JPH0676807U - A device that detects the presence or absence of a board that engages with the upper and lower pedestals - Google Patents

A device that detects the presence or absence of a board that engages with the upper and lower pedestals

Info

Publication number
JPH0676807U
JPH0676807U JP1943692U JP1943692U JPH0676807U JP H0676807 U JPH0676807 U JP H0676807U JP 1943692 U JP1943692 U JP 1943692U JP 1943692 U JP1943692 U JP 1943692U JP H0676807 U JPH0676807 U JP H0676807U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
plate
holding plate
board
absence
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1943692U
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
茂 小久保
利幸 中家
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hanwa Electronic Ind Co Ltd
Original Assignee
Hanwa Electronic Ind Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hanwa Electronic Ind Co Ltd filed Critical Hanwa Electronic Ind Co Ltd
Priority to JP1943692U priority Critical patent/JPH0676807U/en
Publication of JPH0676807U publication Critical patent/JPH0676807U/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 回路端子等が設置されている基盤が到来した
場合、これに対する検査用の入力をインプットする手段
を載置した上下台が基盤に接触して、前記入力をインプ
ットし、これに基づいて諸検査を行う係において、基板
の到来の有無を上下台と基板との接触自体の検知ではな
く、光電的手段等によって検知する装置を提供するこ
と。 【構成】 移動枠に沿って上下に移動する上下台、及び
これより上方に載置され、該載置された位置よりも上方
へ移動可能であり、且つ遮光板と結合している押え板を
それぞれ設置し、基板は該上下台及び押え板の上下方向
の間に到来するように設計し、基板及び押え板を上下台
に載置可能とし、上下台が押え板のみを載置して上方へ
移動した場合(基板が到来しない場合)及び上下台が基
盤と押え板とを載置して上方へ移動した場合(基板が到
来した場合)において、上下台が所定の高さに達した段
階における押え板の上下方向の位置を透過ビームに対す
る前記遮光板の遮蔽の有無によって判別することによる
上下台と係合する基板の有無を検知する装置。
(57) [Summary] (Modified) [Purpose] When a board on which circuit terminals etc. are installed arrives, the upper and lower pedestals on which the means for inputting inspection inputs are placed contact the board, To provide a device for inputting the input and performing various inspections based on the input, for detecting the presence or absence of a substrate by a photoelectric means or the like, not by detecting the contact itself between the upper and lower pedestals and the substrate. An upper and lower base that moves up and down along a moving frame, and a holding plate that is placed above the base and is movable above the mounted position and that is connected to a light shielding plate. Each of them is installed, and the board is designed so as to come between the upper and lower bases and the holding plate in the vertical direction, and the base plate and the holding plate can be placed on the upper and lower bases. When the upper and lower bases reach a predetermined height when moving to (when the substrate does not arrive) or when the upper and lower mounts move the substrate and pressing plate up and move up (when the substrate arrives) A device for detecting the presence or absence of a substrate that engages with the upper and lower pedestals by determining the position of the holding plate in the up and down direction according to the presence or absence of the shielding of the light shielding plate with respect to the transmitted beam.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は、諸々の検査の対象たる物、端子等を載置している基盤の到来の有無 を該基板に入力をインプットする接触端子又は出力をキャッチする接触端子を有 する手段を備えた上下台によって検知する装置に関するものである。 The present invention is a top and bottom device equipped with a contact terminal for inputting an input to the substrate and a contact terminal for catching an output as to the presence or absence of a substrate on which various objects to be inspected, terminals, etc. are placed. The present invention relates to a device for detecting by a table.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

電子部品を組み込んだ基盤に対し、諸々の検査を行う場合には、基盤を順次検 査部位に到来させ、検査を行うことが要求される。 When performing various inspections on a board incorporating electronic components, it is required to sequentially bring the board to the inspection site and perform the inspection.

【0003】 例えば、回路素子の静電破壊の検査を行うには、図1に示すように、回路素子 を載置した基板1を移動させ、静電破壊入力を行う印加電圧部分を載置した上下 台側に移動させ、上下台2を移動させて上側に位置している測定プローブに接触 させて、静電破壊を検査する為の高電圧入力からの応答信号を測定することが行 われている。For example, in order to inspect an electrostatic breakdown of a circuit element, as shown in FIG. 1, the substrate 1 on which the circuit element is mounted is moved and an applied voltage portion for inputting electrostatic breakdown is mounted. The response signal from the high voltage input for inspecting for electrostatic breakdown was measured by moving it to the upper and lower table side and moving the upper and lower table 2 to contact the measuring probe located on the upper side. There is.

