JPH0666280B2 - 化学的気相成長法 - Google Patents
化学的気相成長法Info
- Publication number
- JPH0666280B2 JPH0666280B2 JP3028891A JP2889191A JPH0666280B2 JP H0666280 B2 JPH0666280 B2 JP H0666280B2 JP 3028891 A JP3028891 A JP 3028891A JP 2889191 A JP2889191 A JP 2889191A JP H0666280 B2 JPH0666280 B2 JP H0666280B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- compound
- arsenic
- arsenic compound
- mocvd
- vapor deposition
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C18/00—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
- C23C18/02—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/301—AIII BV compounds, where A is Al, Ga, In or Tl and B is N, P, As, Sb or Bi
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S252/00—Compositions
- Y10S252/95—Doping agent source material
- Y10S252/951—Doping agent source material for vapor transport
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Thermal Sciences (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ジアルシンおよびポリ
アルシン化合物の新規使用による化学的気相成長法およ
び化学的ドーピング法に関する。
アルシン化合物の新規使用による化学的気相成長法およ
び化学的ドーピング法に関する。
【0002】
【従来の技術】種々の基板上にIII −V膜を製造するた
めの有機金属化学気相法(MOCVD) は、周知でありかつ十
分文献に記載されている。この主題に関する少数の文献
(これは参考のため本発明では導入されている)として
は、米国特許 3,101,280、 3,218,203、 3,224,913、
3,226,270、 3,261,726、 3,312,570、 3,312,571、 3,
342,551、 3,364,084、 4,368,098および 4,404,265が
あげられる。
めの有機金属化学気相法(MOCVD) は、周知でありかつ十
分文献に記載されている。この主題に関する少数の文献
(これは参考のため本発明では導入されている)として
は、米国特許 3,101,280、 3,218,203、 3,224,913、
3,226,270、 3,261,726、 3,312,570、 3,312,571、 3,
342,551、 3,364,084、 4,368,098および 4,404,265が
あげられる。
【0003】材料、特に半導体材料の化学的ドーピング
は、 MOCVDによる膜のエピタキシャル成長と類似方法で
行われる。しかし、ドーピングにおいては、基板材料は
反応室内に装入され次いで低レベルの金属生成化合物が
導入される。アルシン(AsH3)は、エピタキシャル成長
膜、例えばIII −V膜に対する MOCVD法用の標準ヒ素源
であった。しかし、この毒性でかつ気体材料による危険
性のため、アルシンの代替物が MOCVD法並びにヒ素ドー
ピンク法に対して求められている。
は、 MOCVDによる膜のエピタキシャル成長と類似方法で
行われる。しかし、ドーピングにおいては、基板材料は
反応室内に装入され次いで低レベルの金属生成化合物が
導入される。アルシン(AsH3)は、エピタキシャル成長
膜、例えばIII −V膜に対する MOCVD法用の標準ヒ素源
であった。しかし、この毒性でかつ気体材料による危険
性のため、アルシンの代替物が MOCVD法並びにヒ素ドー
ピンク法に対して求められている。
【0004】ヒ素に代わるものとして、アルキルアルシ
ンが MOCVDおよびドーピングプロセスにおいて用いられ
てきている。最初に、トリアルキルアルシンが試みられ
た。これらの化合物はアルシンよりも危険性が少ない一
方、これらの化合物は金属と共に炭素をデポジュットし
易すい不都合がある。従って、ジアルキルアルシンおよ
びモノアルキルアルシンは、 MOCVDおよびドーピングプ
ロセスに対し、例えば米国特許 4,734,514および 4,81
4,203に記載される如く、好ましいことが見出されてい
る。これらの特許の教示は本発明において参考として挿
入されている。
ンが MOCVDおよびドーピングプロセスにおいて用いられ
てきている。最初に、トリアルキルアルシンが試みられ
た。これらの化合物はアルシンよりも危険性が少ない一
方、これらの化合物は金属と共に炭素をデポジュットし
易すい不都合がある。従って、ジアルキルアルシンおよ
びモノアルキルアルシンは、 MOCVDおよびドーピングプ
ロセスに対し、例えば米国特許 4,734,514および 4,81
4,203に記載される如く、好ましいことが見出されてい
る。これらの特許の教示は本発明において参考として挿
入されている。
【0005】III −V膜を形成する際、公知のヒ素化合
物に関する別の困難性は、以下の点にある。すなわち、
