JPH0675313B2 - Pickup for magneto-optical recording medium - Google Patents

Pickup for magneto-optical recording medium

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JPH0675313B2
JPH0675313B2 JP62247320A JP24732087A JPH0675313B2 JP H0675313 B2 JPH0675313 B2 JP H0675313B2 JP 62247320 A JP62247320 A JP 62247320A JP 24732087 A JP24732087 A JP 24732087A JP H0675313 B2 JPH0675313 B2 JP H0675313B2
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optical recording
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    • G11B7/0916Foucault or knife-edge methods

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、光磁気ディスク等の光磁気記録媒体に記録さ
れている信号を読み取るためのピックアップ、特に詳細
にはライトガイドを用いて小型軽量に形成されうるピッ
クアップに関するものである。
The present invention relates to a pickup for reading a signal recorded on a magneto-optical recording medium such as a magneto-optical disk, and more particularly, it is small and lightweight using a light guide. The present invention relates to a pickup that can be formed in the.

(従来の技術) 近時、画像信号や音声信号等の記録媒体として、光磁気
ディスク等の光磁気記録媒体が広く実用に供されてい
る。この光磁気記録媒体に磁化の向きの形で記録されて
いる信号は、光学式のピックアップによって読み取られ
る。このピックアップは、例えばレーザ光等の直線偏光
光を光磁気記録媒体表面に照射し、該記録媒体において
反射した光の偏光面が磁化の向きに対応して回転する現
象(磁気カー効果)を利用して、記録媒体上の磁化の向
きを検出するようにしたものである。
(Prior Art) Recently, a magneto-optical recording medium such as a magneto-optical disk has been widely put into practical use as a recording medium for image signals and audio signals. A signal recorded in the direction of magnetization on this magneto-optical recording medium is read by an optical pickup. This pickup utilizes a phenomenon (a magnetic Kerr effect) in which the surface of a magneto-optical recording medium is irradiated with linearly polarized light such as laser light, and the plane of polarization of the light reflected by the recording medium rotates in accordance with the direction of magnetization. Then, the direction of magnetization on the recording medium is detected.

具体的にこの光磁気記録媒体用ピックアップにおいて
は、記録媒体からの反射光を検光子を通して光検出器に
より検出し、該反射光の偏光面回転に応じて検出光量が
変化することを利用して上記磁化の向き、すなわち記録
情報を読み取るようにしている。またこのピックアップ
においては、上述のようにして記録情報読取りを行なう
とともに、トラッキングエラー検出、つまり磁化状態検
出のための光ビームが所定のグループに沿ったトラック
の中心から左右どちら側にずれて照射されているかを検
出するための機能、およびフォーカスエラー検出、つま
り上記光ビームの焦点が光磁気記録媒体の反射面よりも
近くにあるかあるいは遠くにあるかを検出するための機
能を備えることが求められる。すなわちこのトラッキン
グエラー、フォーカスエラーの検出信号は、該信号が打
ち消されるようにトラッキング制御、フォーカス制御を
かけて、光ビームを所定のトラックに正しく照射するた
め、また該光ビームを光磁気記録媒体の反射面上で正し
く合焦させるために利用される。なお従来より、トラッ
キングエラー検出方法としてプッシュプル法、ヘテロダ
イン法、時間差検出法等が知られており、一方フォーカ
スエラー検出方法としては、非点収差法、臨界角検出
法、フーコー法等が知られている。
Specifically, in this magneto-optical recording medium pickup, by utilizing the fact that the reflected light from the recording medium is detected by a photodetector through an analyzer and the detected light amount changes according to the rotation of the polarization plane of the reflected light. The magnetization direction, that is, the recorded information is read. In addition, in this pickup, the recording information is read as described above, and the light beam for tracking error detection, that is, for detecting the magnetization state is radiated to the left or right side of the track along the predetermined group. And a function for detecting focus error, that is, a function for detecting whether the focus of the light beam is closer or farther than the reflecting surface of the magneto-optical recording medium. To be That is, the tracking error and focus error detection signals are subjected to tracking control and focus control so that the signals are canceled so that the light beam is correctly irradiated to a predetermined track, and the light beam is applied to the magneto-optical recording medium. Used to focus properly on the reflective surface. Conventionally, push-pull method, heterodyne method, time difference detection method, etc. are known as tracking error detection methods, while astigmatism method, critical angle detection method, Foucault method, etc. are known as focus error detection methods. ing.

信号読取機能に加えて上述のような機能を備えるために
従来の光磁気記録媒体用ピックアップは、光磁気記録媒
体において反射したビームを、該媒体に向けて照射され
ている光ビームから分離するためのビームスプリッタ
や、この反射ビームをフォトダイオード等の光検出器の
近傍で集束させるためのレンズや、前述の検光子や、さ
らには上記トラッキングエラー検出方法およびフォーカ
スエラー検出方法を実行するためのプリズム等の微小光
学素子から構成されていた。
In order to have the above-described function in addition to the signal reading function, the conventional magneto-optical recording medium pickup separates the beam reflected by the magneto-optical recording medium from the light beam emitted toward the medium. Beam splitter, a lens for focusing the reflected beam in the vicinity of a photodetector such as a photodiode, the analyzer described above, and a prism for executing the tracking error detection method and the focus error detection method. And the like.

(発明が解決しようとする問題点) しかし上記のような微小光学素子は精密な加工を要し、
またピックアップ組立てに際しての相互の位置調整も面
倒であるので、このような光学素子を用いるピックアッ
プは必然的に高価なものとなっていた。さらにこのよう
な構成のピックアップは、大型で重いものとなるので、
読取装置の小型軽量化や、アクセスタイム短縮化の点で
不利なものとなっていた。特に、読取信号のS/N向上の
ために差動検出を実行する場合には、反射ビームを2本
に分割するためのハーフミラー等が必要になり、その上
差動検出光学系によっては検光子を2個必要とすること
もあるので、ピックアップはより一層複雑化し、大型で
重いものとなる。
(Problems to be solved by the invention) However, the minute optical element as described above requires precise processing,
Further, since it is troublesome to adjust the mutual positions when assembling the pickup, a pickup using such an optical element is inevitably expensive. Furthermore, since the pickup with such a configuration is large and heavy,
It is disadvantageous in terms of downsizing and weight saving of the reading device and shortening of access time. In particular, when performing differential detection in order to improve the S / N of the read signal, a half mirror for splitting the reflected beam into two beams is required. Since it may require two photons, the pickup becomes even more complex, bulky and heavy.

上記の不具合を解消するため従来より、例えば非球面レ
ンズ等の特殊な光学素子を用いてピックアップの構成を
簡素化する試みも種々なされている。しかしこの種の光
学素子は特に高価であるので、このような素子を用いる
ピックアップは、構成は簡素化されても、コストの点で
は前述のようなピックアップとさほど変わり無いものと
なっている。
In order to solve the above problems, various attempts have conventionally been made to simplify the structure of the pickup by using a special optical element such as an aspherical lens. However, since an optical element of this kind is particularly expensive, a pickup using such an element has a structure similar to that of the above-mentioned pickup in terms of cost.

本発明は上記のような事情に鑑みてなされたものであ
り、小型軽量で、しかも極めて安価に形成されうる光磁
気記録媒体用ピックアップを提供することを目的とする
ものである。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a pickup for a magneto-optical recording medium which is small in size and light in weight and can be formed at an extremely low cost.

