JPH0676048A - Image pickup device for parts terminal detection - Google Patents

Image pickup device for parts terminal detection

Info

Publication number
JPH0676048A
JPH0676048A JP4230043A JP23004392A JPH0676048A JP H0676048 A JPH0676048 A JP H0676048A JP 4230043 A JP4230043 A JP 4230043A JP 23004392 A JP23004392 A JP 23004392A JP H0676048 A JPH0676048 A JP H0676048A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
component
inspected
light
image
terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4230043A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Teruyuki Ushiro
輝行 後
Yasuyuki Osada
康行 長田
Tsuguyoshi Yoshimura
次美 吉村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP4230043A priority Critical patent/JPH0676048A/en
Publication of JPH0676048A publication Critical patent/JPH0676048A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Image Input (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

PURPOSE:To discriminate the direction of parts by utilizing the property that the front end of a terminal pin of parts to be examined irregularly reflects the light from a light source by its cut end and illuminating only the front end of the terminal of parts to be examined and allowing the obtained image to pass prescribed recognition procedures. CONSTITUTION:Parts 20 to be examined is grasped and stationarily stopped in a light shielding wall part 22, which is so formed that almost all of parts 20 are not irradiated with light from an illumination part 23, by a parts grasping part 21, and only the front end part of the terminal attached to parts 20 is irradiated with light from the illumination part 23 when the image of the terminal projecting from parts 20 is picked up by an image pickup part 27, thus easily picking up the image of the terminal pin by a television camera.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、部品端子を検査するた
めの撮像装置に係わる。詳しくは、リード部品等の端子
を有する部品の端子先端の位置、数、配列方向等を検査
するための撮像装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image pickup device for inspecting component terminals. More specifically, the present invention relates to an image pickup apparatus for inspecting the position, number, arrangement direction, etc. of terminal tips of a component having terminals such as lead components.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子機器の軽薄短小化が進んでお
り、これに伴いこれら機器の組立に使用される部品は、
設計段階から自動部品挿入装置が容易に取り扱うことが
できる様、出来るだけ規格化されたものが採用されてい
る。しかし、規格化できない異形部品を使用する工程は
未だ数多く残っており、ここでは専用の自動部品挿入装
置による取扱いが困難である。このため、一般に電子機
器の生産工程ではロボット等の汎用組立装置を使用する
ことが多く、更に組立部品の端子の欠け・曲がりの検査
および部品の位置及び方向の検出を行うため、テレビカ
メラによる撮像の後、これを認識処理することも一般的
に行なわれている。
2. Description of the Related Art In recent years, electronic devices have become lighter, thinner, shorter and smaller, and along with this, parts used for assembling these devices are
It is standardized as much as possible so that the automatic component insertion device can be handled easily from the design stage. However, there are still many processes that use irregularly shaped parts that cannot be standardized, and it is difficult to handle them with a dedicated automatic part insertion device. For this reason, generally, general-purpose assembling equipment such as robots are often used in the production process of electronic equipment. Furthermore, in order to inspect for missing or bending terminals of assembled parts and to detect the position and direction of parts, it is necessary to take images with a TV camera. After that, recognition processing of this is also generally performed.

【0003】ここにおいて、取り扱う異形部品としては
円柱状トランス等のものが主であり、これらは上面から
観察しても基板に挿入する方向が不明確である場合が多
い。この場合を例にとり、図1乃至図4(異形部品であ
る円柱状トランスおよびこれを格納するパレット)に基
づいて従来の技術を説明する。
Here, as the odd-shaped components to be handled, cylindrical transformers and the like are mainly used, and in many cases, the direction of insertion into the substrate is unclear even when observed from the upper surface. Taking this case as an example, a conventional technique will be described based on FIGS. 1 to 4 (a cylindrical transformer that is a deformed component and a pallet that stores the same).

【0004】円柱状トランスの外観は図1の如きもので
あって、通常絶縁線をコア(3)に巻いたものを封止の
ためのポリエチレン絶縁皮膜(2)で被ったものとなっ
ている。コアには機械的に端子ピン(1)が付設されて
おり、コアに巻いた絶縁線にはこの端子ピン(1)から
給電できるようになっている。
The external appearance of the cylindrical transformer is as shown in FIG. 1, and usually, an insulated wire wound around a core (3) is covered with a polyethylene insulating film (2) for sealing. . A terminal pin (1) is mechanically attached to the core, and the insulated wire wound around the core can be fed with power from this terminal pin (1).

