JPH0676000B2 - IC card manufacturing method - Google Patents

IC card manufacturing method

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JPH0676000B2
JPH0676000B2 JP60216743A JP21674385A JPH0676000B2 JP H0676000 B2 JPH0676000 B2 JP H0676000B2 JP 60216743 A JP60216743 A JP 60216743A JP 21674385 A JP21674385 A JP 21674385A JP H0676000 B2 JPH0676000 B2 JP H0676000B2
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card
pellet
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data
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和也 原
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Casio Computer Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] この発明はICカードシステムに使用されるICカードに係
り、特にICカード内部の記憶情報が不正に読出されるの
を防止するようにしたICカードの製造方法に関する。
Description: TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to an IC card used in an IC card system, and more particularly to an IC card for preventing unauthorized reading of stored information inside the IC card. Manufacturing method.

[従来技術とその問題点] 近年、キャッシュレス時代と呼ばれており、クレジット
カード会社などにより発行されたカードを使用する事に
より現金の取扱いをせずに商品の購入が可能になってい
る。
[Prior Art and Problems Thereof] In recent years, it is called a cashless era, and by using a card issued by a credit card company or the like, it is possible to purchase a product without handling cash.

従来、使用されているカードとしてはプラスチックカー
ド、エンボスカード、磁気ストライプカードなどがある
が、これらカードは構造上偽造が容易であるため、不正
使用が問題になっている。
Conventionally used cards include plastic cards, embossed cards, magnetic stripe cards and the like, but since these cards are structurally easy to forge, illegal use has become a problem.

そこで、このような問題を解決するため、カード内部に
暗証番号などを記憶したIC回路を組込み、暗証番号が外
部から容易に読出せないようにした情報カード、いわゆ
るICカードが考えられており、このようなICカードとタ
ーミナルを組合わせたICカードシステムが開発されてい
る。
Therefore, in order to solve such a problem, an information card, that is, an IC card, in which an IC circuit storing a personal identification number or the like is incorporated in the card so that the personal identification number cannot be easily read from the outside, is considered. An IC card system combining such an IC card and a terminal has been developed.

ところで、このようなICカードシステムに用いられるIC
カードは第6図に示す過程を経て作製され、カード所有
者に届けられる。
By the way, ICs used in such IC card systems
The card is manufactured through the process shown in FIG. 6 and delivered to the card holder.

