JPH0675312B2 - Pickup for magneto-optical recording medium - Google Patents

Pickup for magneto-optical recording medium

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JPH0675312B2
JPH0675312B2 JP62247319A JP24731987A JPH0675312B2 JP H0675312 B2 JPH0675312 B2 JP H0675312B2 JP 62247319 A JP62247319 A JP 62247319A JP 24731987 A JP24731987 A JP 24731987A JP H0675312 B2 JPH0675312 B2 JP H0675312B2
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optical recording
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    • G11B7/0916Foucault or knife-edge methods

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、光磁気ディスク等の光磁気記録媒体に記録さ
れている信号を読み取るためのピックアップ、特に詳細
にはライトガイドを用いて小型軽量に形成されうるピッ
クアップに関するものである。
The present invention relates to a pickup for reading a signal recorded on a magneto-optical recording medium such as a magneto-optical disk, and more particularly, it is small and lightweight using a light guide. The present invention relates to a pickup that can be formed in the.

(従来の技術) 近時、画像信号や音声信号等の記録媒体として、光磁気
ディスク等の光磁気記録媒体が広く実用に供されてい
る。この光磁気記録媒体に磁化の向きの形で記録されて
いる信号は、光学式のピックアップによって読み取られ
る。このピックアップは、例えばレーザ光等の直線偏光
光を光磁気記録媒体表面に照射し、該記録媒体において
反射した光の偏光面が磁化の向きに対応して回転する現
象(磁気カー効果)を利用して、記録媒体上の磁化の向
きを検出するようにしたものである。
(Prior Art) Recently, a magneto-optical recording medium such as a magneto-optical disk has been widely put into practical use as a recording medium for image signals and audio signals. A signal recorded in the direction of magnetization on this magneto-optical recording medium is read by an optical pickup. This pickup utilizes a phenomenon (a magnetic Kerr effect) in which the surface of a magneto-optical recording medium is irradiated with linearly polarized light such as laser light, and the plane of polarization of the light reflected by the recording medium rotates in accordance with the direction of magnetization. Then, the direction of magnetization on the recording medium is detected.

具体的にこの光磁気記録媒体用ピックアップにおいて
は、記録媒体からの反射光を検光子を通して光検出器に
より検出し、該反射光の偏光面回転に応じて検出光量が
変化することを利用して上記磁化の向き、すなわち記録
情報を読み取るようにしている。またこのピックアップ
においては、上述のようにして記録情報読取りを行なう
とともに、トラッキングエラー検出、つまり磁化状態検
出のための光ビームが所定のグルーブに沿ったトラック
の中心から左右どちら側にずれて照射されているかを検
出するための機能、およびフォーカスエラー検出、つま
り上記光ビームの焦点が光磁気記録媒体の反射面よりも
近くにあるかあるいは遠くにあるかを検出するための機
能を備えることが求められる。すなわちこのトラッキン
グエラー、フォーカスエラーの検出信号は、該信号が打
ち消されるようにトラッキング制御、フォーカス制御を
かけて、光ビームを所定のトラックに正しく照射するた
め、また該光ビームを光磁気記録媒体の反射面上で正し
く合焦させるために利用される。なお従来より、トラッ
キングエラー検出方法としてプッシュプル法、ヘテロダ
イン法、時間差検出法等が知られており、一方フォーカ
スエラー検出方法としては、非点収差法、臨界角検出
法、フーコー法等が知られている。
Specifically, in this magneto-optical recording medium pickup, by utilizing the fact that the reflected light from the recording medium is detected by a photodetector through an analyzer and the detected light amount changes according to the rotation of the polarization plane of the reflected light. The magnetization direction, that is, the recorded information is read. Further, in this pickup, the recording information is read as described above, and the light beam for tracking error detection, that is, for detecting the magnetized state is emitted while deviating to the left or right side from the center of the track along the predetermined groove. And a function for detecting focus error, that is, a function for detecting whether the focus of the light beam is closer or farther than the reflecting surface of the magneto-optical recording medium. To be That is, the tracking error and focus error detection signals are subjected to tracking control and focus control so that the signals are canceled so that the light beam is correctly irradiated to a predetermined track, and the light beam is applied to the magneto-optical recording medium. Used to focus properly on the reflective surface. Conventionally, push-pull method, heterodyne method, time difference detection method, etc. are known as tracking error detection methods, while astigmatism method, critical angle detection method, Foucault method, etc. are known as focus error detection methods. ing.

信号読取機能に加えて上述のような機能を備えるために
従来の光磁気記録媒体用ピックアップは、光磁気記録媒
体において反射したビームを、該媒体に向けて照射され
ている光ビームから分離するためのビームスプリッタ
や、この反射ビームをフォトダイオード等の光検出器の
近傍で集束させるためのレンズや、前述の検光子や、さ
らには上記トラッキングエラー検出方法およびフォーカ
スエラー検出方法を実行するためのプリズム等の微小光
学素子から構成されていた。
In order to have the above-described function in addition to the signal reading function, the conventional magneto-optical recording medium pickup separates the beam reflected by the magneto-optical recording medium from the light beam emitted toward the medium. Beam splitter, a lens for focusing the reflected beam in the vicinity of a photodetector such as a photodiode, the analyzer described above, and a prism for executing the tracking error detection method and the focus error detection method. And the like.

(発明が解決しようとする問題点) しかし上記のような微小光学素子は精密な加工を要し、
またピックアップ組立てに際しての相互の位置調整も面
倒であるので、このような光学素子を用いるピックアッ
プは必然的に高価なものとなっていた。さらにこのよう
な構成のピックアップは、大型で重いものとなるので、
読取装置の小型軽量化や、アクセスタイム短縮化の点で
不利なものとなっていた。特に、読取信号のS/N向上の
ために差動検出を実行する場合には、反射ビームを2本
に分割するためのハーフミラー等が必要になり、その上
差動検出光学系によっては検光子を2個必要とすること
もあるので、ピックアップはより一層複雑化し、大型で
重いものとなる。
(Problems to be solved by the invention) However, the minute optical element as described above requires precise processing,
Further, since it is troublesome to adjust the mutual positions when assembling the pickup, a pickup using such an optical element is inevitably expensive. Furthermore, since the pickup with such a configuration is large and heavy,
It is disadvantageous in terms of downsizing and weight saving of the reading device and shortening of access time. In particular, when performing differential detection in order to improve the S / N of the read signal, a half mirror for splitting the reflected beam into two beams is required. Since it may require two photons, the pickup becomes even more complex, bulky and heavy.

上記の不具合を解消するため従来より、例えば非球面レ
ンズ等の特殊な光学素子を用いてピックアップの構成を
簡素化する試みも種々なされている。しかしこの種の光
学素子は特に高価であるので、このような素子を用いる
ピックアップは、構成は簡素化されても、コストの点で
は前述のようなピックアップとさほど変わり無いものと
なっている。
In order to solve the above problems, various attempts have conventionally been made to simplify the structure of the pickup by using a special optical element such as an aspherical lens. However, since an optical element of this kind is particularly expensive, a pickup using such an element has a structure similar to that of the above-mentioned pickup in terms of cost.

本発明は上記のような事情に鑑みてなされたものであ
り、小型軽量で、しかも極めて安価に形成されうる光磁
気記録媒体用ピックアップを提供することを目的とする
ものである。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a pickup for a magneto-optical recording medium which is small in size and light in weight and can be formed at an extremely low cost.

(問題点を解決するための手段) 本発明の光磁気記録媒体用ピックアップは、先に述べた
ビームスプリッタ、レンズ、プリズム、検光子、さらに
は差動検出を実行するためのハーフミラーなどが果たす
作用を、集光性回折格子および一軸異方性結晶からなる
透光部材を備えたライトガイドによって得るようにした
ものであり、具体的には、 光ディスク等の光磁気記録媒体の表面に直線偏光した光
ビームを照射する光源と、上記光ビームを光磁気記録媒
体の反射面上で集束させる対物レンズと、光磁気記録媒
体で反射した反射ビームを一表面で受けるような向きに
配置されたライトガイドとを設け、 このライトガイドの反射ビーム照射位置には、それぞれ
上記反射ビームを該ライトガイド内に入射させる第1,第
2の集光性回折格子を並設し、 上記第1,第2の集光性回折格子は、ライトガイドを照射
する反射ビームの略中心を通りかつ該ライトガイドの表
面上をトラッキング方向に略直角に延びる軸をはさんで
並び、それぞれが上記反射ビームを前記一表面とそれに
対向する他表面との間で全反射を繰り返して端面側に進
行する向きで該ライトガイド内に入射させ、そして該ラ
イトガイド内を進行する反射ビームを上記軸をはさんで
互いに離れた位置に各々集束させるように形成し、 一方ライトガイド内には、上述のように全反射を繰り返
して進行する反射ビームの光路部分において、該ビーム
の進行方向に対して斜めのビーム通過面を有して、この
反射ビームのP偏光成分、S偏光成分を互いに別の光路
に分岐させる一軸異方性結晶からなる透光部材を配置
し、 また上記ライトガイドの表面あるいは端面に、少なくと
も上記第1および第2の集光性回折格子により集束され
た各反射ビームのP偏光成分またはS偏光成分を検出す
る光検出器を取り付け、 さらにこれらの光検出器の出力に基づいてトラッキング
エラーとフォーカスエラー検出を行なうエラー検出回路
と、 上記光検出器の出力に基づいて記録情報を検出する信号
検出回路とを設けてなるものである。
(Means for Solving the Problems) The pickup for a magneto-optical recording medium of the present invention is achieved by the beam splitter, the lens, the prism, the analyzer, and the half mirror for performing the differential detection described above. The function is obtained by a light guide provided with a light-transmitting member made of a converging diffraction grating and a uniaxial anisotropic crystal. Specifically, linearly polarized light is applied to the surface of a magneto-optical recording medium such as an optical disk. A light source for irradiating the light beam, an objective lens for focusing the light beam on the reflecting surface of the magneto-optical recording medium, and a light arranged so that the reflected beam reflected by the magneto-optical recording medium is received on one surface. A guide is provided, and at the reflection beam irradiation position of the light guide, first and second converging diffraction gratings for respectively injecting the reflection beam into the light guide are arranged in parallel, The first and second converging diffraction gratings are arranged on both sides of an axis that passes through substantially the center of the reflected beam illuminating the light guide and extend on the surface of the light guide at a substantially right angle to the tracking direction. The reflected beam is made to enter the light guide in such a direction that the total reflection is repeated between the one surface and the other surface opposite to the one surface, and the light is guided to the end face side. The light guides are formed so as to be focused at positions separated from each other, while in the light guide, in the optical path portion of the reflected beam that repeats total reflection as described above, with respect to the traveling direction of the beam. A light-transmitting member made of a uniaxial anisotropic crystal that has an oblique beam passing surface and branches the P-polarized component and the S-polarized component of this reflected beam into different optical paths from each other is arranged. A photodetector for detecting the P-polarized component or the S-polarized component of each reflected beam focused by the first and second converging diffraction gratings is attached to the surface or end face of the photodetector. An error detection circuit for detecting a tracking error and a focus error based on the output, and a signal detection circuit for detecting recording information based on the output of the photodetector are provided.