(問題点を解決するための手段) 本発明の光磁気記録媒体用ピックアップは、先に述べた
ビームスプリッタ、レンズ、プリズム、検光子などが果
たす作用を、集光性回折格子を備えたライトガイドによ
って得るようにしたものであり、具体的には、 光ディスク等の光磁気記録媒体の表面に直線偏光した光
ビームを照射する光源と、 上記光ビームを光磁気記録媒体の反射面上で集束させる
対物レンズと、 光磁気記録媒体で反射した反射ビームを一表面で受ける
ような向きに配置されたライトガイドとを設け、 このライトガイドの反射ビーム照射位置には、それぞれ
上記反射ビームを該ライトガイド内に入射させる第1,第
2の集光性回折格子を並設し、 これら第1,第2の集光性回折格子は、ライトガイドを照
射する反射ビームの略中心を通りかつ上記一表面上をト
ラッキング方向に略直角に延びる軸をはさんで並び、そ
れぞれが反射ビームを上記一表面とそれに対向する他表
面との間で全反射を繰り返して端面側に進行する向きで
該ライトガイド内に入射させ、そして該ライトガイド内
を進行する反射ビームを上記軸をはさんで互いに離れた
位置に各々集束させるように形成し、 一方ライトガイドには、上述のように全反射を繰り返し
て進行する反射ビームのブリュースタ角で入射する向き
に形成された端面を設け、 また少なくともこの端面を透過した2系統の前記反射ビ
ーム(つまり第1,第2の集光性回折格子によりそれぞれ
集束される反射ビーム)、またはこの端面で反射した2
系統の前記反射ビームを検出する複数の光検出器を設
け、 さらにこれらの光検出器の出力に基づいてトラッキング
エラーとフォーカスエラー検出を行なうエラー検出回路
と、 上記光検出器の出力に基づいて記録情報を検出する信号
検出回路とを設けてなるものである。
(Means for Solving the Problems) The pickup for a magneto-optical recording medium of the present invention has a light guide provided with a condensing diffraction grating to perform the functions of the above-mentioned beam splitter, lens, prism, analyzer and the like. Specifically, a light source for irradiating the surface of a magneto-optical recording medium such as an optical disk with a linearly polarized light beam, and focusing the light beam on the reflecting surface of the magneto-optical recording medium. An objective lens and a light guide arranged so as to receive the reflected beam reflected by the magneto-optical recording medium on one surface are provided, and the reflected beam is radiated at the reflected beam irradiation position of the light guide. The first and second converging diffraction gratings to be incident inside are arranged side by side, and these first and second converging diffraction gratings pass through substantially the center of the reflected beam that illuminates the light guide. In such a direction that the reflected beam repeats total reflection between the one surface and the other surface facing the same, and travels toward the end face side. Reflected beams that enter the light guide and travel in the light guide are formed so as to be focused at positions separated from each other with the axis interposed therebetween, while the light guide is totally reflected as described above. Is provided with an end face formed in the direction of incidence at the Brewster angle of the reflected beam that travels repeatedly, and at least two types of the reflected beam that has transmitted through this end face (that is, by the first and second converging diffraction gratings). (Reflected beam focused respectively), or 2 reflected by this end face
A plurality of photodetectors for detecting the reflected beam of the system are provided, and an error detection circuit for detecting tracking error and focus error based on the outputs of these photodetectors, and recording based on the output of the photodetector A signal detection circuit for detecting information is provided.

上記集光性回折格子は、曲りとチャープ、または曲りを
有する回折格子であり、入射光を回折してライトガイド
内に入射させ、またこの回折された光を集束させる。
The condensing diffraction grating is a diffraction grating having a bend and a chirp, or a bend, diffracts incident light to enter the light guide, and focuses the diffracted light.

(作用) 光磁気記録媒体からの反射ビームを上記の集光性回折格
子によってライトガイド内に取り込むことにより、該反
射ビームは光源から光磁気記録媒体に向かう光ビームの
光路から分離される。これは前述のビームスプリッタが
果たす作用と同じである。また集光性回折格子はライト
ガイド内で反射ビームを集束させるが、これは前述のレ
ンズが果たす作用と同じである。さらに第1および第2
の集光性回折格子が2個前述のような位置に配されてい
るから、光磁気記録媒体からの反射ビームは互いにトラ
ッキング方向に分離されて2箇所で集束する。これは前
述のプリズムが果たす作用と同じである。
(Operation) The reflected beam from the magneto-optical recording medium is taken into the light guide by the converging diffraction grating, so that the reflected beam is separated from the optical path of the light beam traveling from the light source to the magneto-optical recording medium. This is the same as the function performed by the beam splitter described above. Also, the converging diffraction grating focuses the reflected beam in the light guide, which is the same function as the lens described above. Further first and second
Since the two condensing diffraction gratings are arranged at the positions as described above, the reflected beams from the magneto-optical recording medium are separated from each other in the tracking direction and converge at two positions. This is the same as the function of the prism described above.

また前記ブリュースタ角は、ライトガイドの屈折率を
n1、前記端面を界面としてライトガイドに隣接している
媒質の屈折率をn2としたとき、 αB=tan-1(n2/n1) なる角度αBであり、直線偏光した反射ビームがこのブ
リュースタ角で上記端面に入射すると、所定の反射率で
そのS偏光成分の一部のみが反射し、その他のS偏光成
分およびP偏光成分は該端面を透過する。したがって、
例えば上記端面で反射した前記反射ビームの光量を検出
すれば、該端面で分離する前の反射ビーム中のS偏光成
分の割合(つまり偏光の向き)、ひいては光磁気記録媒
体の記録情報が読み取れることになる。すなわち上記ラ
イトガイド端面により、前述のハーフミラー等が果たす
ビーム分割作用が得られるとともに、前述の検光子が果
たす作用が得られる。
The Brewster angle is the refractive index of the light guide.
n 1, and the refractive index of the medium adjacent to the light guide the end face as the interface was n 2, an α B = tan -1 (n 2 / n 1) made an angle alpha B, reflected linearly polarized When the beam is incident on the end face at this Brewster's angle, only a part of the S-polarized component is reflected at a predetermined reflectance, and the other S-polarized component and P-polarized component are transmitted through the end face. Therefore,
For example, if the amount of light of the reflected beam reflected by the end face is detected, the ratio of the S-polarized component in the reflected beam (that is, the direction of polarization) before separation at the end face, and thus the recorded information on the magneto-optical recording medium, can be read. become. That is, the light guide end face provides the beam splitting action performed by the half mirror and the like, and the action performed by the analyzer.

(実施例) 以下、図面に示す実施例に基づいて本発明を詳細に説明
する。
(Example) Hereinafter, the present invention will be described in detail based on an example shown in the drawings.

第1図は本発明の第1実施例による光磁気記録媒体用ピ
ックアップを示すものであり、第2図はこのピックアッ
プのライトガイドの平面形状と電気回路を示すものであ
る。第1図に示されるようにこのピックアップは、紙面
に略垂直な方向に延びるロッド11,11に沿って移動自在
とされたブロック12を有している。このブロック12は所
定のグルーブに沿って信号例(トラック)に追随するた
めに、例えば精密送りネジと光学系送りモータ等によ
り、上記トラックの方向(ビーム照射位置において矢印
U方向)に直角な方向、あるいはそれに近い方向に移動
されるようになっている。
FIG. 1 shows a pickup for a magneto-optical recording medium according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows a plan view of a light guide of this pickup and an electric circuit. As shown in FIG. 1, this pickup has a block 12 which is movable along rods 11 extending in a direction substantially perpendicular to the plane of the drawing. In order to follow the signal example (track) along a predetermined groove, this block 12 uses a precision feed screw and an optical system feed motor or the like, for example, in a direction perpendicular to the direction of the track (direction of arrow U at the beam irradiation position). Or, it is designed to be moved in a direction close to it.

上記ブロック12には、光磁気ディスク13の反射面14に向
けて直線偏光した光ビーム(レーザビーム)15を発する
半導体レーザ16と、該半導体レーザ16から発せられた発
散ビームを平行ビームにするコリメータレンズ17と、平
行ビームとされた光ビーム15を上記反射面14上で集束さ
せる対物レンズ18とが取り付けられている。この対物レ
ンズ18は後に詳述するトラッキング制御、フォーカス制
御のために、トラッキング方向(矢印U方向に直角な方
向)およびフォーカス方向(矢印V方向)に移動可能に
支持され、トラッキングコイル19、フォーカスコイル20
によりそれぞれ上記の方向に移動されるようになってい
る。
The block 12 includes a semiconductor laser 16 that emits a linearly polarized light beam (laser beam) 15 toward a reflecting surface 14 of a magneto-optical disk 13, and a collimator that converts a divergent beam emitted from the semiconductor laser 16 into a parallel beam. A lens 17 and an objective lens 18 that focuses a collimated light beam 15 on the reflecting surface 14 are attached. The objective lens 18 is movably supported in the tracking direction (direction perpendicular to the arrow U direction) and the focus direction (direction V) for tracking control and focus control, which will be described in detail later. 20
Are moved in the above directions respectively.

