JPH0658391B2 - 静放電テスト装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ．産業上の利用分野 本発明は、一般に電子機械、とりわけプログラム記憶式
ディジタル・コンピュータの静電テストに関し、より詳
しくは、テスト結果で指定された信頼度を保証するのに
適当な継続時間及びタイミングの静放電テスト・パター
ンをランダムに生成する装置及び方法を対象とする。

Ｂ．従来技術及びその課題 現在の電子回路設計に用いられるデバイスの特性のた
め、複雑な電気システムは、適切に接地されていない人
が機械と物理的に接触する場合に起こるような、静放電
の発生の影響を受けやすい。その結果生じ得る静放電
は、ディジタル・コンピュータなどの機械に誤りや障害
を導入する可能性がある。このような機械が静電効果に
過敏にならないようにするために、出荷前に、機械をテ
ストする。こうしたテストでは、通常の静放電装置を使
って、機械に可能な限り応力をかける。これらの装置
は、典型的には、電圧、放電速度、テスト持続時間に関
して制御可能であるが、それでもまったく確定的な方式
で動作するように制約されている。

確定的静電テストに関連する主要な問題は、被験機械が
複数の個別診断ステップを含む内部記憶式テスト・プロ
グラムを実行することから生じるものである。理想的な
場合には、誘起されたハードウェア誤りが正しく処理で
きるように、それらの各ステップの実行中に機械を「ザ
ップ（プログラム消去）」することが望ましい。この目
的で、診断プログラムの各ステップは、特定のハードウ
ェア誤りの存在を示す誤りトラップ機構を含んでいる。
ただし、当分野における静放電はそれ自体ランダムな事
象なので、放電テスト装置と機械自体が互いに同期する
ように設定されていない。さらに、テスト・プログラム
の長さが異なり、それに含まれるプログラム・ステップ
の数と種類も様々なため、同期化の試みは困難である。
現在、静放電装置は、通常、診断テスト・ルーチンとあ
いまって、動作中のデータ処理装置に雑音を導入するの
に用いられている。これらのテスト中、最小時間で最大
の診断カバー範囲を保証することが重要である。本明細
書では、最大のカバー範囲とは、放電が各診断ステップ
中に発生することを意味する。ただし、上記の状況のた
め、充分に定式化されたテスト終了判定基準が実現され
ていない場合には、コンピュータ時間の上でも人的資源
の上でも多くの時間が浪費されることがあり得る。事
実、本明細書で提案するように、テストにランダム性を
導入しなければ、テスト・プログラムの全体的カバー範
囲を保証することさえ不可能となりかねない。

本明細書で考慮するテスト状況をさらに明確にするた
め、元来反復的である診断テスト・プログラムが１個の
被験データ処理装置で走行していると仮定することがで
きる。このテスト・プログラムは、具体的には、システ
ム誤りトラップ機構を使用する。テスト・プログラムの
何回もの反復を含む走行時間の全長を、本明細書では、
「実験」と呼ぶ。静放電装置（ＥＳＤ）は、命令列を実
行中のシステム中へ非同期的に静放電を発生させる。こ
の命令列の各サイクルが最小時間で少なくとも１回、静
放電と同時に実行されることを、ある信頼度で保証する
のが、テストの目的である。

