JPH0191344A - Pickup for magneto-optical recording medium - Google Patents

Pickup for magneto-optical recording medium

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JPH0191344A
JPH0191344A JP62247319A JP24731987A JPH0191344A JP H0191344 A JPH0191344 A JP H0191344A JP 62247319 A JP62247319 A JP 62247319A JP 24731987 A JP24731987 A JP 24731987A JP H0191344 A JPH0191344 A JP H0191344A
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magneto
light guide
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pickup
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    • G11B7/0916Foucault or knife-edge methods

Abstract

PURPOSE:To miniaturize the title pickup and to reduce the weight of the pickup by detecting an error and information by making a reflected beam going forward in a light guide detect P and S polarization components branched by a light transmittable member formed of a uniaxial anisotropic crystal material. CONSTITUTION:The light beam 15 emitted from a semiconductor laser 16 is transmitted through the light guide 29 and is converged by an objective lens 18 so as to be focused on the reflection surface 14 of an optical disk 13. The reflected beam 15 from the disk 13 is diffracted at FGs 31,32, and made incident on the guide 29 and is transmitted through the light transmitted member 22 formed of the uniaxial anisotropic crystal material and is separated into the P polarization component 15P and the S polarization component 15S. The P polarized component 15P is detected by photodectectors 24, 25, and the S polarization component 15s is detected by the photodetectors 26,27. By processing the outputs of the photodetectors 24-27 recorded information can be read by a read circuit and the lens 18 can be shifted through a tracking coil driving control circuit and a focus coil driving control circuit.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、光磁気ディスク等の光磁気記録媒体に記録さ
れている信号を読み取るためのピックアップ、特に詳細
にはライトガイドを用いて小型軽量に形成されうるピッ
クアップに関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Application Field) The present invention is a pickup for reading signals recorded on a magneto-optical recording medium such as a magneto-optical disk. The present invention relates to a pickup that can be formed in the following manner.

(従来の技術) 近時、画像信号や音声信号等の記録媒体として、光磁気
ディスク等の光磁気記録媒体が広く実用に供されでいる
。この光磁気記録媒体に磁化の向きの形で記録されてい
る信号は、光学式のピックアップによって読み取られる
。このピックアップは、例えばレーザ光等の直線偏光光
を光磁気記録媒体表面に照射し、該記録媒体において反
射した光の偏光面が磁化の向きに対応して回転する現象
(磁気カー効果)を利用して、記録媒体上の磁化の向き
を検出するようにしたものである。
(Prior Art) Recently, magneto-optical recording media such as magneto-optical disks have been widely used as recording media for image signals, audio signals, etc. Signals recorded in the magneto-optical recording medium in the form of magnetization directions are read by an optical pickup. This pickup utilizes a phenomenon (magnetic Kerr effect) in which the surface of a magneto-optical recording medium is irradiated with linearly polarized light such as a laser beam, and the plane of polarization of the light reflected on the recording medium rotates in accordance with the direction of magnetization. The direction of magnetization on the recording medium is detected.

具体的にこの光磁気記録媒体用ピックアップにおいては
、記録媒体からの反射光を検光子を通して光検出器によ
り検出し、該反射光の偏光面回転に応じて検出光量が変
化することを利用して上記磁化の向き、すなわち記録情
報を読み取るようにしている。またこのピックアップに
おいては、上述のようにして記録情報読取りを行なうと
ともに、トラッキングエラー検出、つまり磁化状態検出
のための光ビームが所定のグループに沿ったトラックの
中心から左右どちら側にずれて照射されているかを検出
するための機能、およびフォーカスエラー検出、つまり
上記光ビームの焦点が光磁気記録媒体の反射面よりも近
くにあるかあるいは遠くにあるかを検出するための機能
を備えることが求められる。すなわちこのトラッキング
エラー、フォーカスエラーの検出信号は、該信号が打ち
消されるようにトラッキング制御、フォーカス制御をか
けて、光ビームを所定のトラックに正しく照射するため
、また該光ビームを光磁気記録媒体の反射面上で正しく
合焦させるために利用される。なお従来より、トラッキ
ングエラー検出方法としてはプッシュプル法、ヘテロゲ
イン法、時間差検出法等が知られており、一方フオーカ
スエラー検出方法としては、非点収差法、臨界角検出法
、フーコー法等が知られている。
Specifically, in this pickup for magneto-optical recording media, reflected light from the recording medium is detected by a photodetector through an analyzer, and the amount of detected light changes depending on the rotation of the polarization plane of the reflected light. The direction of the magnetization, that is, the recorded information is read. In addition, in this pickup, recorded information is read as described above, and a light beam for tracking error detection, that is, magnetization state detection, is irradiated with a deviation to the left or right from the center of the track along a predetermined group. and focus error detection, that is, a function to detect whether the focus of the light beam is closer or farther than the reflective surface of the magneto-optical recording medium. It will be done. In other words, this tracking error and focus error detection signal is used to apply tracking control and focus control so that the signal is canceled out, and in order to correctly irradiate the light beam onto a predetermined track, and to direct the light beam to the magneto-optical recording medium. Used for correct focusing on reflective surfaces. Conventionally, the push-pull method, heterogain method, time difference detection method, etc. have been known as tracking error detection methods, while the astigmatism method, critical angle detection method, Foucault method, etc. have been known as focus error detection methods. Are known.

信号読取機能に加えて上述のような機能を備えるために
従来の光磁気記録媒体用ピックアップは、光磁気記録媒
体において反射したビームを、該媒体に向けて照射され
ている光ビームから分離するためのビームスプリッタや
、この反射ビームをフォトダイオード等の光検出器の近
傍で集束させるためのレンズや、前述の検光子や、さら
には上記トラッキングエラー検出方法およびフォーカス
エラー検出方法を実行するためのプリズム等の微小光学
素子から構成されていた。
In order to provide the above-mentioned functions in addition to the signal reading function, conventional pickups for magneto-optical recording media separate the beam reflected by the magneto-optical recording medium from the light beam directed toward the medium. a beam splitter, a lens for focusing this reflected beam near a photodetector such as a photodiode, the above-mentioned analyzer, and a prism for carrying out the above-mentioned tracking error detection method and focus error detection method. It was composed of micro optical elements such as.

(発明が解決しようとする問題点) しかし上記のような微小光学素子は精密な加工を要し、
またピックアップ組立てに際しての相互の位置調整も面
倒であるので、このような光学素子を用いるピックアッ
プは必然的に高価なものとなっていた。さらにこのよう
な構成のピックアップは、大型で重いものとなるので、
読取装置の小型軽量化や、アクセスタイム短縮化の点で
不利なものとなっていた。特に、読取信号のS/N向上
のために差動検出を実行する場合には、反射ビームを2
本に分割するためのハーフミラ−等が必要になり、その
上差動検出光学系によっては検光子を2個必要とするこ
ともあるので、ピックアップはより一層複雑化し、大型
で重いものとなる。
(Problem to be solved by the invention) However, the above-mentioned microscopic optical elements require precise processing;
Further, since mutual position adjustment is troublesome when assembling the pickup, a pickup using such an optical element is necessarily expensive. Furthermore, a pickup with this configuration is large and heavy, so
This is disadvantageous in terms of making the reading device smaller and lighter and shortening the access time. In particular, when performing differential detection to improve the S/N of the read signal, the reflected beam is
A half mirror or the like is required to divide the book into books, and depending on the differential detection optical system, two analyzers may be required, making the pickup even more complex, large and heavy.

上記の不具合を解消するため従来より、例えば非球面レ
ンズ等の特殊な光学素子を用いてビ・ツクアップの構成
を簡素化する試みも種々なされている。しかしこの種の
光学素子は特に高価であるので、このような素子を用い
るピックアップは、構成は簡素化されても、コストの点
では前述のようなピックアップとさほど変わり無いもの
となっている。
In order to solve the above-mentioned problems, various attempts have been made to simplify the configuration of the pickup by using special optical elements such as aspherical lenses. However, since this type of optical element is particularly expensive, a pickup using such an element is not much different from the above-mentioned pickup in terms of cost, even if the structure is simplified.

本発明は上記のような事情に鑑みてなされたものであり
、小型軽量で、しかも極めて安価に形成されうる光磁気
記録媒体用ピックアップを提供することを目的とするも
のである。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is an object of the present invention to provide a pickup for a magneto-optical recording medium that is small, lightweight, and can be formed at extremely low cost.

