JPH067976A - レーザー加工装置 - Google Patents
レーザー加工装置Info
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- JPH067976A JPH067976A JP4191293A JP19129392A JPH067976A JP H067976 A JPH067976 A JP H067976A JP 4191293 A JP4191293 A JP 4191293A JP 19129392 A JP19129392 A JP 19129392A JP H067976 A JPH067976 A JP H067976A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ノズル先端部と被加工物との間隔に生じる静
電容量値を電圧に変換して常にノズル先端部と被加工物
との間隔を維持するハイトセンサ部に、例えばプラズマ
等が発生した場合でも、ノズル先端部と被加工物との間
隔を一定距離に維持するようにして、ノズル先端の破損
及び被加工物の加工処理を均一に行うことを目的とす
る。 【構成】 ハイトセンサー部を設けたレーザー加工装置
に、プラズマの発生を検出するプラズマ検出部を設け
て、所定電圧値以上の場合には、予め定まっている時間
帯はハイトセンサー部によるノズル先端と被加工物の間
隔の制御をしないで維持させる構成にする。
電容量値を電圧に変換して常にノズル先端部と被加工物
との間隔を維持するハイトセンサ部に、例えばプラズマ
等が発生した場合でも、ノズル先端部と被加工物との間
隔を一定距離に維持するようにして、ノズル先端の破損
及び被加工物の加工処理を均一に行うことを目的とす
る。 【構成】 ハイトセンサー部を設けたレーザー加工装置
に、プラズマの発生を検出するプラズマ検出部を設け
て、所定電圧値以上の場合には、予め定まっている時間
帯はハイトセンサー部によるノズル先端と被加工物の間
隔の制御をしないで維持させる構成にする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ノズル先端と被加工物
との距離を一定に維持するハイトセンサー部を利用した
レーザー加工装置に関する。
との距離を一定に維持するハイトセンサー部を利用した
レーザー加工装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来におけるレーザー加工装置1は、図
2に示すようにレーザー加工装置本体2とレーザー加工
制御部3とから構成され、レーザー加工装置本体2はレ
ーザー発振器4からのレーザー光線4aをレーザー加工
装置トーチ部5に設けた反射ミラー5aによって屈折さ
せ、集光レンズ5bによって集束されたレーザー光線4
aの焦点を被加工物8の表面に位置させることによって
レーザー光線による加工を施すものである。
2に示すようにレーザー加工装置本体2とレーザー加工
制御部3とから構成され、レーザー加工装置本体2はレ
ーザー発振器4からのレーザー光線4aをレーザー加工
装置トーチ部5に設けた反射ミラー5aによって屈折さ
せ、集光レンズ5bによって集束されたレーザー光線4
aの焦点を被加工物8の表面に位置させることによって
レーザー光線による加工を施すものである。
【0003】そのため、被加工物8とレーザー加工装置
トーチ部5のノズル先端5cとの距離を一定に保つため
に、被加工物8とレーザー加工装置1のトーチ部5のノ
ズル先端5cとの間に生じる静電容量を測定して、常に
適宜距離を保持するレーザー加工制御部3を備えてい
る。
トーチ部5のノズル先端5cとの距離を一定に保つため
に、被加工物8とレーザー加工装置1のトーチ部5のノ
ズル先端5cとの間に生じる静電容量を測定して、常に
適宜距離を保持するレーザー加工制御部3を備えてい
る。
【0004】即ち、ハイトセンサーアンプ部3は、ハイ
トセンサー部31と、このハイトセンサー部31からの
信号を接続する同軸ケーブルとから構成されている。こ
こでハイトセンサー部31は、被加工物8と、トーチ部
5のノズル先端5cとの距離から生じる静電容量を検出
し、該静電容量に基づいた電圧を発生させる回路群から
構成されている。
トセンサー部31と、このハイトセンサー部31からの
信号を接続する同軸ケーブルとから構成されている。こ
こでハイトセンサー部31は、被加工物8と、トーチ部
