JPH0670226A - カメラおよびその予備測光方法ならびに予備測光装置および方法 - Google Patents
カメラおよびその予備測光方法ならびに予備測光装置および方法Info
- Publication number
- JPH0670226A JPH0670226A JP4238864A JP23886492A JPH0670226A JP H0670226 A JPH0670226 A JP H0670226A JP 4238864 A JP4238864 A JP 4238864A JP 23886492 A JP23886492 A JP 23886492A JP H0670226 A JPH0670226 A JP H0670226A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- solid
- electronic image
- state electronic
- accumulation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 28
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 52
- 238000005375 photometry Methods 0.000 claims abstract description 49
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 claims description 51
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 18
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 8
- 241001408197 Eois Species 0.000 abstract description 6
- 239000007787 solid Substances 0.000 abstract 2
- 238000001444 catalytic combustion detection Methods 0.000 description 40
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 12
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 102100040862 Dual specificity protein kinase CLK1 Human genes 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 238000012952 Resampling Methods 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 3
- 101000749294 Homo sapiens Dual specificity protein kinase CLK1 Proteins 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 102100040844 Dual specificity protein kinase CLK2 Human genes 0.000 description 1
- 101000749291 Homo sapiens Dual specificity protein kinase CLK2 Proteins 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000013144 data compression Methods 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 迅速に妥当な初期露光量を決定する。
【構成】 ＡＦ用ＣＣＤに蓄積される信号電荷を読出す
ことにより，ＡＦ処理が行なわれる（ステップ40）。Ａ
Ｆ処理を行なうことができる程度の信号電荷がＡＦ用Ｃ
ＣＤに蓄積されたかどうかが，蓄積検出センサおよび比
較回路において検出される（ステップ41）。この信号電
荷の蓄積時間に応じてＡＦ処理のための初期露光量（絞
り値，シャッタ速度）が設定される（ステップ42〜4
8）。
ことにより，ＡＦ処理が行なわれる（ステップ40）。Ａ
Ｆ処理を行なうことができる程度の信号電荷がＡＦ用Ｃ
ＣＤに蓄積されたかどうかが，蓄積検出センサおよび比
較回路において検出される（ステップ41）。この信号電
荷の蓄積時間に応じてＡＦ処理のための初期露光量（絞
り値，シャッタ速度）が設定される（ステップ42〜4
8）。
Description
【０００１】
【技術分野】この発明は，被写体像を撮像するための固
体電子撮像素子から出力される映像信号のレベルにもと
づいて，露光量を決定するための測光値を求める自動露
出制御機能をもつカメラ，および同カメラにおける予備
測光方法，ならびにこのようなカメラで使用される予備
測光装置および予備測光方法に関する。
体電子撮像素子から出力される映像信号のレベルにもと
づいて，露光量を決定するための測光値を求める自動露
出制御機能をもつカメラ，および同カメラにおける予備
測光方法，ならびにこのようなカメラで使用される予備
測光装置および予備測光方法に関する。
【０００２】
【背景技術】自動露光（いわゆるＡＥ）機能をもつカメ
ラにおいては，露光条件を定めるために測光が必要であ
る。測光のために種々の方式がある。その１つはカメラ
の前面に測光素子を配置するものである。この方式は構
成が簡単であるが，測光領域が撮影領域と一致しないと
いう本質的な問題を内包している。とくにズーム・レン
ズを用いて視野を変更する場合にこの問題は顕著に現わ
れる。この問題を解決するためには撮像系のズーム・レ
ンズに連動して測光素子の測光領域を変更する必要があ
り，そのために大がかりな機構が必要となる。
ラにおいては，露光条件を定めるために測光が必要であ
る。測光のために種々の方式がある。その１つはカメラ
の前面に測光素子を配置するものである。この方式は構
成が簡単であるが，測光領域が撮影領域と一致しないと
いう本質的な問題を内包している。とくにズーム・レン
ズを用いて視野を変更する場合にこの問題は顕著に現わ
れる。この問題を解決するためには撮像系のズーム・レ
ンズに連動して測光素子の測光領域を変更する必要があ
り，そのために大がかりな機構が必要となる。
【０００３】測光素子を撮像光学系内に組込み，測光領
域を撮像領域と一致させる方式（いわゆるＴＴＬ測光）
もある。この方式では撮像光学系内にビーム・スプリッ
タ，光路変更素子等が必要であり，光学系の大型化と感
度の低下を招く。また，ミラーを用いた場合には耐久
性，信頼性の点で問題がある。
域を撮像領域と一致させる方式（いわゆるＴＴＬ測光）
もある。この方式では撮像光学系内にビーム・スプリッ
タ，光路変更素子等が必要であり，光学系の大型化と感
度の低下を招く。また，ミラーを用いた場合には耐久
性，信頼性の点で問題がある。
【０００４】そこで，固体電子撮像素子（ＣＣＤ等）を
備え，被写体像を表わす映像信号を得るビデオ・カメラ
においては，固体電子撮像素子から出力される映像信号
を適当な測光領域にわたって積分することにより測光値
を求める方式が考えられている。この方式によると，撮
像領域と測光領域が完全に一致し，しかも大型化を招く
余分な光学系を必要としないという利点がある。また，
固体電子撮像素子から得られる映像信号の電気的な処理
により，平均的な測光，部分的な測光，分割測光等のバ
リエーションが可能であり，様々な撮影環境に対応した
露光条件の設定が可能となって応用範囲が広がる。
備え，被写体像を表わす映像信号を得るビデオ・カメラ
においては，固体電子撮像素子から出力される映像信号
を適当な測光領域にわたって積分することにより測光値
を求める方式が考えられている。この方式によると，撮
像領域と測光領域が完全に一致し，しかも大型化を招く
余分な光学系を必要としないという利点がある。また，
固体電子撮像素子から得られる映像信号の電気的な処理
により，平均的な測光，部分的な測光，分割測光等のバ
リエーションが可能であり，様々な撮影環境に対応した
露光条件の設定が可能となって応用範囲が広がる。
【０００５】しかしながら，ＣＣＤのダイナミック・レ
ンジは４ＥＶが限度で狭い。したがって，あらかじめ露
光量を適切に設定しないとＣＣＤが飽和したり，ＣＣＤ
の出力信号レベルが測光値が得られない程度に低くなっ
てしまうという問題がある。
ンジは４ＥＶが限度で狭い。したがって，あらかじめ露
光量を適切に設定しないとＣＣＤが飽和したり，ＣＣＤ
の出力信号レベルが測光値が得られない程度に低くなっ
てしまうという問題がある。
【０００６】最も出現頻度の高い被写体輝度値にもとづ
いて初期露光量を設定することが考えられる（たとえば
ＥＶ＝10）。たとえば図９に示すように，まず最も一般
的な被写体輝度値（ＥＶ＝8.5 〜11.5）に対応する初期
露出量（Ｆ値3.5 ，シャッタ速度１／125 秒）が設定さ
れる（ステップ61）。この露出条件においてＣＣＤを用
いた測光が行なわれ，得られた測光値にもとづいて露光
が適正，オーバーまたはアンダーかが判断される（ステ