上記集光性回折格子は、曲りとチャープ、または曲りを
有する回折格子であり、入射光を回折してライトガイド
内に入射させ、またこの回折された光を集束させる。
The condensing diffraction grating is a diffraction grating having a bend and a chirp, or a bend, diffracts incident light to enter the light guide, and focuses the diffracted light.

(作用) 光磁気記録媒体からの反射ビームを上記の集光性回折格
子によってライトガイド内に取り込むことにより、該反
射ビームは光源から光磁気記録媒体に向かう光ビームの
光路から分離される。これは前述のビームスプリッタが
果たす作用と同じである。また集光性回折格子はライト
ガイド内で反射ビームを集束させるが、これは前述のレ
ンズが果たす作用と同じである。さらに第1および第2
の集光性回折格子が2個前述のような位置に配されてい
るから、光磁気記録媒体からの反射ビームは互いにトラ
ッキング方向に分離されて2箇所で集束する。これは前
述のプリズムが果たす作用と同じである。
(Operation) The reflected beam from the magneto-optical recording medium is taken into the light guide by the converging diffraction grating, so that the reflected beam is separated from the optical path of the light beam traveling from the light source to the magneto-optical recording medium. This is the same as the function performed by the beam splitter described above. Also, the converging diffraction grating focuses the reflected beam in the light guide, which is the same function as the lens described above. Further first and second
Since the two condensing diffraction gratings are arranged at the positions as described above, the reflected beams from the magneto-optical recording medium are separated from each other in the tracking direction and converge at two positions. This is the same as the function of the prism described above.

また一軸異方性結晶からなる透光部材により反射ビーム
をP偏光成分とS偏光成分とに分離させているから、例
えば第1および第2の集光性回折格子により集束された
各反射ビームのP偏光成分をそれぞれ検出する第1,第2
の光検出器と、第1および第2の集光性回折格子により
集束された各反射ビームのS偏光成分をそれぞれ検出す
る第3,第4の光検出器とを設ければ、互いに異なる偏光
成分のビームを検出する第1,第3の光検出器の各々の出
力は、反射ビームの偏光の向きに応じて相補的に変化す
る。また、第2,第4の光検出器の各々の出力についても
同様である。したがって例えば、上記第1,第2の光検出
器の出力の和と、第3,第4の光検出器の出力の和との差
を差動検出回路で検出すれば、反射ビームの偏光の向
き、つまり光磁気記録媒体の記録情報が読み取れること
になる。これにより、差動検出光学系を設けて差動検出
を行なう場合と同様に、S/Nの高い読取信号を得ること
ができる。すなわち上記透光部材により、前述のハーフ
ミラー等が果たすビーム分割作用が得られるとともに、
前述の検光子が果たす作用が得られる。
Further, since the reflected beam is separated into the P-polarized component and the S-polarized component by the light-transmitting member made of the uniaxial anisotropic crystal, for example, the reflected beams focused by the first and second converging diffraction gratings are separated. First and second detection of P polarization component respectively
And the third and fourth photodetectors for detecting the S-polarized components of the reflected beams focused by the first and second condensing diffraction gratings, respectively, different polarizations can be obtained. The output of each of the first and third photodetectors for detecting the component beam changes complementarily depending on the polarization direction of the reflected beam. The same applies to the outputs of the second and fourth photodetectors. Therefore, for example, if the differential detection circuit detects the difference between the sum of the outputs of the first and second photodetectors and the sum of the outputs of the third and fourth photodetectors, the polarization of the reflected beam The direction, that is, the recorded information on the magneto-optical recording medium can be read. As a result, a read signal with a high S / N can be obtained as in the case where the differential detection optical system is provided and differential detection is performed. That is, the above-mentioned translucent member provides the beam splitting function achieved by the above-mentioned half mirror and the like,
The function of the analyzer described above is obtained.

(実施例) 以下、図面に示す実施例に基づいて本発明を詳細に説明
する。
(Example) Hereinafter, the present invention will be described in detail based on an example shown in the drawings.

第1図は本発明の第1実施例による光磁気記録媒体用ピ
ックアップを示すものであり、第2図はこのピックアッ
プのライトガイドの平面形状と電気回路を示すものであ
る。第1図に示されるようにこのピックアップは、紙面
に略垂直な方向に延びるロッド11,11に沿って移動自在
とされたブロック12を有している。このブロック12は所
定のグループに沿った信号列(トラック)に追随するた
めに、例えば精密送りネジと光学系送りモータ等によ
り、上記トラックの方向(ビーム照射位置において矢印
U方向)に直角な方向、あるいはそれに近い方向に移動
されるようになっている。
FIG. 1 shows a pickup for a magneto-optical recording medium according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows a plan view of a light guide of this pickup and an electric circuit. As shown in FIG. 1, this pickup has a block 12 which is movable along rods 11 extending in a direction substantially perpendicular to the plane of the drawing. In order to follow the signal train (track) along a predetermined group, this block 12 is driven by, for example, a precision feed screw and an optical system feed motor, in a direction perpendicular to the direction of the track (direction of arrow U at the beam irradiation position). Or, it is designed to be moved in a direction close to it.

上記ブロック12には、光磁気ディスク13の反射面14に向
けて直線偏光した光ビーム(レーザビーム)15を発する
半導体レーザ16と、該半導体レーザ16から発せられた発
散ビームを平行ビームにするコリメータレンズ17と、平
行ビームとされた光ビーム15を上記反射面14上で集束さ
せる対物レンズ18とが取り付けられている。この対物レ
ンズ18は後に詳述するトラッキング制御、フォーカス制
御のために、トラッキング方向(矢印U方向に直角な方
向)およびフォーカス方向(矢印V方向)に移動可能に
支持され、トラッキングコイル19、フォーカスコイル20
によりそれぞれ上記の方向に移動されるようになってい
る。
The block 12 includes a semiconductor laser 16 that emits a linearly polarized light beam (laser beam) 15 toward a reflecting surface 14 of a magneto-optical disk 13, and a collimator that converts a divergent beam emitted from the semiconductor laser 16 into a parallel beam. A lens 17 and an objective lens 18 that focuses a collimated light beam 15 on the reflecting surface 14 are attached. The objective lens 18 is movably supported in the tracking direction (direction perpendicular to the arrow U direction) and the focus direction (direction V) for tracking control and focus control, which will be described in detail later. 20
Are moved in the above directions respectively.