5のノズル先端5cとの距離から生じる静電容量を検出
し、該静電容量に基づいた電圧を発生させる回路群から
構成されている。
【0005】従ってハイトセンサー部31から生じる電
圧変化分をレーザー加工装置本体2のZ軸サーボモータ
ー6に供給することによって、被加工物8に対するレー
ザー光線4aの焦点を最適に保つことが出来る。
圧変化分をレーザー加工装置本体2のZ軸サーボモータ
ー6に供給することによって、被加工物8に対するレー
ザー光線4aの焦点を最適に保つことが出来る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記説
明した従来技術においては、レーザー加工中に生じるプ
ラズマの発生により、ノズル先端と被加工物との間の静
電容量が急激に増大し、その結果、ハイトセンサー部で
出力される電圧は最大限の出力となり、ノズル先端を被
加工物の方向に急速に動かすことになり、結果としてノ
ズル先端が、被加工物に衝突して損傷したり、被加工物
を不良にしてしまうという問題点がある。
明した従来技術においては、レーザー加工中に生じるプ
ラズマの発生により、ノズル先端と被加工物との間の静
電容量が急激に増大し、その結果、ハイトセンサー部で
出力される電圧は最大限の出力となり、ノズル先端を被
加工物の方向に急速に動かすことになり、結果としてノ
ズル先端が、被加工物に衝突して損傷したり、被加工物
を不良にしてしまうという問題点がある。
【0007】従って、ノズル先端と被加工物との間の距
離を静電容量によって検出する場合であって、プラズマ
等が発生してもレーザー光線の焦点位置が被加工物の表
面に適切に維持されることに解決しなければならない課
題を有している。
離を静電容量によって検出する場合であって、プラズマ
等が発生してもレーザー光線の焦点位置が被加工物の表
面に適切に維持されることに解決しなければならない課
題を有している。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決する具体
的手段として本発明は、ノズル先端部と被加工物との間
隔に生じる静電容量値を電圧値に変化させて出力するハ
イトセンサー部を設け、前記電圧値に基づいて、前記ノ
ズル先端部と被加工物との間隔を一定距離に維持するレ
ーザー加工装置であって、前記静電容量値の変化分が基
準範囲値以上の場合には、前記ハイトセンサー部からの
出力電圧値を最適電圧値に変換して一定時間出力するプ
ラズマ検出部を設けたことを特徴とするレーザー加工装
置であり、プラズマ検出部は、静電容量値の変化分を電
圧の変化分に変換して前記基準範囲値の検出をすること
を特徴とするレーザー加工装置、である。
的手段として本発明は、ノズル先端部と被加工物との間
隔に生じる静電容量値を電圧値に変化させて出力するハ
イトセンサー部を設け、前記電圧値に基づいて、前記ノ
ズル先端部と被加工物との間隔を一定距離に維持するレ
ーザー加工装置であって、前記静電容量値の変化分が基
準範囲値以上の場合には、前記ハイトセンサー部からの
出力電圧値を最適電圧値に変換して一定時間出力するプ
ラズマ検出部を設けたことを特徴とするレーザー加工装
置であり、プラズマ検出部は、静電容量値の変化分を電
圧の変化分に変換して前記基準範囲値の検出をすること
を特徴とするレーザー加工装置、である。
【0009】
【作用】プラズマが発生した瞬間に生じる急激な静電容
量の変化を周波数の変化分として抽出し、該変化分が基
準範囲値か否かを検出し、もし基準範囲値以上である場
合には、一定時間を現状の状態に維持するようにするこ
とによって、いわゆるノズル先端が被加工物に衝突した
りして、ノズル先端の損傷を防止すると共に、被加工物
の加工状態の不良をなくすことができる。
量の変化を周波数の変化分として抽出し、該変化分が基
準範囲値か否かを検出し、もし基準範囲値以上である場
合には、一定時間を現状の状態に維持するようにするこ
とによって、いわゆるノズル先端が被加工物に衝突した
りして、ノズル先端の損傷を防止すると共に、被加工物
の加工状態の不良をなくすことができる。
【0010】
【実施例】本発明に係るレーザー加工装置について図を
参照にして詳細に説明する。尚、理解を容易にするた
め、従来例と同一部分には同一符号を付して説明する。
図1において、レーザー加工装置1は、レーザー加工装
置本体2とハイトセンサーアンプ部3とから構成されて
いる。
参照にして詳細に説明する。尚、理解を容易にするた