ップ62）。露光が適正と判断されれば，その露光量の下
で得られた測光値にもとづいてＡＥ処理が行なわれる
（ステップ67）。
いて初期露光量を設定することが考えられる（たとえば
ＥＶ＝10）。たとえば図９に示すように，まず最も一般
的な被写体輝度値（ＥＶ＝8.5 〜11.5）に対応する初期
露出量（Ｆ値3.5 ，シャッタ速度１／125 秒）が設定さ
れる（ステップ61）。この露出条件においてＣＣＤを用
いた測光が行なわれ，得られた測光値にもとづいて露光
が適正，オーバーまたはアンダーかが判断される（ステ
ップ62）。露光が適正と判断されれば，その露光量の下
で得られた測光値にもとづいてＡＥ処理が行なわれる
（ステップ67）。
【０００７】露光アンダーならば露光量を多くするよう
に変更される（Ｆ値3.5 ，シャッタ速度１／15秒）（ス
テップ63）。露光オーバーの場合には露光量が少なくな
るように変更される（Ｆ値14，シャッタ速度１／60秒）
（ステップ64）。露光量を一段階増大させても露光オー
バーならばさらに露光量が多くなるように変更される
（Ｆ値14，シャッタ速度１／250 秒）（ステップ66）。
このようにしてＣＣＤを用いた測光値検出が可能となる
範囲の露光量が設定され，その露光条件下でＣＣＤから
の映像信号から測光値が算出される。そしてこの測光値
を用いてＡＥ処理が行なわれる（ステップ67）。
に変更される（Ｆ値3.5 ，シャッタ速度１／15秒）（ス
テップ63）。露光オーバーの場合には露光量が少なくな
るように変更される（Ｆ値14，シャッタ速度１／60秒）
（ステップ64）。露光量を一段階増大させても露光オー
バーならばさらに露光量が多くなるように変更される
（Ｆ値14，シャッタ速度１／250 秒）（ステップ66）。
このようにしてＣＣＤを用いた測光値検出が可能となる
範囲の露光量が設定され，その露光条件下でＣＣＤから
の映像信号から測光値が算出される。そしてこの測光値
を用いてＡＥ処理が行なわれる（ステップ67）。
【０００８】このようなやり方によると，ＣＣＤを用い
た測光のために許容できる露光量が得られるまでに複数
回（図９の例では最大３回）の露光条件の変更が必要と
なり，迅速にＡＥ処理を終了させることができないとい
う問題が残る。
た測光のために許容できる露光量が得られるまでに複数
回（図９の例では最大３回）の露光条件の変更が必要と
なり，迅速にＡＥ処理を終了させることができないとい
う問題が残る。
【０００９】
【発明の開示】この発明は，被写体像を撮像するための
固体電子撮像素子を用いてＡＥ処理のための測光値を求
める場合に，迅速に妥当な初期露光量を決定できるよう
にすることを目的とする。
固体電子撮像素子を用いてＡＥ処理のための測光値を求
める場合に，迅速に妥当な初期露光量を決定できるよう
にすることを目的とする。
【００１０】この発明は，被写体像を撮像するための第
１の固体電子撮像素子から出力される映像信号のレベル
にもとづいて，露光量を決定するための測光値を求める
自動露出制御機能をもつカメラにおいて，自動合焦制御
処理に用いる映像信号を得るための第２の固体電子撮像
素子と同時にクリアされて信号電荷の蓄積を開始する光
センサ，上記光センサの出力にもとづいて上記第２の固
体電子撮像素子の映像信号が，自動合焦制御処理が可能
なレベルに達したかどうかを検出する検出手段，上記第
２の固体電子撮像素子による信号電荷の蓄積開始から上
記検出手段による検出までの蓄積時間を測定する測定手
段，および上記測定手段から得られる蓄積時間にもとづ
いて，上記第１の固体電子撮像素子を用いて測光値を求
めるための初期露光量を決定する手段を備えていること
を特徴とする。
１の固体電子撮像素子から出力される映像信号のレベル
にもとづいて，露光量を決定するための測光値を求める
自動露出制御機能をもつカメラにおいて，自動合焦制御
処理に用いる映像信号を得るための第２の固体電子撮像
素子と同時にクリアされて信号電荷の蓄積を開始する光
センサ，上記光センサの出力にもとづいて上記第２の固
体電子撮像素子の映像信号が，自動合焦制御処理が可能
なレベルに達したかどうかを検出する検出手段，上記第
２の固体電子撮像素子による信号電荷の蓄積開始から上
記検出手段による検出までの蓄積時間を測定する測定手
段，および上記測定手段から得られる蓄積時間にもとづ
いて，上記第１の固体電子撮像素子を用いて測光値を求
めるための初期露光量を決定する手段を備えていること
を特徴とする。
【００１１】この発明によるカメラの予備測光方法は，
被写体像を撮像するための第１の固体電子撮像素子から
出力される映像信号のレベルにもとづいて，露光量を決
定するための測光値を求める自動露出制御機能をもつカ
メラにおいて，自動合焦制御処理に用いる映像信号を得
るための第２の固体電子撮像素子と同時にクリアされて
信号電荷の蓄積を開始する光センサの出力にもとづいて
上記第２の固体電子撮像素子の映像信号が自動合焦制御
処理が可能なレベルに達したかどうかを検出し，上記第
２の固体電子撮像素子による信号電荷の蓄積開始から上
記検出手段による検出までの蓄積時間を測定し，測定さ
れた蓄積時間にもとづいて，上記第１の固体電子撮像素
子を用いて測光値を求めるための初期露光量を決定する
ことを特徴とする。
被写体像を撮像するための第１の固体電子撮像素子から
出力される映像信号のレベルにもとづいて，露光量を決
定するための測光値を求める自動露出制御機能をもつカ
メラにおいて，自動合焦制御処理に用いる映像信号を得
るための第２の固体電子撮像素子と同時にクリアされて
信号電荷の蓄積を開始する光センサの出力にもとづいて
上記第２の固体電子撮像素子の映像信号が自動合焦制御
処理が可能なレベルに達したかどうかを検出し，上記第
２の固体電子撮像素子による信号電荷の蓄積開始から上
記検出手段による検出までの蓄積時間を測定し，測定さ
れた蓄積時間にもとづいて，上記第１の固体電子撮像素
子を用いて測光値を求めるための初期露光量を決定する
ことを特徴とする。
【００１２】この発明は自動合焦制御（ＡＦ）を行なう
ためにカメラに備えられている上記第２の固体電子撮像
素子の出力映像信号が自動合焦制御可能なレベルに達し
たかどうかを検出するために用いられる上記光センサの
出力信号を利用している。すなわちこの発明によると，
上記光センサの出力にもとづいて上記第２の固体電子撮
像素子の映像信号が，自動合焦制御処理が可能なレベル
に達したかどうかが検出される。上記第２の固体電子撮
像素子による信号電荷の蓄積開始からその出力映像信号
が自動合焦制御処理が可能なレベルに達するまでの蓄積
時間にもとづいて，上記第１の固体電子撮像素子を用い
た測光値を求めるための初期露光量が決定される。
ためにカメラに備えられている上記第２の固体電子撮像
素子の出力映像信号が自動合焦制御可能なレベルに達し
たかどうかを検出するために用いられる上記光センサの
出力信号を利用している。すなわちこの発明によると，
上記光センサの出力にもとづいて上記第２の固体電子撮
像素子の映像信号が，自動合焦制御処理が可能なレベル
に達したかどうかが検出される。上記第２の固体電子撮
像素子による信号電荷の蓄積開始からその出力映像信号
が自動合焦制御処理が可能なレベルに達するまでの蓄積
時間にもとづいて，上記第１の固体電子撮像素子を用い
た測光値を求めるための初期露光量が決定される。
【００１３】蓄積時間の長さは被写体輝度値の大きさに
対応しているため，蓄積時間によりあらかじめ被写体輝
度値を推定することができる。
対応しているため，蓄積時間によりあらかじめ被写体輝
度値を推定することができる。
【００１４】このようにして蓄積時間により推定された
被写体輝度値に応じて初期露光量が妥当な範囲に設定さ
れ，上記第１の固体電子撮像素子を用いた測光が行なわ
れる。したがって，ダイナミック・レンジの狭いＣＣＤ
を用いても，設定された初期露光量で，または露光条件
を変更したとしてもきわめて少ない回数変更するだけで
迅速に測光を完了することができる。しかも，ＡＦ機能
をもつカメラが備えている上記光センサを利用している
ので構成を複雑にすることがない。
被写体輝度値に応じて初期露光量が妥当な範囲に設定さ
れ，上記第１の固体電子撮像素子を用いた測光が行なわ
れる。したがって，ダイナミック・レンジの狭いＣＣＤ
を用いても，設定された初期露光量で，または露光条件
を変更したとしてもきわめて少ない回数変更するだけで
迅速に測光を完了することができる。しかも，ＡＦ機能
をもつカメラが備えている上記光センサを利用している
ので構成を複雑にすることがない。
【００１５】この発明の予備測光装置は，自動合焦処理
に用いる映像信号を得るための固体電子撮像素子と同時
にクリアされて電荷の蓄積を開始する光センサ，上記光
センサの出力にもとづいて上記映像信号が自動合焦制御
処理が可能なレベルに達したかどうかを検出する検出手
段，上記固体電子撮像素子による電荷の蓄積開始から上
記検出手段による検出までの蓄積時間を測定する測定手
段，および上記測定手段から得られる蓄積時間にもとづ
いて自動露出制御のための測光のための初期露光量を決
定する手段を備えていることを特徴とする。
に用いる映像信号を得るための固体電子撮像素子と同時
にクリアされて電荷の蓄積を開始する光センサ，上記光
センサの出力にもとづいて上記映像信号が自動合焦制御
処理が可能なレベルに達したかどうかを検出する検出手
段，上記固体電子撮像素子による電荷の蓄積開始から上
