JPH0674873A - Abnormality diagnosis device - Google Patents

Abnormality diagnosis device

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Publication number
JPH0674873A
JPH0674873A JP22598692A JP22598692A JPH0674873A JP H0674873 A JPH0674873 A JP H0674873A JP 22598692 A JP22598692 A JP 22598692A JP 22598692 A JP22598692 A JP 22598692A JP H0674873 A JPH0674873 A JP H0674873A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cause
simulation
abnormality
time
amount
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP22598692A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hitotsugu Maruyama
仁嗣 丸山
Akihiro Maekawa
明寛 前川
Kenichi Kawahara
憲一 河原
Takashi Hiramatsu
貴志 平松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority to JP22598692A priority Critical patent/JPH0674873A/en
Publication of JPH0674873A publication Critical patent/JPH0674873A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00Energy generation of nuclear origin
    • Y02E30/30Nuclear fission reactors

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  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve a simulation itself by enhancing the initial accuracy of an initial value of a simulation wave which is compared with an actual amount of process. CONSTITUTION:The amount of process from a plant 1 is converted to digital values at each sampling period by a data collector 2, is collected, and then is transmitted to a cause candidate selector 3 and a recorder 5. When an abnormal change in the amount of process is detected by the candidate selector 3, a plurality of possible cause candidates are generated, the amount of process is simulated in inverse direction regarding time for each cause candidate with the current time and the amount of process as initial values by an inverse simulator 4, the simulation waveform for each cause candidate which is the above result is compared with the recorded value of the amount of actual process in the past which is recorded by the recorder 5 using a cause identification device 6, thus identifying the cause of abnormality and display it on a display 7.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、原子力、火力、化学、
ポンプ、冷熱等の各種プラントの異常原因の同定に適用
される異常診断装置に関する。
The present invention relates to nuclear power, thermal power, chemistry,
The present invention relates to an abnormality diagnosis device applied to identify the cause of abnormality in various plants such as pumps and cold heat.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の異常診断技術では、シミュレーシ
ョン技術の応用により異常原因を同定する場合、時間に
関して順方向のシミュレーションを実行するのが常であ
った。図2(b)は、従来の異常診断装置における異常
原因同定方法の概念図である。図において、縦軸は、プ
ロセス量xを示し、横軸は、時間tを示す。
2. Description of the Related Art In the conventional abnormality diagnosis technique, when identifying the cause of the abnormality by applying the simulation technique, it is usual to execute a forward simulation with respect to time. FIG. 2B is a conceptual diagram of an abnormality cause identification method in a conventional abnormality diagnosis device. In the figure, the vertical axis represents the process amount x, and the horizontal axis represents the time t.

【0003】図に示す時間to において、異常が発生す
ると、to 以降のプロセス量xは異常原因の作用により
変動する。その後、現在時間t1 において、異常の原因
を同定しようとするとき、想定される原因をp、q、r
とする。従来技術では、異常発生時点to のプロセス値
xo を初期値にして、次のシミュレーションモデルを用
いて時間to 〜tf にわたりシミュレーションを実行し
ていた。このシミュレーションのフローチャートを図4
に示す。 dx/dt=f(x,u(t)) …(1) ここでu(t)は、プラントに対する外乱入力である。
関数fの内容は、原因の種類に対応して次のように異な
る。
When an abnormality occurs at the time to shown in the figure, the process amount x after to f changes due to the action of the cause of the abnormality. After that, when trying to identify the cause of the abnormality at the current time t1, the assumed causes are p, q, r
And In the conventional technique, the process value xo at the time of occurrence of abnormality to is used as an initial value, and the simulation is executed from time to to tf using the following simulation model. The flowchart of this simulation is shown in FIG.
Shown in. dx / dt = f (x, u (t)) (1) where u (t) is the disturbance input to the plant.
The content of the function f differs as follows according to the type of cause.