III 族金属化合物の金属、例えばGa に対するヒ素の金
属モル比が1対1である場合、ガリウム化合物に対しば
く大に過剰のヒ素化合物が反応器を通過しなければなら
ない。アルシンを用いる場合、該アルシンはガリウム化
合物に対し約 100対1のモル比で供給されねばならな
い。アルキルアルシンを用いる場合、モル比は未だ約30
対1である。この割合を減じることが望ましい。
物に関する別の困難性は、以下の点にある。すなわち、
III 族金属化合物の金属、例えばGa に対するヒ素の金
属モル比が1対1である場合、ガリウム化合物に対しば
く大に過剰のヒ素化合物が反応器を通過しなければなら
ない。アルシンを用いる場合、該アルシンはガリウム化
合物に対し約 100対1のモル比で供給されねばならな
い。アルキルアルシンを用いる場合、モル比は未だ約30
対1である。この割合を減じることが望ましい。
【0006】更に以下の内容が望ましい。すなわち、反
応室に導入されるヒ素含有化合物が高いパーセンテージ
のヒ素を含有することが更に望ましい。
応室に導入されるヒ素含有化合物が高いパーセンテージ
のヒ素を含有することが更に望ましい。
【0007】
【発明の要約】本発明によれば、ジアルシンおよびポリ
アルシンが、エピタキシャル成長および化学的ドーピン
グにおいて MOCVDに対して用いられる。これらの化合物
は、分子の重量に対し高重量%のヒ素を与える。
アルシンが、エピタキシャル成長および化学的ドーピン
グにおいて MOCVDに対して用いられる。これらの化合物
は、分子の重量に対し高重量%のヒ素を与える。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、ジアル
シンおよびポリアルシンが MOCVD並びに化学的ドーピン
グに対して用いられる。ジアルシンおよびポリアルシン
とは、少なくとも1個のAs −As 結合を有する化合物
を意味するものとする。特に、次の一般式の化合物が M
OCVD又は化学的ドーピングに対して用いられる:
シンおよびポリアルシンが MOCVD並びに化学的ドーピン
グに対して用いられる。ジアルシンおよびポリアルシン
とは、少なくとも1個のAs −As 結合を有する化合物
を意味するものとする。特に、次の一般式の化合物が M
OCVD又は化学的ドーピングに対して用いられる:
【0009】
【化2】
【0010】前記式中、R′はアルキル、アルキレンお
よびアルキンから選ばれる同一もしくは異なる基であ
る。これらの一般式で示される範囲内の適当な化学薬品
は、分解に対して安定である温度で液体でありかつこの
温度から該薬品は例えば成長室に移送するためにキャリ
ヤガスをその中を通気することにより気化され得る。こ
のような温度で、化合物は企図した使用に対し十分に高
い蒸気圧を有するべきである。 MOCVDによるエピタキシ
ャル成長に対し、化合物は気化温度で少なくとも1トー
ルの蒸気圧を有する。化学的ドーピングに対し、蒸気圧
は相当により小さい。
よびアルキンから選ばれる同一もしくは異なる基であ
る。これらの一般式で示される範囲内の適当な化学薬品
は、分解に対して安定である温度で液体でありかつこの
温度から該薬品は例えば成長室に移送するためにキャリ
ヤガスをその中を通気することにより気化され得る。こ
のような温度で、化合物は企図した使用に対し十分に高
い蒸気圧を有するべきである。 MOCVDによるエピタキシ
ャル成長に対し、化合物は気化温度で少なくとも1トー
ルの蒸気圧を有する。化学的ドーピングに対し、蒸気圧
は相当により小さい。
【0011】一般に、置換基Rの分子量が小さければ小
さい程、ジアルシンおよびポリアルシンの蒸気圧はより
高いが、他の因子、例えば分子の対称もしくは不斉はこ
のことに影響を及ぼすであろう。従って、前記式I〜IV
の化合物の基Rは3個又はそれ以下の炭素原子に平均化
すべきである。R基のいずれも炭素原子3個を越えない
ことが好ましい。
さい程、ジアルシンおよびポリアルシンの蒸気圧はより
高いが、他の因子、例えば分子の対称もしくは不斉はこ
のことに影響を及ぼすであろう。従って、前記式I〜IV
の化合物の基Rは3個又はそれ以下の炭素原子に平均化
すべきである。R基のいずれも炭素原子3個を越えない
ことが好ましい。
【0012】適当な化合物の例には次のものが含まれる
が、これらに限定されるものではない: 化 合 物 沸点又は蒸気圧 Me2AsAsMe2 60℃/25mm; 沸点 163℃ Et2AsAsEt2 185℃ (MeAs)5 178℃/15トール (EtAs)5 190℃/1トール (n-PrAs)5 144℃/0.05トール ジアルシンおよび/又はポリアルシンの混合物はまた、
使用できるがしかしこれらの混合物は成長中一定の蒸気
圧の欠如が問題である。
が、これらに限定されるものではない: 化 合 物 沸点又は蒸気圧 Me2AsAsMe2 60℃/25mm; 沸点 163℃ Et2AsAsEt2 185℃ (MeAs)5 178℃/15トール (EtAs)5 190℃/1トール (n-PrAs)5 144℃/0.05トール ジアルシンおよび/又はポリアルシンの混合物はまた、
使用できるがしかしこれらの混合物は成長中一定の蒸気
圧の欠如が問題である。
【0013】これらの有機アルシン類は、アルシンより
も実質的に危険性は少ない。更に、As −As 結合のた
め、全化合物の重量%としてのヒ素は高い。他の利点も
同様に期待される。幾つかのスペクトルデータはアルシ
ンがヒ素源として用いられる場合、As −As 結合種は
分解温度で形成されることを示しており、このような種
はヒ素の成長に対し中間的先駆物質となるであろうと信
じられている。ジアルシンおよびポリアルシンにより、
As −As 結合はすでに形成されている。
も実質的に危険性は少ない。更に、As −As 結合のた
め、全化合物の重量%としてのヒ素は高い。他の利点も
同様に期待される。幾つかのスペクトルデータはアルシ