(問題点を解決するための手段) 本発明の光磁気記録媒体用ピックアップは、先に述べた
ビームスプリッタ、レンズ、プリズム、検光子、さらに
は差動検出を実行するためのハーフミラ−などが果たす
作用を、集光性回折格子および一軸異方性結晶からなる
透光部材を備えたライトガイドによって得るようにした
ものであり、具体的には、 光ディスク等の光磁気記録媒体の表面に直線偏光した光
ビームを照射する光源と、上記光ビームを光磁気記録媒
体の反射面上で集束させる対物レンズと、光磁気記録媒
体で反射した反射ビームを一表面で受けるような向きに
配置されたライトガイドとを設け、 このライトガイドの反射ビーム照射位置には、それぞれ
上記反射ビームを該ライトガイド内に入射させる第1.
第2の集光性回折格子を並設し、上記第1.第2の集光
性回折格子は、ライトガイドを照射する反射ビームの略
中心を通りかつ該ライトガイドの表面上をトラッキング
方向に略直角に延びる軸をはさんで並び、それぞれが上
記反射ビームを前記一表面とそれに対向する他表面との
間で全反射を繰り返して端面側に進行する向きで該ライ
トガイド内に入射させ、そして該ライトガイド内を進行
する反射ビームを上記軸をはさん゛で互いに離れた位置
に各々集束させるように形成し、 一方ライトガイド内には、上述のように全反射を繰り返
して進行する反射ビームの光路部分において、該ビーム
の進行方向に対して斜めのビーム通過面を有して、この
反射ビームのP偏光成分、S偏光成分を互いに別の光路
に分岐させる一軸異方性結晶からなる透光部材を配置し
、 また上記ライトガイドの表面あるいは端面に、少なくと
も上記第1および第2の集光性回折格子により集束され
た各反射ビームのP偏光成分またはS偏光成分を検出す
る光検出器を取り付け、さらにこれらの光検出器の出力
に基づいてトラッキングエラーとフォーカスエラー検出
を行なうエラー検出回路と、 上記光検出器の出力に基づいて記録情報を検出する信号
検出回路とを設けてなるものである。
(Means for Solving the Problems) The magneto-optical recording medium pickup of the present invention includes the above-mentioned beam splitter, lens, prism, analyzer, and even a half mirror for performing differential detection. The effect is obtained by a light guide equipped with a light-transmitting member made of a light-converging diffraction grating and a uniaxially anisotropic crystal. a light source that irradiates a light beam, an objective lens that focuses the light beam on a reflective surface of a magneto-optical recording medium, and a light that is oriented such that one surface receives the reflected beam reflected by the magneto-optical recording medium. A first guide is provided at each of the reflected beam irradiation positions of the light guide, and a first guide for making the reflected beam enter the light guide.
A second condensing diffraction grating is arranged in parallel, and the first. The second light-concentrating diffraction gratings are arranged across an axis that passes approximately through the center of the reflected beam that illuminates the light guide and extends approximately perpendicularly to the tracking direction on the surface of the light guide, and each of the second condensing diffraction gratings focuses the reflected beam on the light guide. Total reflection is repeated between the one surface and the other surface facing it, and the reflected beam is made to enter the light guide in the direction of traveling toward the end face, and the reflected beam traveling inside the light guide is directed across the axis. On the other hand, inside the light guide, in the optical path portion of the reflected beam that travels through repeated total reflection as described above, a beam that is oblique to the traveling direction of the reflected beam is formed. A light-transmitting member made of a uniaxial anisotropic crystal having a passage surface and branching the P-polarized light component and the S-polarized light component of the reflected beam into different optical paths is disposed, and on the surface or end surface of the light guide, A photodetector is installed to detect the P-polarization component or the S-polarization component of each reflected beam focused by at least the first and second condensing gratings, and the tracking error is determined based on the outputs of these photodetectors. and an error detection circuit for detecting focus errors; and a signal detection circuit for detecting recorded information based on the output of the photodetector.

上記集光性回折格子は、曲りとチャーブ、または曲りを
6′する回折格子であり、入射光を回折してライトガイ
ド内に入射させ、またこの回折された光を集束させる。
The light-converging diffraction grating is a diffraction grating having a curve and a chirve or a 6' curve, diffracts the incident light to enter the light guide, and focuses the diffracted light.

(作  用) 光磁気記録媒体からの反射ビームを上記の集光性回折格
子によってライトガイド内に取り込むことにより、該反
射ビームは光源から光磁気記録媒体に向かう光ビームの
光路から分離される。これは前述のビームスプリッタが
果たす作用と同じである。また集光性回折格子はライト
ガイド内で反射ビームを集束させるが、これは前述のレ
ンズが果たす作用と同じである。さらに第1および第2
の集光性回折格子が2個前述のような位置に配されてい
るから、光磁気記録媒体からの反射ビームは互いにトラ
ッキング方向に分離されて2箇所で集束する。これは前
述のプリズムが果たす作用と同じである。
(Function) By capturing the reflected beam from the magneto-optical recording medium into the light guide using the above-mentioned condensing diffraction grating, the reflected beam is separated from the optical path of the light beam traveling from the light source toward the magneto-optical recording medium. This is the same effect as the beam splitter described above. The focusing grating also focuses the reflected beam within the light guide, similar to the function performed by the lenses described above. Furthermore, the first and second
Since the two light-converging diffraction gratings are arranged at the positions described above, the reflected beams from the magneto-optical recording medium are separated from each other in the tracking direction and focused at two points. This is the same effect as the prism described above.

また−軸異方性結晶からなる透光部材により反射ビーム
をP偏光成分とS偏光成分とに分離させているから、例
えば第1および第2の集光性回折格子により集束された
各反射ビームのP偏光成分をそれぞれ検出する第1.第
2の光検出器と、第1および第2の集光性回折格子によ
り集束された各反射ビームのS偏光成分をそれぞれ検出
する第3、第4の光検出器とを設ければ、互いに異なる
偏光成分のビームを検出する第1.第3の光検出器の各
々の出力は、反射ビームの偏光の向きに応じて相補的に
変化する。また、第2.第4の光検出器の各々の出力に
ついても同様である。したがって例えば、上記第1.第
2の光検出器の出力の和と、第3.第4の光検出器の出
力の和との差を差動検出回路で検出すれば、反射ビーム
の偏光の向き、つまり光磁気記録媒体の記録情報が読み
取れることになる。これにより、差動検出光学系を設け
て差動検出を行なう場合と同様に、S/Nの高い読取信
号を得ることができる。すなわち上記透光部材により、
前述のハーフミラ−等が果たすビーム分割作用が得られ
るとともに、前述の検光子が果たす作用が得られる。
In addition, since the reflected beam is separated into a P-polarized light component and an S-polarized light component by a light-transmitting member made of an axially anisotropic crystal, for example, each reflected beam is focused by the first and second condensing diffraction gratings. The first . If a second photodetector and third and fourth photodetectors each detect the S-polarized component of each reflected beam focused by the first and second condensing diffraction gratings are provided, it is possible to mutually 1. detecting beams of different polarization components; The output of each of the third photodetectors varies complementarily depending on the polarization direction of the reflected beam. Also, the second. The same applies to each output of the fourth photodetector. Therefore, for example, the above 1. the sum of the outputs of the second photodetector; and the sum of the outputs of the second photodetector; By detecting the difference from the sum of the outputs of the fourth photodetector using a differential detection circuit, the polarization direction of the reflected beam, that is, the information recorded on the magneto-optical recording medium can be read. Thereby, a read signal with a high S/N ratio can be obtained, similar to the case where a differential detection optical system is provided to perform differential detection. That is, by the above-mentioned light-transmitting member,
The beam splitting effect achieved by the above-mentioned half mirror etc. can be obtained, and the effect achieved by the above-mentioned analyzer can also be obtained.

(実 施 例) 以下、図面に示す実施例に基づいて本発明の詳細な説明
する。
(Example) Hereinafter, the present invention will be described in detail based on an example shown in the drawings.

第1図は本発明の第1実施例による光磁気記録媒体用ピ
ックアップを示すものであり、第2図はこのピックアッ
プのライトガイドの平面形状と電気回路を示すものであ
る。第1図に示されるようにこのピックアップは、紙面
に略垂直な方向に延びるロッド11.11に沿って移動
自在とされたブロック12ヲ有している。このブロック
12は所定のグループに沿った信号列(トラック)に追
随するために、例えば精密送りネジと光学系送りモータ
等により、上記トラックの方向(ビーム照射位置におい
て矢印U方向)に直角な方向、あるいはそれに近い方向
に移動されるようになっている。
FIG. 1 shows a pickup for a magneto-optical recording medium according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows the planar shape and electric circuit of a light guide of this pickup. As shown in FIG. 1, this pickup has a block 12 that is movable along a rod 11.11 extending in a direction substantially perpendicular to the plane of the paper. In order to follow a signal train (track) along a predetermined group, this block 12 is operated in a direction perpendicular to the direction of the track (in the direction of arrow U at the beam irradiation position) using, for example, a precision feed screw and an optical system feed motor. , or in a direction close to it.

上記ブロック12には、光磁気ディスク13の反射面1
4に向けて直線偏光した光ビーム(レーザビーム)15
を発する半導体レーザ16と、該半導体レーザ16から
発せられた発散ビームを平行ビートにするコリメータレ
ンズ17と、平行ビームとされた光ビーム15を上記反
射面14上で集束させる対物レンズ18とが取り付けら
れている。この対物レンズ18は後に詳述するトラッキ
ング制御、フォーカス制御のために、トラッキング方向
(矢印U方向に直角な方向)およびフォーカス方向(矢
印V方向)に移動可能に支持され、トラッキングコイル
19、フォーカスコイル20によりそれぞれ上記の方向
に移動されるようになっている。
The block 12 includes a reflective surface 1 of the magneto-optical disk 13.
Light beam (laser beam) linearly polarized toward 4 15
A semiconductor laser 16 that emits , a collimator lens 17 that converts the diverging beam emitted from the semiconductor laser 16 into parallel beats, and an objective lens 18 that focuses the parallel light beam 15 on the reflective surface 14 are attached. It is being This objective lens 18 is supported so as to be movable in the tracking direction (direction perpendicular to the direction of arrow U) and the focus direction (direction of arrow V) for tracking control and focus control, which will be described in detail later. 20, respectively, so as to be moved in the above-mentioned directions.