【0004】[0004]

【数1】 [Equation 1]

【0005】従って、シミュレーションの結果は、想定
した原因の種類(p、q、r)に対応して相違する。こ
の結果を示したものが、図2(b)に示す波形xp 、x
q 、xr である。真の原因pを設定したシミュレーショ
ン波形xp は、実プロセス量xの記録と一致し、また、
原因q、rを仮定したシミュレーション波形xq 、xr
は、実プロセス量xの記録とは一致しない。よって、原
因pが真の異常原因として同定されるのである。以上が
異常診断の従来技術の典型であった。
Therefore, the result of the simulation differs according to the assumed cause type (p, q, r). This result is shown by the waveforms xp and x shown in FIG.
q and xr. The simulation waveform xp for which the true cause p is set matches the record of the actual process amount x, and
Simulation waveforms xq and xr assuming causes q and r
Does not match the record of the actual process amount x. Therefore, the cause p is identified as the true abnormal cause. The above is a typical example of the conventional technique for abnormality diagnosis.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、異
常の発生時点to とその時のプロセス量xo が正確に測
定される必要があった。しかし、異常の発生時点to を
特定するのは、実際には困難である。この理由は、異常
の検知はプロセス量xの変化を検出することをもって行
われるためである。つまり、真の異常発生時点to から
相応の時間が経過して、プロセス量xの変化が生じた後
に異常が検知されるため、異常発生時点to を正確に特
定できないのである。
In the above prior art, it was necessary to accurately measure the time point t o of the abnormality and the process amount x o at that time. However, it is actually difficult to specify the time point t o at which the abnormality occurs. This is because the abnormality is detected by detecting the change in the process amount x. In other words, since the abnormality is detected after a corresponding time has elapsed from the true abnormality occurrence time to and the process amount x has changed, the abnormality occurrence time to cannot be specified accurately.

【0007】このために、時間に関して順方向に実行す
るシミュレーションにおいて初期値として真の異常発生
時点to とその時のプロセス量xo を正確に設定するこ
とは困難であり、ゆえにシミュレーションの精度が悪化
する。この結果、実プロセス量の記録とシミュレーショ
ン波形との比較により、両者の一致を確認するのが困難
になるという問題が生じる。
Therefore, it is difficult to accurately set the true abnormality occurrence time point to and the process amount xo at that time as initial values in the simulation executed in the forward direction with respect to time, and therefore the accuracy of the simulation deteriorates. As a result, there is a problem that it is difficult to confirm the agreement between the actual process amount recording and the simulation waveform comparison.

【0008】本発明は上記事情に鑑みて成されたもので
あり、その目的は、実プロセス量の記録である実波形と
比較されるシミュレーション波形の初期値の設定精度を
高めることで、シミュレーション自体の精度を高くした
異常診断装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to improve the accuracy of setting an initial value of a simulation waveform to be compared with an actual waveform, which is a record of an actual process amount, so that the simulation itself. An object of the present invention is to provide an abnormality diagnosis device with high accuracy.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は、各種プラント
のプロセスを対象とした異常診断を行う異常診断装置に
おいて、現在時間とその時間でのプロセス量をシミュレ
ーションの初期値として設定した上で、想定される複数
の異常原因毎に時間に関して逆方向にシミュレーション
を実行するシミュレータと、得られたシミュレーション
波形と過去の実プロセス量の記録値から得られる実波形
とを比較し、この比較結果にもとづいて異常の原因を同
定する原因同定装置とを具備することを特徴とする。
According to the present invention, in an abnormality diagnosing apparatus for diagnosing an abnormality in a process of various plants, a current time and a process amount at that time are set as initial values for simulation, Based on the result of this comparison, the simulator that executes the simulation in the opposite direction with respect to each of the multiple possible causes of abnormality is compared with the obtained simulation waveform and the actual waveform obtained from the past recorded values of the actual process amount. And a cause identifying device for identifying the cause of the abnormality.

【0010】[0010]

【作用】本発明によれば、図3に示したフローチャート
に基づいて、時間に関して逆方向にシミュレーションが
実行される。このとき、その初期値は、図2(a)に示
す現時点(シミュレーション開始時点)の値t=t1 ,
x=x1 であるため、正確に測定、設定される。このよ
うに、シミュレーションの初期値が正確に設定、測定さ
れることから、シミュレーション波形の計算精度が高
く、実プロセス量の記録波形と比較する上で支障がな
い。よって、両波形が一致しているか否かの評価が確実
に行われることになる。
According to the present invention, the simulation is executed in the reverse direction with respect to time based on the flowchart shown in FIG. At this time, the initial value is the value t = t1, at the present time (at the time of starting the simulation) shown in FIG.
Since x = x1, it is accurately measured and set. In this way, since the initial value of the simulation is accurately set and measured, the calculation accuracy of the simulation waveform is high, and there is no problem in comparison with the recorded waveform of the actual process amount. Therefore, it is possible to surely evaluate whether or not the two waveforms match.