このようなテストを必要とする理由は多数ある。これら
の機械の置かれている環境は、いくつかの雑音源に曝さ
れているので、出荷前にコンピュータ装置を雑音の影響
を受けやすいかどうかテストする必要が大きい。特に、
大規模コンピュータ導入システムは、しばしば多数のコ
ンピュータと関連する入出力装置を含んでいる。大型シ
ステムの高い可用性に大きな影響を与える顧客側導入シ
ステムに、多数の非理想的環境状況が存在する。これら
の状況の一つは、１台または複数のコンピュータだけで
なく、他の装置への共通バスとしても働く、顧客側電源
バスである。これらのバスは、雑音を発生し、それがコ
ンピュータ・システムに入ることがある。さらに、しば
しば整然とした長い列になっている、何マイルもの床下
配線は、望ましくない漏話雑音をコンピュータ回路に運
んで行く。電話線及び遠隔データ処理装置ケーブルも、
コンピュータ・システムに雑音を入れる。無停電電源を
確保するために顧客がしばしば利用する装置、ならびに
動作環境で使用されるその他のモータ、発電機、ディー
ゼル機関も、高周波の雑音スペクトルを発生する。一般
に、雑音は、輻射または伝導によって、コンピュータ・
システム中に入る可能性がある。システム動作それ自体
が、発電システムと、それらが結合される送電線または
引込み線に影響を与える可能性のある雑音を発生する。
確かに、システムの接地自体が、実際にコンピュータの
性能に影響を与えることがあり得る。したがって、雑音
に対する感受性は、コンピュータ装置の信頼性、可用
性、保守容易性における重大な要因であることがわか
る。それ故、適切な静電テストが望ましいことは非常に
重要である。さらに、これらのテストを、テストの徹底
性を犠牲にせずに、最小時間で実施できることが望まし
い。しかし、これは、システムの複雑性が増し、かつテ
スト中に用いられる診断テスト・プログラムが長いため
に、ますます困難になってきている。

Ｃ．課題を解決するための手段 本発明の好ましい実施例によれば、内部記憶式プログラ
ムを反復して実行する電子機械の静放電を行なう装置
は、放電テストを制御するテスト制御装置、及び制御装
置による制御に応答する静放電手段を含む。放電手段
は、被験機械に静放電を供給する働きをする。具体的に
言うと、テスト制御装置は、静放電と次の静放電との間
の時間間隔をランダムとなるように制御する、ランダム
放電開始時機制御手段を含んでいる。さらにテスト制御
装置は、静放電テストの継続時間を制御するテスト継続
時間制御手段を含んでいる。さらに詳しく述べると、本
発明は、ユーザ（すなわち、静放電テスト技術者）が対
話式で、テストの継続時間、または診断ルーチンの各プ
ログラム・ステップ中に少なくとも１回の静放電が起こ
る確率を指定できる、対話的環境を提供することが好ま
しい。ユーザはまた、「ヒット」するプログラム・ステ
ップの比率を指定できる。

本発明の好ましい実施例では、ユーザが所望の確率（信
頼度）を指定したとき、ユーザはまた、所望の信頼度に
到達する前に必要とされるテスト反復回数（テスト継続
時間）の指示を与えられる。さらに、ユーザがテスト継
続時間をたとえば秒単位で指定した場合、本発明の装置
が、指定したテスト継続時間中に成功する放電適用範囲
の確率を指示することが好ましい。その上、ユーザは、
放電テストでカバーすべきプログラム・ステップ数の比
率を指示することもできる。

本発明の好ましい実施例はまた、ランダムに隔置された
時間間隔で、かつ走行継続時間またはプログラム比率ま
たは信頼度あるいはそれらを組み合わせたユーザ指定の
定数によって対話式に決定される継続時間の間、機械を
静電的に励起することにより、複数のプログラム・ステ
ップを有する内部記憶式ルーチンを反復実行する、機械
の静放電テストを行なう方法も包含している。

