JPH068054B2 - サ−マルヘツドの製造方法 - Google Patents
サ−マルヘツドの製造方法Info
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- JPH068054B2 JPH068054B2 JP61204002A JP20400286A JPH068054B2 JP H068054 B2 JPH068054 B2 JP H068054B2 JP 61204002 A JP61204002 A JP 61204002A JP 20400286 A JP20400286 A JP 20400286A JP H068054 B2 JPH068054 B2 JP H068054B2
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- heating resistor
- thermal head
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/315—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material
- B41J2/32—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material using thermal heads
- B41J2/35—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material using thermal heads providing current or voltage to the thermal head
- B41J2/355—Control circuits for heating-element selection
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- Electronic Switches (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は厚膜形サーマルヘッドの製造方法、特にその
発熱抵抗体の抵抗値の均一化に関するものである。
発熱抵抗体の抵抗値の均一化に関するものである。
厚膜形のサーマルヘッドは、ペースト状の抵抗材料をス
クリーン印刷法等によって所定のパターンに印刷し、そ
の後焼成することで発熱抵抗体を形成している。そのた
め厚膜形のサーマルヘッドは比較的短い製造工程によっ
て安価に製造できる反面、発熱抵抗体の抵抗値のばらつ
きが大きくなる欠点を持ち合せている。この発熱抵抗体
の抵抗値のばらつきは印字等の質に直接影響を及ぼすも
のであるため、厚膜形のサーマルヘッドの製造において
は発熱抵抗体の抵抗値の均一化は極めて重要なファクタ
である。この発熱抵抗体の抵抗値の気一化としては、発
熱抵抗体形成後、各発熱抵抗体に個別に比較的高圧の電
圧パルスを印加するとその抵抗値が低下するという現象
を利用したトリミング処理がある。
クリーン印刷法等によって所定のパターンに印刷し、そ
の後焼成することで発熱抵抗体を形成している。そのた
め厚膜形のサーマルヘッドは比較的短い製造工程によっ
て安価に製造できる反面、発熱抵抗体の抵抗値のばらつ
きが大きくなる欠点を持ち合せている。この発熱抵抗体
の抵抗値のばらつきは印字等の質に直接影響を及ぼすも
のであるため、厚膜形のサーマルヘッドの製造において
は発熱抵抗体の抵抗値の均一化は極めて重要なファクタ
である。この発熱抵抗体の抵抗値の気一化としては、発
熱抵抗体形成後、各発熱抵抗体に個別に比較的高圧の電
圧パルスを印加するとその抵抗値が低下するという現象
を利用したトリミング処理がある。
第５図は例えば特開昭６１−８３０５３号公報に示され
た従来のサーマルヘッドの製造方法を示すフローチャー
トである。図において、ＳＴ１は初期設定のステップ、
ＳＴ２は前記ステツプＳＴ１に続くプローバ及びスイッ
チングのステップ、ＳＴ３は前記スタップＳＴ２に続く
電圧パルス印加のステップ、ＳＴ４は前記ステップＳＴ
３に続く抵抗値測定のステップ、ＳＴ５は前記ステップ
ＳＴ４に続く前回データとの比較のステップ、ＳＴ６は
前記ステップＳＴ５に続く抵抗値減少検出のステップ、