【0005】この様なトランスは、底面からは図2の如
く、端子ピン(1)が点のように見えており、その配置
は方向性を有している。一方、上面からは図3の如く単
にコア(3)が皮膜(2)で被われているのみであるた
め、その方向性を判定する手掛かりが得られないという
特徴がある。
In such a transformer, the terminal pin (1) looks like a dot from the bottom surface as shown in FIG. 2, and the arrangement thereof has directionality. On the other hand, since the core (3) is simply covered with the film (2) from the top surface as shown in FIG. 3, it is not possible to obtain a clue to determine its directionality.

【0006】また、組立工程に於いてトランスは図4の
如くパレット(5)の中に区切られたパレット小室
(6)の中に底面を下にして配置・供給されるのが常で
ある。従って、トランスがパレットに入っているうちは
その部品方向は判断し得ないということになる。
Further, in the assembly process, the transformer is usually placed and supplied with the bottom face down in the pallet chamber (6) divided into the pallet (5) as shown in FIG. Therefore, the direction of the parts cannot be determined while the transformer is in the pallet.

【0007】従来、上記のようなパレットに配置されて
いる異形部品に於いては、一旦ロボットマニュピレータ
(12)で部品(10)を取り出し、図5に示すように
スリガラス(9)の上に載せ、下面からカメラ(8)で
これを撮像し、画像処理によってその方向を判断してい
た。この様な構成を採ることで、端子ピンの部分の像は
斜上部にある照明部(11)からの光を遮断するために
暗い点となって検出でき、処理の容易が図れたからであ
る。
Conventionally, in the deformed parts arranged on the pallet as described above, the part (10) is once taken out by the robot manipulator (12) and placed on the ground glass (9) as shown in FIG. The camera (8) picks up the image from the bottom surface, and the direction is determined by image processing. This is because by adopting such a configuration, the image of the terminal pin portion can be detected as a dark spot because light from the illumination unit (11) in the obliquely upper portion is blocked, and the processing is facilitated.

【0008】ここで従来の技術によると、被検査部品よ
り突出する複数の端子の長さがそれぞれ揃っている場合
には兎も角、揃っていない場合にはスリガラス上に接足
しないため図7に示す様に、接足端子の像(15)に比
して被接足端子の像(14)が薄明るくなり、認識処理
時にこれを検出できないことがあり、このためすべての
端子を検査することができず、目的の部品方向を決定で
きないことになる。特に被検査素子が安価なものである
場合に端子長がばらつくことが多く、この様なものを自
動検査できないのでは組立処理のコストダウンを図るこ
とができない虞がある。
Here, according to the prior art, when the plurality of terminals protruding from the component to be inspected have the same length, the rabbit does not come into contact with the ground glass. As shown in, the image of the contacted terminal (14) becomes lighter than the image of the contacting terminal (15), and this may not be detected during the recognition process. Therefore, all terminals are inspected. Therefore, the intended component direction cannot be determined. In particular, when the element to be inspected is inexpensive, the terminal length often varies, and if such an element cannot be automatically inspected, the cost of the assembly process may not be reduced.

【0009】一方、CCD素子等の撮像素子を用いて、
被検査部品の端子先端の位置及び形状を検査する場合に
おいて、単に被検査部品に照明を照射しただけでは検査
したい端子先端以外の像までも得られてしまい、その像
から端子先端の位置及び形状を検査するのは困難であっ
た。
On the other hand, by using an image pickup device such as a CCD device,
When inspecting the position and shape of the terminal tip of the part to be inspected, simply illuminating the part to be inspected produces an image other than the terminal tip to be inspected. Was difficult to inspect.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記した従
来の技術の欠点を除くためになされたものであって、そ
の目的とするところは、照明部より発する光が被検査部
品の端子先端のみにあたるように、被検査部品の端子先
端部を保持することによって、端子先端の像のみを鮮明
に得ることができ、また端子ピン長のバラツキがあるも
のでも確実に位置検出ができる部品端子検査用撮像装置
を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to eliminate the above-mentioned drawbacks of the prior art. The purpose of the present invention is that the light emitted from the illumination section is the tip of the terminal of the inspected part. By holding the terminal tip of the part to be inspected so that it only hits, only the image of the terminal tip can be obtained clearly, and the position of the terminal can be reliably detected even if the terminal pin length varies. The present invention is to provide an image pickup device.