したがって、本発明の目的は、ディジタル・コンピュー
タ・システムに静電応力を加えることに関連するテスト
継続時間を削減することにある。

本発明の目的には、破壊的静電テスト放電の同時または
ほぼ同時の発生に関する、個々のプログラム・ステップ
をカバーする範囲を増大させることも含まれる。

本発明の目的には、ユーザまたは検査員がテスト継続時
間を対話的に指定できるようにすることも含まれる。

本発明の目的には、ユーザまたは検査員が選択したテス
ト継続時間に関連する信頼度または確率を確認できるよ
うにすることも含まれる。

本発明の目的には、破壊的静放電の励起に関する、ディ
ジタル・コンピュータ・システムのテストを改善するこ
とも含まれる。

本発明の目的には、静放電がＮ個のテスト・ルーチン・
ステップのそれぞれで発生する指定された確率から、テ
スト継続時間を決定できるようにすることも含まれる。

本発明の目的には、ユーザがあるテスト継続時間を指定
する場合に、そのテストに適した信頼度を決定できるよ
うにすることも含まれる。

本発明の目的には、ヒットすべきプログラム・ステップ
の比率を指定して、初期設定ステップの大きなブロック
を含む診断プログラムに関する状況で特に有用な機能を
もたらす手段をユーザに提供することも含まれる。

最後に、それだけに限定されるものではないが、本発明
の目的には、確定的静放電テスト方法に伴う諸問題を避
けることも含まれる。

本発明は、その構成と実施の方法に関して、添付の図面
に関連して行なう下記の説明を参照すれば、その他の目
的及び利点と共に、良く理解できるはずである。

Ｄ．実施例 第１図は、本発明の好ましい実施例の構成図である。具
体的には、テスト制御装置１０が、電圧応力パルスを被
験機械４０に供給する静放電装置３０を制御する働きを
することがわかる。典型的には、放電装置３０と機械４
０の間の接続を行なうには、放電装置３０からの導線リ
ードを機械４０のすぐ近くに配置する必要がある。実際
の物理的接触は、本発明の実施にとって重要ではない。

ただし、本発明にとって最も重要なことであるが、放電
装置３０は、テスト継続時間制御装置１２及びランダム
放電開始時機制御装置１４を含むテスト制御装置１０に
よって制御される。テスト制御装置１０のこれら２つの
下位構成要素の動作を記載した流れ図を、第２Ａ図、第
２Ｂ図、第２Ｃ図に示す。本発明の１つの実施例では、
テスト制御装置１０は、ＩＢＭ ＰＣ／ＡＴ^TMパーソナ
ル・コンピュータを含んでいる。この実施例はまた、イ
ンタフェース・カード１６（ヒューレット・パッカード
ＨＰＩＢインタフェース・カード）を使用し、カード１
６はＨＰＩＢ ＩＥＥＥ ４８８バス ケーブルで放電
装置３０に接続されている。この実施例の静放電装置
は、ヒューレット・パッカード６８２４Ａ電源装置／増
幅装置と組み合わせて使用される、ヒューレット・パッ
カード８１１２Ａパルス発生装置を含んでいる。さら
に、「ＭＳ−ＤＯＳ用ＨＰＩＢコマンド・ライブラリ
（８２９９０Ａ）」もＰＣ／ＡＴ^TMコンピュータ中で使
用されている。

テスト制御装置１０とのユーザ・コミュニケーション
は、表示装置２０及び鍵盤機構２５を介して確立され
る。具体的には、第２Ａ図の流れ図に示すように、テス
ト継続時間制御装置１２は、ユーザに、３つの定数、す
なわち、サイクル・タイム（ＣＴ）、機械４０で実行す
る反復テスト・プログラム４２の長さ（ＰＧＭ）、カバ
ーすべきプログラムの所望の比率（Ａ）を指定するよう
要求する。これらのパラメータのうち２個は、数秒の単
位で指定できる。第３のパラメータは、０．０ないし
１．０の１０進数として指定することが好ましく、カバ
ーすべきプログラム・ステップの比率を示す。パラメー
タＣＴ及びＰＧＭを使って、診断プログラム４２におけ
るステップ数Ｎを決める。したがって、サイクル・タイ
ムＣＴはプログラム４２における個々のステップまたは
副手順の実行時間を表すことがわかる。本発明の目的
は、装置３０からの放電がＮ個のプログラム・ステップ
のうちＭ個の実行中に機械４０に供給されることを、指
定した信頼度で保証することである。これは、ランダム
な、非同期的方式で実施される。それでも、継続時間と
放電開始時間に関するランダム性は制御される。