【0004】 このような場合、上下台2の上方に基板1が到来していない場合には、前記高 電圧入力を印加させて、更に測定プローブ24によって測定することは不要且つ 不可能であることから、上下台自身が基板の到来の有無を検知することが不可欠 となる。In such a case, when the substrate 1 has not arrived above the upper and lower pedestals 2, it is unnecessary and impossible to apply the high voltage input and further measure with the measurement probe 24. Therefore, it is indispensable for the upper and lower pedestals themselves to detect the arrival of the board.

【0005】 従来においては、プローブ24の基板1に対する接触自体によって、基板の到 来の有無を検知していた。Conventionally, the presence or absence of the arrival of the substrate is detected by the contact itself of the probe 24 with the substrate 1.

【0006】 しかしながら、このような方式では、接触部位の破損、形状の変化等によって 検出誤差が生じたり、又機械的な接触を電気的な信号に変えること自体煩瑣な構 成要素が必要とならざるを得ない。However, in such a method, a detection error may occur due to damage of a contact portion, a change in shape, or the like, and it is necessary to use a constituent element which is itself troublesome to change a mechanical contact into an electrical signal. I have no choice.

【0007】[0007]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

本発明は、前記の如き従来技術の欠点を克服する為、機械的な接触自体の検出 を伴わずに、極めて簡単な構成によって移動台が基板の到来の有無を両者の位置 関係から検出できる構成を提供することを目的とする。 In order to overcome the above-mentioned drawbacks of the prior art, the present invention has a configuration in which the moving base can detect the presence or absence of the arrival of the substrate from the positional relationship between the two with a very simple configuration without detecting the mechanical contact itself. The purpose is to provide.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

前記の如き課題を解決する為、本考案の構成は、移動枠に沿って上下に移動す る上下台、及びこれより上方に載置され、該載置された位置よりも上方へ移動可 能であり、且つ遮光板と結合している押え板をそれぞれ設置し、基板は該上下台 及び押え板の上下方向の間に到来するように設計し、基板及び押え板を上下台に 載置可能とし、上下台が押え板のみを載置して上方へ移動した場合(基板が到来 しない場合)及び上下台が基盤と押え板とを載置して上方へ移動した場合(基板 が到来した場合)において、上下台が所定の高さに達した段階における押え板の 上下方向の位置を透過ビームに対する前記遮光板の遮蔽の有無によって判別する ことによる上下台と係合する基板の有無を検知する装置からなる。 In order to solve the above-mentioned problems, the structure of the present invention is capable of moving up and down along a moving frame, and is mounted above it, and is movable above the mounted position. It is also possible to install the holding plate that is connected to the light shielding plate, and the board is designed so that it comes between the upper and lower bases and the vertical direction of the holding plate, and the board and the holding plate can be placed on the upper and lower bases. When the upper and lower platforms place only the holding plate and move upward (when the board does not arrive), and when the upper and lower stands place the base and the holding plate and move upward (when the board arrives). ), The presence or absence of a substrate that engages with the upper and lower bases is detected by determining the vertical position of the holding plate when the upper and lower bases reach a predetermined height based on the presence or absence of the shielding of the light shielding plate with respect to the transmitted beam. Composed of equipment.

【0009】 最初に、本考案の基本的な原理について説明する。First, the basic principle of the present invention will be described.

【0010】 図2(イ)は、基板1が到来しない段階において、上下台2が下方に位置し且 つ押え板3が両側の取手35に載置されている状態を示す。FIG. 2A shows a state in which the upper and lower pedestals 2 are located below and the holding plates 3 are placed on the handles 35 on both sides when the substrate 1 does not arrive.

【0011】 この場合には、上下台2と押え板3との間には、一定の隙間が存在するので、 基板はこの間に移動してくることができる。In this case, since there is a fixed gap between the upper and lower bases 2 and the pressing plate 3, the substrate can move in the meantime.

【0012】 図2(ロ)は、上下台2が移動枠25に沿って上方に移動して、基板1及び押 え板3を載置した状態を示す。FIG. 2B shows a state in which the upper and lower pedestal 2 moves upward along the moving frame 25 and the substrate 1 and the holding plate 3 are placed.