め、従来例と同一部分には同一符号を付して説明する。
図1において、レーザー加工装置1は、レーザー加工装
置本体2とハイトセンサーアンプ部3とから構成されて
いる。
【0011】前記レーザー加工装置本体2は、レーザー
光線を発生させるレーザー発振器4と、該レーザー発振
器4からのレーザー光線を被加工物8に照射して加工す
るトーチ部5と、該トーチ部5のノズル先端5cと被加
工物8との距離間隔の設定を行うZ軸サーボモーター6
とから構成されている。
光線を発生させるレーザー発振器4と、該レーザー発振
器4からのレーザー光線を被加工物8に照射して加工す
るトーチ部5と、該トーチ部5のノズル先端5cと被加
工物8との距離間隔の設定を行うZ軸サーボモーター6
とから構成されている。
【0012】前記トーチ部5のノズル先端5cは、被加
工物8に対してレーザー光線を照射して加工を施す構造
になっており、レーザー発振器4からのレーザー光線を
反射ミラー5aにて被加工物8の方向に変更させ、変更
されたレーザー光線は集光レンズ5bによって集光さ
れ、集光されたレーザー光線が目的とする被加工物8の
ワーク表面に、その焦点が合うようにZ軸サーボモータ
ー6によって距離(A)を適宜設定して、レーザー加工
を施すものである。
工物8に対してレーザー光線を照射して加工を施す構造
になっており、レーザー発振器4からのレーザー光線を
反射ミラー5aにて被加工物8の方向に変更させ、変更
されたレーザー光線は集光レンズ5bによって集光さ
れ、集光されたレーザー光線が目的とする被加工物8の
ワーク表面に、その焦点が合うようにZ軸サーボモータ
ー6によって距離(A)を適宜設定して、レーザー加工
を施すものである。
【0013】このレーザー加工装置1のトーチ部5のノ
ズル先端5c、即ちハイトセンサーノズル部9は、ガー
ド電極9aと中心電極9bとが絶縁材9cを介して組み
込まれていて、被加工物8との距離によって生ずる静電
容量を検出する。即ち、ガード電極9aはトーチ部5の
ノズル先端5cの周囲に嵌着されていて、被加工物8と
の静電容量を検出するための基準となる電位電極であ
り、同軸ケーブル7のシールドに接続されている。
ズル先端5c、即ちハイトセンサーノズル部9は、ガー
ド電極9aと中心電極9bとが絶縁材9cを介して組み
込まれていて、被加工物8との距離によって生ずる静電
容量を検出する。即ち、ガード電極9aはトーチ部5の
ノズル先端5cの周囲に嵌着されていて、被加工物8と
の静電容量を検出するための基準となる電位電極であ
り、同軸ケーブル7のシールドに接続されている。
【0014】又、中心電極9bはレーザー加工装置1の
トーチ部5からレーザー光線を照射するノズル先端5c
に設けた電極であって、該中心電極9bと被加工物8と
の間に生ずる静電容量を検出する。この中心電極9b
は、同軸ケーブル7の心線に接続され、ガード電極9c
から生じた基準となる電位と共にレーザー加工制御部3
に送られる。
トーチ部5からレーザー光線を照射するノズル先端5c
に設けた電極であって、該中心電極9bと被加工物8と
の間に生ずる静電容量を検出する。この中心電極9b
は、同軸ケーブル7の心線に接続され、ガード電極9c
から生じた基準となる電位と共にレーザー加工制御部3
に送られる。
【0015】レーザー加工制御部3は、ハイトセンサー
部10とプラズマ検出部11とから構成されている。
部10とプラズマ検出部11とから構成されている。
【0016】前記ハイトセンサー部10は、増幅器12
と、発振器13と、検波回路14と、信号処理回路15
とから構成されており、該ハイトセンサー部10は被加
工物8との距離によって得られた静電容量値を電圧値に
変換する回路群で構成されている。
と、発振器13と、検波回路14と、信号処理回路15
とから構成されており、該ハイトセンサー部10は被加
工物8との距離によって得られた静電容量値を電圧値に
変換する回路群で構成されている。
【0017】増幅器12は、レーザー加工装置1のトー
チ部5の中心電極9bと被加工物8との間で生じた静電
容量を発振器13の振幅変化に変換する交流増幅器であ
り、該増幅器12で所定値に増幅された信号は検波回路
14に入力される。
チ部5の中心電極9bと被加工物8との間で生じた静電
容量を発振器13の振幅変化に変換する交流増幅器であ
り、該増幅器12で所定値に増幅された信号は検波回路
14に入力される。
【0018】検波回路14は、増幅器12で増幅された