Ｍ＝Ｎの場合（例えば、Ａ＝１．０のとき）、各プログ
ラム・ステップが指定される。ただし、Ａ＝１．０の場
合、Ｎステップ全部より少ないステップが目標とされ
る。Ａとして１．０未満の値を選ぶのは、プログラム４
２が長い初期設定ルーチンとなっているステップを含
み、ハードウェア・テストがあまり重要でなく不要なこ
とすらある場合に、特に有用である。

操作に際して、ユーザは、テスト継続時間制御装置１２
から発生される照会に応答して、サイクル・タイム、比
率、テスト・プログラムの長さという情報を供給する。
テスト継続時間制御装置１２は、さらにまた、ユーザが
特定の走行時間に制限された実験を指定したいのか、そ
れともプログラム４２における各ステップ中に放電を発
生するある確率の達成を指定したいのかを照会する。ユ
ーザが実験の走行時間を制限することを指定した場合、
所望の完全な放電のカバー範囲を達成する確率Ｐがユー
ザに示されることが、本発明の好ましい実施例の特徴で
ある。ただし、ユーザが指定する走行時間（ＲＴ）で制
限される実験では、Ｐの値を決定することは、本発明の
適正な動作にとって望ましいことではあるが、不可欠で
はない。

しかし、ユーザがＮ個のプログラム・ステップ（または
カバーすべきＭ個のプログラム・ステップ）ごとに完全
な放電のカバー範囲を達成するある確率を指定すること
も可能である。この場合、指定された確率Ｐを達成する
ために生成すべきランダムな放電の数を決めることが必
要である。確率Ｐと、指定された成功度を達成するのに
必要な放電反復数ｄの間の関係は、 として指定されることが、本出願人によって示されてい
る。また、ユーザが１に等しくない比率Ａを指定する場
合には、確率Ｐは、 とされる。ただし、ＭはＡ×Ｎより大きな最小の整数と
して計算される。表記上、Ｍは、第２Ａ図に見られるよ
うに、［Ａ×Ｎ］_＋と書かれる。

ユーザが実験の走行時間を指定するとｄの値がただちに
計算できる（第２Ｂ図及びステップ１０５からの任意選
択「Ａ」に関する次の部分参照）ことに留意されたい。
さらに、この場合、ｄ及びＮの値が与えられると、Ｐの
値は上記の式（１）または（２）に従ってただちに計算
できる。ただし、ユーザが完全な放電のカバー範囲を達
成する確率を指定する場合には、上記の式（１）または
（２）を解いて、ｄを指定された確率Ｐの関数として求
めなければならない。数値解析の点からは、これは、異
なるいくつかの手段で解けるものの、ずっと難しい問題
である。たとえば、ｄの値は整数なので、有限数の確率
を調べるだけでよい。さらに、Ｎ及びｄの値に基づい
て、予め計算し、その結果得られる確率Ｐを示すテーブ
ル項目を含むテーブルを作成することができる。さら
に、ｄを求めて解く反復手法は、容易に適用でき利用で
きる。これらの手法はすべて利用可能であるが、本出願
人等はさらに、ｄに対する近似的な閉じた形の値を、公
式、 または、Ａ＜１．０の場合 に従って計算できることを認めた。上記の式（３）及び
（４）で、指定されている対数はどんな数を底とするも
のでもよいが、計算を容易にするため、ｅを底とする対
数である自然対数を使用することが好ましい。ｄに対す
るより簡単な（やはり自然対数を用いる）式は、（Ｎ−
１）ｌｏｇ［Ｎ／（１−Ｐ）］、または、Ａ＝１．０の
場合には（Ｎ−１）ｌｏｇ［Ｍ／（１−Ｐ）］で与えら
れる。さらに簡単であるが少し近似的なｄの値は、上記
の条件の下で、Ｎｌｏｇ［Ｎ／（１−Ｐ）］またはＮｌ
ｏｇ［Ｍ／（１−Ｐ）］で与えられる。これらの式のど
れかを（適当な状況で）使って、テスト継続時間を制御
するｄの値を、Ｎ、Ｍ、ユーザ指定の確率Ｐの関数とし
て求めることができる。