【0013】 図2(ハ)は、押え板3に係合した遮光板31が、ビーム32を遮断するか否 かを検査する為に、上下台2が所定の高さに達した段階を示す。FIG. 2C shows a stage in which the upper and lower bases 2 reach a predetermined height in order to inspect whether or not the light shielding plate 31 engaged with the holding plate 3 blocks the beam 32. .

【0014】 この場合、図2(ハ)に示すように、押え板3と上下台2との間に基板1が存 在する場合には、必然的に押え板3は基板1の厚さ分だけ高い位置にあることか ら、遮光板も又高い位置にあり、上下台が所定の位置にある段階においてビーム 32を透過する領域に達し、ビームを遮断し、ビームからの受光素子を有してい るセンサーを「ON」とすることができる。In this case, as shown in FIG. 2C, when the substrate 1 is present between the holding plate 3 and the upper and lower bases 2, the holding plate 3 is inevitably the thickness of the substrate 1. Since it is only at a high position, the light shielding plate is also at a high position, and when the upper and lower pedestals are in a predetermined position, they reach the region that transmits the beam 32, block the beam, and have a light receiving element from the beam. You can turn on any of the sensors.

【0015】 これに対し、図2(ニ)のように、基板1が到来していない場合には、押え板 3は上下台2に直接載置されていることから、図2(ハ)の場合に比し、押え板 3の位置は基板1の厚さ分だけ下位にあり、これによって遮光板31はビーム3 2の光を遮断せず、これによって前記センサーは「ON」の信号を出すことにな る(但し、基板が存在する場合を「ON」の出力とし、存在しない場合を「OF F」の出力とすることも可能であるが、この場合には、光電子による入力信号を 負のバイアス入力とし、光電子に入力が存在しない場合に、当該バイアス入力が 0とするが如き回路が必要となる。)。On the other hand, as shown in FIG. 2D, when the substrate 1 has not arrived, the holding plate 3 is directly placed on the upper and lower bases 2, and therefore, in FIG. Compared with the case, the position of the holding plate 3 is lower by the thickness of the substrate 1, so that the light blocking plate 31 does not block the light of the beam 32, so that the sensor outputs a signal of "ON". However, it is possible to use the output of "ON" when the board exists and the output of "OF F" when the board does not exist. In this case, the input signal by the photoelectron is negative. If there is no input to the photoelectrons, the bias input will be 0, but such a circuit is required.).

【0016】 以上の作動原理について、具体的な実施例に即して説明する。The above operation principle will be described with reference to a specific embodiment.

【0017】[0017]

【実施例1】 実施例1では、図3(イ)に示すように、上下台2が規定の段階に達したこと を光電的に検知し、この段階における遮光板21の位置を、前記の原理に従って 検知する方式を採用している(尚、図3(イ)ではビーム22は紙面の垂直方向 を表す点22によって示し、受光電子素子23はこれに対応する位置にあること を示している。)。First Embodiment In the first embodiment, as shown in FIG. 3A, it is photoelectrically detected that the upper and lower pedestals 2 have reached a prescribed stage, and the position of the light shielding plate 21 at this stage is determined as described above. The detection method is adopted according to the principle (in FIG. 3 (a), the beam 22 is indicated by a point 22 representing the vertical direction of the paper surface, and the light receiving electronic element 23 is shown at a position corresponding thereto. .).

【0018】 即ち、上下台2においても遮光板21を係合させ、これに対応して所定の位置 にビーム22を透過させておく。That is, the light shielding plate 21 is also engaged with the upper and lower bases 2, and the beam 22 is transmitted to a predetermined position corresponding to this.