【0011】[0011]

【実施例】以下、図面を参照して本発明の一実施例を説
明する。図1は、本実施例における異常診断装置の構成
図である。図において、プラント1は伝送線8を介して
デ−タ収集装置2に接続されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration diagram of an abnormality diagnosis device in this embodiment. In the figure, a plant 1 is connected to a data collection device 2 via a transmission line 8.

【0012】デ−タ収集装置2は、プラント1から入力
されるプロセス量をサンプル時間間隔毎にデジタル変換
して収集するもので、伝送線9を介して原因候補選定装
置3に接続されている。また、同デ−タ収集装置2は、
伝送線10を介して記録装置5にも接続されている。
The data collection device 2 is for converting the process amount input from the plant 1 into digital data at every sampling time interval and collecting it, and is connected to the cause candidate selection device 3 via the transmission line 9. . Further, the data collection device 2 is
It is also connected to the recording device 5 via a transmission line 10.

【0013】原因候補選定装置3は、デ−タ収集装置2
から出力されるプロセス量の異常な変化を検知した場
合、想定される原因(原因制御)を複数発生させるもの
で、伝送線11を介して逆シミュレータ4に接続されて
いる。
The cause candidate selecting device 3 is a data collecting device 2
When an abnormal change in the process amount output from the sensor is detected, a plurality of possible causes (cause control) are generated, and the cause is connected to the inverse simulator 4 via the transmission line 11.

【0014】逆シミュレータ4は、原因候補選定装置3
から順次送られてくる原因に基づいて時間に関して逆方
向にプロセス量のシミュレーションを行うものであり、
伝送線12を介して原因同定装置6に接続されている。
The inverse simulator 4 is a cause candidate selection device 3
Based on the cause that is sequentially sent from the
It is connected to the cause identifying device 6 via a transmission line 12.

【0015】記録装置5は、デ−タ収集装置2から送ら
れてくる時間とその時間に対応したプロセス量の値を記
録するものであり、伝送線13を介して原因同定装置6
に接続されている。
The recording device 5 records the time sent from the data collecting device 2 and the value of the process amount corresponding to the time, and the cause identifying device 6 is provided via the transmission line 13.
It is connected to the.

【0016】原因同定装置6は、逆シミュレータ4から
送られてくるシミュレーションの結果であるシミュレー
ション波形と記録装置5から送られてくる実プロセス量
の記録である実波形とを比較することにより、異常原因
の同定を行う。原因同定装置6は、伝送線14を介して
表示装置7に接続されている。表示装置7は、原因同定
装置6で同定された原因を表示する。つぎに本実施例に
おける異常診断装置の動作について説明する。
The cause identifying device 6 compares the simulated waveform, which is the result of the simulation sent from the inverse simulator 4, with the actual waveform, which is the record of the actual process amount sent from the recording device 5, to determine the abnormality. Identify the cause. The cause identifying device 6 is connected to the display device 7 via the transmission line 14. The display device 7 displays the cause identified by the cause identifying device 6. Next, the operation of the abnormality diagnosis device in this embodiment will be described.

【0017】プラント1のプロセス量xは伝送線8を経
てデ−タ収集装置2に入力され、同デ−タ収集装置2
で、サンプル時間間隔Δt毎にデジタル値(サンプル
値)に変換され、収集される。その後、デジタル値に変
換されたプロセス量xは伝送線9を経て原因候補選定装
置3に伝送される。また、同プロセス量xは伝送線10
を経て記録装置5にも伝送される。
The process amount x of the plant 1 is input to the data collecting device 2 via the transmission line 8 and the data collecting device 2
At every sampling time interval Δt, a digital value (sample value) is converted and collected. Thereafter, the process quantity x converted into a digital value is transmitted to the cause candidate selection device 3 via the transmission line 9. Further, the process amount x is the transmission line 10
It is also transmitted to the recording device 5 via.