上記コリメータレンズ17と対物レンズ18との間には
、光磁気ディスク13で反射した反射ビーム15′を表
面29aで受けるような向きにして、例えば光学ガラス
からなる平板状のライトガイド29が配置されている。
A flat light guide 29 made of, for example, optical glass is disposed between the collimator lens 17 and the objective lens 18 and is oriented such that its surface 29a receives the reflected beam 15' reflected by the magneto-optical disk 13. ing.

また上記反射ビーム15’ が照射される位置において
ライトガイド29の表面29aには、ml、第2の集光
性回折格子(FocusingGrating:以下、
FCと称する) 31.32が相隣接して設けられてい
る(第2図参照)。これらのFG31.32は曲りとチ
ャーブ、あるいは曲りを有する回折格子であり、それぞ
れが反射ビーム15′ を回折させてライトガイド29
内に入射させ、該ライトガイド29内をその一表面29
aと他表面29bとの間で全反射を繰り返して端面側に
進行させ、そしてこのライトガイド29内の一点で集束
させるように形成されている。第1.第2のFC31,
32は、前述のトラッキング方向に対して直角で反射ビ
ーム15°のほぼ中心を通るライトガイド29上の輔(
第2図のy軸)をはさんで並設され、またそれぞれがこ
のy軸をはさんで互いに離れた位置に反射ビーム15°
を集束させるように形成されている。
Further, on the surface 29a of the light guide 29 at the position where the reflected beam 15' is irradiated, there is a second focusing grating (hereinafter referred to as ml).
(referred to as FC) 31 and 32 are provided adjacent to each other (see Fig. 2). These FGs 31, 32 are curved and chirped or curved diffraction gratings, each of which diffracts the reflected beam 15' into the light guide 29.
the inside of the light guide 29 and one surface 29 of the light guide 29.
The light guide 29 is formed so that total reflection is repeated between the light guide 29a and the other surface 29b, the light propagates toward the end surface, and is focused at one point within the light guide 29. 1st. second FC31,
32 is a point (
They are arranged in parallel across the y-axis (in Figure 2), and each has a reflected beam of 15° at a position separated from each other across the y-axis.
It is formed to focus.

そしてライトガイド29は第2図に示すように、反射ビ
ーム15°の直線偏光方向(矢印H方向)とX軸とがな
す角度φが略45°になる向きに配置されている。なお
反射ビーム15’ の直線偏光の向きは、光磁気ディス
クエ3における磁化の向きに対応して回転するので、本
例においては、磁化されていない部分で反射した反射ビ
ーム15゛ の直線偏光の向きを基準とし、この向きと
X軸とが45゜の角度をなすようにしている。なおFG
31.32は、ライトガイド29の表面29aとは反対
側の表面29bに設けられてもよい。
As shown in FIG. 2, the light guide 29 is arranged in such a direction that the angle φ between the linear polarization direction of the reflected beam 15° (direction of arrow H) and the X-axis is approximately 45°. Note that the direction of the linearly polarized light of the reflected beam 15' rotates in accordance with the direction of magnetization in the magneto-optical disk drive 3, so in this example, the direction of the linearly polarized light of the reflected beam 15' reflected from the non-magnetized portion is The direction is used as a reference, and this direction and the X axis form an angle of 45 degrees. Furthermore, FG
31 and 32 may be provided on the surface 29b of the light guide 29 opposite to the surface 29a.

上記のような作用を果たすFG81.32のm番目の格
子パターン形状式は、空間座標を第2図図示のX軸(ト
ラッキング方向軸)とy軸、およびこれらの軸の交点を
通り両軸と直角なz軸とによって規定してFG31.3
2によるビーム集束位置(第1図に点にで示すように、
ライトガイド29内における全反射と透光部材22によ
る屈折が無い場合の集束位置とする)の座標をそれぞれ
(−Fx、Fy、Fz)、(Fx 、  Fy 、  
Fz )とし、ライトガイド29の屈折率を01とし、
そして反射ビーム15°の光波長をλとすると、 −mλ十const、(xJOで復号同順)で与えられ
る。
The m-th lattice pattern shape formula of FG81.32, which performs the above-mentioned action, defines the spatial coordinates as shown in Figure 2 between the X-axis (tracking direction axis) and the y-axis, and the intersection of these axes with both axes. FG31.3 defined by the perpendicular z-axis
2 (as indicated by the dot in Fig. 1,
(-Fx, Fy, Fz), (Fx, Fy,
Fz), and the refractive index of the light guide 29 is 01,
If the optical wavelength of the 15° reflected beam is λ, it is given by -mλ+const (decoded in the same order with xJO).

上記FC31,32は、ライトガイド29上に5L−N
をPCVDにて製膜し、電子ビーム直接描画によりレジ
ストパターンを形成した後、RIEで5i−N膜に転写
する、等の方法によって形成することができる。
The above FC31, 32 is 5L-N on the light guide 29.
It can be formed by a method such as forming a film by PCVD, forming a resist pattern by electron beam direct writing, and then transferring it to a 5i-N film by RIE.

ライトガイド29内には、−軸異方性結晶であるT i
 02からなる透光部材22が配設されている。
Inside the light guide 29, there is a -axis anisotropic crystal T i
A transparent member 22 made of 02 is provided.

なお、ライトガイド29と一軸異方性結晶間の界面には
、無反射コーティングがされているのが望ましい。この
透光部材22は、第1のFG31によって集光される反
射ビーム15′ と、第2のFG32によって集光され
る反射ビーム15°の双方が通過しうるように例えばラ
イトガイド29の全幅に亘る長さをHしている。またこ
の透光部材22は、その光学軸か第1図の紙面に垂直な
方向(第2図中のX軸方向)に延びる向きに配されてい
る。またこの透光部材22は、上記反射ビーム15゛ 
の進行方向に対して斜めのビーム通過面22a、22b
を有する形状とされている。したがってこの透光部材2
2を通過する反射ビーム15’ は第1図図示のように
屈折するが、本例では異常光に対する屈折率n、が常光
に対する屈折率n(1よりも大きい(波長6330mの
光に対してn、 −2,872、no−2,584) 
TiO2によって透光部材22が形成されているので、
反射ビーム15′ のS偏光成分15SはP偏光成分1
5Pよりも大きく屈折し、これらの成分15sS15P
は互いに分離して集束する。またライトガイド29には
、上述のようにして4系統に分離された反射ビーム15
°の各集束位置に沿って拡がるように斜めにカットされ
た端面29cが設けられている。そしてこの端面29c
上には、上記4系統の反射ビーム15′ のうち第1.
第2のFG31.32により集束されたPl−光成分1
.5Pをそれぞれ検出する第1゜第2の光検出器24.
25および、第1.第2のFG31、32により集束さ
れたS偏光成分15Sをそれぞれ検出する第3.第4の
光検出器26.27が取り付けられている。第1の光検
出器24は、y軸を通りライトガイド表面29aに垂直
な面と平行に延びるギャップで2分割されたフォトダイ
オードPD1゜PD2からなり、その他の光検出器25
.2ftおよび27もそれぞれ同様のフォトダイオード
PD3とPD4.PD5とPD6およびPD7とPD8
からなる。
Note that it is desirable that an anti-reflection coating be applied to the interface between the light guide 29 and the uniaxially anisotropic crystal. This light-transmitting member 22 covers the entire width of the light guide 29, for example, so that both the reflected beam 15' focused by the first FG 31 and the reflected beam 15° focused by the second FG 32 can pass through. The length it spans is H. Further, the light-transmitting member 22 is arranged such that its optical axis extends in a direction perpendicular to the paper surface of FIG. 1 (X-axis direction in FIG. 2). Further, this light-transmitting member 22 allows the reflected beam 15゜
Beam passing surfaces 22a, 22b oblique to the traveling direction of
It is said that the shape has the following. Therefore, this transparent member 2
The reflected beam 15' passing through 2 is refracted as shown in FIG. , -2,872, no-2,584)
Since the transparent member 22 is formed of TiO2,
The S polarization component 15S of the reflected beam 15' is the P polarization component 1.
5P, and these components 15sS15P
separate from each other and converge. In addition, the light guide 29 includes the reflected beams 15 separated into four systems as described above.
An end face 29c is provided which is diagonally cut so as to extend along each focusing position. And this end face 29c
At the top, the first of the four reflected beams 15' is shown.
Pl-light component 1 focused by second FG31.32
.. The first and second photodetectors 24 detect 5P, respectively.
25 and 1st. The third. A fourth photodetector 26.27 is attached. The first photodetector 24 consists of photodiodes PD1 and PD2 divided into two by a gap extending parallel to a plane perpendicular to the light guide surface 29a through the y-axis, and the other photodetectors 25
.. 2ft and 27 are also similar photodiodes PD3 and PD4. PD5 and PD6 and PD7 and PD8
Consisting of

フォトダイオードPDIは一例として第3図に詳しく示
すように、ライトガイド29上に下部透明電極28a・
、薄膜状光導電性材料28b1および上部電極28cを
この順に装荷して形成されたものである。そして下部透
明電極28aと上部電極28cとの間には、電源28d
から所定の電界が印加される。
As shown in detail in FIG. 3, the photodiode PDI has a lower transparent electrode 28a on the light guide 29.
, a thin film photoconductive material 28b1 and an upper electrode 28c are loaded in this order. A power source 28d is connected between the lower transparent electrode 28a and the upper electrode 28c.
A predetermined electric field is applied from the

この構成のフォトダイオードPDIにおいては、光導電
性材料28bが光照射を受けるとその光量に応じた光電
流が流れる。したがって、端子28eにおける電位変化
を検出すれば、光導電性材料28bの受光光量を検出す
ることができる。フォトダイオードPD2〜8も、フォ
トダイオードPDIと同様に形成されている。なお薄膜
状光導電性材料28bは、例えば■族の5iSGe、I
V族のSe。
In the photodiode PDI having this configuration, when the photoconductive material 28b is irradiated with light, a photocurrent flows according to the amount of light. Therefore, by detecting the potential change at the terminal 28e, the amount of light received by the photoconductive material 28b can be detected. Photodiodes PD2 to PD8 are also formed similarly to photodiode PDI. Note that the thin film photoconductive material 28b is made of, for example, 5iSGe, I
Se of group V.

m−v族のGaAs、U−Vl族のZn0SCdS。GaAs of m-v group, Zn0SCdS of U-Vl group.