【0019】 そして実施例1では、上下台の遮光板23によってビーム22を遮断させた段 階で、押え板3の遮光板31がこれに対応するビーム32を遮断するかどうかに よって基板1の有無を判別することが必要であることから、上下台の遮光板21 に対応したセンサー23の出力は、ビーム22の遮断によって「OFF」となっ た段階に、押え板3に係合した遮光板31がこれに対応するビーム32を遮断す るか否かを検知することが要求される以上、例えば図3(ロ)に示すように、双 方のセンサー23、33からの出力をAND回路によって構成して、押え板3に 係合した遮光板31に対応したセンサー33からの出力を検知するとよい(尚、 図3(ロ)では、上下台に係合した遮光板がビーム22を遮断した時に、センサ ーが「OFF」の出力を出したことを前提としているので、当該センサー22、 23からの出力を「NOT」回路によって反転させた上でAND回路に接続して いる。)。Then, in the first embodiment, at the stage where the beam 22 is blocked by the upper and lower light blocking plates 23, the light blocking plate 31 of the holding plate 3 blocks the beam 32 corresponding thereto depending on whether or not the light blocking plate 31 of the holding plate 3 blocks the beam 32. Since it is necessary to determine the presence / absence, the output of the sensor 23 corresponding to the upper and lower shading plates 21 is "OFF" due to the interruption of the beam 22, and the shading plates engaged with the holding plate 3 Since it is required for 31 to detect whether or not the corresponding beam 32 is blocked, as shown in FIG. 3B, for example, the outputs from the two sensors 23 and 33 are processed by an AND circuit. The output from the sensor 33 corresponding to the shading plate 31 engaged with the holding plate 3 may be detected (in FIG. 3B, the shading plates engaged with the upper and lower bases block the beam 22. Sometimes the sensor It is assumed that the sensor outputs "OFF", so the outputs from the sensors 22 and 23 are inverted by the "NOT" circuit and then connected to the AND circuit.).

【0020】 図3(ロ)の如きAND回路に変えて、図3(ハ)に示すような、双方のセン サー23、33からの出力によってそれぞれリレーを作動させ、2つのリレー回 路6を直列に接続することによっても、上下台2に係合した遮光板21がビーム 22を遮断した段階における押え板3に結合した遮光板31に対応するセンサー 33からの出力を検知することが可能である(尚、上下台2に結合した遮光板2 1に対応するセンサーからの出力に「NOT」回路を介在させている根拠は、前 記図3(ロ)の場合と同様である。)。Instead of the AND circuit as shown in FIG. 3B, the relays are activated by the outputs from both sensors 23 and 33 as shown in FIG. 3C, and the two relay circuits 6 are connected. By connecting in series, it is possible to detect the output from the sensor 33 corresponding to the shading plate 31 coupled to the holding plate 3 when the shading plate 21 engaged with the upper and lower bases 2 blocks the beam 22. There is a certain reason (the rationale for interposing the “NOT” circuit in the output from the sensor corresponding to the light shielding plate 21 coupled to the upper and lower pedestals 2 is the same as in the case of FIG. 3B above).

【0021】[0021]

【実施例2】 上下台2の上下方向の移動を、パルスモータ8によって移動する場合には、パ ルス数によって上下台の位置を検知し且つコントロールすることができる。Second Embodiment When the vertical movement of the upper and lower bases 2 is moved by the pulse motor 8, the positions of the upper and lower bases can be detected and controlled by the number of pulses.

【0022】 この場合、押え板3に結合した遮光板31が、上下台2と押え板3との間に基 板1が介在しない場合においてビームを遮断する段階における上下台を駆動する パルスモータのパルス数の範囲をN〜Nとした場合、パルスモータを駆動さ せるパルスカウント数が、NとNの間にある場合の押え板3に結合した遮光 板31に対応したセンサー33の出力を検知することが必要であることから、図 (ロ)に示すような、上下台2の移動位置をパルス数を基準とした比較回路9に よって上下台2の所定の位置を設定し、これに基づく出力と押え板3に係合した 遮光板31に対応したセンサー33からの出力をAND回路によって合成するな らば、押え板3と上下台2との間に基板が存在するか否かを検知することができ る。In this case, the light shielding plate 31 coupled to the holding plate 3 drives the upper and lower bases at the stage of blocking the beam when the base plate 1 is not interposed between the upper and lower bases 2 and the holding plate 3. If the range of the number of pulses was N 1 to N 2, the sensor 33 that the number of pulses counted for driving the pulse motor, corresponding to the light shielding plate 31 attached to the pressing plate 3 when it is in between the N 1 and N 2 Since it is necessary to detect the output of the upper and lower bases 2, the comparison circuit 9 which uses the moving position of the upper and lower bases 2 as a reference for the number of pulses as shown in FIG. If the output based on this and the output from the sensor 33 corresponding to the light shielding plate 31 engaged with the holding plate 3 are combined by the AND circuit, is there a board between the holding plate 3 and the upper and lower bases 2? It is possible to detect whether or not That.

【0023】 尚、図4(ロ)のようにAND回路を用いることに代えて、図4(ハ)に示す ようなリレー回路によっても基板の有無を検知できる点は、実施例1の場合と同 様である。Note that the presence or absence of the substrate can be detected by a relay circuit as shown in FIG. 4C instead of using the AND circuit as shown in FIG. 4B. It is the same.