信号の振幅検波を行う。即ち、レーザー加工装置1のト
ーチ部5の中心電極9bから得られた静電容量値の内、
所定の振幅成分を抽出し、該抽出された信号は信号処理
回路15に入力される。
信号の振幅検波を行う。即ち、レーザー加工装置1のト
ーチ部5の中心電極9bから得られた静電容量値の内、
所定の振幅成分を抽出し、該抽出された信号は信号処理
回路15に入力される。
【0019】この信号処理回路15は、レーザー加工装
置1のトーチ部5の中心電極9bと被加工物8との距離
によって生じた静電容量値に基づいて得られた所定の周
波数の振幅成分から所定の電圧値に変換する回路であ
る。
置1のトーチ部5の中心電極9bと被加工物8との距離
によって生じた静電容量値に基づいて得られた所定の周
波数の振幅成分から所定の電圧値に変換する回路であ
る。
【0020】即ち、振幅が高ければ接続端子16を介し
てプラスの電圧を出力し、振幅が低ければマイナスの電
圧を出力する。そして、予め設定された値と近似又は等
しければOVの電圧を出力して、該出力された電圧はレ
ーザー加工装置本体2のZ軸サーボモーター6に供給さ
れてレーザー加工装置1のトーチ部5のノズルが被加工
物8との適正な距離に制御されることとなる。
てプラスの電圧を出力し、振幅が低ければマイナスの電
圧を出力する。そして、予め設定された値と近似又は等
しければOVの電圧を出力して、該出力された電圧はレ
ーザー加工装置本体2のZ軸サーボモーター6に供給さ
れてレーザー加工装置1のトーチ部5のノズルが被加工
物8との適正な距離に制御されることとなる。
【0021】次に、プラズマ検出部11の構成について
説明する。このプラズマ検出部11は、2つのローパス
フィルター(以下LPFと云う)17,18と、減算回
路19と、ウインドCOMP20と、ディレイタイマ2
1と、切換スイッチ22、24と、現在値ホールド回路
23とから構成されていて、通常のレーザー光線の加工
中には起こり得ない静電容量の変化分、即ち基準範囲値
以上の変化分を検出するものである。
説明する。このプラズマ検出部11は、2つのローパス
フィルター(以下LPFと云う)17,18と、減算回
路19と、ウインドCOMP20と、ディレイタイマ2
1と、切換スイッチ22、24と、現在値ホールド回路
23とから構成されていて、通常のレーザー光線の加工
中には起こり得ない静電容量の変化分、即ち基準範囲値
以上の変化分を検出するものである。
【0022】先に説明した検波回路14によってトーチ
部5の中心電極9bと被加工物8との間の静電容量を振
幅成分に変換された信号は、現在値ホールド回路23及
びLPF17,18の夫々に入力される。
部5の中心電極9bと被加工物8との間の静電容量を振
幅成分に変換された信号は、現在値ホールド回路23及
びLPF17,18の夫々に入力される。
【0023】LPF17及びLPF18は、検波回路1
4で生成された振幅成分の内、レーザー光線による加工
中に生じたプラズマ等により、中心電極9bと被加工物
8との間で生じた静電容量が異常に大きく発生した場合
に生じる振幅成分(基準範囲値以上の変化分)を抽出す
るフィルターである。
4で生成された振幅成分の内、レーザー光線による加工
中に生じたプラズマ等により、中心電極9bと被加工物
8との間で生じた静電容量が異常に大きく発生した場合
に生じる振幅成分(基準範囲値以上の変化分)を抽出す
るフィルターである。
【0024】減算回路19は、LPF17,18によっ
て抽出された各振幅成分を夫々のLPF17とLPF1
8とからの振幅を減算することによって差分を算出する
回路から構成されている。そして、この減算された信号
はウインドCOMP20に送出される。
て抽出された各振幅成分を夫々のLPF17とLPF1
8とからの振幅を減算することによって差分を算出する
回路から構成されている。そして、この減算された信号
はウインドCOMP20に送出される。
【0025】ウインドCOMP20は、所定値からなる
閾値を設け、該閾値よりも前記減算回路19で算出され
たLPF17とLPF18との振幅の差をモニターする
回路で構成されている。即ち、閾値以上の値であれば、
基準範囲値以上の変化が発生したものと判断し、即ちプ
ラズマが発生した異常状態であると判断し、ディレイタ
イマ21を働かせる。
閾値を設け、該閾値よりも前記減算回路19で算出され
たLPF17とLPF18との振幅の差をモニターする
回路で構成されている。即ち、閾値以上の値であれば、