IV−Vl族のPbS等のエピタキシャル膜、多結晶体
膜、非晶質膜等から形成可能であり、また非晶質カルコ
ゲン膜(a−8e、 a−6e−As −Teなど)、
非晶質Siを主体とし水素および/またはフッ素を含む
膜(a−8t :H,a−5iGe:HSa−5iC:
Hなど)に■族、V族の原子(B、Pなど)を添加する
ことによりpn接合、p−1−n接合を得てフォトダイ
オードを形成する膜、前記非晶質Siを主体とし水素お
よび/またはフッ素を含む膜とショットキー接合を構成
する電極を用いてフォトダイオードを形成する膜等から
形成することもできる。
It can be formed from an epitaxial film such as PbS of the IV-Vl group, a polycrystalline film, an amorphous film, etc., and an amorphous chalcogen film (a-8e, a-6e-As-Te, etc.),
A film mainly composed of amorphous Si and containing hydrogen and/or fluorine (a-8t:H, a-5iGe:HSa-5iC:
A film that forms a photodiode by obtaining a p-n junction or a p-1-n junction by adding atoms of group Ⅰ or group V (B, P, etc.) to (H, etc.); And/or it can also be formed from a film that forms a photodiode using a film containing fluorine and an electrode that forms a Schottky junction.

また、端面29cに外部フォトダイオードを密着させて
接むさせてもよい。この場合、端面29cに無反射コー
ティングするのが望ましい。
Further, an external photodiode may be brought into close contact with the end surface 29c. In this case, it is desirable to apply anti-reflection coating to the end face 29c.

第2図に示すように、反射ビーム15″のP偏光成分を
検出するフォトダイオードPDIとPD2、そしてPD
3とPD4の出力はそれぞれ加算アンプ34.35で加
算され、一方S偏光成分を検出するフォトダイオードP
D5とPD6、そしてPD7とPD8の出力はそれぞれ
加算アンプ36.37で加算され、これら加算アンプ3
4と35の出力、および加算アンプ36と37の出力は
それぞれ加算アンプ38゜39によって加算される。ま
たこれらの加算アンプ38と39の出力は差動アンプ4
0に入力され、この差動アンプ40の出力D1は読取回
路41に入力される。
As shown in FIG. 2, photodiodes PDI and PD2 detect the P-polarized component of the reflected beam 15'';
The outputs of PD 3 and PD 4 are added by adding amplifiers 34 and 35, respectively, while a photodiode P detecting the S polarization component
The outputs of D5 and PD6, and PD7 and PD8 are added by adding amplifiers 36 and 37, respectively.
The outputs of 4 and 35 and the outputs of summing amplifiers 36 and 37 are summed by summing amplifiers 38 and 39, respectively. Further, the outputs of these adding amplifiers 38 and 39 are outputted to the differential amplifier 4.
0, and the output D1 of this differential amplifier 40 is input to the reading circuit 41.

一方第1のFG31で集束された反射ビーム15′を検
出する第1.第3の光検出器24.26の各々の外側の
フォトダイオードPDIとPD5の出力は加算アンプ4
2で加算され、内側のフォトダイオードPD2とPD6
の出力は加算アンプ43で加算される。また第2のFG
32で集束された反射ビーム15°を検出する第2.第
4の光検出器25.27の各々の外側のフォトダイオー
ドPD4とPD8の出力は加算アンプ45で加算され、
内側のフォトダイオードPD3とPD7の出力は加算ア
ンプ44で加算される。そして上記加算アンプ42.4
3の出力は加算アンプ4Bで加算され、加算アンプ44
.45の出力は加算アンプ47で加算される。一方加算
アンプ42、45の出力は加算アンプ48で加算され、
加算アンプ43.44の出力は加算アンプ49で加算さ
れる。
On the other hand, the first FG 31 detects the reflected beam 15' focused by the first FG 31. The outputs of the outer photodiodes PDI and PD5 of each of the third photodetectors 24 and 26 are connected to the summing amplifier 4.
2 and the inner photodiodes PD2 and PD6
The outputs of are added by an adding amplifier 43. Also the second FG
The second .32 detects the reflected beam 15° focused at 32. The outputs of the outer photodiodes PD4 and PD8 of each of the fourth photodetectors 25 and 27 are added by a summing amplifier 45,
The outputs of the inner photodiodes PD3 and PD7 are added together by a summing amplifier 44. And the above summing amplifier 42.4
The outputs of 3 are added by the addition amplifier 4B, and the outputs of the addition amplifier 44
.. The outputs of 45 are added by an adding amplifier 47. On the other hand, the outputs of the summing amplifiers 42 and 45 are added by the summing amplifier 48,
The outputs of the summing amplifiers 43 and 44 are added by the summing amplifier 49.

また上記加算アンプ46.47の出力は差動アンプ50
に人力され、加算アンプ48.49の出力は差動アンプ
51に入力される。そして上記差動アンプ50.51の
出力D2.D3はそれぞれ、トラッキングコイル駆動制
御回路52、フォーカスコイル駆動制御回路53に入力
される。
Furthermore, the output of the adding amplifiers 46 and 47 is the differential amplifier 50.
The outputs of the adder amplifiers 48 and 49 are input to the differential amplifier 51. And the output D2. of the differential amplifier 50.51. D3 is input to a tracking coil drive control circuit 52 and a focus coil drive control circuit 53, respectively.

次に、上記構成のピックアップの作動について説明する
。半導体レーザ16がら発せられ平行ビームとされた光
ビーム(レーザビーム)15はライトガイド29を透過
し、光磁気ディスク13の反射面14上で合焦するよう
に対物レンズ18によって集束される。光磁気ディスク
13は図示しない回転駆動手段により、上記光ビーム1
5の照射位置においてトラックが矢印U方向に移動する
ように回転される。
Next, the operation of the pickup configured as described above will be explained. A parallel light beam (laser beam) 15 emitted from the semiconductor laser 16 passes through the light guide 29 and is focused by the objective lens 18 so as to be focused on the reflective surface 14 of the magneto-optical disk 13 . The magneto-optical disk 13 is driven by a rotational drive means (not shown) to drive the light beam 1.
At the irradiation position 5, the track is rotated to move in the direction of arrow U.

周知の通り上記トラックは、磁化の向き(第1図におい
て反射面14の上側に矢印で示す)の形で記録された画
像信号や音声信号等の列であり、光磁気ディスク13か
らの反射ビーム15°の直線偏光の向きは、磁化されて
いない部分がらの反射ビーム15’ の直線偏光の向き
と比べると、磁化の向きに応じて互いに反対方向に回転
する。つまりある方向に磁化している部分からの反射ビ
ーム15゛ の偏光の向きは、第2図の矢印Hで示す偏
光方向がら時計方向に回転し、それとは反対方向に磁化
している部分からの反射ビーム15°の偏光の向きは、
上記矢印Hて示す偏光方向から反時計方向に回転する°
As is well known, the track is a row of image signals, audio signals, etc. recorded in the form of magnetization directions (indicated by arrows above the reflective surface 14 in FIG. The orientation of the 15° linear polarization rotates in opposite directions depending on the orientation of the magnetization compared to the orientation of the linear polarization of the reflected beam 15' from the unmagnetized portion. In other words, the polarization direction of the reflected beam 15' from a part magnetized in a certain direction rotates clockwise from the polarization direction shown by arrow H in Figure 2, and the direction of polarization of the reflected beam 15' from a part magnetized in the opposite direction rotates clockwise. The direction of polarization of the reflected beam 15° is
Rotate counterclockwise from the polarization direction indicated by arrow H above.
.

この反射ビーム15°は対物レンズI8を通過し、FG
31.32において回折してライトガイド29内に入射
する。ライトガイド29内に入射した反射ビーム15°
は、その一表面29aと他表面29bとの間で全反射を
繰り返して進行し、FG31.32それぞれのビーム集
束作用により、y軸をはさんだ位置で集束するようにな
る。ここで、先に述べたように透光部材22を透過した
各反射ビーム15°は、各々P偏光成分15P、S偏光
成分15Sに分離される。
This reflected beam of 15° passes through the objective lens I8 and
The light is diffracted at points 31 and 32 and enters the light guide 29. Reflected beam 15° incident on light guide 29
The beam propagates through repeated total reflection between the one surface 29a and the other surface 29b, and is focused at a position across the y-axis due to the beam focusing action of each of the FGs 31 and 32. Here, as described above, each reflected beam 15° transmitted through the transparent member 22 is separated into a P polarization component 15P and an S polarization component 15S.