上記コリメータレンズ17と対物レンズ18との間には、光
磁気ディスク13で反射した反射ビーム15′を表面29aで
受けるような向きにして、例えば光学ガラスからなる平
板状のライトガイド29が配置されている。また上記反射
ビーム15′が照射される位置においてライトガイド29の
表面29aには、第1,第2の集光性回折格子(Focusing Gr
ating:以下、FGと称する)31,32が相隣接して設けられ
ている(第2図参照)。これらのFG31,32は曲りとチャ
ープ、あるいは曲りを有する回折格子であり、それぞれ
が反射ビーム15′を回折させてライトガイド29内に入射
させ、該ライトガイド29内をその一表面29aと他表面29b
との間で全反射を繰り返して端面側に進行させ、そして
このライトガイド29内の一点で集束させるように形成さ
れている。第1,第2のFG31,32は、前述のトラッキング
方向に対して直角で反射ビーム15′のほぼ中心を通るラ
イトガイド29上の軸(第2図のy軸)をはさんで並設さ
れ、またそれぞれがこのy軸をはさんで互いに離れた位
置に反射ビーム15′を集束させるように形成されてい
る。
Between the collimator lens 17 and the objective lens 18, a flat light guide 29 made of, for example, optical glass is arranged so that the reflected beam 15 'reflected by the magneto-optical disk 13 is received by the surface 29a. ing. The surface 29a of the light guide 29 at the position irradiated with the reflected beam 15 'has first and second focusing diffraction gratings (Focusing Gr).
ating: hereinafter referred to as FG) 31, 32 are provided adjacent to each other (see FIG. 2). These FGs 31 and 32 are diffraction gratings having bends and chirps, or bends, and each diffracts the reflected beam 15 ′ and makes it enter the light guide 29, and inside the light guide 29, its one surface 29a and the other surface. 29b
The light guide 29 is formed so as to be repeatedly reflected to the end face side and then focused at one point in the light guide 29. The first and second FGs 31 and 32 are arranged side by side with an axis (y-axis in FIG. 2) on the light guide 29 that passes through the center of the reflected beam 15 'at a right angle to the tracking direction. Further, each is formed so as to focus the reflected beam 15 'at positions apart from each other across the y-axis.

そしてライトガイド29は第2図を示すように、反射ビー
ム15′の直線偏光方向(矢印H方向)とx軸とがなす角
度φが略45°になる向きに配置されている。なお反射ビ
ーム15′の直線偏光の向きは、光磁気ディスク13におけ
る磁化の向きに対応して回転するので、本例において
は、磁化されていない部分で反射した反射ビーム15′の
直線偏光の向きを基準とし、この向きとx軸とが45°の
角度をなすようにしている。なおFG31,32は、ライトガ
イド29の表面29aとは反対側の表面29bに設けられてもよ
い。
As shown in FIG. 2, the light guide 29 is arranged so that the angle φ formed by the linear polarization direction (direction of arrow H) of the reflected beam 15 'and the x-axis becomes approximately 45 °. Since the direction of the linearly polarized light of the reflected beam 15 ′ rotates in correspondence with the direction of the magnetization of the magneto-optical disk 13, in this example, the direction of the linearly polarized light of the reflected beam 15 ′ reflected by the non-magnetized portion. With this as a reference, this direction and the x-axis form an angle of 45 °. The FGs 31 and 32 may be provided on the surface 29b of the light guide 29 opposite to the surface 29a.

上記のような作用を果たすFG31,32のm番目の格子パタ
ーン形状式は、空間座標を第2図図示のx軸(トラッキ
ング方向軸)とy軸、およびこれらの軸の交点を通り両
軸と直角なz軸とによって規定してFG31,32によるビー
ム集束位置(第1図に点Kで示すように、ライトガイド
29内における全反射と透光部材22による屈折が無い場合
の集束位置とする)の座標をそれぞれ(−Fx,Fy,Fz)、
(Fx,Fy,Fz)とし、ライトガイド29の屈折率をn1とし、
そして反射ビーム15′の光波長をλとすると、 で与えられる。
The m-th lattice pattern shape formula of the FG31, 32, which performs the above-mentioned action, has the spatial coordinates of both axes passing through the x-axis (tracking direction axis) and the y-axis shown in FIG. 2 and the intersection of these axes. The beam focusing position by FG31,32 defined by the right-angled z-axis (as shown by point K in FIG.
The coordinates of the total reflection within 29 and the focusing position when there is no refraction due to the translucent member 22) are (−Fx, Fy, Fz),
(Fx, Fy, Fz), the refractive index of the light guide 29 is n 1 ,
And if the light wavelength of the reflected beam 15 'is λ, Given in.

上記FG31,32は、ライトガイド29上にSi−NをPCVDにて
製膜し、電子ビーム直接描画によりレジストパターンを
形成した後、RIEでSi−N膜に転写する、等の方法によ
って形成することができる。
The FGs 31 and 32 are formed by a method such as forming a film of Si-N on the light guide 29 by PCVD, forming a resist pattern by electron beam direct writing, and then transferring the resist pattern to the Si-N film by RIE. be able to.

ライトガイド29内には、一軸異方性結晶であるTiO2から
なる透光部材22が配設されている。なお、ライトガイド
29と一軸異方性結晶間の界面には、無反射コーティング
がされているのが望ましい。この透光部材22は、第1の
FG31によって集光される反射ビーム15′と、第2のFG32
によって集光される反射ビーム15′の双方が通過しうる
ように例えばライトガイド29の全幅に亘る長さを有して
いる。またこの透光部材22は、その光学軸が第1図の紙
面に垂直な方向(第2図中のx軸方向)に延びる向きに
配されている。またこの透光部材22は、上記反射ビーム
15′の進行方向に対して斜めのビーム通過面22a,22bを
有する形状とされている。したがってこの透光部材22を
通過する反射ビーム15′は第1図図示のように屈折する
が、本例では異常光に対する屈折率neが常光に対する屈
折率noよりも大きい(波長633nmの光に対してne=2.87
2、no=2.584)TiO2によって透光部材22が形成されてい
るので、反射ビーム15′のS偏光成分15SはP偏光成分1
5Pよりも大きく屈折し、これらの成分15S、15Pは互いに
分離して集束する。またライトガイド29には、上述のよ
うにして4系統に分離された反射ビーム15′の各集束位
置に沿って拡がるように斜めにカットされた端面29cが
設けられている。そしてこの端面29c上には、上記4系
統の反射ビーム15′のうち第1,第2のFG31,32により集
束されたP偏光成分15Pをそれぞれ検出する第1,第2の
光検出器24,25および、第1,第2のFG31,32により集束さ
れたS偏光成分15Sをそれぞれ検出する第3,第4の光検
出器26,27が取り付けられている。第1の光検出器24
は、y軸を通りライトガイド表面29aに垂直な面と平行
に延びるギャップで2分割されたフォトダイオードPD1,
PD2からなり、その他の光検出器25,26および27もそれぞ
れ同様のフォトダイオードPD3とPD4,PD5とPD6およびPD7
とPD8からなる。
Inside the light guide 29, the translucent member 22 made of TiO 2 which is a uniaxial anisotropic crystal is arranged. In addition, light guide
An antireflection coating is preferably applied to the interface between 29 and the uniaxially anisotropic crystal. This translucent member 22 is
The reflected beam 15 'condensed by the FG31 and the second FG32
It has, for example, a length that spans the entire width of the light guide 29 so that both reflected beams 15 'focused by can pass through. Further, the light transmitting member 22 is arranged so that its optical axis extends in a direction perpendicular to the paper surface of FIG. 1 (x-axis direction in FIG. 2). Further, this translucent member 22 is
It has a shape having beam passing surfaces 22a and 22b which are oblique with respect to the traveling direction of 15 '. Therefore, the reflected beam 15 'passing through the translucent member 22 is refracted as shown in FIG. 1, but in this example, the refractive index n e for extraordinary light is larger than the refractive index n o for ordinary light (light of wavelength 633 nm). Against n e = 2.87
2, n o = 2.584) Since the light-transmitting member 22 is formed of TiO 2 , the S-polarized component 15S of the reflected beam 15 ′ is the P-polarized component 1
Refracting more than 5P, these components 15S, 15P separate and focus from each other. Further, the light guide 29 is provided with an end face 29c that is obliquely cut so as to spread along each focusing position of the reflected beam 15 'separated into four systems as described above. Then, on the end face 29c, the first and second photodetectors 24, which detect the P-polarized component 15P focused by the first and second FGs 31, 32 of the reflected beams 15 'of the above four systems, respectively. 25 and third and fourth photodetectors 26 and 27 for detecting the S-polarized component 15S focused by the first and second FGs 31 and 32, respectively, are attached. First photodetector 24
Is a photodiode PD1, which is divided into two by a gap that extends parallel to a plane that passes through the y-axis and is perpendicular to the light guide surface 29a.
It consists of PD2 and the other photodetectors 25, 26 and 27 are similar photodiodes PD3 and PD4, PD5 and PD6 and PD7, respectively.
And PD8.