ンがヒ素源として用いられる場合、As −As 結合種は
分解温度で形成されることを示しており、このような種
はヒ素の成長に対し中間的先駆物質となるであろうと信
じられている。ジアルシンおよびポリアルシンにより、
As −As 結合はすでに形成されている。
【0014】更にまた、以下の如くに考えられている。
すなわち、ジ−およびポリ−アルシンは、III 族金属化
合物のIII 族金属と予備的に結合しているか、又は予備
的に配位している。例えば、次のように考えられてい
る。すなわち、ジアルシンはR3AlおよびR3Ga化合物(こ
こにおいて、少なくとも1種のR′は炭化水素である)
との付加塩を形成する。また、次のように考えられてい
る。すなわち、R3Ga化合物は、R2Ga+ およびR2Ga:種を
形成し更にAs −As 結合がイオンもしくは遊離基に解
離する比較的低エネルギーは、成長前にAs がGa に結
合することを促進しこれによりGaAs膜を形成するのに必
要なAs 対Ga モル比を減少する。
すなわち、ジ−およびポリ−アルシンは、III 族金属化
合物のIII 族金属と予備的に結合しているか、又は予備
的に配位している。例えば、次のように考えられてい
る。すなわち、ジアルシンはR3AlおよびR3Ga化合物(こ
こにおいて、少なくとも1種のR′は炭化水素である)
との付加塩を形成する。また、次のように考えられてい
る。すなわち、R3Ga化合物は、R2Ga+ およびR2Ga:種を
形成し更にAs −As 結合がイオンもしくは遊離基に解
離する比較的低エネルギーは、成長前にAs がGa に結
合することを促進しこれによりGaAs膜を形成するのに必
要なAs 対Ga モル比を減少する。
【0015】本発明を以下の実施例により更に詳しく説
明する。
明する。
【0016】
例1 MOCVDプロセス テトラエチルビアルシンをバブラー内に装入し次いで水
素ガス源および成長室と適当に接続させる。該室にま
た、別個のバブラー内に含まれるトリメチルガリウムを
供給する。ビアルシンバブラーを、適当な加熱もしくは
冷却装置を用いて50℃に保持する。成長室を、加熱もし
くは冷却装置を用いて−5℃に保持する。成長室を 650
℃に保持し、次いでガリウムヒ素基板を成長室内に支持
する。担体水素を毎分(標準温度および標準圧力下)約
5〜10lで配送される。成長室内の水素分圧は、大気圧
であり更にテトラエチルビアルシンの分圧は約15トール
であり、トリメチルガリウムの分圧は約45トールであ
る。種々の厚さのガリウムアルセニドの成長が基板上に
見出されている。 例2 ドーパントとしてのポリアルシン ヒ素をドーパントした水銀カドミウムテルル化物を、ジ
イソプロピルテルル化物、ジメチルカドミウムおよび水
銀元素を用いて大気圧反応器内で成長させる。約50℃で
バブラー内に保持されたペンタエチルペンタアルシンを
ドーパント源として用いる。使用基板は半絶縁体のガリ
ウムヒ化物であり、更に成長温度は約 350℃である。キ
ャリヤーガスとして水素を用いる。
素ガス源および成長室と適当に接続させる。該室にま
た、別個のバブラー内に含まれるトリメチルガリウムを
供給する。ビアルシンバブラーを、適当な加熱もしくは
冷却装置を用いて50℃に保持する。成長室を、加熱もし
くは冷却装置を用いて−5℃に保持する。成長室を 650
℃に保持し、次いでガリウムヒ素基板を成長室内に支持
する。担体水素を毎分(標準温度および標準圧力下)約
5〜10lで配送される。成長室内の水素分圧は、大気圧
であり更にテトラエチルビアルシンの分圧は約15トール
であり、トリメチルガリウムの分圧は約45トールであ
る。種々の厚さのガリウムアルセニドの成長が基板上に
見出されている。 例2 ドーパントとしてのポリアルシン ヒ素をドーパントした水銀カドミウムテルル化物を、ジ
イソプロピルテルル化物、ジメチルカドミウムおよび水
銀元素を用いて大気圧反応器内で成長させる。約50℃で
バブラー内に保持されたペンタエチルペンタアルシンを
ドーパント源として用いる。使用基板は半絶縁体のガリ
ウムヒ化物であり、更に成長温度は約 350℃である。キ
ャリヤーガスとして水素を用いる。
【0017】以上、本発明について幾つかの好ましい態
様によって説明したが、当業者に自明の変更は、本発明
の範囲から逸脱することなくなすことが可能である。
様によって説明したが、当業者に自明の変更は、本発明
の範囲から逸脱することなくなすことが可能である。
Claims (3)
- 【請求項1】 蒸気質の有機ヒ素化合物を加熱基板上に
熱的に成長させることによりヒ素含有膜を製造する気相
成長方法もしくは基板にヒ素原子を導入するために有機
ヒ素化合物を用いる化学的ドーピング方法であって、該
有機ヒ素化合物としてジアルシンもしくはAs −As 結
合を有するポリアルシンを用いることを含んでなる前記
方法。 - 【請求項2】 該有機ヒ素化合物が、次のI式〜III
式: 【化1】 から選ばれる一つの式を有する請求項1の方法。 - 【請求項3】 該有機ヒ素化合物が、(CH3)2AsAs(C
H3)2,(C2H5)2AsAs(C2H5)2,(CH3A5)5,(C2H5As)5 およ
び (n-C3H7As)5から成る群から選ばれる、請求項1の方
法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US484720 | 1990-02-22 | ||
US07/484,720 US4999223A (en) | 1990-02-22 | 1990-02-22 | Chemical vapor deposition and chemicals with diarsines and polyarsines |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04215421A JPH04215421A (ja) | 1992-08-06 |