この場合、カード製造者1、発行者2、カード所有者3
がおり、カード製造者1はICカードを製造するにあたっ
て、まずステップA1においてウエハ上にIC回路を製作
し、この状態でステップA2に進み、各ペレットについて
機能検査を実行する。この場合IC回路はCPUとEEP−ROM
を有しているが、データを入出力するI/O端子は、普通
1ピン分しか有していないため、この端子を使用して各
種の検査を実行するとなると、時間が掛かり過ぎ極めて
非能率的である。そこで、この機能検査の能率向上のた
めCPUとEEP−ROMの間のデータラインおよびアドレスラ
インより夫々データ用パッドおよびアドレス用パッドを
外部に導出しておき、これらパッドプローブを当てるこ
とにより短時間に各種の検査を行なうようにしている。
こうして、各ペレットにについての機能検査が終了する
と、次にステップA3にてダイシングが行なわれ、次いで
ステップA4に進み、ここでボンディングが行なわれる。
このステップA4では、ICペレットを基台に接着するダイ
ボンディングおよびICペレットの実際に使用される端子
にリードを接続するワイヤボンディングが行なわれる。
この状態を第7図に示している。この図において、4は
ICペレット、5はICペレット4を収納する開口部5aが形
成された基板、6は基板5の開口部5a上に突出された接
合部およびICカードに組込んだ際の外部端子部が形成さ
れるリードである。リード6はISO規格の提案にもとず
いて4列2行の8個形成され、ダイシングされた個々の
ICペレット4を図示しない基台上にダイボンディング
し、このICペレット4上に基板5の開口部5aを嵌入して
各リード6の接合部とICペレット4の端子とを位置あわ
せしてボンディングする。ここで、7、8は上述した機
能検査用のデータ用パッドおよびアドレス用パッドであ
る。
In this case, card manufacturer 1, issuer 2, cardholder 3
Therefore, when manufacturing the IC card, the card manufacturer 1 first manufactures an IC circuit on the wafer in step A1, and in this state, the process proceeds to step A2 to execute a functional test on each pellet. In this case, the IC circuit is CPU and EEP-ROM
However, since the I / O terminal for inputting / outputting data usually has only one pin, it takes too much time to perform various inspections using this terminal, which is extremely inefficient. Target. Therefore, in order to improve the efficiency of this function test, the data pads and address pads are brought out to the outside from the data line and address line between the CPU and EEP-ROM, respectively. I try to do various inspections.
When the functional inspection of each pellet is completed in this way, dicing is then performed in step A3, and then the process proceeds to step A4 where bonding is performed.
In this step A4, die bonding for adhering the IC pellet to the base and wire bonding for connecting the lead to the actually used terminal of the IC pellet are performed.
This state is shown in FIG. In this figure, 4 is
The IC pellets 5 are formed with a substrate having an opening 5a for accommodating the IC pellets 4, and 6 is formed with a bonding portion projecting on the opening 5a of the substrate 5 and an external terminal portion when incorporated in an IC card. It is a lead. Based on the proposal of the ISO standard, the leads 6 are formed by 8 pieces of 4 columns and 2 rows, and are individually diced.
The IC pellet 4 is die-bonded onto a base not shown, the opening 5a of the substrate 5 is fitted onto the IC pellet 4, and the bonding portion of each lead 6 and the terminal of the IC pellet 4 are aligned and bonded. . Here, 7 and 8 are the data pad and the address pad for the above-described function inspection.

次にステップA5にてICペレット4の接合部を含む主面上
に樹脂封止(第7図に図示せず)を行ない、ステップA6
に進む。このステップA6では、樹脂封止まで完了したIC
ペレットの最終的な検査が実行される。この検査は第7
図に示したデータ用パッドおよびアドレス用パッド7、
8が樹脂封止されていればリード6の外部端子にプロー
ブを接続して行なう。この場合、ステップA4において、
機能検査用パッドからSDリードを延出しておけば封止樹
脂で被覆したのちも検査用パッド7、8を介して検査を
実行することができる。そして、基板5にリード6より
接合されたICペレット4はダイボンディング用の基台か
ら剥がした上、ステップA7にてカード本体に組込まれ、
ICカード製造までが終了する。
Next, in step A5, resin sealing (not shown in FIG. 7) is performed on the main surface including the bonded portion of the IC pellet 4, and step A6
Proceed to. In this step A6, ICs that have completed resin encapsulation
A final inspection of the pellet is performed. This inspection is the 7th
The data pad and address pad 7 shown in the figure,
If 8 is resin-sealed, the probe is connected to the external terminal of the lead 6. In this case, in step A4,
If the SD lead is extended from the functional inspection pad, the inspection can be performed via the inspection pads 7 and 8 even after being covered with the sealing resin. Then, the IC pellet 4 joined to the substrate 5 by the lead 6 is peeled off from the die-bonding base, and is assembled in the card body in step A7.
IC card manufacturing is completed.

次に、ステップA8にてカード製造者はカードターミナル
を用いて、カード内に所定のコードを書込む。すなわ
ち、この場合「CA」、「IPIN」、「PMK」、「PRK」など
のコードが書込まれる。ここで、「CA」はメッセージの
暗号化および解読に使用されるコードである。「IPIN」
はランダムな例えば6ビットのコードで、暗証番号PIN
が使用されるまで用いられる。「PMK」は製造番号で”
グループごとに同じ番号が使用される。「PRK」は暗号
解読用のコードである。
Next, in step A8, the card manufacturer writes a predetermined code in the card using the card terminal. That is, in this case, codes such as "CA", "IPIN", "PMK", "PRK" are written. Here, "CA" is the code used to encrypt and decrypt the message. "IPIN"
Is a random 6-bit code, PIN code
Used until is used. “PMK” is the serial number ”
The same number is used for each group. "PRK" is a code for decryption.

