接続されたORゲート31
は図6(E)(F)のパルスに対応した図6(G)のパ
ルスをライン21に送出する。図6(A)(B)は図5
(C)(D)に対応し、図6(G)は図5(E)に対応
している。。図5(E)及び図6(G)のパルスは図5
(A)(B)の読み取り出力波形のピークに対応して発
生するので、ピーク検出パルスと呼ぶことができる。
FIG. 3 shows the differentiating circuit 18 and the peak detection pulse forming circuit 20 of FIG. 1 in principle, and FIG. 6 shows A to A of FIG.
The state at point G is shown. The differentiating circuit 18 includes a differential amplifier 22,
It is configured by a combination of a time constant circuit of a resistor 23 and a capacitor 24. Peak detection pulse forming circuit 20
Is the first and second peak detection comparators 25, 2
6, a reference voltage source 27 as a peak detection reference voltage level giving means, and a peak detection pulse generation circuit 28. The peak detection pulse generation circuit 28 is composed of a pair of mono-multivibrators (MMV) 29, 30 and an OR gate 31. First peak detection comparator 2
One input terminal of 5 is connected to one differential output line 19 a, and the other input terminal is connected to the reference voltage source 27. Therefore, the first peak detecting comparator 25 compares the differential output a of the line 19a shown in FIG. 6A with the reference voltage level L0 of the reference voltage source 27, and the differential output a crosses the reference voltage level L0. Generate the comparison output pulse of FIG. 6C having a pulse width corresponding to Also,
The second peak detecting comparator 26 is provided with the negative phase differential output b of the line 19b and the reference voltage level L0 shown in FIG. 6 (B).
Are compared with each other to generate a comparison output pulse shown in FIG. The pair of MMVs 29 and 30 connected to the pair of comparators 25 and 26 output the pulses shown in FIGS. 6E and 6F in synchronization with the leading edge of the comparison output pulse of FIGS. 6C and 6D. . OR gate 31 connected to MMVs 29 and 30
Sends the pulse of FIG. 6 (G) corresponding to the pulse of FIG. 6 (E) (F) to the line 21. 6A and 6B are shown in FIG.
It corresponds to (C) and (D), and FIG. 6 (G) corresponds to FIG. 5 (E). . The pulses in FIGS. 5 (E) and 6 (G) are shown in FIG.
Since it occurs corresponding to the peaks of the read output waveforms of (A) and (B), it can be called a peak detection pulse.

【0013】再び、図1を説明すると、ゲートパルスを
形成するため比較手段として正相用コンパレータ32と
逆相用コンパレータ33とが設けられている。正相及び
逆相用コンパレータ32、33の一方の入力端子は正相
及び逆相読み取り出力ライン17a、17bに接続さ
れ、他方の入力端子は参照電圧発生手段34における分
圧点35に接続されている。参照電圧発生手段は直流電
源端子36とグランドとの間に接続された第1及び第2
の抵抗R1 、R2 と、この第1の抵抗R1 にスイッチS
1 を介して並列に接続された第3の抵抗R3 とから成
る。スイッチS1 は制御可能な電子スイッチから成り、
制御回路37による制御に基づいて選択的にオン・オフ
し、分圧比を変える。これにより、分圧点35にはレベ
ルの異なる第1及び第2の参照電圧L1 、L2 が得られ
る。この参照電圧の切換えは後述から明らかなようにデ
−タのリ−ドエラ−検出時に行われる。
Referring again to FIG. 1, a positive phase comparator 32 and a negative phase comparator 33 are provided as comparison means for forming a gate pulse. One input terminal of each of the positive-phase and negative-phase comparators 32 and 33 is connected to the normal-phase and negative-phase reading output lines 17a and 17b, and the other input terminal is connected to the voltage dividing point 35 of the reference voltage generating means 34. There is. The reference voltage generating means is a first and a second connected between the DC power supply terminal 36 and the ground.
Of the resistors R1 and R2 and the switch S to the first resistor R1.
And a third resistor R3 connected in parallel via 1. The switch S1 consists of a controllable electronic switch,
Based on the control by the control circuit 37, it is selectively turned on / off to change the voltage division ratio. As a result, the first and second reference voltages L1 and L2 having different levels are obtained at the voltage dividing point 35. The switching of the reference voltage is carried out at the time of detecting the lead error of the data, as will be apparent from the following.