記検出手段による検出までの蓄積時間を測定する測定手
段，および上記測定手段から得られる蓄積時間にもとづ
いて自動露出制御のための測光のための初期露光量を決
定する手段を備えていることを特徴とする。
【００１６】この発明の予備測光方法は，自動合焦処理
に用いる映像信号を得るための固体電子撮像素子と同時
にクリアされて電荷の蓄積を開始する光センサの出力に
もとづいて上記映像信号が自動合焦制御処理が可能なレ
ベルに達したかどうかを検出し，上記固体電子撮像素子
による電荷の蓄積開始から上記検出手段による検出まで
の蓄積時間を測定し，測定された蓄積時間にもとづいて
自動露出制御のための測光のための初期露光量を決定す
ることを特徴とする。
に用いる映像信号を得るための固体電子撮像素子と同時
にクリアされて電荷の蓄積を開始する光センサの出力に
もとづいて上記映像信号が自動合焦制御処理が可能なレ
ベルに達したかどうかを検出し，上記固体電子撮像素子
による電荷の蓄積開始から上記検出手段による検出まで
の蓄積時間を測定し，測定された蓄積時間にもとづいて
自動露出制御のための測光のための初期露光量を決定す
ることを特徴とする。
【００１７】この発明においても自動合焦制御（ＡＦ）
を行なうための上記固体電子撮像素子の出力映像信号が
自動合焦制御可能なレベルに達したかどうかを検出する
ために用いられる上記光センサの出力信号が利用されて
いる。すなわちこの発明によると固体電子撮像素子の電
荷の蓄積開始から，固体電子撮像素子の映像信号が，自
動合焦処理が可能なレベルに達するまでの電荷の蓄積時
間にもとづいて，自動露出制御のための測光のための初
期露光量が決定される。
を行なうための上記固体電子撮像素子の出力映像信号が
自動合焦制御可能なレベルに達したかどうかを検出する
ために用いられる上記光センサの出力信号が利用されて
いる。すなわちこの発明によると固体電子撮像素子の電
荷の蓄積開始から，固体電子撮像素子の映像信号が，自
動合焦処理が可能なレベルに達するまでの電荷の蓄積時
間にもとづいて，自動露出制御のための測光のための初
期露光量が決定される。
【００１８】蓄積時間によりあらかじめ被写体輝度値を
推定でき，推定された被写体輝度値に応じて初期露光量
が妥当な範囲に設定される。
推定でき，推定された被写体輝度値に応じて初期露光量
が妥当な範囲に設定される。
【００１９】したがってダイナミック・レンジの狭いＣ
ＣＤを用いても設定された初期露光量で，または露光条
件を変更したとしてもきわめて少ない回数の変更で迅速
に測光が完了する。
ＣＤを用いても設定された初期露光量で，または露光条
件を変更したとしてもきわめて少ない回数の変更で迅速
に測光が完了する。
【００２０】上記において光センサは第２の固体電子撮
像素子の近傍に配置してもよいし，第２の固体電子撮像
素子と同一チップ上に配置してもよい。また第２の固体
電子撮像素子の一部分を上記光センサとすることもでき
る。
像素子の近傍に配置してもよいし，第２の固体電子撮像
素子と同一チップ上に配置してもよい。また第２の固体
電子撮像素子の一部分を上記光センサとすることもでき
る。
【００２１】
【実施例】以下，この発明をディジタル・スチル・カメ
ラに適用した実施例について，図面を参照しながら詳細
を説明する。
ラに適用した実施例について，図面を参照しながら詳細
を説明する。
【００２２】図１は，この発明の実施例のディジタル・
スチル・カメラの電気的構成を示すブロック図である。
スチル・カメラの電気的構成を示すブロック図である。
【００２３】クロック信号発生回路（以下，ＣＧとい
う）１は，クロック信号ＣＬＫ，ＣＣＤ４の水平転送路
を駆動するための水平転送パルスＨ，不要電荷掃出しの
ための基板抜きパルス，Ａフィールド垂直転送パルスＶ
ＡおよびＢフィールド垂直転送パルスＶＢを発生する。
さらに，ＣＧ１はフィールド・インデックス信号ＦＩ，
ストロボ発光のためのＸタイミング信号ＸＴＭおよび水
平同期信号ＨＤを発生する。
う）１は，クロック信号ＣＬＫ，ＣＣＤ４の水平転送路
を駆動するための水平転送パルスＨ，不要電荷掃出しの
ための基板抜きパルス，Ａフィールド垂直転送パルスＶ
ＡおよびＢフィールド垂直転送パルスＶＢを発生する。
さらに，ＣＧ１はフィールド・インデックス信号ＦＩ，
ストロボ発光のためのＸタイミング信号ＸＴＭおよび水
平同期信号ＨＤを発生する。
【００２４】クロック信号ＣＬＫは，同期信号発生回路
（以下，ＳＳＧという）２に与えられ，ＳＳＧ２はこの
クロック信号ＣＬＫにもとづいて水平同期信号ＨＤおよ
び垂直同期信号ＶＤを発生し，ＣＧ１に与える。
（以下，ＳＳＧという）２に与えられ，ＳＳＧ２はこの
クロック信号ＣＬＫにもとづいて水平同期信号ＨＤおよ
び垂直同期信号ＶＤを発生し，ＣＧ１に与える。
【００２５】水平転送パルスＨはＣＣＤ（固体電子撮像
素子）４に与えられ，基板抜きパルスＳＵＢおよびＡフ
ィールド垂直転送パルスＶＡはＶドライバ５を介して，
Ｂフィールド垂直転送パルスＶＢはＶドライバ６を介し
て，それぞれＣＣＤ４に与えられる。
素子）４に与えられ，基板抜きパルスＳＵＢおよびＡフ
ィールド垂直転送パルスＶＡはＶドライバ５を介して，
Ｂフィールド垂直転送パルスＶＢはＶドライバ６を介し
て，それぞれＣＣＤ４に与えられる。
【００２６】フィールド・インデックス信号ＦＩ，Ｘタ
イミング信号ＸＴＭおよび水平同期信号ＨＤは，ＣＰＵ
３に与えられる。このＣＰＵ３からＣＧ１には露光条件
が設定されたことを示すシャッタのイネーブル信号ＴＳ
ＥＮおよびＣＣＤ４における露光を開始するための電子
シャッタ制御信号ＴＳ１が与えられる。
イミング信号ＸＴＭおよび水平同期信号ＨＤは，ＣＰＵ
３に与えられる。このＣＰＵ３からＣＧ１には露光条件
が設定されたことを示すシャッタのイネーブル信号ＴＳ
ＥＮおよびＣＣＤ４における露光を開始するための電子
シャッタ制御信号ＴＳ１が与えられる。
【００２７】後に詳述するように撮影に先だち，ＡＦ処
理，測光処理および測光値にもとづく露光制御（絞りお
よびシャッタ速度の制御）が行なわれる。測光処理はＧ
ＣＡ９の出力信号にもとづいて行われる。このような測
光処理および露光制御の後に撮影が行われる。そして，
撮影によりＣＣＤ４から得られる映像信号が後述するよ
うにガンマ補正回路10，クランプおよびリサンプリング
回路11，ゲイン・コントロールおよびブランキング回路
12およびＡ／Ｄ変換器13を経てディジタル画像データと
なり，画像データ処理回路（図示略）でＹ／Ｃ分離，デ
ータ圧縮等の加工が加えられたのち，メモリ・カード等
の記録媒体に記録されることになる。
理，測光処理および測光値にもとづく露光制御（絞りお
よびシャッタ速度の制御）が行なわれる。測光処理はＧ
ＣＡ９の出力信号にもとづいて行われる。このような測
光処理および露光制御の後に撮影が行われる。そして，
撮影によりＣＣＤ４から得られる映像信号が後述するよ
うにガンマ補正回路10，クランプおよびリサンプリング
回路11，ゲイン・コントロールおよびブランキング回路
12およびＡ／Ｄ変換器13を経てディジタル画像データと
なり，画像データ処理回路（図示略）でＹ／Ｃ分離，デ
ータ圧縮等の加工が加えられたのち，メモリ・カード等
の記録媒体に記録されることになる。
【００２８】ＡＦ処理のためにＡＦモジュール20が設け
られている。
られている。
【００２９】被写体像はＣＰＵ３によって制御される図
示しない絞りを介してＣＣＤ４上に結像される。
示しない絞りを介してＣＣＤ４上に結像される。
【００３０】ＣＣＤ４では，基板抜きパルスＳＵＢ，Ａ
フィールド垂直転送パルスＶＡ，Ｂフィールド垂直転送
パルスＶＢおよび水平転送パルスＨによって，インター
レース撮影が行われ，ＡフィールドとＢフィールドの映
像信号（ＧＲＧＢの色順次信号）が１フィールド期間ご
とに交互に生成されて，順次読み出される。ＣＣＤ４の
駆動（撮像および映像信号の読出し）は，少なくとも撮
影時と，それに先だつ測光処理において行われる。
フィールド垂直転送パルスＶＡ，Ｂフィールド垂直転送
パルスＶＢおよび水平転送パルスＨによって，インター
レース撮影が行われ，ＡフィールドとＢフィールドの映
像信号（ＧＲＧＢの色順次信号）が１フィールド期間ご
とに交互に生成されて，順次読み出される。ＣＣＤ４の
駆動（撮像および映像信号の読出し）は，少なくとも撮
影時と，それに先だつ測光処理において行われる。
【００３１】ＣＣＤ４から出力されるＡフィールドおよ
びＢフィールドの映像信号は，二重相関サンプリング回
路（ＣＤＳ）７を通して色分離回路８に与えられ，被写
体像を表わす３原色，Ｇ（緑），Ｒ（赤）およびＢ
（青）の色信号に分離される。
びＢフィールドの映像信号は，二重相関サンプリング回
路（ＣＤＳ）７を通して色分離回路８に与えられ，被写
体像を表わす３原色，Ｇ（緑），Ｒ（赤）およびＢ
（青）の色信号に分離される。
【００３２】この色信号Ｇ，Ｒ，Ｂはゲイン・コントロ
ール回路（以下，ＧＣＡという）９で色バランスの調整
が行われた後，ガンマ補正回路10で階調補正が行われ
て，クランプおよびリサンプリング回路11に入力する。
ール回路（以下，ＧＣＡという）９で色バランスの調整
が行われた後，ガンマ補正回路10で階調補正が行われ
て，クランプおよびリサンプリング回路11に入力する。
【００３３】クランプおよびリサンプリング回路11は，
３つの色信号Ｒ，Ｇ，Ｂをクランプし，かつリサンプリ
ングによってＧＲＧＢ…の色順次信号に再変換する。こ