このようにして、ICカードに所定のコードが書込まれる
と、「PMK」が印字され出力される。これを持ってカー
ド製造者2は所定コードを書込んだカードと「PMK」の
印字用紙を別便で発行者2に送付する。発行者2はステ
ップA9において、ICカード発行ターミナルを用いてICカ
ードに対する口座番号「PAN」を入力する。この場合、
「PAN」はICカードに予め書込まれている「PMK」とター
ミナルから入力される「PMK」が一致した時のみICカー
ドに書込まれる。また、これと同時にICカード内の「IP
IN」が印字出力される。発行者2はこうして「PAN」を
書込んだICカードと、「IPIN」の印字用紙を別便でカー
ド所有者3に送付する。カード所有者3はICカードおよ
び印字用紙が送られてくると、ステップA10において発
行者2まで出向き、そこに設置されているカード所有者
のターミナルを用いて自己の暗証番号「PIN」を入力す
る。この場合、「PIN」はICカードに予め書込まれた「I
PIN」とターミナルから入力される「IPIN」が一致した
ときのみICカードに書込まれる。以上の過程を経てICカ
ードの発行処理が完了し、このカードは実際に使用出来
ようになる。
In this way, when the predetermined code is written on the IC card, "PMK" is printed and output. With this, the card manufacturer 2 sends the card on which the predetermined code is written and the printing paper of "PMK" to the issuer 2 by a separate flight. Issuer 2 inputs the account number "PAN" for the IC card using the IC card issuing terminal in step A9. in this case,
"PAN" is written in the IC card only when "PMK" written in the IC card and "PMK" entered from the terminal match. At the same time, the "IP
"IN" is printed out. The issuer 2 sends the IC card in which "PAN" is written and the printing sheet of "IPIN" to the cardholder 3 by separate flight. When the IC card and the printing paper are sent, the cardholder 3 goes to the issuer 2 in step A10, and inputs his / her personal identification number "PIN" using the terminal of the cardholder installed there. . In this case, "PIN" is the "IIN" written in advance on the IC card.
It is written on the IC card only when the "PIN" and the "IPIN" entered from the terminal match. Through the above process, the issuing process of the IC card is completed, and this card can be actually used.

ところで、このようにして製造、発行されたICカードで
は内部に収容されるIC回路について実施されたステップ
A6の最終検査の際使用したデータ用パッドおよびアドレ
ス用パッドがそのままIC回路に接続され組込まれてい
る。
By the way, in the IC card manufactured and issued in this way, the steps performed for the IC circuit housed inside
The data pad and address pad used in the final inspection of A6 are directly connected to the IC circuit and incorporated.

このため、実際に使用する段になって盗難や置忘れなど
でこのICカードが第3者の手に渡り、不正にカード内部
が開けられると、データ用パッドおよびアドレス用パッ
ドガそのまま使用出来るので、これらパッドにプローブ
を当てるのみでEEP−ROMなどよりPINなどの秘密データ
が簡単に読出されてしまう。このことは、これらデータ
にもとずいてカードの偽造が可能になり、ICカードの信
用性を著しく低下させるだけでなく、最悪の場合にはシ
ステム全体の技術内容が分析され大掛りに悪用されるお
それがあった。
For this reason, when this IC card gets into the stage of actual use and is stolen or misplaced, it can be used as it is by the data pad and address pad if the inside of the card is opened illegally. Only by applying a probe to these pads, secret data such as PIN can be easily read from EEP-ROM or the like. This makes it possible to counterfeit the card based on these data, not only significantly reducing the reliability of the IC card, but in the worst case, the technical contents of the entire system are analyzed and extensively abused. There was a risk that

[発明の目的] この発明は上記の欠点を除去するためなされたもので、
カード内部に記憶された記憶情報の不正な読出しを確実
に防止できるICカードの製造方法を提供することを目的
とする。
[Object of the Invention] The present invention has been made to eliminate the above-mentioned drawbacks.
An object of the present invention is to provide an IC card manufacturing method capable of reliably preventing illegal reading of stored information stored in the card.