ＳＴ７は前記ステップＳＴ６に続くトリミングの全ドッ
ト終了検出のステップ、ＳＴ８は前記ステップＳＴ５よ
り分岐したリプローブのステップ、ＳＴ９は前記ステッ
プＳＴ６より分岐した電圧パルスの電圧調整のステップ
であり、前記ステップＳＴ７の分岐からはステップＳＴ
２へ、ステップＳＴ８からはステップＳＴ４へ、ステッ
プＳＴ９からはステップＳＴ３へ、それぞれ処理が戻さ
れる。
た従来のサーマルヘッドの製造方法を示すフローチャー
トである。図において、ＳＴ１は初期設定のステップ、
ＳＴ２は前記ステツプＳＴ１に続くプローバ及びスイッ
チングのステップ、ＳＴ３は前記スタップＳＴ２に続く
電圧パルス印加のステップ、ＳＴ４は前記ステップＳＴ
３に続く抵抗値測定のステップ、ＳＴ５は前記ステップ
ＳＴ４に続く前回データとの比較のステップ、ＳＴ６は
前記ステップＳＴ５に続く抵抗値減少検出のステップ、
ＳＴ７は前記ステップＳＴ６に続くトリミングの全ドッ
ト終了検出のステップ、ＳＴ８は前記ステップＳＴ５よ
り分岐したリプローブのステップ、ＳＴ９は前記ステッ
プＳＴ６より分岐した電圧パルスの電圧調整のステップ
であり、前記ステップＳＴ７の分岐からはステップＳＴ
２へ、ステップＳＴ８からはステップＳＴ４へ、ステッ
プＳＴ９からはステップＳＴ３へ、それぞれ処理が戻さ
れる。
次に動作について説明する。まず、ステップＳＴ１にお
いて、トリミングする発熱抵抗体に加える電圧パルスの
初期値、トリミングの目標値等の初期条件が設定され
る。次に、ステップＳＴ２において、サーマルヘッドに
プロービングし、トリミングするドットを選択してその
発熱抵抗体を電圧パルス発生手段に接続し、ステップＳ
Ｔ３で前記ステップ１で設定された初期値の電圧パルス
を印加する。次にステップＳＴ４でその発熱抵抗体の抵
抗値を測定し、ステップＳＴ５において抵抗値が減少し
たか否かを識別し、していなければプローブの接触不良
とみなしてステップＳＴ８にてプロービングをやり直
し、ステップＳＴ４に戻つて再度抵抗値の測定を行な
う。抵抗値が減少していればステップＳＴ６にてステッ
プＳＴ１で設定されたトリミングの目標値と比較し、目
標値より小さくなっていなければ、ステップＳＴ９にて
電圧パルスの電圧値をΔＶだけ上昇させてステップＳＴ
３に戻り、電圧パルスの再印加を行なう。この処理はそ
の発熱抵抗体の抵抗値が前記目標値より小さくなるまで
繰返され、目標値より小さくなればそのドットの発熱抵
抗体のトリミングを終了してステップＳＴ７へ移る。ス
テップＳＴ７では全ドットのトリミングが終了したか否
かを識別しており、全ドットのトリミングが終了してい
なければ処理をステップＳＴ２へ戻す。ステップＳＴ２
では新たなドットが選択されてその発熱抵抗体が電圧パ
ルス発生手段に接続され、同様の処理が全ドットのトリ
ミング終了まで繰返される。
いて、トリミングする発熱抵抗体に加える電圧パルスの
初期値、トリミングの目標値等の初期条件が設定され
る。次に、ステップＳＴ２において、サーマルヘッドに
プロービングし、トリミングするドットを選択してその
発熱抵抗体を電圧パルス発生手段に接続し、ステップＳ
Ｔ３で前記ステップ１で設定された初期値の電圧パルス
を印加する。次にステップＳＴ４でその発熱抵抗体の抵
抗値を測定し、ステップＳＴ５において抵抗値が減少し
たか否かを識別し、していなければプローブの接触不良
とみなしてステップＳＴ８にてプロービングをやり直
し、ステップＳＴ４に戻つて再度抵抗値の測定を行な
う。抵抗値が減少していればステップＳＴ６にてステッ
プＳＴ１で設定されたトリミングの目標値と比較し、目
標値より小さくなっていなければ、ステップＳＴ９にて
電圧パルスの電圧値をΔＶだけ上昇させてステップＳＴ
３に戻り、電圧パルスの再印加を行なう。この処理はそ
の発熱抵抗体の抵抗値が前記目標値より小さくなるまで
繰返され、目標値より小さくなればそのドットの発熱抵
抗体のトリミングを終了してステップＳＴ７へ移る。ス
テップＳＴ７では全ドットのトリミングが終了したか否
かを識別しており、全ドットのトリミングが終了してい
なければ処理をステップＳＴ２へ戻す。ステップＳＴ２
では新たなドットが選択されてその発熱抵抗体が電圧パ
ルス発生手段に接続され、同様の処理が全ドットのトリ
ミング終了まで繰返される。
第６図はこの発熱抵抗体の抵抗値の減少を示す線図であ
