JPH02187672A - 静放電テスト装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ、産業上の利用分野 本発明は、一般に電子機械、とりわけプログラム記憶式
ディジタル・コンピュータの静電テストに関し、より詳
しくは、テスト結果で指定された信頼度を保証するのに
適当な継続時間及びタイミングの静放電テスト・パター
ンをランダムに生成する装置及び方法を対象とする。

Ｂ、従来技術及びその課題 現在の電子回路設計に用いられるデバイスの特性のため
、複雑な電気システムは、適切に接地されていない人が
機械と物理的に接触する場合に起こるような、静放電の
発生の影響を受けやすい。

その結果生じ得る静放電は、ディジタル・コンピュータ
などの機械に誤りや障害を導入する可能性がある。この
ような機械が静電効果に過敏にならないようにするため
に、出荷前に、機械をテストする。こうしたテストでは
、通常の静放電装置を使って、機械に可能な限り応力を
かける。これらの装置は、典型的には、電圧、放電速度
、テスト持続時間に関して制御可能であるが、それでも
まったく確定的な方式で動作するように制約されている
。

確定的静電テストに関連する主要な問題は、被験機械が
複数の個別診断ステップを含む内部記憶式テスト・プロ
グラムを実行することから生じるものである。理想的な
場合には、誘起されたハードウェア誤りが正しく処理で
きるように、それらの各ステップの実行中に機械を「ザ
ップ（プログラム消去）」することが望ましい。この目
的で、診断プログラムの各ステップは、特定のハードウ
ェア誤りの存在を示す誤りトラップ機構を含んでいる。

ただし、当分野における静放電はそれ自体ランダムな事
象なので、放電テスト装置と機械自体が互いに同期する
ように設定されていない。さらに、テスト・プログラム
の長さが異なり、それに含まれるプログラム・ステップ
の数と種類も様々なため、同期化の試みは困難である。

現在、静放電装置は、通常、診断テスト・ルーチンとあ
いまって、動作中のデータ処理装置に雑音を導入するの
に用いられている。これらのテスト中、最小時間で最大
の診断カバー範囲を保証することが重要である。本明細
書では、最大適用範囲とは、放電が各放電ステップ中に
発生することを意味する。ただし、上記の状況のため、
充分に定式化されたテスト終了判定基準が実現されてい
ない場合には、コンピュータ時間の上でも人的資源の上
でも多くの時間が浪費されることがあり得る。事実、本
明細書で提案するように、テストにランダム性を導入し
なければ、テスト・プログラムの全適用範囲を保証する
ことさえ不可能となりかねない。

本明細書で考慮するテスト状況をさらに明確にするため
、元来反復的である診断テスト・プログラムが１個の被
験データ処理装置で走行していると仮定することができ
る。このテスト・プログラムは、具体的には、システム
誤りトラップ機構を使用する。テスト・プログラムの何
回もの反復を含む走行時間の全長を、本明細書では、「
実験」と呼ぶ。静放電装置（ＥＳＤ）は、非同期的に、
命令列を実行中のシステム中へ静放電を発生させる。こ
の命令列の各サイクルが最小時間で少なくとも１回、静
放電と同時に実行されることを、ある信頼度で保証する
のが、テストの目的である。

このようなテストを必要とする理由は多数ある。

これらの機械の置かれている環境は、いくつかの雑音源
に曝されているので、出荷前にコンピュータ装置を雑音
の影響を受けやすいかどうかテストする必要が大きい。

特に、大規模コンピュータ導入システムは、しばしば多
数のコンピュータと関連する入出力装置を含んでいる。

大型システムの高い可用性に大きな影響を与える顧客側
導入システムに、多数の非理想的環境状況が存在する。

これらの状況の一つは、１台または複数のコンピユー夕
だけでなく、他の装置への共通バスとしても働く、顧客
側電源バスである。これらのバスは、雑音を発生し、そ
れがコンピュータ・システムに入ることがある。さらに
、しばしば整然とした長い列になっている、何マイルも
の床下配線は、望ましくない漏話雑音をコンピュータ回
路に運んで行く。電話線及び遠隔データ処理装置ケーブ
ルも、コンピュータ・システムに雑音を入れる。無停電
電源を確保するために顧客がしばしば利用する装置、な
らびに動作環境で使用されるその他のモータ、発電機、
ディーゼル機関も、高周波の雑音スペクトルを発生する
。一般に、雑音は、輻射または伝導によって、コンピュ
ータ・システム中に入る可能性がある。システム動作そ
れ自体が、発電システムと、それらが結合される送電線
または引込み線に影響を与える可能性のある雑音を発生
する。確かに、システムの接地自体が、実際にコンピュ
ータの性能に影響を与えることがあり得る。