[発明の要点] この発明にかかるICカードの製造方法は、検査用パッド
が形成されたICペレットを製造し、この製造されたICペ
レットを検査用パッドを用いて機能検査し、機能検査を
終了した後に検査用パッドを除去し、この検査用パッド
が除去されたICペレットをカード本体に組込むようにし
たものである。
[Points of the Invention] A method of manufacturing an IC card according to the present invention is to manufacture an IC pellet on which an inspection pad is formed, perform a functional inspection of the manufactured IC pellet using the inspection pad, and end the functional inspection. After that, the inspection pad is removed, and the IC pellet from which the inspection pad has been removed is incorporated into the card body.

[発明の実施例] 以下、この発明の一実施例を図面に従い説明する。[Embodiment of the Invention] An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図はこの発明のICカードが作製されるまでの過程を
示すものである。
FIG. 1 shows a process until the IC card of the present invention is manufactured.

図において、まずステップB1においてウエハ上にIC回路
が製作される。そして、この状態でステップB2に進み、
各ICペレットについて機能検査が行なわれる。この場
合、ウエハ上のIC回路は上述したようにCPUとEEP−ROM
の間のデータラインおよびアドレスラインより夫々デー
タ用パッドおよびアドレス用パッドが外部に露出されて
いるので、これらのパッドにプローブを当てることによ
り各種の検査が行なわれる。その後こうした各ペレット
についての機能検査が終了すると、次にステップB3に進
み、ダイシングが行なわれる。そして、このステップB3
でのダイシングの後ステップB4に進む。このステップB4
では、ダイシングにて得られたICペレットに設けられて
いるデータ用およびアドレス用の検査用パッドを除去す
る。この場合、検査用パッドの除去は例えば第2図
(A)に示すように、ICペレット11の両側縁に露出され
たデータ用およびアドレス用の検査用パッド12、13部分
を図示破線よりダイシングにより切除する。あるいは、
これらの検査用パッドの除去手段としては、レーザビー
ムを用いて検査用パッド12、13およびこれらパッドに接
続される配線パターンを除去する。または、エッチング
液を用いて検査用パッド12、13部分を腐蝕させて除去す
る。なお、第2図において、14はICペレットの実際に使
用される各種端子である。
In the figure, first, in step B1, an IC circuit is manufactured on the wafer. Then, in this state, proceed to step B2,
A functional test is performed on each IC pellet. In this case, the IC circuit on the wafer is the CPU and EEP-ROM as described above.
Since the data pad and the address pad are exposed to the outside from the data line and the address line, respectively, various inspections are performed by applying a probe to these pads. After that, when the functional inspection for each of the pellets is completed, the process proceeds to step B3, and dicing is performed. And this step B3
After dicing in, proceed to step B4. This step B4
Then, the data and address test pads provided on the IC pellet obtained by dicing are removed. In this case, as shown in FIG. 2 (A), for example, the inspection pads are removed by dicing the data and address inspection pads 12 and 13 exposed on both side edges of the IC pellet 11 from the broken line shown in the drawing. To remove. Alternatively,
As a means for removing these inspection pads, a laser beam is used to remove the inspection pads 12 and 13 and the wiring pattern connected to these pads. Alternatively, the test pads 12 and 13 are corroded and removed using an etching solution. In FIG. 2, 14 are various terminals actually used for the IC pellet.