上記コリメータレンズ17と対物レンズ18との間には、光
磁気ディスク13で反射した反射ビーム15′を表面29aで
受けるような向きにして、例えば光学ガラスからなる平
板状のライトガイド29が配置されている。また上記反射
ビーム15′が照射される位置においてライトガイド29の
表面29aには、第1,第2の集光性回折格子(Focusing Gr
ating:以下、FGと称する)31,32が相隣接して設けられ
ている(第2図参照)。これらのFG31,32は曲りとチャ
ープ、あるいは曲りを有する回折格子であり、それぞれ
が反射ビーム15′を回折させてライトガイド29内に入射
させ、該ライトガイド29内をその一表面29aと他表面29b
との間で全反射を繰り返して端面側に進行させ、そして
一点で集束させるように形成されている。第1,第2のFG
31,32は、前述のトラッキング方向に対して直角で反射
ビーム15′のほぼ中心を通るライトガイド29上の軸(第
2図のy軸)をはさんで並設され、またそれぞれがこの
y軸をはさんで互いに離れた位置に反射ビーム15′を集
束させるように形成されている。
Between the collimator lens 17 and the objective lens 18, a flat light guide 29 made of, for example, optical glass is arranged so that the reflected beam 15 'reflected by the magneto-optical disk 13 is received by the surface 29a. ing. The surface 29a of the light guide 29 at the position irradiated with the reflected beam 15 'has first and second focusing diffraction gratings (Focusing Gr).
ating: hereinafter referred to as FG) 31, 32 are provided adjacent to each other (see FIG. 2). These FGs 31 and 32 are diffraction gratings having bends and chirps, or bends, and each diffracts the reflected beam 15 ′ and makes it enter the light guide 29, and inside the light guide 29, its one surface 29a and the other surface. 29b
Is repeatedly formed so as to travel toward the end face side and then converge at one point. First and second FG
31 and 32 are arranged side by side with the axis (y-axis in FIG. 2) on the light guide 29 that passes through the center of the reflected beam 15 'at right angles to the above-mentioned tracking direction, and these y It is formed so as to focus the reflected beams 15 'at positions spaced apart from each other by an axis.

そしてライトガイド29は、反射ビーム15′の直線偏光方
向(矢印H方向)とx軸とが角度φ(通常10〜45°程
度)をなす向きに配置されている。なおFG31,32は、ラ
イトガイド29の表面29aとは反対側の表面29bに設けられ
てもよい。
The light guide 29 is arranged so that the direction of linear polarization of the reflected beam 15 '(direction of arrow H) and the x-axis form an angle φ (usually about 10 to 45 °). The FGs 31 and 32 may be provided on the surface 29b of the light guide 29 opposite to the surface 29a.

上記のような作用を果たすFG31,32のm番目の格子パタ
ーン形状式は、空間座標を第2図図示のx軸(トラッキ
ング方向軸)とy軸、およびこれらの軸の交点を通り両
軸と直角なz軸とによって規定してFG31,32によるビー
ム集束位置(第1図に点Kで示すように、ライトガイド
29内における全反射が無い場合の集束位置とする)の座
標をそれぞれ(−Fx,Fy,Fz)、(Fx,Fy,Fz)とし、ライ
トガイド29の屈折率をn1とし、そして反射ビーム15′の
光波長をλとすると、 で与えられる。
The m-th lattice pattern shape formula of the FG31, 32, which performs the above-mentioned action, has the spatial coordinates of both axes passing through the x-axis (tracking direction axis) and the y-axis shown in FIG. 2 and the intersection of these axes. The beam focusing position by FG31,32 defined by the right-angled z-axis (as shown by point K in FIG.
The coordinates of the focusing position when there is no total reflection in 29) are (−Fx, Fy, Fz) and (Fx, Fy, Fz), the refractive index of the light guide 29 is n 1 , and the reflected beam If the light wavelength of 15 'is λ, Given in.

上記FG31,32は、ライトガイド29上にSi-NをPCVDにて製
膜し、電子ビーム直接描画によりレジストパターンを形
成した後、RIEでSi-N膜に転写する、等の方法によって
形成することができる。
The FGs 31 and 32 are formed by a method such as forming a film of Si-N on the light guide 29 by PCVD, forming a resist pattern by electron beam direct writing, and then transferring it to a Si-N film by RIE. be able to.

ライトガイド29には、反射ビーム15′の集束位置に近い
部分において、斜めにカットされた端面29fが設けられ
ている。この端面29fには、ライトガイド29の材料より
も低屈折率の材料からなる透光部材22が密着固定されて
いる。つまりこの端面29fは、ライトガイド29と透光部
材22の界面となっている。また上記ライトガイド端面29
fは、反射ビーム15′がブリュースタ角αBで入射する角
度に形成されている。このブリュースタ角αBは前述の
通り、ライトガイド29の屈折率をn1、透光部材22の屈折
率をn2としたとき、 αB=tan-1(n2/n1) の角度である。第9図は一例としてn1=1.5、n2=1.0の
場合の、反射ビーム15′の端面29fへの入射角αと、該
端面29fでの透過、反射率との関係を反射ビーム15′の
P偏光成分、S偏光成分毎に示すものである。図中Tp
TpがそれぞれP偏光成分の透過率、反射率を示し、TS
RSがそれぞれS偏光成分の透過率、反射率を示してい
る。図示されるように反射ビーム15′が上記ブリュース
タ角αBで端面29fに入射する場合は、該端面29fにおけ
るP偏光成分の反射率Rpは0(ゼロ)となる。したがっ
てこの端面29fで反射した反射ビーム15RはS偏光成分の
みからなり、一方該端面29fを透過した反射ビーム15T
は、P偏光成分、S偏光成分の双方を含むものとなる。
端面29fに入射する光は集束光ではあるが、集光性回折
格子の集光パワーは小さいので、ここではほぼ平行な光
束とみなしてよい。従って、ブリュースタ角による検光
機能が達成される。
The light guide 29 is provided with an obliquely cut end face 29f at a portion near the focus position of the reflected beam 15 '. A transparent member 22 made of a material having a lower refractive index than the material of the light guide 29 is closely fixed to the end surface 29f. That is, the end surface 29f serves as an interface between the light guide 29 and the translucent member 22. Also, the light guide end surface 29
f is formed at an angle at which the reflected beam 15 'is incident at Brewster's angle α B. The Brewster angle alpha B are as defined above, n 1 the refractive index of the light guide 29, when the refractive index of the translucent member 22 and the n 2, alpha angle B = tan -1 (n 2 / n 1) Is. As an example, FIG. 9 shows the relationship between the incident angle α of the reflected beam 15 ′ on the end face 29f and the transmission and reflectance at the end face 29f when n 1 = 1.5 and n 2 = 1.0. 2 is shown for each of the P-polarized component and the S-polarized component. T p in the figure,
T p indicates the transmittance and reflectance of the P-polarized component, respectively, and T S ,
R S indicates the transmittance and reflectance of the S-polarized component, respectively. As shown in the figure, when the reflected beam 15 'is incident on the end face 29f at the Brewster angle α B , the reflectance R p of the P-polarized component on the end face 29f becomes 0 (zero). Therefore, the reflected beam 15R reflected by the end face 29f is composed of only the S-polarized component, while the reflected beam 15T transmitted through the end face 29f.
Includes both the P-polarized component and the S-polarized component.
The light incident on the end face 29f is focused light, but since the light-collecting power of the light-collecting diffraction grating is small, it may be regarded as a substantially parallel light beam here. Therefore, the light analysis function based on the Brewster angle is achieved.

透光部材22には、上記ライトガイド端面29fを透過した
反射ビーム15Tの光路部分において斜めにカットされた
端面22aが設けられ、この端面22a上には、第1,第2のFG
31,32の作用で集束した反射ビーム15Tをそれぞれ検出す
る第1,第2の光検出器24,25が取り付けられている。な
お、反射ビーム15は、ライトガイド29の屈折率n1より低
い屈折率n2を有する材料中を通過するので、これらの屈
折率の違いを反映した焦点位置に端面22aを設ける。一
方ライトガイド29の表面29bには、端面29fで反射した反
射ビーム15Rを検出する第3,第4の光検出器26,27が取り
付けられている。これら第3,第4の光検出器26,27はそ
れぞれ、第1,第2のFG31,32の作用で集束した反射ビー
ム15Rを検出する。第1の光検出器24は、y軸を通りラ
イトガイド表面29aに垂直な面と平行に延びるギャップ
で2分割されたフォトダイオードPD1,PD2からなり、そ
の他の光検出器25,26および27もそれぞれ同様のフォト
ダイオードPD3とPD4,PD5とPD6およびPD7とPD8からな
る。
The translucent member 22 is provided with an end face 22a that is obliquely cut in the optical path portion of the reflected beam 15T that has passed through the light guide end face 29f, and on this end face 22a, the first and second FGs are provided.
First and second photodetectors 24 and 25 for respectively detecting the reflected beam 15T focused by the action of 31,32 are attached. Since the reflected beam 15 passes through a material having a refractive index n 2 lower than the refractive index n 1 of the light guide 29, the end face 22a is provided at the focal position reflecting the difference in these refractive indices. On the other hand, the surface 29b of the light guide 29 is provided with third and fourth photodetectors 26, 27 for detecting the reflected beam 15R reflected by the end face 29f. The third and fourth photodetectors 26 and 27 detect the reflected beam 15R focused by the action of the first and second FGs 31 and 32, respectively. The first photodetector 24 is composed of photodiodes PD1 and PD2 which are divided into two by a gap which extends parallel to a plane which passes through the y-axis and is perpendicular to the light guide surface 29a, and the other photodetectors 25, 26 and 27 are also included. The photodiodes PD3 and PD4, PD5 and PD6, and PD7 and PD8 are similar to each other.