り、トリミング前にはR1,R2,R3と大きくばらついていた
抵抗値が、目標値R0よりわずかに低い、狭い範囲内に均
一化される。図においてVsは前記電圧パルスの初期値で
あり、電圧パルスの印加によって発熱抵抗体の抵抗値が
減少をはじめる境界電圧が通常２５Ｖ近傍にあるため例
えば２５Ｖに設定されている。また、ΔＶはステップＳ
Ｔ９による電圧パルスの電圧値の増し分であり、発熱抵
抗体の抵抗値が減少し過ぎないように例えば２．５Ｖに
設定して除々に抵抗値を減少させている。
り、トリミング前にはR1,R2,R3と大きくばらついていた
抵抗値が、目標値R0よりわずかに低い、狭い範囲内に均
一化される。図においてVsは前記電圧パルスの初期値で
あり、電圧パルスの印加によって発熱抵抗体の抵抗値が
減少をはじめる境界電圧が通常２５Ｖ近傍にあるため例
えば２５Ｖに設定されている。また、ΔＶはステップＳ
Ｔ９による電圧パルスの電圧値の増し分であり、発熱抵
抗体の抵抗値が減少し過ぎないように例えば２．５Ｖに
設定して除々に抵抗値を減少させている。
従来のサーマルヘッド製造方法は以上のように構成され
ているので、１ドットの発熱抵抗体のトリミングには２
０〜３０回の電圧パルスの印加、及び抵抗値の測定をし
なければならず、発熱抵抗体の抵抗値の均一化には多大
な時間を要するという問題点があった。
ているので、１ドットの発熱抵抗体のトリミングには２
０〜３０回の電圧パルスの印加、及び抵抗値の測定をし
なければならず、発熱抵抗体の抵抗値の均一化には多大
な時間を要するという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、発熱抵抗体の抵抗値の均一化に多大の時間を
必要とすることのないサーマルヘッドの製造方法を得る
ことを目的とする。
たもので、発熱抵抗体の抵抗値の均一化に多大の時間を
必要とすることのないサーマルヘッドの製造方法を得る
ことを目的とする。
この発明に係るサーマルヘッドの製造方法は、サーマル
ヘッドのドット中よりいくつかのサンプルを選定してそ
れに電圧値の異なるいくつかの電圧パルスを低いものか
ら順に印加し、その都度発熱抵抗体の抵抗変化を測定し
て抵抗対印加電圧テーブルを作成し、各ドットのトリミ
ングに際しては、まずその発熱抵抗体の抵抗値を測定し
て、必要な抵抗対印加電圧テーブルを用いて印加する電
圧パルスの電圧値を決定するものである。
ヘッドのドット中よりいくつかのサンプルを選定してそ
れに電圧値の異なるいくつかの電圧パルスを低いものか
ら順に印加し、その都度発熱抵抗体の抵抗変化を測定し
て抵抗対印加電圧テーブルを作成し、各ドットのトリミ
ングに際しては、まずその発熱抵抗体の抵抗値を測定し
て、必要な抵抗対印加電圧テーブルを用いて印加する電
圧パルスの電圧値を決定するものである。
この発明におけるサーマルヘッドの製造方法は、当該サ
ーマルヘッド内のサンプルドットの測定によって抵抗対
印加電圧テーブルを作成し、トリミングに際してこの抵
抗対印加電圧テーブルを用いて、測定したそのドットの
発熱抵抗体の抵抗値より印加する電圧パルスの電圧値を
決定して、１回の電圧パルスの印加で発熱抵抗体の抵抗
値を目標値に近いものとする。
ーマルヘッド内のサンプルドットの測定によって抵抗対
印加電圧テーブルを作成し、トリミングに際してこの抵
抗対印加電圧テーブルを用いて、測定したそのドットの
発熱抵抗体の抵抗値より印加する電圧パルスの電圧値を
決定して、１回の電圧パルスの印加で発熱抵抗体の抵抗
値を目標値に近いものとする。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図において、ＳＴ１１は初期設定のステップ、ＳＴ１２
は前記ステップＳＴ１１に続くサンプルの抵抗変化測定
のステップ、ＳＴ１３は前記ステップＳＴ１２に続く抵
抗対印加電圧テーブルを作成のステップ、ＳＴ１４は前
記ステップＳＴ１３に続く抵抗値測定のステップ、ＳＴ
１５は前記ステップＳＴ１４に続く印加電圧決定のステ
ップ、ＳＴ１６は前記ステップＳＴ１５に続く電圧パル
ス印加のステップ、ＳＴ１７は前記ステップＳＴ１６に
続くトリミングの全ドット終了検出のステップであり、
このステップＳＴ１７の分岐からはステップＳＴ１４に
処理が戻される。
図において、ＳＴ１１は初期設定のステップ、ＳＴ１２