次に、ステップB5に進む。このステップB5では、ボンデ
ィングが行なわれる。このボンディングではICペレット
を基台(図示せず)に接着するダイボンディングおよび
ICペレットの実際に使用される端子にリードを接続する
ワイヤボンディングが行なわれる。すなわち、第2図
(B)に示す如く基板15に設けた開口部15a上に突出す
る接合部16aおよび後述するICカードのコンタクト部に
接続される接続用端子を有するリード16を、図示しない
基台上にダイボンディングしたICペレット11の各端子14
上に位置決めして各リード16と接合部16aと端子14とを
熱圧着またはパルスヒーティングにより接合する。
Then, it proceeds to step B5. In step B5, bonding is performed. In this bonding, die bonding to bond the IC pellet to the base (not shown) and
Wire bonding is performed to connect the leads to the actually used terminals of the IC pellet. That is, as shown in FIG. 2B, a lead 16 having a joint 16a protruding above the opening 15a provided in the substrate 15 and a connecting terminal connected to a contact portion of an IC card to be described later is not shown in the drawing. Each terminal 14 of IC pellet 11 die-bonded on the table
Positioned on the top, each lead 16, the joint 16a, and the terminal 14 are joined by thermocompression bonding or pulse heating.

次いで、ステップB6にて樹脂封止を実行したのちステッ
プB7に進み、ここで、ICペレットのメモリ部のテストエ
リアにテストデータを書込む。この場合のデータはICカ
ードの基本的動作に必要な最小限のデータで、実際に使
用されるI/O端子を用いて入力する。
Next, after performing resin sealing in step B6, the process proceeds to step B7, where test data is written in the test area of the memory section of the IC pellet. The data in this case is the minimum data necessary for the basic operation of the IC card, and is input using the I / O pins actually used.

この状態で、ステップB8に進む。このステップB8では、
樹脂封止まで完了したICペレットの最終的な検査が行な
われる。この検査は上述したI/O端子を使用して、PINな
どに対する基本的なテストが実行される。そして、ICペ
レットを基台から剥離した上ステップB9にてカード本体
に組込まれる。この場合、第3図に示すようにICペレッ
ト11は基板15に取付けている。この基板15はICペレット
11と電気的に接続したリード16の接続端子部が上面フィ
ルム17の内面から外面に露出するように設けられたコン
タクト17aに接続される。また、ICペレット11および基
板15は内部シート18の開口18a内に収納され、この内部
シート18の下面に下面フィルム19を重ね一体化すること
で、ICカードが完成する。上面フィルム17および下面フ
ィルム19は軟質PVCにより、内部シート18は硬質PVCなど
により形成することができる。このようにして得られた
ICカード20を第4図に示している。なお、第4図におい
て20aは磁気ストライプであり、ICペレットが組込まれ
たのちに、上面フィルム17上に形成される。
In this state, the process proceeds to step B8. In this step B8,
The final inspection of the IC pellets completed with resin sealing is performed. This test uses the I / O terminals described above to perform a basic test for PINs and the like. Then, the IC pellets are separated from the base and mounted in the card body in step B9. In this case, the IC pellet 11 is attached to the substrate 15 as shown in FIG. This substrate 15 is an IC pellet
The connection terminal portion of the lead 16 electrically connected to 11 is connected to the contact 17a provided so as to be exposed from the inner surface to the outer surface of the top film 17. The IC pellet 11 and the substrate 15 are housed in the opening 18a of the inner sheet 18, and the lower surface film 19 is superposed on the lower surface of the inner sheet 18 to be integrated with each other, thereby completing the IC card. The upper film 17 and the lower film 19 can be made of soft PVC, and the inner sheet 18 can be made of hard PVC or the like. Thus obtained
The IC card 20 is shown in FIG. In FIG. 4, 20a is a magnetic stripe, which is formed on the upper surface film 17 after the IC pellet is incorporated.