【0018】原因候補選定装置3は、デ−タ収集装置2
から送られてきたプロセス量xのサンプル値から、例え
ば図2(a)に示す時間t1 においてプロセス量xの異
常な変動を検知すると、その異常の原因として想定され
る原因(原因a,原因b,原因c,……)を発生させ、
順次伝送線11を経て逆シミュレータ4に伝送する。こ
のとき、同選定装置3は、この時間t1 におけるプロセ
ス量x(=x1 )も順次伝送線11を経て逆シミュレー
タ4に伝送する。
The cause candidate selection device 3 is a data collection device 2
When an abnormal change in the process amount x is detected at the time t1 shown in FIG. 2A from the sample value of the process amount x sent from the device, the causes (cause a, cause b) assumed as the cause of the abnormality are detected. , Cause c, ...)
The signals are sequentially transmitted to the inverse simulator 4 via the transmission line 11. At this time, the selection device 3 also transmits the process quantity x (= x1) at this time t1 to the inverse simulator 4 sequentially via the transmission line 11.

【0019】記録装置5は、デ−タ収集装置2からプロ
セス量xのサンプル値が送られてくる毎に、図2(a)
に示す時間tとプロセス量xの値を同装置5内部の磁気
ディスク等の記憶装置(図示せず)に書き込み、記録す
る。
The recording device 5 is shown in FIG. 2A every time the sample value of the process amount x is sent from the data collecting device 2.
The values of the time t and the process amount x shown in are written and recorded in a storage device (not shown) such as a magnetic disk inside the device 5.

【0020】逆シミュレータ4は、異常診断の開始時点
(異常の検出時点)である現在の時間t1 とそのプロセ
ス量x1 (時間t1 における実波形x(t)の値)を初
期値として数値演算を実行する。すなわち、時間tに関
して,現在時間t1から逆上りtf (0<tf <t1 )
までの範囲にわたりシミュレーションを実行する。この
シミュレーションでは、プラントを数式(1)によりモ
デル化したものを適用している。また、実際にシミュレ
ーションを実行する場合は、想定される異常原因の種類
(a,b,c,…)に対応して、数式(2)のように原
因毎に異なる数式モデルa(x,u)、b(x,u)、
c(x,u),…を適用する。これは、想定される異常
原因のメカニズムが原因毎に数式モデル化されて、あら
かじめ逆シミュレータ4に組み込まれているため、同シ
ミュレータ4におけるシミュレーション実行時に適用さ
れる数式モデルもそれぞれ異なるのである。以下に、こ
の時間に関して逆方向に実行されるシミュレーションの
手順を図を用いて説明する。図3は、同シミュレーショ
ンのフローチャートである。ここでは、原因候補選定装
置3から想定される異常原因として原因aが伝送されて
きた場合を例にとって説明する。
The inverse simulator 4 performs numerical calculation with the current time t1 at the start of abnormality diagnosis (abnormality detection time) and its process amount x1 (value of the actual waveform x (t) at time t1) as initial values. Run. That is, with respect to the time t, the reverse ascent tf (0 <tf <t1) from the current time t1.
Run the simulation over the range. In this simulation, a plant modeled by the mathematical formula (1) is applied. Further, when the simulation is actually executed, a mathematical model a (x, u, which is different for each cause, as shown in Formula (2), corresponding to the assumed type of abnormal cause (a, b, c, ...). ), B (x, u),
Apply c (x, u), .... This is because the assumed mechanism of the cause of the abnormality is mathematically modeled for each cause and built in the inverse simulator 4 in advance, so that the mathematical model applied when the simulation is executed in the simulator 4 also differs. Hereinafter, the procedure of the simulation executed in the opposite direction with respect to this time will be described with reference to the drawings. FIG. 3 is a flowchart of the simulation. Here, a case will be described as an example where the cause a is transmitted from the cause candidate selection device 3 as an assumed cause of abnormality.