【0014】図7(A)(B)は正相及び逆相の読み取
り出力波形と第1、及び第2及の参照電圧L1 、L2 、
との関係を示す。第1及び第2の参照電圧L1 、L2 は
正常に読み取られた出力波形のピーク値と基準電圧レベ
ルL0 との間に設定されている。図7(C)(D)の実
線で示すパルスは第1の参照電圧L1 と読み取り出力波
形との比較出力パルスを示し、破線は第2の参照電圧L
2 と読み取り出力波形との比較出力パルスを示す。参照
電圧L1 、L2 を変えることによって比較出力パルスの
時間幅はT1 、T2 のように変化する。なお、第1の参
照電圧L1 を得る時にはスイッチS1 をオンにし、第2
の参照電圧L2 を得る時にはスイッチS1 をオフする。
7 (A) and 7 (B) show the positive and negative phase read output waveforms and the first and second reference voltages L1, L2,
Shows the relationship with. The first and second reference voltages L1 and L2 are set between the peak value of the normally read output waveform and the reference voltage level L0. The pulse shown by the solid line in FIGS. 7C and 7D shows the comparison output pulse of the first reference voltage L1 and the read output waveform, and the broken line shows the second reference voltage L1.
2 shows the comparison output pulse of 2 and the read output waveform. By changing the reference voltages L1 and L2, the time width of the comparison output pulse changes like T1 and T2. When the first reference voltage L1 is obtained, the switch S1 is turned on and the second reference voltage L1 is turned on.
The switch S1 is turned off to obtain the reference voltage L2.

【0015】コンパレータ32、33に接続されたゲー
トパルス出力回路38はORゲートから成り、図5
(F)(G)の正相及び逆相比較出力パルス(ゲートパ
ルス)の両方を合せた図5(H)のゲートパルスをライ
ン39に出力する。
The gate pulse output circuit 38 connected to the comparators 32 and 33 is composed of an OR gate, and the gate pulse output circuit 38 shown in FIG.
The gate pulse of FIG. 5H, which is a combination of both the positive-phase and negative-phase comparison output pulses (gate pulse) of (F) and (G), is output to the line 39.

【0016】リードパルス形成手段40はANDゲート
41とMMV42とから成り、ANDゲート41の一方
の入力端子はピーク検出パルス出力ライン21に接続さ
れ、この他方の入力端子はゲートパルス出力ライン39
に接続されている。従って、ANDゲート41は図5
(E)のピーク検出パルスと図5(H)のゲートパルス
とが同時に発生している時にのみ高レベルのパルスを図
5(I)に示すように発生する。ANDゲート41に接
続されたMMV42は図5(I)のリードパルスの前縁
に同期して一定のパルス幅のリードパルスを出力ライン
43に送出する。
The read pulse forming means 40 comprises an AND gate 41 and an MMV 42, one input terminal of the AND gate 41 is connected to the peak detection pulse output line 21, and the other input terminal thereof is the gate pulse output line 39.
It is connected to the. Therefore, the AND gate 41 is shown in FIG.
A high level pulse is generated as shown in FIG. 5 (I) only when the peak detection pulse of (E) and the gate pulse of FIG. 5 (H) are generated at the same time. The MMV 42 connected to the AND gate 41 sends a read pulse having a constant pulse width to the output line 43 in synchronization with the leading edge of the read pulse shown in FIG.

【0017】制御回路37はディスク装置の各種の制御
を実行するものであり、ここにはリードパルス出力ライ
ン43、リードデータ出力ライン44が接続され、更
に、ライト制御ライン45を介してライト(書き込み)
回路47、ライン48、を介してスイッチS1 、ライン
50を介してヘッド移動装置7が接続されている。
The control circuit 37 executes various controls of the disk device. A read pulse output line 43 and a read data output line 44 are connected to the control circuit 37, and write (write) is performed via a write control line 45. )
The head moving device 7 is connected to the switch S1 via the circuit 47 and the line 48 and via the line 50.

【0018】図4は図1の制御回路37を概略的に示
す。この制御回路37には、PLL(フェーズ・ロック
・ループ)回路51が含まれている。このPLL回路5
1は位相比較器52とローパスフィルタ(LPF)53
とVCO(電圧制御発振器)54とから成り、位相比較
器52の一方の入力端子はリードパルス出力ライン43
に接続され、他方の入力端子はVCO54に接続されて
いる。PLL回路51の出力ライン55には周知の原理
でビットセルの配列周期に対応した周期を有するパルス
列が得られる
FIG. 4 schematically shows the control circuit 37 of FIG. The control circuit 37 includes a PLL (phase lock loop) circuit 51. This PLL circuit 5
1 is a phase comparator 52 and a low-pass filter (LPF) 53
And a VCO (voltage controlled oscillator) 54. One input terminal of the phase comparator 52 has a read pulse output line 43.
And the other input terminal is connected to the VCO 54. A pulse train having a period corresponding to the arrangement period of the bit cells is obtained on the output line 55 of the PLL circuit 51 by a well-known principle.