その後、このようなICカードは発行処理が実行されて実
際に使用できるようになるが、この発行処理は上述した
第6図のステップA8〜A10と同じなので、ここでの説明
は省略する。
After that, such an IC card is subjected to the issuing process and can be actually used. However, since this issuing process is the same as steps A8 to A10 in FIG. 6 described above, the description thereof is omitted here.

したがって、このようにすれば、ICカード内に組込まれ
るICチップは最初の機能検査ののち、これら検査に使用
されたデータおよびアドレス用パッドを除去するように
しているので、その後の使用の段になって第3者がこの
カードを不正に入手し、カード内部を開いてデータを読
出そうとしても、これの手掛りを何等与えることがな
く、記憶部に記憶されたデータの不正な読出しを確実に
防止することができる。
Therefore, in this way, the IC chip built into the IC card is designed to remove the data and address pads used for these tests after the first functional test, so that it can be used in the subsequent stages. Even if a third party illegally obtains this card and tries to read the data by opening the inside of the card, it does not give any clue, and ensures the illegal reading of the data stored in the storage unit. Can be prevented.

なお、この発明は上記実施例にのみ限定されず要旨を変
更しない範囲で、適宜変形して実施できる。例えば上述
の実施例では、ステップB5にてボンディングを実行する
ようにしているが、このようなボンディングを行なわず
外部端子を形成するようにしてもよい。すなわち、この
場合ICペレットを第5図のように構成している。図にお
いて、21はシリコン基板で、この基板21上にアクティブ
領域22を形成している。そして、この領域22上に絶縁膜
23を介して一部を上記領域22に電気的に接続した内部接
続パッド24を形成している。また、このパッド24上に絶
縁膜25を形成し、この絶縁膜25上に一部を内部接続パッ
ド24に電気的に接続した広い面積の外部接続パッド26を
形成している。そして、このようにしたICペレットは周
知の異方導電性接着剤を用いて基板などに接着し、これ
をカード本体に組込みICカードを完成している。異方導
電性接着剤はホットメルト型の絶縁性接着剤中にNi、A
g、カーボンなどの導電性粒子を混入したもので熱圧着
により圧縮された方向にのみ導電性を呈するものである
が、接続端子が極めて微細である場合には、端子上に導
電性粒子が配置されないことがある。しかし、このよう
に面積を大きくすることにより、この不具合を確実に解
消して導通の信頼性の高い接合構造となすことができ
る。しかも、この方法はボンディングのような正確の位
置あわせを必要としないからICペレットと基板との接合
を能率的に行なうことができる。
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be appropriately modified and implemented within the scope of the invention. For example, in the above-described embodiment, the bonding is performed in step B5, but the external terminal may be formed without performing such bonding. That is, in this case, the IC pellet is constructed as shown in FIG. In the figure, 21 is a silicon substrate, and an active region 22 is formed on this substrate 21. Then, an insulating film is formed on this region 22.
An internal connection pad 24 is formed, a part of which is electrically connected to the region 22 via 23. Further, an insulating film 25 is formed on the pad 24, and an external connection pad 26 having a large area, a part of which is electrically connected to the internal connection pad 24, is formed on the insulating film 25. Then, such an IC pellet is adhered to a substrate or the like by using a well-known anisotropic conductive adhesive, and this is incorporated into a card body to complete an IC card. The anisotropic conductive adhesive is Ni, A in hot melt type insulating adhesive.
It contains conductive particles such as g and carbon, and exhibits conductivity only in the direction compressed by thermocompression bonding, but if the connecting terminals are extremely fine, conductive particles are placed on the terminals. It may not be done. However, by increasing the area in this way, it is possible to surely eliminate this problem and obtain a joint structure with high reliability of conduction. Moreover, since this method does not require accurate alignment such as bonding, the IC pellet and the substrate can be bonded efficiently.