このP偏光成分15Pはそれぞれ第1の光検出器24(
フォトダイオードPDIとPD2)、第2の光検出器2
5(フォトダイオードPD3とPD4)によって検出さ
れ、一方S偏光成分15sはそれぞれ第3の光検出器2
6(フォトダイオードPD5とPD6)、第4の光検出
器27(フォトダイオードPD7とPD8)によって検
出される。ここで、反射ビーム15°の直線偏光の向き
が矢印Hで示す方向よりも時計方向に回転すれば、ライ
トガイド29内を進行する反射ビーム15’ のP偏光
成分15Pが増大する一方、S偏光成分15Sが減少す
る。反射ビーム15°の直線偏光の向きが矢印H方向よ
りも反時計方向に回転すれば、上記の逆となる。上記の
ようにP偏光成分が増大すれば、加算アンプ38の出力
が大きくなる一方、加算アンプ39の出力が低下する。
This P polarized light component 15P is detected by the first photodetector 24 (
photodiodes PDI and PD2), second photodetector 2
5 (photodiodes PD3 and PD4), while the S-polarized component 15s is detected by the third photodetector 2, respectively.
6 (photodiodes PD5 and PD6) and a fourth photodetector 27 (photodiodes PD7 and PD8). Here, if the direction of the linearly polarized light of the reflected beam 15° is rotated clockwise from the direction indicated by the arrow H, the P polarized light component 15P of the reflected beam 15' traveling in the light guide 29 increases, while the S polarized light Component 15S decreases. If the direction of the linearly polarized light of 15° of the reflected beam is rotated counterclockwise with respect to the direction of arrow H, the above will be reversed. If the P-polarized light component increases as described above, the output of the summing amplifier 38 increases, while the output of the summing amplifier 39 decreases.

S偏光成分15sが増大するときは、その逆である。し
たがって、例えば加算アンプ38゜39のゲインを適当
に設定すれば、反射ビーム15′の直線偏光の向きが第
2図の矢印Hで示す方向より時計方向に回転していると
きは差動アンプ40の出力を+(プラス)とし、反対に
反時計方向に回転しているときは差動アンプ40の出力
を−(マイナス)とすることができる。こうして差動ア
ンプ40の出力D1を判別することにより、光磁気ディ
スク13上の磁化の向き、つまり記録情報を読み取るこ
とができる。
The opposite is true when the S polarization component 15s increases. Therefore, for example, if the gains of the summing amplifiers 38 and 39 are appropriately set, when the direction of the linearly polarized light of the reflected beam 15' is rotated clockwise from the direction indicated by arrow H in FIG. The output of the differential amplifier 40 can be set as + (plus), and on the other hand, when the differential amplifier 40 is rotating counterclockwise, the output of the differential amplifier 40 can be set as - (minus). By determining the output D1 of the differential amplifier 40 in this manner, the direction of magnetization on the magneto-optical disk 13, that is, the recorded information can be read.

第1〜第4の光検出器24.25.26.27が出力す
る光検出信号には、例えば半導体レーザ16の光強度変
動によるノイズ、光磁気ディスク13の記録磁性膜の反
射率の変動や結晶粒に起因するノイズ等が含まれること
が多い。これらのノイズ成分は第1〜第4の光検出器2
4.25.28.27の各出力において互いに同相とな
るので、上述のような信号成分の差動検出を行なうこと
により、これらのノイズ成分が打ち消され、S/Nの高
い読取信号D1を得ることができる。
The photodetection signals output by the first to fourth photodetectors 24, 25, 26, and 27 include, for example, noise caused by fluctuations in the light intensity of the semiconductor laser 16, fluctuations in the reflectance of the recording magnetic film of the magneto-optical disk 13, etc. It often contains noise caused by crystal grains. These noise components are detected by the first to fourth photodetectors 2.
4.25, 28, and 27 are in phase with each other, so by differentially detecting the signal components as described above, these noise components are canceled and a read signal D1 with a high S/N is obtained. be able to.

なお上記例においては、第1および第2の光検出器24
.25の出力を加算した信号と、第3および第4の光検
出器28.27の出力を加算した信号との差を検出する
ようにしているが、光検出器24と26の出力信号の差
、あるいは光検出器25と27の出力信号の差を検出し
て信号読取りを行なうことも可能である。さらには、光
検出器24〜27のうちの1つの光検出器の出力変動を
検出して信号読取りを行なうことも可能である。しかし
その場合は、トラッキングエラーによって光検出器の出
力が変動するので、この変動による信号誤検出を防止す
るためには上記実施例におけるようにするのが好ましい
Note that in the above example, the first and second photodetectors 24
.. The difference between the signal obtained by adding the outputs of the photodetectors 28 and 25 and the signal obtained by adding the outputs of the third and fourth photodetectors 28 and 27 is detected. Alternatively, it is also possible to read the signal by detecting the difference between the output signals of the photodetectors 25 and 27. Furthermore, it is also possible to detect the output fluctuation of one of the photodetectors 24 to 27 and read the signal. However, in that case, the output of the photodetector fluctuates due to tracking error, so in order to prevent signal detection errors due to this fluctuation, it is preferable to do as in the above embodiment.

また本例では、FG31.32に入射する反射ビーム1
5’ の偏光方向かX軸に対して略45°の角度をなし
、透光部材22を形成する一軸異方性結晶の光学軸がX
軸と平行となるようにされているから、透光部材22に
入射する反射ビーム15′の偏光方向は上記光学軸に対
して略45°となる。このような角度になっていれば、
差動アンプ40から出力される差動出力D1のレベルが
最大となるので、記録信号の読取りを精度良く行なう上
で好ましい。
In addition, in this example, the reflected beam 1 incident on FG31.32
5', the optical axis of the uniaxial anisotropic crystal forming the transparent member 22 is at an angle of approximately 45° with respect to the X axis.
Since it is parallel to the optical axis, the polarization direction of the reflected beam 15' incident on the light-transmitting member 22 is approximately 45° with respect to the optical axis. If the angle is like this,
Since the level of the differential output D1 outputted from the differential amplifier 40 is maximized, this is preferable for reading recording signals with high accuracy.

ブロック12は先に述べたように光学系送りモータの駆
動によって矢印U方向と直角な方向、あるいはそれに近
い方向に送られ、それにより光磁気ディスク13上の光
ビーム15の照射位置(ディスク径方向位置)か変えら
れて、記録信号が連続的に読み取られる。ここで上記光
ビーム15は、所定の信号列(トラック)の中心に正し
く照射されなければならない。以下、このように光ビー
ム15の照射位置を正しく維持する制御、すなわちトラ
ッキング制御について説明する。反射ビーム15゛ の
中心がちょうどFG31とFG32との間に位置すると
き、第1および第3の光検出器24.26によって検出
される光量と、第2および第4の光検出器25゜27に
よって検出される光量とが一致する。したかってこの場
合は加算アンプ46と47の出力が等しくなり、差動ア
ンプ50の出力D2はO(ゼロ)となる。一方光ビーム
15の照射位置が不正になって、反射ビームI5°の光
強度分布が第2図中上方側に変位すると、第1および第
3の光検出器24.26の検出光量が、第2および第4
の光検出器25.27の検出光量を上回る。したがって
差動アンプ50の出力D2は+(プラス)となる。反対
に反射ビーム15°の光強度分布が第2図中下方側に変
位すると、差動アンプ50の出力D2は−(マイナス)
となる。
As described above, the block 12 is sent in a direction perpendicular to the direction of the arrow U or in a direction close to it by the drive of the optical system feed motor. position) is changed and the recorded signal is read continuously. Here, the light beam 15 must be correctly irradiated onto the center of a predetermined signal train (track). Hereinafter, control for maintaining the correct irradiation position of the light beam 15 in this manner, ie, tracking control, will be described. When the center of the reflected beam 15' is located exactly between FG31 and FG32, the amount of light detected by the first and third photodetectors 24.26 and the second and fourth photodetectors 25.27 The amount of light detected by Therefore, in this case, the outputs of the summing amplifiers 46 and 47 become equal, and the output D2 of the differential amplifier 50 becomes O (zero). On the other hand, if the irradiation position of the light beam 15 becomes incorrect and the light intensity distribution of the reflected beam I5° shifts upward in FIG. 2nd and 4th
exceeds the amount of light detected by the photodetectors 25 and 27. Therefore, the output D2 of the differential amplifier 50 becomes + (plus). On the other hand, when the light intensity distribution of the reflected beam 15° shifts downward in FIG. 2, the output D2 of the differential amplifier 50 becomes - (minus).
becomes.

つまり差動アンプ40の出力D2は、トラッキングエラ
ーの方向(第2図のX軸方向)を示すものとなる。この
出力D2はトラッキングエラー信号としてトラッキング
コイル駆動制御回路52に送られる。なおこのようにフ
ォトダイオードPDI〜8の出力を処理してトラッキン
グエラーを検出する方法は、プッシュプル法として従来
から確立されているものである。トラッキングコイル駆
動制御回路52は上記トラッキングエラー信号D2を受
け、該信号D2が示すトラッキングエラーの方向に応じ
た電流Itをトラッキングコイル19に供給し、このト
ラッキングエラーが解消される方向に対物レンズ18を
移動させる。それにより光ビーム15は、常に信号列の
中心に正しく照射されるようになる。
In other words, the output D2 of the differential amplifier 40 indicates the direction of the tracking error (X-axis direction in FIG. 2). This output D2 is sent to the tracking coil drive control circuit 52 as a tracking error signal. Note that the method of detecting a tracking error by processing the outputs of the photodiodes PDI to 8 in this manner has been conventionally established as a push-pull method. The tracking coil drive control circuit 52 receives the tracking error signal D2, supplies a current It to the tracking coil 19 according to the direction of the tracking error indicated by the signal D2, and moves the objective lens 18 in the direction in which the tracking error is eliminated. move it. As a result, the light beam 15 is always correctly irradiated onto the center of the signal train.