フォトダイオードPD1は一例として第3図に詳しく示す
ように、透光部材22上に下部透明電極28a、薄膜状光導
電性材料28b、および上部電極28cをこの順に装荷して形
成されたものである。そして下部透明電極28aと上部電
極28cとの間には、電源28dから所定の電界が印加され
る。この構成のフォトダイオードPD1においては、光導
電性材料28bが光照射を受けるとその光量に応じた光電
流が流れる。したがって、端子28eにおける電位変化を
検出すれば、光導電性材料28bの受光光量を検出するこ
とができる。フォトダイオードPD2〜8も、フォトダイ
オードPD1と同様に形成されている。なお薄膜状光導電
性材料28bは、例えばIV族のSi、Ge、IV族のSe、III-V族
のGaAs、II-VI族のZnO、CdS、IV-VI族のPbS等のエピタ
キシャル膜、多結晶体膜、非晶質膜等から形成可能であ
り、また非晶質カルコゲン膜(a-Se、a-Se-As-Teな
ど)、非晶質Siを主体とし水素および/またはフッ素を
含む膜(a-Si:H、a-SiGe:H、a-SiC:Hなど)にIII族、V
族の原子(B、Pなど)を添加することによりpn接合、
p-i-n接合を得てフォトダイオードを形成する膜、前記
非晶質Siを主体とし水素および/またはフッ素を含む膜
とショットキー接合を構成する電極を用いてフォトダイ
オードを形成する膜等から形成することもできる。ま
た、端面22aおよびライトガイド表面29bに外部フォトダ
イオードを密着して接着させてもよい。この場合には各
出射面に無反射コーティングするのが望ましい。
As shown in detail in FIG. 3 as an example, the photodiode PD1 is formed by loading a lower transparent electrode 28a, a thin film photoconductive material 28b, and an upper electrode 28c on a transparent member 22 in this order. . Then, a predetermined electric field is applied from the power source 28d between the lower transparent electrode 28a and the upper electrode 28c. In the photodiode PD1 having this structure, when the photoconductive material 28b is irradiated with light, a photocurrent corresponding to the amount of light flows. Therefore, the amount of light received by the photoconductive material 28b can be detected by detecting the potential change at the terminal 28e. The photodiodes PD2 to 8 are also formed similarly to the photodiode PD1. The thin film photoconductive material 28b is, for example, Si of the group IV, Ge, Se of the group IV, GaAs of the group III-V, ZnO of the group II-VI, CdS, an epitaxial film such as PbS of the group IV-VI, It can be formed from a polycrystalline film, an amorphous film, or the like, and also includes an amorphous chalcogen film (a-Se, a-Se-As-Te, etc.), amorphous Si as a main component, and hydrogen and / or fluorine. Group III, V in the film containing (a-Si: H, a-SiGe: H, a-SiC: H, etc.)
By adding a group atom (B, P, etc.), a pn junction,
A film that forms a photodiode by obtaining a pin junction, a film that forms a photodiode by using an electrode that forms a Schottky junction with the above-mentioned amorphous Si-based film that contains hydrogen and / or fluorine, etc. You can also Also, an external photodiode may be adhered and adhered to the end face 22a and the light guide surface 29b. In this case, it is desirable to apply antireflection coating to each emission surface.

第2図に示すように、反射ビーム15Rを検出するフォト
ダイオードPD5とPD6、そしてPD7とPD8の出力はそれぞれ
加算アンプ34,35で加算され、これら加算アンプ34と35
の出力はそれぞれ加算アンプ36によって加算される。ま
たこの加算アンプ36の出力は差動アンプ40の一方の入力
端子に入力され、この差動アンプ40の他方の入力端子に
は基準信号Drefが入力される。この差動アンプ40の出力
D1は読取回路41に入力される。
As shown in FIG. 2, the outputs of the photodiodes PD5 and PD6, which detect the reflected beam 15R, and PD7 and PD8 are added by adding amplifiers 34 and 35, respectively.
The respective outputs of are added by the adding amplifier 36. The output of the adding amplifier 36 is input to one input terminal of the differential amplifier 40, and the reference signal Dref is input to the other input terminal of the differential amplifier 40. The output of this differential amplifier 40
D1 is input to the reading circuit 41.

一方第1のFG31で集束された反射ビーム15T,15Rを検出
する第1,第3の光検出器24,26の各々の外側のフォトダ
イオードPD1とPD5の出力は加算アンプ42で加算され、内
側のフォトダイオードPD2とPD6の出力は加算アンプ43で
加算される。また第2のFG32で集束された反射ビーム15
T,15Rを検出する第2,第4の光検出器25,27の各々の外側
のフォトダイオードPD4とPD8の出力は加算アンプ45で加
算され、内側のフォトダイオードPD3とPD7の出力は加算
アンプ44で加算される。そして上記加算アンプ42,43の
出力は加算アンプ46で加算され、加算アンプ44,45の出
力は加算アンプ47で加算される。一方加算アンプ42,45
の出力は加算アンプ48で加算され、加算アンプ43,44の
出力は加算アンプ49で加算される。また上記加算アンプ
46,47の出力は差動アンプ50に入力され、加算アンプ48,
49の出力は差動アンプ51に入力される。そして上記差動
アンプ50,51の出力D2,D3はそれぞれ、トラッキングコイ
ル駆動制御回路52、フォーカスコイル駆動制御回路53に
入力される。
On the other hand, the outputs of the outer photodiodes PD1 and PD5 of the first and third photodetectors 24 and 26 for detecting the reflected beams 15T and 15R focused by the first FG31 are added by the summing amplifier 42, The outputs of the photodiodes PD2 and PD6 are added by the adding amplifier 43. In addition, the reflected beam 15 focused by the second FG 32
The outputs of the outer photodiodes PD4 and PD8 of the second and fourth photodetectors 25 and 27 for detecting T and 15R are added by a summing amplifier 45, and the outputs of the inner photodiodes PD3 and PD7 are added. Added at 44. The outputs of the addition amplifiers 42 and 43 are added by the addition amplifier 46, and the outputs of the addition amplifiers 44 and 45 are added by the addition amplifier 47. Meanwhile summing amplifier 42,45
Are added by the addition amplifier 48, and the outputs of the addition amplifiers 43 and 44 are added by the addition amplifier 49. In addition, the above addition amplifier
The outputs of 46 and 47 are input to the differential amplifier 50, and the summing amplifier 48,
The output of 49 is input to the differential amplifier 51. The outputs D2 and D3 of the differential amplifiers 50 and 51 are input to the tracking coil drive control circuit 52 and the focus coil drive control circuit 53, respectively.

次に、上記構成のピックアップの作動について説明す
る。半導体レーザ16から発せられ平行ビームとされた光
ビーム(レーザビーム)15はライトガイド29を透過し、
光磁気ディスク13の反射面14上で合焦するように対物レ
ンズ18によって集束される。光磁気ディスク13は図示し
ない回転駆動手段により、上記光ビーム15の照射位置に
おいてトラックが矢印U方向に移動するように回転され
る。周知の通り上記トラックは、磁化の向き(第1図に
おいて反射面14の上側に矢印で示す)の形で記録された
画像信号や音声信号等の列であり、光磁気ディスク13か
らの反射ビーム15′の直線偏光の向きは、磁化されてい
ない部分からの反射ビーム15′の直線偏光の向きと比べ
ると、磁化の向きに応じて互いに反対方向に回転する。
つまりある方向に磁化している部分からの反射ビーム1
5′の偏光の向きは、第2図の矢印Hで示す偏光方向か
ら時計方向に回転し、それとは反対方向に磁化している
部分からの反射ビーム15′の偏光の向きは、上記矢印H
で示す偏光方向から反時計方向に回転する。
Next, the operation of the pickup having the above structure will be described. The light beam (laser beam) 15 emitted from the semiconductor laser 16 and made into a parallel beam passes through the light guide 29,
It is focused by the objective lens 18 so as to be focused on the reflecting surface 14 of the magneto-optical disk 13. The magneto-optical disk 13 is rotated by a rotation driving means (not shown) so that the track moves in the arrow U direction at the irradiation position of the light beam 15. As is well known, the track is a train of image signals and audio signals recorded in the direction of magnetization (indicated by an arrow above the reflecting surface 14 in FIG. 1). The directions of linear polarization of 15 'rotate in opposite directions depending on the direction of magnetization as compared to the direction of linear polarization of the reflected beam 15' from the unmagnetized portion.
That is, the reflected beam 1 from the part magnetized in a certain direction
The polarization direction of 5'rotates clockwise from the polarization direction shown by the arrow H in FIG. 2, and the polarization direction of the reflected beam 15 'from the portion magnetized in the opposite direction is the same as that of the arrow H above.
It rotates counterclockwise from the polarization direction indicated by.