基準範囲値以上の変化が発生したものと判断し、即ちプ
ラズマが発生した異常状態であると判断し、ディレイタ
イマ21を働かせる。
【0026】このディレイタイマ21は、前記ウインド
COMP20からの信号に基づいて、予め定められてい
る所定時間だけ切換スイッチを作動させるタイマであ
る。
COMP20からの信号に基づいて、予め定められてい
る所定時間だけ切換スイッチを作動させるタイマであ
る。
【0027】切換スイッチ22は、例えばプラズマが発
生した場合に、上述したデイレイタイマ21で発生する
時間帯だけ切り換わるスイッチである。即ち、ハイトセ
ンサー部10の信号処理回路15から生じている振幅成
分から変換された電圧を供給する供給接続22aと、切
り換えスイッチ24側との切換えを行うスイッチであ
る。
生した場合に、上述したデイレイタイマ21で発生する
時間帯だけ切り換わるスイッチである。即ち、ハイトセ
ンサー部10の信号処理回路15から生じている振幅成
分から変換された電圧を供給する供給接続22aと、切
り換えスイッチ24側との切換えを行うスイッチであ
る。
【0028】この切換スイッチ22を共通接続22cと
供給接続22a側とに切換えることによって、ハイトセ
ンサー部10の信号処理回路15からの電圧をレーザー
加工装置本体2のZ軸サーボモーター6に供給してノズ
ル先端5cと被加工物8との間隔を、たとえプラズマ等
が発生した場合であっても、適正状態に維持するための
制御をすることができる。
供給接続22a側とに切換えることによって、ハイトセ
ンサー部10の信号処理回路15からの電圧をレーザー
加工装置本体2のZ軸サーボモーター6に供給してノズ
ル先端5cと被加工物8との間隔を、たとえプラズマ等
が発生した場合であっても、適正状態に維持するための
制御をすることができる。
【0029】即ち、切換スイッチ22を共通接続22c
と接地接続22b側とに接続することによって、プラズ
マの発生した直前に供給されているZ軸サーボモーター
6への電圧値(現在値ホールド回路23に基づく電圧
値)、又はGNDの電位を接続端子16を介してレーザ
ー加工装置本体2のZ軸サーボモーター6に供給する。
と接地接続22b側とに接続することによって、プラズ
マの発生した直前に供給されているZ軸サーボモーター
6への電圧値(現在値ホールド回路23に基づく電圧
値)、又はGNDの電位を接続端子16を介してレーザ
ー加工装置本体2のZ軸サーボモーター6に供給する。
【0030】現在値ホールド回路23は、検波回路14
で検出された信号、即ち中心電極9bと被加工物8との
間の静電容量を振幅成分に変換された信号、を入力して
ホールドしておく回路である。そして、この現在値ホー
ルド回路23でホールドされている信号は切換スイッチ
24の一端に入力される。
で検出された信号、即ち中心電極9bと被加工物8との
間の静電容量を振幅成分に変換された信号、を入力して
ホールドしておく回路である。そして、この現在値ホー
ルド回路23でホールドされている信号は切換スイッチ
24の一端に入力される。
【0031】切換スイッチ24は、所謂2連スイッチで
あって、入出力端子の一方側は現在値ホールド回路23
に接続され、他方側は接地GNDに接続され、出力端子
の両端子は、共に連結されて切換スイッチ22の入力端
子22bに接続され、接地GND又は現在ホールド回路
23からの信号との取捨選択をすることができる。
あって、入出力端子の一方側は現在値ホールド回路23
に接続され、他方側は接地GNDに接続され、出力端子
の両端子は、共に連結されて切換スイッチ22の入力端
子22bに接続され、接地GND又は現在ホールド回路
23からの信号との取捨選択をすることができる。
【0032】即ち、トーチ部5のノズル先端5cと被加
工物8との距離(A)から得られた電圧値によって、レ
ーザー加工装置本体2のZ軸サーボモーター6を駆動さ
せ、この電圧値を得るための基準となる適正電圧値は、
例えば0Vや5V等に適宜設定することができ、この設
定された適正電圧値に対応した電圧をZ軸サーボモータ
6に送ることによって適正距離(A)を維持する。も
し、適正電圧値が0Vであれば、接地GND側にし、そ
の他の適正電圧値であれば、現在値ホールド回路23か
らの信号に基づく電圧をZ軸サーボモータ6に供給すれ
ばプラズマが発生した時であっても、距離(A)は維持
されることになる。
工物8との距離(A)から得られた電圧値によって、レ