【0019】図4のデコ−ダ56はライン43に接続さ
れ、ライン43から供給される列を例えば、1−7RL
L方式又はMFM方式等に変調されたデ−タをNRZ方
式に復調する。
The decoder 56 shown in FIG. 4 is connected to the line 43, and the column supplied from the line 43 is, for example, 1-7RL.
The data modulated in the L system or the MFM system is demodulated in the NRZ system.

【0020】上記復調を実行するためにデコ−ダ56に
はクロック発生器57が接続されている。クロック発生
器57はPLL回路51の出力ライン55に接続され、
ビットセルに対応した周期を有するライン55のパルス
に基づいてデコ−ダ56に第1のクロック信号をライン
57aで与える。またクロック発生器57はライン57
bによって標準クロックから成る第2のクロック信号を
エラ−チェック及び訂正回路58に与える。
A clock generator 57 is connected to the decoder 56 in order to execute the demodulation. The clock generator 57 is connected to the output line 55 of the PLL circuit 51,
A first clock signal is provided on line 57a to decoder 56 based on the pulse on line 55 having a period corresponding to the bit cell. Also, the clock generator 57 is line 57
A second clock signal consisting of a standard clock is applied to the error check and correction circuit 58 by b.

【0021】エラーチェック及び訂正回路58はデコ−
ダ56及びクロック発生器57に接続されており、リ−
ドデ−タのエラーの有無を検出する。即ち、CRCデー
タとECCデ−タとに基づいてリ−ドのエラーの有無を
検出し、訂正が可能なリ−ドデ−タはECCデ−タに基
づいて訂正する。
The error check and correction circuit 58 is a decoder.
Connected to the clock 56 and the clock generator 57,
The presence or absence of data error is detected. That is, the presence or absence of a read error is detected based on the CRC data and the ECC data, and the correctable read data is corrected based on the ECC data.

【0022】マイクロコンピュータ59はCPU、RA
M、ROMを有し、各種の制御を実行する。マイクロコ
ンピュータ59にはエラーチェック及び訂正回路58が
接続されている他に、ライト制御ライン45、ヘッド移
動制御ライン50、及びスイッチ制御ライン61が接続
されている。
The microcomputer 59 is a CPU, RA
It has M and ROM, and executes various controls. In addition to the error check and correction circuit 58 being connected to the microcomputer 59, a write control line 45, a head movement control line 50, and a switch control line 61 are connected.

【0023】エラ−チェック及び訂正回路58でエラ−
チェックされ、且必要に応じて訂正されたリ−ドデ−タ
はライン44を介して送出される。なお、ライン44に
は一般にバッフアメモリが接続される。
An error is detected by the error check and correction circuit 58.
The read data, which has been checked and corrected if necessary, is sent out on line 44. A buffer memory is generally connected to the line 44.

【0024】スイッチ制御回路63は、エラ−チェック
及び訂正回路58においてエラ−が検出された時にマイ
クロコンピュータ59の指示に従って図1のスイッチS
1 をオン制御する信号を発生する。なお、実際の制御回
路37は図示された回路及びライン以外の多くの回路及
びラインを有しているが、これ等は本発明に直接に関係
ないので省略されている。
The switch control circuit 63 follows the instruction of the microcomputer 59 when the error is detected by the error check and correction circuit 58 and the switch S of FIG.
Generates a signal that turns on 1. The actual control circuit 37 has many circuits and lines other than the illustrated circuits and lines, but these are omitted because they are not directly related to the present invention.