したがって、雑音に対する感受性は、コンピュータ装置
の信頼性、可用性、保守容易性における重大な要因であ
ることがわかる。それ故、適切な静電テストが望ましい
ことは非常に重要である。さらに、これらのテストを、
テストの徹底性を犠牲にせずに、最小時間で実施できる
ことが望ましい。

しかし、これは、システムの複雑性が増し、かつテスト
中に用いられる診断テスト・プログラムが長いために、
ますます困難になってきている。

Ｃ０課題を解決するための手段 本発明の好ましい実施例によれば、内部記憶式プログラ
ムを反復して実行する電子機械の静放電を行なう装置は
、放電テストを制御するテスト制御装置、及び制御装置
による制御に応答する静放電手段を含む。放電手段は、
被験機械に静放電を供給する働きをする。具体的に言う
と、テスト制御装置は、静放電の時間間隔をランダムと
なるように制御する、ランダム放電開始時機制御手段を
含んでいる。さらにテスト制御装置は、静放電テストの
継続時間を制御するテスト継続時間制御手段を含んでい
る。さらに詳しく述べると、本発明は、ユーザ（すなわ
ち、静放電テスト技術者）が対話式で、テストの継続時
間、または診断ルーチンの各プログラム・ステップ中に
少なくとも１回の静放電が起こる確率を指定できる、対
話的環境を提供することが好ましい。ユーザはまた、「
ヒツト」するプログラム・ステップの比率を指定できる
。

本発明の好ましい実施例では、ユーザが所望の確率（信
頼度）を指定したとき、ユーザはまた、所望の信頼度に
到達する前に必要とされるテスト反復回数（テスト継続
時間）の指示を与えられる。

さらに、ユーザがテスト継続時間をたとえば秒単位で指
定した場合、本発明の装置が、指定したテスト継続時間
中に成功する放電適用範囲の確率を指示することが好ま
しい。その上、ユーザは、放電テストでカバーすべきプ
ログラム・ステップ数の比率を指示することもできる。

本発明の好ましい実施例はまた、ランダムに隔置された
時間間隔で、かつ走行継続時間またはプログラム比率ま
たは信頼度あるいはそれらを組み合わせたユーザ指定の
定数によって対話式に決定される継続時間の間、機械を
静電的に励起することにより、複数のプログラム・ステ
ップを有する内部記憶式ルーチンを反復実行する、機械
の静放電テストを行なう方法も包含している。

したがって、本発明の目的は、ディジタル・コンピュー
タ・システムに静電応力を加えることに関連するテスト
継続時間を削減することにある。

本発明の目的には、破壊的静電テスト放電の同時または
ほぼ同時の発生に関する、個々のプログラム・ステップ
の適用範囲を増大させることも含まれる。

本発明の目的には、ユーザまたは検査員がテスト継続時
間を対話的に指定できるようにすることも含まれる。

本発明の目的には、ユーザまたは検査員が選択したテス
ト継続時間に関連する信頼度または確率を確認できるよ
うにすることも含まれる。

本発明の目的には、破壊的静放電の励起に関する、ディ
ジタル・コンピュータ・システムのテストを改善するこ
とも含まれる。

＝９ 本発明の目的には、静放電がＮ個のテスト・ルーチン・
ステップのそれぞれで発生する指定された確率から、テ
スト継続時間を決定できるようにすることも含まれる。

本発明の目的には、ユーザがあるテスト継続時間を指定
する場合に、そのテストに適した信頼度を決定できるよ
うにすることも含まれる。

本発明の目的には、ヒツトすべきプログラム・ステップ
の比率を指定して、初期設定ステップの大きなブロック
を含む診断プログラムに関する状況で特に有用な機能を
もたらす手段をユーザに提供することも含まれる。

最後に、それだけに限定されるものではないが、本発明
の目的には、確定的静放電テスト方法に伴う問題を避け
ることも含まれる。

本発明は、その構成と実施の方法に関して、添付の図面
に関連して行なう下記の説明を参照すれば、その他の目
的及び利点と共に、良く理解できるはずである。

Ｄ、実施例 第１図は、本発明の好ましい実施例の構成図である。具
体的には、テスト制御装置１０が、電圧応力パルスを被
験機械４０に供給する静放電装置３０を制御する働きを
することがわかる。典型的には、放電装置３０と機械４
０の間の接続を行なうには、放電装置３０からの導線リ
ードを機械４０のすぐ近（に配置する必要がある。実際
の物理的接触は、本発明の実施にとって重要ではない。