【0011】即ち、本発明では、端子ピンの先端は、そ
の切り口で光源からの光を乱反射する性質を利用して、
照明部より発する光が被検査部品の端子先端のみにあた
るように被検査部品を保持することによって、被検査部
品端子先端のみを照明し、その像を得て、所定の認識手
続を経た後に部品の方向を判定しようとするものであ
る。
That is, in the present invention, the tip of the terminal pin utilizes the property of diffusely reflecting the light from the light source at its cut end,
By holding the part to be inspected so that the light emitted from the illuminating unit hits only the tip of the part of the part to be inspected, only the tip of the terminal of the part to be inspected is illuminated, an image of that is obtained, and after a predetermined recognition procedure, the part It is intended to determine the direction.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明の部品端子検査用
撮像装置は、像を撮り、電気信号に変換する撮像部と、
この撮像部が感光する周波数帯域を含む光を発生する照
明部と、被検査部品を把持する検査部材把持部と、前記
被検査部品の略全体が前記照明部より発する光にあたら
ない様に形成された遮光壁部とを具備し、前記被検出部
品より出る端子を前記撮像部が撮像するにあたり、前記
照明部より発する光が前記被検査部品に付設する端子の
略先端部にのみ照射されるように、前記被検査部品を保
持することを特徴としたものである。
An image pickup device for inspecting a component terminal according to the present invention comprises an image pickup section for taking an image and converting it into an electric signal.
An illumination unit that generates light including a frequency band to which the imaging unit is exposed, an inspection member gripping unit that grips a component to be inspected, and substantially the entire component to be inspected are formed so as not to be exposed to the light emitted from the illumination unit. And a light-blocking wall portion, the light emitted from the illumination unit is applied only to the substantially tip portion of the terminal attached to the inspected component when the imaging unit captures an image of the terminal emerging from the detected component. Thus, the inspected part is held.

【0013】[0013]

【作用】ここで、撮像部は、テレビカメラ等を使用して
光学的情報を電気的な情報に変換し、画像処理装置に入
力しうるものである。この撮像部が感光する周波数帯域
を含む光を発生する照明部は、端子ピン先端で乱反射を
起こさせるための光源となる様に作用させるものであ
る。このため、前記撮像部が精度よく撮像できるような
色の光を発生する必要がある。
Here, the image pickup section can convert optical information into electrical information by using a television camera or the like and input it to the image processing apparatus. The illuminating unit that emits light including the frequency band that the image pickup unit sensitizes acts as a light source for causing diffused reflection at the tip of the terminal pin. Therefore, it is necessary to generate light of a color that can be accurately imaged by the imaging unit.

【0014】被検査部品の略全体が前記照明部より発す
る光にあたらない様に形成された遮光壁部は、光源から
の光を遮光壁部裏側には透過しないように遮光する様に
作用する。被検査部品を把持する検査部品把持部は、部
品を把持し搬送できるようにするとともに、被検査部品
のうち端子ピンを含まない部品底面に光が照射されるこ
とを防ぎ、端子ピン先端部にのみ光があたる様に移動可
能となるように作用する。
The light-shielding wall portion formed so that substantially the whole of the inspected component does not hit the light emitted from the illuminating portion acts so as to shield the light from the light source so as not to transmit to the back side of the light-shielding wall portion. . The inspection part gripping part that grips the part to be inspected allows the part to be gripped and transported, and prevents the bottom surface of the part to be inspected, which does not include the terminal pin, from being irradiated with light, It works so that it can move so that only the light hits it.

【0015】[0015]

【実施例】以下、図8乃至図10を参照しつつ本発明を
説明する。図8は本発明の一実施例の構成を示したもの
である。照明部(23)は、被検査部品(20)の端子
ピンに光を当てるための照射光を発生する。従って、そ
の形式は単一光源のものであっても複数光源のものであ
っても、さらには環状光源のものであっても構わない
が、処理のし易い像を得るためには環状光源を使用した
方がよいと思われる。端子ピン先端を円形像として撮像
できるからである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to FIGS. FIG. 8 shows the configuration of an embodiment of the present invention. The illumination section (23) generates irradiation light for illuminating the terminal pins of the inspected component (20). Therefore, the type may be a single light source, a plurality of light sources, or even an annular light source, but in order to obtain an image that is easy to process, an annular light source is used. It seems better to use. This is because the tip of the terminal pin can be captured as a circular image.