次にフォーカス制御、すなわち光ビーム15を光磁気デ
ィスク13の反射面14上に正しく集束させる制御につ
いて説明する。光ビーム15が光磁気ディスク13の反
射面14上で合焦しているとき、FG31により集束さ
れる反射ビーム15°のP偏光成分はフォトダイオード
PDIとPD2との中間位置で集束し、またS偏光成分
はフォトダイオードPD5とPD6との中間位置で集束
する。このとき同様にFG32により集束される反射ビ
ーム15’ のP偏光成分はフォトダイオードPD3と
PD4との中間位置で集束し、またS偏光成分はフォト
ダイオードPD7とPD8との中間位置で集束する。
Next, focus control, that is, control for correctly focusing the light beam 15 on the reflective surface 14 of the magneto-optical disk 13 will be explained. When the light beam 15 is focused on the reflective surface 14 of the magneto-optical disk 13, the P-polarized component of the reflected beam 15° focused by the FG31 is focused at an intermediate position between the photodiodes PDI and PD2, and the S The polarized light components are focused at an intermediate position between photodiodes PD5 and PD6. At this time, the P-polarized component of the reflected beam 15', which is similarly focused by FG32, is focused at an intermediate position between photodiodes PD3 and PD4, and the S-polarized component is focused at an intermediate position between photodiodes PD7 and PD8.

したがって加算アンプ48の出力と加算アンプ49の出
力は等しくなり、差動アンプ51の出力D3は0(ゼロ
)となる。一方光ビーム15が上記反射面14よりも近
い位置で集束しているときは、FC31゜32に入射す
る反射ビーム15°は収束ビームとなり、光検出器24
.25.28.27の各々における反射ビーム15’ 
の照射位置はそれぞれ内側(フォトダイオードPD2.
PD6側およびフォトダイオードPD3.PD7側)に
変位する。したがってこの場合は加算アンプ48の出力
が加算アンプ49の出力を下回り、差動アンプ51の出
力D3は−(マイナス)となる。反対に光ビーム15が
反射面14よりも遠い位置で集束しているときは、FG
31.32に入射する反射ビーム15°は発散ビームと
なり、光検出器24、25.26.27の各々における
反射ビーム15’ の照射位置はそれぞれ外側(フォト
ダイオードPD1、PD5側およびフォトダイオードP
D4.PDS側)に変位する。したがってこの場合は加
算アンプ48の出力が加算アンプ49の出力を上回り、
差動アンプ51の出力D3は+(プラス)となる。
Therefore, the output of the summing amplifier 48 and the output of the summing amplifier 49 become equal, and the output D3 of the differential amplifier 51 becomes 0 (zero). On the other hand, when the light beam 15 is focused at a position closer than the reflecting surface 14, the reflected beam 15° incident on the FC 31° 32 becomes a convergent beam, and the photodetector 24
.. Reflected beam 15' in each of 25.28.27
The irradiation positions are inside (photodiode PD2.
PD6 side and photodiode PD3. PD7 side). Therefore, in this case, the output of the summing amplifier 48 is lower than the output of the summing amplifier 49, and the output D3 of the differential amplifier 51 becomes - (minus). On the other hand, when the light beam 15 is focused at a position farther than the reflecting surface 14, the FG
The reflected beam 15° incident on the photodetectors 24, 25, 26, and 27 becomes a diverging beam, and the irradiation positions of the reflected beam 15' on each of the photodetectors 24, 25, 26, and 27 are outside (the photodiodes PD1 and PD5 sides and the photodiode P
D4. PDS side). Therefore, in this case, the output of the summing amplifier 48 exceeds the output of the summing amplifier 49,
The output D3 of the differential amplifier 51 becomes + (plus).

このように差動アンプ51の出力D3は、フォーカスエ
ラーの方向を示すものとなる。この出力D3は、フォー
カスエラー信号としてフォーカスコイル駆動制御回路5
3に送られる。なおこのようにフォトダイオードPDI
〜8の出力を処理してフォーカスエラーを検出する方法
は、従来より、フーコープリズムを用いるフーコー法に
おいて実行されているものである。フォーカスコイル駆
動制御回路53は上記フォーカスエラー信号D3を受け
、該信号D3が示すフォーカスエラーの方向に応じた電
流II’をフォーカスコイル2oに供給し、このフォー
カスエラーが解消される方向に対物レンズ18を移動さ
せる。それにより光ビーム15は、常に光磁気ディスク
13の反射面14上で正しく集束するようになる。
In this way, the output D3 of the differential amplifier 51 indicates the direction of the focus error. This output D3 is sent to the focus coil drive control circuit 5 as a focus error signal.
Sent to 3. In this way, the photodiode PDI
The method of detecting focus errors by processing the outputs of 8 to 8 is conventionally carried out in the Foucault method using a Foucault prism. The focus coil drive control circuit 53 receives the focus error signal D3, supplies the focus coil 2o with a current II' corresponding to the direction of the focus error indicated by the signal D3, and moves the objective lens 18 in the direction in which the focus error is eliminated. move. Thereby, the light beam 15 is always correctly focused on the reflective surface 14 of the magneto-optical disk 13.

以上述べたトラッキングエラーとフォーカスエラーを検
出するには、少なくとも第1と第2のPO31,32で
集束されたP偏光成分、あるいはS偏光成分を検出すれ
ばよい。また前述した記録信号の差動検出を行なわない
のであれば、上記P偏光成分あるいはS偏光成分のうち
、一方のPO31あるいは32て集束された成分を検出
するたけて記録信号を読取り可能である。したがって本
発明装置において光検出器は、少なくとも前述の光検出
器24と25、あるいは26と27の2組が設けられて
いればよい。また第1のPO31と第2のPO32の一
方で集束された反射ビーム15′のP偏光成分とS偏光
成分を検出して上述の差動検出を行なうとともに、第1
および第2のPO31,32で集束されたP偏光成分と
S偏光成分の一方のみを検出してトラッキングエラーと
フォーカスエラーを検出する場合は、光検出器24〜2
7のうぢの3つが設けられていればよい。
In order to detect the tracking error and focus error described above, it is sufficient to detect at least the P polarized light component or the S polarized light component focused by the first and second POs 31 and 32. Furthermore, if the differential detection of the recording signal described above is not performed, the recording signal can be read by detecting the component focused by one of the P polarized light components or the S polarized light components by one of the POs 31 or 32. Therefore, in the apparatus of the present invention, at least two sets of photodetectors 24 and 25 or 26 and 27 described above may be provided. Further, the P-polarized light component and the S-polarized light component of the reflected beam 15' focused by one of the first PO 31 and the second PO 32 are detected to perform the above-mentioned differential detection, and the first
When detecting only one of the P-polarized light component and the S-polarized light component focused by the second PO 31 and 32 to detect tracking error and focus error, the photodetectors 24 to 2
It is sufficient if three of the numbers 7 and 7 are provided.

しかし本実施例におけるように、P偏光成分を検出した
信号と、S偏光成分を検出した信号とを加え合わせた信
号に基づいてトラッキングエラーとフォーカスエラーを
検出すれば、エラー検出信号に、記録信号によって変調
された高周波成分が重畳することがないので、より好ま
しい。
However, as in this embodiment, if tracking errors and focus errors are detected based on a signal that is a combination of a signal that detects a P-polarized light component and a signal that detects an S-polarized light component, the error detection signal can include a recording signal. This is more preferable because the high frequency components modulated by the above do not overlap.

なお、半導体レーザ16から発せられた先ビーム15は
、コリメータレンズ17から対物レンズ18に向かう際
にPO31,32によって一部がライトガイド29に取
り込まれるので、この光ビーム15がライトガイド29
の端面29dで反射して光検出器24.25゜28、2
7に受光されることがないように、上記端面29dには
光吸収部材55を貼着したり、あるいはこの端面29d
を粗面加工しておくのが望ましい。
Note that a portion of the front beam 15 emitted from the semiconductor laser 16 is taken into the light guide 29 by the POs 31 and 32 when heading from the collimator lens 17 to the objective lens 18.
is reflected at the end surface 29d of the photodetector 24.25°28,2
7, a light absorbing member 55 is attached to the end surface 29d, or the end surface 29d is
It is desirable to roughen the surface.

またこの実施例において2つのPO31,32は、それ
ぞれの格子が連続して互いに密接した状態に形成されて
いるが、これらのPO31,32は少しの距離をおいて
互いに独立に形成されてもよい。これは以下に説明する
実施例においても同様である。
Further, in this embodiment, the two POs 31 and 32 are formed so that their respective lattices are continuous and close to each other, but these POs 31 and 32 may be formed independently from each other with a short distance between them. . This also applies to the embodiments described below.

またPO31,32によってそれぞれ集束される反射ビ
ーム15′ を互いに交差させる、つまり第2図で説明
すればPO31によるビーム集束位置がy軸の下側に、
PO32によるビーム集束位置がy軸の上側に位置する
ようにPO31,32を形成しても構わない。
In addition, the reflected beams 15' focused by PO31 and 32 are made to intersect with each other. In other words, referring to FIG. 2, the beam focusing position by PO31 is placed below the y-axis.
The POs 31 and 32 may be formed so that the beam focusing position by the PO 32 is located above the y-axis.