フォトダイオードPD1は一例として第3図に詳しく示す
ように、ライトガイド29上に下部透明電極28a、薄膜状
光導電性材料28b、および上部電極28cをこの順に装荷し
て形成されたものである。そして下部透明電極28aと上
部電極28cとの間には、電源28dから所定の電界が印加さ
れる。この構成のフォトダイオードPD1においては、光
導電性材料28bが光照射を受けるとその光量に応じた光
電流が流れる。したがって、端子28eにおける電位変化
を検出すれば、光導電性材料28bの受光光量を検出する
ことができる。フォトダイオードPD2〜8も、フォトダ
イオードPD1と同様に形成されている。なお薄膜状光導
電性材料28bは、例えばIV族のSi、Ge、IV族のSe、III-V
族のGaAs、II-VI族のZnO、CdS、IV-VI族のPbS等のエピ
タキシャル膜、多結晶体膜、非晶質膜等から形成可能で
あり、また非晶質カルコゲン膜(a-Se、a-Se-As-Teな
ど)、非晶質Siを主体とし水素および/またはフッ素を
含む膜(a-Si:H、a-SiGe:H、a-SiC:Hなど)にIII族、V
族の原子(B、Pなど)を添加することによりpn接合、
p-i-n接合を得てフォトダイオードを形成する膜、前記
非晶質Siを主体とし水素および/またはフッ素を含む膜
とショットキー接合を構成する電極を用いてフォトダイ
オードを形成する膜等から形成することもできる。
As shown in detail in FIG. 3 as an example, the photodiode PD1 is formed by loading a lower transparent electrode 28a, a thin film photoconductive material 28b, and an upper electrode 28c on a light guide 29 in this order. Then, a predetermined electric field is applied from the power source 28d between the lower transparent electrode 28a and the upper electrode 28c. In the photodiode PD1 having this structure, when the photoconductive material 28b is irradiated with light, a photocurrent corresponding to the amount of light flows. Therefore, the amount of light received by the photoconductive material 28b can be detected by detecting the potential change at the terminal 28e. The photodiodes PD2 to 8 are also formed similarly to the photodiode PD1. The thin film photoconductive material 28b is, for example, Group IV Si, Ge, Group IV Se, III-V.
Group GaAs, II-VI group ZnO, CdS, IV-VI group PbS, etc. epitaxial films, polycrystalline films, amorphous films, etc. can be formed, and amorphous chalcogen film (a-Se , A-Se-As-Te, etc.), films containing amorphous Si as a main component and containing hydrogen and / or fluorine (a-Si: H, a-SiGe: H, a-SiC: H, etc.) in Group III, V
By adding a group atom (B, P, etc.), a pn junction,
A film that forms a photodiode by obtaining a pin junction, a film that forms a photodiode by using an electrode that forms a Schottky junction with the above-mentioned amorphous Si-based film that contains hydrogen and / or fluorine, etc. You can also

また、端面29cに外分フォトダイオードを密着させて接
着させてもよい。この場合、端面29cに無反射コーティ
ングするのが望ましい。
Further, the external photodiode may be closely adhered to the end face 29c to be adhered thereto. In this case, it is desirable that the end face 29c be non-reflection coated.

第2図に示すように、反射ビーム15′のP偏光成分を検
出するフォトダイオードPD1とPD2、そしてPD3とPD4の出
力はそれぞれ加算アンプ34,35で加算され、一方S偏光
成分を検出するフォトダイオードPD5とPD6、そしてPD7
とPD8の出力はそれぞれ加算アンプ36,37で加算され、こ
れら加算アンプ34と35の出力、および加算アンプ36と37
の出力はそれぞれ加算アンプ38,39によって加算され
る。またこれらの加算アンプ38と39の出力は差動アンプ
40に入力され、この差動アンプ40の出力D1は読取回路41
に入力される。
As shown in FIG. 2, the outputs of the photodiodes PD1 and PD2, which detect the P-polarized component of the reflected beam 15 ', and the outputs of PD3 and PD4, are added by summing amplifiers 34 and 35, respectively, while the photodiodes that detect the S-polarized component are detected. Diodes PD5 and PD6, and PD7
And the outputs of PD8 are added by summing amplifiers 36 and 37, respectively, and the outputs of these summing amplifiers 34 and 35 and summing amplifiers 36 and 37 are added.
The outputs of are added by adding amplifiers 38 and 39, respectively. The outputs of these summing amplifiers 38 and 39 are differential amplifiers.
40, and the output D1 of the differential amplifier 40 is read by the reading circuit 41.
Entered in.

一方第1のFG31で集束された反射ビーム15′を検出する
第1,第3の光検出器24,26の各々の外側のフォトダイオ
ードPD1とPD5の出力は加算アンプ42で加算され、内側の
フォトダイオードPD2とPD6の出力は加算アンプ43で加算
される。また第2のFG32で集束された反射ビーム15′を
検出する第2,第4の光検出器25,27の各々の外側のフォ
トダイオードPD4とPD8の出力は加算アンプ45で加算さ
れ、内側のフォトダイオードPD3とPD7の出力は加算アン
プ44で加算される。そして上記加算アンプ42,43の出力
は加算アンプ46で加算され、加算アンプ44,45の出力は
加算アンプ47で加算される。一方加算アンプ42,45の出
力は加算アンプ48で加算され、加算アンプ43,44の出力
は加算アンプ49で加算される。また上記加算アンプ46,4
7の出力は差動アンプ50に入力され、加算アンプ48,49の
出力は差動アンプ51に入力される。そして上記差動アン
プ50,51の出力D2,D3はそれぞれ、トラッキングコイル駆
動制御回路52、フォーカスコイル駆動制御回路53に入力
される。
On the other hand, the outputs of the photodiodes PD1 and PD5 on the outside of each of the first and third photodetectors 24 and 26 for detecting the reflected beam 15 'focused by the first FG31 are added by the summing amplifier 42, and The outputs of the photodiodes PD2 and PD6 are added by the adding amplifier 43. The outputs of the photodiodes PD4 and PD8 on the outside of the second and fourth photodetectors 25 and 27 for detecting the reflected beam 15 'focused by the second FG 32 are added by the adding amplifier 45, and The outputs of the photodiodes PD3 and PD7 are added by the adding amplifier 44. The outputs of the addition amplifiers 42 and 43 are added by the addition amplifier 46, and the outputs of the addition amplifiers 44 and 45 are added by the addition amplifier 47. On the other hand, the outputs of the addition amplifiers 42 and 45 are added by the addition amplifier 48, and the outputs of the addition amplifiers 43 and 44 are added by the addition amplifier 49. Also, the above summing amplifier 46,4
The output of 7 is input to the differential amplifier 50, and the outputs of the summing amplifiers 48 and 49 are input to the differential amplifier 51. The outputs D2 and D3 of the differential amplifiers 50 and 51 are input to the tracking coil drive control circuit 52 and the focus coil drive control circuit 53, respectively.

次に、上記構成のピックアップの作動ついて説明する。
半導体レーザ16から発せられ平行ビームとされた光ビー
ム(レーザビーム)15はライトガイド29を透過し、光磁
気ディスク13の反射面14上で合焦するように対物レンズ
18によって集束される。光磁気ディスク13は図示しない
回転駆動手段により、上記光ビーム15の照射位置におい
てトラックが矢印U方向に移動するように回転される。
周知の通り上記トラックは、磁化の向き(第1図におい
て反射面14の上側に矢印で示す)の形で記録された画像
信号や音声信号等の列であり、光磁気ディスク13からの
反射ビーム15′の直線偏光の向きは、磁化されていない
部分からの反射ビーム15′の直線偏光の向きと比べる
と、磁化の向きに応じて互いに反対方向に回転する。つ
まりある方向に磁化している部分からの反射ビーム15′
の偏光の向きは、第2図の矢印Hで示す偏光方向から時
計方向に回転し、それとは反対方向に磁化している部分
からの反射ビーム15′の偏光の向きは、上記矢印Hで示
す偏光方向から反時計方向に回転する。
Next, the operation of the pickup having the above structure will be described.
The light beam (laser beam) 15 emitted from the semiconductor laser 16 and converted into a parallel beam passes through the light guide 29 and is focused on the reflecting surface 14 of the magneto-optical disk 13 so as to be focused.
Focused by 18. The magneto-optical disk 13 is rotated by a rotation driving means (not shown) so that the track moves in the arrow U direction at the irradiation position of the light beam 15.
As is well known, the track is a train of image signals and audio signals recorded in the direction of magnetization (indicated by an arrow above the reflecting surface 14 in FIG. 1). The directions of linear polarization of 15 'rotate in opposite directions depending on the direction of magnetization as compared to the direction of linear polarization of the reflected beam 15' from the unmagnetized portion. That is, the reflected beam 15 'from the part magnetized in a certain direction
The direction of polarization of the reflected beam 15 'rotated from the polarization direction shown by the arrow H in FIG. 2 is clockwise, and the direction of polarization of the reflected beam 15' from the portion magnetized in the opposite direction is shown by the arrow H above. It rotates counterclockwise from the polarization direction.