【0016】被検査部品(20)は、その端子ピンの配
置を見なければ部品の方向が分からない様なものであっ
て, 本実施例ではこれの把持方向を検出するものであ
る。端子ピンは導電体ゆえ金属光沢があり、一般的にそ
の先端部においても光を反射する性質がある。尤も、部
品によっては端子ピン先端に被覆が付けられている場合
もあるが、この場合でもその被覆に表面光沢があるもの
ならば、本発明を実施する上で同様の効果があるものと
期待することができる。検査部品把持部(21)は、そ
の先端が負圧により被検査部品(20)を吸着できるよ
うになっているとともに、他端がロボットの作用点に接
続されており、被検査部品を自由に移送できるようにな
っている。
The component (20) to be inspected is such that the orientation of the component cannot be known unless the arrangement of the terminal pins is seen, and in this embodiment, the gripping direction of the component is detected. The terminal pin has a metallic luster because it is a conductor, and generally has a property of reflecting light even at its tip. Of course, some parts may have a coating on the tip of the terminal pin, and even in this case, if the coating has a surface gloss, it is expected that the same effect will be exerted in carrying out the present invention. be able to. The inspected part gripping part (21) has a tip capable of adsorbing the inspected part (20) by negative pressure and the other end connected to the action point of the robot, so that the inspected part can be freely moved. It can be transferred.

【0017】撮像用カメラ(27)は、前記被検査部品
の端子ピン位置を認識するために使用する原画像を取り
込むカメラであって、NTSC、SECAM等の方式は
問わない。また通常、カメラは前記被検査部品が検査位
置にあるときの端子ピン先端部分に合焦させるが、端子
ピンの反射の状況により若干ずらした方が検出容易な場
合にまで正確に焦点を端子ピン先に合わせる必要はな
い。また、その撮像が下方より行われるようにカメラを
配置することで、パレットから取り出したそのままの状
態で容易に検査できる。
The image pickup camera (27) is a camera for taking in an original image used for recognizing the terminal pin positions of the parts to be inspected, and any method such as NTSC or SECAM can be used. Normally, the camera focuses on the tip of the terminal pin when the inspected component is in the inspection position, but the focus can be accurately adjusted even if it is easier to detect if it is slightly displaced due to the reflection condition of the terminal pin. There is no need to match it first. Further, by arranging the camera so that the image pickup is performed from below, it is possible to easily perform the inspection as it is taken out from the pallet.

【0018】遮光壁部(22)は、照明部(23)の発
した光が当該遮光壁部内部にまで入り込むことを防止す
る様になっている。従って、その材質は実質的に遮光で
きるものを使用する必要がある。また、被検査部品がど
の方向を向いているのか分からないことから、形状は直
径同一の円筒形が適当と思われるが、周囲の機器配置と
の関係で不都合ある場合、他の形状を採っても構わな
い。
The light shielding wall portion (22) is adapted to prevent the light emitted from the illumination portion (23) from entering the inside of the light shielding wall portion. Therefore, it is necessary to use a material that can substantially shield light. In addition, since it is not known in which direction the inspected part is facing, it is considered appropriate to use a cylindrical shape with the same diameter, but if it is inconvenient due to the surrounding equipment arrangement, take another shape. I don't mind.

【0019】固定スタンド(24)は前記遮光壁部(2
2)および照明部(23)を架台(25)に固定できる
ようにするものである。背景遮光部(26)は検査部品
把持部(21)に付設する傘であり, 下部から撮像した
画像中、被検査部品の周囲に不要な像が現われないよう
になっている。従って、その形状は図のような傘型(円
錐型)に拘泥する必要は無いが、内部に黒のツヤ消し塗
装処理等をしておくことが望ましい。
The fixed stand (24) is provided with the light shielding wall (2
2) and the illumination unit (23) can be fixed to the mount (25). The background light-shielding part (26) is an umbrella attached to the inspection part gripping part (21) so that an unnecessary image does not appear around the inspected part in the image picked up from below. Therefore, it is not necessary to confine the shape to an umbrella shape (conical shape) as shown in the figure, but it is desirable to apply a black matte coating treatment or the like inside.