【0024】 以上の各実施例では、AND回路又はリレーの直列接続回路等のハードウェア 回路によって、基板の有無を検出する構成を示したが、上下台2が所定の位置に あるか否かの点と、押え板に係合した遮光板に対応するセンサーからの出力をマ イクロプロセッサーにインプットし、基板の有無を検出することが可能であるこ とはいうまでもない。In each of the above-described embodiments, the configuration in which the presence or absence of the substrate is detected by a hardware circuit such as an AND circuit or a series connection circuit of relays is shown. It goes without saying that it is possible to detect the presence or absence of the substrate by inputting the points and the output from the sensor corresponding to the light shielding plate engaged with the holding plate into the microprocessor.

【0025】[0025]

【実施例3】 実施例1、同2は、何れも上下台2の所定の位置の検出に関するものであるが 、実施例3は、上下台2と押え板3との関係に関する実施例である。Third Embodiment While the first and second embodiments are both related to detection of a predetermined position of the upper and lower bases 2, the third embodiment is an example related to the relationship between the upper and lower bases 2 and the holding plate 3. .

【0026】 実施例1、同2では、図5に示すように、上下台2は押え板3を単に一定の高 さに達した後に載置するのみであるが、実施例3では、押え板3から下方に脚部 34を延設し、しかも上下台2との間で圧縮バネ4を介して、前記脚部34との 間を係合させている(尚、図5では押え板3と上下台2との間に、基板1が介在 した状態を示している。)。In the first and second embodiments, as shown in FIG. 5, the upper and lower bases 2 simply mount the holding plate 3 after reaching a certain height, but in the third embodiment, the holding plate 2 is placed. 3, a leg portion 34 is extended downward, and the leg portion 34 is engaged with the upper and lower bases 2 through a compression spring 4 (in FIG. 5, the holding plate 3 and the holding plate 3 are engaged with each other). The state in which the substrate 1 is interposed between the upper and lower pedestals 2 is shown.

【0027】 そして、圧縮バネと脚部4との係合は、上下台2が(基板1が存在する場合に は、基板1を介して)押え板3を載置する前に行われ、圧縮バネの弾力4によっ て押え板3は下側に引っ張られることになり、押え板3の載置を確実のものとす ることができる(尚、図5の圧縮バネ4に隣接した位置の下方向矢印は、圧縮バ ネ4によって両側脚部34が、下方向に押圧力を受けた状態を示す。)。The compression springs and the legs 4 are engaged with each other before the upper and lower bases 2 (via the substrate 1 when the substrate 1 is present) place the pressing plate 3 thereon, and the compression is performed. The pressurizing plate 3 is pulled downward by the elastic force 4 of the spring, so that the pressing plate 3 can be reliably placed (in addition, in the position adjacent to the compression spring 4 in FIG. 5). The downward arrow indicates the state in which the leg portions 34 on both sides are pressed downward by the compression panel 4.)

【0028】[0028]

【実施例4】 図4は、単に基板の存否を検知するだけでなく、上下台と基板との間にごみ等 の異物の存否をも検知できる実施例を示す。Fourth Embodiment FIG. 4 shows an embodiment in which not only the presence / absence of the substrate but also the presence / absence of foreign matter such as dust between the upper and lower pedestals and the substrate can be detected.

【0029】 実施例6においては、基板1が上下台3上に直接載置された場合における遮蔽 板31の最高位よりも僅かな上方においてビーム10を透過させる。In the sixth embodiment, the beam 10 is transmitted slightly above the highest position of the shield plate 31 when the substrate 1 is directly placed on the upper and lower base 3.

【0030】 基板1が上下台2上に直接載置されている場合には、図6(イ)に示すように 、ビーム10は遮蔽板31によって遮蔽されることはない。When the substrate 1 is directly placed on the upper and lower pedestal 2, the beam 10 is not shielded by the shield plate 31, as shown in FIG.

【0031】 これに対し、上下台と基板との間にごみ等の異物が存在する場合には、図6( ロ)に示すように、基板の位置は図6(イ)に示す場合よりも高くなり、遮蔽板 31は単にビーム32だけでなくビーム10をも遮蔽し、センサー(受光電素子 )13の出力によって異物の存在が検知される。On the other hand, when a foreign substance such as dust is present between the upper and lower pedestals and the substrate, the position of the substrate is higher than that shown in FIG. 6A as shown in FIG. 6B. The shield plate 31 shields not only the beam 32 but also the beam 10, and the presence of foreign matter is detected by the output of the sensor (light receiving element) 13.