この反射ビーム15′は対物レンズ18を通過し、FG31,32
において回折してライトガイド29内に入射する。ライト
ガイド29内に入射した反射ビーム15′は、その一表面29
aと他表面29bとの間で全反射を繰り返して進行し、FG3
1,32それぞれのビーム集束作用により、y軸をはさんだ
位置で集束するようになる。ここで、先に述べたように
透光部材22を透過した各反射ビーム15′は、各々P偏光
成分15P、S偏光成分15Sに分離される。このP偏光成分
15Pはそれぞれ第1の光検出器24(フォトダイオードPD1
とPD2)、第2の光検出器25(フォトダイオードPD3とPD
4)によって検出され、一方S偏光成分15Sはそれぞれ第
3の光検出器26(フォトダイオードPD5とPD6)、第4の
光検出器27(フォトダイオードPD7とPD8)によって検出
される。ここで、反射ビーム15′の直線偏光の向きが矢
印Hで示す方向よりも時計方向に回転すれば、ライトガ
イド29内を進行する反射ビーム15′のP偏光成分15Pが
増大する一方、S偏光成分15Sが減少する。反射ビーム1
5′の直線偏光の向きが矢印H方向よりも反時計方向に
回転すれば、上記の逆となる。上記のようにP偏光成分
が増大すれば、加算アンプ38の出力が大きくなる一方、
加算アンプ39の出力が低下する。S偏光成分15Sが増大
するときは、その逆である。したがって、例えば加算ア
ンプ38,39のゲインを適当に設定すれば、反射ビーム1
5′の直線偏光の向きが第2図の矢印Hで示す方向より
時計方向に回転しているときは差動アンプ40の出力を+
(プラス)とし、反対に反時計方向に回転しているとき
は差動アンプ40の出力を−(マイナス)とすることがで
きる。こうして差動アンプ40の出力D1を判別することに
より、光磁気ディスク13上の磁化の向き、つまり記録情
報を読み取ることができる。
This reflected beam 15 'passes through the objective lens 18 and
The light is diffracted at and enters the light guide 29. The reflected beam 15 'incident on the light guide 29 has one surface 29
Repeats total reflection between a and the other surface 29b to proceed to FG3
The beam focusing action of each of 1,32 causes the beam to be focused at a position sandwiching the y axis. Here, as described above, each reflected beam 15 'transmitted through the translucent member 22 is separated into a P-polarized component 15P and an S-polarized component 15S. This P polarization component
15P is the first photodetector 24 (photodiode PD1
And PD2), the second photodetector 25 (photodiodes PD3 and PD
4), while the S-polarized component 15S is detected by the third photodetector 26 (photodiodes PD5 and PD6) and the fourth photodetector 27 (photodiodes PD7 and PD8), respectively. Here, if the direction of the linearly polarized light of the reflected beam 15 'rotates clockwise relative to the direction indicated by the arrow H, the P-polarized component 15P of the reflected beam 15' traveling in the light guide 29 increases, while the S-polarized component of the S-polarized light increases. The component 15S is reduced. Reflected beam 1
If the direction of the linearly polarized light of 5'rotates counterclockwise as compared with the direction of arrow H, the above is reversed. When the P-polarized component increases as described above, the output of the adding amplifier 38 increases,
The output of the summing amplifier 39 decreases. The opposite is true when the S polarization component 15S increases. Therefore, for example, if the gains of the summing amplifiers 38 and 39 are set appropriately, the reflected beam 1
When the direction of the 5'linearly polarized light is rotating clockwise from the direction shown by the arrow H in FIG. 2, the output of the differential amplifier 40 is +
When the counterclockwise rotation is made, the output of the differential amplifier 40 can be made negative (-). By discriminating the output D1 of the differential amplifier 40 in this way, the direction of magnetization on the magneto-optical disk 13, that is, the recorded information can be read.

第1〜第4の光検出器24,25,26,27が出力する光検出信
号には、例えば半導体レーザ16の光強度変動によるノイ
ズ、光磁気ディスク13の記録磁性膜の反射率の変動や結
晶粒に起因するノイズ等が含まれることが多い。これら
のノイズ成分は第1〜第4の光検出器24,25,26,27の各
出力において互いに同相となるので、上述のような信号
成分の差動検出を行なうことにより、これらのノイズ成
分が打ち消され、S/Nの高い読取信号D1を得ることがで
きる。
The photodetection signals output from the first to fourth photodetectors 24, 25, 26, 27 include, for example, noise due to variations in the light intensity of the semiconductor laser 16, variations in the reflectance of the recording magnetic film of the magneto-optical disk 13, and Noise and the like due to crystal grains are often included. Since these noise components are in phase with each other at the outputs of the first to fourth photodetectors 24, 25, 26, 27, by performing differential detection of the signal components as described above, these noise components Are canceled out, and a read signal D1 having a high S / N can be obtained.

なお上記例においては、第1および第2の光検出器24,2
5の出力を加算した信号と、第3および第4の光検出器2
6,27の出力を加算した信号との差を検出するようにして
いるが、光検出器24と26の出力信号の差、あるいは光検
出器25と27の出力信号の差を検出して信号読取りを行な
うことも可能である。さらには、光検出器24〜27のうち
の1つの光検出器の出力変動を検出して信号読取りを行
なうことも可能である。しかしその場合は、トラッキン
グエラーによって光検出器の出力が変動するので、この
変動による信号誤検出を防止するためには上記実施例に
おけるようにするのが好ましい。
In the above example, the first and second photodetectors 24,2
The signal obtained by adding the outputs of 5 and the third and fourth photodetectors 2
Although the difference between the output signals of 6 and 27 is detected, the signal is detected by detecting the difference between the output signals of photodetectors 24 and 26 or the difference between the output signals of photodetectors 25 and 27. It is also possible to read. Further, it is possible to detect the output fluctuation of one of the photodetectors 24-27 and read the signal. However, in that case, the output of the photodetector fluctuates due to the tracking error. Therefore, in order to prevent erroneous signal detection due to this fluctuation, it is preferable to adopt the above-mentioned embodiment.

また本例では、FG31,32に入射する反射ビーム15′の偏
光方向がx軸に対して略45°の角度をなし、透光部材22
を形成する一軸異方性結晶の光学軸がx軸と平行となる
ようにされているから、透光部材22に入射する反射ビー
ム15′の偏光方向は上記光学軸に対して略45°となる。
このような角度になっていれば、差動アンプ40から出力
される差動出力D1のレベルが最大となるので、記録信号
の読取りを精度良く行なう上で好ましい。
Also, in this example, the polarization direction of the reflected beam 15 'incident on the FGs 31 and 32 forms an angle of about 45 ° with respect to the x-axis, and
Since the optic axis of the uniaxial anisotropic crystal forming the is parallel to the x-axis, the polarization direction of the reflected beam 15 'incident on the translucent member 22 is approximately 45 ° with respect to the optic axis. Become.
With such an angle, the level of the differential output D1 output from the differential amplifier 40 is maximized, which is preferable for accurately reading the recording signal.

ブロック12は先に述べたように光学系送りモータの駆動
によって矢印U方向と直角な方向、あるいはそれに近い
方向に送られ、それにより光磁気ディスク13上の光ビー
ム15の照射位置(ディスク径方向位置)が変えられて、
記録信号が連続的に読み取られる。ここで上記光ビーム
15は、所定の信号列(トラック)の中心に正しく照射さ
れなければならない。以下、このように光ビーム15の照
射位置に正しく維持する制御、すなわちトラッキング制
御について説明する。反射ビーム15′の中心がちょうど
FG31とFG32との間に位置するとき、第1および第3の光
検出器24,26によって検出される光量と、第2および第
4の光検出器25,27によって検出される光量とが一致す
る。したがってこの場合は加算アンプ46と47の出力が等
しくなり、差動アンプ50の出力D2は0(ゼロ)となる。
一方光ビーム15の照射位置が不正になって、反射ビーム
15′の光強度分布が第2図中上方側に変位すると、第1
および第3の光検出器24,26の検出光量が、第2および
第4の光検出器25,27の検出光量を上回る。したがって
差動アンプ50の出力D2は+(プラス)となる。反対に反
射ビーム15′の光強度分布が第2図中下方側に変位する
と、差動アンプ50の出力D2は−(マイナス)となる。つ
まり差動アンプ40の出力D2は、トラッキングエラーの方
向(第2図のx軸方向)を示すものとなる。この出力D2
はトラッキングエラー信号としてトラッキングコイル駆
動制御回路52に送られる。なおこのようなフォトダイオ
ードPD1〜8の出力を処理してトラッキングエラーを検
出する方法は、プッシュプル法として従来から確立され
ているものである。トラッキングコイル駆動制御回路52
は上記トラッキングエラー信号D2を受け、該信号D2が示
すトラッキングエラーの方向に応じた電流Itをトラッキ
ングコイル19に供給し、このトラッキングエラーが解消
される方向に対物レンズ18を移動させる。それにより光
ビーム15は、常に信号列の中心に正しく照射されるよう
になる。
As described above, the block 12 is fed by the drive of the optical system feed motor in the direction perpendicular to the direction of the arrow U or in the direction close thereto, whereby the irradiation position of the light beam 15 on the magneto-optical disc 13 (the disc radial direction). Position) is changed,
The recording signal is continuously read. Where the above light beam
15 must be correctly illuminated in the center of a given signal train (track). Hereinafter, the control for properly maintaining the irradiation position of the light beam 15 in this way, that is, the tracking control will be described. The center of the reflected beam 15 'is just
When located between FG31 and FG32, the amount of light detected by the first and third photodetectors 24, 26 matches the amount of light detected by the second and fourth photodetectors 25, 27. To do. Therefore, in this case, the outputs of the summing amplifiers 46 and 47 become equal, and the output D2 of the differential amplifier 50 becomes 0 (zero).
On the other hand, the irradiation position of the light beam 15 becomes incorrect and the reflected beam
When the light intensity distribution of 15 'is displaced to the upper side in FIG.
The amount of light detected by the third and third photodetectors 24, 26 exceeds the amount of light detected by the second and fourth photodetectors 25, 27. Therefore, the output D2 of the differential amplifier 50 becomes + (plus). On the contrary, when the light intensity distribution of the reflected beam 15 'is displaced downward in FIG. 2, the output D2 of the differential amplifier 50 becomes-(minus). That is, the output D2 of the differential amplifier 40 indicates the tracking error direction (x-axis direction in FIG. 2). This output D2
Is sent to the tracking coil drive control circuit 52 as a tracking error signal. The method of processing the outputs of the photodiodes PD1 to PD8 to detect the tracking error is conventionally established as a push-pull method. Tracking coil drive control circuit 52
Receives the tracking error signal D2, supplies a current It according to the direction of the tracking error indicated by the signal D2 to the tracking coil 19, and moves the objective lens 18 in the direction in which the tracking error is eliminated. As a result, the light beam 15 is always radiated correctly to the center of the signal train.

