JPH0667321A - 同軸落射照明装置付きステレオカメラ - Google Patents

同軸落射照明装置付きステレオカメラ

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JPH0667321A
JPH0667321A JP4138137A JP13813792A JPH0667321A JP H0667321 A JPH0667321 A JP H0667321A JP 4138137 A JP4138137 A JP 4138137A JP 13813792 A JP13813792 A JP 13813792A JP H0667321 A JPH0667321 A JP H0667321A
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coaxial epi
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stereo camera
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Makoto Maruie
誠 丸家
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  • Stereoscopic And Panoramic Photography (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】ステレオカメラを構成するカメラ群が共通に撮
影する範囲を,撮影時にステレオカメラ自身が指示する
ことにより,無駄のない高精度なステレオ立体計測が行
えるようにする。 【構成】ステレオカメラを構成するカメラ1,2に同軸
落射照明装置3,4を併設し,各カメラの撮影範囲と,
同軸落射照明装置3,4による照射範囲とを一致させ
る。照射領域の重なり具合いから,ステレオカメラを構
成するカメラ群が共通に撮影する照射領域15が分か
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は,同軸落射照明装置付き
ステレオカメラに関し,特に,単一の光源で影のない画
像を撮影するために用いられる照明装置としての同軸落
射照明装置を併設した同軸落射照明装置付きステレオカ
メラに関する。
【0002】
【従来の技術】ステレオ法は,代表的な光学的立体計測
の方法である(尾上他編「画像処理ハンドブック」昭晃
堂(1987))。ステレオ法では,複数のカメラで対
象物をとらえ,それぞれのカメラから得られた画像間で
視差を求め,それから3次元情報を取得する。
【0003】ここでは,ステレオ法を行なうためのカメ
ラ群をもとめてステレオカメラと呼ぶ。ステレオ法の測
定範囲は,ステレオカメラを構成するカメラ群が共通に
撮影する範囲である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら,撮影時
に,ステレオカメラを構成するカメラ群が共通に撮影す
る範囲を知ることは容易ではない。これに対応し,目的
とする測定範囲を確実にカバーするため,カメラ間の距
離を必要以上に縮める,必要以上に広角なレンズを用い
るなどの処置が行なわれ,これにより立体計測の精度の
低下を招いていたという欠点がある。
【0005】本発明の目的は,上述した欠点を除去し,
ステレオカメラを構成するカメラ群が共通に撮影する範
囲を,撮影時にカメラ自身が指示することにより,無駄
のない高精度なステレオ立体計測が行える同軸落射照明
装置付きステレオカメラを提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の同軸落射
照明装置付きステレオカメラは,ステレオカメラを構成
するすべてのカメラに,照射領域をそれぞれのカメラの
撮影範囲と等しくすることが可能な同軸落射照明装置を
備えた構成を有する。
【0007】また本発明の第2の同軸落射照明装置付き
ステレオカメラは,ステレオカメラを構成するすべての
カメラに,照射領域をそれぞれのカメラの撮影範囲と等
しくすることが可能で,かつそれぞれ異なる波長の光を
吸収するフィルタを内蔵した同軸落射照明装置を備えた
構成を有する。
【0008】さらに本発明の第3の同軸落射照明装置付
きステレオカメラは,ステレオカメラを構成するすべて
のカメラに,照射領域をそれぞれのカメラの撮影範囲と
等しくすることが可能で,かつそれぞれ異なる投影パタ
ーンを内蔵した同軸落射照明装置を備えた構成を有す
る。
【0009】
【作用】本発明の第1の同軸落射照明装置付きステレオ
カメラでは,ステレオカメラを構成するカメラそれぞれ
に同軸落射照明装置が取り付けられている。
【0010】これら同軸落射照明装置は,本質的には,
単一の光源で影のない画像を撮影するために用いられて
きた照明装置である。(たとえば’91国際画像機器展
ガイドブック,P30)。
【0011】これら同軸落射照明装置の照射範囲を,そ
れぞれのカメラの撮影範囲と等しくすれば,ステレオカ
メラを構成するカメラ群が共通に撮影する範囲は,すべ
ての同軸落射照明装置で照明される範囲であり,それは
その周辺で最も明るい部分である。従って,測定すべき
範囲が,その最も明るい部分で必要最小限覆われるよう
にカメラの位置,カメラの向き,レンズの画角等を調整
すれば,無駄の無い高精度な立体計測が行える。
【0012】また本発明の第2の同軸落射照明装置付き
ステレオカメラでは,ステレオカメラを構成するカメラ
それぞれに,異なる波長の光を吸収するフィルタが付い
た同軸落射照明装置が取り付けられている。
【0013】これら同軸落射照明装置の照射範囲を,そ
れぞれのカメラの撮影範囲と等しくすれば,ステレオカ
メラを構成するカメラ群が共通に撮影する範囲は,全て
の同軸落射照明装置から照射された光が混ざった領域で
あり,光の色から容易に判別できる。
【0014】従って,その領域が測定すべき範囲を必要
最小限覆うようにカメラの位置,カメラの向き,レンズ
の画角等を調整すれば,無駄の無い高精度な立体計測が
行える。
【0015】さらに本発明の第3の同軸落射照明装置付
きステレオカメラでは,ステレオカメラを構成するカメ
ラそれぞれに,異なる投影パターンを内蔵した同軸落射
照明装置が取り付けられている。
【0016】同軸落射照明装置の照射範囲を,それぞれ
のカメラの撮影範囲と等しくすれば,ステレオカメラを
構成するカメラ群が共通に撮影する範囲は,投影された
全てのパターンが重なった領域であり,容易に判別でき
る。
【0017】従って,その領域が測定すべき範囲を必要
最小限覆うようにカメラの位置,カメラの向き,レンズ
の画角等を調整すれば,無駄の無い高精度な立体計測が