【0020】次に本実施例による検査動作を図9乃至図
10を用いて説明する。先ず、ロボットは被検査部品を
図示しないパレットから取り出すと、遮光壁部上部から
遮光壁部(22)円筒の内部を通し、被検査部品把持部
(21)を使って端子ピン先端が若干遮光壁部下端スレ
スレの位置に来るまで降ろしていく。この位置において
は背景遮光部(26)は遮光壁部(22)円筒上端を被
う様になり、外部からの不要な光入射が防がれる。この
とき被検査部品はいずれの方向を向いているのかは判明
していない。この時点で撮像用カメラ(27)は検査の
ための撮像が可能となる。
Next, the inspection operation according to this embodiment will be described with reference to FIGS. First, the robot takes out the parts to be inspected from a pallet (not shown), passes through the inside of the cylinder of the light shielding wall part (22) from the upper part of the light shielding wall part, and uses the part to be inspected (21) to make the terminal pin tips slightly shield the light shielding wall. Lower it until it reaches the position of the bottom end of the section. At this position, the background light-shielding portion (26) covers the upper end of the cylinder of the light-shielding wall portion (22) to prevent unnecessary light from entering from the outside. At this time, it is not known in which direction the inspected part faces. At this point, the imaging camera (27) can take an image for inspection.

【0021】ここで、検査のための撮像が可能となった
ときの各要素の位置関係を図10に示して説明する。被
検査部品(10)は検査部品把持部(12)に把持され
たまま、端子ピン先端が若干遮光壁部(22)下端すれ
すれの位置で静停している。照明部(23)内に含まれ
る照明用光源(30)から出た光は集光レンズ(31)
を通して、前記被検査部品(10)の端子ピン(1)先
端を照射している。
Here, the positional relationship of each element when imaging for inspection becomes possible will be described with reference to FIG. The inspected component (10) is still held by the inspected component gripping portion (12), and the tip of the terminal pin stands still at a position slightly near the lower end of the light shielding wall portion (22). The light emitted from the illumination light source (30) included in the illumination unit (23) is a condenser lens (31).
Through, the tip of the terminal pin (1) of the inspected component (10) is irradiated.

【0022】このとき光路A(32、32)による光は
被検査素子に到達するも、光路B(33、33)による
光は遮光壁に遮られる境界位置の光であり、これが被検
査素子本体にあたらない限り、被検査部品(10)の端
子ピン(1)先端のみを照射していることになる。勿
論、光路Bの光は遮光壁下端で回折することになるの
で、若干は被検査素子本体にも当ることになるが、その
照度は高くないので撮像カメラより得られる像並びに2
値化した画像では特徴ある部位として検出されないこと
になる。
At this time, although the light from the optical path A (32, 32) reaches the element to be inspected, the light from the optical path B (33, 33) is the light at the boundary position which is blocked by the light shielding wall, and this is the main body of the element to be inspected. Unless this happens, only the tip of the terminal pin (1) of the inspected component (10) is irradiated. Of course, since the light on the optical path B is diffracted at the lower end of the light shielding wall, it slightly hits the element body to be inspected, but since the illuminance is not high, the image obtained by the imaging camera and
It will not be detected as a characteristic part in the binarized image.

【0023】この位置関係で得られた像は、例えば図1
1の様になる。ここで背景画像(42)は最も低照度の
部分であり、残留画像(40)は前記回折光により被検
査素子の底面の一部が見えているものである。但し、後
述する画像処理装置の処理においてこれは除去すること
ができるものである。端子ピン先端画像(41)は照明
光源の反射光であるため、相当な輝度の映像を得ること
ができ、その除去処理は極めて容易である。
An image obtained by this positional relationship is shown in FIG.
It becomes like 1. Here, the background image (42) is a portion with the lowest illuminance, and the residual image (40) is a portion of the bottom surface of the inspected element visible due to the diffracted light. However, this can be removed in the processing of the image processing apparatus described later. Since the terminal pin tip image (41) is the reflected light of the illumination light source, an image with considerable brightness can be obtained, and its removal processing is extremely easy.