【0025】次に、エラ−検出に基づくリトライ(再読
み取り)時において参照電圧発生手段34から与える参
照電圧を変えることによる効果を説明する。もし、図5
(A)(B)及び図7(A)(B)に示すようにライン
17a、17bに正常な振幅の読み出し出力波形が得ら
れている時には、標準の第1の参照電圧L1 でデ−タの
リードを十分に達成することができる。一方、ディスク
1に不良箇所があるために図8(A)に示すようにライ
ン17aの読み取り出力波形に低振幅部分a1、a2 が
含まれている場合において、従来と同様に第1の参照電
圧L1 で読み取り出力波形をコンパレータ32でスライ
スすると、この低振幅部分a1 が第1の参照電圧L1 を
横切らないので、ゲートパルスが得られない。本来ゲー
トパルスが発生すべき箇所にゲートパルスが発生しなけ
れば、リードパルスを得ることができなくなり、このセ
クタの読み取りが不可能になる。これに対して、本実施
例ではリトライ時に第2の参照電圧L2 によってデ−タ
を読み取る。図8(A)において、低振幅部分a1 は第
2の参照電圧L2 を横切るので、ゲ−トパルスを得るこ
とが可能になる。これにより、従来読み取り不可能であ
ったデ−タの読み取りが可能になる。また、図8(A)
においてリトライ時に参照電圧のレベルをL2 に切換え
ると、読み取り出力波形が参照電圧L2 を横切る時間幅
即ちゲ−トパルスの幅が広くなる。微分に基づいて生成
した図5(E)又は図6(G)のピ−ク検出パルスの時
間軸上のずれが生じている場合であっても幅広のゲ−ト
パルスによってピ−ク検出パルスの検出が可能になる。
Next, the effect of changing the reference voltage given from the reference voltage generating means 34 at the time of retry (rereading) based on the error detection will be described. If Figure 5
As shown in FIGS. 7A and 7B and FIGS. 7A and 7B, when the read output waveforms of normal amplitude are obtained on the lines 17a and 17b, the data is read at the standard first reference voltage L1. The lead of can be fully achieved. On the other hand, when the read output waveform of the line 17a includes the low amplitude portions a1 and a2 as shown in FIG. 8A because the disk 1 has a defective portion, the first reference voltage is the same as in the conventional case. When the read output waveform at L1 is sliced by the comparator 32, the low-amplitude portion a1 does not cross the first reference voltage L1 and a gate pulse cannot be obtained. If the gate pulse does not occur at the place where the gate pulse should originally occur, the read pulse cannot be obtained, and reading of this sector becomes impossible. On the other hand, in this embodiment, the data is read by the second reference voltage L2 at the time of retry. In FIG. 8A, the low-amplitude portion a1 crosses the second reference voltage L2, so that a gate pulse can be obtained. As a result, it becomes possible to read the data which could not be read conventionally. In addition, FIG. 8 (A)
When the level of the reference voltage is switched to L2 during the retry, the time width of the read output waveform crossing the reference voltage L2, that is, the width of the gate pulse becomes wider. Even if there is a shift on the time axis of the peak detection pulse of FIG. 5 (E) or FIG. 6 (G) generated based on the differentiation, the peak detection pulse of the wide gate pulse It becomes possible to detect.

【0026】なお、参照電圧を常にL2 に設定しておけ
ば、ゲ−トパルスの本来のゲ−ト機能が低下する。例え
ば、図9(A)に示すように疑似ピ−クPが存在する場
合には、低い参照電圧L2 によって図9(B)に示すよ
うにゲ−トパルスの分割が生じ、ピ−ク検出パルスの時
間軸上のずれも生じていればリ−ドパルスの分割のも生
じる恐れがある。従って、リトライ時に参照電圧を切換
えることが望ましい。
If the reference voltage is always set to L2, the original gate function of the gate pulse deteriorates. For example, when the pseudo peak P exists as shown in FIG. 9A, the low reference voltage L2 causes the gate pulse to be divided as shown in FIG. If there is a shift on the time axis of, the read pulse may be divided. Therefore, it is desirable to switch the reference voltage at the time of retry.

【0027】図10はトラックデ−タのリードの手順を
示す。ブロック70のスタート後にブロック71示すよ
うにデ−タを読み取る。次に、ブロック72に示すよう
にCRCデータ及びECCデ−タに基づいてエラーの有
無を判定する。このエラーの有無の判定はセクタ単位に
行われる。エラーが検出された場合にはブロック73で
カウンタによってエラ−検出回数を計数する。次に、ブ
ロック74でエラ−検出回数が所定回数N(例えば5
回)に達したか否かを判定し、N回に達していない時に
はブロック75で参照電圧をL2 に設定し、ブロック7
1に戻って再びエラ−セクタをリ−ドする。ブロック7
2でエラ−が検出されない場合にはブロック76に示す
ように終了する。また、ブロック74でN回のエラ−検
出された時には、ブロック77でリ−ド不可を示す信号
を作成する。リ−ド不可の場合には別の方法(条件)で
リトライするか又はこのセクタを飛ばして先のセクタに
進むか、又はリ−ドを中断する。また、リトライでデ−
タリ−ドが可能なったときには、参照電圧をL1 に戻
し、次ぎのセクタのリ−ドに移る。
FIG. 10 shows a procedure for reading track data. After the start of block 70, the data is read as shown in block 71. Next, as shown in block 72, the presence or absence of an error is determined based on the CRC data and the ECC data. The determination of the presence or absence of this error is performed in sector units. If an error is detected, the number of error detections is counted by the counter at block 73. Next, at block 74, the number of error detections is a predetermined number N (for example, 5).
It is determined whether or not the number of times has reached N), and when the number of times has not reached N, the reference voltage is set to L2 in block 75 and block 7
After returning to 1, the error sector is read again. Block 7
If no error is detected at 2, the process ends as indicated by block 76. When the block 74 detects N errors, a block 77 creates a signal indicating that the read is impossible. If the read is not possible, retry by another method (condition), skip this sector and proceed to the next sector, or interrupt the read. In addition, retry
When the tread is possible, the reference voltage is returned to L1 and the next sector is read.