【0032】 ビーム10に対するセンサー(受光電素子)13がONの場合には基板が正常 に載置され、OFFの場合には異物の存在が検知される以上、正常な基板の存在 を検出する為のブロック回路は、図6(ハ)に示すように、センサー33からの 出力をAND回路によって接続され、更にセンサー23からの出力とのAND回 路を設けるか、When the sensor (light receiving element) 13 for the beam 10 is ON, the substrate is placed normally, and when the sensor 13 is OFF, the presence of foreign matter is detected, so that the presence of a normal substrate is detected. In the block circuit of, as shown in FIG. 6C, the output from the sensor 33 is connected by an AND circuit, and an AND circuit with the output from the sensor 23 is further provided, or

【0033】 又は、図6(ニ)に示すように、センサー13の出力とセンサー33の出力と をAND回路を通して実施例1、同2の場合の如きリレー回路を設計するとよい (尚、図6(ハ)、図6(ホ)においては、何れも実施例2の場合と同様、上下 台の所定の位置をセンサーによって検出する場合を示しているが、実施例3同様 上下台の所定の位置をパルスカウンターの出力によって検知する場合も同様に設 計可能である。)。Alternatively, as shown in FIG. 6D, it is preferable to design a relay circuit as in the first and second embodiments through an AND circuit between the output of the sensor 13 and the output of the sensor 33. (C) and FIG. 6 (e) show the case where a predetermined position of the upper and lower pedestals is detected by a sensor as in the case of the second embodiment, but similar to the third embodiment, a predetermined position of the upper and lower pedestals The same can be done when detecting by the output of the pulse counter.).

【0034】[0034]

【考案の効果】[Effect of device]

以上のように、本考案では、基板の到来の有無を、上下台と基板との接触自体 の検知によるのではなく、光電出力等によって確定的に検出できると共に、実施 例によっては上下台と基板との間の異物の存在をも検出できるので、基板の到来 、又は実施例によっては基板の到来と共に、上下台との間に異物が存在しないこ とが判別した場合には、確実に基板を載置して更に移動させ、次の動作に移行す ることが可能となる。 As described above, according to the present invention, the presence / absence of the board can be definitely detected by photoelectric output or the like, not by detecting the contact itself between the top / bottom board and the board. Since it is possible to detect the presence of foreign matter between the board and the board, if the board arrives, or depending on the embodiment, and if it is determined that there is no foreign material between the upper and lower pedestals, be sure to check the board. It is possible to place it and move it further to move to the next operation.

【0035】 前記の如き本考案の処置によって、基板の到来を確実に検知し、基板に載置さ れた素子の諸検査を確実に行うことができるので、本考案の価値は絶大である。With the above-described measures of the present invention, the arrival of the substrate can be reliably detected, and various inspections of the elements mounted on the substrate can be reliably performed, so the value of the present invention is immense.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 側面図 従来技術における基板及び上下台の位置関係を示す。FIG. 1 is a side view showing a positional relationship between a substrate and an upper and lower table in a conventional technique.

【図2(イ)】、[Fig. 2 (a)],

【図2(ロ)】、[Fig. 2 (b)],

【図2(ハ)】、[Fig. 2 (c)],

【図2(ニ)】 側面図 本考案の作動原理を示す。[Fig. 2 (d)] Side view The operation principle of the present invention is shown.

【図3(イ)】 側面図 実施例1の構成を示す。FIG. 3A is a side view showing the configuration of the first embodiment.

【図3(ロ)】、[Fig. 3 (b)],

【図3(ハ)】 回路ブロック図 実施例1において使用されるセンサーからの出力の検知
方式を示す。
FIG. 3C is a circuit block diagram showing a method of detecting the output from the sensor used in the first embodiment.

【図4(イ)】 側面図 実施例2の構成を示す。FIG. 4A is a side view showing the configuration of the second embodiment.

【図4(ロ)】、[Fig. 4 (b)],

【図4(ハ)】 回路ブロック図 実施例2において、パルスカウンターの出力とセンサー
の出力との組み合わせを行う方式を示す。
FIG. 4C is a circuit block diagram showing a method of combining the output of the pulse counter and the output of the sensor in the second embodiment.