ただし、本発明にとって最も重要なことであるが、放電
装置３０は、テスト継続時間制御装置１２及びランダム
放電開始時機制御装置１４を含むテスト制御装置１０に
よって制御される。テスト制御装置１０のこれら２つの
下位構成要素の動作を記載した流れ図を、第２Ａ図、第
２Ｂ図、第２Ｃ図に示す。本発明の１つの実施例では、
テスト制御装置１０は、ＩＢＭ　　ＰＣ／ＡＴＴＭパー
ソナル・コンピュータを含んでいる。この実施例はまた
、インタフェース・カード１６（ヒユーレット・パッカ
ードＨＰＩＢインタフェース・カード）を使用し、カー
ド１６はＨＰＩＢ　　ＩＥＥＥ　　４８８バス　ケーブ
ルで放電装置３０に接続されている。この実施例の静放
電装置は、ヒユーレット・パラカード８８２４Ａ電源装
置／増幅装置と組み合わせて使用される、ヒユーレット
・パラカード８１１２Ａパルス発生装置を含んでいる。

さらに、ｒＭｓ−ＤＯ８用ＨＰＩＢコマンド・ライブラ
リ（８２９９０Ａ）ＪもＰＣ／ＡＴＴＭコンピュータ中
で使用されている。

テスト制御装置ｌＯとのユーザ・コミュニケーションは
、表示装置２０及び鍵盤機構２５を介して確立される。

具体的には、第２Ａ図の流れ図に示すように、テスト継
続時間制御装置１２は、ユーザに、３つの定数、すなわ
ち、サイクル・タイム（ＣＴ）　、機械゛４０で実行す
る反復テスト・プログラム４２の長さ（ＰＧＭ）、カバ
ーすべきプログラムの所望の比率（Ａ）を指定するよう
要求する。これらのパラメータのうち２個は、数秒の単
位で指定できる。第３のパラメータは、０．０ないし１
．０の１０進数として指定するこ七が好ましく、カバー
すべきプログラム・ステップの比率を示す。パラメータ
ＣＴ及びＰＧＭを使って、診断プログラム４２における
ステップ数Ｎを決める。

したがって、サイクル・タイムＣＴはプログラム４２に
おける個々のステップまたは副手順の実行時間を表すこ
とがわかる。本発明の目的は、装置３０からの放電がＮ
個のプログラム・ステップのうちＭ個の実行中に機械４
０に供給されることを、指定した信頼度で保証すること
である。これは、ランダムな、非同期的方式で実施され
る。それでも、継続時間と放電開始時間に関するランダ
ム性は制御される。

Ｍ＝Ｎの場合（例えば、Ａ＝１．０のとき）、各プログ
ラム・ステップが指定される。ただし、Ａ＝１．０の場
合、Ｎステップ全部より少ないステップが目標とされる
。Ａとして１．０未溝の値を選ぶのは、プログラム４２
が長い初期設定ルーチンとなっているステップを含み、
ハードウェア・テストがあまり重要でなく不要なことす
らある場合に、特に有用である。

操作に際して、ユーザは、テスト継続時間制御装置１２
から発生される照会に応答して、サイクル・タイム、比
率、テスト・プログラムの長さという情報を供給する。

テスト継続時間制御装置１２は、さらにまた、ユーザが
特定の走行時間に制限された実験を指定したいのか、そ
れともプログラム４２における各ステップ中に放電を発
生するある確率の達成を指定したいのかを照会する。ユ
ーザが実験の走行時間を制限することを指定した場合、
所望の完全な放電の適用範囲を達成する確率Ｐがユーザ
に示されることが、本発明の好ましい実施例の特徴であ
る。ただし、ユーザが指定する走行時間（ＲＴ）で制限
される実験では、Ｐの値を決定することは、本発明の適
正な動作にとって望ましいことではあるが、不可欠では
ない。