この反射ビーム15′は対物レンズ18を通過し、FG31,32
において回折してライトガイド29内に入射する。ライト
ガイド29内に入射した反射ビーム15′は、その一表面29
aと他表面29bとの間で全反射を繰り返して進行し、FG3
1,32それぞれのビーム集束作用により、y軸をはさんだ
位置で集束するようになる。先に述べたように、透光部
材22との界面であるライトガイド端面29fにおいては、
S偏光成分のみが反射し、この反射ビーム15Rは第3の
光検出器26(フォトダイオードPD5とPD6)、第4の光検
出器27(フォトダイオードPD7とPD8)によって検出され
る。ここで、反射ビーム15′の直線偏光の向きが矢印H
で示す方向よりも時計方向に回転すれば、ライトガイド
29内を進行する反射ビーム15′のP偏光成分が増大する
一方、S偏光成分が減少する。反射ビーム15′の直線偏
光の向きが矢印H方向よりも反時計方向に回転すれば、
上記の逆となる。上述のようにS偏光成分が減少すれ
ば、加算アンプ36の出力が低下する。S偏光成分が増大
するときは、その逆である。したがって、基準信号Dref
の値を適当に設定すれば、反射ビーム15′の直線偏光の
向きが第2図の矢印Hで示す方向より時計方向に回転し
ているときは差動アンプ40の出力を−(マイナス)と
し、反対に反時計方向に回転しているときは差動アンプ
40の出力を+(プラス)とすることができる。こうして
差動アンプ40の出力D1を判別することにより、光磁気デ
ィスク13上の磁化の向き、つまり記録情報を読み取るこ
とができる。
This reflected beam 15 'passes through the objective lens 18 and
The light is diffracted at and enters the light guide 29. The reflected beam 15 'incident on the light guide 29 has one surface 29
Repeats total reflection between a and the other surface 29b to proceed to FG3
The beam focusing action of each of 1,32 causes the beam to be focused at a position sandwiching the y axis. As described above, at the light guide end surface 29f, which is the interface with the translucent member 22,
Only the S-polarized component is reflected, and the reflected beam 15R is detected by the third photodetector 26 (photodiodes PD5 and PD6) and the fourth photodetector 27 (photodiodes PD7 and PD8). Here, the direction of the linearly polarized light of the reflected beam 15 'is the arrow H.
If you rotate it clockwise than the direction shown by,
The P-polarized component of the reflected beam 15 'traveling in 29 increases, while the S-polarized component decreases. If the direction of the linearly polarized light of the reflected beam 15 'rotates counterclockwise than the direction of arrow H,
The opposite is true. If the S-polarized component decreases as described above, the output of the summing amplifier 36 decreases. The opposite is true when the S polarization component increases. Therefore, the reference signal Dref
If the value of is properly set, the output of the differential amplifier 40 is set to- (minus) when the direction of the linearly polarized light of the reflected beam 15 'is rotated clockwise from the direction shown by the arrow H in FIG. , On the contrary, when rotating counterclockwise, a differential amplifier
40 outputs can be + (plus). By discriminating the output D1 of the differential amplifier 40 in this way, the direction of magnetization on the magneto-optical disk 13, that is, the recorded information can be read.

なお上記例においては、第3および第4の光検出器26,2
7の出力を加算した信号に基づいて記録信号を検出する
ようにしているが、これらの光検出器26,27のうちの一
方の出力変動を検出して信号読取りを行なうことも可能
である。しかしその場合は、トラッキングエラーによっ
て光検出器の出力が変動するので、この変動による信号
誤検出を防止するためには上記実施例におけるようにす
るのが好ましい。
In the above example, the third and fourth photodetectors 26, 2
Although the recording signal is detected based on the signal obtained by adding the outputs of 7 signals, it is also possible to detect the output fluctuation of one of the photodetectors 26 and 27 and read the signal. However, in that case, the output of the photodetector fluctuates due to the tracking error. Therefore, in order to prevent erroneous signal detection due to this fluctuation, it is preferable to adopt the above-mentioned embodiment.

ブロック12は先に述べたように光学系送りモータの駆動
によって矢印U方向と直角な方向、あるいはそれに近い
方向に送られ、それにより光磁気ディスク13上の光ビー
ム15の照射位置(ディスク径方向位置)が変えられて、
記録信号が連続的に読み取られる。ここで上記光ビーム
15は、所定の信号列(トラック)の中心に正しく照射さ
れなければならない。以下、このように光ビーム15の照
射位置を正しく維持する制御、すなわちトラッキング制
御について説明する。反射ビーム15′の中心がちょうど
FG31とFG32との間に位置するとき、第1および第3の光
検出器24,26によって検出される光量と、第2および第
4の光検出器25,27によって検出される光量とが一致す
る。したがってこの場合は加算アンプ46と47の出力が等
しくなり、差動アンプ50の出力D2は0(ゼロ)となる。
一方光ビーム15の照射位置が不正になって、反射ビーム
15′の光強度分布が第2図中上方側に変位すると、第1
および第3の光検出器24,26の検出光量が、第2および
第4の光検出器25,27の検出光量を上回る。したがって
差動アンプ50の出力D2は+(プラス)となる。反対に反
射ビーム15′の光強度分布が第2図中下方側に変位する
と、差動アンプ50の出力D2は−(マイナス)となる。つ
まり差動アンプ40の出力D2は、トラッキングエラーの方
向(第2図のx軸方向)を示すものとなる。この出力D2
はトラッキングエラー信号としてトラッキングコイル駆
動制御回路52に送られる。なおこのようなフォトダイオ
ードPD1〜8の出力を処理してトラッキングエラーを検
出する方法は、プッシュプル法として従来から確立され
ているものである。トラッキングコイル駆動制御回路52
は上記トラッキングエラー信号D2を受け、該信号D2が示
すトラッキングエラーの方向に応じた電流Itをトラッキ
ングコイル19に供給し、このトラッキングエラーが解消
される方向に対物レンズ18を移動させる。それにより光
ビーム15は、常に信号列の中心に正しく照射されるよう
になる。
As described above, the block 12 is fed by the drive of the optical system feed motor in the direction perpendicular to the direction of the arrow U or in the direction close thereto, whereby the irradiation position of the light beam 15 on the magneto-optical disc 13 (the disc radial direction). Position) is changed,
The recording signal is continuously read. Where the above light beam
15 must be correctly illuminated in the center of a given signal train (track). Hereinafter, the control for properly maintaining the irradiation position of the light beam 15, that is, the tracking control will be described. The center of the reflected beam 15 'is just
When located between FG31 and FG32, the amount of light detected by the first and third photodetectors 24, 26 matches the amount of light detected by the second and fourth photodetectors 25, 27. To do. Therefore, in this case, the outputs of the summing amplifiers 46 and 47 become equal, and the output D2 of the differential amplifier 50 becomes 0 (zero).
On the other hand, the irradiation position of the light beam 15 becomes incorrect and the reflected beam
When the light intensity distribution of 15 'is displaced to the upper side in FIG.
The amount of light detected by the third and third photodetectors 24, 26 exceeds the amount of light detected by the second and fourth photodetectors 25, 27. Therefore, the output D2 of the differential amplifier 50 becomes + (plus). On the contrary, when the light intensity distribution of the reflected beam 15 'is displaced downward in FIG. 2, the output D2 of the differential amplifier 50 becomes-(minus). That is, the output D2 of the differential amplifier 40 indicates the tracking error direction (x-axis direction in FIG. 2). This output D2
Is sent to the tracking coil drive control circuit 52 as a tracking error signal. The method of processing the outputs of the photodiodes PD1 to PD8 to detect the tracking error is conventionally established as a push-pull method. Tracking coil drive control circuit 52
Receives the tracking error signal D2, supplies a current It according to the direction of the tracking error indicated by the signal D2 to the tracking coil 19, and moves the objective lens 18 in the direction in which the tracking error is eliminated. As a result, the light beam 15 is always radiated correctly to the center of the signal train.