JPH0666280B2 true JPH0666280B2 (ja) | 1994-08-24 |
Family
ID=23925324
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3028891A Expired - Lifetime JPH0666280B2 (ja) | 1990-02-22 | 1991-02-22 | 化学的気相成長法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4999223A (ja) |
EP (1) | EP0443815B1 (ja) |
JP (1) | JPH0666280B2 (ja) |
KR (1) | KR910021497A (ja) |
CA (1) | CA2034624A1 (ja) |
DE (1) | DE69103440D1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1992009719A1 (en) * | 1990-11-23 | 1992-06-11 | The Commonwealth Industrial Gases Limited | Method for the deposition of group 15 and/or group 16 elements |
US5244829A (en) * | 1992-07-09 | 1993-09-14 | Texas Instruments Incorporated | Organometallic vapor-phase epitaxy process using (CH3)3 As and CCl4 for improving stability of carbon-doped GaAs |
GB2323708B (en) * | 1994-09-05 | 1999-03-03 | Mitsubishi Electric Corp | Method of fabricating a semiconductor layer,method of fabricating a semiconductor laser,and a semiconductor laser |
DE102014014036A1 (de) * | 2014-09-26 | 2016-03-31 | Philipps-Universität Marburg | Verwendung wenigstens einer binären Gruppe 15-Elementverbindung, eine 13/15-Halbleiterschicht und binäre Gruppe 15-Elementverbindungen |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5129880B2 (ja) * | 1973-03-15 | 1976-08-27 | ||
DE3379059D1 (en) * | 1982-10-19 | 1989-03-02 | Secr Defence Brit | Organometallic chemical vapour deposition of films |
US4611071A (en) * | 1985-02-13 | 1986-09-09 | Ethyl Corporation | Metal alkyl process |
US4721683A (en) * | 1987-05-21 | 1988-01-26 | American Cyanamid Company | Use of alkylphosphines and alkylarsines in ion implantation |
JP2561482B2 (ja) * | 1987-08-27 | 1996-12-11 | 住友化学工業株式会社 | トリアルキル砒素化合物の製造方法 |
US4857655A (en) * | 1988-01-20 | 1989-08-15 | American Cyanamid Company | Process for making alkyl arsine compounds |
US4904616A (en) * | 1988-07-25 | 1990-02-27 | Air Products And Chemicals, Inc. | Method of depositing arsine, antimony and phosphine substitutes |
US4900855A (en) * | 1988-12-14 | 1990-02-13 | Cvd Incorporated | Chemical process for obtaining high purification of monoalkylarsines and dialkylarsines and purified mono- and dialkylarsines |
-
1990
- 1990-02-22 US US07/484,720 patent/US4999223A/en not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-01-21 CA CA002034624A patent/CA2034624A1/en not_active Abandoned
- 1991-02-19 EP EP91301311A patent/EP0443815B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-02-19 DE DE69103440T patent/DE69103440D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1991-02-21 KR KR1019910002758A patent/KR910021497A/ko not_active IP Right Cessation