ーザー加工装置本体2のZ軸サーボモーター6を駆動さ
せ、この電圧値を得るための基準となる適正電圧値は、
例えば0Vや5V等に適宜設定することができ、この設
定された適正電圧値に対応した電圧をZ軸サーボモータ
6に送ることによって適正距離(A)を維持する。も
し、適正電圧値が0Vであれば、接地GND側にし、そ
の他の適正電圧値であれば、現在値ホールド回路23か
らの信号に基づく電圧をZ軸サーボモータ6に供給すれ
ばプラズマが発生した時であっても、距離(A)は維持
されることになる。
【0033】従って、ディレイタイマ21によって所定
時間(プラズマが終了するであろう時間)に設定してあ
れば、プラズマ等の発生している時間は現状の被加工物
8とノズル先端5cとの距離関係を現状の状態で維持す
ることができる。
時間(プラズマが終了するであろう時間)に設定してあ
れば、プラズマ等の発生している時間は現状の被加工物
8とノズル先端5cとの距離関係を現状の状態で維持す
ることができる。
【0034】このように静電容量から得られた電圧の変
化をレーザー加工装置本体2のZ軸サーボモーター6に
加えて、ノズル先端5cと被加工物8との適正位置を制
御し、常にレーザー光線の焦点を被加工物8の表面で結
ぶように最適加工点を保つようにする。
化をレーザー加工装置本体2のZ軸サーボモーター6に
加えて、ノズル先端5cと被加工物8との適正位置を制
御し、常にレーザー光線の焦点を被加工物8の表面で結
ぶように最適加工点を保つようにする。
【0035】この最適加工点のノズル先端5cと被加工
物8との距離(A)を維持する電圧値は、予め定められ
た最適電圧値を基準にして決定されて、レーザー加工装
置本体2のZ軸サーボモーター6に供給される。
物8との距離(A)を維持する電圧値は、予め定められ
た最適電圧値を基準にして決定されて、レーザー加工装
置本体2のZ軸サーボモーター6に供給される。
【0036】従って、被加工物8のワーク近接時には、
最適電圧値に対してマイナスの電圧がレーザー加工装置
本体2のZ軸サーボモーター6に供給されて、レーザー
加工装置トーチ部5のノズル先端5cは被加工物8から
遠ざかる方向に動く。
最適電圧値に対してマイナスの電圧がレーザー加工装置
本体2のZ軸サーボモーター6に供給されて、レーザー
加工装置トーチ部5のノズル先端5cは被加工物8から
遠ざかる方向に動く。
【0037】また、被加工物8がノズル先端5cから離
れ過ぎの場合には、最適電圧値に対してプラスの電圧が
レーザー加工装置本体2のZ軸サーボモーター6に供給
され、レーザー加工装置本体2のZ軸サーボモーター6
によってトーチ部5のノズル先端5cは被加工物8に近
接する方向に動く。
れ過ぎの場合には、最適電圧値に対してプラスの電圧が
レーザー加工装置本体2のZ軸サーボモーター6に供給
され、レーザー加工装置本体2のZ軸サーボモーター6
によってトーチ部5のノズル先端5cは被加工物8に近
接する方向に動く。
【0038】このようにして、プラズマ等の発生してい
ない通常状態においては、常にトーチ部5のノズル先端
5cと被加工物8との距離を一定に保つことができる。
ない通常状態においては、常にトーチ部5のノズル先端
5cと被加工物8との距離を一定に保つことができる。
【0039】また、レーザー光線による加工中にプラズ
マ等が発生した場合には、トーチ部5の中心電極9bに
より得られる静電容量は急激に大きな値(基準範囲値以
上の値)になる。従って、この静電容量を振幅に変換さ
れた信号(検波回路14からの出力信号)を常時監視す
ることによって、プラズマ等の発生を監視することがで
きる。
マ等が発生した場合には、トーチ部5の中心電極9bに
より得られる静電容量は急激に大きな値(基準範囲値以
上の値)になる。従って、この静電容量を振幅に変換さ
れた信号(検波回路14からの出力信号)を常時監視す
ることによって、プラズマ等の発生を監視することがで
きる。
【0040】尚、本実施例においては、静電容量を振幅
に変換された単位時間当りの変化成分によってプラズマ
等の発生を検出するようにしているが、ハイトセンサー
部10の信号処理回路15から出力される電圧の変化に
基づいた検出方法でもよい。
に変換された単位時間当りの変化成分によってプラズマ
等の発生を検出するようにしているが、ハイトセンサー
部10の信号処理回路15から出力される電圧の変化に
基づいた検出方法でもよい。
【0041】振幅成分の変化に基づいた検出方法は、前