次にフォーカス制御、すなわち光ビーム15を光磁気ディ
スク13の反射面14上に正しく集束させる制御について説
明する。光ビーム15が光磁気ディスク13の反射面14上で
合焦しているとき、FG31により集束される反射ビーム1
5′のP偏光成分はフォトダイオードPD1とPD2との中間
位置で集束し、またS偏光成分はフォトダイオードPD5
とPD6との中間位置で集束する。このとき同様にFG32に
より集束される反射ビーム15′のP偏光成分はフォトダ
イオードPD3とPD4との中間位置で集束し、またS偏光成
分はフォトダイオードPD7とPD8との中間位置で集束す
る。したがって加算アンプ48の出力と加算アンプ49の出
力は等しくなり、差動アンプ51の出力D3は0(ゼロ)と
なる。一方光ビーム15が上記反射面14よりも近い位置で
集束しているときは、FG31,32に入射する反射ビーム1
5′は収束ビームとなり、光検出器24,25,26,27の各々に
おける反射ビーム15′の照射位置はそれぞれ内側(フォ
トダイオードPD2,PD6側およびフォトダイオードPD3,PD7
側)に変位する。したがってこの場合は加算アンプ48の
出力が加算アンプ49の出力を下回り、差動アンプ51の出
力D3は−(マイナス)となる。反対に光ビーム15が反射
面14よりも遠い位置で集束しているときは、FG31,32に
入射する反射ビーム15′は発散ビームとなり、光検出器
24,25,26,27の各々における反射ビーム15′の照射位置
はそれぞれ外側(フォトダイオードPD1,PD5側およびフ
ォトダイオードPD4,PD8側)に変位する。したがってこ
の場合は加算アンプ48の出力が加算アンプ49の出力を上
回り、差動アンプ51の出力D3は+(プラス)となる。こ
のように差動アンプ51の出力D3は、フォーカスエラーの
方向を示すものとなる。この出力D3は、フォーカスエラ
ー信号としてフォーカスコイル駆動制御回路53に送られ
る。なおこのようにフォトダイオードPD1〜8の出力を
処理してフォーカスエラーを検出する方法は、従来よ
り、フーコープリズムを用いるフーコー法において実行
されているものである。フォーカスコイル駆動制御回路
53は上記フォーカスエラー信号D3を受け、該信号D3が示
すフォーカスエラーの方向に応じた電流Ifをフォーカス
コイル20に供給し、このフォーカスエラーが解消される
方向に対物レンズ18を移動させる。それにより光ビーム
15は、常に光磁気ディスク13の反射面14上で正しく集束
するようになる。
Next, focus control, that is, control for correctly focusing the light beam 15 on the reflecting surface 14 of the magneto-optical disk 13 will be described. When the light beam 15 is focused on the reflecting surface 14 of the magneto-optical disk 13, the reflected beam 1 focused by the FG 31
The 5 ′ P-polarized component is focused at an intermediate position between the photodiodes PD1 and PD2, and the S-polarized component is the photodiode PD5.
Focus at an intermediate position between and PD6. At this time, similarly, the P-polarized component of the reflected beam 15 'focused by the FG32 is focused at the intermediate position between the photodiodes PD3 and PD4, and the S-polarized component is focused at the intermediate position between the photodiodes PD7 and PD8. Therefore, the output of the addition amplifier 48 and the output of the addition amplifier 49 become equal, and the output D3 of the differential amplifier 51 becomes 0 (zero). On the other hand, when the light beam 15 is focused at a position closer than the reflecting surface 14, the reflected beam 1 incident on the FG 31, 32
5'becomes a convergent beam, and the irradiation position of the reflected beam 15 'on each of the photodetectors 24, 25, 26, 27 is inside (photodiode PD2, PD6 side and photodiode PD3, PD7
Side). Therefore, in this case, the output of the adding amplifier 48 becomes lower than the output of the adding amplifier 49, and the output D3 of the differential amplifier 51 becomes-(minus). On the contrary, when the light beam 15 is focused at a position farther than the reflecting surface 14, the reflected beam 15 'incident on the FGs 31 and 32 becomes a divergent beam and the photodetector
The irradiation position of the reflected beam 15 'on each of 24, 25, 26, 27 is displaced to the outside (the photodiode PD1, PD5 side and the photodiodes PD4, PD8 side). Therefore, in this case, the output of the addition amplifier 48 exceeds the output of the addition amplifier 49, and the output D3 of the differential amplifier 51 becomes + (plus). In this way, the output D3 of the differential amplifier 51 indicates the direction of focus error. This output D3 is sent to the focus coil drive control circuit 53 as a focus error signal. The method of processing the outputs of the photodiodes PD1 to PD8 to detect the focus error in this way is conventionally executed in the Foucault method using a Foucault prism. Focus coil drive control circuit
53 receives the focus error signal D3, supplies a current If according to the direction of the focus error indicated by the signal D3 to the focus coil 20, and moves the objective lens 18 in a direction in which this focus error is eliminated. Thereby the light beam
15 will always be correctly focused on the reflecting surface 14 of the magneto-optical disk 13.

以上述べたトラッキングエラーとフォーカスエラーを検
出するには、少なくとも第1と第2のFG31,32で集束さ
れたP偏光成分、あるいはS偏光成分を検出すればよ
い。また前述した記録信号の差動検出を行なわないので
あれば、上記P偏光成分あるいはS偏光成分のうち、一
方のFG31あるいは32で集束された成分を検出するだけで
記録信号を読取り可能である。したがって本発明装置に
おいて光検出器は、少なくとも前述の光検出器24と25、
あるいは26と27の2組が設けられていればよい。また第
1のFG31と第2のFG32の一方で集束された反射ビーム1
5′のP偏光成分とS偏光成分を検出して上述の差動検
出を行なうとともに、第1および第2のFG31,32で集束
されたP偏光成分とS偏光成分の一方のみを検出してト
ラッキングエラーとフォーカスエラーを検出する場合
は、光検出器24〜27のうちの3つが設けられていればよ
い。
In order to detect the tracking error and the focus error described above, at least the P-polarized light component or the S-polarized light component focused by the first and second FGs 31 and 32 may be detected. If the differential detection of the recording signal is not performed, the recording signal can be read only by detecting the component of the P-polarized component or the S-polarized component focused by one of the FGs 31 or 32. Therefore, in the device of the present invention, the photodetector is at least the aforementioned photodetectors 24 and 25,
Alternatively, two sets of 26 and 27 may be provided. Also, the reflected beam 1 focused on one of the first FG31 and the second FG32
The 5'P-polarized light component and S-polarized light component are detected to perform the differential detection described above, and only one of the P-polarized light component and the S-polarized light component focused by the first and second FGs 31 and 32 is detected. When detecting a tracking error and a focus error, three of the photodetectors 24 to 27 may be provided.

しかし本実施例におけるように、P偏光成分を検出した
信号と、S偏光成分を検出した信号とを加え合わせた信
号に基づいてトラッキングエラーとフォーカスエラーを
検出すれば、エラー検出信号に、記録信号によって変調
された高周波成分が重畳することがないので、より好ま
しい。
However, as in the present embodiment, if the tracking error and the focus error are detected based on the signal obtained by adding the signal in which the P-polarized component is detected and the signal in which the S-polarized component is detected, the recording signal becomes the error detection signal. It is more preferable because the high frequency component modulated by does not overlap.

なお、半導体レーザ16から発せられた光ビーム15は、コ
リメータレンズ17から対物レンズ18に向かう際にFG31,3
2によって一部がライトガイド29に取り込まれるので、
この光ビーム15がライトガイド29の端面29dで反射して
光検出器24,25,26,27に受光されることがないように、
上記端面29dには光吸収部材55を貼着したり、あるいは
この端面29dを粗面加工しておくのが望ましい。
The light beam 15 emitted from the semiconductor laser 16 is FG31,3 when traveling from the collimator lens 17 to the objective lens 18.
Part 2 is taken into the light guide 29 by 2, so
This light beam 15 is not reflected by the end surface 29d of the light guide 29 and received by the photodetectors 24, 25, 26, 27,
It is desirable to attach a light absorbing member 55 to the end surface 29d or to roughen the end surface 29d.

またこの実施例において2つのFG31,32は、それぞれの
格子が連続して互いに密接した状態に形成されている
が、これらのFG31,32は少しの距離をおいて互いに独立
に形成されてもよい。これは以下に説明する実施例にお
いても同様である。
Further, in this embodiment, the two FGs 31 and 32 are formed such that their respective grids are continuous and in close contact with each other, but these FGs 31 and 32 may be formed independently of each other with a small distance. . This also applies to the embodiments described below.

またFG31,32によってそれぞれ集束される反射ビーム1
5′を互いに交差させる、つまり第2図で説明すればFG3
1によるビーム集束位置がy軸の下側に、FG32によるビ
ーム集束位置がy軸の上側に位置するようにFG31,32を
形成しても構わない。
In addition, the reflected beam 1 focused by FG31 and 32, respectively
5'intersect each other, that is, FG3 if explained in FIG.
The FGs 31 and 32 may be formed such that the beam focusing position by 1 is below the y axis and the beam focusing position by FG 32 is above the y axis.