しかし、ユーザがＮ個のプログラム・ステップ（または
カバーすべきＭ個のプログラム・ステップ）ごとに完全
な放電の適用範囲を達成するある確率を指定することも
可能である。この場合、指定された確率Ｐを達成するた
めに生成すべきランダムな放電の数を決めることが必要
である。確率Ｐと、指定された成功度を達成するのに必
要な放電反復数ｄの間の関係は、 ｉ＝０ として指定されることが、本出願人によって示されてい
る。また、ユーザが１に等しくない比率Ａを指定する場
合には、確率Ｐは、 ｉ＝０ とされる。ただし、ＭはＡＸＮより大きな最小の整数と
して計算される。表記上、Ｍは、第２Ａ図に見られるよ
うに、［ＡＸＮ］＋と書かれる。

ユーザが実験の走行時間を指定するとｄの値がただちに
計算できる（第２Ｂ図及びステップ１０５からの任意選
択ｒＡＪに関する次の部分参照）ことに留意されたい。

さらに、この場合、ｄ及びＮの値が与えられると、Ｐの
値は上記の式（１）または（２）に従ってただちに計算
できる。ただし、ユーザが完全な放電の適用範囲を達成
する確率を指定する場合には、上記の式（１）または（
２）を解いて、ｄを指定された確率Ｐの関数として求め
なければならない。数値解析の点からは、これは、異な
るいくつかの手段で解けるものの、ずっと難しい問題で
ある。たとえば、ｄの値は整数なので、有限数の確率を
調べるだけでよい。さらに、Ｎ及びｄの値に基づいて、
予め計算し、その結果得られる確率Ｐを示すテーブル項
目を含むテーブルを作成することができる。さらに、ｄ
を求めて解く反復手法は、容易に適用でき利用できる。

これらの手法はすべて利用可能であるが、本出願人等は
さらに、ｄに対する近似的な閉じた形の値を、公式、 に従って計算できることを認めた。上記の式（３）及び
（４）で、指定されている対数はどんな数を底とするも
のでもよいが、計算を容易にするため、ｅを底とする対
数である自然対数を使用することが好ましい。ｄに対す
るより簡単な（やはり自然対数を用いる）式は、（Ｎ−
１）　ｌ　ｏｇ　［Ｎ／（１−Ｐ）コ、または、Ａ＝１
．０の場合には（Ｎ−１）ｌｏｇ　［Ｍ／　（１−Ｐ）
］で与えられる。さらに簡単であるが少し近似的なｄの
値は、上記の条件の下で、Ｎｌ　ｏｇ　［Ｎ／　（１−
Ｐ）コまたはＮｌｏｇ［Ｍ／（１−Ｐ）］で与えられる
。

これらの式のどれかを（適当な状況で）使って、テスト
継続時間を制御するｄの値を、Ｎ１Ｍ１ユーザ指定の確
率Ｐの関数として求めることができる。

次に、第２Ａ図ないし第２Ｃ図に示す流れ図に注目する
。上記のように、テスト継続時間制御装置１２は、ステ
ップ１００でユーザからの入力情報を要求する。具体的
には、第２Ａ図で、ユーザが、サイクル・タイム、ＣＴ
、テスト−プログラムの長さ（ＰＧＭ）と比率（Ａ）の
データを供給するように操作指示（プロンプト）が出る
。次に、制御装置１２は、ステップ１０１で、ＰＧＭを
ＣＴで割り、次の整数値に切り上げることにより、Ｎの
値をする。特に、（以下で考察する）ステップ１０１及
び１１１で、下付きの”＋１符号を有する角括弧は、「
よりも大きな最小の整数」を表す。Ｍの値も、ステップ
１０１で、［ＡＸＮコとして計算される。ただし、Ａは
ユーザが指定した比率である。次に、ステップ１０２で
、制御装置１２が最小放電開始時間（Ｌ）を指定する。

このパラメータは、静放電装置自体の仕様に依存し、特
定のハードウェアに関係し、したがって事前設定されて
いる。ただし、テスト条件の下では、Ｌは、本出願人等
の行なったテストでは、約８ミリ秒に設定した。典型的
には、Ｌは、取上げ時間や解除時間など放電開始リレー
の特性に最も強く依存している。さらに、リレー動作で
見られる固有のランダム、性が、実際に、放電開始時間
における全体的ランダム性にプラスの寄与をする。この
リレー特性は本発明の動作にとって重要ではなく、リレ
ー動作が著しく遅延しない限り、十二分に許容可能であ
る。