次にフォーカス制御、すなわち光ビーム15を光磁気ディ
スク13の反射面14上に正しく集束させる制御について説
明する。光ビーム15が光磁気ディスク13の反射面14上で
合焦しているとき、FG31により集束される反射ビーム15
TはフォトダイオードPD1とPD2との中間位置で集束し、
また反射ビーム15RはフォトダイオードPD5とPD6との中
間位置で集束する。このとき同様にFG32により集束され
る反射ビーム15TはフォトダイオードPD3とPD4との中間
位置で集束し、また反射ビーム15RはフォトダイオードP
D7とPD8との中間位置で集束する。したがって加算アン
プ48の出力と加算アンプ49の出力は等しくなり、差動ア
ンプ51の出力D3は0(ゼロ)となる。一方光ビーム15が
上記反射面14よりも近い位置で集束しているときは、FG
31,32に入射する反射ビーム15′は収束ビームとなり、
光検出器24,25,26,27の各々における反射ビーム15′の
照射位置はそれぞれ内側(フォトダイオードPD2,PD6側
およびフォトダイオードPD3,PD7側)に変位する。した
がってこの場合は加算アンプ48の出力が加算アンプ49の
出力を下回り、差動アンプ51の出力D3は−(マイナス)
となる。反対に光ビーム15が反射面14よりも遠い位置で
集束しているときは、FG31,32に入射する反射ビーム1
5′は発散ビームとなり、光検出器24,25と光検出器26,2
7の各々における反射ビーム15Tと15Rの照射位置はそれ
ぞれ外側(フォトダイオードPD1,PD5側およびフォトダ
イオードPD4,PD8側)に変位する。したがってこの場合
は加算アンプ48の出力が加算アンプ49の出力を上回り、
差動アンプ51の出力D3は+(プラス)となる。このよう
に差動アンプ51の出力D3は、フォーカスエラーの方向を
示すものとなる。この出力D3は、フォーカスエラー信号
としてフォーカスコイル駆動制御回路53に送られる。な
おこのようにフォトダイオードPD1〜8の出力を処理し
てフォーカスエラーを検出する方法は、従来より、フー
コープリズムを用いるフーコー法において実行されてい
るものである。フォーカスコイル駆動制御回路53は上記
フォーカスエラー信号D3を受け、該信号D3が示すフォー
カスエラーの方向に応じた電流Ifをフォーカスコイル20
に供給し、このフォーカスエラーが解消される方向に対
物レンズ18を移動させる。それにより光ビーム15は、常
に光磁気ディスク13の反射面14上で正しく集束するよう
になる。
Next, focus control, that is, control for correctly focusing the light beam 15 on the reflecting surface 14 of the magneto-optical disk 13 will be described. When the light beam 15 is focused on the reflecting surface 14 of the magneto-optical disk 13, the reflected beam 15 focused by the FG 31
T is focused at an intermediate position between the photodiodes PD1 and PD2,
Further, the reflected beam 15R is focused at an intermediate position between the photodiodes PD5 and PD6. At this time, similarly, the reflected beam 15T focused by the FG32 is focused at an intermediate position between the photodiodes PD3 and PD4, and the reflected beam 15R is reflected by the photodiode P.
Focus at an intermediate position between D7 and PD8. Therefore, the output of the addition amplifier 48 and the output of the addition amplifier 49 become equal, and the output D3 of the differential amplifier 51 becomes 0 (zero). On the other hand, when the light beam 15 is focused at a position closer than the reflecting surface 14, FG
The reflected beam 15 'incident on 31,32 becomes a convergent beam,
The irradiation position of the reflected beam 15 'on each of the photodetectors 24, 25, 26, 27 is displaced inward (to the photodiode PD2, PD6 side and photodiode PD3, PD7 side). Therefore, in this case, the output of the adding amplifier 48 is lower than the output of the adding amplifier 49, and the output D3 of the differential amplifier 51 is-(minus).
Becomes On the contrary, when the light beam 15 is focused at a position farther than the reflecting surface 14, the reflected beam 1 incident on the FGs 31 and 32
5'becomes a divergent beam, and photodetectors 24 and 25 and photodetectors 26 and 2
The irradiation positions of the reflected beams 15T and 15R in each of 7 are displaced to the outside (on the side of the photodiodes PD1 and PD5 and on the side of the photodiodes PD4 and PD8). Therefore, in this case, the output of the summing amplifier 48 exceeds the output of the summing amplifier 49,
The output D3 of the differential amplifier 51 becomes + (plus). In this way, the output D3 of the differential amplifier 51 indicates the direction of focus error. This output D3 is sent to the focus coil drive control circuit 53 as a focus error signal. The method of processing the outputs of the photodiodes PD1 to PD8 to detect the focus error in this way is conventionally executed in the Foucault method using a Foucault prism. The focus coil drive control circuit 53 receives the focus error signal D3, and supplies a current If depending on the direction of the focus error indicated by the signal D3 to the focus coil 20.
And the objective lens 18 is moved in a direction in which this focus error is eliminated. As a result, the light beam 15 is always correctly focused on the reflecting surface 14 of the magneto-optical disk 13.

以上述べたトラッキングエラーとフォーカスエラーを検
出するには、少なくとも第1と第2のFG31,32で集束さ
れた反射ビーム15T、あるいは反射ビーム15Rを検出すれ
ばよい。またP偏光成分とS偏光成分の双方を含む反射
ビーム15Tも、P偏光成分が増大するときとS偏光成分
が増大するときとでは光量の増加率が異なるので、この
反射ビーム15Tの光量変動を検出することによって記録
信号を読み取ることも可能である。したがって本発明装
置において光検出器は、少なくとも前述の光検出器24と
25、あるいは26と27が設けられていればよい。
To detect the tracking error and the focus error described above, at least the reflected beam 15T or the reflected beam 15R focused by the first and second FGs 31 and 32 may be detected. Also, in the reflected beam 15T including both the P-polarized component and the S-polarized component, the increase rate of the light amount differs when the P-polarized component increases and when the S-polarized component increases. It is also possible to read the recording signal by detecting. Therefore, in the device of the present invention, the photodetector is at least the aforementioned photodetector 24.
25, or 26 and 27 may be provided.

しかし本実施例におけるように、P偏光成分とS偏光成
分の双方の和を示す信号に基づいてトラッキングエラー
とフォーカスエラーを検出すれば、エラー検出信号に、
記録信号によって変調された高周波成分が重畳すること
がないので、より好ましい。
However, as in this embodiment, if the tracking error and the focus error are detected based on the signal indicating the sum of both the P-polarized component and the S-polarized component, the error detection signal is
It is more preferable because the high frequency component modulated by the recording signal does not overlap.

なお、半導体レーザ16から発せられた光ビーム15は、コ
リメータレンズ17から対物レンズ18に向かう際にFG31,3
2によって一部がライトガイド29に取り込まれるので、
この光ビーム15がライトガイド29の端面29dで反射して
光検出器24,25,26,27に受光されることがないように、
上記端面29dには光吸収部材55を貼着したり、あるいは
この端面29dを粗面加工しておくのが望ましい。
The light beam 15 emitted from the semiconductor laser 16 is FG31,3 when traveling from the collimator lens 17 to the objective lens 18.
Part 2 is taken into the light guide 29 by 2, so
This light beam 15 is not reflected by the end surface 29d of the light guide 29 and received by the photodetectors 24, 25, 26, 27,
It is desirable to attach a light absorbing member 55 to the end surface 29d or to roughen the end surface 29d.

またこの実施例において2つのFG31,32は、それぞれの
格子が連続して互いに密接した状態に形成されている
が、これらのFG31,32は少しの距離をおいて互いに独立
に形成されてもよい。これは以下に説明する実施例にお
いても同様である。
Further, in this embodiment, the two FGs 31 and 32 are formed such that their respective grids are continuous and in close contact with each other, but these FGs 31 and 32 may be formed independently of each other with a small distance. . This also applies to the embodiments described below.

またFG31,32によってそれぞれ集束される反射ビーム1
5′を互いに交差させる、つまり第2図で説明すればFG3
1によるビーム集束位置がy軸の下側に、FG32によるビ
ーム集束位置がy軸の上側に位置するようにFG31,32を
形成しても構わない。
In addition, the reflected beam 1 focused by FG31 and 32, respectively
5'intersect each other, that is, FG3 if explained in FIG.
The FGs 31 and 32 may be formed such that the beam focusing position by 1 is below the y axis and the beam focusing position by FG 32 is above the y axis.

さらに上記実施例ではライトガイド端面29fに透光部材2
2が密着固定されているが、特にこのような透光部材22
は設けず、上記端面29fを透過した反射ビーム15Tを直接
空気中に出射させて検出するようにしてもよい。
Further, in the above embodiment, the light transmitting member 2 is provided on the end face 29f of the light guide.
2 is fixed in close contact with the transparent member 22.
Alternatively, the reflected beam 15T transmitted through the end face 29f may be directly emitted into the air for detection.