の色順次信号はゲイン・コントロールおよびブランキン
グ回路12に入力する。ゲイン・コントロールおよびブラ
ンキング回路12は，色順次信号を記録のために適当なレ
ベルに増幅するとともにこれにブランキング信号を加え
る。回路12の出力信号は続いてＡ／Ｄ変換器13でディジ
タル画像データに変換される。
３つの色信号Ｒ，Ｇ，Ｂをクランプし，かつリサンプリ
ングによってＧＲＧＢ…の色順次信号に再変換する。こ
の色順次信号はゲイン・コントロールおよびブランキン
グ回路12に入力する。ゲイン・コントロールおよびブラ
ンキング回路12は，色順次信号を記録のために適当なレ
ベルに増幅するとともにこれにブランキング信号を加え
る。回路12の出力信号は続いてＡ／Ｄ変換器13でディジ
タル画像データに変換される。
【００３４】ＡＦモジュール20には蓄積検出センサ22が
含まれている。蓄積検出センサ22はＡＦ処理を行なうこ
とができる程度の信号電荷がＡＦ用ＣＣＤ21Ａおよび21
Ｂに蓄積されたことを検出するためのセンサであり，蓄
積検出センサ22の検出信号は比較回路23に与えられる。
比較回路23において蓄積検出センサ22の検出信号のレベ
ルがしきい値レベルを超えていると判断されるとＡＦ用
ＣＣＤ21Ａおよび21Ｂに蓄積された信号電荷の読出しを
要求する読出要求信号ＥＯＩＳが出力され，ＣＰＵ３に
与えられる。
含まれている。蓄積検出センサ22はＡＦ処理を行なうこ
とができる程度の信号電荷がＡＦ用ＣＣＤ21Ａおよび21
Ｂに蓄積されたことを検出するためのセンサであり，蓄
積検出センサ22の検出信号は比較回路23に与えられる。
比較回路23において蓄積検出センサ22の検出信号のレベ
ルがしきい値レベルを超えていると判断されるとＡＦ用
ＣＣＤ21Ａおよび21Ｂに蓄積された信号電荷の読出しを
要求する読出要求信号ＥＯＩＳが出力され，ＣＰＵ３に
与えられる。
【００３５】ＡＦ用ＣＣＤは距離が若干離れた基準ライ
ンセンサ21Ａと参照ラインセンサ21Ｂとから構成されて
いる。それぞれのラインセンサ21Ａおよび21Ｂ前方には
距離測定用レンズが配置されている。
ンセンサ21Ａと参照ラインセンサ21Ｂとから構成されて
いる。それぞれのラインセンサ21Ａおよび21Ｂ前方には
距離測定用レンズが配置されている。
【００３６】２つのラインセンサ21Ａおよび21Ｂによっ
て同一被写体が観察され，被写体を見る角度から三角測
量の原理によって被写体までの距離が算出される。
て同一被写体が観察され，被写体を見る角度から三角測
量の原理によって被写体までの距離が算出される。
【００３７】被写体が無限遠にある場合は，距離測定用
レンズは，その被写体を基準ラインセンサ21Ａおよび参
照ラインセンサ21Ｂのそれぞれ光軸上の領域に結像す
る。被写体がカメラに近づいてくると，被写体からそれ
ぞれの距離測定用レンズに入射する光は変化する。
レンズは，その被写体を基準ラインセンサ21Ａおよび参
照ラインセンサ21Ｂのそれぞれ光軸上の領域に結像す
る。被写体がカメラに近づいてくると，被写体からそれ
ぞれの距離測定用レンズに入射する光は変化する。
【００３８】すなわち，被写体がカメラに近づくにした
がって，基準ラインセンサ21Ａおよび参照ラインセンサ
21Ｂ上に結像される映像は次第に離れる。基準ラインセ
ンサ21Ａ上の画像と，参照ラインセンサ21Ｂ上の画像と
がどの程度離れているかを検出することにより，三角測
量の原理によりカメラから被写体までの距離を測定する
ことができる。この画像間の距離検出に位相差検出の手
法が用いられている。
がって，基準ラインセンサ21Ａおよび参照ラインセンサ
21Ｂ上に結像される映像は次第に離れる。基準ラインセ
ンサ21Ａ上の画像と，参照ラインセンサ21Ｂ上の画像と
がどの程度離れているかを検出することにより，三角測
量の原理によりカメラから被写体までの距離を測定する
ことができる。この画像間の距離検出に位相差検出の手
法が用いられている。
【００３９】基準ラインセンサ21Ａの各画素からは，固
定位相で映像信号が読出され，参照ラインセンサ21Ｂか
らは所定の位相差が設定され，映像信号が読出される。
もし，これらの映像が同一のものであれば，映像信号差
は０となる。画像読出し領域をｎ画素とし，対応するｎ
個の画素から読出した映像信号についてそれぞれこの演
算を行ない，それらの和である相関度を所定の式にもと
づいて求める。
定位相で映像信号が読出され，参照ラインセンサ21Ｂか
らは所定の位相差が設定され，映像信号が読出される。
もし，これらの映像が同一のものであれば，映像信号差
は０となる。画像読出し領域をｎ画素とし，対応するｎ
個の画素から読出した映像信号についてそれぞれこの演
算を行ない，それらの和である相関度を所定の式にもと
づいて求める。
【００４０】位相を順次変化させ，それぞれの場合につ
いての相関度を求め，相関度曲線を描く。すると，相関
度曲線が最小の値をとる位置が，基準ラインセンサ21Ａ
上の映像と参照ラインセンサ21Ｂ上の映像が最も一致す
る位相である。この位相を検出することにより，カメラ
から被写体までの距離を測定することができる。
いての相関度を求め，相関度曲線を描く。すると，相関
度曲線が最小の値をとる位置が，基準ラインセンサ21Ａ
上の映像と参照ラインセンサ21Ｂ上の映像が最も一致す
る位相である。この位相を検出することにより，カメラ
から被写体までの距離を測定することができる。
【００４１】ＡＦ用ＣＣＤ21Ａおよび21Ｂから出力され
るＡＦ用の信号はＣＰＵ３に与えられ，ＣＰＵ３におい
て上述の相関度の演算が行なわれ，相関度最小の位相が
検出される。これによりＡＦ処理が行なわれることにな
る。
るＡＦ用の信号はＣＰＵ３に与えられ，ＣＰＵ３におい
て上述の相関度の演算が行なわれ，相関度最小の位相が
検出される。これによりＡＦ処理が行なわれることにな
る。
【００４２】クロック信号ＣＬＫ１，ＡＦモジュール20
のリセットの許可を表わすクリア信号ＸＣＬＲおよび読
出し開始信号ＸＳがＣＰＵ３からＡＦモジュール20にそ
れぞれ与えられる。またクロック信号ＣＬＫ２および読
出し同期信号ＥＯＣがＡＦモジュール20からＣＰＵ３に
それぞれ与えられる。
のリセットの許可を表わすクリア信号ＸＣＬＲおよび読
出し開始信号ＸＳがＣＰＵ３からＡＦモジュール20にそ
れぞれ与えられる。またクロック信号ＣＬＫ２および読
出し同期信号ＥＯＣがＡＦモジュール20からＣＰＵ３に
それぞれ与えられる。
【００４３】測光処理のために，ＹL 合成回路14，ゲー
ト回路15，積分回路16および増幅回路17が設けられてい
る。これら回路の具体的な電気的構成の一例が図２に示
されている。ＣＰＵ３はゲート回路15を制御するウイン
ドウ信号ＷＩＮＤおよび積分回路16をリセットするリセ
ット信号ＨＬＲＳＴを出力する。これらの信号ＷＩＮＤ
およびＨＬＲＳＴのタイミングについては後述する。ま
たこの実施例ではＣＰＵ３はＡ／Ｄ変換器18を内蔵して
いる。
ト回路15，積分回路16および増幅回路17が設けられてい
る。これら回路の具体的な電気的構成の一例が図２に示
されている。ＣＰＵ３はゲート回路15を制御するウイン
ドウ信号ＷＩＮＤおよび積分回路16をリセットするリセ
ット信号ＨＬＲＳＴを出力する。これらの信号ＷＩＮＤ
およびＨＬＲＳＴのタイミングについては後述する。ま
たこの実施例ではＣＰＵ３はＡ／Ｄ変換器18を内蔵して
いる。
【００４４】ゲイン・コントロール回路９から出力され
る色信号Ｒ，ＧおよびＢはＹL 合成回路14で加算され，
相対的に低周波の輝度信号ＹL （以下単に輝度信号ＹL
という）が生成される。この輝度信号ＹL は，所要の水
平走査期間においてウインドウ信号ＷＩＮＤが与えられ
ている期間ゲート回路15を通過する。積分回路16はリセ
ット信号ＨＬＲＳＴが与えられたときにリセットされ，
その後ゲート回路15から入力する輝度信号ＹL を積分す
る。積分回路16の積分信号は増幅回路17で増幅されたの
ち，積分回路16がリセットされる直前にＣＰＵ３のＡ／
Ｄ変換器18によってディジタル積分データに変換され，
ＣＰＵ３に取込まれる。
る色信号Ｒ，ＧおよびＢはＹL 合成回路14で加算され，
相対的に低周波の輝度信号ＹL （以下単に輝度信号ＹL
という）が生成される。この輝度信号ＹL は，所要の水
平走査期間においてウインドウ信号ＷＩＮＤが与えられ
ている期間ゲート回路15を通過する。積分回路16はリセ
ット信号ＨＬＲＳＴが与えられたときにリセットされ，
その後ゲート回路15から入力する輝度信号ＹL を積分す
る。積分回路16の積分信号は増幅回路17で増幅されたの
ち，積分回路16がリセットされる直前にＣＰＵ３のＡ／
Ｄ変換器18によってディジタル積分データに変換され，
ＣＰＵ３に取込まれる。
【００４５】図２はＡＦ用ＣＣＤに電荷が蓄積されるま
でのディジタル・スチル・カメラの動作を表わすタイム
・チャート，図３は測光が行なわれるときのディジタル
・スチル・カメラの動作を表わすタイム・チャートであ
る。図４はＡＥ処理までの処理手順を表わすフローチャ
ートである。
でのディジタル・スチル・カメラの動作を表わすタイム
・チャート，図３は測光が行なわれるときのディジタル
・スチル・カメラの動作を表わすタイム・チャートであ
る。図４はＡＥ処理までの処理手順を表わすフローチャ
ートである。
【００４６】図１に示すディジタル・スチル・カメラで
はＡＦ用ＣＣＤ21における信号電荷の蓄積時間にもとづ