【0024】別の撮像例として図12に示すようなもの
が得られることがある。ここで、(51)〜(53)は
それぞれ端子ピン先端についての画像である。半月型像
(51)は端子ピン先端の正常な像である。端子ピン先
端が半球の形状をしている場合には光源のある方向の球
面が反射するので、この様な形状になるものである。
尚、これは端子ピン先端にカメラの焦点を合わせた場合
の像であるが、多少ずらした場合、若しくは故意にボカ
シのフィルターを通した場合には円形像が得られること
になる。また、照明に環状照明を使用すれば同様に円形
像が得られることになる。
As another imaging example, the one shown in FIG. 12 may be obtained. Here, (51) to (53) are images of the tips of the terminal pins. The half-moon image (51) is a normal image of the terminal pin tip. When the tip of the terminal pin has a hemispherical shape, the spherical surface in the direction of the light source is reflected, so that the terminal pin has such a shape.
Although this is an image when the camera is focused on the tip of the terminal pin, a circular image is obtained when the camera is slightly displaced or intentionally filtered by a blur filter. Further, if an annular illumination is used for illumination, a circular image can be obtained in the same manner.

【0025】円形像(52)は端子ピン先端が斜めにカ
ットされている場合の正常な像である。端子ピン先端が
カットにより平面状の切り口を有していれば一律に円形
の反射像を得られることになる。図15の如く、切り口
全面で光を反射するからである。変形長円像(53)は
端子ピン先端が何らかの形で変形していることを示して
いる。この変形には端子ピンの曲がり等も含まれてい
る。
The circular image (52) is a normal image when the tip of the terminal pin is obliquely cut. If the tip of the terminal pin has a plane cut by cutting, a circular reflected image can be uniformly obtained. This is because light is reflected on the entire surface of the cut as shown in FIG. The deformed oval image (53) shows that the tip of the terminal pin is deformed in some way. This modification includes bending of the terminal pins.

【0026】ところで、検査部品把持部で把持した被検
査部品(10)の掴み位置が不確定となるような場合が
ある。これはパレット中に発泡スチロールが敷き詰めて
あって、パレット小室内に段差があり、その上にある被
検査部品の載置高さがそれぞれ異なってしまっている場
合に多く発生する。この様なとき、従来例(図5)では
スリガラス上に一旦、被検査部品を置き、再度把持し直
して高さを合わせるということをしていた。
By the way, there are cases where the grip position of the inspected component (10) gripped by the inspection component gripping portion becomes uncertain. This often occurs when styrofoam is spread all over the pallet, there is a step in the pallet compartment, and the mounting heights of the parts to be inspected are different from each other. In such a case, in the conventional example (FIG. 5), the component to be inspected is once placed on the frosted glass and re-gripped to adjust the height.

【0027】本実施例において、この必要があれば図1
4に示す如く、照明部(23)と遮光壁部(22)との
間隙に光を透過する透明な板(70)を配設すればよ
い。即ち, 移送してきた部品(10)をこの光透過版
(70)の上に一旦置き、再度把持し直せば、高さ合わ
せができたことになる。なお、上記のようなピン毎の検
査のほか、ピン間隔を測定することにより、ピン自体の
曲がりや欠損を確認することも可能である。
In the present embodiment, if this is necessary, FIG.
As shown in FIG. 4, a transparent plate (70) that transmits light may be arranged in the gap between the illumination section (23) and the light shielding wall section (22). That is, if the transferred parts (10) are once placed on the light transmission plate (70) and gripped again, the height can be adjusted. In addition to the above-mentioned inspection for each pin, it is also possible to confirm the bending or loss of the pin itself by measuring the pin interval.

【0028】さて、上記実施例で得られた画像は既に公
知の画像処理装置によって処理すればよい。図13はこ
の構成を示している。本実施例においては、撮像用カメ
ラ(27)より得られた画像は一旦、画像処理装置中の
画像メモリー(60)に蓄積し、ROM(63)中に記
憶してあるプログラムに従ってCPU(61)は2値化
を行う。この2値化によって不要な低明度の背景像等を
除去することができている。残った端子ピン先端像に対
し、CPUは続いて認識処理を行い、所定の検査工程を
終了することができる。検査結果は通信インターフェー
ス(62)を通じてロボットの数値制御装置に転送する
ことで、ロボットはその後の処理をすることができるよ
うになるのである。
The image obtained in the above embodiment may be processed by a known image processing apparatus. FIG. 13 shows this configuration. In the present embodiment, the image obtained by the image pickup camera (27) is temporarily stored in the image memory (60) of the image processing apparatus, and the CPU (61) is stored according to the program stored in the ROM (63). Performs binarization. By this binarization, it is possible to remove an unnecessary low brightness background image and the like. The CPU subsequently performs recognition processing on the remaining tip image of the terminal pin, and the predetermined inspection process can be completed. The inspection result is transferred to the numerical controller of the robot through the communication interface (62) so that the robot can perform the subsequent processing.