【0021】まず、逆シミュレータ4は、原因候補選定
装置3から伝送されてきた現在の時間t1 とそのプロセ
ス量x1 を初期値として設定する(ステップS1)。同
シミュレータ4は、原因候補選定装置3から伝送されて
きた原因aに基づいて、これに対応する数式モデルであ
るa(x,u)を選定し、数式(1)の関数fとしてこ
のa(x,u)を設定する。t=t1 、x=x1 として
数式(1)により、dx/dtを演算する(ステップS
2)。演算結果であるdx/dtと次に示す式により、
時間tよりΔtだけ以前(過去)の時間tとそのtにお
けるプロセス量xを演算する(ステップS3)。 x=x−(dx/dt)Δt …(3) t=t−Δt …(4)
First, the inverse simulator 4 sets the current time t1 transmitted from the cause candidate selecting device 3 and its process amount x1 as initial values (step S1). The simulator 4 selects a (x, u), which is a mathematical model corresponding to the cause a transmitted from the cause candidate selection device 3, as the function f of the mathematical formula (1). x, u) is set. dx / dt is calculated by equation (1) with t = t1 and x = x1 (step S
2). From the calculation result dx / dt and the following formula,
A time t before (past) by the time t and a process amount x at the time t are calculated (step S3). x = x− (dx / dt) Δt (3) t = t−Δt (4)

【0022】つぎに、ステップS3で求められた新たな
時間tが時間tf 以下であるか否かを判定する(ステッ
プS4)。すなわち、時間tがシミュレーションの完了
時間tf に達したか否かを判定する。ここで、t≦tf
と判定されれば、原因aについてのシミュレーションは
完了し、次の原因bに関して、原因aの場合と同様にシ
ミュレーションの初期値をt1 、x1 としてシミュレー
ションを実行する。また、t>tf と判定されれば、t
≦tf となるまでシミュレーションを継続する(ステッ
プS2、ステップS3およびステップS4)。
Next, it is determined whether the new time t obtained in step S3 is less than or equal to time tf (step S4). That is, it is determined whether the time t has reached the simulation completion time tf. Where t ≦ tf
If it is determined, the simulation for the cause a is completed, and for the next cause b, the simulation is executed with the initial values of the simulation t1 and x1 as in the case of the cause a. If t> tf is determined, t
The simulation is continued until ≤tf (step S2, step S3 and step S4).

【0023】このとき、シミュレーションの状況は図2
(a)のようになり、原因a,b,c,…の各々に対応
して異なるシミュレーション波形xa (t)(xa 波
形),xb (t)(xb 波形),xc (t)(xc 波
形),…が得られる。このシミュレーション波形は、伝
送線12を経て原因同定装置6へ送られる。これと同時
に、記録装置5に記録されている実プロセス量のうち、
シミュレーションが実行された時間区間tf ≦t≦t1
と同区間の実プロセス量の記録x(t)(実波形)が、
同装置5から伝送線13を経て原因同定装置6に送られ
る。
At this time, the situation of the simulation is shown in FIG.
As shown in (a), different simulation waveforms xa (t) (xa waveform), xb (t) (xb waveform), xc (t) (xc waveform, corresponding to causes a, b, c, ... ), ... is obtained. This simulation waveform is sent to the cause identifying device 6 via the transmission line 12. At the same time, of the actual process amount recorded in the recording device 5,
Time interval tf ≤ t ≤ t1 during which the simulation was executed
The record x (t) (actual waveform) of the actual process amount in the same section as
It is sent from the device 5 to the cause identifying device 6 via the transmission line 13.

【0024】原因同定装置6では、シミュレーション波
形xa (t)(xa 波形),xb (t)(xb 波形),
xc (t)(xc 波形),…と実波形x(t)とを比較
して、一致する波形を同定し、対応する原因を発生した
異常の原因として同定する。波形が一致しているか否か
は、次式で与えられる誤差面積Si (i=a,b,c,
…)が最小のシミュレーション波形を選択することをも
って、評価する。この評価に基づいて異常の原因を同定
する。
In the cause identifying device 6, simulation waveforms xa (t) (xa waveform), xb (t) (xb waveform),
xc (t) (xc waveform), ... And the actual waveform x (t) are compared, the matching waveform is identified, and the corresponding cause is identified as the cause of the generated abnormality. Whether the waveforms match or not is determined by the error area Si (i = a, b, c,
...) is evaluated by selecting the simulation waveform with the minimum. The cause of the abnormality is identified based on this evaluation.

【0025】[0025]

【数2】 この原因同定装置6での原因同定結果は、伝送線14を
経て表示装置7へ送られ、表示される。
[Equation 2] The cause identification result of the cause identifying device 6 is sent to the display device 7 via the transmission line 14 and displayed.