次に第4図を参照して本発明の第2実施例について説明
する。なおこの第4図において、第1図中の要素と同等
の要素には同番号を付し、それらについては必要の無い
限り説明を省く(以下、同様)。この第2実施例のピッ
クアップにおいては、第1図の装置において設けられた
コリメータレンズ17が省かれ、光磁気ディスク13からの
反射ビーム15′は収束ビームの状態でライトガイド29内
に取り込まれるようになっている。この場合も、ライト
ガイド29内において集束する4系統の反射ビーム15′
を、例えば第2図図示のような第1,第2,第3および第4
の光検出器24,25,26,27で検出し、それらの検出信号を
前述のように処理すれば、記録信号、トラッキングエラ
ー、フォーカスエラーを検出できる。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 4, elements that are the same as the elements in FIG. 1 are given the same numbers, and explanations thereof are omitted unless necessary (the same applies below). In the pickup of the second embodiment, the collimator lens 17 provided in the apparatus of FIG. 1 is omitted, and the reflected beam 15 'from the magneto-optical disk 13 is taken into the light guide 29 in a converged beam state. It has become. In this case also, the four reflected beams 15 'that are focused in the light guide 29 are used.
For example, as shown in FIG. 2, the first, second, third and fourth
If the photodetectors 24, 25, 26, and 27 detect the signals and process the detection signals as described above, the recording signal, the tracking error, and the focus error can be detected.

この場合、FG31,32のm番目の格子パターン形状式は、
空間座標およびFG31,32によるビーム集束位置の座標を
前記第1実施例の場合と同様に規定し、またライトガイ
ド29の屈折率をn1とし、また光源の座標を(0,0,LZ)と
規定すると、 で与えられる。
In this case, the m-th grid pattern shape formula of FG31, 32 is
The spatial coordinates and the coordinates of the beam focusing position by FG31, 32 are defined as in the case of the first embodiment, the refractive index of the light guide 29 is n 1, and the coordinates of the light source are (0, 0, L Z ), Given in.

次に第5図を参照して本発明の第3実施例について説明
する。この第3実施例のピックアップにおいては、ライ
トガイド29が十分屈折率の大きい材料から形成され、光
ビーム15はこのライトガイド29の表面29aで反射して光
磁気ディスク13側に進行するようになっている。この場
合も光磁気ディスク13からの反射ビーム15′は、2つの
FG31,32によって回折、集束される。
Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In the pickup of the third embodiment, the light guide 29 is made of a material having a sufficiently large refractive index, and the light beam 15 is reflected by the surface 29a of the light guide 29 and travels toward the magneto-optical disk 13 side. ing. In this case as well, the reflected beam 15 'from the magneto-optical disk 13 has two
Diffracted and focused by FG31 and 32.

第6図は本発明の第4実施例によるピックアップを示す
ものである。この実施例においては、半導体レーザ16か
ら発せられた光ビーム15を発散ビームの状態のままライ
トガイド29の表面29aにおいて反射させ、光磁気ディス
ク13に向けて進行させるようにしている。
FIG. 6 shows a pickup according to the fourth embodiment of the present invention. In this embodiment, the light beam 15 emitted from the semiconductor laser 16 is reflected on the surface 29a of the light guide 29 in the state of a divergent beam, and travels toward the magneto-optical disk 13.

次に第7図を参照して本発明の第5実施例について説明
する。この実施例においては、ライトガイド29と対物レ
ンズ18とが1つのヘッド60に固定されて一体化され、こ
のヘッド60がブロック12に対してトラッキング方向およ
びフォーカス方向に移動自在に支持されている。そして
このヘッド60は、トラッキングコイル19、フォーカスコ
イル20によって移動される。つまり本例ではトラッキン
グ制御、フォーカス制御のために、ライトガイド29が対
物レンズ18とともに移動される。このようにすれば、対
物レンズ18のみを移動させる場合のようにトラッキング
制御によって対物レンズ18がライトガイド29に対してオ
フセットすることが無くなり、トラッキング制御をより
精度良く行なえるようになる。
Next, a fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In this embodiment, the light guide 29 and the objective lens 18 are fixed to and integrated with one head 60, and this head 60 is supported movably in the tracking direction and the focus direction with respect to the block 12. The head 60 is moved by the tracking coil 19 and the focus coil 20. That is, in this example, the light guide 29 is moved together with the objective lens 18 for tracking control and focus control. By doing so, the objective lens 18 does not offset with respect to the light guide 29 due to the tracking control as in the case of moving only the objective lens 18, and the tracking control can be performed more accurately.

なお、半導体レーザ16およびコリメータレンズ17もヘッ
ド60に固定して、ライトガイド29および対物レンズ18と
一体的に移動させることも可能である。
It is also possible to fix the semiconductor laser 16 and the collimator lens 17 to the head 60 and move them integrally with the light guide 29 and the objective lens 18.

以上説明した5つの実施例においては、第1,第2の光検
出器24,25が透光部材22の斜めにカットされた端面22aに
装荷されているが、これらの光検出器24,25はその他の
形態で透光部材22に取り付けることも可能である。すな
わち例えば第8図に示すように、透光部材22の表面22b
に近接させて光検出器24,25を配置するとともに、該表
面22bに反射ビーム15Tを出射させる回折格子80を設け、
そこから出射する反射ビーム15Tを光検出器24,25に受光
させればよい。これは、ライトガイド29の表面29bへの
光検出器26,27の取付けについても同様である。
In the five embodiments described above, the first and second photodetectors 24, 25 are loaded on the obliquely cut end face 22a of the translucent member 22, but these photodetectors 24, 25 Can be attached to the translucent member 22 in other forms. That is, for example, as shown in FIG.
The photodetectors 24 and 25 are arranged in close proximity to, and a diffraction grating 80 for emitting the reflected beam 15T is provided on the surface 22b.
The reflected beam 15T emitted therefrom may be received by the photodetectors 24 and 25. This also applies to mounting the photodetectors 26 and 27 on the surface 29b of the light guide 29.

またFG31,32は、先に述べた製造方法に限らず、公知の
フォトリソ法、ホログラフィック転写法等によりすべて
プレーナ技術で形成可能であり、容易に大量複製可能で
ある。
Further, the FGs 31 and 32 are not limited to the manufacturing method described above, and can be formed by the planar technology by a known photolithography method, a holographic transfer method, or the like, and can be easily mass copied.

(発明の効果) 以上詳細に説明した通り本発明の光磁気記録媒体用ピッ
クアップにおいては、従来のピックアップにおいてビー
ムスプリッタ、レンズ、プリズム、ハーフミラーおよび
検光子等の光学素子が果たしていた作用が、ライトガイ
ド上に形成した集光性回折格子、およびブリュースタ角
で反射ビームが入射するように形成されたライトガイド
端面によって得られるようになっている。したがって本
発明のピックアップは、部品点数が極めて少なく小形軽
量に形成されるので、従来装置に比べて大幅なコストダ
ウンが可能となり、またアクセスタイムの短縮も可能と
なる。
(Effects of the Invention) As described in detail above, in the pickup for a magneto-optical recording medium of the present invention, the action performed by the optical elements such as the beam splitter, the lens, the prism, the half mirror and the analyzer in the conventional pickup is It is obtained by the converging diffraction grating formed on the guide and the end surface of the light guide formed so that the reflected beam is incident at the Brewster angle. Therefore, since the pickup of the present invention has a very small number of parts and is formed in a small size and light weight, the cost can be significantly reduced as compared with the conventional device, and the access time can be shortened.

そして本発明のピックアップは、その主要部分がプレー
ナ技術により容易に大量生産されうるので、この点から
も大幅なコストダウンを実現できるものとなる。
Since the main part of the pickup of the present invention can be easily mass-produced by the planar technique, a significant cost reduction can be realized from this point as well.