次に、第２Ａ図ないし第２Ｃ図に示す流れ図に注目す
る。上記のように、テスト継続時間制御装置１２は、ス
テップ１００でユーザからの入力情報を要求する。具体
的には、第２Ａ図で、ユーザが、サイクル・タイム、Ｃ
Ｔ、テスト・プログラムの長さ（ＰＧＭ）と比率（Ａ）
のデータを供給するように操作指示（プロンプト）が出
る。次に、制御装置１２は、ステップ１０１で、ＰＧＭ
をＣＴで割り、次の整数値に切り上げることにより、Ｎ
の値を計算する。特に、（以下で考察する）ステップ１
０１及び１１１で、下付きの“＋”符号を有する角括弧
は、「よりも大きな最小の整数」を表す。Ｍの値も、ス
テップ１０１で、［Ａ×Ｎ］として計算される。ただ
し、Ａはユーザが指定した比率である。次に、ステップ
１０２で、制御装置１２が最小放電開始時間（Ｌ）を指
定する。このパラメータは、静放電装置自体の仕様に依
存し、特定のハードウェアに関係し、したがって事前設
定されている。ただし、テスト条件の下では、Ｌは、本
出願人等の行なったテストでは、約８ミリ秒に設定し
た。典型的には、Ｌは、作動時間や釈放時間など放電開
始リレーの特性に最も強く依存している。さらに、リレ
ー動作で見られる固有のランダム性が、実際に、放電開
始時間における全体的ランダム性にプラスの寄与をす
る。このリレー特性は本発明の動作にとって重要ではな
く、リレー動作が著しく遅延しない限り、十二分に許容
可能である。

次に、制御装置１２は、ステップ１０３で、放電開始突
義の放電開始の間隔の平均時間（ＡＦＴ）をＬ＋ＭＩＮ
（ＰＧＭ、Ｌ）／２として計算する。次いで、ステップ
１０４で、制御装置１２は、ユーザに、テスト継続時間
を制御するための定数として、実験での走行時間を指定
したいのか、それともテストカバー範囲の確率を指定し
たいのかを照会する。ステップ１０５で、制御装置１２
は、ユーザの応答を解析する。ユーザーの応答は、表示
装置２０及び鍵盤機構２５を使って供給することが好ま
しい。

ユーザが継続時間制御のため走行時間を指定する場合
（選択「Ａ」）、ステップ１１０で、制御装置１２は走
行時間値（ＲＴ）を要求する（比率変数Ａを選択「Ａ」
と混同しないように注意されたい。両者は概念が異な
る）。次に、ステップ１１１で、反復数で表した継続時
間ｄの値を、ＲＴとＡＦＴの比よりも大きい最小整数と
して計算する。次いで、Ｎ、Ｍ、ｄの値を計算できたあ
と、制御装置１２は、上記の式（１）または（２）で指
定されるように、ステップ１１２で確率Ｐを計算するこ
とが好ましい。次いで、ステップ１３０で、制御装置１
２は、ＲＴ及びＰの値をユーザに表示し、さらに、これ
らの値が満足すべきものかどうかについて照会すること
が好ましい。具体的には、ここで、実験の走行時間がユ
ーザにとって不満足な確率Ｐをもたらす場合、ステップ
１３１で、不満足な結果を指示する機会がユーザに与え
られる。その場合は、制御をステップ１０４に戻して、
サイクルを必要に応じて繰り返す。ステップ１１２で、
Ｎ、Ｍ、ｄの値が与えられれば、解いてＰを求めるのに
特別な考慮を払わなくてよいことに留意されたい。