さらに上記実施例では透光部材22は口、>n□である
T i 02から形成されているが、この透光部材22
はn e < n □である材料も含めて、その他の材
料から形成されてもよい。例えばn a > n 。
Further, in the above embodiment, the light-transmitting member 22 is formed from the opening, T i 02, which is >n□;
may be formed from other materials, including materials where n e < n □. For example, n a > n.

である祠料としてはL LTa03 、ZnO等が挙げ
られ、一方n、<n(1である材料としてはLiNb0
a 、ADP (NHA H2PO4) 、KDP(K
H2POa ) 、水晶(S 102 ) 、方解石(
CaCO3)等が挙げられる。
Examples of abrasive materials with n, < n (1) include L LTa03, ZnO, etc., while materials with n, < n (1) include LiNb0
a, ADP (NHA H2PO4), KDP (K
H2POa ), quartz (S 102 ), calcite (
CaCO3) and the like.

次に第4図を参照して本発明の第2実施例について説明
する。なおこの第4図において、第1図中の要素と同等
の要素には同番号を付し、それらについては必要の無い
限り説明を省く (以下、同様)。この第2実施例のピ
ックアップにおいては、第1図の装置において設けられ
たコリメータレンズ17が省かれ、光磁気ディスク13
からの反射ビーム15’ は収束ビームの状態でライト
ガイド29内に取り込まれるようになっている。この場
合も、ライトガイド29内において集束する4系統の反
射ビーム15’ を、例えば第2図図示のような第1.
第2、第3および第4の光検出器24.25.28.2
7で検出し、それらの検出信号を前述のように処理すれ
ば、記録信号、トラッキングエラー、フォーカスエラー
を検出できる。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 4, elements that are equivalent to those in FIG. 1 are given the same numbers, and explanations thereof will be omitted unless necessary (the same applies hereinafter). In the pickup of this second embodiment, the collimator lens 17 provided in the apparatus of FIG. 1 is omitted, and the magneto-optical disk 13 is
The reflected beam 15' is taken into the light guide 29 in the form of a convergent beam. In this case as well, the four systems of reflected beams 15' converged within the light guide 29 are connected to the first beam 15' as shown in FIG.
Second, third and fourth photodetector 24.25.28.2
7 and process these detection signals as described above, it is possible to detect recording signals, tracking errors, and focus errors.

この場合、FG31.32のm番目の格子パターン形状
式は、空間座標およびFC31,32によるビーム集束
位置の座標を前記第1実施例の場合と同様に規定し、ま
たライトガイド29の屈折率をn!とし、また光源の座
標を(0,0,Lz)と規定すると、 −mλ+const、  (x<0で復号同順)で与え
られる。
In this case, the m-th grating pattern shape equation of FG31.32 defines the spatial coordinates and the coordinates of the beam focusing position by FC31, 32 in the same way as in the first embodiment, and also defines the refractive index of the light guide 29. n! And if the coordinates of the light source are defined as (0, 0, Lz), it is given by -mλ+const, (decoding in the same order when x<0).

次に第5図を参照して本発明の第3実施例について説明
する。この第3実施例のピックアップにおいては、ライ
トガイド29が十分屈折率の大きい材料から形成され、
光ビーム15はこのライトガイド29の表面29aで反
射して光磁気ディスク13側に進行するようになってい
る。この場合も光磁気ディスク13からの反射ビーム1
5′ は、2つのFC31゜32によって回折、集束さ
れる。
Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In the pickup of this third embodiment, the light guide 29 is made of a material with a sufficiently high refractive index,
The light beam 15 is reflected by the surface 29a of the light guide 29 and travels toward the magneto-optical disk 13. In this case as well, the reflected beam 1 from the magneto-optical disk 13
5' is diffracted and focused by two FC31°32.

第6図は本発明の第4実施例によるピックアップを示す
ものである。この実施例においては、半導体レーザ16
から発せられた光ビーム15を発散ビームの状態のまま
ライトガイド29の表面29aにおいて反射させ、光磁
気ディスク13に向けて進行させるようにしている。
FIG. 6 shows a pickup according to a fourth embodiment of the present invention. In this embodiment, the semiconductor laser 16
The light beam 15 emitted from the light guide 29 is reflected in a diverging beam state at the surface 29a of the light guide 29, and is caused to proceed toward the magneto-optical disk 13.

次に第7図を参照して本発明の第5実施例について説明
する。この実施例においては、ライトガイド29と対物
レンズ18とが1つのヘッド60に固定されて一体化さ
れ、このヘッド60がブロック12に対してトラッキン
グ方向およびフォーカス方向に移動自在に支持されてい
る。そしてこのヘッド60は、トラッキングコイル19
、フォーカスコイル20によって移動される。つまり本
例ではトラッキング制御、フォーカス制御のために、ラ
イトガイド29が対物レンズ18とともに移動される。
Next, a fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In this embodiment, the light guide 29 and the objective lens 18 are fixed and integrated into one head 60, and this head 60 is supported with respect to the block 12 so as to be movable in the tracking direction and the focusing direction. This head 60 has a tracking coil 19
, are moved by the focus coil 20. That is, in this example, the light guide 29 is moved together with the objective lens 18 for tracking control and focus control.

このようにすれば、対物レンズ18のみを移動させる場
合のようにトラッキング制御によって対物レンズ18が
ライトガイド29に対してオフセットすることが無くな
り、トラッング制御をより精度良く行なえるようになる
In this way, the objective lens 18 will not be offset with respect to the light guide 29 due to tracking control, unlike when only the objective lens 18 is moved, and tracking control can be performed with higher accuracy.

なお、半導体レーザ16およびコリメータレンズ17も
ヘッド60に固定して、ライトガイド29および対物レ
ンズ18と一体的に移動させることも可能である。
Note that it is also possible to fix the semiconductor laser 16 and the collimator lens 17 to the head 60 and move them together with the light guide 29 and the objective lens 18.

以上説明した5つの実施例においては、第1゜第2.第
3および第4の光検出器24.25.26および27が
ライトガイド29の斜めにカットされた端面29cに装
荷されているが、これらの光検出器24゜25、28お
よび27はその他の形態でライトガイド29に取り付け
ることも可能である。すなわち例えば第8図に示すよう
に、ライトガイド29の表面29aに近接させて光検出
器24.25.28.27を配置するとともに、該表面
29aに反射ビーム15“をライトガイド29外に出射
させる回折格子80を設け、そこから出射する反射ビー
ム15°を光検出器24〜27に受光させればよい。
In the five embodiments described above, the first, second, and third embodiments are different from each other. Third and fourth photodetectors 24, 25, 26 and 27 are loaded on the obliquely cut end face 29c of the light guide 29, but these photodetectors 24, 25, 28 and 27 are It is also possible to attach it to the light guide 29 in this form. That is, as shown in FIG. 8, for example, the photodetectors 24, 25, 28, 27 are arranged close to the surface 29a of the light guide 29, and the reflected beam 15'' is emitted from the surface 29a to the outside of the light guide 29. A diffraction grating 80 may be provided to allow the photodetectors 24 to 27 to receive a reflected beam of 15° emitted therefrom.

またFC31,32は、先に述べた製造方法に限らず、
公知のフォトリソ法、ホログラフィック転写法等により
すべてブレーナ技術で形成可能であり、容易に大量複製
可能である。
In addition, FC31 and 32 are not limited to the manufacturing method described above.
It can be formed using the Brehner technique using known photolithography, holographic transfer, etc., and can be easily reproduced in large quantities.

(発明の効果) 以上詳細に説明した通り本発明の光磁気記録媒体用ピッ
クアップにおいては、従来のピックアップにおいてビー
ムスプリッタ、レンズ、プリズム、ハーフミラ−および
検光子等の光学素子が果たしていた作用が、ライトガイ
ド上に形成した集光性回折格子および一軸異方性結晶か
らなる透光部材によって得られるようになっている。し
たがって本発明のピックアップは、部品点数が極めて少
なく小形軽量に形成されるので、従来装置に比べて大幅
なコストダウンが可能となり、またアクセスタイムの短
縮も可能となる。
(Effects of the Invention) As explained in detail above, in the magneto-optical recording medium pickup of the present invention, the functions played by optical elements such as beam splitters, lenses, prisms, half mirrors, and analyzers in conventional pickups are This is achieved by a light-concentrating diffraction grating formed on a guide and a light-transmitting member made of a uniaxially anisotropic crystal. Therefore, since the pickup of the present invention has an extremely small number of parts and is made small and lightweight, it is possible to significantly reduce costs and shorten access time compared to conventional devices.

そして本発明のピックアップは、その主要部分がプレー
ナ技術により容易に大量生産されうるので、この点から
も大幅なコストダウンを実現できるものとなる。
Since the main parts of the pickup of the present invention can be easily mass-produced using planar technology, significant cost reductions can also be achieved from this point of view.