また本発明のピックアップにおいては、上記のような光
学素子の位置調整は勿論不要であり、またライトガイド
に光検出器を結合したことにより光学素子と光検出器と
の位置調整も不要であり、この点でもコストダウンが達
成される。
Further, in the pickup of the present invention, it is of course unnecessary to adjust the position of the optical element as described above, and it is also unnecessary to adjust the position of the optical element and the photodetector by coupling the photodetector to the light guide, Also in this respect, cost reduction can be achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の第1実施例装置を示す側面図、 第2図は上記第1実施例装置の光導波路の平面形状と電
気回路を示す概略図、 第3図は上記第1実施例装置の光検出器を詳しく示す側
面図、 第4,5,6および7図はそれぞれ、本発明の第2,第3,第4
および第5実施例装置を示す側面図、 第8図は本発明装置に用いられる光検出器の他の例を示
す側面図、 第9図は本発明に係るP偏光成分、S偏光成分毎のライ
トガイド端面への入射角と、その透過率、反射率の関係
を示すグラフである。 13…光磁気ディスク、14…ディスクの反射面 15…光ビーム、15′…反射ビーム 15R…ライトガイド端面で反射した反射ビーム 15T…ライトガイド端面を透過した反射ビーム 16…半導体レーザ、17…コリメータレンズ 18…対物レンズ、19…トラッキングコイル 20…フォーカスコイル、22…透光部材 22a…透光部材の端面、22b…透光部材の表面 29…ライトガイド、29a…ライトガイドの一表面 29b…ライトガイドの他表面 29d,29f…ライトガイドの端面 31…第1のFG、32…第2のFG 34,35,36,42,43,44,45,46,47,48,49…加算アンプ 40,50,51…差動アンプ、41…読取回路 52…トラッキングコイル駆動制御回路 53…フォーカスコイル駆動制御回路 60…ヘッド、PD1〜8…フォトダイオード、
FIG. 1 is a side view showing the first embodiment device of the present invention, FIG. 2 is a schematic view showing the planar shape of an optical waveguide and an electric circuit of the first embodiment device, and FIG. 3 is the first embodiment. The side view showing the photodetector of the device in detail, FIGS. 4, 5, 6 and 7 are respectively the second, third and fourth of the present invention.
And FIG. 8 is a side view showing the fifth embodiment device, FIG. 8 is a side view showing another example of the photodetector used in the device of the present invention, and FIG. 7 is a graph showing the relationship between the incident angle on the end face of the light guide and its transmittance and reflectance. 13 ... Magneto-optical disk, 14 ... Reflective surface of disk 15 ... Light beam, 15 '... Reflected beam 15R ... Reflected beam reflected by light guide end surface 15T ... Reflected beam transmitted through light guide end surface 16 ... Semiconductor laser, 17 ... Collimator Lens 18 ... Objective lens, 19 ... Tracking coil 20 ... Focus coil, 22 ... Transparent member 22a ... End face of transparent member, 22b ... Surface of transparent member 29 ... Light guide, 29a ... One surface of light guide 29b ... Light Other surface of guide 29d, 29f ... End surface of light guide 31 ... First FG, 32 ... Second FG 34,35,36,42,43,44,45,46,47,48,49 ... Summing amplifier 40 , 50, 51 ... Differential amplifier, 41 ... Reading circuit 52 ... Tracking coil drive control circuit 53 ... Focus coil drive control circuit 60 ... Head, PD1-8 ... Photodiode,

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】光磁気記録媒体の表面に直線偏光した光ビ
ームを照射する光源と、 前記光ビームを前記光磁気記録媒体の反射面上で集束さ
せる対物レンズと、 前記光磁気記録媒体で反射した反射ビームを一表面で受
ける向きの配置されたライトガイドと、 このライトガイドの一表面の反射ビーム照射位置におい
て、該ビームの略中心を通りかつ該表面上をトラッキン
グ方向に略直角に延びる軸をはさんで並設され、それぞ
れが前記反射ビームを前記一表面とそれに対向する他表
面との間で全反射を繰り返して端面側に進行する向きで
該ライトガイド内に入射させるとともに、このライトガ
イド内を進行する反射ビームを前記軸をはさんで互いに
離れた位置に各々集束させる第1,第2の集光性回折格子
と、 前記ライトガイド内において全反射を繰り返して進行す
る前記反射ビームがブリュースタ角で入射する向きに形
成されたライトガイド端面と、 少なくともこの端面を透過した2系統の前記反射ビー
ム、またはこの端面で反射した2系統の前記反射ビーム
を検出する複数の光検出器と、 これらの光検出器の出力に基づいてトラッキングエラー
とフォーカスエラー検出を行なうエラー検出回路と、 前記光検出器の出力に基づいて、前記記録媒体に記録さ
れた情報を検出する信号検出回路とからなる光磁気記録
媒体用ピックアップ。
1. A light source for irradiating a surface of a magneto-optical recording medium with a linearly polarized light beam, an objective lens for converging the light beam on a reflecting surface of the magneto-optical recording medium, and a reflection on the magneto-optical recording medium. A light guide arranged so as to receive the reflected beam on one surface thereof, and an axis extending substantially through the center of the beam at the reflected beam irradiation position on the one surface of the light guide and extending on the surface substantially at a right angle to the tracking direction. The light beams are arranged in parallel with each other and are incident on the light guide in a direction in which the reflected beam repeats total reflection between the one surface and the other surface facing the one surface and advances toward the end face side. First and second converging diffraction gratings for converging the reflected beams traveling in the guide at positions separated from each other with the axis in between, and total reflection in the light guide. A light guide end face formed in a direction in which the reflected beam that travels back by traveling enters at a Brewster angle, and two reflected beams transmitted through at least this end face, or two reflected beams reflected by this end face A plurality of photodetectors for detecting the error, an error detection circuit for detecting a tracking error and a focus error based on the outputs of these photodetectors, and an output of the photodetectors, recorded on the recording medium. A pickup for a magneto-optical recording medium, which comprises a signal detection circuit for detecting information.
【請求項2】前記ライトガイド端面を透過した2系統の
前記反射ビームを各々検出する第1,第2の光検出器が設
けられるとともに、 該端面で反射した2系統の前記反射ビームを検出する第
3,第4の光検出器が設けられ、 前記エラー検出回路がこれら第1,第2,第3,第4の光検出
器の出力に基づいて前記トラッキングエラー検出、フォ
ーカスエラー検出を行なうように形成され、 前記信号検出回路が、前記第3,第4の光検出器の出力の
和に基づいて前記情報の検出を行なうように形成されて
いることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光磁
気記録媒体用ピックアップ。
2. A first photodetector and a second photodetector respectively detecting the two reflected beams transmitted through the end face of the light guide are provided, and the two reflected beams reflected by the end face are detected. First
Third and fourth photodetectors are provided, and the error detection circuit performs the tracking error detection and the focus error detection based on the outputs of the first, second, third, and fourth photodetectors. 3. The signal detection circuit according to claim 1, wherein the signal detection circuit is formed so as to detect the information based on a sum of outputs of the third and fourth photodetectors. A pickup for the magneto-optical recording medium described.
【請求項3】前記第1,第2,第3,第4の光検出器がそれぞ
れ、トラッキングエラー検出、フォーカスエラー検出を
それぞれプッシュプル法,フーコー法で行なえるよう
に、前記軸を通りライトガイドの前記一表面に垂直な面
と略平行に延びるギャップで分割された2分割光検出器
からなることを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の
光磁気記録媒体用ピックアップ。
3. The light is passed through the axis so that the first, second, third and fourth photodetectors can perform tracking error detection and focus error detection by the push-pull method and Foucault method, respectively. The magneto-optical recording medium pickup according to claim 2, comprising a two-division photodetector divided by a gap extending substantially parallel to a plane perpendicular to the one surface of the guide.
【請求項4】前記ライトガイドが、前記光源と対物レン
ズとの間に配置されていることを特徴とする特許請求の
範囲第1項から第3項いずれか1項記載の光磁気記録媒
体用ピックアップ。
4. The magneto-optical recording medium as claimed in claim 1, wherein the light guide is arranged between the light source and the objective lens. pick up.
【請求項5】前記ライトガイドが、前記光源から発せら
れた光ビームを反射させて、前記光磁気記録媒体の反射
面に向けて進行させるように配置されていることを特徴
とする特許請求の範囲第1項から第3項いずれか1項記
載の光磁気記録媒体用ピックアップ。
5. The light guide is arranged so as to reflect a light beam emitted from the light source and to advance the light beam toward a reflecting surface of the magneto-optical recording medium. A pickup for a magneto-optical recording medium according to any one of claims 1 to 3.
【請求項6】前記ライトガイドと対物レンズとが互いに
独立して配設され、該対物レンズのみがトラッキング制
御およびフォーカス制御のために移動されるようになっ
ていることを特徴とする特許請求の範囲第1項から第5
項いずれか1項記載の光磁気記録媒体用ピックアップ。
6. The light guide and the objective lens are arranged independently of each other, and only the objective lens is moved for tracking control and focus control. Range 1st to 5th
Item 7. A pickup for a magneto-optical recording medium according to any one of items.
【請求項7】前記ライトガイドが前記対物レンズと一体
化され、トラッキング制御およびフォーカス制御のため
に該対物レンズとともに移動されるようになっているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項から第5項いずれ
か1項記載の光磁気記録媒体用ピックアップ。
7. The light guide according to claim 1, wherein the light guide is integrated with the objective lens and is moved together with the objective lens for tracking control and focus control. Item 5. The pickup for magneto-optical recording medium according to any one of items 5.
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