ステップ１０４で、ユーザが、継続時間を確率パラメー
タで制御することを指定した場合は、ステップ１２０
（第２Ｂ図）で、ユーザは、放電カバー範囲の所望した
確率を指定するよう要求される。ユーザの指定した信頼
度または確率Ｐに基づいて、制御装置１２は、ステップ
１２１で、そこに指定されている式に従ってｄの適切な
値を計算する。上記のように、ｄの値は、反復数値計
算、テーブル、または上記のいくつかの近似式の１つか
ら求めることができる。求めたｄの値に基づいて、ステ
ップ１２２で、ＲＴをｄとＡＦＴの積として計算して、
走行時間のが実行される。上記と同様に、ステップ１３
０で、ＲＴとＰの値を、その値が満足すべきものかどう
かについての照会と共に、ユーザに表示することが好ま
しい。具体的には、ユーザにとって、指定したテストの
カバー範囲の確率が、長過ぎて実現不可能なテスト継続
時間をもたらす恐れがあると思われることがあり、ある
いは逆に、ユーザに、走行時間が比較的短くて、妥当な
時間で実行できるテストに対してより高い信頼度が指定
できるという指示が与えられることもある。

したがって、テスト継続時間制御装置１２が、ユーザの
入力パラメータ、Ａ、ＣＴ、ＰＧＭ及び終了手順の選択
に応じて、テスト継続時間の尺度であるｄの値を決定す
ることがわかる。継続時間制御装置１２の主要機能は、
ｄの値を決定することである。ユーザが確率Ｐを指定し
た場合、制御装置１２がｄの適当な値を決定することが
必要であり、その場合、制御装置はユーザに指定された
走行時間ＲＴを戻す。実験走行時間をユーザが指定する
という逆の状況では、制御装置１２は（ステップ１１１
で）ただちにｄの値を計算し、基本的に便宜上のことで
あるが、ユーザにＰの値を供給する。

ステップ１３１で、ユーザが、走行時間または信頼度あ
るいはその両方が満足なものと指定すると、ランダム放
電開始時機制御装置１４に制御が渡される。この機能
は、第３図の流れ図に示すように実施できる。具体的に
は、発生する放電回数を制御するため、ステップ１４０
で、カウンタを値１に初期設定する。次に、ステップ１
４１で、０とＰＧＭ及びＬの低い方の値との間の乱数を
発生させる。この乱数Ｒは、この両限界の間の一様な分
布から選択することが好ましい。この乱数Ｒは、多数の
通常の乱数発生用コンピュータ・ルーチンのうちどれに
よって発生させてもよい。次に、ステップ１４２で、放
電開始時機制御装置１４は、放電開始を起こさせる信号
が静放電装置３０に送られるまで、Ｌ＋Ｒ秒の間待つ。
放電開始信号は、たとえば、上記により詳しく説明し
た、インタフェース・カード１６によって供給できる。
次に、時機制御装置１４が、ステップ１４０で初期設定
されたカウンタＩがｄに等しいかどうかを判定する。そ
うである場合には、（ステップ１４５で）ユーザは、実
験が完了したとの通知を受ける。カウンタＩと継続時間
ｄが等しくない（ステップ１４３）場合には、（ステッ
プ１４４で）カウンタが１だけ増分され、その後、やは
り０とｍｉｎ（ＰＧＭ、Ｌ）の間の乱数Ｒを発生させる
ステップ１４１に制御が戻される。

したがって、静放電装置３０がランダムに動作するにも
かかわらず、プログラム４２におけるプログラム・ステ
ップのより完全なカバー範囲が達成されることがわか
る。具体的には、下記の第１表に、旧式の確定的ザッパ
の使用と、ランダムな放電機能性を利用した本発明のザ
ッパの比較を示す。

これによると、本発明のザッパを使用している大型コン
ピュータ・システムをテストした結果が、確率的ザッパ
と比較して、全領域で顕著な改善をもたらしていること
が見て取れる。