さらに上記実施例では透光部材22はne>noであるTiO2
ら形成されているが、この透光部材22はne<noである材
料も含めて、その他の材料から形成されてもよい。例え
ばne>noである材料としてはLiTaO3、ZnO等が挙げら
れ、一方ne<noである材料としてはLiNbO3、ADP(NH4H2P
O4)、KDP(KH2PO4)、水晶(SiO2)、方解石(CaCO3)等が挙
げられる。
Further, in the above-mentioned embodiment, the translucent member 22 is made of TiO 2 with n e > n o , but the translucent member 22 is made of other materials including the material with n e <n o. May be. For example, materials having n e > n o include LiTaO 3 and ZnO, while materials having n e <n o include LiNbO 3 and ADP (NH 4 H 2 P
O 4 ), KDP (KH 2 PO 4 ), quartz (SiO 2 ), calcite (CaCO 3 ), and the like.

次に第4図を参照して本発明の第2実施例について説明
する。なおこの第4図において、第1図中の要素と同等
の要素には同番号を付し、それらについては必要の無い
限り説明を省く(以下、同様)。この第2実施例のピッ
クアップにおいては、第1図の装置において設けられた
コリメータレンズ17が省かれ、光磁気ディスク13からの
反射ビーム15′は収束ビームの状態でライトガイド29内
いに取り込まれるようになっている。この場合も、ライ
トガイド29内において集束する4系統の反射ビーム15′
を、例えば第2図図示のような第1,第2,第3および第4
の光検出器24,25,26,27で検出し、それらの検出信号を
前述のように処理すれば、記録信号、トラッキングエラ
ー、フォーカスエラーを検出できる。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 4, elements that are the same as the elements in FIG. 1 are given the same numbers, and explanations thereof are omitted unless necessary (the same applies below). In the pickup of the second embodiment, the collimator lens 17 provided in the apparatus of FIG. 1 is omitted, and the reflected beam 15 'from the magneto-optical disk 13 is taken into the light guide 29 in a converged beam state. It is like this. In this case also, the four reflected beams 15 'that are focused in the light guide 29 are used.
For example, as shown in FIG. 2, the first, second, third and fourth
If the photodetectors 24, 25, 26, and 27 detect the signals and process the detection signals as described above, the recording signal, the tracking error, and the focus error can be detected.

この場合、FG31,32のm番目の格子パターン形状式は、
空間座標およびFG31,32によるビーム集束位置の座標を
前記第1実施例の場合と同様に規定し、またライトガイ
ド29の屈折率をn1とし、また光源の座標を(0,0,LZ)と
規定すると、 で与えられる。
In this case, the m-th grid pattern shape formula of FG31, 32 is
The spatial coordinates and the coordinates of the beam focusing position by FG31, 32 are defined as in the case of the first embodiment, the refractive index of the light guide 29 is n 1, and the coordinates of the light source are (0, 0, L Z ), Given in.

次に第5図を参照して本発明の第3実施例について説明
する。この第3実施例のピックアップにおいては、ライ
トガイド29が十分屈折率の大きい材料から形成され、光
ビーム15はこのライトガイド29の表面29aで反射して光
磁気ディスク13側に進行するようになっている。この場
合も光磁気ディスク13からの反射ビーム15′は、2つの
FG31,32によって回折、集束される。
Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In the pickup of the third embodiment, the light guide 29 is made of a material having a sufficiently large refractive index, and the light beam 15 is reflected by the surface 29a of the light guide 29 and travels toward the magneto-optical disk 13 side. ing. In this case as well, the reflected beam 15 'from the magneto-optical disk 13 has two
Diffracted and focused by FG31 and 32.

第6図は本発明の第4実施例によるピックアップを示す
ものである。この実施例においては、半導体レーザ16か
ら発せられた光ビーム15を発散ビームの状態のままライ
トガイド29の表面29aにおいて反射させ、光磁気ディス
ク13に向けて進行させるようにしている。
FIG. 6 shows a pickup according to the fourth embodiment of the present invention. In this embodiment, the light beam 15 emitted from the semiconductor laser 16 is reflected on the surface 29a of the light guide 29 in the state of a divergent beam, and travels toward the magneto-optical disk 13.

次に第7図を参照して本発明の第5実施例について説明
する。この実施例においては、ライトガイド29と対物レ
ンズ18とが1つのヘッド60に固定されて一体化され、こ
のヘッド60がブロック12に対してトラッキング方向およ
びフォーカス方向に移動自在に支持されている。そして
このヘッド60は、トラッキングコイル19、フォーカスコ
イル20によって移動される。つまり本例ではトラッキン
グ制御、フォーカス制御のために、ライトガイド29が対
物レンズ18とともに移動される。このようにすれば、対
物レンズ18のみを移動させる場合のようにトラッキング
制御によって対物レンズ18がライトガイド29に対してオ
フセットすることが無くなり、トラッキング制御をより
精度良く行なえるようになる。
Next, a fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In this embodiment, the light guide 29 and the objective lens 18 are fixed to and integrated with one head 60, and this head 60 is supported movably in the tracking direction and the focus direction with respect to the block 12. The head 60 is moved by the tracking coil 19 and the focus coil 20. That is, in this example, the light guide 29 is moved together with the objective lens 18 for tracking control and focus control. By doing so, the objective lens 18 does not offset with respect to the light guide 29 due to the tracking control as in the case of moving only the objective lens 18, and the tracking control can be performed more accurately.

なお、半導体レー16およびコリメータレンズ17もヘッド
60に固定して、ライトガイド29および対物レンズ18と一
体的に移動させることも可能である。
The semiconductor laser 16 and the collimator lens 17 are also heads.
It is also possible to fix it to 60 and move it integrally with the light guide 29 and the objective lens 18.

以上説明した5つの実施例においては、第1,第2,第3お
よび第4の光検出器24,25,26および27がライトガイド29
の斜めにカットされた端面29cに装荷されているが、こ
れらの光検出器24,25,26および27はその他の形態でライ
トガイド29に取り付けることも可能である。すなわち例
えば第8図に示すように、ライトガイド29の表面29aに
近接させて光検出器24,25,26,27を配置するとともに、
該表面29aに反射ビーム15′をライトガイド29外に出射
させる回折格子80を設け、そこから出射する反射ビーム
15′を光検出器24〜27に受光させればよい。
In the five embodiments described above, the first, second, third and fourth photodetectors 24, 25, 26 and 27 are light guides 29.
Although mounted on the obliquely cut end face 29c of, the photodetectors 24, 25, 26 and 27 can be attached to the light guide 29 in other forms. That is, for example, as shown in FIG. 8, while arranging the photodetectors 24, 25, 26, 27 close to the surface 29a of the light guide 29,
The surface 29a is provided with a diffraction grating 80 for emitting the reflected beam 15 'to the outside of the light guide 29, and the reflected beam is emitted from the diffraction grating 80.
15 'should be received by the photodetectors 24-27.

またFG31,32は、先に述べた製造方法に限らず、公知の
フォトリソ法、ホログラフィック転写法等によりすべて
プレーナ技術で形成可能であり、容易に大量複製可能で
ある。
Further, the FGs 31 and 32 are not limited to the manufacturing method described above, and can be formed by the planar technology by a known photolithography method, a holographic transfer method, or the like, and can be easily mass copied.

(発明の効果) 以上詳細に説明した通り本発明の光磁気記録媒体用ピッ
クアップにおいては、従来のピックアップにおいてビー
ムスプリッタ、レンズ、プリズム、ハーフミラーおよび
検光子等の光学素子が果たしていた作用が、ライトガイ
ド上に形成した集光性回折格子および一軸異方性結晶か
らなる透光部材によって得られるようになっている。し
たがって本発明のピックアップは、部品点数が極めて少
なく小形軽量に形成されるので、従来装置に比べて大幅
なコストダウンが可能となり、またアクセスタイムの短
縮も可能となる。
(Effects of the Invention) As described in detail above, in the pickup for a magneto-optical recording medium of the present invention, the action performed by the optical elements such as the beam splitter, the lens, the prism, the half mirror and the analyzer in the conventional pickup is It can be obtained by a light-transmitting member made of a converging diffraction grating and a uniaxial anisotropic crystal formed on a guide. Therefore, since the pickup of the present invention has a very small number of parts and is formed in a small size and light weight, the cost can be significantly reduced as compared with the conventional device, and the access time can be shortened.

そして本発明のピックアップは、その主要部分がプレー
ナ技術により容易に大量生産されうるので、この点から
も大幅なコストダウンを実現できるものとなる。
Since the main part of the pickup of the present invention can be easily mass-produced by the planar technique, a significant cost reduction can be realized from this point as well.