記説明したプラズマ検出部11のLPF17,18に入
力することによって行われる。
記説明したプラズマ検出部11のLPF17,18に入
力することによって行われる。
【0042】即ち、LPF17及びLPF18は、夫々
異なったカットオフ周波数を持つローパスフィルターで
ある。
異なったカットオフ周波数を持つローパスフィルターで
ある。
【0043】従って、この両者のフィルターから得られ
た各振幅成分の差分を算出し(減算回路19で算出され
た振幅)、該算出された振幅成分が予め設定されている
閾値以上(基準範囲値以上)であれば、プラズマが発生
したと判断する(ハイトセンサー部10のウインドCO
MP20参照)。
た各振幅成分の差分を算出し(減算回路19で算出され
た振幅)、該算出された振幅成分が予め設定されている
閾値以上(基準範囲値以上)であれば、プラズマが発生
したと判断する(ハイトセンサー部10のウインドCO
MP20参照)。
【0044】そして、プラズマが発生したと判断したな
らば、プラズマの発生が終了するのに十分な時間内にお
いて、現状のレーザー加工装置トーチ部5のノズル先端
5cと被加工物8との距離(A)を維持することによっ
て被加工物8に対してノズル先端5cが衝突するなどの
不都合を回避することができるのである。
らば、プラズマの発生が終了するのに十分な時間内にお
いて、現状のレーザー加工装置トーチ部5のノズル先端
5cと被加工物8との距離(A)を維持することによっ
て被加工物8に対してノズル先端5cが衝突するなどの
不都合を回避することができるのである。
【0045】
【発明の効果】以上、説明したように本発明に係るレー
ザー加工装置は、ノズル先端と被加工物との距離を静電
容量値の単位時間当りの変化分の差異を検出するハイト
センサー部に、例えばプラズマの発生時に生じる基準範
囲値以上の静電容量の変化分を検出した時に、現状の距
離を一定時間維持させることによってノズル先端が被加
工物に衝突して破損することを防止することができると
共に、部品の取り替え作業が不要となりレーザー加工の
作業能率を大幅に向上させることができる。
ザー加工装置は、ノズル先端と被加工物との距離を静電
容量値の単位時間当りの変化分の差異を検出するハイト
センサー部に、例えばプラズマの発生時に生じる基準範
囲値以上の静電容量の変化分を検出した時に、現状の距
離を一定時間維持させることによってノズル先端が被加
工物に衝突して破損することを防止することができると
共に、部品の取り替え作業が不要となりレーザー加工の
作業能率を大幅に向上させることができる。
【0046】また、ノズル先端の破損を未然に防止する
ことができると共に、被加工物のレーザー加工処理を均
一に行って、品質向上が図れると云う優れた効果を奏す
るものである。
ことができると共に、被加工物のレーザー加工処理を均
一に行って、品質向上が図れると云う優れた効果を奏す
るものである。
【図1】本発明に係るレーザー加工装置をブロック図で
示したものである。
示したものである。
【図2】従来技術におけるレーザー加工装置をブロック
図で示したものである。
図で示したものである。
1 レーザー加工装置 2 レーザー加工装置本体 3 ハイトセンサーアンプ部 4 レーザー発振器 4a レーザー光線 5 トーチ部 5a 反射ミラー 5b 集光レンズ 5c ノズル先端 6 Z軸サーボモーター 7 同軸ケーブル 8 加工物 9 ハイトセンサーノズル部 9a ガード電極 9b 中心電極 9c 絶縁材 10 ハイトセンサー部 11 プラズマ検出部 12 増幅器 13 発振器 14 検波回路 15 信号処理回路 16 接続端子 17、18 LPF 19 減算回路 20 ウインドCOMP 21 ディレイタイマ 22 切換スイッチ 22a 供給接続 22b 接地接続 22c 共通接続 23 現在値ホールド回路 24 切換スイッチ
Claims (2)
- 【請求項1】 ノズル先端部と被加工物との間隔に生じ
る静電容量値を電圧値に変化させて出力するハイトセン
サー部を設け、前記電圧値に基づいて、前記ノズル先端
部と被加工物との間隔を一定距離に維持するレーザー加
工装置であって、 前記静電容量値の変化分が基準範囲値以上の場合には、
前記ハイトセンサー部からの出力電圧値を最適電圧値に
変換して一定時間出力するプラズマ検出部を設けたこと
を特徴とするレーザー加工装置。 - 【請求項2】 プラズマ検出部は、静電容量値の変化分
