JPH0668286U - Ion implanter - Google Patents

Ion implanter

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JPH0668286U
JPH0668286U JP1009493U JP1009493U JPH0668286U JP H0668286 U JPH0668286 U JP H0668286U JP 1009493 U JP1009493 U JP 1009493U JP 1009493 U JP1009493 U JP 1009493U JP H0668286 U JPH0668286 U JP H0668286U
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arc chamber
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慶二 岡田
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住友イートンノバ株式会社
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 イオンソースの長寿命化を実現できるバルナ
ス型イオンソースのイオン注入装置を提供する。 【構成】 バルナス型イオンソースのアークチャンバー
1内に、2個のフィラメント2を互いに対向させて装着
する。未使用側のフィラメントに負電極を接続して、こ
の未使用側のフィラメント及びフィラメントシールド7
に、従来構造におけるフィラメントリフレクター8の役
目を持たせる。
(57) [Summary] [Objective] To provide an ion implantation apparatus for a Barnass type ion source capable of achieving a long life of the ion source. [Structure] Two filaments 2 are mounted facing each other in an arc chamber 1 of a Barnus-type ion source. By connecting a negative electrode to the unused filament, the unused filament and the filament shield 7
The role of the filament reflector 8 in the conventional structure.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は、プラズマを発生させるためのイオン注入装置に関する。 The present invention relates to an ion implantation device for generating plasma.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

図3及び図4に、従来のイオン注入装置におけるバルナス型イオンソースのプ ラズマ発生室(アークチャンバー)の構造を簡単に示す。このバルナス型イオン ソースは、アークチャンバー1の中でイオンを発生させ、このアークチャンバー 1の一方の壁にスリットを設けて、このスリットからプラスの電荷イオンを、数 10keVの引き出し電圧によって引き出す。 3 and 4 briefly show the structure of a plasma generation chamber (arc chamber) of a Barnus-type ion source in a conventional ion implantation apparatus. This Barnus-type ion source generates ions in the arc chamber 1, a slit is provided in one wall of the arc chamber 1, and positive charge ions are extracted from the slit by an extraction voltage of several tens keV.

【0003】 ここで、そのイオン発生について簡単に説明する。図3及び図4において、先 ず、フィラメント2に200A程度の電流を流して熱電子を放出させ、ガス状の ソース物質、または、固体ソースの場合は、ヒーターにより固体を加熱して蒸発 させたものを、ソースガス入口3、または、金属蒸気入口4より、アークチャン バー1内に導入する。これにより、フィラメント2とアークチャンバー1との間 の電圧で加速された熱電子が、導入されたソースガスと衝突して、自由電子と正 の電荷をもったイオンに電離する。この時、外部より磁界をかけることによって 熱電子が螺旋状の運動をするので、これにより熱電子とガス分子との衝突確率を 増やすことができる。Here, the ion generation will be briefly described. In FIGS. 3 and 4, first, a current of about 200 A is applied to the filament 2 to emit thermoelectrons, and in the case of a gaseous source material or a solid source, the solid is heated by a heater to be evaporated. The substance is introduced into the arc chamber 1 through the source gas inlet 3 or the metal vapor inlet 4. As a result, the thermoelectrons accelerated by the voltage between the filament 2 and the arc chamber 1 collide with the introduced source gas and are ionized into free electrons and ions having a positive charge. At this time, since a thermoelectron makes a spiral motion by applying a magnetic field from the outside, it is possible to increase the probability of collision between the thermoelectron and the gas molecule.

【0004】[0004]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

ところで、前述のバルナス型イオンソースにおいて要求されている性能改善の 1つに、ソースの寿命の延長がある。このソース寿命とは、ソースを大気解放す ることなくビームを出すことのできる時間のことである。 By the way, one of the performance improvements required for the above-mentioned Varnas type ion source is extension of the life of the source. The source lifetime is the time that the beam can be emitted without exposing the source to the atmosphere.

【0005】 このソース寿命を決定する要因としては主に2つあり、1つは、フィラメント 2の消耗によるフィラメント交換であり、他の1つは、フィラメントインシュレ ータ5及びリフレクターインシュレータ6に、ソースガスや金属蒸気が付着して 、それらの絶縁性を悪くすることである。There are two main factors that determine the life of the source. One is the exchange of the filament due to the consumption of the filament 2, and the other is the source of the filament insulator 5 and the reflector insulator 6. It is that gas or metal vapor adheres and deteriorates their insulation.