【0028】[0028]

【第2の実施例】次に、図11及び図12を参照して第
2の実施例の固定磁気ディスク装置を説明する。但し、
図11において図1と共通する部分には同一の符号を付
してその説明を省略する。図11では増幅回路16の正
相出力ライン17aのみが微分回路18に接続されてい
る。微分回路18は図12(A)の正相の読み取り出力
波形を微分して出力ライン19aに図12(B)の微分
出力を発生する。ピーク検出パルス形成回路20は1つ
のコンパレータとエッヂ検出回路とから成り、コンパレ
−タで図12(B)の微分出力と基準電圧レベルL0 と
を比較して方形波パルスに整形し、この方形波パルスの
前縁と後縁において図12(C)に示すピーク検出パル
スを発生するように構成されている。
[Second Embodiment] Next, a fixed magnetic disk drive according to a second embodiment will be described with reference to FIGS. However,
11, the same parts as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted. In FIG. 11, only the positive phase output line 17 a of the amplifier circuit 16 is connected to the differentiating circuit 18. The differentiating circuit 18 differentiates the positive-phase read output waveform of FIG. 12A to generate the differential output of FIG. 12B on the output line 19a. The peak detection pulse forming circuit 20 is composed of one comparator and an edge detecting circuit. The comparator detects the differential output of FIG. 12B and the reference voltage level L0 and shapes it into a square wave pulse. It is configured to generate the peak detection pulse shown in FIG. 12C at the leading edge and the trailing edge of the pulse.

【0029】ゲートパルス用の一方のコンパレータ32
は図1と同一に接続されている。ゲートパルス用の他方
のコンパレータ33の一方の入力端子は読み取り出力ラ
イン17aに接続され、他方の入力端子は第2の参照電
圧発生手段34aに接続されている。第2の参照電圧発
生手段34aは第1の参照電圧発生手段34と同様なも
のであり、図12(A)に示す基準電圧レベルL0 より
も低い2つの参照電圧L1 ′、L2 ′を与える。L1'、
L2'はL0 を中心にしてL1 、L2 に対称の値に設定さ
れており、第1の参照電圧発生手段34と同一の回路構
成で得ることができる。これにより、コンパレータ3
2、33からは図5(F)(G)と同一のパルスが得ら
れ、ゲートパルス出力回路38からは図12(D)に示
すゲートパルスを得ることができる。図12(C)
(D)は図5(E)(H)に対応するので、図11の装
置によっても図1と同様な作用効果が得られる。
One comparator 32 for gate pulse
Are connected in the same way as in FIG. One input terminal of the other comparator 33 for gate pulse is connected to the read output line 17a, and the other input terminal is connected to the second reference voltage generating means 34a. The second reference voltage generating means 34a is similar to the first reference voltage generating means 34 and provides two reference voltages L1 'and L2' lower than the reference voltage level L0 shown in FIG. L1 ',
L2 'is set to have symmetrical values with respect to L1 and L2 with L0 as the center, and can be obtained with the same circuit configuration as the first reference voltage generating means 34. As a result, the comparator 3
The same pulses as those in FIGS. 5F and 5G can be obtained from 2 and 33, and the gate pulse shown in FIG. 12D can be obtained from the gate pulse output circuit 38. FIG. 12 (C)
Since (D) corresponds to (E) and (H) of FIG. 5, the same effect as that of FIG. 1 can be obtained by the device of FIG.

【0030】[0030]

【第3の実施例】図13及び図14は第3の実施例のデ
ィスク装置の一部及びこの動作を示す。第3の実施例は
第1の実施例のコンパレータ32、33の入力と参照電
圧発生手段34を少し変えた他は第1の実施例と同一で
ある。従って、変更点のみ説明する。
[Third Embodiment] FIGS. 13 and 14 show a part of a disk device according to the third embodiment and its operation. The third embodiment is the same as the first embodiment except that the inputs of the comparators 32 and 33 and the reference voltage generating means 34 of the first embodiment are slightly changed. Therefore, only the changes will be described.