行える。
【0018】
【実施例】次に,本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の第1の実施例を断面的に示す構成図
である。
【0019】図1に示す第1の実施例は,ステレオカメ
ラを構成する2台のカメラ1および2と,カメラ1およ
び2それぞれの照射領域を形成するカメラ1用の同軸落
射照明装置3およびカメラ2用の同軸落射照明装置4と
を備え,なお同軸落射照明装置3および4は,それぞれ
光源5と,照明系レンズ6と,絞り7と,投影レンズ8
と,絞り9と,ハーフミラー10を備えた構成となって
いる。
【0020】次に,第1の実施例の動作について説明す
る。
【0021】同軸落射照明装置3および4の光源5を出
た光線束は,照明系レンズ6を通り,さらに絞り7を通
過する。絞り7を通過した光線束は投影レンズ8,絞り
9を通り,さらに,光線束の光軸11がカメラ1の光軸
12と一致するようにハーフミラー10で反射される。
【0022】ハーフミラー10で反射された光線束の画
角が,カメラの画角と等しくなるように投影レンズで調
節し,絞り7の形をカメラ1の視野絞りと同じ形にすれ
ば,同軸落射照明装置3および4で照明される範囲は,
カメラ1および2の撮影範囲とほぼ同一になる。
【0023】なお,絞り9は投影レンズ8の焦点位置に
おき,射出瞳として作用させる。そうすれば,同軸落射
照明装置3および4がテレセントリック光学系を構成す
ることになり,ピント合わせと照射角の調整がほぼ独立
に行えるので便利である。
【0024】照射領域13は,同軸落射照明装置3のみ
で照射される照明領域であり,照射領域14は,同軸落
射照明装置4のみで照射される照射領域である。
【0025】また照射領域15は,同軸落射照明装置3
および4で照射される照射領域であり,照射領域13お
よび14と比較してより明るい照射領域である。よっ
て,カメラ1およびカメラ2で構成されるステレオカメ
ラの測定範囲が,照射される光の強さにより判別でき
る。この状態を図4に示す。
【0026】図2は,本発明の第2の実施例を断面的に
示す構成図である。図2の第2の実施例では,ステレオ
カメラを構成するカメラ1,2と,同軸落射照明装置3
a,4aを備え,同軸落射照明装置3aは,光源5,照
明系レンズ6,絞り7,投影レンズ8,絞り9,ハーフ
ミラー10のほかフィルタ21を設け,一方,同軸落射
照明装置4aは,フィルタ21と異るフィルタ22を設
けた点のみが異る。
【0027】この第2の実施例では,同軸落射照明装置
3aにはフィルタ21,同軸落射照明装置4aにはフィ
ルタ22を配設している。
【0028】フィルタ21,22が互いに異なる波長の
光を吸収するものであれば,同軸落射照明装置3aおよ
び4aから照射される光の色が異なり,2台のカメラ
1,2に共通に撮影される範囲は,照射される光の色か
ら容易に判別できる。
【0029】例えば,同軸落射照明装置3aから緑の
光,同軸落射照明装置4aから赤い光が照射されれば,
照射領域23は緑,照射領域24は赤,照射領域25は
黄色になる。この状態を図5に示す。
【0030】図3は,本発明の第3の実施例を断面的に
示す構成図である。
【0031】図3に示す第3の実施例は,ステレオカメ
ラを構成する2台のカメラ1,2と,それぞれのカメラ
に対応して配設する同軸落射照明装置3b,4bを備え
る。
【0032】同軸落射照明装置3b,4bは,それぞれ
光源5,照明系レンズ6,投影レンズ8,絞り9,ハー
フミラー10のほか,同軸落射照明装置3bには投影パ
ターン31,同軸落射照明装置4bには投影パターン3
2を備えた構成を有する。
【0033】この第3の実施例では,同軸落射照明装置
3bには投影パターン31,同軸落射照明装置4bには
投影パターン32を設ける。
【0034】投影パターン30,31が異なるものであ
れば,2台のカメラ1,2に共通に撮影される範囲は,
2つのパターンが重なっている領域であり,容易に判別
できる。
【0035】例えば,同軸落射照明装置3bから縦縞パ
ターン,同軸落射照明装置4bからは横縞パターンが照
射されれば,照明領域33は横縞,照射領域34は縦
縞,照射領域35は格子模様になる。
【0036】なお,投影パターン31,32の外形は,
それぞれカメラ1,2の視野絞りの形と同一にし,図1
の第1の実施例における絞り7の役割も果すようにす
る。この状態を図6に示す。
【0037】こうして,上述した図1乃至図3の第1の
実施例乃至第3の実施例いずれにおいても,ステレオカ
メラを構成するカメラ群が共通に撮影する範囲を,ステ
レオカメラ自身により指示し,無駄のない高精度のステ
レオ立体計測が行なえる。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように本発明による同軸落
射照明装置付きステレオカメラは,ステレオカメラを構
成するカメラ群が共通に撮影する範囲を,撮影時にカメ
ラ自身が指示することにより,無駄のない高精度なステ
レオ立体計測が行え,また第1の発明では,すべてのカ
メラに同一の同軸落射照明装置を用いる事ができ,第2
の発明では,色を用いることにより識別が容易になり,
またいずれの発明も測定領域に正確にピントを合わせる
必要がなく,さらに第3の発明では,パターンの投影に
より,より正確に測定可能範囲がわかり,また投影され
たパターンを,3次元情報抽出のためにも用いることが
できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を断面的に示す構成図で
ある。
【図2】本発明の第2の実施例を断面的に示す構成図で
ある。
【図3】本発明の第3の実施例を断面的に示す構成図で
ある。
【図4】図1の第1の実施例における照射パターンを示
す正面図である。
【図5】図2の第2の実施例における照射パターンを示
す正面図である。
【図6】図3の第3の実施例における照射パターンを示
す正面図である。
【符号の説明】
1,2 カメラ 3,4 同軸落射照明装置 3a,4a 同軸落射照明装置 3b,4b 同軸落射照明装置 5 光源 6 照明系レンズ 7 絞り 8 投影レンズ 9 絞り 10 ハーフミラー 11 光軸 12a,12b 光軸 13 同軸落射照明装置3のみによる照射領域 14 同軸落射照明装置4のみによる照射領域 15 同軸落射照明装置3および4による照射領域 21,22 フィルタ 23 同軸落射照明装置3のみによる照射領域 24 同軸落射照明装置4のみによる照射領域 25 同軸落射照明装置3および4による照射領域 31,32 投影パターン 33 同軸落射照明装置3のみによる照射領域 34 同軸落射照明装置4のみによる照射領域 35 同軸落射照明装置3および4による照射領域