次に、制御装置１２は、ステップ１０３で、平均放電開
始間隔継続時間（Ａ　Ｆ　Ｔ）をＬ＋ＭＩＮ（ＰＧＭ、
Ｌ）／２として計算する。次いで、ステップ１０４で、
制御装置１２は、ユーザに、テスト継続時間を制御する
ための定数として、実験での走行時間を指定したいのか
、それともテスト適用範囲の確率を指定したいのかを照
会する。

ステップ１０５で、制御装置１２は、ユーザの応答を解
析する。ユーザーの応答は、表示装置２０及び鍵盤機構
２５を使って供給することが好ましい。

ユーザが継続時間制御のため走行時間を指定する場合（
選択ｒＡＪ　）　、ステップ１１０で、制御装置１２は
走行時間値（ＲＴ）を要求する（比率変数Ａを選択ｒＡ
Ｊと混同しないように注意されたい。両者は概念が異な
る）。次に、ステップ１１１で、反復数で表した継続時
間ｄの値を、ＲＴとＡＦＴの比よりも大きい最小整数と
して計算する。次いで、Ｎ、Ｍｌｄの値を計算できたあ
と、制御装置１２は、上記の式（１）または（２）で指
定されるように、ステップ１１２で確率Ｐを計算するこ
とが好ましい。次いで、ステップ１３０で、制御装置１
２は、ＲＴ及びＰの値をユーザに表示し、さらに、これ
らの値が満足すべきものかどうかについて照会すること
が好ましい。具体的には、ここで、実験の走行時間がユ
ーザにとって不満足な確率Ｐをもたらす場合、ステップ
１３１で、不満足な結果を指示する機会がユーザに与え
られる。その場合は、制御をステップ１０４に戻して、
サイクルを必要に応じて繰り返す。ステップ１１２で、
Ｎ１Ｍ１ｄの値が与えられれば、解いてＰを求めるのに
特別な考慮を払わなくてよいことに留意されたい。

ステップ１０４で、ユーザが、継続時間を確率パラメー
タで制御することを指定した場合は、ステップ１２０（
第２Ｂ図）で、ユーザは、放電適用範囲の所望した確率
を指定するよう要求される。

ユーザの指定した信頼度または確率Ｐに基づいて、制御
装置１２は、ステップ１２１で、そこに指定されている
式に従ってｄの適切な値を計算する。

上記のように、ｄの値は、反復数値計算、テーブル、ま
たは上記のいくつかの近似式の１′つから求めることが
できる。求めたｄの値に基づいて、ステップ１２２で、
ＲＴをｄとＡＦＴの積として計算して、走行時間のが実
行される。上記と同様に、ステップ１３０で、ＲＴとＰ
の値を、その値が満足すべきものかどうかについての照
会と共に、ユーザに表示することが好ましい。具体的に
は、ユーザにとって、指定したテスト・適用範囲の確率
が、長過ぎて実現不可能なテスト継続時間をもたらす恐
れがあると思われることがあり、あるいは逆に、ユーザ
に、走行時間が比較的短くて、妥当な時間で実行できる
テストに対してより高い信頼度が指定、できると゛いう
指示が与えられることもある。

パしたがっ゛て、−□テオト継続時間制御装置１２が、
ユーザの入カパラ゛メ“−夕・、′Ａ゛、ＣＴｌＰＧＭ
及び終了手順の選択に応じて、テスト継続時間の尺度で
あるｄの値を決定することがわかる。継続時間制御装置
１２の主要機能は、ｄの値を決定することである。ユー
ザが確率Ｐを指定した場合、制御装置１２がｄの適当な
値を決定することが必要であり、その場合、制御装置は
ユーザに指定された走行時間ＲＴを戻す。実験走行時間
をユーザが指定するという逆の状況では、制御装置１２
は（ステップ１１１で）ただちにｄの値を計算し、基本
的に便宜上のことであるが、ユーザにＰの値を供給する
。