[発明の効果] この発明によれば、カード内部に記憶された記憶情報の
不正な読出しを確実に防止できるので、第3者によるカ
ードの偽造を防止でき、ICカードの信頼性の向上を図り
得、しかもシステム全体の技術内容の盗用による悪用も
防止できる。
[Effects of the Invention] According to the present invention, it is possible to surely prevent illegal reading of stored information stored in the card, so that it is possible to prevent forgery of the card by a third party and improve the reliability of the IC card. Moreover, it is possible to prevent the technical contents of the entire system from being misused.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの発明の一実施例のICカードが作製されるま
での過程を示すフローチャト、第2図(A)は同実施例
のICカードに組込まれるチップを説明するための斜視
図、第2図(B)はICペレットの検査用パッドを切除
後、基板に接合した状態を示す斜視図、第3図は同実施
例のICカードを示す縦断面図、第4図は同実施例により
得られたICカードの外観斜視図、第5図はこの発明の他
実施例のICカードを示す縦断面図、第6図は従来のICカ
ードが作製されるまでの過程を示すフローチャト、第7
図は同ICカードに組込まれるICペレットと基板の接合状
態を示す斜視図である。 4……ICペレット、5……基板、6……リード、7、8
……データ用アドレス用パッド、11……ICペレット、1
2、13……データ用およびアドレス用パッド、14……端
子、15……基板、17……上面フィルム、17a……コンタ
クト、18……内部シート、19……下面フィルム、20……
ICカード、21……シリコン基台、23、25……絶縁膜、2
4、26……接続パッド。
FIG. 1 is a flow chart showing a process until an IC card of an embodiment of the present invention is manufactured, and FIG. 2A is a perspective view for explaining a chip incorporated in the IC card of the embodiment. 2 (B) is a perspective view showing a state in which the IC pellet inspection pad is cut off and then joined to the substrate, FIG. 3 is a longitudinal sectional view showing the IC card of the same embodiment, and FIG. FIG. 5 is an external perspective view of the obtained IC card, FIG. 5 is a longitudinal sectional view showing an IC card of another embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a flow chart showing a process until a conventional IC card is manufactured.
The figure is a perspective view showing a bonded state of an IC pellet and a substrate incorporated in the same IC card. 4 ... IC pellet, 5 ... Substrate, 6 ... Lead, 7, 8
...... Data address pad, 11 …… IC pellet, 1
2, 13 …… Data and address pads, 14 …… Terminals, 15 …… Board, 17 …… Top film, 17a …… Contacts, 18 …… Inner sheet, 19 …… Bottom film, 20 ……
IC card, 21 ... Silicon base, 23, 25 ... Insulating film, 2
4, 26 ... Connection pad.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】検査用パッドが形成されたICペレットを製
造し、この製造されたICペレットを検査用パッドを用い
て機能検査し、機能検査を終了した後に検査用パッドを
除去し、この検査用パッドが除去されたICペレットをカ
ード本体に組込むようにしたことを特徴とするICカード
の製造方法。
1. An IC pellet on which an inspection pad is formed is manufactured, the manufactured IC pellet is functionally tested using the inspection pad, and the inspection pad is removed after the functional inspection is completed. A method for manufacturing an IC card, characterized in that the IC pellets from which the pads for use are removed are incorporated into the card body.
【請求項2】検査用パッドの除去はICペレットの検査用
パッドが配置された部分をダイシングすることで行なう
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のICカード
の製造方法。
2. The method of manufacturing an IC card according to claim 1, wherein the inspection pad is removed by dicing a portion of the IC pellet on which the inspection pad is arranged.
【請求項3】検査用パッドの除去はレーザービームによ
り除去することで行なうことを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載のICカードの製造方法。
3. The method for manufacturing an IC card according to claim 1, wherein the inspection pad is removed by a laser beam.
【請求項4】検査用パッドの除去はエッチング液を用い
てパッド部分を腐食させることで行なうことを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載のICカードの製造方法。
4. The method of manufacturing an IC card according to claim 1, wherein the inspection pad is removed by corroding the pad portion with an etching solution.
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