【0029】[0029]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
照明部より発する光が被検査部品の端子先端のみにあた
るように、被検査部品の端子先端部を保持することによ
って、端子先端の像のみを鮮明に得ることができ、また
端子ピン長のバラツキがあるものでも確実な位置検出が
できるようになるものである。尚、本発明は多くの端子
付部品に適用可能であるので、その効果は極めて大きい
ものである。
As described above, according to the present invention,
By holding the terminal tip of the inspected part so that the light emitted from the illumination unit hits only the terminal tip of the inspected part, only the image of the terminal tip can be obtained clearly and the terminal pin length variation Even if there is a certain one, the position can be surely detected. Since the present invention can be applied to many parts with terminals, its effect is extremely large.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】被検査部品の全体斜視図である。FIG. 1 is an overall perspective view of a component to be inspected.

【図2】被検査部品の底面図である。FIG. 2 is a bottom view of the inspected component.

【図3】被検査部品の上面図である。FIG. 3 is a top view of a component to be inspected.

【図4】被検査部品がパレットに配置されている状況を
示した図である。
FIG. 4 is a diagram showing a state in which parts to be inspected are arranged on a pallet.

【図5】従来例の構成を示した図である。FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a conventional example.

【図6】被検査部品の端子ピン先端で光を反射する様子
を示した図である。
FIG. 6 is a diagram showing how light is reflected at the tip of a terminal pin of a component to be inspected.

【図7】従来例に於いて被検査部品の端子ピン長にバラ
ツキがある場合に得られる像を示した図である。
FIG. 7 is a diagram showing an image obtained when there are variations in terminal pin lengths of a component to be inspected in a conventional example.

【図8】本発明における一実施例を示した図である。FIG. 8 is a diagram showing an example of the present invention.

【図9】本発明における一実施例であって撮像直前の位
置関係を示した斜視図である。
FIG. 9 is a perspective view showing a positional relationship immediately before image capturing according to an embodiment of the present invention.

【図10】本発明における一実施例であって撮像直前の
位置関係を示した断面図である。
FIG. 10 is a cross-sectional view showing the positional relationship immediately before imaging, which is one embodiment of the present invention.

【図11】本発明における一実施例で得られる像例を示
した図である。
FIG. 11 is a diagram showing an example of an image obtained in one example of the present invention.

【図12】本発明における一実施例で得られる別の像例
を示した図である。
FIG. 12 is a diagram showing another image example obtained in one embodiment of the present invention.

【図13】本発明における一実施例に接続する画像処理
装置の構成例を示した図である。
FIG. 13 is a diagram showing a configuration example of an image processing apparatus connected to one embodiment of the present invention.

【図14】本発明における別の実施例を示した図であ
る。
FIG. 14 is a diagram showing another embodiment of the present invention.

【図15】被検査部品の端子ピン先端が斜めカットされ
ているときの光路を示した図である。
FIG. 15 is a diagram showing an optical path when a tip of a terminal pin of a component to be inspected is obliquely cut.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21 検査部品把持部 22 遮光壁部 23 照明部 27 撮像用カメラ 21 inspection part gripping part 22 light-shielding wall part 23 illuminating part 27 imaging camera