【図5】 側面図 実施例3の構成を示す。FIG. 5 is a side view showing the configuration of the third embodiment.

【図6(イ)】、[Fig. 6 (a)],

【図6(ロ)】 側面図 実施例4の構成を示す。FIG. 6B is a side view showing the configuration of the fourth embodiment.

【図6(ハ)】、[Fig. 6 (c)],

【図6(ニ)】 ブロック図 実施例4において使用されるセンサーからの出力の検知
方式を示す。
FIG. 6D is a block diagram showing a method of detecting the output from the sensor used in the fourth embodiment.

【符合の説明】[Explanation of sign]

1:基盤 11:基盤が通過するレール 2:上下台 21:上下台に結合する遮光板 22:上記遮光板に係合するビーム 23:上記ビームに対するセンサー(受光電素子) 24:プローブ 25:移動枠 3:押え板 31:押え板に結合する遮光板 32:上記押え板に対応するビーム 33:上記ビームに対応するセンサー(受光電素子) 34:押え板に対応する両脚部 35:取手 4:圧縮バネ 5:ストッパ 6:リレー回路 7:検出器 8:パルスモータ 81:チェーン 82:歯車 9:比較回路 10:異物を検知する為のビーム 12:異物 13:上記ビームに対するセンサー(受光電素子) 1: Base 11: Rail through which the base passes 2: Upper / lower base 21: Light-shielding plate coupled to the upper / lower base 22: Beam engaged with the light-shielding plate 23: Sensor (light-receiving element) for the beam 24: Probe 25: Moving Frame 3: Presser plate 31: Light-shielding plate coupled to the presser plate 32: Beam corresponding to the above presser plate 33: Sensors (photosensitive element) corresponding to the above beam 34: Both legs corresponding to the presser plate 35: Handle 4: Compression spring 5: Stopper 6: Relay circuit 7: Detector 8: Pulse motor 81: Chain 82: Gear 9: Comparison circuit 10: Beam for detecting foreign matter 12: Foreign matter 13: Sensor for the above beam (photosensitive element)

─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成5年11月16日[Submission date] November 16, 1993

【手続補正2】[Procedure Amendment 2]

【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing

【補正対象項目名】全図[Correction target item name] All drawings

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図1】 [Figure 1]

【図3】 [Figure 3]

【図2】 [Fig. 2]

【図4】 [Figure 4]

【図5】 [Figure 5]

【図6】 [Figure 6]