は前記ステップＳＴ１１に続くサンプルの抵抗変化測定
のステップ、ＳＴ１３は前記ステップＳＴ１２に続く抵
抗対印加電圧テーブルを作成のステップ、ＳＴ１４は前
記ステップＳＴ１３に続く抵抗値測定のステップ、ＳＴ
１５は前記ステップＳＴ１４に続く印加電圧決定のステ
ップ、ＳＴ１６は前記ステップＳＴ１５に続く電圧パル
ス印加のステップ、ＳＴ１７は前記ステップＳＴ１６に
続くトリミングの全ドット終了検出のステップであり、
このステップＳＴ１７の分岐からはステップＳＴ１４に
処理が戻される。
第２図はこの発明のサーマルヘッドの製造方法を実施す
る装置の一例を示すブロック図であり、図において、１
はトリミング処理が行なわれるサーマルヘッド、２はこ
のサーマルヘッド１の各発熱抵抗体の端子にプローブを
押し当てるプロービング装置、３はプロービング装置２
に接続されて前記発熱抵抗体の選択を行なうリレー網、
４はリレー網３に接続されて電圧パルスの印加と抵抗値
の測定とを切り換えるスイッチ、５はスイッチ４の一方
に接続されて指定された電圧値の電圧パルスを送出する
パルス発生器、６はスイッチ４の他方に接続された抵抗
計、７は入出力部８、中央処理装置（以下、ＣＰＵとい
う）９、メモリ１０、キーボード１１等を備えて、前記
諸装置の制御を行なうとともに所要の演算処理を行なう
制御演算部、１２はこの制御演算部７に接続されたプリ
ンタである。
る装置の一例を示すブロック図であり、図において、１
はトリミング処理が行なわれるサーマルヘッド、２はこ
のサーマルヘッド１の各発熱抵抗体の端子にプローブを
押し当てるプロービング装置、３はプロービング装置２
に接続されて前記発熱抵抗体の選択を行なうリレー網、
４はリレー網３に接続されて電圧パルスの印加と抵抗値
の測定とを切り換えるスイッチ、５はスイッチ４の一方
に接続されて指定された電圧値の電圧パルスを送出する
パルス発生器、６はスイッチ４の他方に接続された抵抗
計、７は入出力部８、中央処理装置（以下、ＣＰＵとい
う）９、メモリ１０、キーボード１１等を備えて、前記
諸装置の制御を行なうとともに所要の演算処理を行なう
制御演算部、１２はこの制御演算部７に接続されたプリ
ンタである。
次に動作について説明する。第３図は抵抗値降下曲線の
一例を示す線図であり、図中の実線Ｙがその抵抗値降下
曲線で、横軸には電圧パルスによる印加電圧値が、縦軸
には電圧パルス印加による発熱抵抗体の抵抗変化率が目
盛られている。実験の結果、第３図の縦軸を抵抗変化率
にして、初期の抵抗値から何％降下したかをプロットす
ると、第３図に破線で示す如く、初期の抵抗値には関係
なくほぼ一定の曲線Ｙ上をたどり、その曲線Ｙは(1)式
で近似できることがわかった。
一例を示す線図であり、図中の実線Ｙがその抵抗値降下
曲線で、横軸には電圧パルスによる印加電圧値が、縦軸
には電圧パルス印加による発熱抵抗体の抵抗変化率が目
盛られている。実験の結果、第３図の縦軸を抵抗変化率
にして、初期の抵抗値から何％降下したかをプロットす
ると、第３図に破線で示す如く、初期の抵抗値には関係
なくほぼ一定の曲線Ｙ上をたどり、その曲線Ｙは(1)式
で近似できることがわかった。
なお、(1)式中、R0は発熱抵抗体の初期の抵抗値、V0は
抵抗値に変化が現われはじめる印加電圧の境界値、ΔＶ
は印加電圧の変化ステップ、α，βはサーマルヘッドの
構造、ドット密度等で決まる定数である。
抵抗値に変化が現われはじめる印加電圧の境界値、ΔＶ
は印加電圧の変化ステップ、α，βはサーマルヘッドの
構造、ドット密度等で決まる定数である。
また、別の実験の結果、所定の電圧値の電圧パルスを１
回だけ印加した場合の抵抗減少率は、第３図の如く電圧
値を暫増させながら何回も電圧パルスを印加した場合の
同一電圧値のそれと同等の値を示すこともわかった。こ
の発明はこれらの実験結果に基づくものである。
回だけ印加した場合の抵抗減少率は、第３図の如く電圧
値を暫増させながら何回も電圧パルスを印加した場合の
同一電圧値のそれと同等の値を示すこともわかった。こ
の発明はこれらの実験結果に基づくものである。
この実施例では、まず、ステップ１１で初期設定が行な
われ、次いでステップ１２でサンプルの抵抗変化測定が
行なわれる。即ち、リレー網３を制御してサーマルヘッ
ド１のサンプルとして指定されたドットの発熱抵抗体を
選択し、スイッチ４を切り換えて抵抗計６へ接続して抵