- 1991-02-22 JP JP3028891A patent/JPH0666280B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04215421A (ja) | 1992-08-06 |
DE69103440D1 (de) | 1994-09-22 |
EP0443815A1 (en) | 1991-08-28 |
EP0443815B1 (en) | 1994-08-17 |
CA2034624A1 (en) | 1991-08-23 |
US4999223A (en) | 1991-03-12 |
KR910021497A (ko) | 1991-12-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4792467A (en) | Method for vapor phase deposition of gallium nitride film | |
EP0778838B1 (en) | Formation of a metalorganic compound for growing epitaxial metal or semiconductor layers | |
JPH0280572A (ja) | アルシン、アンチモン及びホスフィン置換体 | |
US6207844B1 (en) | Compounds and methods for depositing pure thin films of gallium nitride semiconductor | |
US5300185A (en) | Method of manufacturing III-V group compound semiconductor | |
US4740606A (en) | Gallium hydride/trialkylamine adducts, and their use in deposition of III-V compound films | |
US5036022A (en) | Metal organic vapor phase epitaxial growth of group III-V semiconductor materials | |
US4935381A (en) | Process for growing GaAs epitaxial layers | |
US5675028A (en) | Bisamido azides of gallium, aluminum and indium and their use as precursors for the growth of nitride films | |
JPH0666280B2 (ja) | 化学的気相成長法 | |
Maury et al. | MOVPE of GaAs from the new adducts [CIR2Ga· AsEt2] 2CH2 (R= Me, Et) and (C6F5) 3− n MenGa· AsEt3 (n= 0, 2) | |
US5098857A (en) | Method of making semi-insulating gallium arsenide by oxygen doping in metal-organic vapor phase epitaxy | |
JP2867145B2 (ja) | 環状有機金属化合物 | |
US5120676A (en) | Use of phosphine and arsine compounds in chemical vapor deposition and chemical doping | |
US6071109A (en) | Method of making AlInSb by metal-organic chemical vapor deposition | |
JPS60169563A (ja) | テルル化金属の製造方法及び装置 | |
Hostalhe et al. | New group III precursors for the MOVPE of GaAs and InP based material | |
CA1322935C (en) | Branched monoalkyl group v a compounds as mocvd element sources | |
KR900006121B1 (ko) | 도우펀트 운반 화합물로서 테트라메틸주석을 사용하는 반도체 재료층의 에피택셜 증착방법 | |
Weyers | New starting materials for MOMBE | |
EP0141561B1 (en) | A process for producing devices having semi-insulating indium phosphide based compositions | |
EP0349781A2 (en) | Metal organic vapor phase epitaxial growth of group III-V compounds | |
EP1202995B1 (en) | Group(iii)-metal-hydrides with a guanidino-type ligand | |
Kouvetakis et al. | New Pathways to Heteroepitaxial GaN by Inorganic CVD Synthesis and Characterization of Related Ga− C− N Novel Systems | |
JPH07130667A (ja) | 有機金属気相エピタキシャル成長方法 |