いて，ＡＥ処理のための初期の撮影条件を定めている。
ＡＦモジュールの動作の開始からＡＦ用ＣＣＤに電荷の
蓄積が終了するまでの時間は１フィールド期間内におい
て行なわれる。
はＡＦ用ＣＣＤ21における信号電荷の蓄積時間にもとづ
いて，ＡＥ処理のための初期の撮影条件を定めている。
ＡＦモジュールの動作の開始からＡＦ用ＣＣＤに電荷の
蓄積が終了するまでの時間は１フィールド期間内におい
て行なわれる。
【００４７】ディジタル電子スチル・カメラの電源がオ
ンされるとクロック信号ＣＬＫ１が出力され，読出し要
求信号ＥＯＩＳおよび読出し開始信号ＥＯＣがそれぞれ
Ｈレベルに立上る。クリア信号ＸＣＬＲはＬレベルのま
まであり，ＡＦモジュール20のリセット処理が行なわれ
る。
ンされるとクロック信号ＣＬＫ１が出力され，読出し要
求信号ＥＯＩＳおよび読出し開始信号ＥＯＣがそれぞれ
Ｈレベルに立上る。クリア信号ＸＣＬＲはＬレベルのま
まであり，ＡＦモジュール20のリセット処理が行なわれ
る。
【００４８】ＡＦモジュール20のリセット処理が終了す
るとクリア信号ＸＣＬＲは一度立上り，再び立下る。ク
リア信号ＸＣＬＲの立下りに同期してＡＦ用ＣＣＤ21へ
の信号電荷の蓄積が開始される（図４，ステップ40）。
るとクリア信号ＸＣＬＲは一度立上り，再び立下る。ク
リア信号ＸＣＬＲの立下りに同期してＡＦ用ＣＣＤ21へ
の信号電荷の蓄積が開始される（図４，ステップ40）。
【００４９】蓄積検出センサ22から出力される検出信号
レベルが比較回路23のしきい値レベルを超えると，比較
回路23から出力される読出し要求信号ＥＯＩＳが立下り
ＡＦ用ＣＣＤ21Ａおよび21ＢにＡＦ処理できる程度の信
号電荷が蓄積されたと判断される。ＡＦ用ＣＣＤ21Ａお
よび21Ｂにおける信号電荷の蓄積時間はＣＰＵ３のメモ
リ領域に記憶される（図４，ステップ41）。
レベルが比較回路23のしきい値レベルを超えると，比較
回路23から出力される読出し要求信号ＥＯＩＳが立下り
ＡＦ用ＣＣＤ21Ａおよび21ＢにＡＦ処理できる程度の信
号電荷が蓄積されたと判断される。ＡＦ用ＣＣＤ21Ａお
よび21Ｂにおける信号電荷の蓄積時間はＣＰＵ３のメモ
リ領域に記憶される（図４，ステップ41）。
【００５０】読出し要求信号ＥＯＩＳがＬレベルに立下
ると，読出し開始信号ＸＳも一旦Ｌレベルに立下る。こ
れにより，読出し同期信号ＥＯＣがＬレベルの間ＡＦ用
ＣＣＤ21から信号電荷が読出され，ＣＰＵ３に与えられ
る。ＣＰＵ３において上述の位相差方式によるＡＦ処理
が行なわれる。
ると，読出し開始信号ＸＳも一旦Ｌレベルに立下る。こ
れにより，読出し同期信号ＥＯＣがＬレベルの間ＡＦ用
ＣＣＤ21から信号電荷が読出され，ＣＰＵ３に与えられ
る。ＣＰＵ３において上述の位相差方式によるＡＦ処理
が行なわれる。
【００５１】ＡＦ用ＣＣＤ21Ａおよび21Ｂにおける信号
電荷の蓄積が終了するとＡＥ処理に移行する。ＡＥ処理
のための初期条件としての絞り値およびシャッタ速度は
ＡＦ用ＣＣＤ21Ａおよび21Ｂにおける信号電荷の蓄積時
間にもとづいて定められる。
電荷の蓄積が終了するとＡＥ処理に移行する。ＡＥ処理
のための初期条件としての絞り値およびシャッタ速度は
ＡＦ用ＣＣＤ21Ａおよび21Ｂにおける信号電荷の蓄積時
間にもとづいて定められる。
【００５２】蓄積時間がＴ1 （100 μｓ程度）以下であ
ると（図４，ステップ42でYES ），被写体輝度値はＥＶ
＝14.5以上と判断され絞りはＦ14，シャッタ速度は１／
250秒となるように制御される（図４，ステップ43）。
ると（図４，ステップ42でYES ），被写体輝度値はＥＶ
＝14.5以上と判断され絞りはＦ14，シャッタ速度は１／
250秒となるように制御される（図４，ステップ43）。
【００５３】蓄積時間がＴ1 より長くＴ2 （１μｓ程
度）以下であると（図４，ステップ44でYES ），被写体
輝度値はＥＶ＝11.5〜14.5と判断され絞りはＦ14，シャ
ッタ速度は１／60秒となるように制御される（図４，ス
テップ45）。
度）以下であると（図４，ステップ44でYES ），被写体
輝度値はＥＶ＝11.5〜14.5と判断され絞りはＦ14，シャ
ッタ速度は１／60秒となるように制御される（図４，ス
テップ45）。
【００５４】蓄積時間がＴ2 より長くＴ3 （３μｓ程
度）以下であると（図４，ステップ46でYES ），被写体
輝度値はＥＶ＝8.5 〜11.5と判断され絞りはＦ3.5 ，シ
ャッタ速度は１／125 秒に制御される（図４，ステップ
47）。
度）以下であると（図４，ステップ46でYES ），被写体
輝度値はＥＶ＝8.5 〜11.5と判断され絞りはＦ3.5 ，シ
ャッタ速度は１／125 秒に制御される（図４，ステップ
47）。
【００５５】蓄積時間がＴ3 より長ければ（図４，ステ
ップ48），被写体輝度値はＥＶ＝8.5 以下と判断され絞
りはＦ3.5 ，シャッタ速度は１／15秒に設定される（図
４，ステップ48）。
ップ48），被写体輝度値はＥＶ＝8.5 以下と判断され絞
りはＦ3.5 ，シャッタ速度は１／15秒に設定される（図
４，ステップ48）。
【００５６】このようにして設定された絞り値およびシ
ャッタ速度を用いてＡＥ処理が行なわれる。
ャッタ速度を用いてＡＥ処理が行なわれる。
【００５７】図３に示すようにＣＣＤ４への露光の開始
は電子シャッタ制御信号ＴＳ１の立下りによって行なわ
れる。電子シャッタ制御信号ＴＳ１の立下りにより，基
板抜きパルスＳＵＢがＣＣＤ４に与えられＣＣＤ４に蓄
積されている不要電荷がクリアされる。定められたシャ
ッタ時間が経過するとＣＣＤ４に転送パルスが与えられ
信号電荷の読出しが行なわれる。信号電荷の読出しは最
初にＡフィールドの画像について行なわれ，次にＢフィ
ールドの画像について行なわれる。
は電子シャッタ制御信号ＴＳ１の立下りによって行なわ
れる。電子シャッタ制御信号ＴＳ１の立下りにより，基
板抜きパルスＳＵＢがＣＣＤ４に与えられＣＣＤ４に蓄
積されている不要電荷がクリアされる。定められたシャ
ッタ時間が経過するとＣＣＤ４に転送パルスが与えられ
信号電荷の読出しが行なわれる。信号電荷の読出しは最
初にＡフィールドの画像について行なわれ，次にＢフィ
ールドの画像について行なわれる。
【００５８】この実施例においては，視野内の平均的な
明るさを測定するアベレージ測光（以下，ＡＶ測光とい
う）と，視野内の主要被写体の明るさを測定するスポッ
ト測光（以下，ＳＰ測光という）とが行われる。これは
特に，視野内の主要被写体と背景の明るさが異なり，そ
れに応じた適切な露光条件を設定する必要のある場合に
有用である。１フレームを構成するＡフィールド画像と
Ｂフィールド画像とはほぼ同時点の視野像を表わしてい
ると考えられるので，この実施例ではＡフィールドの映
像信号がＡＶ測光のために，Ｂフィールドの映像信号が
ＳＰ測光のためにそれぞれ用いられる。
明るさを測定するアベレージ測光（以下，ＡＶ測光とい
う）と，視野内の主要被写体の明るさを測定するスポッ
ト測光（以下，ＳＰ測光という）とが行われる。これは
特に，視野内の主要被写体と背景の明るさが異なり，そ
れに応じた適切な露光条件を設定する必要のある場合に
有用である。１フレームを構成するＡフィールド画像と
Ｂフィールド画像とはほぼ同時点の視野像を表わしてい
ると考えられるので，この実施例ではＡフィールドの映
像信号がＡＶ測光のために，Ｂフィールドの映像信号が
ＳＰ測光のためにそれぞれ用いられる。
【００５９】また，この実施例では積分回路16による積
分とＡ／Ｄ変換器18によるＡ／Ｄ変換動作および加算処
理とが，水平走査期間ごとに交互に行われる。
分とＡ／Ｄ変換器18によるＡ／Ｄ変換動作および加算処
理とが，水平走査期間ごとに交互に行われる。
【００６０】図５はＣＣＤの撮影領域30内に設定された
ＡＶ測光領域およびＳＰ測光領域を示すものである。
ＡＶ測光領域およびＳＰ測光領域を示すものである。
【００６１】ＡＶ測光領域は基本的に撮影領域30のほぼ
全域にわたって設定される。この実施例ではＡＶ測光領
域は，横方向が水平同期信号ＨＤの立下り（水平走査期
間の開始の時点）から16μｓの経過後，40μｓの期間
（第１の測光期間）に設定され，縦方向が第35番目の水
平走査ラインから第246 番目の水平走査ラインまでの間
（第２の測光期間）に設定される。
全域にわたって設定される。この実施例ではＡＶ測光領
域は，横方向が水平同期信号ＨＤの立下り（水平走査期
間の開始の時点）から16μｓの経過後，40μｓの期間
（第１の測光期間）に設定され，縦方向が第35番目の水
平走査ラインから第246 番目の水平走査ラインまでの間
（第２の測光期間）に設定される。
【００６２】ＳＰ測光領域は，撮影領域30内の任意位置
に小さな領域として設定される。この実施例ではＳＰ測
光領域は撮影領域30の中央部に設定され，横方向が水平
同期信号ＨＤの立下りから28.5μｓの経過後の15μｓの
期間（第１の測光期間）に，縦方向が第87番目の水平走
査ラインから第194 番目の水平走査ラインまでの間（第
２の測光期間）に設定されている。
に小さな領域として設定される。この実施例ではＳＰ測
光領域は撮影領域30の中央部に設定され，横方向が水平
同期信号ＨＤの立下りから28.5μｓの経過後の15μｓの
期間（第１の測光期間）に，縦方向が第87番目の水平走
査ラインから第194 番目の水平走査ラインまでの間（第
２の測光期間）に設定されている。