抗値を測定し、その測定値を制御演算部７へ送り、制御
演算部７のＣＰＵ９はこれをメモリ１０へ格納する。次
にスイッチ４を切り換えてパルス発生器５より所定の電
圧値の電圧パルスを前記発熱抵抗体に印加する。ここ
で、この電圧パルスは例えば幅が２μsecのパルスが１
５個周期５０μsecで連続するパルス列である。次に、
再度スイッチ４を切り換えて、この電圧パルスが印加さ
れた発熱抵抗体を抵抗計６に接続して抵抗値を測定し、
制御演算部７へ送る。制御演算部７のＣＰＵ９はそれを
印加した電圧パルスの電圧値とともにメモリ１０に格納
する。以下、同様にして、電圧パルスの電圧値を適宜上
昇させながらこれらの処理を繰返す。この処理は少くと
も３回繰返して実行され、リレー網３を切り換えていく
つかのサンプルについて実行される。
われ、次いでステップ１２でサンプルの抵抗変化測定が
行なわれる。即ち、リレー網３を制御してサーマルヘッ
ド１のサンプルとして指定されたドットの発熱抵抗体を
選択し、スイッチ４を切り換えて抵抗計６へ接続して抵
抗値を測定し、その測定値を制御演算部７へ送り、制御
演算部７のＣＰＵ９はこれをメモリ１０へ格納する。次
にスイッチ４を切り換えてパルス発生器５より所定の電
圧値の電圧パルスを前記発熱抵抗体に印加する。ここ
で、この電圧パルスは例えば幅が２μsecのパルスが１
５個周期５０μsecで連続するパルス列である。次に、
再度スイッチ４を切り換えて、この電圧パルスが印加さ
れた発熱抵抗体を抵抗計６に接続して抵抗値を測定し、
制御演算部７へ送る。制御演算部７のＣＰＵ９はそれを
印加した電圧パルスの電圧値とともにメモリ１０に格納
する。以下、同様にして、電圧パルスの電圧値を適宜上
昇させながらこれらの処理を繰返す。この処理は少くと
も３回繰返して実行され、リレー網３を切り換えていく
つかのサンプルについて実行される。
次に、ステップＳＴ１３において、まずこのようにして
測定された抵抗変化に基づく前記抵抗値降下曲線の近似
が行なわれる。即ち、制御演算部７のＣＰＵ９はメモリ
１０に格納しておいて抵抗変化から、電圧パルスによる
各印加電圧における抵抗変化率ΔＲ＝（R-R0）／R0を求
め、これを前記(1)式に代入する。これによって各サン
プル毎にそれぞれα，β，V0を未知数とする方程式を作
成してこれを解く。ここで、三つの未知数に対して四つ
以上の方程式がある場合にはこれを統計的に処理して解
を得る。得られた解はさらに各サンプル間で統計的に処
理され、得られた定数α，β、境界電圧値V0が(1)式に
代入されて、抵抗値降下曲線が近似され、抵抗変化率Δ
Ｒと印加電圧Ｖとの関係を示す式を得る。次いで、得ら
れた式に抵抗変化率の具体的な値ΔＲｎを逐次代入して
その時の印加電圧Ｖｎの値を計算し、この両者を対応付
けて配列して抵抗対印加電圧テーブルを作成する。第４
図はこの抵抗対印加電圧テーブルの一例を示す説明図で
ある。
測定された抵抗変化に基づく前記抵抗値降下曲線の近似
が行なわれる。即ち、制御演算部７のＣＰＵ９はメモリ
１０に格納しておいて抵抗変化から、電圧パルスによる
各印加電圧における抵抗変化率ΔＲ＝（R-R0）／R0を求
め、これを前記(1)式に代入する。これによって各サン
プル毎にそれぞれα，β，V0を未知数とする方程式を作
成してこれを解く。ここで、三つの未知数に対して四つ
以上の方程式がある場合にはこれを統計的に処理して解
を得る。得られた解はさらに各サンプル間で統計的に処
理され、得られた定数α，β、境界電圧値V0が(1)式に
代入されて、抵抗値降下曲線が近似され、抵抗変化率Δ
Ｒと印加電圧Ｖとの関係を示す式を得る。次いで、得ら
れた式に抵抗変化率の具体的な値ΔＲｎを逐次代入して
その時の印加電圧Ｖｎの値を計算し、この両者を対応付
けて配列して抵抗対印加電圧テーブルを作成する。第４
図はこの抵抗対印加電圧テーブルの一例を示す説明図で
ある。
これで準備段階を終了してステップＳＴ１４よりトリミ
ングの処理に入る。まず、ステップＳＴ１４において、
リレー網３でトリミングを実施するドットを選択し、ス
イッチによってこれを抵抗計６に接続してその抵抗値を
測定する。次に、ステップＳＴ１５ではＣＰＵ９によっ
て、得られた抵抗値を目標値まで降下させるための抵抗
変化率ΔＲｎが算出され、さらに前述の抵抗対印加電圧
テーブルから、この算出した抵抗変化率に近い抵抗変化