Ｅ．発明の効果 上記の説明から、本発明が、特に複雑なディジタル・コ
ンピュータ装置の静電応力テストに関して、従来使用さ
れて来た雑音注入装置すなわちザッパにまさる著しい利
点を提供することが認められるはずである。具体的に言
うと、本発明が、ユーザに、テスト継続時間及び指定可
能な信頼度の点でより大きなフレキシビリティを提供す
ることがわかる。さらに、本発明は特にディジタル・コ
ンピュータ装置のテストに適用可能であるものの、本発
明の放電テスタは、その他の電子機械装置にも適用可能
であることがわかる。さらに、本発明は、ユーザと対話
型であるという利点を有し、他の市販の放電装置では供
給されない情報をユーザに提供することがわかる。さら
に、本出願人等により開発された、ランダムなザップ機
能を具現する手法が、理論上も実際上も、確定的ザップ
装置及び方法よりすぐれていることがわかる。

本明細書では、本発明をそのいくつかの好ましい実施例
に関して詳しく説明したが、当業者はその内容に多くの
修正や変更を加えることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の好ましい実施例を示す、概略ブロッ
ク図である。 第２Ａ図及び第２Ｂ図は、テスト継続時間制御の好まし
い方法を示す流れ図である。 第３図は、本発明の好ましい実施例によるランダム放電
開始時機制御の好ましい方法を示す流れ図である。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】複数のプログラム・ステップを有する内部
   記憶式プログラムを反復して実行する機械の静放電テス
   トを行うための装置において、 上記静放電テストを制御するテスト制御手段と、 上記テスト制御手段に接続されユーザにより選択された
   パラメータを上記テスト制御手段に入力する事を可能な
   らしめる入力手段と、 上記テスト制御手段に接続され上記テスト制御手段から
   のメッセージを上記ユーザに与えるための表示手段と、 静放電を上記機械に供給するため上記テスト制御手段に
   よって制御される静放電手段と、 上記テスト制御手段中にあり、上記入力手段から入力さ
   れた静放電テスト継続時間に基づき上記プログラム・ス
   テップの間で静放電が起こる確率を求め、これを上記表
   示手段に与える計算手段と、 上記テスト制御手段中にあり、上記入力手段から入力さ
   れたテスト継続時間の間上記静放電テストを継続させる
   よう上記静放電手段を制御するテスト継続時間制御手段
   と、 上記テスト制御手段中にあり、上記テスト継続時間の間
   上記静放電をランダムな時間間隔で開始させるよう上記
   静放電手段を制御するランダム放電開始時期制御手段
   と、 を含む静放電テスト装置。
2. 【請求項２】複数のプログラム・ステップを有する内部
   記憶式プログラムを反復して実行する機械の静放電テス
   トを行うための装置において、 上記静放電テストを制御するテスト制御手段と、 上記テスト制御手段に接続されユーザにより選択された
   パラメータを上記テスト制御手段に入力する事を可能な
   らしめる入力手段と、 上記テスト制御手段に接続され上記テスト制御手段から
   のメッセージを上記ユーザに与えるための表示手段と、 静放電を上記機械に供給するため上記テスト制御手段に
   よって制御される静放電手段と、 上記テスト制御手段中にあり、上記入力手段から入力さ
   れた上記プログラム・ステップの間で静放電が起こる所
   望の確率に基づき静放電テスト継続時間にを求め、これ
   を上記表示手段に与える計算手段と、 上記テスト制御手段中にあり、上記求められたテスト継
   続時間の間上記静放電テストを継続させるよう上記静放
   電手段を制御するテスト継続時間制御手段と、 上記テスト制御手段中にあり、上記テスト継続時間の間
   上記静放電をランダムな時間間隔で開始させるよう上記
   静放電手段を制御するランダム放電開始時期制御手段
   と、 を含む静放電テスト装置。