【００６３】図６に示されるように，Ａフィールド期間
におけるＡＶ測光においては，第35番目の水平同期信号
ＨＤの立下りから16μｓ後にパルス幅40μｓのウインド
ウ信号ＷＩＮＤがゲート回路15に与えられる。このウイ
ンドウ信号ＷＩＮＤが与えられている間，ゲート回路15
は入力する輝度信号ＹL を通過させ，この輝度信号ＹL
は積分回路16に入力する。
におけるＡＶ測光においては，第35番目の水平同期信号
ＨＤの立下りから16μｓ後にパルス幅40μｓのウインド
ウ信号ＷＩＮＤがゲート回路15に与えられる。このウイ
ンドウ信号ＷＩＮＤが与えられている間，ゲート回路15
は入力する輝度信号ＹL を通過させ，この輝度信号ＹL
は積分回路16に入力する。
【００６４】積分回路16は先行するフィールドにおいて
既にリセットされており，ゲート回路15を通過して入力
する輝度信号ＹL を積分する。ウインドウ信号ＷＩＮＤ
がＬレベルになって輝度信号ＹL の積分回路16への入力
が停止すると，積分回路16の積分出力はそのまま保持さ
れるとともにこの積分回路16の積分出力がＣＰＵ３に内
蔵されたＡ／Ｄ変換器18によってディジタル・データに
変換される。Ａ／Ｄ変換に要する時間はこの実施例では
15μｓである。この後，積分回路16は，ＣＰＵ３から与
えられる水平ライン・リセット信号ＨＬＲＳＴによって
リセットされ次の積分動作に備える。
既にリセットされており，ゲート回路15を通過して入力
する輝度信号ＹL を積分する。ウインドウ信号ＷＩＮＤ
がＬレベルになって輝度信号ＹL の積分回路16への入力
が停止すると，積分回路16の積分出力はそのまま保持さ
れるとともにこの積分回路16の積分出力がＣＰＵ３に内
蔵されたＡ／Ｄ変換器18によってディジタル・データに
変換される。Ａ／Ｄ変換に要する時間はこの実施例では
15μｓである。この後，積分回路16は，ＣＰＵ３から与
えられる水平ライン・リセット信号ＨＬＲＳＴによって
リセットされ次の積分動作に備える。
【００６５】ＣＰＵ３に付属したメモリ（たとえばＲＡ
Ｍ）のＡＶ積分データ記憶領域は第34番目の水平同期信
号ＨＤに同期してクリアされている。Ａ／Ｄ変換器18に
よってディジタル・データに変換された積分値はこのＡ
Ｖ積分データ記憶領域に先のデータ（第１番目の場合に
はクリアされているので零である）に加算されて記憶さ
れる。
Ｍ）のＡＶ積分データ記憶領域は第34番目の水平同期信
号ＨＤに同期してクリアされている。Ａ／Ｄ変換器18に
よってディジタル・データに変換された積分値はこのＡ
Ｖ積分データ記憶領域に先のデータ（第１番目の場合に
はクリアされているので零である）に加算されて記憶さ
れる。
【００６６】Ａ／Ｄ変換器18によるＡ／Ｄ変換，積分回
路16のリセットおよび積分データの加算処理は，次の第
36番目の水平走査期間において行われる。
路16のリセットおよび積分データの加算処理は，次の第
36番目の水平走査期間において行われる。
【００６７】以上のようにして，ＡＶ測光領域内におけ
る１本の水平走査ラインにそう積分回路16による輝度信
号ＹL の積分と，この積分により得られた積分信号のＡ
／Ｄ変換，積分回路16のリセットおよびメモリへの積分
データの加算とが，水平走査期間毎に交互に繰返して行
われる。そして，この繰返しは，第246 番目の水平走査
期間まで，すなわちＡＶ測光領域内の全域に亘って行わ
れる。
る１本の水平走査ラインにそう積分回路16による輝度信
号ＹL の積分と，この積分により得られた積分信号のＡ
／Ｄ変換，積分回路16のリセットおよびメモリへの積分
データの加算とが，水平走査期間毎に交互に繰返して行
われる。そして，この繰返しは，第246 番目の水平走査
期間まで，すなわちＡＶ測光領域内の全域に亘って行わ
れる。
【００６８】Ｂフィールド期間におけるＳＰ測光におい
ては，図７に示されているように，パルス幅15μｓのウ
インドウ信号ＷＩＮＤが第87番目の水平同期信号ＨＤの
立下りから28.5μｓ後にゲート回路15に与えられ，この
間，積分回路16は入力する輝度信号ＹL を積分する。ウ
インドウ信号ＷＩＮＤは１水平走査期間置きに第193番
目の水平走査期間まで行われる。積分回路16から出力さ
れる積分信号の積分データへのＡ／Ｄ変換，積分回路16
のリセットおよび積分データのメモリにおける加算は上
述のＡＶ測光の場合と同様に，積分動作の次の一水平走
査期間において行われる。
ては，図７に示されているように，パルス幅15μｓのウ
インドウ信号ＷＩＮＤが第87番目の水平同期信号ＨＤの
立下りから28.5μｓ後にゲート回路15に与えられ，この
間，積分回路16は入力する輝度信号ＹL を積分する。ウ
インドウ信号ＷＩＮＤは１水平走査期間置きに第193番
目の水平走査期間まで行われる。積分回路16から出力さ
れる積分信号の積分データへのＡ／Ｄ変換，積分回路16
のリセットおよび積分データのメモリにおける加算は上
述のＡＶ測光の場合と同様に，積分動作の次の一水平走
査期間において行われる。
【００６９】このようにして，一水平走査期間おきに輝
度信号ＹL の積分が行われ，積分後の次の水平走査期間
においてＡ／Ｄ変換，その他の処理が行われるので，低
速のＡ／Ｄ変換器を用いても充分に対応できる。そし
て，一水平走査ラインおきに積分を行っても，ＳＰ測光
でさえ54本の水平走査ラインにそう積分が可能であるか
ら，測光値を得るために充分な量の積分データを得るこ
とができる。
度信号ＹL の積分が行われ，積分後の次の水平走査期間
においてＡ／Ｄ変換，その他の処理が行われるので，低
速のＡ／Ｄ変換器を用いても充分に対応できる。そし
て，一水平走査ラインおきに積分を行っても，ＳＰ測光
でさえ54本の水平走査ラインにそう積分が可能であるか
ら，測光値を得るために充分な量の積分データを得るこ
とができる。
【００７０】以上のようにしてＡＥ処理のためのデータ
が得られＡＥ処理が行なわれる（図４，ステップ49）。
が得られＡＥ処理が行なわれる（図４，ステップ49）。
【００７１】上述の説明において，Ａフィールド期間に
ＡＶ測光を，Ｂフィールド期間にＳＰ測光を行っている
が，逆にＡフィールド期間にＳＰ測光を，Ｂフィールド
期間にＡＶ測光を行うようにしてもよいし，両フィール
ドまたは一方のフィールドでＡＶ測光のみまたはＳＰ測
光のみを行うようにしてもよいのはいうまでもない。
ＡＶ測光を，Ｂフィールド期間にＳＰ測光を行っている
が，逆にＡフィールド期間にＳＰ測光を，Ｂフィールド
期間にＡＶ測光を行うようにしてもよいし，両フィール
ドまたは一方のフィールドでＡＶ測光のみまたはＳＰ測
光のみを行うようにしてもよいのはいうまでもない。
【００７２】図８はＣＰＵ３が行う測光処理の全体的な
動作を示すものである。
動作を示すものである。
【００７３】ＣＰＵ３は測光処理を開始するにあたって
上述のようにして算出された露光条件の初期設定（初期
露光量の設定）を行い，この初期露光条件が実現される
ようにアイリスおよび電子シャッタの少なくともいずれ
か一方を制御する。
上述のようにして算出された露光条件の初期設定（初期
露光量の設定）を行い，この初期露光条件が実現される
ようにアイリスおよび電子シャッタの少なくともいずれ
か一方を制御する。
【００７４】ＡＶ測光，ＳＰ測光のいずれにおいても，
測光領域内の水平走査期間になると（ステップ51），上
述したようにウインドウ信号ＷＩＮＤを出力して第１の
測光期間の間，積分回路16に積分動作を行わせる（ステ
ップ52）。第１の測光期間が経過したのち，Ａ／Ｄ変換
器18を駆動して積分回路16の積分信号のＡ／Ｄ変換を行
わせて，積分データを得る。
測光領域内の水平走査期間になると（ステップ51），上
述したようにウインドウ信号ＷＩＮＤを出力して第１の
測光期間の間，積分回路16に積分動作を行わせる（ステ
ップ52）。第１の測光期間が経過したのち，Ａ／Ｄ変換
器18を駆動して積分回路16の積分信号のＡ／Ｄ変換を行
わせて，積分データを得る。
【００７５】次に，得られた積分データがあらかじめ定
められた所定の範囲内にあるかどうかを判断する（ステ
ップ53）。これは，得られた積分データを１水平ライン
分の測光値として使用できるかどうかを判定することで
ある。測光の対象となった水平走査ラインにそう部分に
おいて，輝度信号ＹL が飽和しているような場合には，
その積分データは測光値として使用するには適当ではな
い。この所定の範囲は，ＣＣＤ４のダイナミック・レン
ジ，ゲイン・コントロール回路９や増幅回路17のゲイン
等を考慮して，飽和している輝度信号ＹL にもとづく積
分データを排除できる程度に定められる。一方，測光の
対象となった水平走査ラインにそう部分がきわめて暗
く，輝度信号ＹL が殆どノイズ成分によるものであるよ
うな場合にもその積分データを測光値として用いるのは
適切ではない。そこで，ノイズ成分が支配的となってい
る積分データを排除するレベルに上記所定範囲の下限値
が定められる。
められた所定の範囲内にあるかどうかを判断する（ステ
ップ53）。これは，得られた積分データを１水平ライン
分の測光値として使用できるかどうかを判定することで
ある。測光の対象となった水平走査ラインにそう部分に
おいて，輝度信号ＹL が飽和しているような場合には，
その積分データは測光値として使用するには適当ではな
い。この所定の範囲は，ＣＣＤ４のダイナミック・レン
ジ，ゲイン・コントロール回路９や増幅回路17のゲイン