率ΔＲｎに対応する印加電圧Ｖｎを読み取り、電圧パル
スの印加電圧を決定する。具体的には、例えばバイナリ
・サーチ法（中間比較法）等によつて抵抗対印加電圧テ
ーブルの読取りが行なわれ、当該テーブルにある抵抗変
化率ΔＲｎの中間の値については比例配分等によって印
加電圧を決定する。また、読み取った印加電圧Ｖｎをそ
のまま用いるようにしてもよい。
ングの処理に入る。まず、ステップＳＴ１４において、
リレー網３でトリミングを実施するドットを選択し、ス
イッチによってこれを抵抗計６に接続してその抵抗値を
測定する。次に、ステップＳＴ１５ではＣＰＵ９によっ
て、得られた抵抗値を目標値まで降下させるための抵抗
変化率ΔＲｎが算出され、さらに前述の抵抗対印加電圧
テーブルから、この算出した抵抗変化率に近い抵抗変化
率ΔＲｎに対応する印加電圧Ｖｎを読み取り、電圧パル
スの印加電圧を決定する。具体的には、例えばバイナリ
・サーチ法（中間比較法）等によつて抵抗対印加電圧テ
ーブルの読取りが行なわれ、当該テーブルにある抵抗変
化率ΔＲｎの中間の値については比例配分等によって印
加電圧を決定する。また、読み取った印加電圧Ｖｎをそ
のまま用いるようにしてもよい。
得られた印加電圧は制御演算部７よりパルス発生器５へ
送られる。ステップＳＴ１６でスイッチ４が切り換えら
れると、発ルス発生器５からは電圧が前記印加電圧に調
整された電圧パルスが送出され、トリミングを実施する
ドットの発熱抵抗体に印加される。これによって当該発
熱抵抗体の抵抗値は目標値に近い値に降下する。以下ス
テップＳＴ１７が全ドットのトリミングの終了を検出す
るまで、ステップＳＴ１４以後の処理が繰返される。
送られる。ステップＳＴ１６でスイッチ４が切り換えら
れると、発ルス発生器５からは電圧が前記印加電圧に調
整された電圧パルスが送出され、トリミングを実施する
ドットの発熱抵抗体に印加される。これによって当該発
熱抵抗体の抵抗値は目標値に近い値に降下する。以下ス
テップＳＴ１７が全ドットのトリミングの終了を検出す
るまで、ステップＳＴ１４以後の処理が繰返される。
また、上記実施例では電圧パルスに所定数連続したパル
ス列を用いたが単パルスであってもよく、上記実施例と
同様の効果を奏する。
ス列を用いたが単パルスであってもよく、上記実施例と
同様の効果を奏する。
以上のように、この発明によれば、少ないサンプルの抵
抗変化を測定して抵抗対印加電圧テーブルを作成し、ト
リミングに際しては、そのドットの発熱抵抗体の抵抗値
を測定して、前記抵抗対印加電圧テーブルを用いて電圧
パルスの電圧値を決定するように構成したので、各ドッ
ト毎に１回の電圧パルスの印加によってトリミングが完
了し、電圧パルスの電圧値の決定もめんどうな計算をし
ないですむため短時間で行なうことができ、発熱抵抗体
の抵抗値の均一化に要する時間を大幅に削減できる効果
がある。この効果はファクシミリ用サーマルヘッドの如
く、１０００ドットあるいはそれ以上の発熱抵抗体を有
するような、多ドットのサーマルヘッドに適用した場
合、特に顕著である。
抗変化を測定して抵抗対印加電圧テーブルを作成し、ト
リミングに際しては、そのドットの発熱抵抗体の抵抗値
を測定して、前記抵抗対印加電圧テーブルを用いて電圧
パルスの電圧値を決定するように構成したので、各ドッ
ト毎に１回の電圧パルスの印加によってトリミングが完
了し、電圧パルスの電圧値の決定もめんどうな計算をし
ないですむため短時間で行なうことができ、発熱抵抗体
の抵抗値の均一化に要する時間を大幅に削減できる効果
がある。この効果はファクシミリ用サーマルヘッドの如
く、１０００ドットあるいはそれ以上の発熱抵抗体を有
するような、多ドットのサーマルヘッドに適用した場
合、特に顕著である。
第１図はこの発明の一実施例によるサーマルヘッドの製
造方法を示すフローチャート、第２図はそれを実施する
ための装置の一例を示すブロック図、第３図はその抵抗
値降下曲線の一例を示す線図、第４図はその抵抗対印加
電圧テーブルの一例を示す説明図、第５図は従来のサー
マルヘッドの製造方法を示すフローチャート、第６図は
その発熱抵抗体の抵抗値の減少を示す線図である。 １はサーマルヘッド、２はプロービング装置、３はリレ
ー網、４はスイッチ、５はパルス発生器、６は抵抗計、
７は制御演算部。
造方法を示すフローチャート、第２図はそれを実施する