【0031】図13のライン17a、17bは図1の差
動増幅回路16の出力ライン17a、17bと同一のも
のを示す。2つのコンパレータ32、33の一方の入力
端子にはこのライン17a、17bが直接に接続されず
に直流バイアス加算用差動増幅回路90を介して接続さ
れている。この出力ライン91、92には図14(A)
(B)に示す正相及び逆相のバイアス加算波形が得られ
る。参照電圧発生手段34′は差動増幅器93と全波整
流回路94と、バイアス付加回路95とを図1の参照電
圧発生回路34に加えることによって構成されている。
差動増幅器93はライン91、92に接続され、図14
(A)(B)の波形の差の出力を形成する。これが全波
整流され更にバイアス付加回路95を通って端子36に
加えられると、分圧点35に図14(C)に示す交流分
を含む参照電圧が得られる。この参照電圧は図1と同様
にスイッチS1 でL11又はL12に切換えられる。参照電
圧L11、L12、の切換えが行われると、コンパレータ3
2、33のゲートパルス発生条件が変化し、第1の実施
例と同様な作用効果が得られる。なお、図13では第3
の抵抗R3 が第2の抵抗R2 にスイッチS1 を介して並
列に接続される。
Lines 17a and 17b in FIG. 13 are the same as the output lines 17a and 17b of the differential amplifier circuit 16 in FIG. The lines 17a and 17b are not directly connected to the input terminals of one of the two comparators 32 and 33, but are connected to each other via the DC bias addition differential amplifier circuit 90. The output lines 91 and 92 are shown in FIG.
The positive-phase and negative-phase bias addition waveforms shown in (B) are obtained. The reference voltage generating means 34 'is configured by adding a differential amplifier 93, a full wave rectifying circuit 94, and a bias adding circuit 95 to the reference voltage generating circuit 34 of FIG.
The differential amplifier 93 is connected to the lines 91 and 92, as shown in FIG.
The outputs of the waveform differences of (A) and (B) are formed. When this is full-wave rectified and further applied to the terminal 36 through the bias applying circuit 95, the reference voltage including the AC component shown in FIG. 14C is obtained at the voltage dividing point 35. This reference voltage is switched to L11 or L12 by the switch S1 as in FIG. When the reference voltages L11 and L12 are switched, the comparator 3
The gate pulse generation conditions of Nos. 2 and 33 are changed, and the same effects as those of the first embodiment can be obtained. In addition, in FIG.
Resistor R3 is connected in parallel to the second resistor R2 via switch S1.

【0032】[0032]

【変形例】本発明は上述の実施例に限定されるものでな
く、例えば次の変形が可能なものである。 (1) 図3のMMV29、30の代りに、微分回路を
設けてコンパレータ25、26の出力パルスの前縁に同
期したパルスを形成することができる。また、図3の微
分回路18を独立した2つの正相及び逆相用微分回路と
することができる。 (2) 図1、図11及び図13の参照電圧発生手段3
4、34a、34' を、図15に示すようにディジタル
参照電圧発生回路80とDAC(ディジタル・アナログ
変換器)81との組み合せによって構成し、リトライ時
にディジタル参照電圧を変えてDAC81の出力電圧
(参照電圧)を変えることができる。 (3) 図13の参照電圧発生手段34' の分圧回路の
スイッチS1 の代りに図16に示すインバ−タ82を使
用することができる。 (4) 参照電圧を3段以上に切換えることができる。 (5) 各実施例において増幅回路16の出力波形及び
微分回路18の出力波形が直流2Vの基準電圧レベルを
中心に上下に振動するように示されているが、正負両方
の電源を有する場合にはゼロボルトを基準電圧として振
動させてもよい。 (6) ECCデ−タの代りにCR
Cデ−タとパリティチェックビットとを使用してエラ−
チェック及び訂正をしてもよい。 (7) 本発明を光磁気ディスク装置、フロッピイディ
スク装置等にも適用することができる。
MODIFICATION The present invention is not limited to the above-mentioned embodiments, and the following modifications are possible. (1) Instead of the MMVs 29 and 30 of FIG. 3, a differentiating circuit may be provided to form a pulse synchronized with the leading edges of the output pulses of the comparators 25 and 26. Further, the differentiating circuit 18 of FIG. 3 can be two independent positive-phase and negative-phase differentiating circuits. (2) Reference voltage generating means 3 shown in FIGS. 1, 11 and 13
4, 34a, 34 'are configured by a combination of a digital reference voltage generating circuit 80 and a DAC (digital / analog converter) 81 as shown in FIG. 15, and the digital reference voltage is changed at the time of retry to change the output voltage of the DAC 81 ( The reference voltage) can be changed. (3) Instead of the switch S1 of the voltage dividing circuit of the reference voltage generating means 34 'shown in FIG. 13, the inverter 82 shown in FIG. 16 can be used. (4) The reference voltage can be switched in three or more stages. (5) In each embodiment, the output waveform of the amplifier circuit 16 and the output waveform of the differentiating circuit 18 are shown to oscillate up and down around the reference voltage level of DC 2V. May oscillate with zero volts as the reference voltage. (6) CR instead of ECC data
Error using C data and parity check bit
It may be checked and corrected. (7) The present invention can be applied to a magneto-optical disk device, a floppy disk device and the like.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例に係わる固定磁気ディス
ク装置を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a fixed magnetic disk device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】ディスク上のトラックのフォーマットを概略的
に示す図である。
FIG. 2 is a diagram schematically showing a format of tracks on a disc.