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ステレオカメラを構成するすべてのカメ
    ラに,照射領域をそれぞれのカメラの撮影範囲と等しく
    することが可能な同軸落射照明装置を備えたことを特徴
    とする同軸落射照明装置付きステレオカメラ。
  2. 【請求項2】 ステレオカメラを構成するすべてのカメ
    ラに,照射領域をそれぞれのカメラの撮影範囲と等しく
    することが可能で,かつそれぞれ異なる波長の光を吸収
    するフィルタを内蔵した同軸落射照明装置を備えたこと
    を特徴とする同軸落射照明装置付きステレオカメラ。
  3. 【請求項3】 ステレオカメラを構成するすべてのカメ
    ラに,照射領域をそれぞれのカメラの撮影範囲と等しく
    することが可能で,かつそれぞれ異なる投影パターンを
    内蔵した同軸落射照明装置を備えたことを特徴とする同
    軸落射照明装置付きステレオカメラ。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007040801A (ja) * 2005-08-02 2007-02-15 Techno Horon:Kk 3次元座標測定装置及び方法
JP2016133463A (ja) * 2015-01-21 2016-07-25 株式会社ジェイテクト 球体位置計測装置

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JP2007040801A (ja) * 2005-08-02 2007-02-15 Techno Horon:Kk 3次元座標測定装置及び方法
JP2016133463A (ja) * 2015-01-21 2016-07-25 株式会社ジェイテクト 球体位置計測装置

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