【0026】[0026]

【発明の効果】本発明によれば、現在の時間とそのプロ
セス量をシミュレーションの初期値として設定した上
で、想定される複数の異常原因の候補毎に時間に関して
逆方向にシミュレーションを実行し、得られたシミュレ
ーション波形と過去の実プロセス量の記録値から得られ
る実波形とを比較し、その比較結果をもとに真の原因候
補を同定するようにしたことにより、
According to the present invention, the current time and its process amount are set as the initial values of the simulation, and then the simulation is executed in the reverse direction with respect to time for each of a plurality of possible abnormality cause candidates. By comparing the obtained simulation waveform and the actual waveform obtained from the recorded values of the actual process amount in the past, and by identifying the true cause candidate based on the comparison result,

【0027】現在の時間とそのプロセス量を初期値とし
てシミュレーションが実行できるので、初期値が正確に
与えられ、シミュレーション自体の精度も良好に保たれ
る。そのため、プロセス量のシミュレーション波形と実
波形の記録との比較が正確に行われることになり、異常
原因の同定精度が高まるという効果がある。
Since the simulation can be executed with the current time and its process amount as the initial values, the initial values can be given accurately and the accuracy of the simulation itself can be kept good. Therefore, the simulation waveform of the process amount and the recording of the actual waveform are accurately compared, which has the effect of increasing the accuracy of identifying the cause of the abnormality.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例に係る異常診断装置の構成を
示すブロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an abnormality diagnosis device according to an embodiment of the present invention.

【図2】同実施例における原因同定方法を従来の原因同
定方法と対比して示す図。
FIG. 2 is a diagram showing a cause identifying method in the same embodiment in comparison with a conventional cause identifying method.

【図3】同実施例におけるプロセス量の逆方向シミュレ
ーションを説明するためのフローチャート。
FIG. 3 is a flowchart for explaining a reverse simulation of a process amount in the same embodiment.

【図4】従来の時間に関して順方向に実行されるプロセ
ス量のシミュレーションのフローチャート。
FIG. 4 is a flowchart of a simulation of a process amount performed in a forward direction with respect to conventional time.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…プラント、 2…デ−タ収集装置、3…原因候
補選定装置、4…逆シミュレータ、5…記録装置、
6…原因同定装置、7…表示装置、 8〜14…
伝送線、xa 〜xc ,xp 〜xr …シミュレーション波
形。
1 ... Plant, 2 ... Data collection device, 3 ... Cause candidate selection device, 4 ... Inverse simulator, 5 ... Recording device,
6 ... Cause identifying device, 7 ... Display device, 8-14 ...
Transmission line, xa to xc, xp to xr ... Simulation waveform.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 // G06F 15/20 D 7052−5L (72)発明者 平松 貴志 兵庫県神戸市兵庫区和田崎町一丁目1番1 号 三菱重工業株式会社神戸造船所内─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Internal reference number FI Technical indication location // G06F 15/20 D 7052-5L (72) Inventor Takashi Hiramatsu Wadazaki, Hyogo-ku, Kobe-shi, Hyogo 1-1-1 Machi Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Kobe Shipyard

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 各種プラントのプロセスを対象とした異
常診断を行う異常診断装置において、 現在の時間とプロセス値をシミュレーションの初期値と
して設定し、想定される複数の異常原因の候補につい
て、各々時間に関して逆方向にシミュレーションを実行
するシミュレータと、 このシミュレータの各原因候補毎の逆方向シミュレーシ
ョンの実行結果であるプロセス量のシミュレーション値
と過去の実プロセス量の記録値とを比較して、その比較
結果をもとに真の原因候補を同定する原因同定装置と、 を具備することを特徴とする異常診断装置。
1. An abnormality diagnosing device for diagnosing an abnormality in a process of various plants, wherein a current time and a process value are set as initial values of a simulation, and each of a plurality of possible abnormality cause candidates is timed. Regarding the above, the simulator that executes the simulation in the reverse direction is compared with the simulation value of the process amount, which is the execution result of the reverse simulation for each cause candidate of this simulator, and the past recorded value of the actual process amount. An abnormality diagnosis device comprising: a cause identification device that identifies a true cause candidate based on the above.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007198954A (en) * 2006-01-27 2007-08-09 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Soundness evaluating system and soundness evaluating method for control rod driver

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