を電圧の変化分に変換して前記基準範囲値の検出をする
ことを特徴とする請求項1に記載のレーザー加工装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19129392A JP3187147B2 (ja) | 1992-06-26 | 1992-06-26 | レーザー加工装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19129392A JP3187147B2 (ja) | 1992-06-26 | 1992-06-26 | レーザー加工装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH067976A true JPH067976A (ja) | 1994-01-18 |
JP3187147B2 JP3187147B2 (ja) | 2001-07-11 |
Family
ID=16272164
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19129392A Expired - Fee Related JP3187147B2 (ja) | 1992-06-26 | 1992-06-26 | レーザー加工装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3187147B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005219093A (ja) * | 2004-02-05 | 2005-08-18 | Yamazaki Mazak Corp | プラズマ検出装置、及びプラズマ検出装置付きレーザ加工機 |
US7335851B2 (en) | 2005-06-09 | 2008-02-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Gap measurement apparatus |
US8244494B2 (en) | 2007-04-06 | 2012-08-14 | Hypertherm, Inc. | Plasma insensitive height sensing |
CN118357567A (zh) * | 2024-05-16 | 2024-07-19 | 江苏先进光源技术研究院有限公司 | 电场辅助的透明脆性材料激光制孔实时检测系统及方法 |
-
1992
- 1992-06-26 JP JP19129392A patent/JP3187147B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005219093A (ja) * | 2004-02-05 | 2005-08-18 | Yamazaki Mazak Corp | プラズマ検出装置、及びプラズマ検出装置付きレーザ加工機 |
JP4646525B2 (ja) * | 2004-02-05 | 2011-03-09 | ヤマザキマザック株式会社 | プラズマ検出装置、及びプラズマ検出装置付きレーザ加工機 |
US7335851B2 (en) | 2005-06-09 | 2008-02-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Gap measurement apparatus |
DE102005059202B4 (de) * | 2005-06-09 | 2008-05-21 | Mitsubishi Denki K.K. | Spaltmessvorrichtung |
US8244494B2 (en) | 2007-04-06 | 2012-08-14 | Hypertherm, Inc. | Plasma insensitive height sensing |
CN118357567A (zh) * | 2024-05-16 | 2024-07-19 | 江苏先进光源技术研究院有限公司 | 电场辅助的透明脆性材料激光制孔实时检测系统及方法 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP3187147B2 (ja) | 2001-07-11 |
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