ステップ１３１で、ユーザが、走行時間または信頼度あ
るいはその両方が満足なものと指定すると、ランダム放
電開始時機制御装置１４に制御が渡される。この機能は
、第会今悩の流れ図に示すように実施できる。具体的に
は、発生する放電開始数すなわち放電回数を制御するた
め、ステップ１４０で、カウンタを値１に初期設定する
。次に、ステップ１４１で、０とＰＧＭ及びＬの低い方
の値との間の乱数を発生させる。この乱数は、この両限
界の間の−様な分布から選択することが好ましい。この
乱数は、多数の通常の乱数発生用コンピュータ・ルーチ
ンのうちどれによって発生させてもよい。次に、ステッ
プ１４２で、放電開始時機制御装置１４は、放電開始を
起こさせる信号が静放電装置３０に送られるまで、Ｌ＋
Ｒ秒の間待つ。放電開始信号は、たとえば、上記により
詳しく説明した、インタフェース・カード１６によって
供給できる。次に、時機制御装置１４が、ステップ１４
０で初期設定されたカウンタエが１に等しいかどうかを
判定する。そうである場合には、（ステップ１４５で）
ユーザは、実験が完了したとの通知を受ける。カウンタ
■と継続時間ｄが等しくない（ステップ１４３）場合に
は、（ステップ１４４で）カウンタが１だけ増分され、
その後、やはりＯとｍ　ｉ　ｎ　（ＰＧＭＮ　Ｌ）の間
の乱数を発生させるステップ１４１に制御が戻される。

したがって、静放電装置３０がランダムに動作するにも
かかわらず、プログラム４２におけるプログラム・ステ
ップのより完全な適用範囲が達成されることがわかる。

具体的には、下記の第１表に、旧式の確定的ザッパの使
用と、ランダムな放電機能性を利用した本発明のザッパ
の比較を示す。

第　　１　　表 旧式ザッパ　新型ザッパ 行なわれた走行の合計数 見つかった誤りの数 見つかった独自誤りの数 １走行当りの平均時間 所与の走行での最大時間 所与の走行での最小時間 １走行当り見つかった 独自エラーの比率 ２．５分　０．８分 １０．５分　２．２分 ０．５分　０．０５分 ０．５　　　　１．３ これによると、本発明のザッパを使用している大型コン
ピュータ・システムをテストした結果が、確率的ザッパ
と比較して、全領域で顕著な改善をもたらしていること
が見て取れる。

Ｅ０発明の効果 上記の説明から、本発明が、特に複雑なディジタル・コ
ンピュータ装置の静電応力テストに関して、従来使用さ
れて来た雑音注入装置すなわちザッパにまさる著しい利
点を提供することが認められるはずである。具体的に言
うと、本発明が、ユーザに、テスト継続時間及び指定可
能な信頼度の点でより大きなフレキシビリティを提供す
ることがわかる。さらに、本発明は特にディジタル・コ
ンピュータ装置のテストに適用可能であるものの、本発
明の放電テスタは、その他の電子機械装置にも適用可能
であることがわかる。さらに、本発明は、ユーザと対話
型であるという利点を有し、他の市販の放電装置では供
給されない情報をユーザに提供することがわかる。さら
に、本出願人等により開発された、ランダムなザップ機
能を具現する手法が、理論上も実際上も、確定的ザップ
装置及び方法よりすぐれていることがわかる。

本明細書では、本発明をそのいくつかの好ましい実施例
に関して詳しく説明したが、当業者はその内容に多くの
修正や変更を加えることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の好ましい実施例を示す、概略ブロッ
ク図である。 第２Ａ図及び第２Ｂ図は、テスト継続時間制御の好まし
い方法を示す流れ図である。 第を仕口は、本発明の好ましい実施例によるランダム放
電開始時機制御の好ましい方法を示す流れ図である。 出願人　　インターナショナル・ビジネス・マシーンズ
・コーポレーション 代理人　　弁理士　　頓　　宮　　孝 （外１名） 第８図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）複数のプログラム・ステップを有する内部記憶式
   プログラムを反復して実行する機械の静放電テストを行
   なうための装置において、 上記静放電テストを制御するテスト制御手段、上記テス
   ト制御手段によって制御される、静放電を上記機械に供
   給する静放電手段と、 上記テスト制御手段中にあり、上記静放電の時間間隔を
   ランダムになるように制御する、ランダム放電開始時機
   制御手段と、 上記テスト制御手段中にあり、上記静放電テストの継続
   時間を制御する、テスト継続時間制御手段と、 を含む静放電テスト装置。
2. （２）複数のプログラム・ステップを有するプログラム
   を反復して実行する機械の静放電テストを行なうための
   方法において、 ランダムに隔置された時間間隔で、かつ走行継続時間や
   信頼度というユーザ指定のパラメータによって決定され
   る継続時間の間、上記機械を静電的に励起するステップ
   を含み、 上記信頼度が、上記プログラム・ステップの１部分の間
   で少なくとも１回放電の起こる確率として指定されると
   いう静放電テスト方法。