【図3】図1の微分回路及びピーク検出パルス形成回路
を詳しく示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing in detail the differentiating circuit and the peak detection pulse forming circuit of FIG.

【図4】図1の制御回路を概略的に示すブロック図であ
る。
FIG. 4 is a block diagram schematically showing the control circuit of FIG. 1.

【図5】図1のA〜J点の電圧を示す波形図である。5 is a waveform diagram showing voltages at points A to J in FIG.

【図6】図3のA〜G点の電圧を示す波形図である。6 is a waveform diagram showing voltages at points A to G in FIG.

【図7】図1のゲートパルス用の2つのコンパレータの
入力及び出力を示す波形図である。
7 is a waveform diagram showing the inputs and outputs of the two comparators for the gate pulse of FIG.

【図8】読み取り出力波形に低振幅部分を含む場合の図
1の正相用コンパレータの入力及び出力とリードパルス
を示す波形図である。
8 is a waveform diagram showing the input and output and the read pulse of the positive phase comparator of FIG. 1 when the read output waveform includes a low amplitude portion.

【図9】読み取り出力波形に擬似ピークが含まれている
時の正相用コンパレータの入力及び出力とリードパルス
を示す波形図である。
FIG. 9 is a waveform diagram showing the input and output of the positive phase comparator and the read pulse when the read output waveform includes a pseudo peak.

【図10】リ−ドエラ−検出の手順を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a procedure for lead error detection.

【図11】第2の実施例の固定磁気ディスク装置を示す
ブロック図である。
FIG. 11 is a block diagram showing a fixed magnetic disk device of a second embodiment.

【図12】図11のA〜D点の電圧を示す波形図であ
る。
12 is a waveform diagram showing voltages at points A to D in FIG.

【図13】第3の実施例の固定磁気ディスク装置の一部
を示すブロック図である。
FIG. 13 is a block diagram showing a part of a fixed magnetic disk device of a third embodiment.

【図14】図13のA〜E点の電圧を示す波形図であ
る。
FIG. 14 is a waveform diagram showing voltages at points A to E in FIG.

【図15】変形例の参照電圧発生手段を示す回路図であ
る。
FIG. 15 is a circuit diagram showing a reference voltage generating means of a modified example.

【図16】別の変形例の参照電圧発生手段を示す回路図
である。
FIG. 16 is a circuit diagram showing a reference voltage generating means of another modification.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

32、33 コンパレータ 34 参照電圧発生手段 S1 スイッチ 32, 33 comparator 34 reference voltage generating means S1 switch