ための装置の一例を示すブロック図、第３図はその抵抗
値降下曲線の一例を示す線図、第４図はその抵抗対印加
電圧テーブルの一例を示す説明図、第５図は従来のサー
マルヘッドの製造方法を示すフローチャート、第６図は
その発熱抵抗体の抵抗値の減少を示す線図である。 １はサーマルヘッド、２はプロービング装置、３はリレ
ー網、４はスイッチ、５はパルス発生器、６は抵抗計、
７は制御演算部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 尾崎 裕 兵庫県尼崎市塚口本町８丁目１番１号 三 菱電機株式会社通信機製作所内 (72)発明者 高瀬 弥平 兵庫県尼崎市塚口本町８丁目１番１号 三 菱電機株式会社通信機製作所内 (56)参考文献 特開 昭61−131404（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】複数のドットの発熱抵抗体を備えたサーマ
ルヘッドの前記ドットの発熱抵抗体の各々に電圧パルス
をパルスを印加し、そのドットの発熱抵抗体の抵抗値を
降下させて均一化するサーマルヘッドの製造方法におい
て、前記ドットの発熱抵抗体中からサンプルドットを選
び、電圧値の異なる電圧パルスを低圧のものから順次、
前記サンプルドットとして選ばれたドットの発熱抵抗体
に印加して、印加電圧と抵抗値変化の関係を示す抵抗対
印加電圧テーブルを作成し、前記各ドットの発熱抵抗体
へ印加する前記電圧パルスの電圧値を、当該ドットの発
熱抵抗体の初期の抵抗値に基づいて前記抵抗対印加電圧
テーブルを用いて決定することを特徴とするサーマルヘ
ッドの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61204002A JPH068054B2 (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | サ−マルヘツドの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61204002A JPH068054B2 (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | サ−マルヘツドの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6359549A JPS6359549A (ja) | 1988-03-15 |
| JPH068054B2 true JPH068054B2 (ja) | 1994-02-02 |
Family
ID=16483147
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61204002A Expired - Lifetime JPH068054B2 (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | サ−マルヘツドの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH068054B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2590916B2 (ja) * | 1987-08-21 | 1997-03-19 | 富士ゼロックス株式会社 | 厚膜型サーマルヘッドの製造方法 |
| JP5090383B2 (ja) * | 2009-01-21 | 2012-12-05 | アルプス電気株式会社 | 光モジュール |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61131404A (ja) * | 1984-11-29 | 1986-06-19 | ロ−ム株式会社 | サ−マルヘツドにおけるパルストリミング法 |
-
1986
- 1986-08-29 JP JP61204002A patent/JPH068054B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6359549A (ja) | 1988-03-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |