JPH0682607B2 - Mark position detector - Google Patents

Mark position detector

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JPH0682607B2
JPH0682607B2 JP62202688A JP20268887A JPH0682607B2 JP H0682607 B2 JPH0682607 B2 JP H0682607B2 JP 62202688 A JP62202688 A JP 62202688A JP 20268887 A JP20268887 A JP 20268887A JP H0682607 B2 JPH0682607 B2 JP H0682607B2
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信雄 飯田
輝昭 沖野
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Jeol Ltd
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  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はマーク位置検出装置に関し、更に詳しくは、ビ
ーム描画装置等で材料ステージ上に載置された材料の位
置決めを行うためのマーク位置検出装置に関する。
The present invention relates to a mark position detecting device, and more specifically, to a mark position detecting device for positioning a material placed on a material stage by a beam drawing device or the like. Regarding the device.

(従来の技術) 電子ビーム描画装置や集束イオンビーム描画装置は、材
料ステージ上に載置された材料に所定のパターンのビー
ム描画を行うようになっている。この種のビーム描画装
置で材料の所定のパターンを描画する場合、オープンル
ープでパターンデータを出力し描画するようになってい
るので、初期位置がずれていたら、以後全てのパターン
がずれて描かれることになる。従って、この種のビーム
描画装置では材料の初期位置の設定が極めて重要にな
る。材料の初期位置の設定のために、種々の方法が用い
られる。
(Prior Art) An electron beam drawing apparatus and a focused ion beam drawing apparatus perform beam drawing of a predetermined pattern on a material placed on a material stage. When drawing a predetermined pattern of a material with this type of beam drawing device, the pattern data is output and drawn in an open loop, so if the initial position is misaligned, all patterns will be misaligned thereafter. It will be. Therefore, in this type of beam drawing apparatus, the setting of the initial position of the material is extremely important. Various methods are used for setting the initial position of the material.

このような材料の初期位置設定法として例えばマーク位
置検出法が用いられる。このマーク位置検出法は、材料
又は材料ステージの所定の位置にマークを形成せしめ、
このマーク上をビーム走査するものである。ビームがマ
ークに照射された際にマークから放射される反射電子等
の反射信号の情報がマークの周囲の反射信号と異なるこ
とを利用してマーク位置を検出する。
A mark position detection method, for example, is used as an initial position setting method for such a material. This mark position detection method forms a mark at a predetermined position on the material or material stage,
Beam scanning is performed on the mark. The mark position is detected by utilizing the fact that the information of the reflected signal such as the reflected electrons emitted from the mark when the beam is applied to the mark is different from the reflected signal around the mark.

第5図は従来のマーク検出装置の構成例を示す図であ
る。ビームBiを偏向器1で偏向させ、図の走査方向に走
査させる。このビームBiがマーク2に照射されると、該
マーク2から反射信号Rが放射される。放射された反射
信号Rは反射信号検出器3によって検出され、電気信号
に変換される。ここで、例えば反射信号検出器3はユニ
ット3a(チャネル1)とユニット3b(チャネル2)とに
2分割されており、それぞれが検出信号e1,e2を出力す
る。
FIG. 5 is a diagram showing a configuration example of a conventional mark detection device. The beam Bi is deflected by the deflector 1 and scanned in the scanning direction shown in the figure. When the mark 2 is irradiated with this beam Bi, the reflected signal R is emitted from the mark 2. The emitted reflected signal R is detected by the reflected signal detector 3 and converted into an electric signal. Here, for example, the reflected signal detector 3 is divided into two units, a unit 3a (channel 1) and a unit 3b (channel 2), which respectively output detection signals e1 and e2.

ユニット3a,3bの出力e1,e2は演算回路4に入って、該演
算回路4によって該e1,e2の差が演算により求められ
る。第6図は各部の動作を示すタイミングチャートであ
る。マーク2が(イ)に示す位置にあるものとすると、
演算回路4からは(ロ)に示すような差信号が得られ
る。(イ),(ロ)より明らかなように、正負のピーク
間の中心がマーク位置を示すことになる。
The outputs e1 and e2 of the units 3a and 3b enter the arithmetic circuit 4, and the arithmetic circuit 4 calculates the difference between the e1 and e2. FIG. 6 is a timing chart showing the operation of each part. If mark 2 is in the position shown in (a),
The difference signal as shown in (b) is obtained from the arithmetic circuit 4. As is clear from (a) and (b), the center between the positive and negative peaks indicates the mark position.

しかしながら、(ロ)に示す信号のままではピーク位置
がはっきりしないので、この差信号を微分回路5に入れ
て微分する。この結果、微分回路5から(ハ)に示すよ
うにピークが強調された微分波形が得られる。ゲート回
路6はこの微分出力を受けて、基準位置Kからマーク2
の中心位置までに対応したゲート幅を作成し、このゲー
ト幅だけパルスをカウントしたものを出力する。
However, since the peak position is not clear with the signal shown in (b) as it is, this difference signal is put into the differentiating circuit 5 and differentiated. As a result, the differential circuit 5 obtains a differential waveform in which the peak is emphasized as shown in (c). The gate circuit 6 receives the differentiated output and receives the mark 2 from the reference position K.
A gate width corresponding to the center position of is created, and pulses counted by this gate width are output.

ここでゲート回路6の動作について詳細に説明する。第
6図(ハ)において、基準点Kから1つ目のゲートまで
の距離をA,2つ目のゲートまでの距離をBとすると、マ
ークの中心位置Pまでの距離(マーク位置)Lは次式で
与えられる L=A+(B−A)/2 ゲート回路6は、上式に基づいた幅のゲートを作成し、
このゲート幅だけパルスをカウントさせたものを出力す
る。(ニ)はゲート回路6の出力(ゲート信号)であ
る。
Here, the operation of the gate circuit 6 will be described in detail. In FIG. 6 (c), if the distance from the reference point K to the first gate is A and the distance to the second gate is B, the distance to the center position P of the mark (mark position) L is The L = A + (B−A) / 2 gate circuit 6 given by the following formula creates a gate having a width based on the above formula,
The pulse counted by this gate width is output. (D) is the output (gate signal) of the gate circuit 6.

(発明が解決しようとする問題点) 第5図に示す装置でも、ノイズが無い環境では正確にマ
ーク位置を求めることができる。マーク位置が求まった
らその位置を基にして、材料の初期位置を補正すること
ができる。しかしながら、装置がノイズの発生する環境
に置かれた場合、微分回路5は検出信号に重畳されてく
るノイズも微分してしまい、その出力波形は第7図
(イ)に示すようにノイズを多く含む波形となる。この
ため、ゲートの位置が(ロ)に示すようにたえず動いて
しまい正確な位置決めが不可能となる。又、ノイズがあ
ると他の点でもそのレベルが閾値を越えてゲート信号を
作ってしまい誤動作となる。このように従来の方法では
ノイズに弱いため、マークに厚いレジストがのっている
ようなSN比の悪い信号でも処理可能な装置が望まれてい
る。
(Problems to be Solved by the Invention) Even with the apparatus shown in FIG. 5, the mark position can be accurately obtained in an environment without noise. Once the mark position is obtained, the initial position of the material can be corrected based on that position. However, when the device is placed in an environment where noise is generated, the differentiating circuit 5 also differentiates the noise superimposed on the detection signal, and the output waveform thereof contains much noise as shown in FIG. It becomes a waveform including. Therefore, the position of the gate constantly moves as shown in (b), and accurate positioning becomes impossible. Further, if there is noise, the level of the noise exceeds the threshold value at other points, and a gate signal is generated, resulting in malfunction. As described above, since the conventional method is vulnerable to noise, there is a demand for an apparatus that can process a signal with a poor SN ratio such as a thick resist on a mark.

本発明はこのような点に鑑みてなされたものであって、
その目的は、ノイズに強いマーク位置検出装置を実現す
ることにある。
The present invention has been made in view of such points,
The purpose is to realize a mark position detection device that is resistant to noise.

(問題点を解決するための手段) 前記した問題点を解決する本発明は、ビームが照射され
たマークから反射される反射信号を検出する反射信号検
出器と、該反射信号検出器の各分割ユニット毎の出力を
受けて和信号又は差信号を求める演算回路と、該演算回
路出力を受けてインパルスレスポンス演算を行うインパ
ルスレスポンス演算回路と、該インパルスレスポンス演
算回路の出力からその最大値と最小値を検出する最大値
・最小値検出回路とにより構成され、該最大値・最小値
検出回路で検出した最小値又は最大値を与える位置をマ
ーク位置、最大値と最小値を与える位置の差をマーク幅
の情報として求めるように構成したことを特徴とするも
のである。
(Means for Solving the Problems) The present invention which solves the above-mentioned problems is a reflection signal detector for detecting a reflection signal reflected from a mark irradiated with a beam, and each division of the reflection signal detector. An arithmetic circuit that receives the output of each unit to obtain a sum signal or a difference signal, an impulse response arithmetic circuit that receives the arithmetic circuit output and performs an impulse response arithmetic operation, and the maximum and minimum values from the output of the impulse response arithmetic circuit A maximum value / minimum value detection circuit for detecting the maximum value / minimum value. It is characterized in that it is configured to obtain it as width information.

(作用) 微分回路の代わりにインパルスレスポンス演算を行って
検出信号からマークの中心位置及び信号のピークを強調
する。
(Operation) Impulse response calculation is performed instead of the differentiating circuit to emphasize the center position of the mark and the peak of the signal from the detection signal.

(実施例) 以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明す
る。
(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例を示す構成図である。第5図
と同一のものは、同一の符号を付して示す。反射信号検
出器3で検出した2チャネル分の信号を演算回路4に入
力して、該演算回路4から2つの検出信号を取り出すと
ころまでは、第5図と同様である。11は演算回路4から
の差信号を受けてインパルスレスポンス演算を行うイン
パルスレスポンス演算回路、12は該インパルスレスポン
ス演算回路11の出力を受けてその最大値と最小値を検出
する最大値・最小値検出回路である。そして、該最大値
・最小値検出回路12の出力からマーク位置とマーク幅を
求めることができる。このように構成された装置の動作
を説明すれば、以下の通りである。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. The same parts as those in FIG. 5 are designated by the same reference numerals. The process up to the point where the signals for two channels detected by the reflected signal detector 3 are input to the arithmetic circuit 4 and two detection signals are taken out from the arithmetic circuit 4 is the same as in FIG. Reference numeral 11 is an impulse response operation circuit that receives a difference signal from the operation circuit 4 and performs an impulse response operation. Reference numeral 12 is an output of the impulse response operation circuit 11 and detects maximum and minimum values thereof. Circuit. Then, the mark position and the mark width can be obtained from the output of the maximum / minimum value detection circuit 12. The operation of the apparatus thus configured will be described below.

第5図の場合と同様にして、演算回路4から2つの信号
e1,e2の差信号が出力される。ここでは、以後の処理を
説明するために、この差信号はディジタルデータD
(I)(ここでIはアドレスでI=O〜N1,Nはデータポ
イント数)に変換されているとする。このような信号の
ディジタル化は、例えばA/D変換器を用いて容易に実現
することができる。インパルスレスポンス演算回路11
は、ディジタル化された差信号D(I)を受けて、以下
に示すような演算を行う。
Similar to the case of FIG. 5, two signals from the arithmetic circuit 4
The difference signal between e1 and e2 is output. Here, in order to explain the subsequent processing, the difference signal is the digital data D.
(I) (where I is an address and I = O to N1, N is the number of data points). Digitization of such a signal can be easily realized by using, for example, an A / D converter. Impulse response calculation circuit 11
Receives the digitized difference signal D (I) and performs the following calculation.

ここで、インパルスレスポンスについて説明を加える。
インパルスレスポンスZ(t)は信号処理の分野では一
般に次のように定義されている。
Here, the impulse response will be described.
The impulse response Z (t) is generally defined as follows in the field of signal processing.

ここで、y(t)は信号であり、(2)式は の条件を満足する。この(2)式で表わされるZ(t)
は系の応答を調べるために通常用いられている応答であ
り、h(t)の形は系により色々異なる。
Where y (t) is a signal, and equation (2) is Satisfy the condition of. Z (t) represented by the equation (2)
Is a response normally used to investigate the response of a system, and the form of h (t) varies depending on the system.

h(τ)としては、一般的にy(t−τ)に対して時間
的に逆の関数y(+τ)が用いられるので、ここではh
(τ)としてy(t+τ)を選ぶことにする。又、
(2)式の区間を Wとすれば、 となる。ここで、(4)式をディジタル表現すれば、 となり、(1)式と同じになる。
As h (τ), a function y (+ τ) inverse in time with respect to y (t−τ) is generally used.
Let y (t + τ) be chosen as (τ). or,
If the section of equation (2) is W, Becomes Here, if equation (4) is digitally expressed, And becomes the same as the expression (1).

第2図は、各部の動作波形を示す図である。(イ)は演
算回路4から出力される差信号D(I)、(ロ)はイン
パルスレスポンス演算回路11の出力波形である。このイ
ンパルスレスポンスZ(I)は、マーク信号からマーク
の中心を求める作用をする。このZ(I)はIの領域全
てについて計算する必要はなく、Nの略半分(差信号の
中心付近と、片側一方の領域)について計算すればよ
い。
FIG. 2 is a diagram showing operation waveforms of each part. (A) is the difference signal D (I) output from the arithmetic circuit 4, and (B) is the output waveform of the impulse response arithmetic circuit 11. This impulse response Z (I) acts to find the center of the mark from the mark signal. This Z (I) does not have to be calculated for all the regions of I, but may be calculated for approximately half of N (near the center of the difference signal and one region on one side).

最大値・最小値検出回路12はインパルスレスポンス演算
回路11の出力Z(I)を受けて、最大値と最小値を検出
する。第2図(ロ)に示すようにZ(I)の最大値に対
応したI点をIMAX,最小値に対応したI点をIMINとする
と、IMINがマーク位置を、2×1IMIN−IMAX1がマーク
幅を表わす。即ち、IMINとIMAXとの差をWとして2×W
がマーク幅を表わす。マーク幅を求めることは、当該マ
ーク位置情報が、ゴミ等の本来のマークでない信号をと
らえていないかをチェックする目的で意義がある。
The maximum / minimum value detection circuit 12 receives the output Z (I) of the impulse response calculation circuit 11 and detects the maximum and minimum values. As shown in FIG. 2 (b), if the I point corresponding to the maximum value of Z (I) is I MAX and the I point corresponding to the minimum value is I MIN , I MIN indicates the mark position by 2 × 1I MIN. -I MAX 1 represents the mark width. That is, the difference between I MIN and I MAX is W × 2 × W
Indicates the mark width. Obtaining the mark width is significant for the purpose of checking whether the mark position information captures a signal such as dust that is not the original mark.

次に、IMINがマーク位置を、2×1IMIN−IMAX1がマー
ク幅を表わすことの証明を行う。今、(5)式で表わさ
れるインパルスレスポンスを、第3図(イ)に示すよう
な差信号y(i)を基に考えて見る。(5)式は、iを
先ず固定し、そのiを中心としてjだけ両方向に離れた
データ同志を掛け合わせていくものである。この結果は
信号の重心を求めるイメージに近いものとなる。又、こ
の演算はランダム雑音のような信号と無相関の雑音を減
少する役割も行う。このため、そのレスポンスとしては
(ロ)に示すようなZ(i)のカーブが得られ、差信号
のようなベースラインに対して+,−両極のデータの場
合にはその最小値(MIN)にマークの中心が出る。又、
差信号のy(i)の+,−両ピークの点がZ(i)では
MAXの部分に出ることが分る。従って、1MAXアドレス−M
INアドレス1×2がマーク幅を表わすことになる。
Next, it is proved that I MIN represents the mark position and 2 × 1 I MIN −I MAX 1 represents the mark width. Now, consider the impulse response represented by the equation (5) based on the difference signal y (i) as shown in FIG. The expression (5) is a method in which i is first fixed, and the data comrades apart from each other in both directions by j with respect to the i are multiplied. This result is close to the image of obtaining the center of gravity of a signal. This operation also serves to reduce noise that is uncorrelated with signals such as random noise. Therefore, as the response, a curve of Z (i) as shown in (b) is obtained, and in the case of the data of + and-both poles with respect to the baseline like the difference signal, the minimum value (MIN) The center of the mark appears. or,
The points of both the + and-peaks of y (i) of the difference signal are Z (i)
You can see that it appears in the MAX part. Therefore, 1MAX address-M
The IN address 1 × 2 represents the mark width.

上述の説明においては、演算回路4で2つの信号の差を
求める場合を例にとったが、本発明はこれに限るもので
はない。2つの信号の和信号をとるようにしてもよい。
この場合の和信号とインパルスレスポンスZ(i)との
関係は第4図に示すようなものとなる。(イ)は和信号
y(i),(ロ)はインパルスレスポンスZ(i)であ
る。このようにy(i)はベースラインlに対し+/−
にふりわけるようにする。この場合、そのレスポンスは
(ロ)に示すようになり最大値MAXの点がマーク中心と
なり、最小値MINの点がマークのエッジ付近となる。従
って、やはり1MAXアドレス−MINアドレス1×2が略マ
ーク幅を表わすことになる。
In the above description, the case where the arithmetic circuit 4 calculates the difference between two signals has been taken as an example, but the present invention is not limited to this. You may make it take the sum signal of two signals.
The relationship between the sum signal and the impulse response Z (i) in this case is as shown in FIG. (I) is the sum signal y (i), and (b) is the impulse response Z (i). Thus, y (i) is +/- with respect to the baseline l.
Try to divide it into In this case, the response is as shown in (b), and the point of maximum value MAX is the center of the mark, and the point of minimum value MIN is near the edge of the mark. Therefore, the 1MAX address-MIN address 1x2 also represents the approximate mark width.

(発明の効果) 以上詳細に説明したように、本発明によれば、マークか
らの2つの信号の差信号又は和信号を微分回路を通さず
にインパルスレスポンス演算を行ってそのピーク値から
マーク位置とマーク幅を求めるようにしているので、ノ
イズに強いマーク位置検出装置を実現することができ
る。
(Effect of the Invention) As described in detail above, according to the present invention, the impulse response calculation is performed on the difference signal or the sum signal of two signals from the mark without passing through the differentiating circuit, and the mark position is calculated from the peak value. Since the mark width is obtained, it is possible to realize a mark position detecting device that is resistant to noise.

【図面の簡単な説明】 第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図は各部
の動作波形を示す図、第3図はインパルスレスポンス演
算からマーク位置とマーク幅が求まることの説明図、第
4図は検出信号が和信号の場合の各部の動作波形を示す
図、第5図は従来装置構成例を示す図、第6図は各部の
動作波形を示す図、第7図はノイズ重畳時の動作を示す
図である。 1……偏向器、2……マーク 3……反射信号検出器、4……演算回路 11……インパルスレスポンス演算回路 12……最大値・最小値検出回路
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing operation waveforms of respective parts, and FIG. 3 is a diagram showing that a mark position and a mark width are obtained from impulse response calculation. FIG. 4, FIG. 4 is a diagram showing operation waveforms of each part when the detection signal is a sum signal, FIG. 5 is a diagram showing a configuration example of a conventional device, FIG. 6 is a view showing operation waveforms of each part, and FIG. The figure shows the operation when noise is superimposed. 1 ... deflector, 2 ... mark 3 ... reflection signal detector, 4 ... calculation circuit 11 ... impulse response calculation circuit 12 ... maximum value / minimum value detection circuit

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ビームが照射されたマークから反射される
反射信号を検出する反射信号検出器と、該反射信号検出
器の各分割ユニット毎の出力を受けて和信号又は差信号
を求める演算回路と、該演算回路出力を受けてインパル
スレスポンス演算を行うインパルスレスポンス演算回路
と、該インパルスレスポンスが演算回路の出力からその
最大値と最小値を検出する最大値・最小値検出回路とに
より構成され、該最大値・最小値検出回路で検出した最
小値又は最大値を与える位置をマーク位置、最大値と最
小値を与える位置の差をマーク幅の情報として求めるよ
うに構成したことを特徴とするマーク位置検出装置。
1. A reflection signal detector for detecting a reflection signal reflected from a mark irradiated with a beam, and an arithmetic circuit for receiving an output of each division unit of the reflection signal detector to obtain a sum signal or a difference signal. And an impulse response operation circuit that receives the output of the operation circuit and performs an impulse response operation, and a maximum value / minimum value detection circuit that detects the maximum value and the minimum value of the impulse response from the output of the operation circuit, A mark characterized in that the minimum value or the position giving the maximum value detected by the maximum value / minimum value detecting circuit is obtained as the mark position, and the difference between the positions giving the maximum value and the minimum value is obtained as the information of the mark width. Position detection device.
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