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 像を撮り、電気信号に変換する撮像部
と、 該撮像部が感光する周波数帯域を含む光を発生する照明
部と、 被検査部品を把持する検査部品把持部と、 前記被検査部品の略全体が前記照明部より発する光にあ
たらない様に形成された遮光壁部とを具備し、 前記被検査部品より出る端子を前記撮像部が撮像するに
あたり、前記照明部より発する光が前記被検査部品に付
設する端子の略先端部にのみ照射される位置に、前記被
検査部品を保持することを特徴とした部品端子検査用撮
像装置。
1. An image pickup unit for taking an image and converting it into an electric signal, an illumination unit for generating light including a frequency band sensitized by the image pickup unit, an inspection component holding unit for holding an inspection target component, A light-shielding wall portion formed so that substantially the entire inspection component does not hit the light emitted from the illumination unit, and the light emitted from the illumination unit when the image pickup unit images the terminal protruding from the component to be inspected. An image pickup device for inspecting a component terminal, wherein the inspected component is held at a position where is irradiated only to a substantially tip portion of a terminal attached to the inspected component.
【請求項2】 特許請求の範囲請求項1に記載した部品
端子検査用撮像装置において、 前記被検査部品を一時的に置くことのできる光透過板を
具備し、 前記被検査部品より出る端子を前記撮像部が撮像するに
あたり、前記照明部より発する光が前記被検査部品に付
設する端子の略先端部にのみ照射される位置で前記被検
査部品を置ける様に前記光透過板を配置することを特徴
とした部品端子検査用撮像装置。
2. The imaging device for inspecting a component terminal according to claim 1, further comprising a light transmitting plate on which the inspected component can be temporarily placed, and a terminal protruding from the inspected component. Arranging the light transmitting plate so that the component to be inspected can be placed at a position where the light emitted from the illuminating part is emitted only to the substantially tip portion of the terminal attached to the component to be inspected when the image capturing section captures an image. An imaging device for inspecting component terminals.
【請求項3】 特許請求の範囲請求項1または請求項2
に記載した部品端子検査用撮像装置において、 前記遮光壁部は、遮光性ある円筒とすることを特徴とす
る部品端子検査用撮像装置。
3. Claims 1 or 2
The imaging device for inspecting a component terminal according to claim 1, wherein the light shielding wall portion is a cylinder having a light shielding property.
JP4230043A 1992-08-28 1992-08-28 Image pickup device for parts terminal detection Pending JPH0676048A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4230043A JPH0676048A (en) 1992-08-28 1992-08-28 Image pickup device for parts terminal detection

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4230043A JPH0676048A (en) 1992-08-28 1992-08-28 Image pickup device for parts terminal detection

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0676048A true JPH0676048A (en) 1994-03-18

Family

ID=16901672

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4230043A Pending JPH0676048A (en) 1992-08-28 1992-08-28 Image pickup device for parts terminal detection

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0676048A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007006149A (en) * 2005-06-23 2007-01-11 Hosiden Corp Electronic part
CN105082182A (en) * 2015-08-13 2015-11-25 深圳市顶点视觉自动化技术有限公司 Visual positioning system used for guiding robot
CN109239094A (en) * 2018-10-30 2019-01-18 南京信息职业技术学院 Capacitor appearance detection device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007006149A (en) * 2005-06-23 2007-01-11 Hosiden Corp Electronic part
CN105082182A (en) * 2015-08-13 2015-11-25 深圳市顶点视觉自动化技术有限公司 Visual positioning system used for guiding robot
CN109239094A (en) * 2018-10-30 2019-01-18 南京信息职业技术学院 Capacitor appearance detection device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5148375A (en) Soldering appearance inspection apparatus
US20070002315A1 (en) Apparatus and method for inspecting screw portion
US4601577A (en) Method and apparatus for detecting defects in a pattern
JPH0676048A (en) Image pickup device for parts terminal detection
CN106226326A (en) Detection SIP module surface defect, the method and system of dew copper surface defect
JPS608707A (en) Method for detecting outward appearance of soldering
KR101897043B1 (en) Optical inspection apparatus for performing automatic illumination processing and optical inspection method using the apparatus
JP2000046651A (en) Wire appearance inspection device
EP1079420B1 (en) Inspection apparatus
JP6202739B2 (en) Method for inspecting scattered solder balls on boards
JP3287789B2 (en) Inspection device for insulated wire with cap
JPH08152412A (en) Appearance inspection device
KR20040062558A (en) Automatic filter changer for use on surface mounter inspection camera
JP2001061090A (en) Solid-state image pickup device for taking close-up picture
JP2014225712A (en) Suction nozzle inspection apparatus of component mounting machine
JP7312663B2 (en) Linear object working position determining method, robot control method, linear object fixing method, linear object working position determining device, and linear object gripping system
JPS61260105A (en) Method for detecting shape of bonding wire
JP3557965B2 (en) Inspection method of first bonding point in wire bonding
JPH07306151A (en) Bobbin inspecting device
JPH0727517A (en) Crimping terminal inspecting device
JPH05124772A (en) Inspection device for yarn winding bobbin
CN114062390A (en) Gap detection method and device
JPH09152314A (en) Method and apparatus for recognition of shape
JPH06117828A (en) Method of detecting soldering defect of discrete part
JP2566369B2 (en) Shape inspection method