等を考慮して，飽和している輝度信号ＹL にもとづく積
分データを排除できる程度に定められる。一方，測光の
対象となった水平走査ラインにそう部分がきわめて暗
く，輝度信号ＹL が殆どノイズ成分によるものであるよ
うな場合にもその積分データを測光値として用いるのは
適切ではない。そこで，ノイズ成分が支配的となってい
る積分データを排除するレベルに上記所定範囲の下限値
が定められる。
【００７６】但し，この実施例のビデオ・カメラでは蓄
積時間に応じてあらかじめ露光量が定められているの
で，積分データが所定範囲外となることは少ないであろ
う。
積時間に応じてあらかじめ露光量が定められているの
で，積分データが所定範囲外となることは少ないであろ
う。
【００７７】得られた積分データが所定の範囲内の値で
ある場合には，その積分データをメモリの積分データ領
域の値に加算して（ステップ54），まだ測光領域内であ
れば（ステップ55）ステップ52に戻る。積分データが所
定の範囲外の場合には，ライン数カウンタを１インクレ
メントし（ステップ57），積分データの加算処理は行わ
ない。すなわちその積分データは測光値として使用しな
い。ライン数カウンタは，積分データが所定範囲外にあ
る水平ライン数を計数するものである。このライン数カ
ウンタの値が所定値以内であれば（ステップ58），ステ
ップ55を経てステップ52に戻る。
ある場合には，その積分データをメモリの積分データ領
域の値に加算して（ステップ54），まだ測光領域内であ
れば（ステップ55）ステップ52に戻る。積分データが所
定の範囲外の場合には，ライン数カウンタを１インクレ
メントし（ステップ57），積分データの加算処理は行わ
ない。すなわちその積分データは測光値として使用しな
い。ライン数カウンタは，積分データが所定範囲外にあ
る水平ライン数を計数するものである。このライン数カ
ウンタの値が所定値以内であれば（ステップ58），ステ
ップ55を経てステップ52に戻る。
【００７８】上述の動作を，２水平走査期間を１周期と
して繰返しながら測光領域の全域に亘って行う。そし
て，測光領域の範囲外に出ると（ステップ55），それま
でに得られた積分データの加算値を用いて測光値の演算
を行う（ステップ56）。この測光値演算は，積分データ
の加算値を，積分データとして加算されたライン数で除
すことにより，一水平走査線当りの積分値の平均値を求
める演算を含む。積分データとして加算されたライン数
は，測光領域内の水平走査ラインの半数からライン数カ
ウンタの値を減算することにより求められる。
して繰返しながら測光領域の全域に亘って行う。そし
て，測光領域の範囲外に出ると（ステップ55），それま
でに得られた積分データの加算値を用いて測光値の演算
を行う（ステップ56）。この測光値演算は，積分データ
の加算値を，積分データとして加算されたライン数で除
すことにより，一水平走査線当りの積分値の平均値を求
める演算を含む。積分データとして加算されたライン数
は，測光領域内の水平走査ラインの半数からライン数カ
ウンタの値を減算することにより求められる。
【００７９】ＣＰＵ３は，この演算結果（積分値の平均
値）にもとづいて，絞り，シャッタ速度，ストロボ発光
の有無等の露光条件を決定する。
値）にもとづいて，絞り，シャッタ速度，ストロボ発光
の有無等の露光条件を決定する。
【００８０】また，ＣＰＵ３は，積分データが所定範囲
外にある水平ライン数を計数するライン数カウンタの値
が所定数を越えた場合には（ステップ58），露光条件を
変更（ステップ59）して，メモリの積分データ領域をク
リアした後に，次のフレームまたはフィールドの開始の
時点においてステップ51からの測光処理を繰返す。
外にある水平ライン数を計数するライン数カウンタの値
が所定数を越えた場合には（ステップ58），露光条件を
変更（ステップ59）して，メモリの積分データ領域をク
リアした後に，次のフレームまたはフィールドの開始の
時点においてステップ51からの測光処理を繰返す。
【００８１】露光条件の変更にさいしては，積分データ
の多くが上記所定範囲を越えている場合には，露光量を
初期設定露光量よりも少くし，逆の場合には露光量を多
くするというように露光量を１段階（たとえば±２Ｅ
Ｖ）ずつ変更するとよい。初期露光量が視野の実際の明
るさとそれほどかけ離れていない場合には，図７に示す
測光処理を１〜２回（１フレーム〜２フレーム期間）繰
返すことにより，適切な露光量が求まるであろう。
の多くが上記所定範囲を越えている場合には，露光量を
初期設定露光量よりも少くし，逆の場合には露光量を多
くするというように露光量を１段階（たとえば±２Ｅ
Ｖ）ずつ変更するとよい。初期露光量が視野の実際の明
るさとそれほどかけ離れていない場合には，図７に示す
測光処理を１〜２回（１フレーム〜２フレーム期間）繰
返すことにより，適切な露光量が求まるであろう。
【００８２】露光条件を変更するかどうかはＡＶ測定値
またはＳＰ測定値のいずれか一方にもとづいて判断すれ
ばよい。
またはＳＰ測定値のいずれか一方にもとづいて判断すれ
ばよい。
【図１】この発明の実施例によるディジタル・スチル・
カメラの電気的構成を示すブロック図である。
カメラの電気的構成を示すブロック図である。
【図２】ＡＦ用ＣＣＤに電荷が蓄積されるまでの様子を
表わすタイム・チャートである。
表わすタイム・チャートである。
【図３】測光が行なわれるときのタイム・チャートであ
る。
る。
【図４】ＡＥ処理を行なうまでの処理手順を示すフロー
チャートである。
チャートである。
【図５】撮影領域内に設定された測光領域を示す。
【図６】アベレージ測光を行う場合のタイム・チャート
である。
である。
【図７】スポット測光を行なう場合のタイム・チャート
である。
である。
【図８】ＣＰＵによる測光処理の手順を示すフローチャ
ートである。
ートである。
【図９】測光処理の手順の一例を示すフローチャートで
ある。
ある。
３ ＣＰＵ ４ ＣＣＤ 20 ＡＦモジュール 21Ａ，21Ｂ ＡＦ用ＣＣＤ 22 蓄積検出センサ 23 比較回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０４Ｎ 5/335 Ｑ
Claims (4)
- 【請求項１】 被写体像を撮像するための第１の固体電
子撮像素子から出力される映像信号のレベルにもとづい
て，露光量を決定するための測光値を求める自動露出制
御機能をもつカメラにおいて， 自動合焦制御処理に用いる映像信号を得るための第２の
固体電子撮像素子と同時にクリアされて信号電荷の蓄積
を開始する光センサ， 上記光センサの出力にもとづいて上記第２の固体電子撮
像素子の映像信号が，自動合焦制御処理が可能なレベル
に達したかどうかを検出する検出手段， 上記第２の固体電子撮像素子による信号電荷の蓄積開始
から上記検出手段による検出までの蓄積時間を測定する
測定手段，および上記測定手段から得られる蓄積時間に
もとづいて，上記第１の固体電子撮像素子を用いて測光
値を求めるための初期露光量を決定する手段， を備えたカメラ。 - 【請求項２】 自動合焦処理に用いる映像信号を得るた
めの固体電子撮像素子と同時にクリアされて電荷の蓄積
を開始する光センサ， 上記光センサの出力にもとづいて上記映像信号が自動合
焦制御処理が可能なレベルに達したかどうかを検出する
検出手段， 上記固体電子撮像素子による電荷の蓄積開始から上記検
出手段による検出までの蓄積時間を測定する測定手段，
および上記測定手段から得られる蓄積時間にもとづいて
自動露出制御のための測光のための初期露光量を決定す
る手段， を備えた予備測光装置。 - 【請求項３】 被写体像を撮像するための第１の固体電
子撮像素子から出力される映像信号のレベルにもとづい
て，露光量を決定するための測光値を求める自動露出制
御機能をもつカメラにおいて， 自動合焦制御処理に用いる映像信号を得るための第２の
固体電子撮像素子と同時にクリアされて信号電荷の蓄積
を開始する光センサの出力にもとづいて上記第２の固体
電子撮像素子の映像信号が自動合焦制御処理が可能なレ
ベルに達したかどうかを検出し， 上記第２の固体電子撮像素子による信号電荷の蓄積開始
から上記検出手段による検出までの蓄積時間を測定し， 測定された蓄積時間にもとづいて，上記第１の固体電子
撮像素子を用いて測光値を求めるための初期露光量を決
定する， カメラの予備測光方法。 - 【請求項４】 自動合焦処理に用いる映像信号を得るた
めの固体電子撮像素子と同時にクリアされて電荷の蓄積
を開始する光センサの出力にもとづいて上記映像信号が
自動合焦制御処理が可能なレベルに達したかどうかを検
出し， 上記固体電子撮像素子による電荷の蓄積開始から上記検
出手段による検出までの蓄積時間を測定し， 測定された蓄積時間にもとづいて自動露出制御のための
測光のための初期露光量を決定する， 予備測光方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23886492A JP3384818B2 (ja) | 1992-08-17 | 1992-08-17 | カメラおよびその予備測光方法ならびに予備測光装置および方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23886492A JP3384818B2 (ja) | 1992-08-17 | 1992-08-17 | カメラおよびその予備測光方法ならびに予備測光装置および方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0670226A true JPH0670226A (ja) | 1994-03-11 |