また本発明のピックアップにおいては、上記のような光
学素子の位置調整は勿論不要であり、またライトガイド
に光検出器を結合したことにより光学素子と光検出器と
の位置調整も不要であり、この点でもコストダウンが達
成される。
Further, in the pickup of the present invention, it is of course unnecessary to adjust the position of the optical element as described above, and it is also unnecessary to adjust the position of the optical element and the photodetector by coupling the photodetector to the light guide, Also in this respect, cost reduction can be achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の第1実施例装置を示す側面図、 第2図は上記第1実施例装置の光導波路の平面形状と電
気回路を示す概略図、 第3図は上記第1実施例装置の光検出器を詳しく示す側
面図、 第4,5,6および7図はそれぞれ、本発明の第2,第3,第4
および第5実施例装置を示す側面図、 第8図は本発明装置に用いられる光検出器の他の例を示
す側面図である。 13…光磁気ディスク、14…ディスクの反射面 15…光ビーム、15′…反射ビーム 16…半導体レーザ、17…コリメータレンズ 18…対物レンズ、19…トラッキングコイル 20…フォーカスコイル、22…透光部材 22a,22b…透光部材の光通過面 29…ライトガイド、29a…ライトガイドの一表面 29b…ライトガイドの他表面 29c,29d…ライトガイドの端面 31…第1のFG、32…第2のFG 34,35,36,37,38,39,42,43,44,45,46,47,48,49…加算ア
ンプ 40,50,51…差動アンプ、41…読取回路 52…トラッキングコイル駆動制御回路 53…フォーカスコイル駆動制御回路 60…ヘッド、PD1〜8…フォトダイオード、
FIG. 1 is a side view showing the first embodiment device of the present invention, FIG. 2 is a schematic view showing the planar shape of an optical waveguide and an electric circuit of the first embodiment device, and FIG. 3 is the first embodiment. The side view showing the photodetector of the device in detail, FIGS. 4, 5, 6 and 7 are respectively the second, third and fourth of the present invention.
FIG. 8 is a side view showing the device of the fifth embodiment, and FIG. 8 is a side view showing another example of the photodetector used in the device of the present invention. 13 ... Magneto-optical disc, 14 ... Reflective surface of disc 15 ... Light beam, 15 '... Reflected beam 16 ... Semiconductor laser, 17 ... Collimator lens 18 ... Objective lens, 19 ... Tracking coil 20 ... Focus coil, 22 ... Translucent member 22a, 22b ... Light passing surface of translucent member 29 ... Light guide, 29a ... One surface of light guide 29b ... Other surface of light guide 29c, 29d ... End surface of light guide 31 ... First FG, 32 ... Second FG 34,35,36,37,38,39,42,43,44,45,46,47,48,49… Summing amplifier 40, 50, 51… Differential amplifier, 41… Reading circuit 52… Tracking coil drive Control circuit 53 ... Focus coil drive control circuit 60 ... Head, PD1-8 ... Photodiode,

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】光磁気記録媒体の表面に直線偏光した光ビ
ームを照射する光源と、 前記光ビームを前記光磁気記録媒体の反射面上で集束さ
せる対物レンズと、 前記光磁気記録媒体で反射した反射ビームを一表面で受
ける向きに配置されたライトガイドと、 このライトガイドの一表面の反射ビーム照射位置におい
て、該ビームの略中心を通りかつ該表面上をトラッキン
グ方向に略直角に延びる軸をはさんで並設され、それぞ
れが前記反射ビームを前記一表面とそれに対向する他表
面との間で全反射を繰り返して端面側に進行する向きで
該ライトガイド内に入射させるとともに、このライトガ
イド内を進行する反射ビームを前記軸をはさんで互いに
離れた位置に各々集束させる第1,第2の集光性回折格子
と、 前記ライトガイド内において全反射を繰り返して進行す
る前記反射ビームの光路に配され、該ビームの進行方向
に対して斜めのビーム通過面を有して、この反射ビーム
のP偏光成分、S偏光成分を互いに別の光路に分岐させ
る一軸異方性結晶からなる透光部材と、 前記ライトガイドの表面あるいは端面に取り付けられ、
少なくとも前記第1および第2の集光性回折格子により
集束された各反射ビームのP偏光成分またはS偏光成分
を検出する光検出器と、 この光検出器の出力に基づいてトラッキングエラーとフ
ォーカスエラー検出を行なうエラー検出回路と、 前記光検出器の出力に基づいて、前記記録媒体に記録さ
れた情報を検出する信号検出回路とからなる光磁気記録
媒体用ピックアップ。
1. A light source for irradiating a surface of a magneto-optical recording medium with a linearly polarized light beam, an objective lens for converging the light beam on a reflecting surface of the magneto-optical recording medium, and a reflection on the magneto-optical recording medium. A light guide arranged so as to receive the reflected beam on one surface thereof, and an axis extending substantially through the center of the beam at the irradiation position of the reflected beam on the one surface of the light guide and substantially perpendicular to the tracking direction on the surface. The light beams are arranged in parallel with each other and are incident on the light guide in a direction in which the reflected beam repeats total reflection between the one surface and the other surface facing the one surface and advances toward the end face side. First and second converging diffraction gratings for converging the reflected beams traveling in the guide at positions separated from each other with the axis in between, and total reflection in the light guide. It is arranged in the optical path of the reflected beam that travels back by returning, has a beam passage surface that is oblique to the traveling direction of the beam, and splits the P-polarized component and the S-polarized component of this reflected beam into mutually different optical paths. A translucent member made of a uniaxial anisotropic crystal, and attached to the surface or end face of the light guide,
A photodetector that detects at least the P-polarized component or the S-polarized component of each reflected beam focused by the first and second converging diffraction gratings, and a tracking error and a focus error based on the output of the photodetector. A pickup for a magneto-optical recording medium, comprising: an error detection circuit that performs detection; and a signal detection circuit that detects information recorded on the recording medium based on the output of the photodetector.
【請求項2】前記第1および第2の集光性回折格子によ
り集束された各反射ビームのP偏光成分をそれぞれ検出
する第1,第2の光検出器が設けられるとともに、 前記第1および第2の集光性回折格子により集束された
各反射ビームのS偏光成分をそれぞれ検出する第3,第4
の光検出器が設けられ、 前記信号検出回路が、前記第1,第2の光検出器の出力の
和と、第3,第4の光検出器の出力の和との差に基づいて
前記情報の差動検出を行なうように形成されていること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光磁気記録媒
体用ピックアップ。
2. A first photodetector and a second photodetector for detecting the P-polarized components of the respective reflected beams focused by the first and second converging diffraction gratings are provided, and the first and second photodetectors are provided. Third and fourth detecting the S-polarized component of each reflected beam focused by the second converging diffraction grating
The photodetector is provided, and the signal detection circuit is configured to detect the signal based on a difference between a sum of outputs of the first and second photodetectors and a sum of outputs of the third and fourth photodetectors. The pickup for a magneto-optical recording medium according to claim 1, which is formed so as to perform differential detection of information.
【請求項3】前記第1,第2,第3,第4の光検出器がそれぞ
れ、トラッキングエラー検出、フォーカスエラー検出を
それぞれプッシュプル法,フーコー法で行なえるよう
に、前記軸を通りライトガイドの前記一表面に垂直な面
と略平行に延びるギャップで分割された2分割光検出器
からなることを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の
光磁気記録媒体用ピックアップ。
3. The light is passed through the axis so that the first, second, third and fourth photodetectors can perform tracking error detection and focus error detection by the push-pull method and Foucault method, respectively. The magneto-optical recording medium pickup according to claim 2, comprising a two-division photodetector divided by a gap extending substantially parallel to a plane perpendicular to the one surface of the guide.
【請求項4】前記透光部材に入射する反射ビームの偏光
方向が、該透光部材の一軸異方性結晶の光学軸に対して
略45°傾くように、前記ライトガイドが配置されている
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項から第3項いず
れか1項記載の光磁気記録媒体用ピックアップ。
4. The light guide is arranged so that a polarization direction of a reflected beam incident on the light transmitting member is inclined by about 45 ° with respect to an optical axis of a uniaxial anisotropic crystal of the light transmitting member. The pickup for a magneto-optical recording medium according to any one of claims 1 to 3, wherein:
【請求項5】前記ライトガイドが、前記光源と対物レン
ズとの間に配置されていることを特徴とする特許請求の
範囲第1項から第4項いずれか1項記載の光磁気記録媒
体用ピックアップ。
5. The magneto-optical recording medium according to claim 1, wherein the light guide is arranged between the light source and the objective lens. pick up.
【請求項6】前記ライトガイドが、前記光源から発せら
れた光ビームを反射させて、前記光磁気記録媒体の反射
面に向けて進行させるように配置されていることを特徴
とする特許請求の範囲第1項から第4項いずれか1項記
載の光磁気記録媒体用ピックアップ。
6. The light guide is arranged so as to reflect a light beam emitted from the light source and advance the light beam toward a reflecting surface of the magneto-optical recording medium. The pickup for a magneto-optical recording medium according to any one of claims 1 to 4.
【請求項7】前記ライトガイドと対物レンズとが互いに
独立して配設され、該対物レンズのみがトラッキング制
御およびフォーカス制御のために移動されるようになっ
ていることを特徴とする特許請求の範囲第1項から第6
項いずれか1項記載の光磁気記録媒体用ピックアップ。
7. The light guide and the objective lens are arranged independently of each other, and only the objective lens is moved for tracking control and focus control. Range 1st to 6th
Item 7. A pickup for a magneto-optical recording medium according to any one of items.
【請求項8】前記ライトガイドが前記対物レンズと一体
化され、トラッキング制御およびフォーカス制御のため
に該対物レンズとともに移動されるようになっているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項から第6項いずれ
か1項記載の光磁気記録媒体用ピックアップ。
8. The light guide according to claim 1, wherein the light guide is integrated with the objective lens and is moved together with the objective lens for tracking control and focus control. Item 7. The pickup for magneto-optical recording medium according to any one of items 6.
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