【0006】 本考案は、上述の課題を解決するためになされたものであって、その目的は、 イオンソースの長寿命化を実現できるバルナス型イオンソースのイオン注入装置 を提供することにある。The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object thereof is to provide an ion implantation apparatus of a Barnass type ion source capable of achieving a long life of the ion source.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

本考案によれば、イオン注入装置におけるバルナス型イオンソースのアークチ ャンバー内に、2個のフィラメントを互いに対向させて装着するとともに、未使 用側のフィラメントに負電極を接続して、この未使用側のフィラメント及びフィ ラメントシールドで、フィラメントリフレクターを兼ねたことを特徴とするイオ ン注入装置が得られる。 According to the present invention, two filaments are mounted facing each other in the arc chamber of the Barnass type ion source in the ion implantation device, and the negative electrode is connected to the filament on the unused side. It is possible to obtain an ion injecting device characterized in that the filament and the filament shield on the side also serve as the filament reflector.

【0008】[0008]

【実施例】【Example】

以下、本考案の実施例を図によって詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0009】 本考案によるイオン注入装置は、図1及び図2にその概略的な構成を示すよう に、バルナス型イオンソースのアークチャンバー1内に、2個のフィラメント2 を互いに対向させて装着する。これらのフィラメント2は、従来のフィラメント と同様に、フィラメントインシュレータ5を介して、フィラメントシールド7と 共に、アークチャンバー1に対して絶縁性を保つように、それぞれ構成される。The ion implanter according to the present invention, as shown in the schematic configuration of FIGS. 1 and 2, has two filaments 2 mounted facing each other in an arc chamber 1 of a Varnas type ion source. . Like the conventional filaments, these filaments 2 and the filament shield 7 via the filament insulator 5 are respectively configured so as to be insulated from the arc chamber 1.

【0010】 そして、図1及び図2において、使用中のフィラメントが消耗して交換が必要 になった場合には、フィラメント電源9の+側を、もう1本のフィラメントに、 真空を破らずに繋ぎ替える。In addition, in FIG. 1 and FIG. 2, when the filament in use is consumed and needs to be replaced, the + side of the filament power supply 9 is changed to another filament without breaking the vacuum. Reconnect.

【0011】 また、ここで、未使用側のフィラメントには負電極を接続して、この未使用側 のフィラメント及びフィラメントシールド7に、従来構造におけるフィラメント リフレクター8の役目を持たせる。Further, here, a negative electrode is connected to the unused filament, and the unused filament and the filament shield 7 serve as the filament reflector 8 in the conventional structure.

【0012】[0012]

【考案の効果】[Effect of device]

上述したように、本考案によれば、アークチャンバーのフィラメントの寿命を 2倍にすることができるので、イオンソースの長寿命化を実現できる。 As described above, according to the present invention, the life of the filament of the arc chamber can be doubled, so that the life of the ion source can be extended.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本考案の実施例におけるアークチャンバーの正
面概略断面図である。
FIG. 1 is a schematic front sectional view of an arc chamber according to an embodiment of the present invention.

【図2】本考案の実施例におけるアークチャンバーの側
面概略断面図である。
FIG. 2 is a schematic side sectional view of an arc chamber according to an embodiment of the present invention.

【図3】従来のアークチャンバーの正面概略断面図であ
る。
FIG. 3 is a schematic front sectional view of a conventional arc chamber.

【図4】従来のアークチャンバーの側面概略断面図であ
る。
FIG. 4 is a schematic side sectional view of a conventional arc chamber.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 アークチャンバー 2 フィラメント 3 ソースガス入口 4 金属蒸気入口 5 フィラメントインシュレータ 6 リフレクターインシュレータ 7 フィラメントシールド 8 フィラメントリフレクタ 9 フィラメント電源 1 Arc Chamber 2 Filament 3 Source Gas Inlet 4 Metal Vapor Inlet 5 Filament Insulator 6 Reflector Insulator 7 Filament Shield 8 Filament Reflector 9 Filament Power Supply

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/265 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Office reference number FI technical display location H01L 21/265

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】イオン注入装置におけるバルナス型イオン
ソースのアークチャンバー内に、2個のフィラメントを
互いに対向させて装着するとともに、未使用側のフィラ
メントに負電極を接続して、この未使用側のフィラメン
ト及びフィラメントシールドで、フィラメントリフレク
ターを兼ねたことを特徴とするイオン注入装置。
1. In an arc chamber of a Barnass type ion source in an ion implantation apparatus, two filaments are mounted so as to face each other, and a negative electrode is connected to a filament on the unused side, and the filament on the unused side is connected. An ion implanter characterized in that the filament and the filament shield also serve as the filament reflector.
JP1009493U 1993-03-10 1993-03-10 Ion implanter Expired - Lifetime JP2569913Y2 (en)

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JPH0668286U true JPH0668286U (en) 1994-09-22
JP2569913Y2 JP2569913Y2 (en) 1998-04-28

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007115704A (en) * 1999-12-13 2007-05-10 Semequip Inc Ion implantation ion source, system, and method

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