Claims (5)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 移動枠に沿って上下に移動する上下台、
及びこれより上方に載置され、該載置された位置よりも
上方へ移動可能であり、且つ遮光板と結合している押え
板をそれぞれ設置し、基板は該上下台及び押え板の上下
方向の間に到来するように設計し、基板及び押え板を上
下台に載置可能とし、上下台が押え板のみを載置して上
方へ移動した場合(基板が到来しない場合)及び上下台
が基盤と押え板とを載置して上方へ移動した場合(基板
が到来した場合)において、上下台が所定の高さに達し
た段階における押え板の上下方向の位置を透過ビームに
対する前記遮光板の遮蔽の有無によって判別することに
よる上下台と係合する基板の有無を検知する装置。
1. An up-and-down stand that moves up and down along a moving frame,
And a holding plate placed above the holding plate and movable to a position higher than the placed position and connected to the light shielding plate. It is designed so that the board and the holding plate can be placed on the upper and lower bases, and when the upper and lower bases move only the holding plate and move upward (when the board does not arrive) and the upper and lower bases. When the base and the holding plate are placed and moved upward (when the substrate arrives), the position of the holding plate in the vertical direction at the stage when the upper and lower bases reach a predetermined height is the light shielding plate for the transmitted beam. A device that detects the presence or absence of a substrate that engages with the upper and lower pedestals by determining whether the substrate is shielded.
【請求項2】 上下台をパルスモータによって移動さ
せ、該パルスモータのパルスカウントによって上下台の
所定の高さの位置を設定することを特徴とする請求項1
記截の上下台と係合する基板の存否を検知する装置。
2. The upper and lower pedestals are moved by a pulse motor, and the position of a predetermined height of the upper and lower pedestals is set by the pulse count of the pulse motor.
A device that detects the presence or absence of a board that engages with the upper and lower pedestals of the memory.
【請求項3】 上下台にも遮光板を係合させ、上下台の
遮光板が対応するビームを遮断した段階で、押え板に係
合している遮光板がこれに対応するビームを遮断したか
否かを判別することを特徴とする実用新案登録請求の範
囲1記載の上下台と係合する基板の存否を検知する装
置。
3. A light shielding plate is engaged with the upper and lower bases, and when the light shielding plates of the upper and lower bases block the corresponding beam, the light shielding plate engaged with the holding plate blocks the corresponding beam. An apparatus for detecting the presence or absence of a board which engages with the upper and lower bases according to claim 1 characterized by determining whether or not there is a utility model registration.
【請求項4】 押え板から下方に脚部を延設し、上下台
との間で圧縮バネを介して脚部との間を係合させている
ことを特徴とする実用新案登録請求の範囲1記載の上下
台と係合する基板の存否を検知する装置。
4. A utility model registration claim characterized in that the leg portion is extended downward from the pressing plate, and the leg portion is engaged with the upper and lower bases via a compression spring. A device for detecting the presence or absence of a substrate that engages with the upper and lower bases described in 1.
【請求項5】 基板が上下台上に直接載置された場合に
おける上下台に結合する遮光板の最高位よりも高い位置
において別途ビームを透過し、前記遮光板が別途透過し
たビームを遮断するか否かを判別することによって、基
板と上下台との間に異物が存在するか否かの点をも判別
可能であることを特徴とする請求項1記載の上下台と係
合する基板の存否を検出する装置。
5. The beam is separately transmitted at a position higher than the highest position of the light blocking plate coupled to the upper and lower tables when the substrate is directly placed on the upper and lower tables, and the light blocking plate blocks the separately transmitted beam. By determining whether or not there is a foreign substance between the substrate and the upper and lower pedestals, it is possible to determine whether there is a foreign substance or not. A device that detects existence.
JP1943692U 1992-02-17 1992-02-17 A device that detects the presence or absence of a board that engages with the upper and lower pedestals Pending JPH0676807U (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1943692U JPH0676807U (en) 1992-02-17 1992-02-17 A device that detects the presence or absence of a board that engages with the upper and lower pedestals

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1943692U JPH0676807U (en) 1992-02-17 1992-02-17 A device that detects the presence or absence of a board that engages with the upper and lower pedestals

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0676807U true JPH0676807U (en) 1994-10-28

Family

ID=11999241

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1943692U Pending JPH0676807U (en) 1992-02-17 1992-02-17 A device that detects the presence or absence of a board that engages with the upper and lower pedestals

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0676807U (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4946455A (en) * 1972-09-05 1974-05-04
JPH0221503B2 (en) * 1982-10-14 1990-05-15 Kubota Ltd

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4946455A (en) * 1972-09-05 1974-05-04
JPH0221503B2 (en) * 1982-10-14 1990-05-15 Kubota Ltd

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101209857B1 (en) Detection apparatus for particle on the glass and detection method using the same
KR910019166A (en) Focal plane detection method and apparatus
JP2018159705A (en) Automatic optical inspection system and method for operation
JPH11316112A (en) System for inspecting integrated circuit with crossing optical axes
CN115274484B (en) Wafer detection device and detection method thereof
CN209139205U (en) Detection device is used in a kind of production of wiring board
JPH0676807U (en) A device that detects the presence or absence of a board that engages with the upper and lower pedestals
CN110850227B (en) Screen detection device and method
TWI593955B (en) Light deflection detection module and measurement and calibration method using the same
JP2020186932A (en) Electronic component evaluation method, electronic component evaluation device and electronic component evaluation program
KR102672568B1 (en) Mask posture monitoring method, device, and mask particle size detection equipment
CN209841170U (en) Device for improving weighing reliability
JP3284587B2 (en) Electronic circuit inspection equipment
CN220901070U (en) Soldering lug sorting tester
JP2758550B2 (en) Appearance inspection device
KR20190084749A (en) A test equipment for flat display
JPS6311652Y2 (en)
JPS625654Y2 (en)
CN208254520U (en) A kind of segmented automatic optics inspection platform
JP2523878B2 (en) Semiconductor device evaluation equipment
CN113984176A (en) Electronic scale weighing and testing equipment
JPH0425044A (en) Ic lead bending inspecting device
JP2009176981A (en) Printed solder inspection device
JPS631041A (en) Semiconductor leg curve inspecter
JPS6135372A (en) Automatic inspecting device for floppy disk device