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数のセクタを含むトラックにデ−タが
書き込まれている記録媒体ディスクから前記デ−タを読
み取るためのディスク装置であって、 前記ディスクの回転手段と、 前記ディスクに書き込まれた前記デ−タを読み取るため
の読み取り手段と、 前記読み取り手段に結合され、前記読み取り手段から得
られた読み取り出力波形を微分する微分回路と、 前記微分回路に結合され、前記微分回路から得られた微
分出力がこの微分出力の最大値と最小値とのほぼ中間の
基準電圧レベルを横切る時点に同期して前記読み取り出
力波形のピークを示すピーク検出パルスを形成するピー
ク検出パルス形成回路と、 前記読み取り手段から得られた正常の読み取り出力波形
におけるピークレベルと前記基準電圧レベルとの間に設
定された電圧レベルの異なる複数の参照電圧を選択的に
発生する参照電圧発生手段と、 一方の入力端子が前記信号読み取り手段に結合され、他
方の入力端子が前記参照電圧発生手段に結合された電圧
比較手段と、 前記ピーク検出パルス形成回路と前記電圧比較手段とに
結合され、前記電圧比較手段から得られた前記読み取り
出力波形が前記参照電圧を横切っていることを示す出力
パルスの期間に前記ピーク検出パルスが位置している時
にのみ前記ピーク検出パルスに対応するリードパルスを
出力するように形成されたリードパルス形成手段と、 前記リードパルス形成手段に結合され、前記リードパル
スに基づいて前記デ−タがエラ−なく読み取られたか否
かを検出するエラ−検出手段と、 前記エラ−検出手段から得られたエラ−を示す信号に応
答して少なくともエラ−が生じたセクタのデ−タの再読
み取りを行ように前記読み取り手段による走査を制御し
且つ前記再読み取り時に前記参照電圧が前記読み取り出
力波形を横切る時間幅が長くなるように前記参照電圧の
レベルを制御する制御手段とを備えたディスク装置。
1. A disk device for reading the data from a recording medium disk in which the data is written in a track including a plurality of sectors, wherein the disk rotating means and the disk write means write the data in the disk. Read means for reading the data, a differentiation circuit coupled to the reading means and differentiating the read output waveform obtained from the reading means, and a differentiation circuit coupled to the differentiation circuit and obtained from the differentiation circuit. A peak detection pulse forming circuit that forms a peak detection pulse indicating a peak of the read output waveform in synchronization with a time point when the differentiated output crosses a reference voltage level approximately halfway between the maximum value and the minimum value of the differentiated output; A voltage level set between the peak level in the normal read output waveform obtained from the reading means and the reference voltage level. Reference voltage generating means for selectively generating a plurality of different reference voltages; voltage comparing means having one input terminal coupled to the signal reading means and the other input terminal coupled to the reference voltage generating means; The peak detection pulse is located in the period of the output pulse which is coupled to the peak detection pulse forming circuit and the voltage comparison means and indicates that the read output waveform obtained from the voltage comparison means crosses the reference voltage. And a read pulse forming means formed so as to output a read pulse corresponding to the peak detection pulse only when the read pulse forming means is connected to the read pulse forming means. An error detecting means for detecting whether or not it has been read, and at least in response to a signal indicating the error obtained from the error detecting means. The scanning by the reading means is controlled so as to re-read the data of the sector in which an error has occurred, and the reference voltage is set so that the time width during which the reference voltage crosses the read output waveform becomes long during the re-reading. Disk device having a control means for controlling the level of the disk.
【請求項2】 前記ディスクは磁気ディスクであり、 前記読み取り手段は磁気ヘッドとこの磁気ヘッドから差
動信号を出力する手段とから成り、 前記微分回路は前記差動信号出力手段から得られた正相
読み取り出力と逆相読み取り出力との微分出力をそれぞ
れ形成して出力する第1及び第2の出力端子を有する回
路であり、 前記ピーク検出パルス形成回路は、前記基準電圧レベル
を付与するためのピーク検出用基準電圧レベル付与手段
と、前記第1の出力端子と前記ピーク検出用基準電圧レ
ベル付与手段とに結合された第1のピーク検出用コンパ
レータと、前記第2の出力端子と前記ビーク検出用基準
電圧レベル付与手段とに結合された第2のピーク検出用
コンパレータと、前記第1及び第2のピーク検出用コン
パレータに結合され、前記第1及び第2のピーク検出用
コンパレータの出力パルスの前縁に同期して前記正相及
び逆相の読み取り出力のピークを示すピーク検出パルス
を発生するピーク検出パルス発生回路とから成るもので
あり、 前記電圧比較手段は、一方の入力端子が前記差動信号出
力手段の正相出力端子に結合され、他方の入力端子が前
記参照電圧発生手段に結合された正相用コンパレータ
と、一方の入力端子が前記差動信号出力手段の逆相出力
端子に結合され、他方の入力端子が前記参照電圧発生手
段に結合された逆相用コンパレータとから成ることを特
徴とする請求項1記載のディスク装置。
2. The disk is a magnetic disk, the reading means comprises a magnetic head and a means for outputting a differential signal from the magnetic head, and the differentiating circuit is a positive signal obtained from the differential signal output means. A circuit having first and second output terminals for respectively forming and outputting a differential output of a phase reading output and a negative phase reading output, wherein the peak detection pulse forming circuit is for applying the reference voltage level. Peak detection reference voltage level applying means, a first peak detection comparator coupled to the first output terminal and the peak detection reference voltage level applying means, the second output terminal and the beak detection A second peak detecting comparator coupled to the reference voltage level applying means, and the first peak detecting comparator and the second peak detecting comparator, And a peak detection pulse generation circuit for generating a peak detection pulse indicating a peak of the positive phase and negative phase read outputs in synchronism with the leading edges of the output pulses of the first and second peak detection comparators. The voltage comparison means has a positive phase comparator having one input terminal coupled to the positive phase output terminal of the differential signal output means and the other input terminal coupled to the reference voltage generation means, and one input terminal. 2. The disk device according to claim 1, wherein the differential signal output means is connected to a reverse phase output terminal, and the other input terminal is a reverse phase comparator connected to the reference voltage generating means.
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