また本発明のピックアップにおいては、上記のような光
学素子の位置調整は勿論不要であり、またライトガイド
に光検出器を結合したことにより光学素子と光検出器と
の位置調整も不要であり、この点てもコストダウンが達
成される。
In addition, in the pickup of the present invention, the position adjustment of the optical element as described above is of course unnecessary, and since the photodetector is coupled to the light guide, the position adjustment of the optical element and the photodetector is also unnecessary. Cost reduction can also be achieved in this respect.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の第1実施例装置を示す側面図、第2図
は上記第1実施例装置の先導波路の平面形状と電気回路
を示す概略図、 第3図は上記第1実施例装置の光検出器を詳しく示す側
面図、 第4.5.6および7図はそれぞれ、本発明の第2.第
3.第4および第5実施例装置を示す側面図、 第8図は本発明装置に用いられる光検出器の他の例を示
す側面図である。 13・・・光磁気ディスク  14・・・ディスクの反
射面15・・・光ビーム     15“・・・反射ビ
ーム16・・・半導体レーザ   17・・・コリメー
タレンズIB・・・対物レンズ    19・・・トラ
″ツキングコイル20・・・フォーカスコイル 22・
・・透光部材22a、 22b・・・透光ml材の光通
過面29・・・ライトガイド 29a・・・ライトガイ
ドの一表面29b・・・ライトガイドの他表面 29c、29d・・・ライトガイドの端面31・・・第
1のFG     32・・・第2のFG34、35.
3B、 37.38.39.42.43.44.45.
4B。 47、48.49・・・加算アンプ 40、50.51・・・差動アンプ  41・・・読取
回路52・・・トラッキングコイル駆動制御回路53・
・・フォーカスコイル駆動制御回路60・・ヘッド  
 PD1〜8・・・フォトダイオード、第1 図 第3図 第4図
FIG. 1 is a side view showing a device according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic diagram showing a planar shape of a leading waveguide and an electric circuit of the device according to the first embodiment, and FIG. 3 is a schematic diagram showing the electrical circuit of the first embodiment. 4.5.6 and 7, respectively, are side views detailing the photodetector of the device. Third. FIG. 8 is a side view showing another example of the photodetector used in the device of the present invention. 13... Magneto-optical disk 14... Reflective surface of disk 15... Light beam 15''... Reflected beam 16... Semiconductor laser 17... Collimator lens IB... Objective lens 19... Tracking coil 20...Focusing coil 22.
...Transparent members 22a, 22b...Light passing surface 29 of transparent ML material...Light guide 29a...One surface of the light guide 29b...Other surfaces of the light guide 29c, 29d...Light Guide end face 31... first FG 32... second FG 34, 35.
3B, 37.38.39.42.43.44.45.
4B. 47, 48.49... Adding amplifier 40, 50.51... Differential amplifier 41... Reading circuit 52... Tracking coil drive control circuit 53.
... Focus coil drive control circuit 60 ... Head
PD1-8...Photodiode, Fig. 1 Fig. 3 Fig. 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (1)光磁気記録媒体の表面に直線偏光した光ビームを
照射する光源と、 前記光ビームを前記光磁気記録媒体の反射面上で集束さ
せる対物レンズと、 前記光磁気記録媒体で反射した反射ビームを一表面で受
ける向きに配置されたライトガイドと、このライトガイ
ドの一表面の反射ビーム照射位置において、該ビームの
略中心を通りかつ該表面上をトラッキング方向に略直角
に延びる軸をはさんで並設され、それぞれが前記反射ビ
ームを前記一表面とそれに対向する他表面との間で全反
射を繰り返して端面側に進行する向きで該ライトガイド
内に入射させるとともに、このライトガイド内を進行す
る反射ビームを前記軸をはさんで互いに離れた位置に各
々集束させる第1、第2の集光性回折格子と、 前記ライトガイド内において全反射を繰り返して進行す
る前記反射ビームの光路に配され、該ビームの進行方向
に対して斜めのビーム通過面を有して、この反射ビーム
のP偏光成分、S偏光成分を互いに別の光路に分岐させ
る一軸異方性結晶からなる透光部材と、 前記ライトガイドの表面あるいは端面に取り付けられ、
少なくとも前記第1および第2の集光性回折格子により
集束された各反射ビームのP偏光成分またはS偏光成分
を検出する光検出器と、この光検出器の出力に基づいて
トラッキングエラーとフォーカスエラー検出を行なうエ
ラー検出回路と、 前記光検出器の出力に基づいて、前記記録媒体に記録さ
れた情報を検出する信号検出回路とからなる光磁気記録
媒体用ピックアップ。 (2)前記第1および第2の集光性回折格子により集束
された各反射ビームのP偏光成分をそれぞれ検出する第
1、第2の光検出器が設けられるとともに、 前記第1および第2の集光性回折格子により集束された
各反射ビームのS偏光成分をそれぞれ検出する第3、第
4の光検出器が設けられ、 前記信号検出回路が、前記第1、第2の光検出器の出力
の和と、第3、第4の光検出器の出力の和との差に基づ
いて前記情報の差動検出を行なうように形成されている
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光磁気記
録媒体用ピックアップ。 (3)前記第1、第2、第3、第4の光検出器がそれぞ
れ、トラッキングエラー検出、フォーカスエラー検出を
それぞれプッシュプル法、フーコー法で行なえるように
、前記軸を通りライトガイドの前記一表面に垂直な面と
略平行に延びるギャップで分割された2分割光検出器か
らなることを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の光
磁気記録媒体用ピックアップ。 (4)前記透光部材に入射する反射ビームの偏光方向が
、該透光部材の一軸異方性結晶の光学軸に対して略45
°傾くように、前記ライトガイドが配置されていること
を特徴とする特許請求の範囲第1項から第3項いずれか
1項記載の光磁気記録媒体用ピックアップ。(5)前記
ライトガイドが、前記光源と対物レンズとの間に配置さ
れていることを特徴とする特許請求の範囲第1項から第
4項いずれか1項記載の光磁気記録媒体用ピックアップ
。 (6)前記ライトガイドが、前記光源から発せられた光
ビームを反射させて、前記光磁気記録媒体の反射面に向
けて進行させるように配置されていることを特徴とする
特許請求の範囲第1項から第4項いずれか1項記載の光
磁気記録媒体用ピックアップ。 (7)前記ライトガイドと対物レンズとが互いに独立し
て配設され、該対物レンズのみがトラッキング制御およ
びフォーカス制御のために移動されるようになっている
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項から第6項いず
れか1項記載の光磁気記録媒体用ピックアップ。 (8)前記ライトガイドが前記対物レンズと一体化され
、トラッキング制御およびフォーカス制御のために該対
物レンズとともに移動されるようになっていることを特
徴とする特許請求の範囲第1項から第6項いずれか1項
記載の光磁気記録媒体用ピックアップ。
[Scope of Claims] (1) A light source that irradiates a linearly polarized light beam onto the surface of a magneto-optical recording medium, an objective lens that focuses the light beam on a reflective surface of the magneto-optical recording medium, and the magneto-optical recording medium. A light guide is arranged to receive the reflected beam reflected by the recording medium on one surface, and at the reflected beam irradiation position on one surface of this light guide, the beam passes approximately through the center of the beam and approximately runs on the surface in the tracking direction. They are arranged in parallel across axes extending at right angles, and each makes the reflected beam repeat total reflection between the one surface and the other surface opposing it, and enter the light guide in a direction in which it travels toward the end face side. and first and second light-converging diffraction gratings that respectively focus the reflected beam traveling within the light guide at positions separated from each other across the axis; A uniaxial anisotropic device that is disposed in the optical path of the reflected beam, has a beam passing surface oblique to the traveling direction of the beam, and branches the P-polarized component and the S-polarized component of the reflected beam into separate optical paths. a light-transmitting member made of synthetic crystal; attached to the surface or end face of the light guide;
a photodetector for detecting a P-polarized component or an S-polarized component of each reflected beam focused by at least the first and second condensing diffraction gratings; and a tracking error and a focus error based on the output of the photodetector. A pickup for a magneto-optical recording medium, comprising: an error detection circuit that performs detection; and a signal detection circuit that detects information recorded on the recording medium based on the output of the photodetector. (2) first and second photodetectors are provided for detecting the P-polarized light components of the respective reflected beams focused by the first and second condensing diffraction gratings; third and fourth photodetectors are provided for detecting the S-polarized light component of each reflected beam focused by the condensing diffraction grating, and the signal detection circuit is connected to the first and second photodetectors. Claim 1 characterized in that the information is differentially detected based on the difference between the sum of the outputs of the third and fourth photodetectors and the sum of the outputs of the third and fourth photodetectors. A pickup for magneto-optical recording media as described in Section 1. (3) The light guide passes through the axis so that the first, second, third, and fourth photodetectors can detect tracking errors and focus errors using the push-pull method and the Foucault method, respectively. 3. The pickup for a magneto-optical recording medium according to claim 2, comprising a two-split photodetector divided by a gap extending substantially parallel to a plane perpendicular to the one surface. (4) The polarization direction of the reflected beam incident on the light-transmitting member is approximately 45 degrees with respect to the optical axis of the uniaxially anisotropic crystal of the light-transmitting member.
4. A pickup for a magneto-optical recording medium according to any one of claims 1 to 3, wherein the light guide is arranged so as to be tilted at an angle of .degree. (5) The pickup for a magneto-optical recording medium according to any one of claims 1 to 4, wherein the light guide is arranged between the light source and the objective lens. (6) The light guide is arranged so as to reflect the light beam emitted from the light source and make it travel toward the reflective surface of the magneto-optical recording medium. The pickup for a magneto-optical recording medium according to any one of items 1 to 4. (7) The light guide and the objective lens are arranged independently of each other, and only the objective lens is moved for tracking control and focus control. A pickup for a magneto-optical recording medium according to any one of Items 1 to 6. (8) Claims 1 to 6, characterized in that the light guide is integrated with the objective lens and is moved together with the objective lens for tracking control and focus control. A pickup for a magneto-optical recording medium according to any one of the items.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009244359A (en) * 2008-03-28 2009-10-22 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd Liquid developer for thick film resist and resist pattern forming method

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