| JP3384818B2 JP3384818B2 (ja) | 2003-03-10 |
Family
ID=17036398
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23886492A Expired - Lifetime JP3384818B2 (ja) | 1992-08-17 | 1992-08-17 | カメラおよびその予備測光方法ならびに予備測光装置および方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3384818B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002365518A (ja) * | 2001-06-04 | 2002-12-18 | Fuji Photo Optical Co Ltd | 撮影レンズのピント状態検出装置 |
| JP2006235354A (ja) * | 2005-02-25 | 2006-09-07 | Nikon Corp | 焦点検出装置およびデジタルカメラ |
| JP2006301150A (ja) * | 2005-04-19 | 2006-11-02 | Nikon Corp | オートフォーカス装置 |
| KR100700263B1 (ko) * | 2005-08-03 | 2007-03-26 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 자동초점조절 기능을 갖는 ｃｍｏｓ 이미지센서 및 그를포함하는 카메라 장치 |
| JP2009086004A (ja) * | 2007-09-27 | 2009-04-23 | Fujifilm Corp | 撮影装置及びその制御方法 |
| JP2011107716A (ja) * | 2010-12-20 | 2011-06-02 | Nikon Corp | オートフォーカス装置 |
| JP2017021364A (ja) * | 2016-09-14 | 2017-01-26 | 株式会社ニコン | 焦点調節装置およびそれを備えた撮像装置 |
-
1992
- 1992-08-17 JP JP23886492A patent/JP3384818B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002365518A (ja) * | 2001-06-04 | 2002-12-18 | Fuji Photo Optical Co Ltd | 撮影レンズのピント状態検出装置 |
| JP2006235354A (ja) * | 2005-02-25 | 2006-09-07 | Nikon Corp | 焦点検出装置およびデジタルカメラ |
| JP2006301150A (ja) * | 2005-04-19 | 2006-11-02 | Nikon Corp | オートフォーカス装置 |
| JP4701805B2 (ja) * | 2005-04-19 | 2011-06-15 | 株式会社ニコン | オートフォーカス装置 |
| KR100700263B1 (ko) * | 2005-08-03 | 2007-03-26 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 자동초점조절 기능을 갖는 ｃｍｏｓ 이미지센서 및 그를포함하는 카메라 장치 |
| JP2009086004A (ja) * | 2007-09-27 | 2009-04-23 | Fujifilm Corp | 撮影装置及びその制御方法 |
| JP2011107716A (ja) * | 2010-12-20 | 2011-06-02 | Nikon Corp | オートフォーカス装置 |
| JP2017021364A (ja) * | 2016-09-14 | 2017-01-26 | 株式会社ニコン | 焦点調節装置およびそれを備えた撮像装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3384818B2 (ja) | 2003-03-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7689113B2 (en) | Photographing apparatus and method | |
| US7834931B2 (en) | Apparatus and method for capturing an image using a flash and a solid-state image pickup device | |
| JP2007010908A (ja) | 焦点調節方法及び装置 | |
| US7295241B2 (en) | Image capturing apparatus, image capturing method, and computer-readable medium storing a program for an image capturing apparatus | |
| JP3386495B2 (ja) | ディジタル電子スチル・カメラおよびその制御方法 | |
| JPH0614236A (ja) | 電子スチルカメラ | |
| JP3071891B2 (ja) | 固体電子撮像装置 | |
| US5376964A (en) | Video camera, method of photometry therein, and method of focusing same | |
| JP3384818B2 (ja) | カメラおよびその予備測光方法ならびに予備測光装置および方法 | |
| JP4144012B2 (ja) | 電子カメラのメカシャッター調整方法、及び電子カメラ | |
| JP3994721B2 (ja) | 画像撮像装置及び方法 | |
| JP4095630B2 (ja) | 撮像装置 | |
| JPH0690397A (ja) | ビデオ・カメラおよびその合焦方法 | |
| JP3453153B2 (ja) | ビデオ・カメラおよびその合焦方法 | |
| JP2020072392A (ja) | 撮像装置、撮像装置の制御方法およびプログラム | |
| JP2808222B2 (ja) | ビデオ・カメラおよびその測光方法 | |
| JP3058994B2 (ja) | ビデオ・カメラおよびその測光方法 | |
| JP4143395B2 (ja) | 撮像装置及びオートフォーカス方法及びプログラム及び記憶媒体 | |
| JP3467049B2 (ja) | ビデオ・カメラおよびその測光方法 | |
| JPH06153067A (ja) | ビデオ・カメラおよびその測光方法 | |
| JP3086753B2 (ja) | ビデオ・カメラおよびその合焦方法 | |
| JP2011077770A (ja) | 固体電子撮像装置の制御装置およびその動作制御方法 | |
| JPH06105217A (ja) | ビデオ・カメラおよびその測光方法ならびに合焦制御方法 | |
| JP3213394B2 (ja) | ビデオ・カメラおよびその測光方法 | |
| JP3158702B2 (ja) | ビデオカメラのアイリス制御方法とビデオカメラの電子アイリス制御回路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071227 Year of fee payment: 5 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071227 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081227 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081227 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091227 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101227 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101227 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111227 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111227 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121227 Year of fee payment: 10 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121227 Year of fee payment: 10 |